LED基础知识及外延工艺

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常用MO源:
• TMGa (三甲基镓,液态) • TMAl (三甲基铝,液态)
• TMIn (三甲基铟,固态,现已有液态)
• TEGa (三乙基镓,液态) • Cp2Mg(二茂基镁,固态,现已有液态) 载气:纯度很高(99.999999%)的H2和N2 特气:高纯度(99.9999%)NH3(氨气,液态) SiH4(硅烷,气态) 衬底:Sapphire(蓝宝石衬底), PSS (图形化的衬底)
3E Semiconductor
半导体简介
导带底
价带顶
不同半导体材料的带隙宽度
GaN:3.4ev AlN: 6.2ev InN: 1.8ev
Create the Light, Light the World 3E Semiconductor
目前发光二极管用的都是直接带隙材料
GaAs
Si
• 光是一种能量的形态,是一种 电磁波。 • 在同一介质中,能量从能源出 发沿直线向四面八方传播,这种 能量传递的方式通常叫做辐射。
MOCVD简介
MOCVD反应的基本原理
MOCVD 的工作原理大致为:当有机源处于某一恒定温度时,其饱和蒸汽压是一定 的;通过流量计(MFC)控制载气的流量,就可知载气流经有机源时携带的有机源 的量;多路载气携带不同的源输运到反应室入口混合,然后输送到衬底处,在高温
作用下发生化学反应,在衬底上外延生长;反应副产物经尾气管路排出。


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典型LED外延结构
6. pGaN
p型层为量子阱注入空穴。 生长GaN时加入Cp2Mg, Mg原子会取代Ga原子 的位置,而Mg是二价,因此会少了一个电子 (等于多一个空穴),属于p型掺杂。
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3E Semiconductor
外延基础
p-GaN:Mg
Active Well : InGaN Barrier InGaN n-Clad N+-GaN:Si GaN Buffer
0.15um
30A 70A 1.8um 0.7um 4 um/250A
3E Semiconductor
Bake
HP-nGaN
LP-nGaN TB TW EB EW LB P-SLS P-GaN
LT-nGaN DB DW
P-InGaN
Buffer
外延基础
PSS衬底
PSS: Patterned Sapphire Substrate (图形化衬底)
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典型LED外延结构
3. nGaN
在u-GaN之上生长n-GaN做为电子注入层。 保持2D生长GaN的条件,通入SiH4,Si原子 会取代Ga原子的位置,由于Ga是三价的, Si是四价的,因此多出一个电子,属于n型 掺杂。 反射率曲线将保持正弦曲线震荡。由震荡 的频率可以计算出此时的生长速率。
GaN是宽禁带直接带隙半导体,禁带宽度约为3.4ev.
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3E Semiconductor
外延简介
1928年Royer提出了外延(Epitaxy)一词,意思是“在……之上 排列”。它是指在具
有一定结晶取向的原有晶体(衬底)上延伸出 按一定晶体学方向生长薄膜的方法,这
(c)岛与岛之间开始进行合并 (d)最后形成平整结构 在生长的外延晶体中的线缺陷能够形成载流子的复合中心,从而降低LED的发光效率相当 一部分的缺陷是由于异质外延的晶格失配产生的 解决方法:在蓝宝石衬底上先生长一层低温缓冲层。 Create the Light, Light the World 3E Semiconductor
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MOCVD简介
表面反应原理
Ga(CH3)3 + NH3 = GaN +3CH4
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MOCVD简介
工艺材料
700
630~600
600~570 570~500 500~470 470~420 420~380
620
580 550 500 450 420
• 光的峰值波长λ与发光区域的半导体材料禁带
宽度Eg有关,即 λ≈1240/Eg(mm) • 电子由导带向价带跃迁时以光的形式释放能量, 大小为禁带宽度Eg。
LED基础知识及外延工艺
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纲 要
LED的发光原理 LED的特点 白光LED的实现 外延基础知识
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• LED是“light emitting diode”的 英文缩写。 • 中文名:发光二极管。 • LED是一种将电能转换为光能 的固体半导体器件。 • LED实质性核心结构是由元素 谱中的Ⅲ-Ⅳ族化合物材料构成 的p-n结。
半导体简介
半导体:导电能力介于导体和绝缘体之间的物质,室温电阻率ρ介于金 属与绝缘体之间
金属 < 10−6 (Ω·cm) 半导体 10−3 ∼ 106 (Ω·cm) 绝缘体 > 1012 (Ω·cm)
半导体有两种载流子 电子(electron, negative)和空穴(hole, positive)
• Eg越大,所发出的光子波长就越短,颜色就会
蓝移。反之, Eg越小,所发出的光子波长就越 长,颜色就会红移。 • 若要产生可见光(波长在380nm紫光~780nm 红光),半导体材料的Eg应该在1.59~3.8eV之
间。
用不同颜色及数目LED加荧光粉所做成的白光LED的优点及缺点
LED简介
LED (Light Emitting Diode)是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件,
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典型LED外延结构
2. uGaN
• • U1层(Rough),形成结晶质量较高的晶核, 并以之为中心形成岛状生长。 首先在停止通入TMGa的情况下升至高温, 在高温高压条件下,Buffer中结晶质量不 好的部分被烤掉,留下结晶质量较高的 晶核。此时反射率将下降至衬底本身的 反射率水平。 保持高温高压,通入TMGa,使晶核以较 高的结晶质量按岛状生长。此时反射率 将降至0附近。 以上为3D生长过程。
p-GaN MQW
N--GaN:Si Sapphire c-plane U-GaN/Buffer
un-GaN
Al2O3
420um
衬底
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外延基础
(a)衬底上成核(Buffer)
(b)形成的岛状颗粒在侧面快速生长
外延基础
(a) 密集的、取向 比较一致的小 岛 (b) 许多单个大岛 (c) 以大岛为核心 在水平和垂直 两个方向生长 (d)外延片表面与 衬底层的反射 光将发生干涉 作用,反射率 将开始呈现正 弦曲线震荡。
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• 通常可以用波长来表达人眼所 能感受到的可见光的辐射能量。
人眼所能见的可见光的光波只占宽阔的电磁 波谱家族中的很小空间。
各种颜色光的波长
光色
红(Red) 橙(Orange) 黄(Yellow) 绿(Green) 青(Cyan) 蓝(Blue) 紫(Violet)
波长λ(nm)
780~630
代表波长
的周期性结构,称为量子阱。(如:InGaN/GaN/InGaN...)
GaN
MQW 异质外延
蓝宝石衬底
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MOCVD简介
Veeco K465i
Veeco C4
Aixtron Crius ii
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外延简介
同质外延:组成PN结的P型区和N型区是同种材料。(如:nGaN:Si上生长pGaN:Mg)
异质外延:两种晶体结构相同,晶格常数相近,但带隙宽度不同的半导体材料生 长在一起形成的结,称为异质结。(如:GaN上生长AlGaN) 量子阱(Quantum Well):通常把势垒较厚,以致于相邻电子 波函数不发生交迭
2. 外延技术
• 液相外延(LPE):生长速率快,产量大,但晶体生长难以精确控制。 • 金属有机化学气相沉积(Metal Organic Chemical Vapor Deposition MOCVD): 精确控制晶体 生长、重复性好、产量大,适合工业化大生产。 • 氢化物气相外延(HVPE):近几年在MOCVD基 础上发展起来的,适应于Ⅲ-Ⅴ 氮化物半导体薄膜 外延生长的一种新技术。生长速率快,但晶格质量 较差。 • 分子束外延(MBE):超高真空系统,可精确控 制晶体生长,晶体界面陡峭 , 晶格质量非常好, 但生长速率慢,成本高,常用于研究机构。
它可以直接把电转化为光。
发光原理:在外加电场的作用下,n型半导体载流子电子、p型半导体载流子空
穴,这两种载流子进入量子阱中并相互结合,发出不同波长的光。
LED基本构造
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3E Semiconductor
GaN 简介
六方纤锌矿结构的GaN
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典型LED外延结构
4. MQW
• 超晶格结构发光层,主要由阱与垒反复叠加构 成。 当In原子取代Ga原子时,GaN的禁带宽度将变小, 构成MQW中的阱层。阱层很薄,和垒层相间分布, 将使注入的载流子在外延生长的方向受到限制, 从而提高电子空穴对的空间浓度,加大复合发 光的几率,提高发光效率。 MQW层使用TEGa提供Ga源。阱层的温度和In源的 掺杂浓度决定了发光波长。垒层使用相对较高 的温度以提高结晶质量。
个薄膜被称为外延层。
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外延简介
1. 应用
1959年末,外延生长技术应用于半导体领域,它的应用与发展对 于提高半导
体材料的质量和器件性能,对于新材料、新器件的开 发,对于半导体科学的 发展都具有重要意义。
P-N结:通过p型和n型半导体材料紧密接触而形成的结。 半导体种类: • 单质半导体:Si、Ge • 化合物半导体:GaN、GaAs、GaP、ZnO、SiC
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百度文库导体简介
N-tape
P-tape
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典型LED外延结构
1. Buffer
• 由于衬底(Al203)与GaN材料的晶格失 配较大,故在生长GaN之前需要生长一层 薄薄的缓冲层,我们将其称为Buffer层。

• •
高压、低温条件下通入TMGa,在衬底表面 快速沉积一层缓冲层。由于晶格失配,此 时GaN结晶质量较差。 反射率曲线上升。 目前通用的是低温GaN缓冲层技术。大约 在500-600度。
• •
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3E Semiconductor
五、典型LED外延结构
2. uGaN
• • • U2层(Recover),此时使外延从3D生长向2D生长 转变。 略微提高温度,降低气压,使晶岛相接处的地 方开始连接,生长,直至外延表面整体趋于平 整。 随着外延表面趋于平整,反射率将开始上升。 此时由于外延片表面与衬底层的反射光将发生 干涉作用,反射率将开始呈现正弦曲线震荡。
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