超声波数字探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1. 目的：确保UT 检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A 型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3. 引用标准3.1《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999）3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82）3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999）3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063—1999）3.6《A 型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（J B/T92 1 4－1 999）4. 职责4.1 应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心UT川级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UT川级人员提出，并报中心主任批准。
校验人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）5.1 各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定）5.2 CSK—IA 标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）531 JB4730— 94规定的阶梯试块（DB —D i试块）5.3.2 Z20 —1 （80 225 G1. 25）Z20 —2（80 225 G2 25）Z20 —4 （80 225 G4 25 ）5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6. 校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备a .各种频率的常用直探头b对比试块：Z20 —2或Z20 —4c .探头压块6.1.2测试步骤a .连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20 —2试块上并对准①2孑L,调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100% （满刻度），且衰减器至少有30d B余量；b .调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B,然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d（+）与最大负偏差d （-）之绝对值的和为垂直线性误差，如△ d=| d（+）|+|d（-）| ;c .将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试;d .在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。
数字式超声波探伤仪操作规程范文（二篇）
数字式超声波探伤仪操作规程范文一、仪器准备1. 确保数字式超声波探伤仪的外观完好无损，并检查所有连接线是否牢固。
2. 将超声探头连接好，并确保连接稳定可靠。
3. 启动数字式超声波探伤仪并进行初始化，确保仪器运行正常。
二、样品准备1. 确定需要进行探伤的样品，并将其放置在平整的工作台上。
2. 清理样品表面的杂质，并确保没有对探伤结果产生干扰的因素存在。
三、仪器调试1. 调整数字式超声波探伤仪的探头角度，使其与样品表面垂直。
2. 调整扫查速度，确保能够清晰地显示样品内部的缺陷。
3. 设置适当的增益和灵敏度，以便准确检测出样品内部的缺陷。
4. 校准仪器的垂直度和水平度，以确保仪器的测量精度。
四、探伤操作1. 将探头按照预先确定的探测路径移动，并保持匀速移动。
2. 在扫查过程中，注意观察屏幕上的信号变化，并进行记录。
3. 当发现异常信号时，停止探伤并记录异常信号的位置、强度等关键信息。
4. 定位到发现的缺陷处，并进行细致的检查和评估。
五、记录和分析1. 将探伤结果记录下来，并标明样品的名称、编号等必要信息。
2. 分析记录的结果，判断样品的缺陷情况，并评估其对样品的影响程度。
3. 根据评估结果，制定相应的处理方案或建议。
六、仪器维护1. 探头使用完毕后，及时进行清洁和保养，确保其正常工作。
2. 仪器使用完毕后，关闭数字式超声波探伤仪，并妥善存放。
七、安全注意事项1. 在操作过程中，谨慎处理探头，避免损坏或者触碰到敏感部位。
2. 使用数字式超声波探伤仪时，确保工作环境安全。
3. 遵循相关安全操作规定，防止事故的发生。
数字式超声波探伤仪操作规程范文（二）一、引言数字式超声波探伤仪是一种常用于检测材料内部缺陷的非破坏性检测设备。
本操作规程旨在规范数字式超声波探伤仪的操作流程，确保安全、有效的进行检测工作。
二、设备准备1. 确保数字式超声波探伤仪正常工作。
检查仪器开关、按键等是否灵活可靠，显示屏是否清晰。
2. 检查探头以及电缆的连接情况，确保连接稳固。
超声波探伤仪核查规程
超声波探伤仪核查规程SX-03-02-20091. 总则（1）为了规范超声波探伤仪的核查工作，特制订本规程。
（2）本规程适用于CTS-2020数字式及模拟式超声波探伤仪的使用核查，其它型号的超声波探伤仪的核查工作可参照本核查规程，编制相应的专用核查规程。
2. 职责（1）设备专管人员与专业工程师负责超声波探伤仪的期间核查工作。
（2）主任工程师负责核查3. 核查项目及方法核查应在基准试块上进行，校准中应使超声波主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。
3.1 仪器校准仪器在使用过程中，每3个月应进行一次水平线性和垂直线性的测定，测定方法按JB/T4730.3-2005的规定进行。
核查时应重复进行3次，垂直线性平均值＞5%或水平线性平均值＞1%时为不合格。
3.2 探头校核3.2.1 单晶探头声束轴线水平偏离角不大于2°，主声束垂直方向不应有明显的双峰。
3.3 仪器和探头系统性能的复核组合频率与公称频率误差不大于±10%；仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试每次检测前均应对扫描线、灵敏度进行复核，遇有下列情况应随时对其进行重新核查：a.校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时；b.开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时；c.连续工作4h以上时；d.工作结束时。
4. 注意事项校准、复核和线性检验时，任何影响仪器线性控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。
5. 核查周期设备专管人制定核查计划，填写“期间核查计划表”，至少3个月进行一次，特殊要求除外。
6. 记录按以上各项目核查完毕后，核查人员填写“期间核查记录表”，由设备管理人员归档管理。
数字超声波探伤仪校验规程
数字超声波探伤仪校验规程1.0目的规范数字超声波探伤仪的校准操作，确保其有效性和准确性。
2.0范围本规程适用于本公司新购置的和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的校验。
数字式超声仪的校验可按照本规程，也可按照仪器内置的仪器自校功能。
3.0校验人员校验人员应熟悉仪器的工作原理和使用方法，并按本规程规定的方法进行校验。
4.0应用器材4.1 标准试块CSK-ⅠA试块及DB一P Z20一2、DB一P Z20一4型标准试块。
4.2 所用试块必须是具有相应资质的企业生产的标准试块，且经过计量部门检定合格。
5.0校验及评定内容5.1 外观检查采用目视及操作方法进行。
5.2 水平线性误差5.2.1 所用检定设备与被检超声探伤仪的连接方式如图1所示。
并应使函数信号发生器输出阻抗、衰减器特性阻抗和终端负载相互匹配。
5.2.2 被检超声探伤仪的工作方式置[双]，抑制置“0”，衰减器置适中量值。
在扫描范围各挡上，将被检超声探伤仪的发射脉冲输人到函数信号发生器输人端，其输出通过标准衰减器接到被检超声探伤仪“收”端，并调节频率、信号幅度、调制波数及标准衰减器旋钮，使超声探伤仪显示屏上显示六个幅度相等的 (如垂直满刻度80%)脉冲波形。
5.2.3 调节被检超声探伤仪[扫描微调]及[移位]旋钮，使第一个波的前沿对准水平刻度“0”，第六个波的前沿对准水平刻度 “10”，依次读取第二至第五个波的前沿与水平刻度“2”、“4”、“6”、“8”的偏差amax ，如图2所示，取其最大偏差值。
按下式计算超声探伤仪水平线性误差：%100max ⨯=∆Ba L式中：ΔL —水平线性误差;B —水平满刻度数。
5.3 衰减器衰减误差5.3.1 所用检定设备与被检超声探伤仪的连接方式如图1所示。
并应使正弦信号发生器输出阻抗衰减器特性阻抗和终端负载相互匹配。
5.3.2 被检超声探伤仪的工作方式置[双]，抑制置“0”，衰减器置适中量值。
在扫描范围各挡上，将被检超声探伤仪的发射脉冲输人到函数信号发生器输入端，其输出通过衰减器接到被检超声探伤仪“收”端。
10 超声波探伤仪检定规程
超声波探伤仪检定规程1 目的为规范超声波探伤仪的检定工作，保证检定质量，确保检测数据的正确性，特制定本规程。
2 范围本规程适用于各类型号的超声波探伤仪的首次和后续检定。
3 职责检定人员应熟悉有关规程及相应说明书等有关技术资料，熟悉仪器的操作程序，对检定结果的正确性负责。
4 要求4.1术语和计量单位4.1.1术语4.1.1.1超声波频率高于20000Hz的机械波称为超声波。
4.1.1.2标准试块由权威机构制定的试块，试块的材质、形状、及表面状态都由权威部门统一规定。
4.1.1.3动态范围仪器示波屏容纳信号大小的能力。
4.1.1.4波速超声波在单位时间内所传播的距离。
4.1.1.5探头与工件接触，用于发射和接收超声波并进行电声信号能量转换的装置。
4.1.1.6耦合剂在探头与工件表面之间施加的一层透声介质。
4.1.1.7水平线性仪器示波屏上时基线显示的水平刻度值与实际声程之间成正比的程度。
4.1.1.8垂直线性仪器示波屏上的波高与探头接收的信号之间成正比的程度。
4.1.1.9分辨力示波屏上区分相邻两缺陷的能力。
4.1.1.10盲区从探测面到能够发现缺陷的最小距离。
4.1.2计量单位4.1.2.1厚度H-------mm4.1.2.2声速C--------- m/s4.1.2.3温度t-----------℃4.1.2.4频率f---------Hz4.2概述超声波探伤仪是利用电声转换原理和超声波在介质中的传播特性对工件进行检测，通过分析示波屏上回波的位置和高度来判断缺陷有无和大小的一种装置。
4.3计量性能要求4.3.1主要技术参数4.3.1.1工作频率：1～5MHz（钢）4.3.1.2总衰减量：≥80dB4.3.1.3衰减误差：≤ 1 dB4.3.1.4垂直线性误差：≤5%4.3.1.5水平线性误差：≤ 1%4.3.1.6动态范围：≥30 dB。
4.3.1.7远场分辨力：直探头≥30dB；斜探头≥6dB。
超声波探伤机校验方法
超声波探伤仪校验方法1概述本办法适用A型、脉冲反射式工业超声波探伤仪水平线性、垂直线性、动态范围等性能的测试。
2技术要求2.1超声波探伤仪的性能必须由无损检测Ⅱ级人员测试。
2.2校验使用参考标准为具有已知尺寸人工反射体试块。
3引用标准JB4730-2005 《承压设备无损检测》ZBY230-84 《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》4校验项目及方法4.1垂直线性测试4.1.1将探伤机“抑制”旋钮调至“0”或关，“深度补偿”旋钮置于“关”。
“深度粗调”和“细调”置于适当位置。
4.1.2将直探头通过藕合剂置于ⅡW（或其它试块）上，调节“增益”和“衰减器”，使平底孔反射波幅度恰为垂直刻度的100%，且使“衰减器”保留30dB衰减余量。
4.1.3调“衰减器”，依次记录每衰减2dB时孔反射波幅度的百分数，直至衰减26dB。
将测试结果填写在检验记录中。
4.1.5计算垂直线性误差D＝（∣d1∣+∣d2∣）（%）式中d1----实测值与理想值的最大正偏差；d2－实测值与理想值的最大负偏差；当D小于或等于5%时判为合格。
4.2水平线性测试4.2.1直探头通过藕合剂置于ⅡW（或其它试块）上，对准25mm底面。
4.2.2调“微调”“水平”或“脉冲移位”等旋纽，使示波屏上出现5次底波B1到B5，使B1对准2.0，B5对准10.0。
记录B2、B3、B4与水平刻度值4.0、6.0.、8.0的偏差值a 2、a3、a4。
4.2.3计算水平线性误差δ=-%1008.0||max ba ——a 2、a 3、a 4中最大者b ——示波屏水平满刻度值。
当δ小于或等于1%时判为合格。
4.5动态范围测试4.5.1“抑制”至“0”，“衰减器”保留30dB ，探头置于11W(或其它试块)上对准25mm 底面，调“增益”使底波B1达到满幅度100%。
4.5.2固定“增益”记录此时衰减余量N1，调“衰减器”使底波B1降至1mm,记录此时的衰减器余量N2。
超声波探伤仪校准规程
数字式超声探伤仪校准规程1.范围本操作规程适用于A型脉冲反射式手动超声探伤仪的校准和检定；以此来确定超声波设备的有效性，2.检定周期与内容2.1每三个月对仪器的盲区（仅限直探头）、灵敏度余量和分辨力进行一次核查并记录。
2.2每六个月对仪器和探头组合性能中的水平线性和垂直线性进行一次运行核查并记录。
2.3每年至少对超声仪器和探头组合性能中的水平线性、垂直线性、组合频率、盲区（仅限直探头）、灵敏度余量、分辨力以及仪器的衰减器精度，进行一次校准并记录。
3.参考标准3.1JB/T10062-1999《超声检测用探头性能测试方法》3.2JB/T9214-2010A型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法3.3NB/T47013.3-2015承压设备无损检测4.人员职责4.1仪器检定应由超声Ⅱ级及以上人员负责组织实施。
4.2应由至少为超声Ⅱ级人员负责实施自检并出具自检报告，由超声III级负责自检报告的审核。
4.3校准与核查人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程引用的相关标准，能正确按本规程方法进行检定工作并填写检定记录。
5.设备与器材超声波探伤仪，2.5PΦ1400纵波直探探头（日常使用纵波直探头），2.5P13×13K2横波斜探头，DB-P型试块，CSK-ⅠA型标准试块，耦合剂。
6.测试内容垂直线性，水平线性，动态范围，灵敏度余量，仪器噪声电平，分辨力，组合频率，盲区。
7.测试方法7.1垂直线性误差测试7.1.1JB/T9214-2010《A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法》规定垂直线性误差≤5%。
7.1.2垂直线性定义：仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度，它取决于仪器放大器的性能。
垂直线性用垂直线性误差表示。
垂直线性影响缺陷的检出和定量。
7.1.3测试设备与器材(1)2.5PΦ1400纵波直探探头（日常使用纵波直探头）(2)耦合剂(3)超声波探伤仪(4)DB-P型试块7.1.4测试步骤(1)将仪器与探头连接，将探头用恒定压力压在试块上，参见图1,中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，并将平底孔的回波调至屏幕上时基线的适当位置，使用衰减器使孔的回波高度恰为100%满刻度，此时衰减作为“0”Db,且衰减器至少还应有30dB的衰减余量。
UT超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1.目的：确保UT检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2.范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3.引用标准3.1《A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999）3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82）3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999）3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063－1999）3.6《A型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（JB/T9214－1999）4.职责4.1应由总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由UTⅢ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UTⅢ级人员提出，并报站长批准。
校验人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5.校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）5.1各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定）5.2CSK－IA标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）5.3.1JB4730－94规定的阶梯试块（DB－D1试块）φ）5.3.2Z20－1（251⨯⨯22580Φφ）Z20－2（25⨯⨯22580Φ2φ）Z20－4（25⨯⨯80Φ22545.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6.校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备ａ.各种频率的常用直探头ｂ.对比试块：Z20－2或Z20－4ｃ.探头压块6.1.2测试步骤ａ.连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20－2试块上并对准Φ2孔，调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），且衰减器至少有30d B余量；ｂ.调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B，然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d(+)与最大负偏差ｄ.在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b 、c 方法进行测试。
超声波探伤仪校验规程
超声波探伤仪校验规程 JLXY02-20231.编制依据：JB/T9214-1999 A 型脉冲反射式超声波探伤仪系统性能测试方法和JB/T4730-2023 承压设备无损检测。
2.适用范围：A 型脉冲反射式超声波探伤仪的校验。
3.技术要求3.1垂直线性误差≤5%。
3.2动态范围≥26dB。
3.3水平线性误差≤1%。
3.4灵敏度余量﹥10dB。
4.校验工程4.1外观4.2垂直线性误差4.3动态范围4.4水平线性误差4.5. 灵敏度余量5.校验用器材5.1 探头：2.5P10×12K2 HB-50 专用直探头5.2 试块：CSK-ⅠA，CSK-ⅢA6.校验方法6.1外观检查配件齐全，外表不得有硬的碰伤和变形，全部紧固件不得松动和脱落。
6.2垂直线性误差校验6.2.1连接HB-50 专用直探头，抑制关，调整衰减器和增益使荧光屏上显示波形其中之一为垂直刻度的100%，且衰减器至少有30dB 的衰减余量，设该波为H。
6.2.2调整衰减器，依次登记每次衰减2dB 时H 波的幅度值，直至衰减26dB。
然后将H波幅度实测值与表 6.2.2中的理论值相比较，最大正偏差d+与最大负偏差d-确实定值之和为垂直线性误差△d。
6.3动态范围校验6.3.1连接HB-50 专用直探头，调整探伤仪衰减器和增益使荧光屏上显示的波形中之一为垂直刻度的100%，且衰减器至少有30dB的衰减余量。
表6.2.2衰减量dB 0246810 12波高理论值%100 79.4 63.1 50.1 39.8 31.6 25.1衰减量dB 14 16 18 20 22 24 26波高理论值%20.0 15.8 12.5 10.0 7.9 6.3 5.06.3.2调整衰减器，读取幅度自垂直刻度的100%下降至刚能识别的最小值时的调整量，为探伤仪的动态范围。
6.4水平线性误差校验6.4.1连接HB-50 专用直探头，调整探伤仪使其显示屡次底波。
超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1. 目的：确保UT 检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A 型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3. 引用标准3.1《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999） 3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82） 3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999） 3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063－1999）3.6《A 型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（JB/T9214－1999）4. 职责4.1应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心UT Ⅲ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UT Ⅲ级人员提出，并报中心主任批准。
校验人员应熟悉A 型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的） 5.1各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定） 5.2 CSK －IA 标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）5.3.1 JB4730－94规定的阶梯试块（DB －D 1试块） 5.3.2 Z20－1（25122580Φ⨯⨯φ）Z20－2（25222580Φ⨯⨯φ） Z20－4（25422580Φ⨯⨯φ）5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6.校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备ａ.各种频率的常用直探头ｂ.对比试块：Z20－2或Z20－4ｃ.探头压块6.1.2测试步骤ａ.连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20－2试块上并对准Φ2孔，调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），且衰减器至少有30d B余量；ｂ.调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B，然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d(+)与最大负偏差d(-)之绝对值的和为垂直线性误差，如△d=| d(+)|+|d(-)| ；ｃ.将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试；ｄ.在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。
超声波探伤仪期间核查规程
（文件编号：****-012）共4页 第1页版本/版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01 1.总则本规程适用于超声波探伤仪定期进行的性能校验，以查明该设备是否达到足够的精度要求，从而保证所用仪器处于合格状态。
2.校验步骤2.1 水平线性的校验方法：2.1.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意合格直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.1）。
2.1.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合。
调节探伤仪的水平和增益旋钮，使屏幕上显示出第6次底波。
2.1.3 当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格）。
2.1.4 在依次分别将底波B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差（以格数计），取其中最大的偏差值则为仪器的水平线性误差。
2.2 垂直线性的校验方法。
2.2.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0” 或“断”，其它调整取适当值（见图2.2）。
2.2.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合，并将某一次回波调至屏幕上时基线的近中央处。
2.2.3 调节衰减器和增益值，使回波高度恰为100%满刻度。
2.2.4 以每次2dB 的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直继续到衰减值为26dB ，测量精度为0.1%。
波高测试值与理论值之差为偏差值，其最大正偏差与最大负偏差的绝对值之和即为仪器的垂直线性误差。
2.3 直探头分辨力的校验方法。
2.3.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.3）。
2.3.2 将探头压在试块上如图2.3所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，调整仪器的增益并左右移动探头，使来自A 、B 两个方面的回波幅度相等并约为20%～30%满刻度，如图2.3中的h 1。
数字式超声波探伤仪操作规程
数字式超声波探伤仪操作规程第一章：总则第一条为了规范数字式超声波探伤仪的操作，保证探伤结果的准确性和可靠性，特制定本规程。
第二条数字式超声波探伤仪是一种用于检测物体内部缺陷或材料的声学性质的一种仪器设备。
第三条本规程适用于数字式超声波探伤仪的操作，包括设备的开机、校准、设定参数、探测过程以及设备的关机等环节。
第二章：设备的准备第四条在进行数字式超声波探伤之前，需进行以下设备准备工作：1. 确保数字式超声波探伤仪的工作环境符合要求，避免有强磁场、强电磁辐射等干扰性物体存在。
2. 确保数字式超声波探伤仪的电源正常，电源电压稳定。
3. 检查数字式超声波探伤仪的连接线路是否完好，并确保与探测器、电脑等设备连接正确。
4. 根据需要选择适当的探测器，并检查其状态是否良好。
5. 确保数字式超声波探伤仪的软件版本是最新的，并且安装在电脑上。
第三章：设备的操作第五条打开数字式超声波探伤仪前，需按照以下步骤进行：1. 打开电源，确保电源电压稳定。
2. 检查仪器的连接线路是否完好，并确保与探测器、电脑等设备连接正确。
3. 打开电脑，并启动超声波探伤仪的软件。
第六条进行数字式超声波探伤之前，需进行以下校准工作：1. 校准探测器，将其置于标准块上，调整传感器的位置，使其与标准块表面接触良好。
2. 在超声波探测仪软件中选择校准模式，并设置正确的校准参数。
3. 开始校准，并根据软件的指示调整校准参数，直到达到标准要求。
第七条在进行数字式超声波探伤时，需按照以下步骤操作：1. 在软件中选择相应的探测模式，并设定合适的探测参数，包括频率、增益、发射与接收方式等。
2. 将探测器置于待检测物体表面，并保持一定的角度。
3. 按下开始探测按钮，开始进行超声波探测。
4. 监控超声波探测仪的显示屏，观察探测结果，并记录相关数据。
5. 如有需要，可进行数据处理，包括放大、滤波、多普勒变换等操作。
第八条在数字式超声波探伤完成后，需按照以下步骤进行关机操作：1. 停止探测，并将探测器离开待检测物体。
超声波探伤仪校验规程
超声波探伤仪操作规程一、总则1. 本规则根据GB11345，JB/T4730，SY4065，JJB1021标准制订。
2. 超声波探伤仪校验时间规定为每年一次。
3.仪器检定的标准器是国际规定通用的标准试块。
1. 持有超声波探伤Ⅱ级以上（含二级）资格证人员可进行测试检定操作。
二、仪器垂直线性的测试校验1.型号：PXUT-360，PXUT3300，CTS-22和CSK-1型等试块。
2.操作使用ф20直探头，频率2.5MHZ,将探头稳定的压在试块探测面上,使用ф2平底孔把反射波高达垂直幅度的100%,以此作为0dB 基本幅度显示。
调节衰减的按键，每增加2 dB 衰减量后记下ф2平底孔反射波的实际高度，直到此反射波隆到垂直幅度的5%。
3.合格标准；要求垂直线性误差△d≤0.1.三、水平线性的测试校验1.仪器: PXUT-360；PXUT3300；CTS-22。
2.试块：CSK-1A试块或其他试块。
3. 操作使用ф20直探头，频率2.5MHZ,将探头稳定的压在试块探测面上，使用脉冲和第五次反射波显示在时间轴上,且B5波高大于垂直幅度的50%,再调节按键(调深度和水平)使用一次底面波B1和B5前沿分别与时间轴水平刻度线的Z·····10（水平刻度线为10等份）刻度一致观察底波B2B3B4前沿刻度4*6*8的吻合程度并读出偏差量L2，L3，L4取其中最大偏差量Lmax,则水平线性偏差△L为：L=（Lmax×0.8B）×100%，左中B-水平全刻读数；0.8B －表示被测段刻度：检定测试合格者△L≤2%。
4.利用测矩85mm,91mm,和10mm三个槽口平面，可测定直探头和探伤仪的组合分辩力。
5. 利用半径100mm圆孤的反射基准测定斜探头射入点。
6.利用半径50mm圆孤反射面和ф1通孔测定斜探头折射角。
7.在CSK-1A试块上还可以测定斜探头入射点至前沿的尺寸。
数字式超声波探伤仪操作规程(最新版)
数字式超声波探伤仪操作规程(最新版)The safety operation procedure is a very detailed operation description of the work content in the form of work flow, and each action is described in words.( 安全管理 )单位：______________________姓名：______________________日期：______________________编号：YK-AQ-0069数字式超声波探伤仪操作规程(最新版)一、用途本机能够快速便捷、无损伤、精确地进行工件内部的裂纹、夹杂、气孔等多种缺陷的检测、定位、评估和诊断。
二、检测目的通过对工件内部的裂纹、夹杂、气孔等多种缺陷的检测、定位、评估和诊断，为产品质量作保证。
三、操作方法1、开机将探伤仪顶部的电池开关置于“ON”，然后按键开机。
仪器屏幕上显示开机自检信息。
自检结束后，仪器自动进入探伤界面。
在开机状态下，按键可以实现仪器关机。
仪器关机时会自动进行探伤参数的保存操作（存储于默认的系统文件中，该文件用户无法访问），关机进行过程中，请不要按键操作，也不要立即切断电源，以防止破坏系统文件。
如果由于某种原因破坏了系统文件，可以通过“恢复出厂设置”功能来修复。
仪器关机后，所调试和设置的探伤参数不会丢失，下次开机后会利用默认的系统文件将仪器参数自动恢复。
如果长时间不再使用探伤仪，请将探伤仪顶部的电池开关置于“OFF”，以保护仪器和锂电池组。
自动关机：当电池电压太低时，屏幕上的电池图标会闪烁显示，然后探伤仪会自动关机断电。
2、连接探头使用本探伤仪进行探伤工作前，需要连接上合适的探头和探头线，仪器的探头线应该是接头为Q9的75Ω同轴电缆。
仪器顶部有两个Q9插座，为探头线连接插座。
使用单探头（单晶直探头或单晶斜探头）时，探头线可以连接到仪器顶部任何一个探头插座上；使用双晶探头探头（一个晶片发射、另一个晶片接收）或穿透探头（两个探头，一个探头发射，另一个探头接收）时，要把发射的探头线连接到发射探头插座（有标识），接收的探头线连接到接收探头插座（有标识）。
超声波探伤校验规程
超声波探伤校验规程
1 适用范围
本规程适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2 检验周期
2.1探伤仪性能（水平线性、垂直线性、动态范围）每隔半年进行校验一次；2.2探伤仪和探头的系统性能（灵敏度余量、始脉冲宽度及盲区、分辨力）使用前需进行校验，相关数据录入报告即可，不需专门检验报告。
3 人员要求
3.1超声波探伤仪校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的Ⅱ级或Ⅱ级以上的超声波检验人员资格证书；
3.2超声波探伤仪校验人员应熟悉设备的各部分的作用及本规程；
3.3超声波探伤仪校验人员应严格按照本规程操作超声波探伤仪，并对设备使用的安全性负责。
4 认可需用标准器具
4.1标准试块CSK-ⅠA试块及200/Ф2平底孔试块；
4.2所用试块必须是具有相应认证企业生产。
5 操作步骤
5.1.垂直线性
5.1.1.用5MHZ或其它频率的常用直探头，用压块将探头固定在200/Ф2平底孔试块上并对准Φ2孔（或其它试块25mm底面）。
调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），作为“0”dB，且衰减器至少有30dB余量；
5.1.2.调节增益，依次记下每衰减2dB时相应的波高值Hi，并将实测相对波高值填入表1中，直至底波消失。
表一。
超声波探伤仪期间核查规程
（文件编号：****-012）共4页 第1页版本/版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01 1.总则本规程适用于超声波探伤仪定期进行的性能校验，以查明该设备是否达到足够的精度要求，从而保证所用仪器处于合格状态。
2.校验步骤2.1 水平线性的校验方法：2.1.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意合格直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.1）。
2.1.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合。
调节探伤仪的水平和增益旋钮，使屏幕上显示出第6次底波。
2.1.3 当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100（设水平全刻度为100格）。
2.1.4 在依次分别将底波B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差（以格数计），取其中最大的偏差值则为仪器的水平线性误差。
2.2 垂直线性的校验方法。
2.2.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0” 或“断”，其它调整取适当值（见图2.2）。
2.2.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合，并将某一次回波调至屏幕上时基线的近中央处。
2.2.3 调节衰减器和增益值，使回波高度恰为100%满刻度。
2.2.4 以每次2dB 的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直继续到衰减值为26dB ，测量精度为0.1%。
波高测试值与理论值之差为偏差值，其最大正偏差与最大负偏差的绝对值之和即为仪器的垂直线性误差。
2.3 直探头分辨力的校验方法。
2.3.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值（见图2.3）。
2.3.2 将探头压在试块上如图2.3所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，调整仪器的增益并左右移动探头，使来自A 、B 两个方面的回波幅度相等并约为20%～30%满刻度，如图2.3中的h 1。
超声波探伤检验操作规程完整
超声波探伤检验操作规程1适用范围本检验规程叙述的是使用A型脉冲反射式超声波探伤仪对承压设备用原材料及零部件等内部进行的一种无损检测。
2引用标准、规范ASME 第五卷第五章材料及制品的UT检验方法、API规范4F，6A，7K，8C，16A，16C。
JB/T 7913-1995 超声波检验用钢制对比试块的制作与校验方法、JB/T 4730.1-2005 承压设备无损检测第1部分：通用要求、JB/T 4730.3-2005 承压设备无损检测第3部分：超声检测、JB/T 9214-1999 A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试法、JB/T 10061-1999 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件、JB/T 10062-1999 超声探伤用探头性能测试方法、JB/T 10063-1999 超声探伤用1号标准试块技术条件、ASNT-TC-1A 无损检测人员的资格鉴定3超声波检测人员3.1从事承压设备的原材料和零部件等无损检测的人员，应按照《特种设备无损检查人员考核与监督管理规定》和ASNT-TC-1A的要求取得相应无损检测资格。
3.2无损检测人员资格级别分为：Ⅲ（高）级、Ⅱ（中）级、Ⅰ（初）级。
取得不同无损检测方法各资格级别的人员，只能从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作，并负相应的技术责任。
3.3无损检测人员应根据ASNT-TC-1A的规定每年进行一次视力检查。
4检验设备、器材和材料4.1超声检测设备均应具有产品质量合格证或合格的证明文件。
4.2超声波探伤仪A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为0.5 MHz ~10MHz，仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。
探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器，步进级每档不大于2dB，其精度为任意相邻12dB的误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。
水平线性误差不大于1%，每次连续使用周期开始（或每三个月）应对垂直线性进行评定，误差不大于5%。
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5.9.8.
5.9.9.
5.9.10.
6.
校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按超声波校验报告内容对测试数据认真记录并评价结论。
7.
1.
本规适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2.
2.1.
2.2.
2.3.
3.
3.1.
3.2.
3.3.
4.
4.1.
4.2.
5.
5.1.
5.1.1.
5.1.2.
根据记录：理论相对波高%=Hi（衰减△dB后波高）/H0（衰减0dB时波高）×100%；
实测相对波高%=10（-△i/20）×100%。
5.5.
5.5.1.
5.5.2.
5.5.3.
5.5.4.
5.6.
直探头置于CSK-ⅠA试块Ф50孔的两侧面，
5.7.
5.7.1.
a)[抑制]按钮至"0"，探头置于CSK-ⅠA试块阶梯的另一面，使示波屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、C。
b)左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
5.4.
5.4.1.
a)仪器[增益]按钮至最大，[抑制]按钮至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]按钮使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
将探头对准200/Ф2平底孔。调[衰减器]按钮使Ф2平底孔回波高达50%，记下此时[衰减器]读数N2dB。则仪器与探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。
5.4.2.
a)仪器[增益]按钮至最大，[抑制]按钮至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]按钮使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
b)将探头置于CSK-ⅠA试块上，记下使R100圆弧面的第一次反射波最高达50%时的衰减量N2。则仪器与斜探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。
6.1.3计算垂直线性误差
D=（|d(+)|+|d(-)|）×100%
式中d(+)——最大正偏差；d(源自)——最大负偏差。5.2.
5.2.1.
5.2.2.
5.2.3.
δ
式中αmax——α2、α3、α4、α5最大者；
b———示波屏水平满刻度值。
5.3.
5.3.1.
将满幅度100%某波高衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围。
5.8.2.
a)当折射角为34°～66°时，探头放在距Ф50远面处，使用Ф50mm孔进行测定。
b)当折射角为60°～75°时，探头放在距Ф50近面处，使用Ф50mm孔进行测定。
c)当折射角为74°～80°时，探头放在距Ф1.5近面处，使用Ф1.5mm孔进行测定。
d)测出探头前端到试块端面距离L0。
e)K=（L+ L0-35）/30
5.8.3.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块大平面处，对准试块棱边，移动并转动探头，找到棱边最高波，其探头侧面平行线与棱边夹角就是主声束偏离角。
b)斜探头对准CSK-ⅠA试块的Ф1.5mm孔或其它试块的横孔，移动探头，看是否有双峰。
5.9.
5.9.1.
5.9.2.
5.9.3.
5.9.4.
5.9.5.
5.9.6.
c)调节[衰减器]按钮,使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.7.2.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块上，对准Ф50、Ф44、Ф40三阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。
b)左右移动探头,使Ф50、Ф44两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
c)调节[衰减器]按钮,使Ф50、Ф44两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.8.
5.8.1.
a)将探头放在CSK-ⅠA试块上，使R100圆弧面回波达最高时斜楔底面与试块圆心的重合点就是该探头的入射点。
b)探头前沿L就是R100减去探头前端到圆弧面距离。