超声波数字探伤仪校验规程
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5.5.
5.5.1.
5.5.2.
5.5.3.
5.5.4.
5.6.
直探头置于CSK-ⅠA试块Ф50孔的两侧面，
5.7.
5.7.1.
a)[抑制]按钮至"0"，探头置于CSK-ⅠA试块阶梯的另一面，使示波屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、C。
b)左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
6.1.3计算垂直线性误差
D=（|d(+)|+|d(-)|）×100%
式中d(+)——最大正偏差；
d(-)——最大负偏差。
5.2.
5.2.1.
5.2.2.
5.2.3.
δ
式中αmax——α2、α3、α4、α5最大者；
b———示波屏水平满刻度值。
5.3.
5.3.1.
将满幅度100%某波高衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围。
5.9.7.
5.9.8.
5.9.9.
5.9.10.
6.
校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按超声波校验报告百度文库容对测试数据认真记录并评价结论。
7.
1.
本规适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2.
2.1.
2.2.
2.3.
3.
3.1.
3.2.
3.3.
4.
4.1.
4.2.
5.
5.1.
5.1.1.
5.1.2.
根据记录：理论相对波高%=Hi（衰减△dB后波高）/H0（衰减0dB时波高）×100%；
实测相对波高%=10（-△i/20）×100%。
5.8.3.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块大平面处，对准试块棱边，移动并转动探头，找到棱边最高波，其探头侧面平行线与棱边夹角就是主声束偏离角。
b)斜探头对准CSK-ⅠA试块的Ф1.5mm孔或其它试块的横孔，移动探头，看是否有双峰。
5.9.
5.9.1.
5.9.2.
5.9.3.
5.9.4.
5.9.5.
5.9.6.
5.4.
5.4.1.
a)仪器[增益]按钮至最大，[抑制]按钮至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]按钮使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
将探头对准200/Ф2平底孔。调[衰减器]按钮使Ф2平底孔回波高达50%，记下此时[衰减器]读数N2dB。则仪器与探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。
5.8.2.
a)当折射角为34°～66°时，探头放在距Ф50远面处，使用Ф50mm孔进行测定。
b)当折射角为60°～75°时，探头放在距Ф50近面处，使用Ф50mm孔进行测定。
c)当折射角为74°～80°时，探头放在距Ф1.5近面处，使用Ф1.5mm孔进行测定。
d)测出探头前端到试块端面距离L0。
e)K=（L+ L0-35）/30
c)调节[衰减器]按钮,使Ф50、Ф44两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.8.
5.8.1.
a)将探头放在CSK-ⅠA试块上，使R100圆弧面回波达最高时斜楔底面与试块圆心的重合点就是该探头的入射点。
b)探头前沿L就是R100减去探头前端到圆弧面距离。
c)调节[衰减器]按钮,使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.7.2.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块上，对准Ф50、Ф44、Ф40三阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。
b)左右移动探头,使Ф50、Ф44两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
5.4.2.
a)仪器[增益]按钮至最大，[抑制]按钮至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]按钮使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
b)将探头置于CSK-ⅠA试块上，记下使R100圆弧面的第一次反射波最高达50%时的衰减量N2。则仪器与斜探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。
5.5.1.
5.5.2.
5.5.3.
5.5.4.
5.6.
直探头置于CSK-ⅠA试块Ф50孔的两侧面，
5.7.
5.7.1.
a)[抑制]按钮至"0"，探头置于CSK-ⅠA试块阶梯的另一面，使示波屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、C。
b)左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
6.1.3计算垂直线性误差
D=（|d(+)|+|d(-)|）×100%
式中d(+)——最大正偏差；
d(-)——最大负偏差。
5.2.
5.2.1.
5.2.2.
5.2.3.
δ
式中αmax——α2、α3、α4、α5最大者；
b———示波屏水平满刻度值。
5.3.
5.3.1.
将满幅度100%某波高衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围。
5.9.7.
5.9.8.
5.9.9.
5.9.10.
6.
校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按超声波校验报告百度文库容对测试数据认真记录并评价结论。
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1.
本规适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
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5.1.2.
根据记录：理论相对波高%=Hi（衰减△dB后波高）/H0（衰减0dB时波高）×100%；
实测相对波高%=10（-△i/20）×100%。
5.8.3.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块大平面处，对准试块棱边，移动并转动探头，找到棱边最高波，其探头侧面平行线与棱边夹角就是主声束偏离角。
b)斜探头对准CSK-ⅠA试块的Ф1.5mm孔或其它试块的横孔，移动探头，看是否有双峰。
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a)仪器[增益]按钮至最大，[抑制]按钮至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]按钮使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
将探头对准200/Ф2平底孔。调[衰减器]按钮使Ф2平底孔回波高达50%，记下此时[衰减器]读数N2dB。则仪器与探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。
5.8.2.
a)当折射角为34°～66°时，探头放在距Ф50远面处，使用Ф50mm孔进行测定。
b)当折射角为60°～75°时，探头放在距Ф50近面处，使用Ф50mm孔进行测定。
c)当折射角为74°～80°时，探头放在距Ф1.5近面处，使用Ф1.5mm孔进行测定。
d)测出探头前端到试块端面距离L0。
e)K=（L+ L0-35）/30
c)调节[衰减器]按钮,使Ф50、Ф44两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.8.
5.8.1.
a)将探头放在CSK-ⅠA试块上，使R100圆弧面回波达最高时斜楔底面与试块圆心的重合点就是该探头的入射点。
b)探头前沿L就是R100减去探头前端到圆弧面距离。
c)调节[衰减器]按钮,使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.7.2.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块上，对准Ф50、Ф44、Ф40三阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。
b)左右移动探头,使Ф50、Ф44两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
5.4.2.
a)仪器[增益]按钮至最大，[抑制]按钮至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]按钮使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
b)将探头置于CSK-ⅠA试块上，记下使R100圆弧面的第一次反射波最高达50%时的衰减量N2。则仪器与斜探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。