半导体复习习题及答案.doc

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复习思考题与自测题

第一章

1.原子中的电子和晶体中电子受势场作用情况以及运动情况石何不同,原子中内层电子和外层电子

参与共有化运动有何不同。

答:原子中的电子是在原子核与电子库伦相互作用势的束缚作用下以电子云的形式存在,没有一个固定的轨道;而晶体中的电子是在整个晶体内运动的共有化电子,在晶体周期性势场中运动。当原子互相靠近结成固体时,各个原子的内层电子仍然组成围绕各原子核的封闭壳层,和孤立原子一样;然而,外层价电子则参与原子间的相互作用,应该把它们看成是属于整个固体的一?种新的运动状态。组成晶体原子的外层电子共有化运动较强,其行为与自由电子相似,称为准自由电子,而内层电子共有化运动较弱,其行为与孤立原子的电子相似。

2.描述半导体中屯子运动为什么要引入〃有效质量〃的概念,用电子的惯性质量描述能带中电子运动有何局限性。

答:引进有效质量的意义在于它概括了半导体内部势场的作用,使得在解决半导体中电子在外力作用下的运动规律时,可以不涉及半导体内部势场的作用。惯性质量描述的是真空中的自由电子质量,而不能描述能带中不自由电子的运动,通常在晶体周期性势场作用下的电子惯性运动,成为有效质量

3.一般来说,对应于高能级的能带较宽,而禁带较窄,是否如此,为什么?

答:不是,能级的宽窄取决于能带的疏密程度,能级越高能带越密,也就是越窄;而禁带的宽窄取决于掺杂的浓度,掺杂浓度高,禁带就会变窄,掺杂浓度低,禁带就比较宽。

4.有效质量对能带的宽度有什么影响,有人说:〃TF效质量愈大,能量密度也愈大,因而能带愈窄. 是否如此,为什么?

答:有效质量与能量函数对于K的二次微商成反比,对宽窄不同的各个能带,1 (k)随k的变化情况不同,能带越窄,二次微商越小,有效质量越大,内层电子的能带窄,有效质量大;外层电子的能带宽,有效质量小。

5.简述有效质量与能带结构的关系;

答:能带越窄,有效质量越大,能带越宽,有效质量越小。

6.从能带底到能带顶,晶体中电子的有效质量将如何变化?外场对电子的作用效果有什么不同;

答:在能带底附近,电子的有效质量是正值,在能带顶附近,电子的有效质量是负值。在外电F

dk

作用下,电子的波失K不断改变,f = h —— ,其变化率与外力成正比,因为电子的速度与k有关,

dt

既然k状态不断变化,则电子的速度必然不断变化。

7.以硅的本征激发为例,说明半导体能带图的物理意义及其与碎:晶格结构的联系,为什么电子从其价键上挣脱出来所需的最小能量就是半导体的禁带宽度?

答:沿不同的晶向,能量带隙不一样。因为电子要摆脱束缚就能从价带跃迁到导带,这个时候的能量就是最小能量,也就是禁带宽度。

2.为什么半导体满带中的少量空状态可以用具有正电荷和一定质量的空穴来描述?

答:空穴是一个假想带正电的粒子,在外加电场中,空穴在价带中的跃迁类比当水池中气泡从水池底部上升时,气泡上升相当于同体积的水随气泡的上升而下降。把气泡比作空穴,下降的水比作电子,因为在出现空穴的价带中,能量较低的电子经激发可以填充空穴,而填充了空穴的电子乂留下了一个空穴。因此,空穴在电场中运动,实质是价带中多电子系统在电场中运动的另一种描述。因为人们发现,描述气泡上升比描述因气泡上升而水下降更为方便。所以在半导体的价带中,人们的注意力集中于空穴而不是电子。

3.有两块硅单晶,其中一?块的重量是另一块重量的二倍.这两块晶体价带中的能级数是否相等,彼

此有何联系?

答:相等,没任何关系

4.为什么极值附近的等能面是球面的半导体,当改变磁场方向时只能观察到一个共振吸收峰。

答:各向同性。

5.金刚石晶体结构和闪锌矿晶体结构的晶向对物理性质的影响。

6.典型半导体的带隙。

一般把禁带宽度等于或者大于2. 3ev的半导体材料归类为宽禁带半导体,主要包括金刚石,SiC, GaN,金刚石等。26族禁带较宽,46族的比较小,如儒化铅,硒化铅(0. 3ev) , 35族的令化镣

(1. 4ev) o

第二章

1.说明杂质能级以及电离能的物理意义。为什么受主、施主能级分别位于价带之上或导带之卜,

而且电离能的数值较小?

答:被杂质束缚的电子或空穴的能量状态称为杂质能级,电子脱离杂质的原子的束缚成为导电电子的过程成为杂质电离,使这个多余的价电子挣脱束缚成为导电电子所需要的能量成为杂质电离能。杂质能级离价带或导带都很近,所以电离能数值小。

2.纯钻,硅中掺入III或V族元素后,为什么使半导体电学性能有很大的改变?杂质半导体(p型或

n型)应川很广,但为什么我们很强调对半导体材料的提纯?

答:因为掺入HT或V族后,杂质产生了电离,使得到导带中得电子或价带中得空穴增多,增强了半导体的导电能力。极微量的杂质和缺陷,能够对半导体材料的物理性质和化学性质产生决定性的影响,,当然,也严重影响着半导体器件的质量。

3.把不同种类的施主杂质掺入同一种半导体材料中,杂质的电离能和轨道半径是否不同?把同一种

杂质掺入到不同的半导体材料中(例如情和硅),杂质的电离能和轨道半径又是否都相同?答:不相同

4.何谓深能级杂质,它们电离以后有什么特点?

答:杂质电离能大,施主能级远离导带底,受主能级远离价带顶。特点:能够产生多次电离,每一次电离相应的有一个能级。

5.为什么金元素在钻或硅中电离后可以引入多个施主或受主能级?

答:因为金是深能级杂质,能够产生多次电离,每一次电离相应的有一个能级,因此,金在硅饴的禁带往往能引入若干个能级。

6.说明掺杂对半导体导电性能的影响。

答:在纯净的半导体中掺入杂质后,可以控制半导体的导电特性。掺杂半导体又分为n 型半导体和p型半导体。

例如,在常温情况下,本征Si中的电子浓度和空穴浓度均为1.5X10,0cm-3o当在Si中掺入l.OXlO'W 后,半导体中的电子浓度将变为 1.0X1016cm-3,而空穴浓度将近似为 2.25X104cm-\半导体中的多数载流子是电子,而少数载流子是空穴。

7.说明半导体中浅能级杂质和深能级杂质的作用有何不同?

答:深能级杂质在半导体中起复合中心或陷阱的作用。

浅能级杂质在半导体中起施主或受主的作用

8.什么叫杂质补偿,什么叫高度补偿的半导体,杂质补偿石何实际应用。

答:当半导体中既有施主乂有受主口寸,施主和受主将先相互抵消,剩余的杂志最后电离,这就是杂质补偿,若施主电子刚好填充受主能级,虽然杂质很多,但不能向导带和价带提供电子和空穴,这种现象称为杂质的高度补偿。利用杂质补偿效应,可以根据需要改变半导体中某个区域的导电类型,制造各种器件。

9.什么是半导体的共掺杂

答:掺入两种或两种元素以上

10.用氢原子模型计算杂质电离能第三章

1.半导体处于怎样的状态才能叫处于热平衡状态,其物理意义如何?

载流于激发和载流子复合之间建立起动态平衡时称为热平衡状态,这时电子和空穴的浓度都保持一个稳定的数值,处在这中状态下的导电电子和空穴称为热平衡载流子。

2.什么是能量状态密度

能带中能量E附近每单位能量间隔内的量子态数。

3.什么叫统计分布函数,费米分布和玻耳兹曼分布的函数形式有何区别?在怎样的条件下前者可

以过渡到后者,为什么半导体中载流子分布可以用玻耳兹曼分布描述?

统计分布函数描述的事热平衡状态下电子在允许的量子态如何分布的一个统计分布函数。

当E-EF?kT时,前者可以过度到后者。

4.说明费米能级的物理意义,根据费米能级位置如何计算半导体中电子和空穴浓度,如何理解费米

能级是掺杂类型和掺杂程度的标志。

费米能级的意义:当系统处于热平衡状态,也不对外界做功的情况下,系统增加一个电子所引起的系统自由能的变化,等于系统的化学能。

n型掺杂越高,电子浓度越高,EF就越高。

5.在半导体计算中,经常应用这个条件把电子从费米能级统计过渡到玻耳兹曼统计,试说明这种过渡

的物理意义。

E-EF?kT时,量子态为屯子占据的概率很小,适合于波尔兹曼分布函数,泡利原理失去作用,两者统计结果变得一样了。

6.写出半导体的电中性方程,此方程在半导体中有何重要意义?

电子浓度等于空穴浓度。

意义:平衡状态下半导体体内是电中性的。

7.半导体本征载流子浓度的表达式及其费米能级

载流子浓度:ni=nOpO=(NcNv) l/2cxp(-Eg/2kT)

费米能级:Ei=Ef= (Ec+Ev) /2+ (3kT/4) *ln (mp/mn)

8.若n型硅中掺入受主杂质,费米能级升高还是降低?若温度升高当本征激发起作用时,费米能级

在什么位置,为什么?

费米能级降低了。

费米能级在本征费米能级以上。

9.如何理解分布函数与状态密度的乘枳再对能量积分即可求得电子浓度?

根据公式和常识,必然是这样。

10.为什么硅半导体器件比钻器件的工作温度高?

硅的禁带宽度比借大,且在相同温度卜,错的本征激发强于硅,很容易就达到较高的本征载流子浓度,使器件失去性能。

11.当温度一定时,杂质半导体的费米能级主要由什么因素决定?试把强n,弱n型半导体与强P, 弱

P半导体的费米能级与本征半导体的费米能级比较。

决定因素:掺杂浓度,掺杂能级,导带的电子有效态密度等。

费米能级比较:强n>弱n〉本征〉弱p>强p

12.如果向半导体中重掺施主杂质,就你所知会出现一些什么效应?

费米能级深入到导带或者价带中

13.半导体的简并化判据

Ec-Ef<=0

第四章

1.试从经典物理和量子理论分别说明载流子受到散射的物理意义。

经典:电子在运动中和晶格或者杂质离子发牛碰撞导致载流子速度的大小和方|hj发生了改变。

量子理论:电子波仔半导体传播时遭到了散射。

2.半导体的主要散射机制。

电离杂质散射;

晶格振动散射,包括声子波和光学波散射;

其他因素散射:等能谷散射,中性杂质散射,位错散射,合金散射,等。

3.比较并区别下述物理概念:电导迁移率,漂移迁移率和霍耳迁移率。

电导迁移率:

漂移迁移率:载流子在电场作用下运动速度的快慢的量度,运动得越快,迁移率越大;运

动得慢,迁移率小

霍尔迁移率:Hall系数RH与电导率a的乘积,即| RH |。,具有迁移率的量纲,Hall迁移率u H 实际上不一定等于我流子的电导迁移率u ,因为载流子的速度分布会影响到电导迁移率

4.什么是声子?它对半导体材料的电导起什么作用? 声子是晶格振动的简正模能量量子,声子可以产生和消灭,有相互作用的声子数不守恒, 声子动量的守恒律也不同于一般的粒子,并且声子不能脱离固体存在。

电子在半导体中传输时若发生晶格振动散射,则会发出或者吸收声子,使电子动量发生改变,从而影响到电导率。

5.平均自由程,平均自由时间,散射儿率

平均自由程:电子在受到两次散射之间所走过的平均距离;

平均自由时间:电子在受到两次散射之间运动的平均时间;

散射儿率:用来描述散射的强弱,代表单位时间内一个载流子受到散射的次数。

6.儿种散射机制同时存在,总的散射儿率

总散射概率等于多种散射概率之和。

7.一块本征半导体样品,试描述用以增加其屯导率的两个物理过程。

提高迁移率和和提高本征载流子浓度

8.如果有相同的屯阻率的掺杂铭?和硅半导体,问哪一个材料的少子浓度高,为什么?

钻的少子浓度高。由电阻率=l/nqu和(ni) 2=n0p0以及硅和铭?本征载流子浓度的数量级差别,可以算出馅的少子浓度高。

9.硅电阻率与温度的关系图

10.光学波散射和声学波散射的物理机构有何区别?各在什么样晶体中起主要作用?

光学波散射:弹性散射,散射前后电子能量基本不变。主要在离子性晶体中起作用

声学波散射:非弹性散射,散射前后电子能量发生改变。主耍在共价性晶体中起作用。

11.说明木征错和硅中载流子迁移率随温度增加如何变化?

迁移率随温度的升高逐渐降低

12.电导有效质量和状态密度有效质量有何区别?它们与电子的纵向有效质量和横向有效质量的关

系如何?

当导带底的等能面不是球面时,不同方向的电导的有效质量就不同,旦态密度分布可能不同,通过把不同的电导有效质量进行加权平均,就可以换算得到状态密度的有效质量。

13.对于仅含一种杂质的铐样品,如果要确定载流子符号、浓度、迁移率和有效质量,应进行哪些

测量?

进行霍尔系数测量:和网旋共振法测有效质量。

14.解释多能谷散射如乍>1影响材料的导电性。

多能谷之间右效质量不同导致迁移率不同,当电子从一能谷跃迁到另一能谷时,迁移率会

减低,导致导电性降低。

15.解释耿氏振荡现象,振荡频率取决于哪些参数?

耿氏振荡来源于半导体内的负微分电导,振荡频率决定于外加电压和器件的长度。

16.半导体本征吸收与本征光电导

木征吸收:半导体吸收光子能量大于带隙的光子,使电子直接跃迁到导带。

乂本征吸收产生的非平衡载流子的增加使半导体电导率增加。

17.光电导灵敏度与光电导增益因子

光电导灵敏度:单位光照度所引起的光电导

增益因子:铜一?种材料由于结构不同,可以产生不同的光电导效果,用增益因子来表示光电导的增强。

第五章

1.区别半导体平衡状态和非平衡状态有何不同?什么叫非平衡载流子?什么叫非平衡载流子的稳定分布?

半导体的热平衡状态是相对的,有条件的。如果对半导体施加外界作用,破坏了热平衡条件,这就迫使它处于与热平衡状态相偏离的状态,称为非平衡状态。处于非平衡态的半导体比平衡态多出来的这部分载流子称为非平衡载流子。

2.掺杂、改变温度和光照激发均能改变半导体的电导率,它们之间有何区别?试从物理模型上予以说明。

掺杂:增加浓度,

温度:增加木征载流子

光照:产生非平衡载流子,增加载流子数目

3.在平衡情况下,载流子有没有殳合这种过程?为什么着重讨论非平衡载流子的复合过程?

有,

4.为什么不能用费米能级作为非平衡载流子浓度的标准而要引入准费米能级?费米能级和准费米能级有何区别?

当热平衡状态受到外界影响,遭到破坏,使半导体处于非平衡状态,不再存在统一的费米能级,因为费米能级和统计分布函数都是指热平衡状态下。而分别就价带和导带中的电子来说,它们各自基本上处于平衡状态,导带利价带之间处于不平衡状态,准费米能级是不重合

的。

5.在稳定不变的光照下,半导体中电子和空穴浓度也是保持恒定不变的,但为什么说半导体

处于非平衡状态?

光照是外部条件,

6.说明宜接复合、间接复合的物理意义。

直接:电子在导带和价带之间的直接跃迁而引起的电子和空穴的夏合消失过程

间接复合:电子空穴通过禁带中的能级复合;

7.区别:复合效应和陷阱效应,复合中心和陷阱中心,俘获和复合,俘获截而和俘获儿率。复合效应:

陷阱效应:积累非平衡载流子的作用。相应的杂质和缺陷为陷阱中心

8.非辐射复合主要有哪儿种?

非辐射复合:表而复合;深能级复合;俄歇(Auger)复合;

9.载流子的寿命

非平衡载流子浓度减少到1/e所经历的时间。

10.扩散流密度与稳态扩散方程

单位时间通过单位面积的粒子数称为扩散流密度;

参考P165 5-81

11.爱因斯坦关系的推导

P170-I71

非简并丰导体平街状态下我减子的分布:

因此有

: 〃o(x) = N c

exp[_一c —W L.]

求导救得列:

利用: 代入公式:

汩=-穿 dx

dx 〃。⑴心(x) = -R

衅 dx

得到麦因斯坦关系式:

46

因为存在附加静电势[?qV(x)]今导带底发生移动:

E c 今 Ec ? qV(x)

12. 连续性方程中各项的物理意义及其典型器件结构的解

第1项---山于扩散运动,单位时间单位体积中积累的空穴数;

第2,3项…由于漂移运动,单位时间单位体积中积累的空穴数;

第4项---由于其它某种因素单位时间单位体积中产生的空穴数(产生率);

第5项…为由于存在夏合过程单位时间单位体积中复合消失的空穴数;

第六章

1. 平衡pn 结有什么特点,画出势垒区中载流子漂移运动和扩散运动的方向。

2. 定性地画出正向偏置时pn 结能带图;在图上标出准费米能级的位置,并与平衡时pn 结能dx

带图进行比较。

P 0

正向偏压下的pn 结的费徂能级

E Fn > E Fn

r 11

r p ? ? ? ?

3. 写出pn 结整流方程,并说明方程中每一项的物理意义,对于较大的正向偏置和反向偏置,

这个方程分别说明什么样的物理过程。

*回(即

正向偏压,V>0,正向电流密度随正向偏压指数增大。

反向电流密度为常数,不随偏压改变

4. 反向电流由哪儿部分构成的?在一般情况下什么是主要的?为什么反向电流和温度关系 很大?

P

E

Jq(V^-V)

E

电子扩散区 、虫大扩散区

5 .解释硅pn结的反向电流随反向电压增加而增大的原因。

6.为什么pn结的接触电位差不能通过力.用表跨接在二极管两端的方法进行测量。

7.当pn结n型区的电导率远远大于p型区的电导率时,pn结电流主要是空穴流还是电子流?

8.说明pn结理想模型的基本假设,在推导pn结电流-电压关系时,这些基本假设体现在哪些地方?

%1小注入…即注入少数载流子浓度比平衡多数载流子浓度小得多;

%1突变耗尽层---即外加电压和接触电势差都落在耗尽层上,耗尽层中

的电荷是由电离施主和电离受主的电荷组成,耗尽层外的半导体是

电中性的。因此,注入的少数载流子在p区和n区是纯扩散运动;

%1通过耗尽层的电子和空穴电流为常量一耗尽层中没有载流子的产生

及复合作用;

%1玻耳兹曼边界条件…即在耗尽层两端,载流子分布满足玻耳兹曼统

计分布.

9.分别画出正向、反向偏置pn结n侧少数载流子的浓度与到pn结距离之间的函数关系曲线, 指出过剩载流子浓度何处为正、何处为负?

10.对于非理想pn情况应做如何修止(着重从物理角度予以说明)。

测量结果与理论值存在差异的主要原因:

%1势垒区中载流子的产生与复合对电流影响;

%1大的注入条件

%1表而复合

%1串联电阻效应

(整理者:宋凌云)

半导体物理 课后习题答案

第一章习题 1.设晶格常数为a 的一维晶格,导带极小值附近能量E c (k)和价带极大值附近 能量E V (k)分别为: E c =02 20122021202236)(,)(3m k h m k h k E m k k h m k h V - =-+ 0m 。试求:为电子惯性质量,nm a a k 314.0,1==π (1)禁带宽度; (2) 导带底电子有效质量; (3)价带顶电子有效质量; (4)价带顶电子跃迁到导带底时准动量的变化 解:(1) eV m k E k E E E k m dk E d k m k dk dE Ec k k m m m dk E d k k m k k m k V C g V V V c 64.012)0()43 (0,060064 3 382324 3 0)(2320 2121022 20 202 02022210 1202== -==<-===-==>=+===-+ 因此:取极大值处,所以又因为得价带: 取极小值处,所以:在又因为:得:由导带: 04 32 2 2 *8 3)2(1 m dk E d m k k C nC = ==

s N k k k p k p m dk E d m k k k k V nV /1095.704 3 )() ()4(6 )3(25104 3 002 2 2*1 1 -===?=-=-=?=- == 所以:准动量的定义: 2. 晶格常数为0.25nm 的一维晶格,当外加102V/m ,107 V/m 的电场时,试分别 计算电子自能带底运动到能带顶所需的时间。 解:根据:t k h qE f ??== 得qE k t -?=? s a t s a t 137 19282 19 11027.810106.1) 0(1027.81010 6.1)0(----?=??-- = ??=??-- = ?π π 第三章习题和答案 1. 计算能量在E=E c 到2 *n 2 C L 2m 100E E π+= 之间单位体积中的量子态数。 解 3 2 2233 *28100E 212 33*22100E 00212 3 3 *231000 L 8100)(3222)(22)(1Z V Z Z )(Z )(22)(23 22 C 22C L E m h E E E m V dE E E m V dE E g V d dE E g d E E m V E g c n c C n l m h E C n l m E C n n c n c πππππ=+-=-=== =-=*++??** )()(单位体积内的量子态数) (

统计学原理第五版课后答案

统计学原理 (第五版 )》计算题解答 第三章 综合指标 1. 见教材 P404 2. 产量计划完成相对数 解得: 计划为上年的 % 105% 101.94% 103% 即计划规定比上年增长 1.94% 6. 见教材 P405 7. 见教 材 P405 8. 在相同的耕地自然条件下,乙村的单产均高于甲村,故乙村的生产经营管理工作做得好。但由于 甲村的平原地所占比重大,山地所占比重小,乙村则相反,由于权数的作用,使得甲村的总平均 单产高于乙村。 9. (%) 实际为上年的 % (%) 计划为上年的 % 1.85%完成 (%) 实际完成数 (%) (%) 计划完成数 (%) 90% 一季度产品单位成本未完成计划,实际单位成本比计划规定数高 2.22% 实际为上年的 % 105% 5. 计划完成程度指标 (%) 103% 计划为上年的 % 计划为上年的 % 3. 计划完成程度指标 110% 101.85% 108% 劳动生产率计划超额 4. 计划完成程度指 标 92% 102.22% m 675000 18 20 23 25 70 122.86% X 甲 X 乙 xf f 625000 2500 250(千克 / 亩)

平均计划完成程度 X x f 10. 见教材 P406 11. X G 3 0.9574 0.9222 0.963 94.74% 12. f 2 S m 1 M e X L 2 d L f m 600 256 275 2 25 133 275 8.25 283.3(千克/亩) 1 M 0 X L 1 d 0 L 1 2 133 84 275 25 (133 - 84) (133 -119) 275 19.45 294.5(千克 /亩 ) 103.9% f 600 300 22 275 300为中位数所在

半导体习题和解答

第一篇 半导体中的电子状态习题 1-1、 什么叫本征激发?温度越高,本征激发的载流子越多,为什么?试定性说 明之。 1-2、 1-2、 试定性说明Ge 、Si 的禁带宽度具有负温度系数的原因。 1-3、 试指出空穴的主要特征。 1-4、简述Ge 、Si 和GaAS 的能带结构的主要特征。 1-5、某一维晶体的电子能带为 [])sin(3.0)cos(1.01)(0ka ka E k E --= 其中E 0=3eV ,晶格常数a=5х10-11m 。求: (1) 能带宽度; (2) 能带底和能带顶的有效质量。 题解: 1-1、 解:在一定温度下,价带电子获得足够的能量(≥E g )被激发到导带成 为导电电子的过程就是本征激发。其结果是在半导体中出现成对的电子-空穴对。如果温度升高,则禁带宽度变窄,跃迁所需的能量变小,将会有更多的电子被激发到导带中。 1-2、 解:电子的共有化运动导致孤立原子的能级形成能带,即允带和禁带。温 度升高,则电子的共有化运动加剧,导致允带进一步分裂、变宽;允带变宽,则导致允带与允带之间的禁带相对变窄。反之,温度降低,将导致禁带变宽。因此,Ge 、Si 的禁带宽度具有负温度系数。 1-3、 解:空穴是未被电子占据的空量子态,被用来描述半满带中的大量电子的 集体运动状态,是准粒子。主要特征如下: A 、荷正电:+q ; B 、空穴浓度表示为p (电子浓度表示为n ); C 、E P =-E n D 、m P *=-m n *。 1-4、 解: (1) Ge 、Si: a )Eg (Si :0K) = 1.21eV ;Eg (Ge :0K) = 1.170eV ; b )间接能隙结构 c )禁带宽度E g 随温度增加而减小; (2) GaAs : a )E g (300K )= 1.428eV ,Eg (0K) = 1.522eV ; b )直接能隙结构; c )Eg 负温度系数特性: dE g /dT = -3.95×10-4eV/K ; 1-5、 解: (1) 由题意得: [][])sin(3)cos(1.0)cos(3)sin(1.002 2 20ka ka E a k d dE ka ka aE dk dE +=-=

(完整版)高电压技术(第三版)课后习题集答案解析2

第一章作业 1-1解释下列术语 (1)气体中的自持放电;(2)电负性气体; (3)放电时延;(4)50%冲击放电电压;(5)爬电比距。 答:(1)气体中的自持放电:当外加电场足够强时,即使除去外界电离因子,气体中的放电仍然能够维持的现象; (2)电负性气体:电子与某些气体分子碰撞时易于产生负离子,这样的气体分子组成的气体称为电负性气体; (3)放电时延:能引起电子崩并最终导致间隙击穿的电子称为有效电子,从电压上升到静态击穿电压开始到出现第一个有效电子所需的时间称为统计时延,出现有效电子到间隙击穿所需的时间称为放电形成时延,二者之和称为放电时延; (4)50%冲击放电电压:使间隙击穿概率为50%的冲击电压,也称为50%冲击击穿电压; (5)爬电比距:爬电距离指两电极间的沿面最短距离,其与所加电压的比值称为爬电比距,表示外绝缘的绝缘水平,单位cm/kV。

1-2汤逊理论与流注理论对气体放电过程和自持放电条件的观点有何不同?这两种理论各适用于何种场合? 答:汤逊理论认为电子碰撞电离是气体放电的主要原因,二次电子来源于正离子撞击阴极使阴极表面逸出电子,逸出电子是维持气体放电的必要条件。所逸出的电子能否接替起始电子的作用是自持放电的判据。流注理论认为形成流注的必要条件是电子崩发展到足够的程度后,电子崩中的空间电荷足以使原电场明显畸,流注理论认为二次电子的主要来源是空间的光电离。 汤逊理论的适用范围是短间隙、低气压气隙的放电;流注理论适用于高气压、长间隙电场气隙放电。 1-3在一极间距离为1cm的均匀电场电场气隙中,电子碰撞电离系数α=11cm-1。今有一初始电子从阴极表面出发,求到达阳极的电子崩中的电子数目。 解:到达阳极的电子崩中的电子数目为 n a= eαd= e11?1=59874

半导体材料课后题答案

绪论 1. 半导体的基本特性? ①电阻率大体在10-3~109Ω?cm范围 ②整流效应 ③负电阻温度系数 ④光电导效应 ⑤光生伏特效应 ⑥霍尔效应 2. 为什么说有一天,硅微电子技术可能会走到尽头? ①功耗的问题 存储器工作靠的是成千上万的电子充放电实现记忆的,当芯片集成度越来越高耗电量也会越来越大,如何解决散热的问题? ②掺杂原子均匀性的问题 一个平方厘米有一亿到十亿个器件,掺杂原子只有几十个,怎么保证在每一个期间的杂质原子的分布式一模一样的呢?是硅微电子技术发展遇到的又一个难题 ③SiO2层量子隧穿漏电的问题 随着器件尺寸的减小,绝缘介质SiO2的厚度也在减小,当减小到几个纳米的时候,及时很小的电压,也有可能使器件击穿或漏电。量子隧穿漏电时硅微电子技术所遇到的另一个问题。 ④量子效应的问题 如果硅的尺寸达到几个纳米时,那么量子效应就不能忽略了,现有的集成电路的工作原理就可能不再适用 第一章 ⒈比较SiHCl3氢还原法和硅烷法制备高纯硅的优缺点? ⑴三氯氢硅还原法 优点:产率大,质量高,成本低,是目前国内外制备高纯硅的主要方法。 缺点:基硼、基磷量较大。

⑵硅烷法 优点 ①除硼效果好;(硼以复盐形式留在液相中) ②无腐蚀,降低污染;(无卤素及卤化氢产生) ③无需还原剂,分解效率高; ④制备多晶硅金属杂质含量低(SiH4的沸点低) 缺点:安全性问题 相图 写出合金Ⅳ由0经1-2-3的变化过程 第二章 ⒈什么是分凝现象?平衡分凝系数?有效分凝系数? 答:⑴分凝现象:含有杂质的晶态物质溶化后再结晶时,杂质在结晶的固体和未结晶的液体中浓度不同,这种现象较分凝现象。 ⑵平衡分凝系数:固液两相达到平衡时,固相中的杂质浓度和液相中的杂 质浓度是不同的,把它们的比值称为平衡分凝系数,用K0表示。 K0=C S/C L

统计学原理(第五版)》习题计算题答案详解

《统计学原理(第五版)》习题计算题答案详解 第二章 统计调查与整理 1. 见教材P402 2. 见教材P402-403 3. 见教材P403-404 第三章 综合指标 1. 见教材P432 2. %86.12270 25 232018=+++= 产量计划完成相对数 3. 所以劳动生产率计划超额%完成。 4. %22.102% 90% 92(%)(%)(%)=== 计划完成数实际完成数计划完成程度指标 一季度产品单位成本,未完成计划,还差%完成计划。 5. %85.011100%8% 110% 1=?++==计划完成数实际完成数计划完成程度指标计划完成数;所以计划完成数实际完成数标因为,计划完成程度指%105%103= = 1.94%%94.101% 103% 105,比去年增长解得:计划完成数==()得出答案)将数值带入公式即可以计算公式, 上的方程,给大家一个很多同学都不理解也可以得出答案,鉴于(根据第三章天)。 个月零天(也即是个月零(月)也就是大约)(上年同季(月)产量达标季(月)产量超出计划完成产量 达标期完成月数计划期月数超计划提前完成时间达标期提前完成时间完成计划的时间万吨。根据公式:提前多出万吨,比计划数万吨产量之和为:季度至第五年第二季度方法二:从第四年第三PPT PPT 6868825.8316-32070 -7354-60--3707320181718=+=+=+==+++()天完成任务。个月零 年第四季度为止提前(天),所以截止第五)(根据题意可设方程:万吨完成任务。天达到五年第二季度提前万吨。根据题意,设第万吨达到原计划,还差万吨产量之和为:季度至第五年第一季度方法一:从第四年第二6866891 -91*20)181718(1916707016918171816=++++=+++x x x

半导体物理习题答案

第一章半导体中的电子状态例1.证明:对于能带中的电子,K状态和-K状态的电子速度大小相等,方向相反。即:v(k)= -v(-k),并解释为什么无外场时,晶体总电流等于零。 解:K状态电子的速度为: ?????????????????????????????????????????? (1)同理,-K状态电子的速度则为: ????????????????????????????????????????(2)从一维情况容易看出:??????? ????????????????????????????????????????????????????????(3)同理有:????????????????????????????? ????????????????????????????????????????????????????????(4)???????????????????????????????????????????????????????? ?????????????????????(5) 将式(3)(4)(5)代入式(2)后得: ??????????????????????????????????????????(6)利用(1)式即得:v(-k)= -v(k)因为电子占据某个状态的几率只同该状态的能量有关,即:E(k)=E(-k)故电子占有k状态和-k状态的几率相同,且v(k)=-v(-k)故这两个状态上的电子电流相互抵消,晶体中总电流为零。

例2.已知一维晶体的电子能带可写成: 式中,a为晶格常数。试求: (1)能带的宽度; (2)能带底部和顶部电子的有效质量。 解:(1)由E(k)关系??????????????????? ??????????????????????????????????????????????? (1) ????????????????????????????????????(2)令???得:????? 当时,代入(2)得: 对应E(k)的极小值。 ?当时,代入(2)得: 对应E(k)的极大值。 根据上述结果,求得和即可求得能带宽度。 故:能带宽度????????? (3)能带底部和顶部电子的有效质量: 习题与思考题: 1 什么叫本征激发?温度越高,本征激发的载流子越多,为什么?试定性说明之。 2 试定性说明Ge、Si的禁带宽度具有负温度系数的原因。

高电压技术第二版习题答案

第一章 1—1 气体中带电质点是通过游离过程产生的。游离是中性原子获得足够的能量(称游离能)后成为正、负带电粒子的过程。根据游离能形式的不同,气体中带电质点的产生有四种不同方式: 1.碰撞游离方式在这种方式下,游离能为与中性原子(分子)碰撞瞬时带电粒子所具有的动能。虽然正、负带电粒子都有可能与中性原子(分子)发生碰撞,但引起气体发生碰撞游离而产生正、负带电质点的主要是自由电子而不是正、负离子。 2.光游离方式在这种方式下,游离能为光能。由于游离能需达到一定的数值,因此引起光游离的光主要是各种高能射线而非可见光。 3.热游离方式在这种方式下,游离能为气体分子的内能。由于内能与绝对温度成正比,因此只有温度足够高时才能引起热游离。 4.金属表面游离方式严格地讲,应称为金属电极表面逸出电子,因这种游离的结果在气体中只得到带负电的自由电子。使电子从金属电极表面逸出的能量可以是各种形式的能。 气体中带电质点消失的方式有三种: 1.扩散带电质点从浓度大的区域向浓度小的区域运动而造成原区域中带电质点的消失,扩散是一种自然规律。 2.复合复合是正、负带电质点相互结合后成为中性原子(分子)的过程。复合是游离的逆过程,因此在复合过程中要释放能量,一般为光能。 、水蒸汽)分子易吸附气体中的自由 3.电子被吸附这主要是某些气体(如SF 6 电子成为负离子,从而使气体中自由电子(负的带电质点)消失。 1—2 自持放电是指仅依靠自身电场的作用而不需要外界游离因素来维持的放电。外界游离因素是指在无电场作用下使气体中产生少量带电质点的各种游离因素,如宇宙射线。讨论气体放电电压、击穿电压时,都指放电已达到自持放电阶段。 汤生放电理论的自持放电条件用公式表达时为 γ(eαs-1)=1 此公式表明:由于气体中正离子在电场作用下向阴极运动,撞击阴极,此时已起码撞出一个自由电子(即从金属电极表面逸出)。这样,即便去掉外界游离因素,仍有引起碰撞游离所需的起始有效电子,从而能使放电达到自持阶段。 1—3 汤生放电理论与流注放电理论都认为放电始于起始有效电子通过碰撞游离形成电子崩,但对之后放电发展到自持放电阶段过程的解释是不同的。汤生放电理论认为通过正离子撞击阴极,不断从阴极金属表面逸出自由电子来弥补引起电子碰撞游离所需的有效电子。而流注放电理论则认为形成电子崩后,由于正、负空间电荷对电场的畸变作用导致正、负空间电荷的复合,复合过程所释放的光能又引起光游离,光游离结果所得到的自由电子又引起新的碰撞游离,形成新的电子崩且汇合到最初电子崩中构成流注通道,而一旦形成流注,放电就可自己维持。因此汤生放电理论与流注放电理论最根本的区别在于对放电达到自持阶段过程的解释不同,或自持放电的条件不同。 汤生放电理论适合于解释低气压、短间隙均匀电场中的气体放电过程和现象,而流注理论适合于大气压下,非短间隙均匀电场中的气体放电过程和现象。

数据统计学原理第1章课后答案

第一章总论 一、单项选择题 1、威廉·配第是( B )的代表人物。 A、记述学派 B、政治算术学派 C、社会学派 D、数理统计学派 2、在1749年出版的《近代欧洲各国国势学论》中首先使用了“统计学”这个名词的是( B )。 A、约翰.格朗特 B、阿亨瓦尔 C、海门尔.康令 D、克尼斯 3、调查某一企业职工的健康状况,总体是( B )。 A、这个企业 B、这个企业的所有的职工 C、每个职工 D、所有的职工的健康状况 4、数量指标表现为( C )。 A、相对数 B、平均数 C、绝对数 D、变异数 5、名义级数据可以用来( A )。 A、分类 B、比较大小 C、加减运算 D、加减乘除四则运算。 6、间距级数据之间不可以(D)。 A、比较是否相等 B、比较大小 C、进行加减运算 D、进行乘除运算 7、2个大学生的身高分别为165厘米、172厘米,则165、172是(D)。 A、2个变量 B、2个标志 C、2个指标 D、2个数据 8、总体与总体单位的确定(A)。

A、与研究目的有关 B、与研究目的无关 C、与总体范围大小有关 D、与研究方法有关 9、通过有限数量的种子发芽试验结果来估计整批种子的发芽率,这 种统计方法是属于(A)。 A、推断统计学 B、描述统计学 C、数学 D、逻辑学 10、2010年11月1日,我国将举行第六次全国人口普查,在人口普查中,总体单位是( A ) A.每一个人 B.每一个家庭 C.每一个地区 D.全国总人口 二、多项选择题 1、“统计”一词有三层含义(BCD ) A、统计设计 B、统计工作 C、统计资料 D、统计科学 E、统计图表 2、下面属于推断统计学研究内容的是(BCD ) A、数据收集 B、抽样调查 C、相关分析 D、假设检验 E、指数 3、下面指标属于质量指标的有(ABD) A、合格率 B、价格 C、产量 D、出勤率 E、星球个数 4、下面变量的答案属于比率级数据的有(BDE) A、温度 B、海拔高度 C、考试分数 D、日产量

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复习思考题与自测题 第一章 1.原子中的电子和晶体中电子受势场作用情况以及运动情况石何不同,原子中内层电子和外层电子 参与共有化运动有何不同。 答:原子中的电子是在原子核与电子库伦相互作用势的束缚作用下以电子云的形式存在,没有一个固定的轨道;而晶体中的电子是在整个晶体内运动的共有化电子,在晶体周期性势场中运动。当原子互相靠近结成固体时,各个原子的内层电子仍然组成围绕各原子核的封闭壳层,和孤立原子一样;然而,外层价电子则参与原子间的相互作用,应该把它们看成是属于整个固体的一?种新的运动状态。组成晶体原子的外层电子共有化运动较强,其行为与自由电子相似,称为准自由电子,而内层电子共有化运动较弱,其行为与孤立原子的电子相似。 2.描述半导体中屯子运动为什么要引入〃有效质量〃的概念,用电子的惯性质量描述能带中电子运动有何局限性。 答:引进有效质量的意义在于它概括了半导体内部势场的作用,使得在解决半导体中电子在外力作用下的运动规律时,可以不涉及半导体内部势场的作用。惯性质量描述的是真空中的自由电子质量,而不能描述能带中不自由电子的运动,通常在晶体周期性势场作用下的电子惯性运动,成为有效质量 3.一般来说,对应于高能级的能带较宽,而禁带较窄,是否如此,为什么? 答:不是,能级的宽窄取决于能带的疏密程度,能级越高能带越密,也就是越窄;而禁带的宽窄取决于掺杂的浓度,掺杂浓度高,禁带就会变窄,掺杂浓度低,禁带就比较宽。 4.有效质量对能带的宽度有什么影响,有人说:〃TF效质量愈大,能量密度也愈大,因而能带愈窄. 是否如此,为什么? 答:有效质量与能量函数对于K的二次微商成反比,对宽窄不同的各个能带,1 (k)随k的变化情况不同,能带越窄,二次微商越小,有效质量越大,内层电子的能带窄,有效质量大;外层电子的能带宽,有效质量小。 5.简述有效质量与能带结构的关系; 答:能带越窄,有效质量越大,能带越宽,有效质量越小。 6.从能带底到能带顶,晶体中电子的有效质量将如何变化?外场对电子的作用效果有什么不同; 答:在能带底附近,电子的有效质量是正值,在能带顶附近,电子的有效质量是负值。在外电F dk

高电压技术课后习题答案详解

1-1气体放电过程中产生带电质点最重要的方式是什么,为什么? 答: 碰撞电离是气体放电过程中产生带电质点最重要的方式。 这是因为电子体积小,其自由行程(两次碰撞间质点经过的距离)比离子大得多,所以在电场中获得的动能比离子大得多。其次.由于电子的质量远小于原子或分子,因此当电子的动能不足以使中性质点电离时,电子会遭到弹射而几乎不损失其动能;而离子因其质量与被碰撞的中性质点相近,每次碰撞都会使其速度减小,影响其动能的积累。 1-2简要论述汤逊放电理论。 答: 设外界光电离因素在阴极表面产生了一个自由电子,此电子到达阳极表面时由于过程,电子总数增至d eα个。假设每次电离撞出一个正离子,故电极空间共有(d eα-1)个正离子。这些正离子在电场作用下向阴极运动,并撞击阴极.按照系数γ的定义,此(d eα-1) eα-1)个正离子在到达阴极表面时可撞出γ(d 个新电子,则(d eα-1)个正离子撞击阴极表面时,至少能从阴极表面释放出一个有效电子,以弥补原来那个产生电子崩并进入阳极的电子,则放电达到自持放电。即汤逊理论的自持放电条件可表达为r(d eα=1。 eα-1)=1或γd 1-3为什么棒-板间隙中棒为正极性时电晕起始电压比负极性时略高? 答:(1)当棒具有正极性时,间隙中出现的电子向棒运动,进入强电场区,开始引起电离现象而形成电子崩。随着电压的逐渐上升,到放电达到自持、爆发电晕之前,在间隙中形成相当多的电子崩。当电子崩达到棒极后,其中的电子就进入棒极,而正离子仍留在空间,相对来说缓慢地向板极移动。于是在棒极附近,积聚起正空间电荷,从而减少了紧贴棒极附近的电场,而略为加强了外部空间的电场。这样,棒极附近的电场被削弱,难以造成流柱,这就使得自持放电也即电晕放电难以形成。 (2)当棒具有负极性时,阴极表面形成的电子立即进入强电场区,造成电子崩。当电子崩中的电子离开强电场区后,电子就不再能引起电离,而以越来越慢的速度向阳极运动。一部份电子直接消失于阳极,其余的可为氧原子所吸附形

半导体物理学-(第七版)-习题答案分解

3-7.(P 81)①在室温下,锗的有效状态密度Nc =1.05×1019cm -3,Nv =5.7×1018cm -3 ,试求锗的载流子有效质量m n *和m p * 。计算77k 时的Nc 和Nv 。已知300k 时,Eg =0.67eV 。77k 时Eg =0.76eV 。求这两个温度时锗的本征载流子浓度。②77k ,锗的电子浓度为1017 cm -3 ,假定浓度为零,而Ec -E D =0.01eV,求锗中施主浓度N D 为多少? [解] ①室温下,T=300k (27℃),k 0=1.380×10-23J/K ,h=6.625×10-34 J·S, 对于锗:Nc =1.05×1019cm -3,Nv=5.7×1018cm -3 : ﹟求300k 时的Nc 和Nv : 根据(3-18)式: Kg T k Nc h m h T k m Nc n n 3123 32 19 234032 2*32 3 0* 100968.5300 1038.114.32)21005.1()10625.6(2)2()2(2---?=??????=?=??=ππ根据(3-23)式: Kg T k Nv h m h T k m Nv p p 3123 3 2 18 2340 32 2 *32 3 0*1039173.33001038.114.32)2107.5()10625.6(2)2()2(2---?=??????=?=??=ππ﹟求77k 时的Nc 和Nv : 19192 3 23'233 2 30* 3 2 30*'10365.11005.1)30077()'(;)'()2(2) '2(2?=??===??=c c n n c c N T T N T T h T k m h T k m N N ππ 同理: 17182 3 23' 1041.7107.5)300 77()'(?=??==v v N T T N ﹟求300k 时的n i : 13181902 11096.1)052 .067 .0exp()107.51005.1()2exp()(?=-???=- =T k Eg NcNv n i 求77k 时的n i : 723 1918 1902 110094.1)77 1038.12106.176.0exp()107.51005.1()2exp()(---?=?????-???=-=T k Eg NcNv n i ②77k 时,由(3-46)式得到: Ec -E D =0.01eV =0.01×1.6×10-19;T =77k ;k 0=1.38×10-23;n 0=1017;Nc =1.365×1019cm -3 ; ;==-1619 2231917200106.610 365.12)]771038.12106.101.0exp(10[2)]2exp([??????????-=-Nc T k E Ec n N D D [毕] 3-8.(P 82)利用题7所给的Nc 和Nv 数值及Eg =0.67eV ,求温度为300k 和500k 时,含施主浓度N D =5×1015cm -3,受主浓度N A =2×109cm -3的锗中电子及空穴浓度为多少? [解]1) T =300k 时,对于锗:N D =5×1015cm -3,N A =2×109cm -3:

《统计学原理》课后习题答案

第一章练习题参考答案 一.单项选择题 1.B;2.A;3.B;4.C;5.D;6.A;7.C;8.C;9.C;10.A;11.C;12.C。 二.多项选择题 1.ABDE;2.ACD;3.BCD;4.ACD;5.ACDE;6.ACE;7.AD;8.ABC;9.ACD;10.AD;11.BCDE;12.ABCDE;13.AC。 三.判断题 1.×;2.×;3.×;4.×;5.√;6.×;7.×;8.√;9.×;10.√。 第二章练习题参考答案 一.单项选择题 1.C;2.C;3.D;4.B;5.D;6.D;7.B;8.D;9.B;10.B;11.A;12.C;13.D。 二.多项选择题 1.CE;2.ACE;3.CE;4.BCD;5.ABCE;6.BC;7.BCD;8.ABD;9.ABD;10.ACDE;11.ABCE;12.ABE。 三.判断题 1.×;2.√;3.×;4.×;5.×;6.×;7.√;8.×;9.×;10.×。 第三章练习题参考答案 一.单项选择题 1.B;2.C;3.C;4.C;5.D;6.B;7.B;8.B;9.D;10.B;11.A;12.B;13.D;14.A。 二.多项选择题 1.AB;2.AC;3.AB;4.ABC;5.AB;6.ABD;7.ABC;8.ACE;9.BD;10.ABDE。 三.判断题 1.√;2.×;3.×;4.×;5.√;6.×;7.√;8.√;9.×;10.×。 四.计算分析题 1

2 3.解:(1)编制组距式变量数列。 (2 直方图(略) 第四章练习题参考答案 一.单项选择题 1.C;2.D;3.B;4.D;5.C;6.A;7.C;8.C;9.B;10.C;11.B;12.D;13.A;14.D;15. 16.B;17.B;18.D;19.C;20.C;21.D;22.B;23.C;24.C;25.B。 二.多项选择题 1.ABC;2.DE;3.ABDE;4.ABCE;5.ABDE;6.CE;7.BCE;8.BDE;9.ACE;10.ACE;11.BDE。 三.计算分析题 2.解:2008年甲产品计划成本160×96%=153.6 元 实际成本160×94%=150.4元 单位产品成本计划完成程度=150.4÷153.6=97.9%

第1章 半导体器件习题及答案

第1章半导体器件 一、是非题 (注:请在每小题后[ ]内用"√"表示对,用"×"表示错) 1、P型半导体可通过在本半导体中掺入五价磷元素而获得。() 2、N型半导体可以通过在本征半导体中掺入三价元素而得到。() 3、在N型半导体中,掺入高浓度的三价杂质可以发型为P型半导体。() 4、P型半导体带正电,N型半导体带负电。() 5、N型半导体的多数载流子是电子,所以它带负电。() 6、半导体中的价电子易于脱离原子核的束缚而在晶格中运动。() 7、半导体中的空穴的移动是借助于邻近价电子与空穴复合而移动的。() 8、施主杂质成为离子后是正离子。() 9、受主杂质成为离子后是负离子。() 10、PN结中的扩散电流是载流子在电场作用下形成的。() 11、漂移电流是少数载流子在内电场作用下形成的。() 12、由于PN结交界面两边存在电位差,所以,当把PN结两端短路时就有电流流过。() 13、PN结在无光照、无外加电压时,结电流为零。() 14、二极管的伏安特性方程式除了可以描述正向特性和反向特性外,还可以描述二极管的反向击穿特性。() 15、通常的BJT管在集电极和发射极互换使用时,仍有较大的电流放大作用。() 16、有人测得某晶体管的U BE=,I B=20μA,因此推算出r be=U BE/I B=20μA=35kΩ。() 17、有人测得晶体管在U BE=,I B=5μA,因此认为在此工作点上的r be大约为26mV/I B=Ω。() 18、有人测得当U BE=,I B=10μA。考虑到当U BE=0V时I B=0因此推算得到

0.60 60()100 BE be B U r k I ?-= ==Ω?- ( ) 二、选择题 (注:在每小题的备选答案中选择适合的答案编号填入该题空白处,多选或不选按选错论) . 1、在绝对零度(0K )时,本征半导体中_________ 载流子。 A. 有 B. 没有 C. 少数 D. 多数 2、在热激发条件下,少数价电子获得足够激发能,进入导带,产生_________。 A. 负离子 B. 空穴 C. 正离子 D. 电子-空穴对 3、半导体中的载流子为_________。 A.电子 B.空穴 C.正离子 D.电子和空穴 4、N 型半导体中的多子是_________。A.电子 B.空穴 C.正离子 D.负离子 5、P 型半导体中的多子是_________。A.电子 B.空穴 C.正离子 D.负离子 6、在杂质半导体中,多数载流子的浓度主要取决于 ,而少数载流子的浓度则与 有 很大关系。 A. 温度 B. 掺杂工艺 C. 杂质浓度 C. 晶体缺陷 7、当PN 结外加正向电压时,扩散电流 漂移电流,耗尽层 。当PN 结外加反向电压 时,扩散电流 漂移电流,耗尽层 。 A.大于 B.小于 C.等于 D.变宽 E.变窄 F.不变 8、二极管正向电压从增大15%时,流过的电流增大_______。(A 1.15% B 1.大于 15% C 1.小于15%)当流过二极管的电流一定,而温度升高时,二极管的正向电压______。(A 2.增大B 2.减小;C 2.基本不变) 9、温度升高时,二极管的反向伏安特性曲线________。(A 1.上移 B 1.下移 C 1.不变)说 明此时反向电流________。(A 2.减小 B 2.增大 C 2.不变). 10、在下图所示电路中,当电源V=5V 时,测得I=1mA 。若把电源电压调整到V=10V ,则电流的

高电压技术第三版课后习题答案

第一章作

?1-1解释下列术语 (1)气体中的自持放电;(2)电负性气体; (3)放电时延;(4)50%冲击放电电压;(5)爬电比距。 答:(1)气体中的自持放电:当外加电场足够强时,即使除去外界电离因子,气体中的放电仍然能够维持的现象; (2)电负性气体:电子与某些气体分子碰撞时易于产生负离子,这样的气体分子组成的气体称为电负性气体; (3)放电时延:能引起电子崩并最终导致间隙击穿的电子称为有效电子,从电压上升到静态击穿电压开始到出现第一个有效电子所需的时间称为统计时延,出现有效电子到间隙击穿所需的时间称为放电形成时延,二者之和称为放电时延; (4)50%冲击放电电压:使间隙击穿概率为50%的冲击电压,也称为50%冲击击穿电压; (5)爬电比距:爬电距离指两电极间的沿面最短距离,其与所加电压的比值称为爬电比距,表示外绝缘的绝缘水平,单位cm/kV。

1-2汤逊理论与流注理论对气体放电过程和自持放电条件的观点有何不同?这两种理论各适用于何种场合? 答:汤逊理论认为电子碰撞电离是气体放电的主要原因,二次电子来源于正离子撞击阴极使阴极表面逸出电子,逸出电子是维持气体放电的必要条件。所逸出的电子能否接替起始电子的作用是自持放电的判据。流注理论认为形成流注的必要条件是电子崩发展到足够的程度后,电子崩中的空间电荷足以使原电场明显畸,流注理论认为二次电子的主要来源是空间的光电离。 汤逊理论的适用范围是短间隙、低气压气隙的放电;流注理论适用于高气压、长间隙电场气隙放电。 1-3在一极间距离为1cm的均匀电场电场气隙中,电子碰撞电离系数α=11cm-1。今有一初始电子从阴极表面出发,求到达阳极的电子崩中的电子数目。 解:到达阳极的电子崩中的电子数目为 n a? e?d? e11?1?59874 答:到达阳极的电子崩中的电子数目为59874个。

半导体物理课后习题解答

半导体物理习题解答 1-1.(P 32)设晶格常数为a 的一维晶格,导带极小值附近能量E c (k )和价带极大值附近能量E v (k )分别为: E c (k)=0223m k h +022)1(m k k h -和E v (k)= 0226m k h -0 2 23m k h ; m 0为电子惯性质量,k 1=1/2a ;a =0.314nm 。试求: ①禁带宽度; ②导带底电子有效质量; ③价带顶电子有效质量; ④价带顶电子跃迁到导带底时准动量的变化。 [解] ①禁带宽度Eg 根据dk k dEc )(=0232m k h +0 12)(2m k k h -=0;可求出对应导带能量极小值E min 的k 值: k min = 14 3 k , 由题中E C 式可得:E min =E C (K)|k=k min = 2 10 4k m h ; 由题中E V 式可看出,对应价带能量极大值Emax 的k 值为:k max =0; 并且E min =E V (k)|k=k max =02126m k h ;∴Eg =E min -E max =021212m k h =2 02 48a m h =11 28282 2710 6.1)1014.3(101.948)1062.6(----???????=0.64eV ②导带底电子有效质量m n 0202022382322 m h m h m h dk E d C =+=;∴ m n =022 283/m dk E d h C = ③价带顶电子有效质量m ’ 022 26m h dk E d V -=,∴022 2'61/m dk E d h m V n -== ④准动量的改变量 h △k =h (k min -k max )= a h k h 83431= [毕] 1-2.(P 33)晶格常数为0.25nm 的一维晶格,当外加102V/m ,107V/m 的电场时,试分别计算电子自能带底运动到能带顶所需的时间。 [解] 设电场强度为E ,∵F =h dt dk =q E (取绝对值) ∴dt =qE h dk

统计学原理课后练习答案修订版

第一章总论 一、判断题 1.√ 2. √3.×4.√ 5。× 6。×7.× 8.× 二、单选题 1.C 2.B 3.D 4.B 5.C 6。C 7.C8.A 9。B 10.C 11.A 三、多选题 1。ABCD(题目中的“五个”应去掉) 2.ABE 3。BDE 4。BE 5。AC 6.AC 第二章统计调查 一、判断题 1。× 2.×3.× 4。×5。√ 6。× 7.× 8.× 9。×10。√ 11.× 12.× 13。× 14.√ 15。√ 二、单选题 1.B 2。C 3.C 4。C 5。C 6.D 7.D 8.C 9.D 10。D 11.D 12。C 13.A 14.C 15。A 16.B 17.A 18.B 19.A 20.D 三、多选题 1.ABCDE 2.ABE 3。BDE 4.ABCD 5.ABCDE 第三章统计整理 一、判断题 1.× 2。× 3.×4.√5。√ 6.√ 7.× 8.×9.×10.× 11.√ 12.√ 二、单选题 1。B 2.B 3.B 4。A 5。A 6。C 7。D 8.C9。B 10。C11。D12.B 13。B 三、多选题 1.ADE 2.CDE 3.ABCD 4。CD 5.ACD 6.ABCD 7.CDE 8.BC 9.BCE

四、计算题 1.某班学生英语考试成绩频数分配表 2.某生产车间工人日加工零件数频数分配表 第4章综合指标 一、判断题 1。√ 2. ×3。× 4. √ 5.√ 6.×7.×8。× 9。×10. ×

11. × 12。 √ 13. × 14. × 15。 × 三、单选题 1. B 2。 D 3. C 4。 D 5。 C 6。 D 7. C 8. D 9。 B 10。 A 11. D 12. B 四、多项选择题 1。 AC E 2. ABC 3.BD 4. BCD 5。 BC D 6. AB D 7。 BCDE 8。 ACE 五、计算题 1。⑴ 企业 2008年 2007年实际销售 额 2008年销售额为2007年的百分比(%) 计划 实际 完成计 划(%) 销售额 比重 (%) 销售额 比重(%) 甲 1200 30 1224 30.91 102 1100 111.27 乙 1 .91 102.6 900 114 丙 3.18 95 1640 104。27 合计 4 00 99 3640 108.79 ⑵ 略 2. ⑴ 计划完成程度= %108%100100 28 272726=?+++ ⑵ 设在第五年第二季度提前天X 完成,则: ()100919127759123=-?++X X (天)5.45=X 即提前两个季度(6个月)又45天半完成5年计划. 3。 产品单位成本计划完成程度= % 5%100% 9%100--=95.79% 计算结果表明,该产品单位成本计划超额4.21%完成. 4。 设计划规定产值X ,去年产值Y 则:Y X %105%103=

半导体物理习题答案(1-3章)

第1章 半导体中的电子状态 1. 设晶格常数为a 的一维晶格,导带极小值附近能量()c E k 和价带极大值附近能量()v E k 分 别为2222100()()3c h k k h k E k m m -=+,2222100 3()6v h k h k E k m m =- 0m 为电子惯性质量,112k a =, 0.314a =nm 。试求: 1) 禁带宽度; 2) 导带底电子有效质量; 3) 价带顶电子有效质量; 4) 价带顶电子跃迁到导带底时准动量的变化。 解:1) 禁带宽度g E , 根据22100()2() 202c dE k h k k h k dk m m -=+=,可求出对应导带能量极小值min E 的k 值: min 13 4 k k = , 由题目中()c E k 式可得:min 1 2 min 3 10 4 () 4c k k k h E E k k m ==== ; 根据20 ()60v dE k h k dk m =-=,可以看出,对应价带能量极大值max E 的k 值为:k max = 0; 可得max 221max 0 0()6v k k h k E E k m ====,所以222 1min max 2 001248g h k h E E E m m a =-== 2) 导带底电子有效质量m n 由于2222 2000 22833c d E h h h dk m m m =+=,所以202238n c m h m d E dk == 3) 价带顶电子有效质量v n m 由于2220 6v d E h dk m =-,所以2022 6v n v m h m d E dk ==- 4) 准动量的改变量

纳米材料习题答案

纳米材料习题答案 1、简单论述纳米材料的定义与分类。 答:最初纳米材料是指纳米颗粒和由它们构成的纳米薄膜和固体。 现在广义: 纳米材料是指在三维空间中至少有一维处在纳米尺度范围,或由他们作为基本单元构成的材料。 如果按维数,纳米材料可分为三大类: 零维:指在空间三维尺度均在纳米尺度,如:纳米颗粒,原子团簇等。 一维:指在空间有两处处于纳米尺度,如:纳米丝,纳米棒,纳米管等。 二维:指在三维空间中有一维处在纳米尺度,如:超薄膜,多层膜等。 因为这些单元最具有量子的性质,所以对零维,一维,二维的基本单元,分别又具有量子点,量子线和量子阱之称。 2、什么是原子团簇谈谈它的分类。 3、通过Raman 光谱中任何鉴别单壁和多臂碳纳米管如何计算单壁碳纳米管直径 答:利用微束拉曼光谱仪能有效地观察到单臂纳米管特有的谱线,这是鉴定单臂纳米管非常灵敏的方法。 100-400cm-1范围内出现单臂纳米管的特征峰,单臂纳米管特有的环呼吸振动模式;1609cm-1,这是定向多壁纳米管的拉曼特征峰。 单臂管的直径d与特征拉曼峰的波数成反比,即d = 224/w d:单壁管的直径,nm;w:为特征拉曼峰的波数cm-1

4、论述碳纳米管的生长机理(图)。 答:碳纳米管的生长机理包括V-L-S机理、表面(六元环)生长机理。 (1)V-L-S机理:金属和碳原子形成液滴合金,当碳原子在液滴中达到饱和后开始析出来形成纳米碳管。根据催化剂在反应过程中的位置将其分为顶端生长机理、根部生长机理。 ①顶端生长机理:在碳纳米管顶部,催化剂微粒没有被碳覆盖的的部分,吸附并催化裂解碳氢分子而产生碳原子,碳原子在催化剂表面扩散或穿过催化剂进入碳纳米管与催化剂接触的开口处,实现碳纳米管的生长,在碳纳米管的生长过程中,催化剂始终在碳纳米管的顶端,随着碳纳米管的生长而迁移; ②根部生长机理:碳原子从碳管的底部扩散进入石墨层网络,挤压而形成碳纳米管,底部生长机理最主要的特征是:碳管一末端与催化剂微粒相连,另一端是不含有金属微粒的封闭端; (2)表面(六元环)生长机理:碳原子直接在催化剂的表面生长形成碳管,不形成合金。 ①表面扩散机理:用苯环坐原料来生长碳纳米管,如果苯环进入催化剂内部,会被分解而产生碳氢化合物和氢气同时副产物的检测结果为只有氢气而没有碳氢化化物。说明苯环没有进入催化剂液滴内部,而只是在催化剂表面脱氢生长,也符合“帽式”生长机理。 5、论述气相和溶液法生长纳米线的生长机理。 (1)气相法反应机理包括:V-L-S机理、V-S机理、碳纳米管模板法、金属原位生长。 ①V-L-S机理:反应物在高温下蒸发,在温度降低时与催化剂形成低共熔液滴,小液滴相互聚合形成大液滴,并且共熔体液滴在端部不断吸收粒子和小的液滴,最后由于微粒的过饱和而凝固形成纳米线。 ②V-S机理:首先沉底经过处理,在其表面形成许多纳米尺度的凹坑蚀丘,这些凹坑蚀丘为纳米丝提供了成核位置,并且它的尺寸限定了纳米丝的临界成核直径,从而使生长的丝为纳米级。 ③碳纳米管模板法:采用碳纳米管作为模板,在一定温度和气氛下,与氧化物反应,碳纳米管一方面提供碳源,同时消耗自身;另一方面提供了纳米线生长的场所,同时也限制了生成物的生长方向。 ④金属原位生长: (2)溶液法反应机理包括溶液液相固相、选择性吸附。 ①S-L-S机理:SLS 法和 VLS 法很相似,二者的主要差别在于 SLS 法纳米线成长的 液态团簇来源于溶液相,而 VLS 法则来自蒸气相。

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