核用Inconel690焊丝TIG焊微裂纹产生机理研究
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核用Inconel 690焊丝TIG焊微裂纹产生机理研究
霍树斌,陈佩寅,陈燕,吴伟
(哈尔滨焊接研究所,哈尔滨 150080)
摘要:针对国际上核用Inconel 690焊丝TIG焊微裂纹问题,利用扫描电镜、俄歇电子分析等方法对微裂纹断口微观组织形貌、特征点的成分进行研究。结果表明,Inconel 690焊丝TIG焊微裂纹主要是结晶裂纹,原因是由S、P在晶界偏析引起的低熔点共晶物。通过对结晶裂纹的产生机理和影响因素的系统研究,指出Inconel 690焊丝TIG焊微裂纹主要是由S、P引起的结晶裂纹,而不是只有DDC裂纹,通过定量分析S、P与裂纹关系,提出了防止微裂纹产生的条件,并制造出无微裂纹的HS690、HS690M焊丝。
关键词:Inconel 690焊丝TIG焊微裂纹S+P含量判据 HS690 HS690M
中图分类号:TG116 文献标识码:A
0 序言
镍基合金焊接微裂纹问题,尤其是核电用镍基焊接材料微裂纹问题是行业内公认的难题与顽症,主要表现为长度小于0.5mm的结晶裂纹和高温低塑性裂纹(简称DDC),如图1所示。Inconel 690焊丝的微裂纹问题尤为突出,虽然研究者众多,却没有彻底解决问题。
图1 Inconel 690焊接微裂纹
美国SMC公司至今仍在进行Inconel 690焊丝的改进,从90年代开发出FM52焊丝,2003年推出FM52M焊丝,2009年又推出FM52MSS,其研究的重点一直是如何解决焊接微裂纹问题,但他们认为焊接微裂纹是DDC。
从国内应用的情况看,除SMC和Sandivk公司的产品比较理想外,其它公司的690焊丝都存在焊接微裂纹,例如WEL-TIG-52焊丝。早期的Sannicro 68HP的微裂纹倾向比较严重,经过改进后有明显改善,但在国内某骨干企业的产品焊接中仍然存在问题。就是FM52和FM52M 焊丝在产品焊接时也不是完全没有问题,在TIG堆焊的边缘,偶尔也出现个别微裂纹,说明顽症并没有被根除。
我们从2003年开始研究Inconel 690焊丝,2006年《Inconel 690配套焊接材料和焊接工艺研究》项目通过鉴定,技术水平为国际先进,但没有彻底解决焊接微裂纹问题,经过四年的努力,终于发现了问题的本质、产生的原因和条件,并研究出了解决问题的方法。
1 试验方法
试验焊丝采用研制的所有Inconel 690焊丝,成分范围如表1所示。
表1 Inconel 690焊丝的成分(%)
牌号 C Si Mn P S Ni Cr Fe Ti Al N Nb HS690例值 0.02 0.10 0.68 0.0020.003基体29.7 10.10.64 0.54 0.0090.01 HS690M例值 0.01 0.13 0.75 0.0020.002基体29.0 9.9 0.52 0.80 0.020.82试验是在30mm厚平板表面采用TIG堆焊,焊接电流I=180A-200A,焊接速度100 mm/min -120mm/min,送丝速度900 mm/min -1000mm/min,堆焊熔敷金属尺寸为100 mm×40mm×12mm,每种材料截取金相试样4件,尺寸为40 mm×12mm×10mm。
金相试样在磨床上加工后着色探伤检验,首先记录每个面上红点的数目,然后将红点圈起来在200Χ金相显微镜下观察,确定缺陷的类型。将确定的裂纹打开在FEI Sirion扫描电镜下观察,确定裂纹的类型,利用能谱仪和PHI-700俄歇电子分析仪对裂纹表面区域进行成分分析,从而确定产生微裂纹的原因。
对所有Inconel 690焊丝S、P含量均采用高精度分析方法。
2 结果与分析
2.1典型断口微观组织与分析
试验过程中我们发现,将金相试样利用手砂轮打磨、台式砂轮打磨、砂纸打磨、抛光片抛光后着色探伤,均无法发现0.2mm-0.5mm的焊接缺陷,只有经磨床磨削加工且磨削方向与焊接方向相同时,试样着色探伤才能发现此类缺陷,且不会出现裂纹遗漏问题。磨床加工后的金相试验着色探伤结果如图2所示。
图2 金相试样探伤结果
将图2中发现的焊接缺陷,在金相显微镜下观察,确定缺陷的形式,比如是气孔、夹渣还是裂纹。在这种情况下,气孔和夹渣很容易区分,但微裂纹和未熔合个别区分比较困难,需要制备金相试样,进一步做微观组织分析。
图3(a)为磨床加工后探伤微裂纹金相显微镜下观察到的形貌。图3(b)为金相组织照片,为典型的焊接微裂纹,裂纹沿奥氏体晶界生长。
50µm
50µm
(a)(b)
图3 微裂纹金相照片
图4(a)为金相发现的裂纹在扫描电镜下的形貌。将裂纹打开,断口形貌如图4(b)所示,为典型的结晶裂纹形态。
(a)(b)
图4 典型微裂纹SEM形貌
对于较大的裂纹,其断口表面形貌比较典型,液膜比较厚,利用能谱分析就能分辨。但绝大多数微裂纹,尺寸在0.2mm-0.5mm之间,扫描电镜下虽然能判断是结晶裂纹,由于液膜太薄无法进行能谱分析,只能用俄歇电子分析。图5为上述断口俄歇分析结果。
S
Ti
Cr
Fe
Ni
1点 3.90 4.2712.48
16.71
62.64
2点 5.64 4.6913.66
14.27
61.75
3点 3.24 8.2525.07
12.82
50.62
基体 0.4 2.4 27.6 11.4 58.2
图5 裂纹断口俄歇电子分析
由图5可以看出,基体上S的含量为0.4%,而液膜上S的含量是其10倍左右,我们可
以认为系统误差为0.4%,说明结晶裂纹液膜是S的低熔点共晶物。
试验中发现,绝大多数微裂纹是结晶裂纹,在结晶裂纹的低温段,有DDC的特征,因此
我们认为,结晶裂纹才是Inconel 690焊丝的微裂纹的主要原因,而不是国际上普遍认为的
DDC。
2.2 裂纹数量与S、P含量的关系
由俄歇电子分析发现,结晶裂纹主要是S、P引起的低熔点共晶物,而常规的分析方法下,
S、P的含量差别不大,于是我们寻找到S、P的精确分析方法,分析精度为1ppm。分析结果
显示,S、P的含量与微裂纹的数量有一定的对应关系,结果如图6所示。