材料现代测试分析技术期末试卷
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3、说明透射电镜薄膜试样制造过程，以明场或中心暗场为例说明电镜薄膜晶体的成像原理。（10分）
4、计算下列点阵的结构因子FHKL，并推导点阵的系统消光规则。（10分）
1简单点阵，单胞中原子的位置只有1种，其坐标为（0，0，0）
②体心点阵，单胞中原子的位置有2种，其坐标为（0，0，0），（1/2，1/2，1/2）
二、辨析并解释下列概念(每题5分，共20分)
得分
评阅人
1、光电效应、俄歇效应
2、相干散射、非相干散射
3、质厚衬度、衍射衬度
4、二次电子、背散射电子
三、问答题 (共40分)
得分
评阅人
1、物相定性分析的原理是什么？简述利用X射线衍射仪法进行两相混合物物相分析的过程。（10分）
2、分析电子衍射和X射线衍射有何异同？（10分）
4、透射电镜的物镜光栏装在物镜背焦面，直径20—120um，由无磁金属制成。其作用是：；；。
5、透射电镜的主要特点是可对试样进行与同位分析.使中间镜物平面与物镜重合时，在观察屏上得到的是反映试样的图像；当中间镜物平面与物镜重合时, 在观察屏上得到的是反映试样
花样。
6、扫描电子显微镜通过接收试样表面发出的二次电子成像.试样表面凸出的尖棱或小颗粒、陡斜面处,二次电子产额, 在荧光屏上这些部位的亮度而平面、凹槽底部处二次电子的产额, 荧光屏上相应部位的亮度。
ຫໍສະໝຸດ Baidu试卷编号：(A)卷
课程编号：H57010004课程名称：材料现代测试分析技术考试形式：闭卷
适用班级：姓名：学号：班级：
学院：专业：考试日期：
题号
一
二
三
四
五
六
七
八
九
十
总分
累分人 签名
题分
100
得分
考生注意事项：1、本试卷共页，请查看试卷中是否有缺页或破损。如有立即举手报告以便更换。
2、考试结束后，考生不得将试卷、答题纸和草稿纸带出考场。
一、填空题(每空 1 分，共20分)
得分
评阅人
1、当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差为，相邻两个（HKL）反射线的波程差为。
2、X射线管靶材的选择原则为，滤波片的选择原则为。
3、在利用X射线衍射仪进行衍射实验时，时间常数的选择对实验的影响较大，时间常数的增大导致衍射线的，，。这些变化给测量结果带来不利的影响。因此，为了提离测量的精确度，一般希望选用尽可能小的时间常数。
四、应用题（20分）
得分
评阅人
1、请说明已知相机常数和样品晶体结构的单晶体电子衍射花样的标定程序。（10分）
2、请描述利用能谱仪（EDS）进行定点分析及元素面分析的操作过程。（10分）
4、计算下列点阵的结构因子FHKL，并推导点阵的系统消光规则。（10分）
1简单点阵，单胞中原子的位置只有1种，其坐标为（0，0，0）
②体心点阵，单胞中原子的位置有2种，其坐标为（0，0，0），（1/2，1/2，1/2）
二、辨析并解释下列概念(每题5分，共20分)
得分
评阅人
1、光电效应、俄歇效应
2、相干散射、非相干散射
3、质厚衬度、衍射衬度
4、二次电子、背散射电子
三、问答题 (共40分)
得分
评阅人
1、物相定性分析的原理是什么？简述利用X射线衍射仪法进行两相混合物物相分析的过程。（10分）
2、分析电子衍射和X射线衍射有何异同？（10分）
4、透射电镜的物镜光栏装在物镜背焦面，直径20—120um，由无磁金属制成。其作用是：；；。
5、透射电镜的主要特点是可对试样进行与同位分析.使中间镜物平面与物镜重合时，在观察屏上得到的是反映试样的图像；当中间镜物平面与物镜重合时, 在观察屏上得到的是反映试样
花样。
6、扫描电子显微镜通过接收试样表面发出的二次电子成像.试样表面凸出的尖棱或小颗粒、陡斜面处,二次电子产额, 在荧光屏上这些部位的亮度而平面、凹槽底部处二次电子的产额, 荧光屏上相应部位的亮度。
ຫໍສະໝຸດ Baidu试卷编号：(A)卷
课程编号：H57010004课程名称：材料现代测试分析技术考试形式：闭卷
适用班级：姓名：学号：班级：
学院：专业：考试日期：
题号
一
二
三
四
五
六
七
八
九
十
总分
累分人 签名
题分
100
得分
考生注意事项：1、本试卷共页，请查看试卷中是否有缺页或破损。如有立即举手报告以便更换。
2、考试结束后，考生不得将试卷、答题纸和草稿纸带出考场。
一、填空题(每空 1 分，共20分)
得分
评阅人
1、当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差为，相邻两个（HKL）反射线的波程差为。
2、X射线管靶材的选择原则为，滤波片的选择原则为。
3、在利用X射线衍射仪进行衍射实验时，时间常数的选择对实验的影响较大，时间常数的增大导致衍射线的，，。这些变化给测量结果带来不利的影响。因此，为了提离测量的精确度，一般希望选用尽可能小的时间常数。
四、应用题（20分）
得分
评阅人
1、请说明已知相机常数和样品晶体结构的单晶体电子衍射花样的标定程序。（10分）
2、请描述利用能谱仪（EDS）进行定点分析及元素面分析的操作过程。（10分）