第九章 透射电子显微镜

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TEM(透射电子显微镜)

TEM(透射电子显微镜)

细胞结构解析
细胞膜结构
透射电镜图像可以清晰地展示细胞膜的精细结构,如细胞膜的厚度、 细胞器的分布等。
细胞器结构
透射电镜能够观察到细胞内的各种细胞器,如线粒体、内质网、高 尔基体等,有助于了解细胞器的形态和功能。
细胞骨架结构
透射电镜能够观察到细胞骨架的超微结构,如微管、微丝和中间纤维 等,有助于了解细胞骨架在细胞运动、分裂和分化中的作用。
TEM应用领域
01
02
03
04
生物学
研究细胞、组织和器官的超微 结构,如细胞器、细胞膜、染
色体等。
医学
用于诊断疾病,如癌症、传染 病等,以及药物研发和疫苗制
备过程中的结构分析。
地质学
观察岩石、矿物和矿物的微观 结构,研究地球科学中的各种
地质现象。
材料科学
研究金属、陶瓷、高分子等材 料的微观结构和性能,以及材
控制切片的厚度,通常在50~70纳米之间,以确 保电子束能够穿透并观察到样品的内部结构。
切片收集与处理
将切好的超薄切片收集到支持膜上,并进行染色、 染色脱水和空气干燥等处理。
染色
染色剂选择
选择适当的染色剂,如铅、铀或 铜盐,以增强样品的电子密度并
突出其结构特征。
染色时间与温度
控制染色时间和温度,以确保染色 剂与样品充分反应并达到最佳染色 效果。
清洁样品室
定期清洁样品室,保持清洁度 。
检查电子束系统
定期检查电子束系统,确保聚 焦和稳定性。
更新软件和驱动程序
及时更新TEM相关软件和驱动 程序,确保兼容性和稳定性。
定期校准
按照厂家建议,定期对TEM进 行校准,确保观察结果的准确
性。
06 TEM未来发展

《透射电子显微镜》课件

《透射电子显微镜》课件
光阑
限制照明区域,减小成像的视场,提高成像的分辨率 。
光路调节器
调节光路中的光束方向和大小,确保光束正确投射到 样品上。
成像系统
Hale Waihona Puke 物镜将样品上的图像第一次放 大并投影到中间镜上。
中间镜
将物镜放大的图像进一步 放大并投影到投影镜上。
投影镜
将中间镜放大的图像最终 放大并投影到荧光屏或成
像设备上。
真空系统
谢谢您的聆听
THANKS
透射电子显微镜技术不断改进,分辨率和放大倍数得到显著提 高。
透射电子显微镜技术不断创新,出现了许多新型的透射电子显 微镜,如高分辨透射电子显微镜、冷冻透射电子显微镜等。
透射电子显微镜的应用领域
生物学
观察细胞、蛋白质、核酸等生物大分子的 结构和功能。
医学
研究病毒、细菌、癌症等疾病的发生、发 展和治疗。
真空泵
01
通过抽气作用维持透射电子显微镜内部的高真空状态。
真空阀门
02
控制真空泵的工作时间和进气流量,以保持透射电子显微镜内
部真空度的稳定。
真空检测器
03
监测透射电子显微镜内部的真空度,当真空度不足时提醒操作
人员进行处理。
03
透射电子显微镜的操作与维护
透射电子显微镜的操作步骤
打开电源
确保实验室电源稳定,打开透射电子显微镜 的电源开关。
记录
对透射电子显微镜的使用和维护情况进行 记录,方便日后追踪和管理。
04
透射电子显微镜的样品制备技术
金属样品的制备技术
电解抛光
通过电解抛光液对金属样品进行抛光 ,去除表面杂质和氧化层,使样品表 面光滑、平整。
离子减薄

材料测试技术基础 材料现代研究方法 第九章 透射电镜的结构

材料测试技术基础 材料现代研究方法 第九章  透射电镜的结构

电子波长
• 根据德布罗意(de Broglie)的观点,运动 根据德布罗意( )的观点, 的电子除了具有粒子性外,还具有波动性。 的电子除了具有粒子性外,还具有波动性。这 一点上和可见光相似。 一点上和可见光相似。电子波的波长取决于电 h 子运动的速度和质量, 子运动的速度和质量,即 λ= • mv (5-4) • 式中,h为普郎克常数:h=6.626×10-34J.s; 式中, 为普郎克常数: ; 为电子质量; 为电子运动速度, m为电子质量;v为电子运动速度,它和加速 电压U之间存在如下关系: 电压U之间存在如下关系: 1 2eU (5-5) • 即 mv 2 = eU v= 2 m • 式中e为电子所带电荷,e=1.6×10-19C。 式中e为电子所带电荷, 。 • 将(5-5)式和(5-4)式整理得: 式和( 式整理得: • h λ= • (5 - 6 )
第九章 透射电镜的结构
光学显微镜的发明为人类认识微观世界提供了 重要的工具。随着科学技术的发展, 重要的工具。随着科学技术的发展,光学显微 镜因其有限的分辨本领而难以满足许多微观分 析的需求。上世纪30年代后, 30年代后 析的需求。上世纪30年代后,电子显微镜的发 明将分辨本领提高到纳米量级, 明将分辨本领提高到纳米量级,同时也将显微 镜的功能由单一的形貌观察扩展到集形貌观察、 镜的功能由单一的形貌观察扩展到集形貌观察、 晶体结构、成分分析等于一体。 晶体结构、成分分析等于一体。人类认识微观 世界的能力从此有了长足的发展。 世界的能力从此有了长足的发展。
透镜分辨率
• 测量结果表明Airy斑的强度大约84%集中在中心亮斑上,其余 分布在周围的亮环上。由于周围亮环的强度比较低,一般肉眼 不易分辨,只能看到中心亮斑。因此通常以Airy斑的第一暗环 的半径来衡量其大小。根据衍射理论推导,点光源通过透镜产 生的Airy斑半径R0的表达式为: 0.61λ R0 = M • (5-1) n sin α • 通常把两个Airy斑中心间距等于Airy斑半径时,物平面上相应 的两个物点间距(Δr0)定义为透镜能分辨的最小间距,即透 镜分辨率(也称分辨本领)。由式5-1得: R0 0.61λ • 即 (5-2) ∆r0 = ∆r0 = n sin α M • 对于光学透镜,当n•sinα做到最大时(n≈1.5,α≈7075°),式(5-2)简化为: ∆r0 ≈ λ 2

透射电子显微镜的结构与功能

透射电子显微镜的结构与功能

化学成分分析
01 通过能谱仪(EDS)等附件,对样品进行化学成 分分析。
02 可以检测样品中的元素组成、元素分布和含量。 03 对材料科学、生物学等领域的研究具有重要价值

动态过程观察
01
透射电子显微镜可以观察样品的动态过程,例如相变、化学 反应等。
02
通过拍摄连续的显微图像,观察样品在时间尺度上的变化。
中间镜
用于进一步放大实像或改 变成像性质。
投影镜
将最终的放大实像投射到 荧光屏或成像设备上。
真空系统
真空泵
维持透射电子显微镜内部的高真空环境,以减少电子束在空气中散射和吸收。
真空阀
压电源
为电子枪提供加速电压,使电子束具有足够的能量穿 过样品。
高成本
透射电子显微镜的制造成本较高,维 护和运行成本也相对较高。
06
CATALOGUE
透射电子显微镜的发展趋势与展望
高分辨技术
原子像分辨率
01
通过提高电子枪的亮度和像差矫正技术,实现原子级别的分辨
率,观察更细微的结构细节。
动态范围
02
提高成像系统的动态范围,以适应不同样品厚度的观察,更好
地展示样品的层次结构。
样品
样品是透射电子显微镜中的观察对象,通常为薄片或薄膜 。样品需要足够薄,以便让电子束穿透并观察到内部的细 节。
为了保证观察结果的准确性和可靠性,样品需要经过精心 制备和处理,如脱水、染色、切片等。同时,样品的稳定 性也至关重要,以确保在观察过程中不会发生形变或损坏 。
物镜
物镜是透射电子显微镜中的重要元件之一,它对电子束进行放大并传递给下级透 镜。物镜的放大倍数决定了显微镜的总放大倍数。
透射电子显微镜的 结构与功能

透射电子显微镜(TEM)详解

透射电子显微镜(TEM)详解
TEM样品可分为间接样品和直接样品。
(一)间接样品的制备(表面复型)
透射电镜所用的试样既要薄又要小,这就大大限 制了它的应用领域,采用复型制样技术可以弥补 这一缺陷。复型是用能耐电子束辐照并对电子束 透明的材料对试样的表面进行复制,通过对这种 复制品的透射电镜观察,间接了解高聚物材料的 表面形貌。
蚀刻剂:高锰酸钾-浓 硫酸 将无定形部分腐蚀掉
八、透射电镜在聚合物研究中的应用
(一)结晶性聚合物的TEM照片
PE单晶及其电子衍射谱
Keller提出的PE折叠链模型
尼龙6 折叠链 片晶
单斜晶系 的PP单晶
2、树枝晶: 从较浓溶液(0.01~0.1%)结晶时,流动力 场存在,可形成树枝晶等。
PE的树枝状结晶
(3)染色:通常的聚合物由轻元素组成,在用厚 度衬度成像时图像的反差很弱,通过染色处理后 可改善。
所谓染色处理实质上就是用一种含重金属的试剂 对试样中的某一组分进行选择性化学处理,使其 结合上重金属,从而导致其对电子的散射能力增 强,以增强图像的衬度。
(a)OsO4染色,可染-C=C-双键、-OH基、-NH2基。 其染色反应是:
(二)直接样品的制备
1.粉末样品制备 粉末样品制备的关键是如何将超细粉的颗粒分散开来,
各自独立而不团聚。
胶粉混合法:在干净玻璃片上滴火棉胶溶液,然后在玻 璃片胶液上放少许粉末并搅匀,再将另一玻璃片压上, 两玻璃片对研并突然抽开,稍候,膜干。用刀片划成小 方格,将玻璃片斜插入水杯中,在水面上下空插,膜片 逐渐脱落,用铜网将方形膜捞出,待观察。
常见的聚合物制样技术
(1)超薄切片:超薄切片机将大试样切成50nm 左右的薄试样。
聚甲基丙烯酸丁酯将 聚四氟乙烯包埋后切 片,白色部分表示颗 粒形貌, 切片时,有颗粒的部 分掉了

透射电子显微镜-TEM-医学课件

透射电子显微镜-TEM-医学课件
透射电子显微镜-TEM
Transmission electron microscope
1
内容
简介 结构原理 样品制备 透射电子显微像 选区电子衍射分析
2
TEM 简介
1898年J.J. Thomson发现电子 1924年de Broglie 提出物质粒子波动性假说和1927年实验的 证实。 1926年轴对称磁场对电子束汇聚作用的提出。 1932年,1935年,透射电镜和扫描电镜相继出现,1936年, 透射电镜实现了工厂化生产。 上世纪50年代,英国剑桥大学卡文迪许实验室的Hirsch和 Howie等人建立电子衍射衬度理论并用于直接观察薄晶体缺陷和 结构。 1965年,扫描电子显微镜实现商品化。 70年代初,美国阿利桑那州立大学J.M. Cowley提出相位衬度理 论的多层次方法模型,发展了高分辨电子显微象的理论与技术。 饭岛获得原子尺度高分辨像(1970) 。 80年代,晶体缺陷理论和成像模拟得到进一步发展,透射电镜和 扫描电镜开始相互融合,并开始对小于5埃的尺度范围进行研究。 90年代至今,设备的改进和周边技术的应用。
21
成像系统
照明系统
成像系统
观察记录系统
22
(1)物镜 物镜是将试样形成一次放大像和衍射谱。 决定透射电镜的分辨本领,要求它有尽可 能高的分辨本领、足够高的放大倍数和尽 可能小的像差。通常采用强激磁,短焦距 的物镜。 放大倍数较高,一般为100~300倍。 目前高质量物镜分辨率可达0.1nm左右。
3
透射电子显微镜-TEM
TEM用聚焦电子束作照明源,使 用于对电子束透明的薄膜试样, 以透过试样的透射电子束或衍射 电子束所形成的图像来分析试样 内部的显微组织结构。

第九章习题答案final

第九章习题答案final

1、电子波有何特征?与可见光有何异同?答:电子波的波长较短,轴对称非均匀磁场能使电子波聚焦。

其波长取决于电子运动的速度和质量,电子波的波长要比可见光小5个数量级。

两者都是波,具有波粒二象性,波的大小、产生方式、聚焦方式等不同。

2、分析电磁透镜对波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。

答:原理:通电线圈产生一种轴对称不均匀分布的磁场,磁力线围绕导线呈环状。

磁力线上任一点的磁感应强度B可以分解成平行于透镜主轴的分量Bz和垂直于透镜主轴的分量Br。

速度为V的平行电子束进入透镜磁场时在A点处受到Br分量的作用,由右手法则,电子所受的切向力Ft的方向如下图;Ft使电子获得一个切向速度Vt,Vt与Bz分量叉乘,形成了另一个向透镜主轴靠近的径向力Fr,使电子向主轴偏转。

当电子穿过线圈到达B点位置时,Br的方向改变了180度,Ft随之反向,但是只是减小而不改变方向,因此,穿过线圈的电子任然趋向于主轴方向靠近。

结果电子作圆锥螺旋曲线近轴运动。

当一束平行与主轴的入射电子束通过投射电镜时将会聚焦在轴线上一点,这就是电磁透镜电子波的聚焦对原理。

电磁透镜的结构对电磁场有很大的影响。

上图为一种实际常用的带有铁壳以及极靴的电磁透镜示意图。

1)电磁透镜中为了增强磁感应强度,通常将线圈置于一个由软磁材料(纯铁或低碳钢)制成的具有内环形间隙的壳子里,此时线圈的磁力线都集中在壳内,磁感应强度得以加强。

狭缝的间隙越小,磁场强度越强,对电子的折射能力越大。

2)增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围几毫米的范围内,显著提高了其聚焦能力。

3、电磁透镜的像差是怎样产生的,如何来消除或减小像差?答:电磁透镜的像差可以分为两类:几何像差和色差。

几何像差是因为投射磁场几何形状上的缺陷造成的,色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。

几何像差主要指球差和像散。

球差是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律造成的,像散是由透镜磁场的非旋转对称引起的。

透射电子显微镜

透射电子显微镜
随着TEM的发展,相应的扫描透射电子显微镜技术被重新研究,而在1970年芝加哥大学的阿尔伯特·克鲁发 明了场发射枪,同时添加了高质量的物镜从而发明了现代的扫描透射电子显微镜。这种设计可以通过环形暗场成 像技术来对原子成像。克鲁和他的同事发明了冷场电子发射源,同时建造了一台能够对很薄的碳衬底之上的重原 子进行观察的扫描透射电子显微镜。
其中,h表示普朗克常数,m0表示电子的静质量,E是加速后电子的能量。电子显微镜中的电子通常通过电子 热发射过程从钨灯丝上射出,或者采用场电子发射方式得到。随后电子通过电势差进行加速,并通过静电场与电 磁透镜聚焦在样品上。透射出的电子束包含有电子强度、相位、以及周期性的信息,这些信息将被用于成像。
基本的TEM光学元件布局图。从上至下,TEM包含有一个可能由钨丝制成也可能由六硼化镧制成的电子发射源。 对于钨丝,灯丝的形状可能是别针形也可能是小的钉形。而六硼化镧使用了很小的一块单晶。通过将电子枪与高 达10万伏-30万伏的高电压源相连,在电流足够大的时候,电子枪将会通过热电子发射或者场电子发射机制将电 子发射入真空。该过程通常会使用栅极来加速电子产生。一旦产生电子,TEM上边的透镜要求电子束形成需要的 大小射在需要的位置,以和样品发生作用。
电子能量损失光谱仪通常在光谱模式和图像模式上操作,这样就可以隔离或者排除特定的散射电子束。由于 在许多图像中,非弹性散射电子束包含了许多操作者不关心的信息,从而降低了有用信息的可观测性。这样,电 子能量损失光谱学技术可以通过排除不需要的电子束有效提高亮场观测图像与暗场观测图像的对比度。
晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究,这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源 的时候,观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏 幕上的电子的数量,对相衬图像的识别更加复杂。然而,这种成像方法的优势在于可以提供有关样品的更多信息。

透射电子显微镜TEM

透射电子显微镜TEM
β=±25度
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
EM420透射电子显微镜
加速电压20KV、40KV、60KV、 80KV、100KV、120KV 晶格分辨率 2.04Å 点分辨率 3.4Å 最小电子束直径约2nm 倾转角度α=±60度
扫描发生仪
电子束
显象管 和X-Y 记录仪扫描线圈Fra bibliotek数据 处理
能量选择光阑
入射光阑
放大器
探测器
电子能量 分析仪
图1-14 扫描电子衍射和电子能谱分析附件示意图
2 . 真空系统
为了保证在整个通道中只与试样发生相互作用,而
不与空气分子发生碰撞,因此,整个电子通道从电子
枪至照相底板盒都必须置于真空系统之内,一般真空
β=±30度
CEISS902电镜
加速电压50KV、80KV W灯丝 顶插式样品台 能量分辨率1.5ev 倾转角度α=±60度
Philips CM12透射电镜
加速电压20KV、40KV、60KV、80KV 、100KV、120KV LaB6或W灯丝 晶格分辨率 2.04Å 点分辨率 3.4Å 最小电子束直径约2nm; 倾转角度α=±20度
透射电子显微镜 (TEM)
内容提要 1.透射电镜的结构 2.透射电镜的成像原理 3.电子衍射 4.透射电镜样品的制备
目前,风行于世界的大型电镜,分辨本领为2~3 埃, 电压为100~500kV,放大倍数50~1200000倍。由于材料 研究强调综合分析,电镜逐渐增加了一些其它专门仪器附件, 如扫描电镜、扫描透射电镜、X射线能谱仪、电子能损分析 等有关附件,使其成为微观形貌观察、晶体结构分析和成分 分析的综合性仪器,即分析电镜。

《透射电子显微镜》课件

《透射电子显微镜》课件
优点和缺点
透射电子显微镜的优点包括高分辨率、高对比度、高灵敏度、大深度和号称百万倍的放大倍 数。缺点则包括成本高,需要复杂的样品处理和分析技能。
主要部件
透射电子显微镜主要由以下几个部分组成。
电子源
在透射电子显微镜中使用的电子通常来自热丝或发 射枪。电子的产生必须在真空下进行,以避免与气 体分子相互作用。
透镜系统
透射电子显微镜的透镜系统主要包括透镜、压电陶 瓷和扫描线圈等。这些设备可在电子束内部转移和 聚焦电子以生成清晰的图像。
检测器
工作原理
透射电子显微镜将电子束传递到样品中。当电子束穿过样品时,它们与样品中的原子和分子发生相互作用,并 形成一张图像。
1
电子束的生成
通过电子源产生电子束。在常见的电子源
潜在应用
透射电子显微镜在材料科学、生物学和半导体和微 电子学以外,有许多潜在应用。例如,透射电子显 微镜可以用于分析能量存储、生物医学和太阳能等 领域。
结束语
透射电子显微镜是一种强大的工具,可用于分析微观结构、了解材料性质和研究新技术。希望这个PPT课件能 让更多的人了解透射电子显微镜,并鼓励更多的人来研究和应用这项技术。
电子束的准直和聚焦
2
中,通过加热钨丝等材料来产生电子。
使用透镜系统将电子束准直和聚焦,以使
电子束具有较小的纵向、径向直径和透射
度。
3
电子束与样品的相互作用
电子束穿过样品并与样品中的电子云相互
作用,同时使样品产生信号。这些信号被
信号的检测检测器收集并解析透射电子显微镜样品与 电子束相互作用所生成的信号。
应用
透射电子显微镜在各种不同的领域中都有广泛的应用,其中包括材料科学、生物学和半导体和微电子学。

透射电子显微镜原理

透射电子显微镜原理

透射电子显微镜原理透射电子显微镜(transmission electron microscope, TEM)是利用透射电子成像,因而要求样品极薄(加速电压100kV时,样品厚度不能超过100nm)。

其结构包括三大部分:电子学系统、真空系统和电子光学系统。

电子光学系统提供电子束,在高真空条件下照射到样品上,经过成像系统中的物镜成像,再经过中间镜和投影镜的进一步放大,获得的图像记录在CCD上。

TEM使用油扩散泵(Diffuse Pump)来实现高真空。

由于油扩散泵的启动和关闭都需要30分钟,导致TEM开机和关机都至少需要30分钟。

TEM发射出的高能电子束轰击到光路元器件上以及样品上,会产生以X-ray为主的等等其他射线辐射,因此建议孕妇等过敏性体质者尽量避免接触TEM。

由于平台现有TEM的加速电压为100kV,是一台生物电镜,因此无法满足材料科学上要求的高放大倍数(30万倍以上)、高分辨、衍射花样等实验要求,有这方面需求的科研人员请与武大、地大等单位联系。

TEM是研究结构生物学的有力工具。

除了电镜之外,现在尚没有一种仪器能使人们用肉眼直接观察到亚细胞结构、蛋白大分子(直径20nm以上)的排列结构形态。

利用电镜观察超微结构的形态和位置,可以研究解决部分形态和功能的问题。

TEM是研究超微结构必须的工具之一,但它存在一些缺点:(1)TEM的价格昂贵,维护费用及其配件、耗材都在几百甚至上千美元以上。

(2)TEM的维护和使用均要求较高的技术,也是一个精细、繁琐的过程。

TEM每3天要做一次维护和电子光路调整,每次调整和维护至少需要2个小时。

(3)TEM不能像光镜那样随时可用,受到很多限制。

TEM放大倍数有很多,再加上切片的限制,因此无法实现始终同一放大倍数的拍摄。

(4)TEM样品必须置于真空中,因此对活体标本的观察是不可能的。

(5)TEM样品取材及制备存在局限性。

TEM取材要求只有1mm3大小块状,而且观察面更小,如果把一个厚6µm的细胞核切成60nm的超薄切片,可以且100张,而一般光镜的石蜡切片厚度即为6µm。

9-透射电子显微镜TEM和扫描电子显微镜SEM

9-透射电子显微镜TEM和扫描电子显微镜SEM


物质波既不是机械波,也不是电磁波,而是几率波 德布罗意波的统计解释:物质波是一种几率波,物 质波在某处的强度与粒子在该处出现的几率成正比
电子显微镜历史
1954年诺贝尔物理学奖
Max Born (1882~1970)
电子显微镜历史

1926年Busch发现磁场的透镜行为

高速运动的电子在电场或磁场作用下会发生折射,而且能被聚 焦,如同可见光通过光学透镜时被折射和聚焦一样 1931年Ruska与Knoll用磁场透镜制成了二级电子光学系统,实 现了电子显微镜的技术原理 1938年Ruska和Knoll研制成功第一台实验室电子显微镜 (TEM);1939年Ruska在西门子公司研制成功分辨率优于 10nm的第一台商用透射电镜 1935年Knoll 在设计透射电镜的同时提出了扫描电镜的原理及设 计思想;1940年英国剑桥大学首次试制成功扫描电镜,但到 1965年才开始生产商用扫描电镜

非弹性碰撞:电子损失能量,改变方向 非弹性散射:背散射电子、绕散射电子 激发二次电子、俄歇电子、特征X射线等

散射电子与入射电子的能量、样品厚度、密度、晶格排列、表面形貌 等有关-电子显微镜信号
电子显微镜的信号来源
入射电子 背散射电子(弹性,非弹性)
特征X射线 SEM 俄歇电子
荧光 二次电子
TEM光学系统
透射电子显微镜TEM Transmission electron microscopy
显微术

纳米尺度:1nm~100nm 人眼观察能力:0.1mm 显微镜的作用:分辨,放大,显示
光学显微镜

理想光学系统:物点-像点 实际光学系统:物点-像斑

像差:近轴条件不满足 衍射:光瞳对光束的限制作用

透射电子显微镜

透射电子显微镜

•电子束倾斜与平移装置
利用电子束原位倾斜可以进行中心暗场成像操作
•消像散器
用来消除或减小透镜磁场的非轴对称性,把固 有的椭圆形磁场校正成旋转对称磁场的装置。 消像散器可以是机械式的,可 以是电磁式的。机械式的是在 电磁透镜的磁场周围放置几块 位置可以调节的导磁体,用它 们来吸引一部分磁场,把固有 的椭圆形磁场校正成接近旋转 对称的磁场。电磁式的是通过 电磁极间的吸引和排斥来校正 椭圆形磁场的
图9-3 双聚光镜原理图 聚光镜的作用是以最小的损失, 减小和调节束斑尺寸、调节照明 强度和照明孔径半角
•成像系统
由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜(1、2)和投影镜组成 1.物镜


电镜的最关键的部分,其作用是将来自试样的弹性散射 束会聚于其后焦面上,构成含有试样结构信息的衍射花 样;将来自透过试样的电子束会聚于其像平面上,构成 与试样组织相对应的显微图像。 物镜是用来形成第一幅高分辨率电子显微图像或电子衍 射花样的透镜,透射电子显微镜分辨本领的高低主要取 决于物镜。因为物镜的任何缺陷都被成像系统中其它透 镜进一步放大。欲获得物镜的高分辨率,必须尽可能降 低像差(主要取决于极靴的形状和加工精度)。
很大,虽然荧光屏和底片之间有一些的间距,仍能得到清 晰的图像 .现代电镜已开始装有电子数码照相装置,即 CCD相机。
第二节
主要部件结构与工作原理
•样品台
电镜样品小而薄,通常用外径3mm的 样品铜网支持,网孔或方或园,约 0.075mm,见图。
样品台的作用是承载样品,并使样 品能作平移、倾斜、旋转,以选择 感兴趣的样品区域或位向进行观察 分析。透射电镜的样品是放置在物 镜的上下极靴之间,由于这里的空 间很小,所以透射电镜的样品也很 小,通常是直径3mm的薄片。

透射电子显微镜

透射电子显微镜

CCD(Charge Coupled Device) 也称为CCD图像传感器,它是一种半导体器件,把 光学影像转化为数字信号,主要过程是电荷的产生、存 储、转移、检测。 除了在电子显微镜上的应用外,CCD还在很多领域 有着广泛的应用,哈勃望远镜,星敏感器方面。

透射电镜的样品制备有很多方法,其中利用聚焦离子束制备透射 电镜样品的技术具有高效、快速、精确定位的优点。
透射电子显微镜
孟庆浪、王宝斌、 李乾、欧阳琪
物理科学与核能工程学院
发射原理
电子枪灯丝材料一般是钨丝(六硼化镧)(氧化钇),金属阴极 当中包含着阳离子和自由电子。 常温下,自由电子不能逸出金属表面。 温度升高,自由电子动能增大,增大到可以克服阳离子对其的引 力之后,可以逸出。 (逸出功) 阳极加有高压,对逸出电子作用,使其定向移动,形成电子束。
成像系统

在对电子显微镜成像的过程中,透镜对一点发出的不同的电子轨 迹不可能会聚于一点,因而会造成模糊和失真,产生一定的像差。

像差产生的原因:球差(离轴远的透镜折射能力比离轴近的强, 对物镜),色差(加速电压起伏,造成电子速度和波长不一样),象 散(实际的磁透镜不可能是完全对称的),畸变(离轴远的透镜折射 能力比离轴近的强,对投影镜),像旋转等。
电子轨迹
除了研究电镜内部结构之外,还研究电子在光筒中的 行径路线,即电子轨迹,研究它可以使我们更形象的了解 电镜,也为改善电镜性能打下基础。
电子在电镜中的路线包括在电场和磁场中,电场主要 是加速,磁场主要是改变方向。轨迹方程的推导是一个较 为复杂的过程,需要用到麦克斯韦方程组、最小作用原理 、拉普拉斯变换等。

中间镜:数目不止一个,有两个、三个的,焦距变化范围大。
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透射电镜的主要部件---光阑
在透射电子显微镜中 有许多固定光阑和可 动光阑,它们的作用 主要是挡掉发散的电 子,保证电子束的相 干性和照射区域。其 中三种主要的可动光 阑是第二聚光镜光阑, 物镜光阑和选区光阑。 光阑都用无磁性的金 属(铂、钼等)制造。
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(一)第二聚光镜光阑
四个一组的光阑孔被安装在一个光阑杆的 支架上,使用时,通过光阑杆的分档机构 按需要依次插入,使光阑孔中心位于电子 束的轴线上(光阑中心和主焦点重合)。
像平面
像平面:样品的放大像。
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成像操作与衍射操作
如果把中间镜的物平面和物 镜的像平面重合,则在荧光 屏上得到一幅放大像,这就 是电子显微镜中的成像操作, 如右图(a)所示。
如果把中间镜的物平面和物 镜的背焦面重合,则在荧光 屏上得到一幅电子衍射花样, 这就是电子显微镜中的电子 衍射操作,如右图(b)所示。
透射电镜的主要部件---样品台
样品台的作用是承载 样品,并使样品能作 平移、倾斜、旋转, 以选择感兴趣的样品 区域或位向进行观察 分析。透射电镜的样 品是放置在物镜的上 下极靴之间,由于这 里的空间很小,所以 透射电镜的样品也很 小,通常是直径3mm 的薄片。
42
样品台与试样
43
§ 9-2 主要部件的结构与工作原理
3
分析透射电子显微镜 JEM200CX
4
分析透射电子显微镜JEM2010
5
分析型透射电子显微镜
6
超高压电 镜
7
TEM发展简史
1924年de Broglie提出波粒二象性假说 1926 Busch指出“具有轴对称性的磁场对电子束
起着透镜的作用,有可能使电子束聚焦成像”。 1927 Davisson & Germer, Thompson and Reid 进行
三极管的沟道边界的高分辨环形探测器(ADF)图像及能量损失谱
13
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
5万倍
14
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
规则微孔
孔径: 6.2 Å
15
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
规则介孔
孔径: 7-8 nm
16
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
20
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
一、照明系统 照明系统主要组成:
电子枪+平移对中、 倾斜调节装置+聚光 镜
照明系统的作用:提 供一束亮度高、照明 孔径角小、平行度好、 束流稳定的照明源。
21
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
一、照明系统 灯丝
22
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
GaP纳米线的形貌及其衍射花样
11
为什么要用TEM?
2)高的图像分辨率。
r0
0.61 n sin
不同加速电压下电子束的波长
V(kV) 100 200 300 1000
(Å) 0.0370 0.0251 0.0197 0.0087
纳米金刚石的高分辨图像
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为什么要用TEM?
3)获得立体丰富的信息。
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对这个微区进行衍射分析叫做选区衍射。 由于样品上待分析的微区很小,一般是微米数量级。
制作这样大小的光阑孔在技术上还有一定的困难,加 之小光阑孔极易污染,因此,选区光阑都放在物镜的 像平面位置。这样布置达到的效果与光阑放在样品平 面处是完全一样的。 这样光阑孔的直径就可以做的比较大。如果物镜的放 大倍数是50倍,则一个直径等于50μm的光阑就可 以选择样品上直径为1μm的区域。
9
各国代表人物
美国伯克莱加州大学G.Thomas将TEM第一 个用到材料研究上。
日本岗山大学H. Hashimoto日本电镜研究 的代表人。
中国:钱临照、郭可信、李方华、叶恒强、 朱静。
国内电镜做得好的有:北京电镜室(物理 所)、沈阳金属所、清华大学。
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为什么要用TEM?
1)可以实现微区物相分析。
成像系统中的物镜是显微镜的核心,它的分 辨率就是显微镜的分辨率。成像系统可以实 现两种成像操作:一种是将物镜的像放大成 像,即成像操作,可用于试样形貌观察;另 一种是将物镜背焦面的衍射花样放大成像, 即衍射操作,可用于电子衍射分析。
57
总结
如果中间镜的像平面出现一定的位移,这个 位移距离仍处于投影镜的景深范围之内,因 此,在荧光屏上的图像仍旧是清晰的。
34
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
(四)成像与衍射操作:背焦面
背焦面:样品的电子衍射斑点。
35
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
(四)成像与衍射操作:像平面
像平面
成像系统
(一)物镜 物镜作用:成像系统的第一级
放大透镜,形成第一幅高分辨 率电子显微图像和电子衍射花 样。 物镜特点:强激磁、短焦距 (1-3mm),高放大倍数, 高分辨率。
物镜决定透射电子显微镜分辨 本领
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物镜是一个强激磁短焦距的透镜,它的放 大倍数较高,一般为100-300倍。目前,高 质量的物镜其分辨率可达0.1nm左右。
29
(一)物镜
提高物镜分辨率的措施:
1. 物镜的分辨率主要取决于极靴的形状和加工精 度。一般来说,极靴的内孔和上下极之间的距 离越小,物镜的分辨率越高。
2. 在物镜的后焦面上安放一个物镜光阑。物镜光 阑不仅具有减少球差,像散和色差的作用,而 且可以提高图像的衬度。
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光学透镜的焦距是固定的。电磁透镜的焦距是可以 通过调节电流大小来改变。
内容回顾:电子光学基础
光学显微镜的分辨率 极限(200nm) 原因? 受可见光波长限制 电子波 比可见光短十万倍 光学透镜、电磁透镜的成像原理 电磁透镜的像差与分辨本领 电磁透镜的景深和焦长
1
第九章 透射电子显 微镜
透射电镜结构与工作原理
2
§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
透射电子显微镜 Transmission Electron Microscope, TEM 是以波长极短的电子束作为照明源、用电磁透镜聚焦成像的一 种高分辨本领、高放大倍数的电子光学仪器,是观察分析材料 的形貌、组织和结构的有效工具。
在用透射电子显微镜进行图像分析时,物镜和样品 之间和距离固定不变的,(即物距L1不变)。因此 改变物理学电镜放大倍数进行成像时,主要是改变 物镜的焦距和像距(即f 和 L2)来满足成像条件。
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(二)中间镜
作用:在电镜操作过程中,主 要是利用中间镜的可变倍率来 控制电镜的放大倍数。
特点:弱激磁,长焦距,可变 倍透镜,放大倍数0-20倍。
了电子衍射实验。 1933年柏林大学的Knoll和Ruska研制出第一台电
镜(点分辨率50nm, 比光学显微镜高4倍),Ruska 为此获得了Nobel Prize(1986)。 1949年Heidenreich观察了用电解减薄的铝试样;
8
近代TEM发展史上三个重要阶段
像衍理论(50-60年代): 英国牛津大学材料系 P.B.Hirsch, M.J.Whelan;英国剑桥
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聚光镜光阑的作用是限制照明孔径角。在双聚 光镜系统中,安装在第二聚光镜下方的焦点位 置。光阑孔的直径为20~400μm。作一般分 析观察时,聚光镜的光阑孔径可用200~ 300μm,若作微束分析时,则应采用小孔径光 阑。
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(二)物镜光阑
物镜光阑又称为衬度光阑,通常它被放 在物镜的后焦面上。
一、样品平移与倾斜装置(样品台)
44
§ 9-2 主要部件的结构与工作原理
二、电子束倾斜与平移装置
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透射电镜的主要部件---消像
散器
消像散器可以是机械式的, 可以是电磁式的。机械式 的是在电磁透镜的磁场周 围放置几块位置可以调节 的导磁体,用它们来吸引 一部分磁场,把固有的椭 圆形磁场校正成接近旋转 对称的磁场。电磁式的是 通过电磁极间的吸引和排 斥来校正椭圆形磁场。
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(三)投影镜
投影镜的作用是把经 中间镜放大(或缩小) 的像(电子衍射花样) 进一步放大,并投影到 荧光屏上
它和物镜一样,是一个 短焦距的强磁透镜。投 影镜的激磁电流是固定 的。
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成像电子束进入投影镜时孔径角很小(约105rad),因此它的景深和焦长都非常大。即使 显微镜的总放大倍数有很大的变化,也不会 影响图像的清晰度。
减小像差,
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物镜光阑的另一个主要作用是在后焦面上套 取衍射束的斑点(即副焦点)成像,这就是 所谓暗场像。利用明暗场显微照片的对照分 析,可以方便地进行物相鉴定和缺陷分析。
透射束成像 衍射束成像
明场像 暗场像
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(三)选区光阑
选区光阑又称场限光阑或视场光阑。
为了分析样品上的一个微小区域,应该在样品 上放一个光阑,使电子束只能通过光阑限定的 微区。
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§ 9-1 透射电子显微镜的结构和成像机理
三、观察记录系统
观察和记录装置包括荧光屏和照相机构, 在荧光屏下面放置一下可以自动换片的 照相暗盒。照相时只要把荧光屏竖起, 电子束即可使照相底片曝光。由于透射 电子显微镜的焦长很大,虽然荧光屏和 底片之间有数十厘米的间距,仍能得到 清晰的图像
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§ 9-2 主要部件的结构与工作原理
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选区光阑同样是用无磁性金属材料制成的, 一般选区光阑孔的直径位于20~400μm范围 之间,它可制成大小不同的四孔一组或六孔 一组的光阑片,由光阑支架分档推入镜筒。
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不同类型的光阑
由光阑直径为0.5mm所 产生的可见光衍射强 度和Airy衍射斑
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总结
透射电子显微镜电子光学系统的主要组成部 分是照明系统、成像系统和观察记录系统。
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