超声检测UT Ⅱ级开卷考试内容+操作指导书例题

UT Ⅱ级开卷考试内容

试题类型：是非题、选择题和操作指导书。

试题内容：

1.特种设备安全监察法规知识；

2.特种设备制造及检验的规程、规则、技术标准中有关无损检测的各项规定；

3.对NB/T 47013标准中UT内容的理解与应用；

4.针对具体承压设备试件编检测制操作指导书。

关于操作指导书

NB/T47013.1通用要求规定：

7.2.3操作指导书至少应包含以下内容：

a) 操作指导书编号；

b) 依据的工艺规程及其版本号；

c) 检测技术要求：执行标准、检测时机、检测比例、合格级别和检测前的

表面准备；

d) 检测对象：承压设备类别，检测对象的名称、编号、规格尺寸、材质和

热处理状态、检测部位（包括检测范围）；

e) 检测设备和器材：名称和规格型号，工作性能检查的项目、时机和性能

指标；

f) 检测工艺参数；

g) 检测程序；

h) 检测示意图；

i) 数据记录的规定；

j) 编制者（级别）和审核者（级别）；

k) 编制日期。

NB/T 47013.3 超声检测规定：

4.3.3应根据工艺规程的内容以及被检工件的检测要求编制操作指导书。其内容除满足NB/T 47013.1的要求外，至少还应包括：

a) 检测技术要求：检测技术（直探头检测、斜探头检测、直接接触法、液

浸法等）和检测波形等；

b) 检测对象：承压设备类别，检测对象的名称、规格、材质和热处理状态、

检测部位等；

c) 检测设备器材：仪器型号、探头规格、耦合剂、试块种类，仪器和探头性

能检测的项目、时机和性能指标等；

d) 检测工艺相关技术参数：扫査方向及扫查范围、缺陷定贵方法、检测记录

和评定要求、检测示意图等。

表1 超声检测工艺规程涉及的相关因素

设计操作指导书应包含的内容：

1.工件介绍；

2.仪器及器材；

3.技术要求；

4.扫描线调节及说明；

5.灵敏度校准及说明；

6.扫查方式及说明；

7.缺陷记录；

8.不允许缺陷的规定；

9.扫查示意图；10.编制及审核。

例1：现场安装1000m3球罐，材质16MnR，主要技术参数是：容器类别：三类；设计压力：1.8MPa；设计温度：50℃；钢板规格：4900×1800×42mm；

要求：钢板纵波和横波超声探伤。

执行标准：NB/T47013.3---2015，球罐钢板100%检验，Ⅱ级合格。

编制钢板超声探伤操作指导书。

规格（mm）4900×1800×42mm 材料牌号16MnR

表面状态轧制面热处理状态/

仪器

及器

材

仪器型号HS600 耦合剂水

探头型号2MHz双晶直探头、2MHz K=1斜探头

试块

2#试块：

V型槽试块：

技术

要求

检测标准NB/T47013.3—2015 检测时机安装前

检测比例100% 合格级别Ⅱ级

检测面任一轧制面扫查速度＜150mm/s

扫查范围板材中部及板材边缘扫查

检测灵敏度

直探头检测灵敏度为φ5平底孔；

斜探头检测灵敏度为1.2mm深V型槽。

表面补偿4db

扫描

线调

节及

说明

双晶直探头探伤采用深度1：1调节，使钢板第一次底波位于扫描线内；

K1斜探头探伤采用深度1：2调节，使第二跨距V型槽回波位于扫描线内。

灵敏

度校

准及

说明

1.双晶直探头探伤时，以2号φ5平底孔试块上15mm、30mm、45mm3个平底孔回

波制作距离—波幅曲线，以此作为基准灵敏度。

2.扫查灵敏度提高6db。

3.K1斜探头探伤时，在钢板上加工张角60°的V型槽，长度25mm、深度1.2mm。探头对准V型槽，找出第一跨距最大反射波幅，使该波达80%满幅；仪器状态不变，移动探头找到第二跨距最大回波。连接两回波顶点，作为距离—波幅曲线，以此作为检测灵敏度。

扫查方式说明1.双晶直探头探伤：板材边缘50mm范围内100%扫查；板材中部区域探头沿垂直和平行于板材压延方向且间距不大于100mm的格子线进行扫查。

2.双晶直探头扫查时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直。

3.K1斜探头探伤：在板材的轧制面上以垂直和平行于板材轧制方向的格子线进行扫查，格子线中心距为200mm。

缺陷的记录1. 直探头探伤，缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距离—波幅曲线的位置；

2.直探头探伤，底面第一次反射波（B1）波幅低于显示屏满刻度的50%的位置；

3.斜探头探伤，波幅等于或超过距离波幅曲线的缺陷位置；对于波幅低于距离—波幅曲线的缺陷，当指示长度较长时，也应作记录。

不允许的缺陷1.白点、裂纹不允许；

2.板材中部检测区域：双晶直探头检测时，单个缺陷指示面积S大于100mm2；任一1m×1m检测面积内，当50＜S≤100mm2时，超过10个；

3.板材边缘检测区域：双晶直探头检测时，单个缺陷指示长度Lmax大于30mm；单个缺陷指示面积S大于100mm2；当15＜L ≤30时，超过3个。

4.K1斜探头检测时：等于或超过距离—波幅曲线的任何缺陷信号。

扫查

示意

图

纵波双晶直探头扫查