制程能力指数分析-----(CPK)
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朱務農
五、控制圖上的信號解釋
規則二:連續7點在中心線一側:
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UCL
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CL
LCL
14 12 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
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朱務農
五、控制圖上的信號解釋
規則二:連續7點在中心線一側:
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朱務農
四、X-R管制圖繪制
1.搜集100個以上數據,把2-6個(一般採4-5個)數據分為一組。依據定時 時間順序或群體順序排列。 2.把數據記入數據表。 3.計算各組平均值X。 3. X 4.計算各組的全距R。
LOT NUMBER VALU E SAMPL E X1 X2 X3 X4 ΣX X R 1 53.6 54.5 53.2 55.0 216. 3 54.1 1.8 2 53.6 54.0 53.1 54.2 214. 9 53.7 1.1 3 53.2 54.2 53.0 54.8 215. 2 53.8 1.8 4 54.3 53.9 54.0 54.8 217. 0 54.3 0.9 5 53.6 54.6 54.5 55.0 217. 7 54.4 1.4 6 54.3 53.9 54.0 52.9 215. 1 53.8 1.4 7 54.1 53.6 53.6 54.0 215. 3 53.8 0.5 8 53.6 53.0 55.0 53.6 215. 2 53.8 2.0 9 54.0 54.6 54.1 54.9 217. 6 54.4 0.9 10 54.1 54.2 53.0 52.9 214. 2 53.6 1.3 11 53.0 53.9 54.1 53.0 214. 0 53.5 1.1 12 53.6 53.6 54.1 54.3 215. 6 53.9 0.7 13 54.5 54.0 54.6 54.0 217. 1 54.3 0.6 14 54.7 53.6 53.0 54.4 215. 7 53.9 1.7 15 53.3 53.9 55.0 54.0 216. 2 54.1 1.7 16 53.6 54.0 54.3 54.3 216. 2 54.1 0.7 17 54.8 54.1 53.0 54.0 215. 9 54.0 1.8 18 53.0 54.1 54.9 53.0 215. 0 53.8 1.9 19 54.1 54.7 53.0 53.7 215. 5 53.9 1.7 20 54.4 54.0 54.3 55.0 217. 7 54.4 1.0
制程能力指數分析(CPK) 制程能力指數分析
品保部QE 品保部QE
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2011/12/2
朱務農
一、品質變異之原因
普通原因(Chance Causes)
(又稱為機遇原因,不可避免之原因、非人為原因) 在正確的操作、制程中或檢驗時仍有很多原因使產品品質發生少許且規律 的變異,是造成隨著時間的推移具有穩定的且可重復的分布過程的許多變 變差的原因。 經常存且變異極為微小,對產品品質並無明顯之不良影響。 欲消除此項原因勢必花費甚巨而增加成本。 幾個較為代表性之機遇原因如下: 1.原料之微小變異 2.機器之微小振動 3.儀器測定時不十分精確之作法
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朱務農
何謂Cp值 何謂 值
Cp即制程精密度(Capability of Precisioin)
Cp值系在衡量制程之變異寬度與規格界線范圍相差的情形。 (比較制程分散寬度與規格公差范圍之比例程度) USL-LSL 公式: Cp=T/6δ= (為 規格) 計值 6δ ∣LSL∣-u ∣USL∣-u Cp= (為單 規格) 3δ 3δ
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朱務農
何謂Cp值 何謂 值
∣LSL∣-X Cp= 3δ R δ= d
(標準差)
∣USL∣-X 或 (為雙邊規格) 3δ (樣本組的平均全距值) (視樣本大小n,所定的常數)
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朱務農
Cp值等級判定 處置原則 值等級判定&處置原則 值等級判定
等級 Cp值 處置原則 A 1.67 ≦ Cp ( 參附件 2 ) B 1.33 ≦ Cp <1.67 C 1 ≦ Cp <1.33 D 0.67 ≦ Cp <1 E 0 ≦ Cp <0.67 Cp癒小,變異性癒大 精密度癒低. Cp癒大,變異性癒小 精密度癒高.
T=公差 X2-u
T = 100% 2
T = 100% 2
X1
X2
規格下限
(
25
u ) X2
X2
規格上限
Ca值之圖解 2011/12/2
朱務農
等級判定
Ca值大致可分為五級(如表所示)
等級 A B C D E Ca值 Ca 值 0≦ ︱ Ca ︳ < 6.25% 0 ≦ Ca︳ 6.25% <︱Ca ︳ ≦ 12.5 % 6 . 25 % <︱ Ca︳ 12 . Ca 12. <︱Ca Ca︳ 25% 12 .5 % <︱ Ca ︳ ≦ 25 % 25% <︱Ca Ca︳ 50% 25 % <︱ Ca ︳ ≦ 50 % 50% <︱Ca Ca︳ 50 % <︱ Ca ︳
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朱務農
二、管制圖的原理
1920年,美國貝爾電話試驗所哈特(A’shewhart)博士的研究發現,在 生產過程中,如僅有機遇原因的變動時,任何產品之品質特性99.7%處於 常態分配圖的X-±3δ的界限范圍內,在X-±3δ范圍以外之點極少;當有非 機遇原因的變動時,產品之品質變異時往往超出X-±3δ之外。根據此原 理,他將常態分布圖作90°轉向,將X-±3δ的地方作為兩條控制線: 1.將平均值X作為管制中心線(Central Line簡稱CL)以實線表示; 2.將X+3δ作為管制圖上線(Upper Control Limit簡稱UCL),通常以虛線或紅線表示; 3.將X-3δ作為管制圖下線(Lower Control Limit簡稱LCL),通常以虛線或紅線表示; 這樣就形成了一個管制圖,將生產中的數據按照順序點入界限中,如果點子在管制圖 上下限之間變動,表示制品的品質及制造條件都正常,可以繼續生產:如果有一點 超出界外時,則表示出現了非機遇之原因而致使制品品質或制造條件發生變化,必 須採取對策,研究改善方法,使其恢復正常。
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朱務農
六、管制圖之判讀
2. 管制狀態 滿足下列條件,即可認為制程是在管制狀態. 2.1 沒有點超出管制界限之外. 2.2 多數的點集中在中心線附近. 2.3 少數的點落在管制界限附近. 2.4 點分佈呈隨機狀態,無任何規則可循.
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制程能力分析指數( 制程能力分析指數(Cpk)分析 )
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五、控制圖上的信號解釋
規則二:連續7點呈上升或下降的趨勢:
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UCL
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CL
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五、控制圖上的信號解釋
點分佈呈隨機狀態,無任何規則可循,多數點在中心附近:
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CL
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朱務農
六、管制圖之判讀
1. 非管制狀態: 1.1 點在管制界限的線外(或線上)。 1.2 點雖在管制界限內,但在中心線單側連續出現7點以上時,連續 7點依次上升或下降,這些點所連的圖(機率為0.8%) 1.3 明顯的非隨機圖形:點在中心線單側出現較多時/點接近界限 太多/點出現呈周期性變動/連續15點以上出現在±1δ間時/變 幅突然變大或變小.
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朱務農
四、X-R管制圖繪制
5.計算X總平均。 6.計算全距R平均。 7.計算管制界限: X管制圖:中心線CL=X X CL=X 上限UCL=X+A2R 下限LCL=X-A2R R管制圖:中心線CL=R 上限UCL=D4R 下限LCL=D3R (A2 D4 D3 可查表) 8.繪管制界限,並將點點入圈中。 9.記入數據履歷及特殊原因,以備查考、分析、判斷。
何謂Ca值? Ca值等級判定&處置原則 何謂Cp值? Cp值等級判定&處置原則 何謂Cpk值 Cpk值等級判定&處置原則 制程能力統計分析
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2011/12/2 朱務農
何謂Ca值 何謂 值
Ca表制程準確度(Capability of Accuracy)
其定義為實際制程中心值和規格中心值的差距佔T(公差)/2有多 少百分率。(比較制程分配中心與規格中心之一致程度) x-u 公式: Ca= *100% T/ 2 所以實際制程中心值癒趨近規格中心值,其Ca值癒小,準確度越 高。反之,準確度越低。 注:X=制程平均值;U=規格中心值;T=公差范圍; δ=[ ;
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2011/12/2
朱務農
五、控制圖上的信號解釋
有很多信號規則適用於所有的控制圖,主要最常見的規則有以下3種: 規則一:超出控制界限的點
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UCL
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20Hale Waihona Puke Baidu1/12/2
朱務農
一、品質變異之原因
特殊原因(Assignable Causes)
(以稱為非機遇原因、可避免之原因、人為原因、異常原因) 在操作、制程中或檢驗時因異常而產生變異的原因,即當他們出現時將造 成(整個)過程的分布改變的原因。 不經常再現,一旦發生對產品品質即造成嚴懲問題; 應追究且需設法消除此項原因; 幾個較為代表性這機遇原因如下: 1.原料群體之不良; 2.機器調整錯誤; 3.未遵照操作標準作業; * 管制圖為區別此兩種原因之優良工具;
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朱務農
五、控制圖上的信號解釋
規則三:明顯的非隨機圖形,多於2/3的點落在圖中1/3以外:
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CL
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朱務農
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朱務農
Ca值等級判定 處置原則 值等級判定&處置原則 值等級判定
等級 Ca值 A 0≦∣Ca∣<6.25% B 6.25%< ∣Ca∣≦12.5% C 12.5%< ∣Ca∣≦25% D 25% < ∣Ca∣≦50% E 50% < ∣Ca∣ 處置原則
(參附件1)
*注意:單邊規格無規格中心值,所以不能計算Ca值。
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2011/12/2
朱務農
三、管制圖的種類
(1) 計量值管制圖
所謂計量值管制圖系,管制圖所依據之數據屬於由量具實際 量測而得,如長度、重量、成分等特性均為連續。 1.1 平均值與全距管制圖(X-R Chart) 1.2 平均值與標準差管制圖(X –δ Chart) 1.3 中位值與全距管制圖(X-R Chart)
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朱務農
三、管制圖的種類
(2)計數值管制圖
所謂計數值管制圖系管制均所依據均屬於以單位計數者,如不良數、 缺點數等間斷數據均屬之。 2.1不良率管制圖(P Chart) 2.2不良數管制圖( Pn Chart) 2.3缺點數管制圖(C Chart) 2.4單位缺點數管制圖(U Chart)
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2011/12/2 朱務農
何謂Cpk值 值 何謂
Cpk即制程能力指數(Capability of Process) 系同時兼顧衡量制程中與規格中心值集中程度 &變異性大小,也就是Ca和Cp值合並評估。 公式:Cpk= ( 1 - ∣ Ca ∣).Cp
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朱務農
何謂Cpk值 值 何謂
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朱務農
五、控制圖上的信號解釋
規則二:連續7點呈上升或下降的趨勢:
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26 24 22
CL
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LCL
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