现代材料研究方法透射题草稿

《现代材料研究方法》透射电镜部分考题

第一部分为选择题或判断题，每题4分，共五道题。

1，在透射电子显微镜中，（ ）实验方法常用于晶体取向的测定。

A）

2，透射电子显微镜中，能量色散谱仪（EDS）所采集到信号源是（ ）。

A）光子 C）中子 D）俄歇电子

3，在高角环形暗场-扫描透射成像（HAADF-STEM）技术中，高角环形暗场探测器所成像的衬度属（ ）。

4，在透射电子显微镜中，能测量试样厚度的方法有（ ）

A）

分辨成像

5，在透射电镜中，能在原子尺度上观察晶体缺陷的方法有（ ）。

A）

分辨成像

第二部分为问答题，每题10分，共五道题。

1，请简单说明电子显微镜和X射线衍射仪在材料结构分析中的区别及

各自优缺点？

2，电子显微镜有哪三衬度形成机制？高分辨成像属哪种衬度形成机制？

3，指出透射电子显微镜的电子衍射功能中，选区衍射和会聚束衍射的区别及优缺点？

4，

5，

第三部分为拔高题，每题15分，共二道题。

1， 下图给出了电子显微镜中，入射到样品上的高能电子束经与试样发生交互作用后，所发出的携带试样结构及组成信息的信号，请给出图中下划线所标示的信号主要用于什么实验设备或实验方法？

2， 给出以下实验方法所能获得的实验信息？

1) 电子衍射：

2) 高分辨成像：

3) X 射线能谱方法：

4) 电子能量损失谱：

5) 原子序数成像（Z 衬度成像）：