光电检测技术复习总结

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南京理工大学-光电检测技术总结

南京理工大学-光电检测技术总结

南京理⼯⼤学-光电检测技术总结习题01⼀、填空题1、通常把对应于真空中波长在(0.38m µ)到(0.78m µ )范围内的电磁辐射称为光辐射。

2、在光学中,⽤来定量地描述辐射能强度的量有两类,⼀类是(辐射度学量),另⼀类是(光度学量)。

3、光具有波粒⼆象性,既是(电磁波),⼜是(光⼦流)。

光的传播过程中主要表现为(波动性),但当光与物质之间发⽣能量交换时就突出地显⽰出光的(粒⼦性)。

4、光量Q :?dt φ,s lm ?。

5、光通量φ:光辐射通量对⼈眼所引起的视觉强度值,单位:流明lm 。

6、发光强度I :光源在给定⽅向上单位⽴体⾓内所发出的光通量,称为光源在该⽅向上的发光强度,ωφd d /,单位:坎德拉)/(sr lm cd 。

7、光出射度M :光源表⾯单位⾯积向半球⾯空间内发出的光通量,称为光源在该点的光出射度,dA d /φ,单位:2/m lm 。

8、光照度E :被照明物体单位⾯积上的⼊射光通量,dA d /φ,单位:勒克斯lx 。

9、光亮度L :光源表⾯⼀点的⾯元dA 在给定⽅向上的发光强度dI 与该⾯元在垂直于给定⽅向的平⾯上的正投影⾯积之⽐,称为光源在该⽅向上的亮度,)cos /(θ?dA dI ,单位:2/m cd。

10、对于理想的散射⾯,有Ee= Me 。

⼆、概念题1、视见函数:国际照明委员会(CIE )根据对许多⼈的⼤量观察结果,⽤平均值的⽅法,确定了⼈眼对各种波长的光的平均相对灵敏度,称为“标准光度观察者”的光谱光视效率V (λ),或称视见函数。

2、辐射通量e φ:是辐射能的时间变化率,单位为⽡ (1W=1J/s),是单位时间内发射、传播或接收的辐射能。

3、辐射强度e I :从⼀个点光源发出的,在单位时间内、给定⽅向上单位⽴体⾓内所辐射出的能量,单位为W /sr(⽡每球⾯度)。

4、辐射出射度e M :辐射体在单位⾯积内所辐射的通量,单位为2/m W。

光电检测技术知识点总结

光电检测技术知识点总结

1、光电效应应按部位不同分为内光电效应和外光电效应,内光电效应包括(光电导)和(光生伏特效应)。

2、真空光电器件是一种基于(外光电)效应的器件,它包括(光电管)和(光电倍增管)。

结构特点是有一个真空管,其他元件都放在真空管中3、光电导器件是基于半导体材料的(光电导)效应制成的,最典型的光电导器件是(光敏电阻)。

4、硅光电二极管在反偏置条件下的工作模式为(光电导),在零偏置条件下的工作模式为(光生伏特模式)。

5、变象管是一种能把各种(不可见)辐射图像转换成为可见光图像的真空光电成像器件。

6、固体成像器件(CCD)主要有两大类,一类是电荷耦合器件(CCD),另一类是(SSPD)。

CCD电荷转移通道主要有:一是SCCD(表面沟道电荷耦合器件)是电荷包存储在半导体与绝缘体之间的界面,并沿界面传输;二是BCCD 称为体内沟道或埋沟道电荷耦合器件,电荷包存储在离半导体表面一定深度的体内,并沿着半导体内一定方向传输7、光电技术室(光子技术)和(电子技术)相结合而形成的一门技术。

8、场致发光有(粉末、薄膜和结型三种形态。

9、常用的光电阴极有正电子亲合势光电阴极(PEA)和负电子亲合势光电阴极(NEA),正电子亲和势材料光电阴极有哪些(Ag-O-Cs,单碱锑化物,多碱锑化物)。

10、根据衬底材料的不同,硅光电二极管可分为(2DU)型和(2CU)型两种。

11、像增强器是一种能把微弱图像增强到可以使人眼直接观察的真空光电成像器件,因此也称为(微光管)。

12、光导纤维简称光纤,光纤有(纤芯)、(包层)及(外套)组成。

13、光源按光波在时间,空间上的相位特征可分为(相干)和(非相干)光源。

14、光纤的色散有材料色散、(波导色散)和(多模色散)。

15、光纤面板按传像性能分为(普通OFP)、(变放大率的锥形OFP)和(传递倒像的扭像器)。

16、光纤的数值孔径表达式为,它是光纤的一个基本参数、它反映了光纤的(集光)能力,决定了能被传播的光束的半孔径角17、真空光电器件是基于(外光电)效应的光电探测器,他的结构特点是有一个(真空管),其他元件都置于(真空管)。

光电检测知识点总结

光电检测知识点总结

光电检测知识点总结辐射度学单位是纯粹物理量的单位,例如,熟悉的物理学单位焦⽿和⽡特就是辐射能和辐射功率的单位,光度学所讨论的内容仅是可见光波的传播和量度,因此光度学的单位必须考虑⼈眼的响应,包含了⽣理因素。

例如,光度学中光点源:照度与距离之间的平⽅反⽐定律扩展源:朗伯源的辐出度与辐亮度间的关系漫反射⾯:漫反射体的视亮度与照度间的关系定向辐射体的曲线彼此不相交;某⼀波长上,温度越⾼,光谱辐出度越⼤;随温度升⾼,曲线峰值对应的波长向短波⽅向移动;波长⼩于λm的部分能量约占25%,波长⼤于λm的能量约占75%;(Wien…s Displacement Law )将普朗克公式对波长λ求微分后令其等于0,则可以得到峰值光谱辐出度所对应的波长λm与绝对温度T的关系。

维恩位移定律(Wien's Displacement Law )当⿊体温度升⾼时,辐射曲线的峰值波长向短波长⽅向移动。

⽅向⽽有不同。

(光谱发射率、半球发射率、⽅向发射率…)发射率不随波长变化且⼩于1的物体称灰体;发射率随波0.48um,太阳地球平均距离1.495x108km,太阳,如果将太阳与地球均近似看出⿊体,求太阳的地球的表⾯温度。

晶体中的电⼦只能处于能带的能级上,且每⼀个能带中都有与原⼦总数相适应的能级数。

价带:绝对零度时,价带为价电⼦占满。

⽽导带中没有电⼦。

4*5*1022/cm3从整体看,热平衡下,电⼦按能量⼤⼩具有⼀定统计分布规Ef,费⽶能级,与温度、半导体材料的导电类型、杂质含量等有关系。

E 的量⼦态的⼏率由指数因⼦所决定?玻⽿兹曼统计和 Boltzmann 统计的主要差别,前者受到Pauli exclusion principle 限制,但在E -Ef >>kT 条件下,泡利原理失去作⽤,两者同⼀;Ef 位于禁带内,且其与导带底或价带顶的距离远⼤于kT ,故导带中的电⼦分布可以⽤电⼦的Boltzmann 分布函数描写;即导带中⼤多数电⼦分布在导带底附近;情况下,导带没有电⼦,价带也没有空⽳,因此不能导电。

光电技术第四版期末总结

光电技术第四版期末总结

光电技术第四版期末总结本学期的光电技术课程中,我从理论到实践,全面系统地学习和掌握了光电技术的基础知识和相关实验操作技能。

通过课程的学习,我对光电技术的发展现状、应用领域以及未来的发展方向有了更全面的了解。

首先,在理论方面,我系统地学习了光电技术的基本概念、原理和相关理论知识。

光电技术是现代科学技术的一项重要组成部分,与多个学科有着密切的关联。

通过学习光电技术的基本原理,我了解到光电材料、光电器件以及光电系统的构成和工作原理。

同时,我也学习到了光电材料的特性、光电器件的分类和特点以及光电系统的设计和应用。

这些理论知识的掌握,为我进一步的学习和研究打下了坚实的基础。

其次,在实践方面,我通过实验操作和实际项目的开展,掌握了光电技术的实际应用技能。

在实验中,我学习了激光器的原理和调谐方法、光电器件的测试和应用以及光纤通信系统的设计和搭建。

通过实验操作的学习,我对光电器件的性能测试和系统调试有了更加深入的了解。

此外,我还参与了一个实际光电项目的开发,通过对项目的需求分析、方案设计、原型制作和实验测试等环节的学习和实践,我学到了项目管理的基本方法和实践技巧。

这些实践经验的积累,为我今后从事光电技术领域的工作打下了良好的基础。

最后,通过本学期的学习,我对光电技术的应用领域和未来发展方向有了更加深入的认识。

光电技术作为一门交叉学科,广泛应用于信息技术、生物医学、能源和环境等领域。

特别是在通信领域,光纤通信和光网络技术已经成为主流,为信息传输和存储提供了更加高效和可靠的方式。

未来,光电技术的发展方向主要包括光电器件的微纳制造技术、光电材料的合成和改性技术以及光电系统的高性能和低成本化。

我相信,随着光电技术的不断进步,它将在更多领域发挥重要作用,为社会发展和人类福祉做出更大贡献。

综上所述,通过本学期光电技术的学习,我不仅掌握了光电技术的理论知识和相关实践技能,而且对光电技术的应用领域和未来发展方向有了更加深入的了解。

光电技术期末复习总结

光电技术期末复习总结
2
EV
MV
Ie
Le
IV
LV
V (λ )
cd = lm • sr −1
cd •m−2
W /(m sr )
• 辐射度参数与光度参数的关系: 辐射度参数与光度参数的关系:
X v , λ = K m X e , λ V (λ )
式中,Km为人眼的明视觉最灵敏波长的 光度参量对辐射度参量的转换常数,其 值为683lm/W。
黑ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ发射的总辐射出射度
M e,s = ∫0 M e,s ,λ dλ = σT 4
式中,σ是斯特藩-波尔兹曼常数,它由下式决 5 4 定 2π k −8 −2 −4
σ =
15h c
3 2

= 5.67 × 10 Wm K
黑体发射的总辐射出射度 Me,s与T的四次 的四次 方成正比 。
(4) 维恩位移定律
M e ,s , λ =
2 πc h
2
λ5 (e
hc λkT
− 1)
式中, 为波尔兹曼常数 为波尔兹曼常数; 为普朗克常数 为普朗克常数; 为 式中,k为波尔兹曼常数;h为普朗克常数;T为 绝对温度; 为真空中的光速 为真空中的光速。 绝对温度;c为真空中的光速。
(3)斯忒藩-波尔兹曼定律 (3)
能增加, 引起温度上升,从而导致材料与温度有关的某些 物理性质变化. 热效应与入射辐射的光子的性质无关, 即光电信号取决于入射辐射功率而与入射辐射的光谱成 份无关,即对光辐射的响应无波长选择性.
光电探测器的合理选择: 光电探测器的合理选择
在设计光电检测系统时,要根据测量要求比较各种探测器的主要 特性参数,选定最佳器件: • 根据待测光信号的大小,确定探测器能输出多大的电信号,即探 根据待测光信号的大小,确定探测器能输出多大的电信号, 测器的动态范围; 测器的动态范围; • 探测器的光谱响应范围是否与待测光信号的 相对光谱功率分布 一致,即探测器和光源的匹配; 一致,即探测器和光源的匹配; • 需要知道探测器的等效噪声功率,知道所产生电信号的信噪比; 需要知道探测器的等效噪声功率,知道所产生电信号的信噪比; • 当测量调制或脉冲信号时 要考虑探测器的响应时间或频率响应 当测量调制或脉冲信号时, 范围; 范围; • 测量光信号的幅值变化时,探测器输出信号的线性程 测量光信号的幅值变化时,探测器输出信号的线性程度。 此外,稳定性、测量精测量方式等。

光电测试技术复习总结

光电测试技术复习总结

光传感原理与技术1.光电测试方法有非接触、高灵敏、高精度的特点,能够实现三维形貌、相关性、实时测量2.光电测试技术特点原理上:采用激光光源,单色性、方向性、相干性和稳定性都远远优于传统光源;从光机结合的模式向光机电算一体化的模式转换;从主观光学发展成为客观光学功能上:从静态测量向动态、实时测量发展;从逐点测量向全场测量发展;从低速测量向高速测量发展,同时具有存储、记录功能。

3.一个测量过程通常包括定位、瞄准、读数、数据处理等步骤。

4.按照误差的性质可以分为三类:系统误差,偶然误差,粗大误差.5.测量误差的表述---不确定度.6.对准又称横向对准,是指一个目标与比较标志在垂直于瞄准轴方向上的重合或置中; 调焦又称纵向对准,是指一个目标与比较标志在瞄准轴方向上的重合;7.用人眼进行调焦的方法:清晰度法,消视差法 8.由几何焦深造成的人眼调焦标准不确定度为: 由物理焦深造成的人眼调焦的标准不确定度:9.人眼直接观察的调焦标准不确定度 单次测量的标准不确定度对准标准不确定度(清晰度法) 调焦标准不确定度(消视差法)11.像质优良的望远镜和显微镜的单次对准标准不确定度最小只能达到它的理论分辨率的1/6~1/10 望远镜:γmin=(1/6~1/10)α α=1.02λ/D(D 为入瞳直径) 显微镜:△ymin=(1/6~1/10)ε ε=0.51λ/NA (NA 为数值孔径)12.两种调焦方法不确定度的讨论:系统出瞳直径D `≥2mm 时,用消视差法准确度高; D `≤1mm 时,用清晰度法准确度高;1mm <D `<2mm 时,两种方法准确度相差不多。

13.光电对准按工作原理分类:光度式、相位式;目前,光电对准装置可分为光电显微镜和光电望远镜两大类,两类仪器对准标准不确定度分别达到 0.01μm ~ 0.02μm 和 0.05″~ 0.1″。

14.定焦实质上是确定物镜的最佳像面的位置。

光电定焦的具体方法有多种,如:扇形光栅法、小孔光阑法、刀口检验法、MTF 法等15.平行光管测量中的注意事项:a .平行光管、被测透镜和观测系统三者的光轴基本重合;b .通过被测透镜的光束尽可能充满被测透镜的有效孔径。

光电检测技术总结

光电检测技术总结

●辐射度量与光度量的区别:辐射度量与光度量。

辐射度量是物理(或客观)的计量方法,它适用于整个电磁辐射谱区,对辐射量进行物理的计量;光度量是生理(或主观)的计量方法以人眼所能见到的光对大脑的刺激程度来对光进行计量的方法,只适用于可见光谱区域,是对光强度的主观评价。

●凡高于绝对零度的物体都要进行热辐射。

●半导体特性:⑴半导体的电阻温度系数一般是负的,它对温度的变化非常敏感。

⑵半导体的导电性能可能受极微量杂质的影响而发生十分显著的变化。

⑶半导体的导电能力及性质会受热、光、电、磁等外界作用的影响而发生非常重要的变化。

●P、N型半导体特点:在N型半导体中,电子为多数载流子;在P型半导体中,空穴为多数载流子●扩散:载流子因浓度不均匀,无规则热运动而发生的从浓度高的点向浓度低的点运动。

漂移:载流子在外电场的作用下,电子向正电极方向运动,空穴向负电极方向运动称为漂移。

●当光照射到物体上使物体发射电子、或导电率发生变化、或产生光电动势等,这种因光照而引起物体电学特性的改变统称为光电效应。

可归纳为两大类⑴物体受光照后向外发射电子的现象称为外光电效应⑵物体受到光照后所产生的光电子只在物质内部运动,而不会逸出物体外部的现象称为内光电效应●光电导效应是指半导体受光照射后,其内部产生光生载流子,使半导体中载流子数显著增加而电阻减小的现象●光生伏特效应是光照使不均匀半导体或均匀半导体中光生电子和空穴在空间分开而产生电位差的现象●光电发射效应:光敏物质吸收光子后,被激发的电子能逸出光敏物质的表面而在外电场的作用下形成光子流●响应度是光电检测器件输出信号与输入辐射功率之间关系的度量。

描述的是光电探测器件的光—电转换效能●信噪比(S/N)判断噪声大小常用的参数。

它是在负载电阻上产生的信号功率与噪声功率之比●噪声等效功率(NEP)定义为信噪比为1时,入射到探测器上的辐射通量●探测率D与归一化探测率D *探测率D 定义为噪声等效功率的倒数;归一化探测率D*●光电发射材料应具备的条件⑴光吸收系数大;⑵光电子在体内传输过程中受到的能量损失小,使其逸出深度大;⑶表面势垒低,使表面逸出几率大●光电倍增管的基本结构与原理:光电倍增管主要由光入射窗、光电阴极、电子光学系统、二次发射倍增系统及阳极等部分组成;工作原理1、光子透过入射窗入射到光电阴极K上。

光电检测技术总结

光电检测技术总结

定义:一类能够输出图像信息(图像或视频信号)的 功能器件,也称为光电图像传感器 。 分类:直视型、摄像型。


直视型光电成像器件 具有图像的转换、增强、显示等功能部 件和高真空管壳,通常简称为像管。 摄像型光电成像器件 将二维空间的光强分布(光学图像)转 换为一维时序电信号,不直接输出图像(只有对时序电信号 进行再处理后才可获得目标图像)。
光电检测技术


检测与测量 光电传感器:

基于光电效应,将光信号转换为电信号的一种光电器件 将非电量转换为与之有确定对应关系的电量输出。

光电检测技术:是利用光电传感器实现各类检测。它将被
测量转换成光通量,再将光通量转换成电量,并综合利用信息 传送技术和处理技术,完成在线和自动测量

光电检测系统
像管成像物理过程


1.辐射图像的光电转换: 利用外光电效应.光敏面采用光电发射型材料.发射的 电子流分布正比于人射的辐射通量分布.由此完成辐射 图像转换为电子图像的过程. 2.电子图像增强: 电场加速 或微通道板中二次电子发射. 3电子图像的发光显示 高能电子轰击荧光屏,发出可见光.
光电导效应

定义:光照变化引起半导体材料电导变化的现 象。
——内光电效应

内光电效应产生的自由电子停留在物体内部, 不发生电子逸出。
器件:光敏电阻、由光敏电阻制作的光导管。
分类:本征光电导效应与杂质光电导效应
光敏电阻


利用半导体光电导效应制成的器件称为光电导 器件,也称光敏电阻。 光敏电阻材料:主要是硅、锗和化合物半导体, 例如:硫化镉(CdS),锑化铟(InSb)等。



基本功能:根据自然 光的情况决定是否开 灯。 基本结构:整流滤波 电路;光敏电阻及继 电器控制;触电开关 执行电路 基本原理:光暗时, 光敏电阻阻值很高, 继电器关,灯亮;光 亮时,光敏电阻阻值 降低,继电器工作, 灯关。

光电检测技术复习

光电检测技术复习

第四章 光电导器件
• 工作原理 • 主要特性参数 • 偏置电路和噪声 • 特点与应用
工作原理
• 基于内光电效应(光电导效应) • 暗电流、亮电流、光电流及三者的关系
IP

U L
A

U L
q( nn

p p
)A

qUN L2

(

n

p
)
主要特性参数
• 光电灵敏度 g p Sg E
• 用负载电阻实现电流电压转换
• 用运算放大器实现电流电压转换
光电倍增管的应用
– 负电子亲合势及其特点
光电管与光电倍增管
• 光电管
– 玻壳、光电阴极和阳极组成,真空型和充气型
• 光电倍增管
– 基于外光电效应和二次电子发射效应 – 结构上与光电管的区别:电子光学系统和倍增

光电倍增管
• 工作原理 • 典型参数
阴极K
D2
D4
D1
D3
D5
U1 U2 U3
U4 U5
U6
A阳极 μA
I p I0 (e kT 1)
硅光电池
• 特性参数
– 光照特性——开路时、短路时、有限负载时
线性区
IL
Uoc1 Uoc2 Uoc3 Uoc4
Isc1 Isc2
Isc3
E1
U
E2
E3 E4
RL2
Isc4
RL1
硅光电二极管和三极管
• 一般在反向偏压下工作
I
E=0
U
E1
E2 光导工作区
qU
IL I p I0( e kT 1) IP I0 IP SEE

光电检测课程总结

光电检测课程总结

1.光电检测技术的特点高精度:从地球到月球激光测距的精度达到1米。

高速度:光速是最快的。

远距离、大量程:遥控、遥测和遥感。

非接触式检测:不改变被测物体性质的条件下进行测量。

寿命长:光电检测中通常无机械运动部分,故测量装置寿命长,工作可靠、准确度高,对被测物无形状和大小要求。

数字化和智能化:强的信息处理、运算和控制能力。

2.简述本征吸收、杂质吸收。

本征吸收:电子从价带激发到导带引起的吸收称为本征吸收, 当一定波长的光照射到半导体上时,电子吸收光后能从价带跃迁入导带,显然,要发生本征吸收,光子能量必须大于半导体的禁带宽度Eg。

杂质吸收:由光纤材料的不纯净而造成的附加吸收损耗(二章38-43)3.外光电效应、内光电效应、光伏效应外光电效应:固体受光照后从其表面逸出电子的现象称为光电发射效应或外光电效应。

当金属或半导体受到光照射时,其表面和体内的电子因吸收光子能量而被激发,如果被激发的电子具有足够的能量,足以克服表面势垒而从表面离开,产生了光电子发射效应。

被光逸出的电子称为光电子,基于外光电效应的光电器件有光电管、光电倍增管等。

内光电效应:物质受到光辐射的作用后,内部电子能量状态产生变化,但不存在表面发射电子的现象。

(二章57)光伏效应:又称光生伏特效应,是指由内建电场形成势垒,此势垒将光照产生的电子空穴对分开,从而在势垒两侧形成电荷堆积,产生光生电动势的效应。

(二章91-112)4.简述光电探测器的特性参数。

响应特性、噪声特性、量子效率、线性度、工作温度响应度(或称灵敏度):是光电探测器输出信号与输入光功率之间关系的量度。

描述的是光电探测器件的光电转换效率(响应度是随入射光波长变化而变化的,响应度分电压响应率和电流响应率)[电压响应度:光电探测器件输出电压与入射光功率之比;电流响应度:光电探测器件输出电流与入射光功率之比;光谱响应度:探测器在波长为λ的单色光照射下,输出电压或电流与入射的单色光功率之比;积分响应度:检测器对各种波长光连续辐射量的反应程度;响应时间:响应时间τ是描述光电探测器对入射光响应快慢的一个参数(上升时间:入射光照射到光电探测器后,光电探测器输出上升到稳定值所需要的时间。

光电检测知识点汇总

光电检测知识点汇总

考试高分笔记基本常识:AEΦPIS =⨯===光照度受光面积光通量输入光功率输出信号光电流电流灵敏度光通量-lm ;照度-lx ;亮度-sb ;光强-cd光敏电阻-正偏,光电二极管-反偏,光电池-没有外加偏置(这里偏置可以理解为器件之外有没有添加电源,)重点简录:1、P33,量子效率,6’ 量子效率 hvP eI //==的光子数每秒入射波长为每秒产生的光电子数λη2、P52(5),由禁带宽度E g 计算长波限λgg E hc λλc ,νE h ν=⇒==长波限理论值小于实际值原因:1在实际中短波更易被吸收。

2随温度的升高而向短波方向移动3、P52(6),光敏电阻,10’光电导灵敏度EGS g =d p G G G += (亮电导 = 光电导+暗电导)4、 P75,光电二极管,10’Lb e )G -U (U ΦS GU U G 0max 000=+=)(产生的总电流 = 暗电流 + 光电流)5、P89,放大倍数,10~12’K PI I A ==阴极电流阳极电流n)(εεA σ0=hv e /ηα=详尽考点:Chapter 2电致发光即场致发光,顾名思义,它是固体发光材料在电场激发下发光的一种现象,是将电能直接转化为光能的过程。

具体过程:物质中的原子受到电子轰击,使原子中的电子获得动能,由低能态跃迁到高能态;当它由受激状态回复到正常状态时,就会发出辐射。

知辐射通量求光通量:光通量 = 视见函数*辐射通量*Km (Km 为光视效能,Km=683 lm/W)例题:光谱光视效率V(505nm)=0.40730,波长为505nm 、1mW 的辐射光,其光通量 为0.2782 lm (计算式:0.40730 x 683 lm/W x 1 mW)LED 发光机理 P22 (就是电致发光)当给发光二极管的P -N 结加正向电压时,外加电场将削弱内建电场,使空间电荷区变窄,载流子的扩散运动加强。

由于电子迁移率总是远大于空穴的迁移率,因此电子由N 区扩散到P 区是载流子扩散运动的主体。

光电检测技术复习(汇总)

光电检测技术复习(汇总)

4
我的老师说过:光电技术人员应具备不怕黑、不怕冷、不怕密闭的专业素质.
4
基本特性 光敏电阻的基本特性参数包括光电特性、 伏安特性、 温度特性、 时间响应、 光谱响应等。 1) 光电特性--电导随光照量变化越大的光敏电阻就越灵敏 定义光敏电阻 γ 值时必须说明其照度范围,否则 γ 值没有实际意义。 光敏电阻的 γ 值反映了在照度范围变化不大或照度 的绝对值较大甚至光敏电阻接近饱和情况下的阻值 与照度的关系。 2) 温度特性 光敏电阻为多数载流子导电的光电器件,具有复杂 的温度特性。 降低或控制光敏电阻的工作温度是提高光敏电阻工作 稳定性的有效方法。这对长波长红外辐射的探测极为 重要。 温度升高导致: 载流子的定向移动性变差,大量的光生载流子热运 动剧烈发生复合。 半导体、光生伏特效应也是此温度特性。 3) 时间响应(惯性,与入射辐射信号的强弱有关)
3
6) 光电二极管与电子二极管的区别? 光电二极管 流动 电子流向 流动少子,电流弱 加反向偏压, 增大内建电场 电子二极管 流动多子,电流强 加正向偏压,抵消内建电场
问题六 常见器件名称英文缩写全称 PMT: Photo-multiple tube 光电倍增管 APD: Avalanche Photo Diode 雪崩光电二极管 PSD: Position Sensing Detector 光电位置敏感器件 CCD: Charge-coupled Device 电荷耦合元件 CMOS:Complementary Metal Oxide Semiconductor 互补金属氧化物(PMOS 管和 NMOS 管)共同构成的互补型 MOS 集成电路制造工艺
2
增大线宽,而不是长度
4. 光生伏特效应(重点) 1) 光生伏特效应是什么? 基于半导体 PN 结基础上的一种将光 能转换成电能的效应。当入射辐射作 用在半导体 PN 结上产生本征吸收时, 价带中的光生空穴与导带中的光生电 子在 PN 结内建电场的作用下分开, 并分别向如图 1-11 所示的方向运动, 形成光生伏特电压或光生电流的现象。 2) PN 结形成过程中载流子的流动? i. P 区空穴为多子,电子为少子,空穴浓度高,N 区相反,在浓度 梯度的牵引下,P 区空穴向 N 区移动,N 区电子向 P 区移动,扩 散过程中伴随着复合; ii. 形成内建电场,方向 N->P,内建电场阻碍扩散运动的进一步进 行,将空穴导向 P 区,电子导向 N 区; iii. 内建电场力 = 扩散力,二者达到动态平衡,中间区域形成少数 载流子移动的区域, 称为耗散区, 为光生载流子的捕捉和探测提 供场所。

光电检测总结

光电检测总结

第六章 光电检测系统
直接检测与二次调制
直接检测:无论是相干或非相干光源,都是利用光源发射的光强携带信息。光电 探测器直接把接受到的光强的变化转换为电信号的变化,然后,用解调电路检出
所携带的信息。 二次调制(副载波调制)
x(t)
s(t)
一次调制
二次调制
主要调制方式 x(t)=A cos(w0t+Ф)
振幅调制(AM) 频率调制(FM) 位相调制(PM) 脉码调制(PCM) 波长调制、偏振调制等
的度量。描述的是光电探测器件的光电转换效率。
响应度是随入射光波长变化而变化的
响应度分电压响应率和电流响应率 电压响应率: 光电探测器件输出电压与入射光功率之比
SV
Vo Pi
电流响应率:光电探测器件输出电流与入射光功率之比
SI
Io Pi
2.光谱响应度:探测器在波长为λ的单色光照射下,输出电压或电流与入
10
光电检测系统总结
LIA 的组成 信号通道:交流放大、调制、带通滤波 参考通道:触发、移相、方法驱动 相敏检波:模拟乘法器,电子开关 低通滤波:RC 滤波器。 LIA 特点 要求对入射光束进行斩光或光源调制,适用于调幅光信号的检测; 极窄带高增益放大器,增益可达 1011,带宽窄到 0.0004Hz; 交流-直流信号变换器; 可以补偿光检测中的背景辐射噪声和前置放大器的固有噪声。信噪比改善可达 1000 倍。 克服相位偏移 正交矢量锁相放大器
4
光电检测系统总结
MOS 光敏元:构成 CCD 的基本单元是 MOS(金属—氧化物—半导体)结构。
电荷存储
在栅极加正偏压之前,P 型半导体中的空穴(多子)的分布是均匀的。 加正偏压后,空穴被排斥而产生耗尽区,偏压增加,耗尽区向内延伸。 当 UG> Uth 时,半导体与绝缘体界面上的电势变得非常高,以致于将半导 体内的电子(少子)吸引到表面,形成一层极薄但电荷浓度很高的反型层。 反型层电荷的存在表明了 MOS 结构存储电荷的功能。 电荷的转移(耦合) 第一个电极保持 10V,第二个电极上的电压由 2V 变到 10V,因这两个电极靠得 很紧(间隔只有几微米),它们各自的对应势阱将合并在一起。原来在第一个电极 下的电荷变为这两个电极下势阱所共有。 若此后第一个电极电压由 10V 变为 2V,第二个电极电压仍为 10V,则共有的电 荷转移到第二个电极下的势阱中。这样,深势阱及电荷包向右移动了一个位置。

光电检测与技术知识点总结

光电检测与技术知识点总结

光电检测与技术知识点总结
光电检测是通过光电传感器将光信号转化为电信号进行检测和测量的技术。

1. 光电传感器的分类:
- 光电开关:通过光电传感器的发射器和接收器之间的光束被遮挡或被恢复来触发开关动作。

- 光电传感器:通过光电传感器接收到的光信号的变化来检测目标物体的位置、颜色、形状等信息。

- 光电编码器:通过光电传感器接收到的光信号的脉冲数来测量目标物体的位置、速度等。

2. 光电传感器的原理:
- 光电开关:通过发射器发出的光束被目标物体遮挡或恢复,经过接收器接收后产生电信号,通过比较电信号的强弱来触发开关动作。

- 光电传感器:通过接收器接收到的光信号的强度、频率、相位等来检测目标物体的位置、颜色、形状等信息。

- 光电编码器:通过接收器接收到的光信号的脉冲数来测量目标物体的位置、速度等。

3. 光电传感器的应用领域:
- 工业自动化:用于物体检测、测量、计数等。

- 机器人技术:用于机器人的位置感知、障碍物检测等。

- 电子设备:用于手机、相机等设备的亮度感应、手势识别等。

- 安防监控:用于人体检测、入侵报警等。

4. 光电传感器的特点:
- 非接触式检测:光电传感器不需要与目标物体直接接触,可以在一定距离上进行检测。

- 高精度:光电传感器可以实现微小物体的检测和测量。

- 快速响应:光电传感器的响应时间通常在毫秒级别,适用于高速检测。

- 高稳定性:光电传感器的输出信号稳定,不受环境干扰影响。

以上是光电检测与技术的一些基础知识点总结,希望对您有帮助。

光电检测与技术知识点总结

光电检测与技术知识点总结

光电检测与技术知识点总结一、光电检测基础知识1. 光电效应:光子射入物质时,将能量传递给物质,或者将物质中的粒子激发出来。

前者称为光吸收,后者称为光发射。

2. 光电效应分类:外光电效应、内光电效应和光热效应。

3. 光电效应的应用:光电管、光电倍增管、光电摄像管等。

二、光电检测技术基础1. 光电检测器的分类:根据工作原理,可分为外光电效应检测器、内光电效应检测器和光热效应检测器。

2. 光电检测器的工作特性:光谱响应、频率响应、线性范围、探测率和噪声等。

3. 常用光电检测器:光电二极管、光电晶体管、光电池、光电倍增管等。

三、光电检测系统1. 光电检测系统的基本组成:光源、被测物、光电检测器、信号处理电路和显示设备。

2. 光电检测系统的应用:测量长度、测量角度、测量速度、测量温度等。

3. 光电检测系统的误差来源:光源的不稳定性、光学系统的误差、探测器噪声和信号处理电路的误差等。

四、常用光电检测技术1. 红外线检测技术:利用红外线的热效应,可以测量物体的温度和辐射功率。

红外线传感器有热敏电阻、热电偶等。

2. 激光雷达技术:利用激光的反射和散射,可以测量物体的距离和形状。

常用的激光雷达有脉冲式和连续波式两种。

3. 光纤传感器技术:利用光纤的传光特性,可以测量物体的位移、压力和温度等物理量。

光纤传感器有折射率型、光强调制型和光相位调制型等。

4. 图像传感器技术:利用图像传感器将光学图像转换为电信号,可以测量物体的尺寸和形状。

常用的图像传感器有CCD和CMOS两种。

5. 色彩传感器技术:利用色彩传感器测量物体的颜色和色差,可以应用于颜色识别和颜色检测等方面。

常用的色彩传感器有RGB和CMYK两种。

光电检测技术考试总结

光电检测技术考试总结
������������ ������
=A������ ������������ , 光电倍增管的放大倍数和阳极输出电流随所加电压的 kN 次压电源的电压变化非常敏感,如漂移.纹波,温度及输 入和负载变化,一般情况下,倍增级数 n=9~12,因此电压的稳定度应比测量精度高一个数
量级。 1. 像管的主要功能是把不可见辐射图像或微弱光图像通过光电阴极和电子光学系统转换 成可见光图像,可分为变像管和像增强器 2. 像管的组成: ① 光电阴极:能把一些辐射图像或亮度低的图像转换成电子图像 ② 电子光学系统:对电子施加很强电场,使电子获得能量,因而能将光电阴极发出的电子 束加速并聚焦成像在荧光屏上, 从而实现图像亮度的增强, 使荧光屏发射出强得多的光 能。 ③ 荧光屏:在高速电子的轰击下将电子图像转换成可见光图像 1. 电磁脉冲(太赫兹波)频率是 0.1~10THz 波长是 30um~3mm 2. 光纤的传输特性参数:传输损耗、色散、容量、抗拉强度、集光本领 3. 光纤由纤芯、包层及外套组成 4. 红外探测器是将红外辐射能转换城电能的一种光敏器件。可分为热探测器和光子探测器 5. SSPD 线阵的三个组成部分为:N 位完全相同的的光电二极管阵列、N 个多路开关、N 位 数字移位寄存器 6. CCD 的三个组成部分是:信号输入部分、电荷转移部分和信号输出部分 7. 固体成像器件分为:电荷耦合器件(CCD)和自扫描光电二极管阵列(SSPD) 8. 像管包括変像管和像增强器,二者都具有光谱变换、图像增强和成像的功能 二者区别: 変像管是一种把各种不可见辐射图像转换成可见光图像的真空光电成像器件; 像增强器是能把微弱的辐射图像增强到人眼可直接观察到的真空光电成像器件 9. 光电倍增管 PMT 是在光电管的基础上研制出来的一种真空光电器件,结构上增加了电子 光学系统和电子倍增级,因此极大提高了检测灵敏度。 光电倍增管主要由入射窗口、光电阴极、电子光学系统、电子倍增系统和阳极 5 部分 10. 微通道板(MCP)光电倍增管尺寸小电子度越时间短,阳极电流的上升时间几乎降低了 一个数量级影响更窄的脉冲或更高频率的辐射。 11. 光敏电阻是用光电导体制成的光电器件。他是在一块均匀光电导体两端加电极,贴在硬 质玻璃、云母、高频瓷或其他绝缘材料基板上,两端接有电极引线,封装在带有窗口的 金属或塑料外壳内而成。分为本征型光敏电阻和掺杂型光敏电阻 13. 雪崩光电二极管的特征为:灵敏度高、响应速度快、噪声等效功率很小、反偏电压高 14. 吸收比等于 1、能发射所有波长的辐射源叫绝对黑体 16. 黑体辐射定律为:基尔霍夫定律、普朗克辐射定律、斯忒藩—玻尔兹曼定律、维恩位移 定律 17. 光电检测系统包括辐射源、信息载体、光电探测器及信息处理装置 18.热探测器分类: ① 热敏电阻型探测器 ② 热电偶型红外探测器 ③ 热释电型红外探测器 ④ 高莱气动型探测器 19.光子探测器分类: ① 外光电探测器(PE 器件) ② 光电导探测器(PC 器件) ③ 光生伏特探测器(PU 器件) ④ 光磁电探测器(PEM 器件)

华中科技大学光电学院光电探测期末复习总结

华中科技大学光电学院光电探测期末复习总结
35
已知某种光电器件的本征吸收长波限为1.4µm,则该材料的禁带宽度 为?
在距离标准钨丝灯2m远处放置一个照度计探头,已知探头的光敏面 积为0.5 cm2,若照度计测得的最大照度为100(lx),试求: (1)标准钨丝灯在该方向的发光强度为多少? (2)所发出的光通量为多少?
硅光电二极管光敏面为0.04 cm2。辐照度0.1mW/cm2、波长为700nm 的光垂直入射到探测器上并产生56nA的光电流。该光电管的单色响 应度为?,量子效率为?.
(, T)d

T
4
2π5k 4 5.67 108 Wm2K4
15h3c2
(3) 维恩位移定律
m

2898 T
(µm)
Meb, m bT 5 1.28621015T 5 W·cm-2.µm-1
11
4. 光电探测器的性能参数
(1) 有关响应方面的性能参数
响应率
– 单色响应率 – 积分响应率 – 频率响应率
电压响应率
V
Vs
电流响应率
I

Is
响应时间和上限频率
量子效率
12
(2)有关噪声方面的参数
噪声种类
信噪比(S/N)
(
S N
)dB
10lg
I
2 S
I
2 N
20lg IS IN
噪声等效功率(NEP) NEP e S/N
探测率D与比探测率D*
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今测得某液态金属辐射体的光谱辐射峰值波长 λ m=0.7245μ m,试求该液态金属的温度T、峰值 光谱辐射出射度Me,S,λ m和总辐射出射度Me各为 多少?
33
某一探测器灵敏度为10μA/μW,噪声电流

光电检测总结全

光电检测总结全

光电检测技术是以激光、红外、光纤等现代光电子器件作为基础,通过对被检测物体的光辐射,经光电检测器接收光辐射并转换为电信号,由输入电路、放大滤波等检测电路提取有用信息,或进入计算机处理,最终显示输出所需要的检测物理参数检测:通过一定的物理方式,分辨出被测参量并归属到某一范围带,以此来判别被测参数是否合格或是否存在。

测量:将被测的未知量与同性质的标准量比较,确定被测量对标准量的倍数,并通过数字表示出这个倍数的过程。

光电检测系统组成:光发射机,光学通道,光接收机。

光发射机:分为主动式和被动式。

主动式:光源(或加调制器)被动式:无自身光源,来自被测物体的光热辐射发射。

光学通道:大气、空间、水下和光纤等。

光接收机:收集入射的光信号并加以处理,恢复光载波信息光电检测技术的特点:高精度。

各种检测技术中最高。

如激光干涉仪法检测长度的精度达0.05um/m;光栅莫尔条纹法测角可达0.04秒;用激光测距法测量地球到月球之间距离分辨率可达1m。

高速度。

光电检测以光为介质,用光学方法获取和传递信息是最快的。

远距离,大量程。

光便于远距离传播的介质,适于遥控和遥测,如武器制导,光电跟踪,电视遥测等。

非接触检测。

光照可认为是没有测量力的,也无磨擦,可实现动态测量,效率最高。

寿命长。

光波可永久使用。

具有很强的信息处理和运算能力。

可将复杂信息并行处理。

同时光电方法还便于信息控制和存储,易于实现自动化和智能化。

光电检测基本方法:直接作用法(受被测物理量控制的光通量,经光电接收器转换后由检测机构可直接得到所求被测物理量)、差动测量法(利用被测量与某一标准量相比较,所得差或数值比可反应被测量的大小)、补偿测量法(是用光或电的方法补偿由被测量变化而引起的光通量变化,补偿器的可动元件连接读数装置指示出补偿量值,其大小反应被测量变化大小)和脉冲测量法(测量中将被测量的光通量转换成电脉冲,其参数(脉宽,相位,频率,脉冲数量等)反映被测量的大小)脉冲测量法特点:抗干扰性能好,精度高,直接与计算机相连,易于实现在线测量和自动化控制。

光电测试技术复习总结

光电测试技术复习总结

光传感原理与技术1.光电测试方法有非接触、高灵敏、高精度的特点,能够实现三维形貌、相关性、实时测量2.光电测试技术特点原理上:采用激光光源,单色性、方向性、相干性和稳定性都远远优于传统光源;从光机结合的模式向光机电算一体化的模式转换;从主观光学发展成为客观光学功能上:从静态测量向动态、实时测量发展;从逐点测量向全场测量发展;从低速测量向高速测量发展,同时具有存储、记录功能。

3.一个测量过程通常包括定位、瞄准、读数、数据处理等步骤。

4.按照误差的性质可以分为三类:系统误差,偶然误差,粗大误差.5.测量误差的表述---不确定度.6.对准又称横向对准,是指一个目标与比较标志在垂直于瞄准轴方向上的重合或置中; 调焦又称纵向对准,是指一个目标与比较标志在瞄准轴方向上的重合;7.用人眼进行调焦的方法:清晰度法,消视差法 8.由几何焦深造成的人眼调焦标准不确定度为: 由物理焦深造成的人眼调焦的标准不确定度:9.人眼直接观察的调焦标准不确定度 单次测量的标准不确定度对准标准不确定度(清晰度法) 调焦标准不确定度(消视差法)11.像质优良的望远镜和显微镜的单次对准标准不确定度最小只能达到它的理论分辨率的1/6~1/10 望远镜:γmin=(1/6~1/10)α α=1.02λ/D(D 为入瞳直径) 显微镜:△ymin=(1/6~1/10)ε ε=0.51λ/NA (NA 为数值孔径)12.两种调焦方法不确定度的讨论:系统出瞳直径D `≥2mm 时,用消视差法准确度高;D `≤1mm 时,用清晰度法准确度高;1mm <D `<2mm 时,两种方法准确度相差不多。

13.光电对准按工作原理分类:光度式、相位式;目前,光电对准装置可分为光电显微镜和光电望远镜两大类,两类仪器对准标准不确定度分别达到 0.01μm ~ 0.02μm 和 0.05″~ 0.1″。

14.定焦实质上是确定物镜的最佳像面的位置。

光电定焦的具体方法有多种,如:扇形光栅法、小孔光阑法、刀口检验法、MTF 法等15.平行光管测量中的注意事项:a .平行光管、被测透镜和观测系统三者的光轴基本重合;b .通过被测透镜的光束尽可能充满被测透镜的有效孔径。

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3. 极微弱光信号的探测---光子计数的原理 如图所示:
如上图为光子计数器的原理图,当光子入射到光电探测器上时,倍增管的光阴极释放的电子在 管内电场作用下运动至阳极, 在阳极的负载电阻上出现光电子脉冲, 然后经处理把光信号从噪 声中以数字化的方式提取出来。 弱辐射信号是时间上离散的光子流, 因而检测器输出的是自然 离散化的电信号,采用脉冲放大、脉冲甄别和计数技术可以有效提高弱光探测的灵敏度。
2) 光敏电阻的分类:本征光敏电阻和掺杂光敏电阻; N 型半导体的光敏特性 较好,所以一般使用较多的就是 N 型半导体光敏电阻; 3. 光敏电阻应用电路---用光敏电阻设计一个光控电路组成分析: 如图所示就是一个光控开关的控制电路应用; 在图中, 是从 220V 高压接过来的电路, 所以电路可以分为两个部分, 第一部分: 电阻 R、 二极管 VD、 电容 C 组成的半波整流滤波电路;还有第二部分就是 光敏电阻、继电器 J、开关 组成的控制部分; ② 电路功能分析: 光照弱阻值大继电器 J 无法启动灯路电阻小,电流走灯路 灯亮了; 光照强阻值小电流都流过来了继电器 J 启动工作开关常闭了灯灭了 4. 习题: 4.1 光敏电阻有哪些优点:可靠性好 、体积小、灵敏度高、反应速度快、光谱特 性好 4.4 光敏电阻 R 与 Rl=2KΩ 的负载电阻串联后接于 Ub=12V 的直流电源上,无光 照时负载上的输出电压为 U1=20mv,有光照时负载上的输出电压 U2=2v, 求 (1)光敏电阻的暗电阻和亮电阻值; (2)若光敏电阻的光电导灵敏度 Sg=6*10^-6 s/lx,求光敏电阻所受的照度。 解:
n0
在如图所示的光纤传输示意图中,一束光 以 θ0 入射到端面,折射成θ1, 之后在纤 芯内以ψ1 的角度产生全反射,并且以相同的角度反复全反射向前传输,直至从光纤的 另一端射出,这就是光纤的传光原理; 图中的虚线表示入射角θ0 过大而不能产生全反射, 直接溢出了, 这叫光纤的漏光;
能产生全反射的最大入射角θc 可以通过光学反射知识求得:
σ= 5.67×10^(-8) W m K,斯忒藩-波尔茨曼常数; 4) 黑体辐射定律四,维恩位移定律:黑体辐射出度 MeB(λ,T) 最大时, 对应的那个 波长 λm 和此时的温度值 T 有一个关系: T·λm = B B = 2.897×10^(-3) m·K
5. 光电效应 分为内光电效应 和 外光电效应; 内光电效应有分为光电导效应和光生 伏特效应; 1) 光电导效应: 半导体受到光照时,由于吸收了光子所以是自身的载流子增多, 因而材料的电导率增大,这种现象就叫做光电导效应;能够产生光电导效应的材 料称为光电导体; 2) 光生伏特效应: 光照射到 PN 结的 P 区上之后, 会在近表面激发 电子-空穴对, 电子将被结电场拉倒 N 区, 空穴进入 P 区。 这样电子进入 N 区, 空穴进入 P 区, 就会产生一个电势差,这就是光生伏特效应; 3) 光电发射效应: 在光照的作用下, 会使电子逸出物体表面向外发射, 这就是外光 电效应,也叫光电子发射效应; ① 物体的电子吸收光子的能量,当吸收的能量大于逸出功 Ao 时,就会向外产生 动能,公式表示为: h·v = (1/2)m v ²+Ao (光电发射第一定律) h: 普朗克常量 6.626×10^(-34) J·s v: 光的频率 (1/2)m v ²: 电子逸出去之后的动能; Ao:电子需要逸出物体表面克服的逸出功; ② 光电发射第二定律: 一束光照射到物体表面时会产生光电流, 饱和光电流 Iq 和入射光通量之间成正比; Iq = Sg·φ Iq:饱和光电流, Sg:光电灵敏度 φ:入射光通量 ③ 光电发射可以分为以下三个步骤: 1 物体吸收光子,激发内部电子为高能态; 2 被激发的电子向物体表面运动,运动过程中碰撞而损耗部分能量
sin(θc) 也叫光纤的数值孔径: NA;
第二章
1. 激光产生的三个条件: 粒子数反转、光泵、谐振腔; 2. 激光的特性: 单色性、方向性、亮度、相干性;
第三章
1. 半导体结型光电器件 利用了光生伏特效应来工作的光电探测器件; 结型光电器件使用时需注意: 1. 确定极性,必须反偏; 2. 检测模拟量时光照不可太强;检测数字量光照可以强一些; 3. 灵敏度和器件类型、使用条件、方法有关 4. 结型器件响应速度都很快; 5. 结型器件的各种参量都和温度有关; 还和电磁场等有关; 2. 光敏电阻的结构和分类: 1) 光敏电阻是利用光电导体制成的光电器件;在一个光电导体两端加上电极,贴 在绝缘基板上,两端引出电极引线; 封装在外壳内制成;如图所示的结构:
h:普朗克常量 6.62×10^(-34)j.s ; c:光速 3×10^8 m/s ; λ:光波长
本征半导体存在一个长波限:λo = (hc)/Eg = 1.24/Eg; 2) 杂志吸收:参有杂质的半导体,束缚电子可以吸收光子,束缚空穴也可以吸收 光子,这个就是杂志吸收;杂志吸收的长波限 为:λ= 1.24/ΔEg; ΔEg 是杂质吸收的电离能; 4. 黑体辐射定律 ① 绝对黑体:在任何温度下,对任何波长的入射辐射能的吸收比都是 1 的东西;不 存在的; 灰体: 一个物体对光的吸收比小于 1 ,但是近似地等于一个常数 η,则该物 体就是灰体,η 叫它的黑度; 1) 黑体辐射定律一,基尔霍夫定律:不同的物体 1,2,3…,只要所处温度和入射光 波长 λ 相同, 那么他们这些物体的单色辐出度 Me(λ,T) 和 单色吸收比 α(λ,T) 的比值就是一个常量,而且这个常量等于相同温度时绝对黑体的单色辐出度 MeB(λ,T) ;即, Me(λ,T)/ α(λ,T) = MeB(λ,T) 2) 黑体辐射定律二, 普朗克辐射公式: 普朗克推导出了黑体光谱辐射出度与 波长 λ 和温度 T 的关系; MeB(λ,T) = c1/{(λ^5)·[e^(c2/λT) – 1)]} k 波尔茨曼常数 ,h 普朗克常量,c1 = 3.74×10^(-16) (W·m ²) MeB(λ,T)黑体辐射出度, λ 光波长, T 温度值 3) 黑体辐射定律三,斯忒藩-波尔茨曼定律: 黑体辐射出度 MeB(λ,T) 和 温度 T 的 关系为: MeB(λ,T)= σ·T^4;
第五章
1.光电阴极:能够产生光电发射效应的物体;因为常作为阴极,所以又叫光电阴极;
2.光电倍增管的原理: 1)光阴极在光子作用下发射电子,这些电子被外电场(或磁场)加速,聚焦于第一次极。这些 冲击次极的电子能使次极释放更多的电子,它们再被聚焦在第二次极。这样,一般经十次以上倍 增,放大倍数可达到 108~1010。最后,在高电位的阳极收集到放大了的光电流。 2) 输出电流和入射光子数成正比。整个过程时间约 10-8 秒。 3) 光电倍增管由入射窗口、光电阴极、电子光学系统、电子倍增系统、阳极五部分组成; 基本结构图:
3 克服逸出功,溢出物体表面,完成了发射过程; 4)从上面的逸出功可以知道,每一种物体的逸出功都不同,所以 每一个物体都有 一个可以使电子刚好溢出的光频域值,即红限频率; hv=Ao 时的光频率 v 就是那个红 限频率; 也叫长波限; 半导体的长波限为:λm = 1.24/Ao ; 6. 练习题 一支氦-氖激光器(波长为 632.8nm)发出激光的功率为 2mw。该激光束的平 面发散角为 1mrad,激光器的放电毛细管直径为 1mm。 (1)求出该激光束的光通量,发光强度,光亮度,光出射度。 (2)若激光束投射在 10m 远的白色漫反射屏上,该漫反射屏的反射比为 0.85, 求该屏上的光亮度
第六章 真空成像器件
1. 固体成像器件和真空成像器件的区别和联系: 光电成像器件分为:
变像管 像增强管
① 其中真空成像器件内部有一个真空管; 真空成像器件又分为像管和摄像管; 像管的作用是把不可见或微弱的光图像通过光阴极和电子光学系统转化成可见光图像; 摄像管将可见光和不可见光的二维图像通过光电靶和电子束扫描成一维图像成像的; ② 像管和摄像管的区别是: 像管内部没有扫描机构,不能输出电视信号; ③ 固体成像器件没有真空的扫描,而是通过特殊的硬件电路读出电信号,然后送到显 示器件进行成像;
第七章 固体成像器件
1. CCD 就是电荷耦合器件: ① CCD 组成,信号输入部分、电荷转移部分、信号输出部分; 突出特点就是以 电荷作为信号载体; 属于非稳态器件; CCD 分为点阵 CCD 和 面阵 CCD; ② CCD 四种平衡状态:
第九章: 光导纤维和光纤传感器
1. 光纤的数值孔径: 入射到光纤端面的光并不能全部被光纤所传输, 只是在某个角度范围 内的入射光才可以。这个角度 α 的正弦值就称为光纤的数值孔径(NA = sinα) 2. 光纤传光的原理:
光电检测技术复习总结 第一章 1. 光电检测系统的组成:光源信息载体光电探测器信息处理装置;
2. 可见光的波长范围:
380nm --- 780nm ;
3. 半导体的光吸收效应:
1) 本征吸收:本征半导体吸收光子能量的过程叫本征吸收; 要发送本征吸收,光子能量必须≥ 材料的禁带宽度, 即 hv≥Eg; 或 (hc/λ)≥ Eg ;
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