多光束干涉光谱成像技术_杜述松
《多光束干涉原理》课件
干涉光谱技术
光谱技术原理
01
多光束干涉原理在光谱技术中应用广泛,如傅里叶变换光谱仪
和干涉滤光器等。
光谱技术应用
02
干涉光谱技术可用于气体分析、化学反应动力学研究、天文学
和医学诊断等领域。
光谱技术优势
03
干涉光谱技术具有高分辨率、高灵敏度和高精度等优点,能够
提供更准确的光谱信息。
量子干涉
量子干涉原理
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多光束干涉的分类
多光束干涉是指多个光束在空间相遇并相互叠加的现象。根据干涉的形成方式,多 光束干涉可以分为分波面干涉和分振幅干涉两种类型。
分波面干涉是指多个光束通过不同的反射或折射路径,在空间某一点相遇并形成干 涉的现象。常见的分波面干涉实验有薄膜干涉、牛顿环等。
分振幅干涉是指多个光束经过不同的光学元件处理后,在空间某一点相遇并形成干 涉的现象。常见的分振幅干涉实验有双缝干涉、多缝干涉等。
多光束干涉原理
contents
目录
• 引言 • 多光束干涉的基本概念 • 杨氏双缝干涉实验 • 多光束干涉的应用 • 多光束干涉的实验演示 • 多光束干涉的未来发展
01
引言
干涉现象简介
干涉现象
当两个或多个波源的波发生叠加时,在某些区域波峰与波峰相遇,产生振幅增 强,即干涉加强;在某些区域波峰与波谷相遇,产生振幅相消,即干涉相消。
总结词
随着新材料技术的不断发展,多光束干涉有望在新型光学材料中得到更广泛的应用,为干涉现象提供更多的可能 性和灵活性。
详细描述
近年来,新型光学材料如拓扑绝缘体、超材料和光子晶体等不断涌现,这些材料具有独特的光学性质,能够实现 传统材料无法达到的光学行为。通过将这些新材料应用于多光束干涉中,有望创造出更复杂、更精确的干涉图案 ,进一步拓展干涉现象的应用领域。
多光束干涉技术与全息成像
多光束干涉技术与全息成像近年来,随着科技的不断发展,多光束干涉技术和全息成像成为了研究热点。
这两项技术的发展不仅在科学研究领域有着重要的应用,同时也在工业、医学等领域发挥着重要的作用。
本文将分别介绍多光束干涉技术和全息成像的原理和应用。
多光束干涉技术是一种利用多束光波相互干涉的技术。
它的原理是通过将多束光波进行叠加,形成干涉图样,从而得到目标物体的信息。
多光束干涉技术的应用十分广泛,其中最重要的应用之一是光学显微镜。
传统的显微镜只能观察到目标物体的表面形态,而多光束干涉技术可以通过干涉图样获取到目标物体的三维形态信息。
这种技术的发展使得科学家们能够更加深入地研究微观世界。
除了在科学研究领域的应用外,多光束干涉技术还在工业领域有着广泛的应用。
例如,在半导体制造过程中,多光束干涉技术可以用于检测芯片表面的缺陷。
传统的检测方法往往需要将芯片放大数百倍才能观察到缺陷,而多光束干涉技术可以通过干涉图样直接检测到缺陷的存在,大大提高了检测效率。
全息成像是一种利用光的干涉原理来记录和再现物体的全息图像的技术。
全息成像的原理是将物体的信息记录在光的干涉图样中,然后通过光的再次干涉来恢复出物体的图像。
与传统的摄影技术相比,全息成像可以记录下物体的全部信息,包括形状、大小、颜色等,而不仅仅是表面形态。
这使得全息成像在三维显示、虚拟现实等领域有着广泛的应用。
全息成像的应用不仅局限于科学研究领域,还在医学领域有着重要的应用。
例如,全息成像技术可以用于医学影像的重建。
传统的医学影像技术往往只能提供二维的图像信息,而全息成像技术可以提供三维的图像信息,这对于医生们来说是非常重要的。
通过全息成像技术,医生们可以更加准确地判断病变的位置和形态,从而为患者提供更好的治疗方案。
总之,多光束干涉技术和全息成像是两项在科学研究、工业和医学等领域有着重要应用的技术。
它们的发展不仅丰富了人们对于光学现象的认识,同时也为各个领域的发展带来了新的机遇和挑战。
多光束干涉技术在光学检测中的应用
多光束干涉技术在光学检测中的应用光学检测是一种利用光的性质进行物体检测和测量的技术。
随着科技的发展,多光束干涉技术逐渐成为光学检测中的重要手段。
本文将探讨多光束干涉技术在光学检测中的应用,包括干涉仪的原理、多光束干涉技术在表面形貌检测、薄膜厚度测量和光学相位成像等方面的应用。
干涉仪是多光束干涉技术的核心设备之一。
它通过将光束分为两束,使它们在空间中相互干涉,从而实现对物体的检测和测量。
干涉仪的原理是基于光的波动性,当两束光在空间中相遇时,它们会产生干涉现象。
干涉仪可以通过测量干涉光的强度、相位等参数,来获取物体的信息。
多光束干涉技术通过引入更多的光束,可以增加测量的信息量,提高检测的精度和灵敏度。
在表面形貌检测方面,多光束干涉技术可以用于测量物体的表面形状、粗糙度等参数。
通过引入多个光束,可以同时获取物体不同位置的信息,从而实现对整个表面的快速扫描。
这种技术在制造业中的应用非常广泛,可以用于检测零件的平整度、平行度等参数,提高产品的质量和一致性。
薄膜厚度测量是多光束干涉技术的另一个重要应用领域。
在光学薄膜的制备过程中,薄膜的厚度是一个关键参数。
通过利用干涉仪的原理,可以测量薄膜的厚度,并实现对薄膜制备过程的控制。
多光束干涉技术可以同时测量多个位置的薄膜厚度,提高测量的效率和精度。
这对于光学器件的制造和应用具有重要意义。
光学相位成像是多光束干涉技术的一种高级应用。
传统的光学显微镜只能观察样品的表面形貌,无法获取样品内部的信息。
而光学相位成像技术可以通过测量光的相位差,实现对样品内部结构的观测。
多光束干涉技术可以引入多个光束,提高成像的分辨率和深度。
这种技术在生物医学领域的应用非常广泛,可以用于细胞观测、组织成像等方面。
总之,多光束干涉技术在光学检测中具有广泛的应用前景。
它可以通过引入多个光束,提高检测的精度和灵敏度,实现对物体表面形貌、薄膜厚度和光学相位等参数的测量。
随着科技的进步,多光束干涉技术将在更多领域发挥重要作用,推动光学检测技术的发展。
多光谱成像原理
多光谱成像原理基于光物理学和光谱学的基本原理,它采用了多波段成像的方法。
多光谱成像技术通过使用多个离散波段的光谱传感器或光谱仪,可以同时获取目标在不同波段下的光谱信息。
这些光谱信息反映了目标物体在不同波长下的反射、发射或吸收特性,从而提供了比单一波段成像更丰富的数据。
多光谱成像系统的基本组成包括光学会聚单元、分光单元、探测器等。
光学会聚单元负责将入射光聚焦到分光单元,分光单元将光分成多个不同的波段,每个波段的光随后被探测器接收并转换成电信号,最终形成多光谱图像。
在实际应用中,多光谱成像可以提供具有3至20个非连续波段的图像,这些波段可以根据需要选择,以适应不同的应用场景。
例如,在农业领域,多光谱成像可以用来评估作物的健康状况,通过分析植物反射光谱中的特定波段,可以得到关于植物生理状态的详细信息。
多光谱成像技术与高光谱成像技术相比,其光谱分辨率较低,通常在Δλ/λ的数量级上,而高光谱成像技术的光谱分辨率可以达到Δλ/λ的数量级。
多光谱成像技术的主要优势在于其相对较低的成本和较快的成像速度,这使得它在一些不需要非常高光谱分辨率的应用中非常有用。
多光束干涉的实验验证与应用
多光束干涉的实验验证与应用多光束干涉是一种光学现象,它是指当两个或多个光束相互交叠时产生的干涉现象。
这种干涉现象广泛应用于实验验证和科学研究中,例如测量光的波长、验证光的干涉性质以及研究光的传播特性等。
下面将介绍一种多光束干涉的实验验证与应用。
实验方法:实验需要的器材有一个激光器、一块分束板、展光透镜、空物投影仪和一块屏幕。
首先将激光器放置在适当的位置,使其发出的光束通过半反射的分束板。
分束板上的一部分光经过反射板后通过透镜展宽,形成一束展宽光束;另一部分光经过透镜展宽后形成另一束展宽光束。
这两束光经过一定的路径延迟后重新相遇,最后在屏幕上产生干涉条纹。
实验结果与分析:在实验中,我们可以观察到屏幕上出现了一系列明暗相间的干涉条纹。
这些条纹是由于两束光的相位差引起的,相位差的大小决定着干涉条纹的亮暗程度。
当两束光的相位差为整数倍的波长时,会出现明条纹;而当相位差为半整数倍的波长时,会出现暗条纹。
在实验中,我们可以通过改变透镜与分束板之间的距离,控制两束光的光程差,从而改变干涉条纹的条数或密度。
当透镜与分束板的距离增加时,光程差也随之增加,条纹的条数或密度也会相应增加。
这样可以验证光的干涉性质,即干涉条纹的条数或密度与光程差有关。
应用:多光束干涉实验有着广泛的应用。
首先,多光束干涉可以用于测量光的波长。
通过改变两束光的光程差,我们可以观察到干涉条纹的变化,进而计算出光的波长。
这在光学研究中有着重要的意义。
另外,多光束干涉还可以用于研究光的传播特性。
通过观察干涉条纹的形态和变化,我们可以了解到光的传播路径和传播速度等信息。
这对于研究光的性质和光传输技术的发展具有重要的意义。
此外,多光束干涉还可以应用于光学测量和显微领域。
通过干涉条纹的变化,我们可以测量物体的形状和表面的偏差等参数。
这在工业生产和科学研究中都有广泛的应用。
总结:多光束干涉是一种重要的光学现象,通过实验验证和应用可以帮助我们深入了解光的性质、传播特性和测量方法。
多光束干涉实验报告
多光束干涉实验报告
多光束干涉实验是实验物理学中一种重要的实验方法,可用于测量短激光束的快速变化,
进行光栅和光学检测等,在实际应用范围较广。
近几年,随着技术发展速度的加快,多光
束干涉实验得到了广泛应用,各种传感器、微电脑控制系统的发展使得这种实验技术更加
便捷和准确,取得了良好的效果。
多光束干涉实验由一种反射介质在精确的尺度制成,以能够按照一定的角度反射被检测的
电磁光信号,常用的介质有玻璃和金属。
经过反射,多条电磁光束经过尺寸标准的介质以
固定的角度到达接收介质,最终形成多条成角度偏振状态的光束,然后接收介质将所接收
到的信号转发给数据处理器,由数据处理器来计算多光束干涉特征值,为实验结果分析提
供依据。
多光束干涉实验可以测量短激光束的变化。
实验中反射光束经过固定路径反射到接收介质,经过数据的处理可以准确测量出激光能量、脉冲宽度等各种参数,从而达到验证短激光束
的特性参数等求解的目的。
多光束干涉实验在光栅研究及现场成像如何共振和结构对各个材料也有重要的意义,由于
多光束干涉可以形成非常方便、高精度和高灵敏度的信号,因此广泛应用于高分辨率的光
学检测和测距传感器领域。
多光束干涉实验也可以实现里程计、动力学特性分析等多种实验。
从而可以更宽泛的应用于工业领域。
多光束干涉实验的优势在于对于各种电磁光信号的高精度测量及其快速反应,使得它在实
验物理和材料物理等领域获得广泛应用,在未来,多光束干涉实验将会发挥出更大的作用。
多光束干涉技术在光学制造中的应用
多光束干涉技术在光学制造中的应用光学制造是一门非常重要的科学技术,它在现代工业生产中扮演着至关重要的角色。
而多光束干涉技术作为一种先进的光学制造技术,正逐渐被广泛应用于光学器件的制造和加工过程中。
本文将探讨多光束干涉技术在光学制造中的应用,并讨论其优势和发展前景。
多光束干涉技术是一种利用多束光的干涉效应来实现高精度加工的技术。
它可以通过调整光束的相位和幅度,控制光的干涉图样,从而实现对光学器件的加工和制造。
与传统的单光束加工技术相比,多光束干涉技术具有以下几个优势。
首先,多光束干涉技术可以实现高精度的加工。
通过合理设计和控制多个光束的干涉图样,可以实现对光学器件的微米甚至亚微米级加工。
这对于一些高精度的光学器件,如光学透镜、光纤等的制造非常重要。
其次,多光束干涉技术具有高效率的特点。
由于多个光束可以同时进行加工,因此可以大大提高加工效率。
这对于工业生产中的大批量生产非常有利,可以大幅度缩短加工周期,提高生产效率。
另外,多光束干涉技术还可以实现多功能加工。
通过调整光束的相位和幅度,可以实现不同的加工效果。
例如,可以实现光学器件的表面形貌调控、表面纹理加工等。
这为光学器件的多功能应用提供了可能。
多光束干涉技术在光学制造中的应用非常广泛。
首先,在光学透镜的制造中,多光束干涉技术可以实现透镜的表面形貌调控,从而提高透镜的光学性能。
其次,在光纤的制造中,多光束干涉技术可以实现光纤的纹理加工,从而提高光纤的传输效率。
此外,多光束干涉技术还可以应用于光学薄膜的制备、光学元件的加工等领域。
虽然多光束干涉技术在光学制造中具有广泛的应用前景,但目前仍面临一些技术挑战和难题。
首先,多光束干涉技术的加工精度和稳定性需要进一步提高。
其次,多光束干涉技术的设备和工艺还需要不断创新和改进,以满足不同光学器件的制造需求。
此外,多光束干涉技术在大规模工业化生产中的应用还需要进一步研究和探索。
综上所述,多光束干涉技术作为一种先进的光学制造技术,具有高精度、高效率和多功能加工的优势。
干涉型光谱成像技术
干涉型光谱成像技术是一种利用干涉图和复原光谱之间的傅立叶变换关系的成像技术。
这种技术可以同时获取被测对象的空间信息和光谱信息。
具体来说,它首先利用干涉图和复原光谱之间的傅立叶变换关系,通过对干涉图进行傅里叶积分变换计算得到被测对象的光谱信息。
在干涉型光谱成像技术中,目标场景中的点的光谱由干涉仪分光后采集的干涉曲线经傅里叶变换后还原得到。
这种技术可以根据调制方式分为时间调制型、空间调制型和时间空间联合调制型。
在获取目标的二维信息方面,干涉型成像光谱技术与色散型技术类似,通过摆扫或推扫得到目标上的像元。
但每个像元的光谱分布不是由色散元件形成,而是利用像光辐射的干涉图与其光谱图之间的傅立叶变换关系,通过探测像元辐射的干涉图和利用计算机技术对干涉图进行傅立叶变换,来获得每个像元的光谱分布。
基于迈克尔逊干涉方法、双折射干涉方法和三角共路(Sagnac)干涉方法等三种干涉方法,形成了三种典型的干涉成像光谱仪,包括迈克尔逊型干涉成像光谱仪、双折射型干涉成像光谱仪和三角共路(Sagnac)型干涉成像光谱仪。
多光束干涉原理的应用
多光束干涉原理的应用引言多光束干涉原理是光学中重要的基础原理之一,它在科学研究和工程应用中有着广泛的应用。
本文将介绍多光束干涉原理的基本概念,以及其在实际应用中的几个典型案例。
多光束干涉原理简介多光束干涉原理是指两个或多个光波在空间中相遇时,根据波的叠加原理产生相干干涉的现象。
在干涉中,光波的波动特性会相互干涉,使得干涉图样的强弱和形状发生变化。
多光束干涉主要包括Young干涉和Michelson干涉等。
多光束干涉在光学显微镜中的应用光学显微镜是一种非常常见的光学仪器,用于放大和观察微小物体。
多光束干涉在光学显微镜中有着重要的应用。
通过在显微镜中引入多光束干涉,可以提高显微镜的分辨率和成像清晰度,使得微观物体的细节更加清晰可见。
具体应用中,可以使用多光束干涉技术构建一种称为共焦显微镜的显微镜系统。
共焦显微镜利用不同光束的干涉特性,可以产生非常高分辨率的图像,使得观察物体的分辨率可以达到纳米级别。
这种显微镜在生物医学研究和材料科学等领域有着广泛的应用。
多光束干涉在光谱分析中的应用光谱分析是一种重要的物质检测和分析手段,通过分析物质的吸收、发射或散射光谱,可以获得物质的组成和性质信息。
多光束干涉在光谱分析中也发挥着关键的作用。
多光束干涉可以通过分光仪将不同波长的光波分离出来,并进行干涉分析。
例如,Michelson干涉仪可以将入射的白光分解成不同波长的光束,并通过干涉现象来分析各波长光的强弱和相位差。
这种方法在光谱仪器中应用广泛,可以用于分析物质的组成和测量光学材料的性质。
多光束干涉在全息投影中的应用全息投影是一种基于多光束干涉原理的先进影像技术,它可以产生逼真的三维图像。
多光束干涉在全息投影中的应用使得投影出的图像具有立体感和深度,可以提供更加真实的观感体验。
在全息投影中,光波经过干涉后产生的光栅可以将物体的三维信息编码到光场中。
通过适当的光栅和成像系统,可以实现透过特定光场观察到真实的三维图像,产生出立体投影效果。
多光束干涉PPT课件
形成亮条纹和暗条纹的条件分别为
2m 和 2 m 1 m 0 ,1 ,2
而强度分别为
IM t Ii
和
Imt
1 Ii 1F
可见,不论是在反射光方向或透射光方向,形成
亮条纹和暗条纹的条件都与双光束干涉时在相应
方向形成亮暗条纹的条件相同,因此条纹的位置
也相同。
平行平板的多光束干涉
3.条纹强度随反射率R的变化。
平行平板的多光束干涉
透射光振幅为 t'A ti, t'r t'2A i, t'r t'4A i, t'r t'6A i,
则各反射光在P点的场分别写为:
E1r rAi expi0 t E2r tt 'r ' Ai expi0 t E3r tt 'r '3 Ai exp i0 2 t E4r tt 'r '5 Ai exp i0 3 t
末板) 分波面装置:以“衍射光栅”为代表
平行平板的多光束干涉
干涉现象是各光束电磁场叠加的结果。如果参加叠加的各 光束光强相差悬殊,则干涉场强度主要取决于最强光束的 光强,干涉效果不明显。 这个结论在双光束干涉中已经提到,要获得明显的多光束 干涉现象,各相干光束应该具有相近的光强。 在高反射率平行平板的透射光场中,可以直接看到多光束 干涉现象。 著名的发布里-珀罗干涉仪是平行平板多光束干涉装置的 一个例子,陆未-盖尔克板是平行平板多光束干涉装置的 又一个例子。
§2.6平行平板的多光束干涉
平行平板的多光束干涉
上一节里,我们讨论了平行平板的双光束干涉 问题。事实上,由于光束在平板内不断的反射 和透射,必须考虑多光束参与干涉,特别是当 平板表面反射系数比较高时,更应如此才不会 引起过大的误差。
光学实验中多光束干涉的技巧与应用
光学实验中多光束干涉的技巧与应用光学实验中多光束干涉是一种重要的实验技术,广泛应用于光学领域的研究与实践中。
本文将介绍多光束干涉的原理和技巧,并探讨它在实验研究和应用中的一些典型案例。
一、多光束干涉的原理多光束干涉是指当多束光线相互叠加或相互干涉时所产生的干涉效应。
其原理基于光波的波动性和叠加原理。
实验中常用的多光束干涉装置包括杨氏双缝干涉实验、光栅干涉实验等。
杨氏双缝干涉实验是最基础的多光束干涉实验之一。
其装置包括一块具有两个狭缝的屏幕、一束单色光和一个幕后观察屏。
单色光通过两个狭缝后,将形成一系列等间距的亮暗条纹。
这些条纹是由两束光线的干涉所产生的,亮条纹对应着相长干涉,暗条纹则对应着相消干涉。
光栅干涉实验则是一种更加复杂的多光束干涉实验。
光栅是由许多平行等间距的透明或不透明条纹组成的光学元件。
入射光通过光栅后,会发生衍射和干涉现象,形成一系列明暗相间的光斑。
这些光斑的位置和强度分布可用于研究光的波长、线宽以及对物质的相互作用等。
二、多光束干涉的技巧在进行多光束干涉实验时,我们需要注意一些实验技巧,以确保实验结果的准确性和稳定性。
首先,实验室应具备良好的光学实验条件,包括光线稳定、实验装置对齐准确以及干涉环境的控制等。
光线的稳定性对于多光束干涉实验至关重要,我们需要保证光源的稳定性,以及用于探测干涉图样的光学设备的准确性。
其次,调整实验装置时,应注重各个光学元件的对齐和调整。
例如,在杨氏双缝干涉实验中,我们需要将两个狭缝和观察屏之间的距离、狭缝的宽度以及入射光的角度等参数进行调整,以获得清晰的干涉条纹。
此外,实验中还需要注意光的偏振状况对干涉实验的影响。
偏振光干涉实验可以通过调整偏振片的方向来研究光的偏振特性,并且在一些特殊材料的研究中具有广泛的应用。
三、多光束干涉的应用多光束干涉在科学研究和实际应用中发挥着重要的作用。
下面将介绍一些典型的应用案例。
1. 光学液晶显示器光学液晶显示器是一种利用多光束干涉原理来控制光的透射和反射的装置。
【CN109632099A】一种法布里珀罗干涉型成像光谱仪【专利】
( 12 )发明专利申请
(21)申请号 201910087681 .2
(22)申请日 2019 .01 .29
(71)申请人 苏州大学 地址 215000 江苏省苏州市相城区济学路8 号
(72)发明人 蔡志坚 吴利 吴建宏
(74)专利代理机构 苏州市中南伟业知识产权代 理事务所(普通合伙) 32257
其中 ,所述聚 焦透镜将入射光聚 焦在所述第一微透镜阵 列的 前焦面上 ,再通过所述第 一微透镜阵列将入射光平行入射到所述F-P谐振腔上,从所述F-P谐振腔出射的平行光再入 射到第二微透镜阵列上,最后所述第二微透镜阵列的出射光聚焦在所述探测相机上。
2 .如权利要求1所述的成像光谱仪,其特征在于,所述第一微透镜阵列的前焦面上设置 有孔板,所述孔板对前级像进行离散采样。
权利要求书1页 说明书3页 附图2页
CN 109632099 A
CN 109632099 A
权 利 要 求 书
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1 .一种法布里-珀罗干涉型成像光谱仪,其特征在于,包括依次设置的聚焦透镜、第一 微透镜阵列、F-P谐振腔、第二微透镜阵列和探测相机;目标物体放置在所述聚焦透镜一侧, 目标物体发出的光经过所述聚焦透镜聚焦在所述第一微透镜阵列的前焦面上;所述探测相 机位于所述第二微透镜阵列的后焦面处;
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CN 109632099 A
说 明 书
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一种法布里-珀罗干涉型成像光谱仪
技术领域 [0001] 本发明涉及光学成像技术领域,具体涉及一种法布里-珀罗干涉型成像光谱仪。
背景技术 [0002] 成像光谱技术是一类将成像技术和光谱技术相结合的新型多维信息获取技术,所 以利用该技术发明的成像光谱仪集合了相机和光谱仪两者的功能。它能够探测到目标场景 的 三维光谱立方体 ,即目 标场景的图 像信息 和图 像中各点的 光谱信息。光谱仪采 用的 分光 技术直接影响着整个成像光谱仪的性能、结构的复杂程度、重量和体积。应用较为广泛的成 像光谱仪主要是色散型和干涉型,但色散型成像光谱仪的光谱分辨率与入射狭缝的宽度成 反比 ,因此,要获得更高的光谱分辨率,就需不断减小狭缝的宽度,这样就会使通过整个系 统的能量很低,从而导致探测灵敏度很低。随着对成像光谱仪的空间分辨率、光谱分辨率、 和对弱信号的探测能 力等性能要求越来越高 ,而利用干涉技术的干涉型成像光谱仪在原理 上具有高分辨率和高能量利用率等优点,能够满足越来越高的应用需求。 [0003] 干涉型成像光谱技术可分为双光束干涉法和多光束干涉法,基于多光束干涉法较 为典型的就是法布里-珀罗(Fabry-Perot)分光技术。F-P干涉仪的装置是由两块镀有高反 射膜的平板组成,光在两平板间多次反射和折射,形成多光束干涉,所以它具有极高的光谱 分辨率。Jarkko Antila等人和Neelam Gupta等人分别研制了一种基于微机电系统技术的 F-P干涉仪 ,该F-P干涉仪的 重点在于利用微机电 技术控制两反射镜间的空气间隔 ,进而控 制滤波选择,这种微机电结构可以有效降低高光谱成像仪的尺寸、重量以及所消耗的功率, 还能减少设计和加工等方面的成本。Anbang Fu等人提出了一种可调谐法布里-珀罗高光谱 成像干涉仪 ,该结构通过低幅 度的电 信号来调整填充在法布里-珀罗干涉腔中液晶材料的 折射率 ,再利用薄膜矩阵方程 ,可以计算出从F-P谐振腔中出射的红外光谱特性。Aalto University在推动的3U-cubesat项目 ,其中对地球表面进行探测的成像光谱仪的结构就是 基于一个可调谐法布里-珀罗干涉仪和一台RGB三通道CMOS图像传感器。采用压电陶瓷来改 变腔长,从而达到滤波的效果。 [0004] 上述F-P干涉仪的技术关键都在于如何提高平行腔间的反射率和如何更精准得控 制两个平行腔的平行度,以获得更高的分辨率和光谱范围。但是,光谱分辨率依然只有10nm 左右 ,其主要原因是单一孔径的成像系统中 ,任一成像点都对应一定发散 角的入射光线 ,而 法布里珀罗干涉仪的光谱分辨率对入射光的发散角又极其敏感,因此分辨率会下降。如图1 所示,为传统的法布里-珀罗干涉光谱仪结构示意图。由第一腔镜G1和第二腔镜G2构成的FP谐振腔前后各放置了一块透镜L、L’,透镜L用于将入射光平行入射到F-P谐振腔上,透镜L’ 用于将从F-P谐振腔中出射的多光束干涉光聚焦到探测相机上成像,这种结构入射到FP腔 的光线平行性较好 ,因而可以 得到较高的分辨率。但是这种结构 用来成像时 ,不同像点对应 不同的入射角。在一定的腔长条件下,不同像点上接收的波长将不一致,这就会增加光谱图 像后期处理的 难度。此外 ,基于微机电 系统的 法布里- 珀罗成像光谱仪的 控 制结构较为复 杂 ,对各 种微机械器件要求精准。且对反射膜的 选择也有很高的 要求 ,总的 来说 ,技术复 杂
F-P标准具多光束干涉成像实现微小角度自校准测量
F-P标准具多光束干涉成像实现微小角度自校准测量
周世南;沈小燕;李东升;吴晨光
【期刊名称】《光子学报》
【年(卷),期】2022(51)4
【摘要】利用干涉级次小数部分计算得到成像物镜相对焦距值,结合微小角度引起的相对位移值,实现微小角度测量的自校准。
仿真计算了小数重合法的算法误差及温湿度误差,并实现了F-P间隔计算结果的修正,设计了可自校准的微小角度测量实验装置,通过测量实验得到了间隔修正前后成像物镜焦距值及微小角度测量结果。
实验结果表明:在当前实验条件下,经修正后的焦距测量相对扩展不确定度从0.014减小到0.007,600″测量范围内的角度测量不确定度从0.132″减小到0.084″,微小角度测量的准确度得到有效提升。
【总页数】10页(P275-284)
【作者】周世南;沈小燕;李东升;吴晨光
【作者单位】中国计量大学计量测试工程学院
【正文语种】中文
【中图分类】O436
【相关文献】
1.瑞利多普勒激光雷达 F-P 标准具的设计与校准分析
2.一种基于F-P标准具的金属线膨胀系数测量方法
3.一种带有F-P标准具测量量块的白光干涉仪信号仿真
4.
一种带有F-P标准具测量量块的白光干涉仪信号仿真5.基于法布里−珀罗标准具的微小角度测量及不确定度评定方法
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光 学 学 报
光 谱 成 像 仪 ,由 于 具 有 外 差 特 性 ,可 获 取 高 的 光 谱 分 辨 率 ,且 能 有 效 减 少 数 据 量 ,在 大 气 成 分 探 测 领 域 得 到 了 较 好 的 应 用[4-5];结 合 时 间 调 制 与 空 间 调 制 的 特点,时空联合调制 干 涉 成 像 光 谱 仪 在 获 取 图 像 的 同 时 能 获 取 目 标 的 光 谱 信 息 ,具 有 高 通 量 、高 稳 定 性 等优点[6],并在航天领域得到了实际应用。同 时,近 场像面干涉等新型高光谱干涉仪也被广泛研究 。 [7]
有更加紧凑的结构,且也无运动部件,F-P 干涉还 在 光纤光学、激光学中有着广泛的应用[9],例如采 用 光
光学成像概念可知由一点所发出的光线经过光学系 统 后 重 新 会 聚 于 一 点 ,会 聚 点 即 其 像 点 ,当 探 测 器 为
纤 F-P 可调谐滤波器 来 获 取 光 谱,是 白 光 干 涉 仪 获 取光谱的重要手段之一 。 [10]
多,得到的干涉环亮条纹的宽度将会越窄,其光谱分 经过 F-P 标准具后形 成 多 光 束 干 涉,并 经 过 成 像 透
辨率也将越高。另外,F-P 干涉仪结构十分简 单,相 镜重新会聚到一点上而得到了包含了干涉信息的目
比较于迈克耳 孙 或 萨 格 奈 克 干 涉 仪,F-P 干 涉 仪 具 标像点。F-P 干 涉 成 像 光 谱 仪 原 理 如 图 2 所 示,由
二维探测器,则可以 获 取 目 标 包 含 干 涉 信 息 的 空 间 图像。
在图1(a)中,如果进 入 标 准 具 之 前 的 光 线 经 过
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杜 述 松 等 : 多 光 束 干 涉 光 谱 成 像 技 术
图2 F-P干涉成像光谱仪原理
Fig.2 Principle of the F-P interferential imaging spectrometer
法布里-珀 罗 (F-P)干 涉 仪 是 一 种 多 光 束 干 涉 仪,与双光 束 干 涉 仪 相 比 较,具 有 极 高 的 光 谱 分 辨 率,可被用于中高层 大 气 风 场 探 测 以 及 物 质 成 分 精 细分析等领域 。 [8] 传统的 F-P 干涉仪其光谱分辨率 由 标 准 具 的 间 距 来 决 定 ,间 距 越 大 分 辨 率 越 高 ,但 是 另一方面 F-P 干 涉 仪 的 光 谱 范 围 受 限 于 其 自 由 光 谱 范 围 ,如 果 谱 段 范 围 超 出 其 自 由 光 谱 区 ,则 会 出 现 光 谱 混 叠 ,无 法 获 取 目 标 的 光 谱 信 息 。
第 33 卷 第 8 期 2013 年 8 月
光 学 学 报 ACTA OPTICA SINICA
Vol.33,No.8 August,2013
多光束干涉光谱成像技术
杜述松1,2 王咏梅3 陶 然1
( ) 1 中国科学院光电研究院,北京 100094;2 中国科学院大学,北京 100049 3 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京 100190
传统的 F-P 干涉 仪 只 能 用 于 极 窄 的 光 谱 范 围, 这是由于 其 数 据 处 理 采 用 的 是 直 观 的 几 何 处 理 方 法,只有当两种谱线 的 干 涉 环 在 探 测 器 上 被 完 全 分 开 ,才 能 被 分 辨 。 但 是 ,如 果 不 直 接 从 干 涉 曲 线 当 中 获取光谱信息,而是 采 用 类 似 于 傅 里 叶 变 换 的 方 法
Abstract Fabry-Perot (F-P)interferometer is a kind of multiple beam interferometer.It has very high spectral resolution,and can be used to research fine structure of the matter.The application of F-P interferometer is limited by
1 引 言
光 谱 成 像 技 术 是 20 世 纪 80 年 代 出 现 的 一 种 遥 感 技 术 ,由 于 可 以 获 取 目 标 的 图 谱 信 息 ,该 技 术 近 年 来获得了快速的发展。首先进入应用领域的光谱成 像 技 术 是 基 于 棱 镜 或 光 栅 的 色 散 型 光 谱 成 像 仪 , [1] 后来以迈克耳孙为代表的时间调制干涉光谱成像仪 由于具有高通量的 优 势,在 大 气 风 场 等 领 域 得 到 了
图1 (a)F-P干涉仪原理;(b)干涉环
Fig.1 (a)Principle of the F-P interferometer;(b)interference fri数 越 一准直系统而变成 一 系 列 平 行 光 线,这 些 平 行 光 线
对干涉环曲线进行 处 理,则 可 以 获 取 目 标 宽 谱 段 范 围的光谱信息,使 F-P 干 涉 仪 可 应 用 于 光 谱 成 像 领 域。这种多光束干 涉 光 谱 成 像 仪 具 有 结 构 简 单、光 谱 分 辨 率 高 等 优 点 ,可 以 用 于 航 空 航 天 等 遥 感 领 域 , 也可用于小型化的光谱成像设备。
收 稿 日 期 :2013-04-01;收 到 修 改 稿 日 期 :2013-04-15 作 者 简 介 :杜 述 松 (1980— ),男 ,助 理 研 究 员 ,主 要 从 事 航 空 航 天 领 域 光 谱 成 像 技 术 以 及 新 型 计 算 成 像 等 方 面 的 研 究 。
E-mail:dushusong@aoe.ac.cn
摘 要 法 布 里 -珀 罗 (F-P)干 涉 仪 是 一 种 多 光 束 干 涉 仪 ,具 有 极 高 的 光 谱 分 辨 率 ,一 般 用 于 研 究 光 谱 的 精 细 结 构 。F- P 干涉仪的应用受限于自由光谱范围,如 果 波 长 超 过 自 由 光 谱 范 围,将 无 法 得 到 光 谱 的 精 细 结 构。 基 于 F-P 干 涉 仪,采用方程组来描述干涉图与光谱曲线之间的关系,并通过奇异值分解方法来 解 方 程 组,求 出 宽 谱 段 范 围 的 光 谱 曲线,使 F-P干涉仪成为一种多光束干涉光谱成像仪,可 用 于 遥 感 等 领 域;但 奇 异 值 分 解 法 求 解 光 谱 曲 线,对 图 像 噪 声 较 为 敏 感 ,通 过 仿 真 结 果 可 以 看 出 ,干 涉 图 噪 声 需 控 制 在 0.2% 以 内 才 能 较 好 地 复 原 出 光 谱 曲 线 。 关 键 词 光 谱 学 ;法 布 里 -珀 罗 干 涉 仪 ;光 谱 复 原 ;自 由 光 谱 区 ;奇 异 值 分 解 ;谱 分 辨 率 中 图 分 类 号 O433.1 文 献 标 识 码 A doi:10.3788/AOS201333.0830003
2 F-P 干涉仪简介
2.1 F-P 干涉仪基本原理 1899 年 ,法 国 物 理 学 家 和 数 学 家 共 同 发 现 了F-P
干涉现 象。F-P 干 涉 仪 结 构 十 分 简 单,如 图 1(a)所 示,核 心 部 分 是 两 块 相 互 平 行 的 玻 璃 板 ,在 两 块 平 板 的外表面镀增透膜,而 在 两 块 平 板 相 对 的 内 表 面 均 镀反射膜。 当 一 条 光 线 进 入 两 块 相 互 平 行 的 平 板 时 ,在 平 板 内 部 将 产 生 多 次 反 射 ,从 而 形 成 多 束 相 互 平行的光线 E1,E2,E3,…,Et,而且这t束光线每两 束相邻的光线 之 间 具 有 相 同 的 光 程 差,因 此 当 这 n 束光线经过一成像镜后将在探测器上得到物点的干 涉 图 ,而 当 对 物 点 以 不 同 的 入 射 角 进 行 扫 描 时 ,在 探 测器 上 将 得 到 干 涉 环,理 论 的 干 涉 环 如 图1(b) 所示。
2.2 F-P 干涉仪基本公式
F-P 的透射光光线在探测器上的强度表达式为[11]
I(t) =I(i)
(1-R)2
=I(i)
1
=I(i)
1
,
( ) (1-R)2 +4Rsin2
δ 2
( ) 1+ (14-RR)2sin2
δ 2
( ) 1+Fsin2
δ 2
(1)
式 中 R =r2 =r′2,r,r′ 分别为上下两块玻璃板的反 射率,I(i) 为入射光的强 度,一 般 情 况 下 入 射 光 为 单
广泛应用 。 [2] 但是,时 间 调 制 的 干 涉 成 像 光 谱 仪 具 有 运 动 部 件 ,仪 器 的 可 靠 性 较 低 ,因 此 空 间 调 制 和 时 空联合调制的干涉成像光谱技术逐渐成为新的研究 热点。典型的空间调制干涉成像光谱仪有萨格奈克 干涉成像光谱仪,与 迈 克 耳 孙 等 时 间 调 制 干 涉 成 像 光谱仪相比,萨 格 奈 克 无 运 动 部 件,可 靠 性 更 高 ; [3] 另一类空间调制干涉成像光谱仪是空间外差式干涉
Multiple Beam Interferential Spectral ImagingTechnology
Du Shusong1,2 Wang Yongmei 3 Tao Ran1
烄
1 Academy of Opto-Electronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100094,China
烌
2 University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China
烆3 Center for Space Science and Applied Research,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100190,China烎
the free spectral range.The fine structure of the matter will not be got when the bandwidth of the light surpass the free spectral range.Based on the F-P interferometer,we describe the relationship between the interference pattern and the spectral curve as equation sequence.The equation sequence is solved by the singular value decomposition,and the wide bandwidth spectral curve will be got.By this way F-P interferometer can be used as a spectral imaging instrument.But the algorithm is sensitivity to the noise of the interference pattern.After some simulation work,we find the noise of the interference pattern should be less than 0.2% . Key words spectroscopy;Fabry-Perot interferometer;retrieve of the spectrum;free spectral range;singular value decomposition;spectral resolution OCIS codes 120.2230;120.3180;120.6200;070.4790