承压设备管子和压力管道对接焊接接头射线检测通用工艺规程
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1 范围
本标准适用于壁厚T≥2mm的碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金、铜及铜合金制承压设备管子及压力管道的熔化焊环向对接焊接接头射线检测。
2 引用标准
JB4730—2005 承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级
GBZ117—2006工业X射线探伤放射卫生防护标准
3 人员资格
3.1 从事射线检测的人员上岗前应进行辐射安全知识的培训和考核。
3.2 射线检测人员必须按照《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的要求,参加培训并经考核合格取得相关资格后,方可从事检测工作,签发报告者必须持有射线检测Ⅱ级及以上资格证书。
3.3 射线检测人员未经矫正或经矫正的近(距)视力和远(距)视力应不低于5.0(小数记录值为1.0),从事评片的人员应每年检查一次视力。
4 仪器、工具和材料
4.1 X射线机见表1
表 1 X射线机型号
型号管电压KV 管电流mA 有效焦点mm 备注
XXG2505A 250 5 1.0 X 2.0
XXG3005P 300 5 1.0 X 2.0
4.2 胶片系统:胶片系统按GB/T1938.1—2003分为四类,即T1、T2、T3、T4类。T1为最高类别,T4为最低类别。 AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片。胶片的本底灰雾度不大于0.3。
4.4 观片灯:观片灯的主要性能应符合JG/T7903的规定。
4.5 黑度计:黑度计性能要求应符合JB/T4730.2—2005标准中3.4.1和3.4.2的要求。
4.6 增感屏:增感屏的选择按JB/T4730.2—2005标准中3.5的要求选用。
4.7 像质计:选用通用线型像质计或专用等径金属丝像质计。
4.7.1 像质计的材料选用按JB/T4730.2—2005标准中3.6.2要求选用。
5 一般要求
5.1 表面要求和射线检测时机
对接焊接接头的表面应外观检测合格后方可进行射线检测,对有延迟裂纹倾向的材料,至少在焊接完成24小时后进行射线检测。
5.2 射线检测技术等级选择应符合制造及设计图样规定,我厂一般采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。
5.3 辐射防护:应按GBZ117—2006标准的规定进行。
6 具体要求
6.1 透照布置
6.1.1 应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。小径管(D0≤100mm)环向对接焊接接头倾斜透照和垂直透照方式见图1。
倾斜透照方式(椭圆成像)
垂直透照方式(垂直成像)
图1小径管环向对接焊接接头倾斜透照和垂直透照方式
6.1.2 一次透照长度
一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。AB级射线检测技术和环向对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可按计算也可参照透照次数曲线图确定。
表3允许的透照厚度比K
射线检测技术级别AB级B级
环向焊接接头K≤1.11) K≤1.06
对100mm<D O≤400mm的环向对接焊接接头(包括曲率相同的曲面焊接接头),AB、B级允许采用K≤1.2。
6.1.3 透照次数曲线图
对外径D0>100mm的环向对接焊接接头进行100%检测,所需要的最少透照次数与透照方式和透照厚度比有关,这一数值可从图2~图5 中直接查出。
6.1.4 由图确定透照次数的方法
从图中确定透照次数的步骤是:计算出T/D0、D0/f,在横坐标上找到T/D0值对应的点,过此点画一垂直于横坐标的直线;在纵坐标上找到D0/f对应的点,过此点画一垂直于纵坐标直线;从两直线交点所在区域确定所需透照次数;当交点在两区域的分界上时,应取较大数值作为所需的最少透照次数。
图2 源在外单壁透照环向对接焊接接头,透照厚度比K=1.1时的透照次数
图3 其他方式透照环向对接焊接接头,透照厚度比K=1.1时的透照次数
图 4
源在外单壁透
照环向对接焊
接接头,透照
厚度比K=1.2
时的透照次数
图5 其
他方式透照环向对
接焊接接头,透照厚
度比K=1.2时的透
6.2 小径管环向对
接焊接接头的透照
布置
外直径D0小于或等于100mm的管子。小径管采用双壁双影透照布置,当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像:
T(壁厚)≤8mm;g (焊缝宽度)≤D0/4。
椭圆成像时,应控制影像的开口宽度上下焊缝投影最大间距在1倍焊缝宽度左右。
不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。
6.2.1 小径管环向对接接头的透照次数
小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数:采用倾斜透照椭圆成像时,当T/D0≤0.12时,相隔900透照2次。当T/D0>0.12时,相隔1200或600透照3次。垂直透照重叠成像时,一般应相隔1200或600透照3次。
由于结构原因不能进行多次透照时,可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。如果透照一次不能实现焊缝全长的100%检测,此时应采用双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板等有效措施扩大缺陷可检测范围,并保证底片评定范围内黑度和灵敏度要求。
6.3 射线能量:应符合JB/T4730.2—2005标准中4.2要求规定。
6.4 γ射线源透照厚度范围应符合表4的规定。
表4γ射线源透照厚度范围
γ射线源
透照厚度W,mm
A,AB级B级
Se-75 ≥10~40≥14~40
Ir-192 ≥20~100≥20~90
Co-60 ≥40~200≥60~150
注:采用源在内中心透照方式,在保证像质计灵敏度达到要求的前提下,允许γ射线最小透照厚度取表2下限值的1/2。
6.5 射线源至工件表面的最小距离
AB级射线检测技术:f≥10d·b2/3,也可以按JB/T4730.2—2005标准中图3规定来确定。
6.5.1 采用源在内中心透照方式周向曝光时,底片评定范围的黑度和底片的像质计灵敏度符合要求,f值可以减少到规定值的50%。
6.5.2 采用源在内单壁透照方式时,底片评定范围的黑度和底片的像质计灵敏度符合要求,f值可以减少,但减少值不应超过规定值的20%。
6.6曝光量
6.6.1 X射线照像,当F=700mm时,AB级射线检测技术曝光量不小于15mA·min。
6.6.2 对小口径薄壁管采用γ射线源透照时,γ射线源强度不宜太大。
6.6.3 采用γ射线源透照时,总的曝光时间应不小于输送源往返所需时间的10倍。