数字系统测试
数字调制系统误比特率（BER）测试的仿真设计及分析
数字调制系统误⽐特率（BER）测试的仿真设计及分析数字调制系统误⽐特率（BER）测试的仿真设计与分析⽬录⼀、概述 (2)⼆、课程设计要求及注意事项 (3)三、SystemView动态系统仿真软件 (4)1.SystemView系统的特点 (4)2.使⽤Systemview (4)四、数字调制系统BER测试的仿真设计与分析 (5)五、仿真系统组成及对应结果 (10)⼀、低频相⼲调制解调系统组成与分析 (10)⼆、⾼频相⼲调制解调系统BER测试仿真模型建⽴与分析 (12)三、⾼频差分相⼲调制解调BER测试仿真模型建⽴与分析 (16)四、⾼频差分与相⼲调制解调BER模型对⽐分析 (21)六、⼼得体会 (26)七、参考⽂献 (27)⼀、概述《通信原理》课程设计是通信⼯程、电⼦信息⼯程专业教学的重要的实践性环节之⼀，《通信原理》课程是通信、电⼦信息专业最重要的专业基础课，其内容⼏乎囊括了所有通信系统的基本框架，但由于在学习中有些内容未免抽象，⽽且不是每部分内容都有相应的硬件实验，为了使学⽣能够更进⼀步加深理解通信电路和通信系统原理及其应⽤，验证、消化和巩固其基本理论，增强对通信系统的感性认识，培养实际⼯作能⼒和从事科学研究的基本技能，在通信原理的理论教学结束后我们开设了《通信原理》课程设计这⼀实践环节。
Systemview是ELANIX公司推出的⼀个完整的动态系统设计、模拟和分析的可视化仿真平台。
从滤波器设计、信号处理、完整通信系统的设计与仿真，直到⼀般的系统数学模型建⽴等各个领域，Systemview 在友好⽽且功能齐全的窗⼝环境下，为⽤户提供了⼀个精密的嵌⼊式分析⼯具。
它作为⼀种强有⼒的基于个⼈计算机的动态通信系统仿真⼯具，可达到在不具备先进仪器的条件下也能完成复杂的通信系统设计与仿真的⽬的，特别适合于现代通信系统的设计、仿真和⽅案论证，尤其适合于⽆线电话、⽆绳电话、寻呼机、调制解调器、卫星通讯等通信系统；并可进⾏各种系统时域和频域分析、谱分析，及对各种逻辑电路、射频/模拟电路（混合器、放⼤器、RLC电路、运放电路等）进⾏理论分析和失真分析。
高速公路光纤数字传输系统的检测
高速公路光纤数字传输系统的检测高速公路通信系统是高速公路现代化管理的支撑系统,其主要由以下几部分构成:光纤数字传输系统、程控数字交换系统、紧急电话系统、移动通信系统以及通信电源系统。
对其定期检测确保系统的正常运行很有必要,本文主要针对高速公路光纤数字传输系统各参数的检测做一下介绍。
标签：高速公路光纤数字传输检测0 引言光纤数字传输系统是为高速公路提供话务通信(业务电话、数字用户电话、收费热线电话),它还为监控,收费系统的数据、传真、图像等非话业务提供传输通道。
一旦传输系统出现问题,后果不堪设想,将严重影响高速公路的正常运营管理,因此有必要对光纤数字传输系统进行定期的测试,及时发现系统存在的问题,确保系统的正常运行和消除潜在的风险。
根据高速公路业务接入特点,目前单条高速公路内部一般采用SDH与综合业务接入网相结合的光纤数字传输系统。
基于高速公路传输的业务量和设备成本两点考虑,多数选用STM-16及STM-16以下的传输速率等级。
系统一般在通信分中心设置一套光纤线路终端(OLT),其余通信站各设置一套光网络单元(ONU),通过接入网系统为全线提供大容量数字通路、2M数字通路、音频/数据通路等多种数字信道和接口,实现数据的上传及管理数据的下达;通信中心还设一套光传输本地网管终端,实现对SDH设备的维护管理。
根据省交通集团制定的企业标准《高速公路机电工程养护质量检验评定标准》,光纤数字传输系统定期检测项目包括:系统接收光功率、平均发送光功率、2M传输通道误码指标、自动保护倒换功能、安全管理功能、公务电话功能等。
下面就对这几个项目的检测进行一一介绍。
1 系统实际接收光功率和平均发送光功率的测试对于任何光纤传输系统的安装、运行和维护,光功率测量必不可少。
光功率的测量所采用的仪器是光功率计。
测量光口的收发光功率时,应注意选择对应测试波长,光纤数字传输系统光纤的工作波长一般为:1310nm和1550nm,测量光功率时需按照实际测量对象即光发射机光信号的工作波长选择光功率波长。
(完整版)数字档案馆系统测试指标表
0.1分
2.4.3具备档案利用审核、审批功能
0.2分。每项得0.1分
2.4.4具备目录检索和全文检索功能
0.6分。每项得0.3分
2.4.5具备局域网、政务网、因特网内容数据阅览功能
0.2分。局域网阅览功能得0.1分；政务网、因特网阅览功能各得0.05分
2.4.6具备档案目录数据和数字档案数据打印、输出功能
3.2.6按照收、管、存、用等不同业务环境，划分安全域并实施边界控制管理
１分。按照收、管、存、用业务环境划分安全域每项得0.25分
3.2.7通过技术手段防止数字档案资源被篡改
1分
4保障体系
14分
4.1制度制定与实施7分
基本要求：建立数字档案馆各项制度并按要求组织实施
4.1.1建立并实施包含机房出入、安全防范、卫生、运行操作、温湿度控制等内容的机房管理制度
1分。每项得0.2分
1分。实现准确性、完整性、可用性、安全性检测功能每项得0.25分
2.1.3系统与应接收范围内的立档单位档案信息系统实现对接
0.5分。每接入1家得0.1分，最多得0.5分
2.1.4能接收文本、图像、音频、视频、数据库等不同类型数字档案
0.5分。每接收1种类型数字档案得0.1分，最多得0.5分
2.2管理
0.4分。每项得0.2分
2.5.4收、管、存、用等业务流程可随业务发展定制
0.2分。收、管、存、用业务流程定制每项得0.05分
2.5.5 数据导入、导出功能
0.2分。数据导入得0.1分；数据导出得0.1分
3档案资源
52分
3.1档案资源建设
44分
基本要求：目录数据、数字档案数据全面、准确、规范
《数字逻辑教案》
《数字逻辑教案》word版第一章：数字逻辑基础1.1 数字逻辑概述介绍数字逻辑的基本概念和特点解释数字逻辑在计算机科学中的应用1.2 逻辑门介绍逻辑门的定义和功能详细介绍与门、或门、非门、异或门等基本逻辑门1.3 逻辑函数解释逻辑函数的概念和作用介绍逻辑函数的表示方法，如真值表和逻辑表达式第二章：数字逻辑电路2.1 逻辑电路概述介绍逻辑电路的基本概念和组成解释逻辑电路的功能和工作原理2.2 逻辑电路的组合介绍逻辑电路的组合方式和连接方法解释组合逻辑电路的输出特点2.3 逻辑电路的时序介绍逻辑电路的时序概念和重要性详细介绍触发器、计数器等时序逻辑电路第三章：数字逻辑设计3.1 数字逻辑设计概述介绍数字逻辑设计的目标和方法解释数字逻辑设计的重要性和应用3.2 组合逻辑设计介绍组合逻辑设计的基本方法和步骤举例说明组合逻辑电路的设计实例3.3 时序逻辑设计介绍时序逻辑设计的基本方法和步骤举例说明时序逻辑电路的设计实例第四章：数字逻辑仿真4.1 数字逻辑仿真概述介绍数字逻辑仿真的概念和作用解释数字逻辑仿真的方法和工具4.2 组合逻辑仿真介绍组合逻辑仿真的方法和步骤使用仿真工具进行组合逻辑电路的仿真实验4.3 时序逻辑仿真介绍时序逻辑仿真的方法和步骤使用仿真工具进行时序逻辑电路的仿真实验第五章：数字逻辑应用5.1 数字逻辑应用概述介绍数字逻辑应用的领域和实例解释数字逻辑在计算机硬件、通信系统等领域的应用5.2 数字逻辑在计算机硬件中的应用介绍数字逻辑在中央处理器、存储器等计算机硬件部件中的应用解释数字逻辑在计算机指令执行、数据处理等方面的作用5.3 数字逻辑在通信系统中的应用介绍数字逻辑在通信系统中的应用实例，如编码器、解码器、调制器等解释数字逻辑在信号处理、数据传输等方面的作用第六章：数字逻辑与计算机基础6.1 计算机基础概述介绍计算机的基本组成和原理解释计算机硬件和软件的关系6.2 计算机的数字逻辑核心讲解CPU内部的数字逻辑结构详细介绍寄存器、运算器、控制单元等关键部件6.3 计算机的指令系统解释指令系统的作用和组成介绍机器指令和汇编指令的概念第七章：数字逻辑与数字电路设计7.1 数字电路设计基础介绍数字电路设计的基本流程解释数字电路设计中的关键概念，如时钟频率、功耗等7.2 数字电路设计实例分析简单的数字电路设计案例讲解设计过程中的逻辑判断和优化7.3 数字电路设计工具与软件介绍常见的数字电路设计工具和软件解释这些工具和软件在设计过程中的作用第八章：数字逻辑与数字系统测试8.1 数字系统测试概述讲解数字系统测试的目的和方法解释测试在保证数字系统可靠性中的重要性8.2 数字逻辑测试技术介绍逻辑测试的基本方法和策略讲解测试向量和测试结果分析的过程8.3 故障诊断与容错设计解释数字系统中的故障类型和影响介绍故障诊断方法和容错设计策略第九章：数字逻辑在现代技术中的应用9.1 数字逻辑与现代通信技术讲解数字逻辑在现代通信技术中的应用介绍数字调制、信息编码等通信技术9.2 数字逻辑在物联网技术中的应用解释数字逻辑在物联网中的关键作用分析物联网设备中的数字逻辑结构和功能9.3 数字逻辑在领域的应用讲述数字逻辑在领域的应用实例介绍逻辑推理、神经网络等技术中的数字逻辑基础第十章：数字逻辑的未来发展10.1 数字逻辑技术的发展趋势分析数字逻辑技术的未来发展方向讲解新型数字逻辑器件和系统的特点10.2 量子逻辑与量子计算介绍量子逻辑与传统数字逻辑的区别讲解量子计算中的逻辑结构和运算规则10.3 数字逻辑教育的挑战与机遇分析数字逻辑教育面临的挑战讲述数字逻辑教育对培养计算机科学人才的重要性重点和难点解析重点环节一：逻辑门的概念和功能逻辑门是数字逻辑电路的基本构建块，包括与门、或门、非门、异或门等。
模拟IC数字IC综合测试
模拟IC数字IC综合测试IC数字综合测试是检查集成电路（IC）产品功能和特性的重要过程，它可以确保IC在应用中能够正确地工作。
综合测试是IC测试处于最前沿的技术，在本文中，我们将介绍IC数字综合测试的基本流程。
IC数字综合测试是对IC的设计进行功能和特性检查的过程。
在测试前，需要有一个综合的模式来描述IC的功能特性，用于提供测试设计和容器设计。
综合测试首先从高层描述开始，例如概要模型、行为模型或仿真模型。
下一步是把高层描述转换成计算机可以理解的标准格式，如自动化合成法描述语言（VHDL）或同态语言（Verilog）。
最后，使用IC的描述语言，综合系统的设计。
在IC数字综合测试中，需要制定测试计划，它是选择硬件功能测试和软件功能测试的依据。
根据测试计划，可以制定测试设计，测试设计可以使用自动测试用例（ATP）、测试板来生成测试代码和测试流，以及用于自动化测试的测试仪器和仪器使用仪表板。
进行IC数字综合测试时，需要调试让系统正确处理和完成测试任务。
首先，进行模拟调试，确保设计的原理是正确的。
然后，进行数字调试，对设计功能和特性进行详细检查。
为了避免测试中可能出现的问题，需要检查仿真结果，可执行程序文件和测试板来解决和查找故障。
最后，进行整体测试，例如综合仿真测试，来确认IC功能特性。
综合而言，IC数字综合测试是一个复杂而全面的过程，其中有许多细节需要牢记和考虑，例如模拟调试、数字调试、仿真测试等，以确保测试的真实性。
此外，IC数字综合测试过程中还需要使用先进的测试技术和技巧，这样才能将IC可靠用于实际应用中。
机车智能驾驶纯数字仿真测试系统研究
收稿日期：2020-08-28作者简介：黄旺（1985—），男，硕士，工程师，主要从事软件测试工具开发和测试技术的研究工作。
机车智能驾驶纯数字仿真测试系统研究黄 旺，刘布麒，刘梦琪，彭辉水（中车株洲电力机车研究所有限公司，湖南 株洲 412001）摘 要：针对机车智能驾驶软件测试，若采用传统软件测试方法，则存在测试环境建设成本高、测试设备占地面积大、系统通用性差及测试执行效率低等问题。
为此，文章提出一种基于纯数字仿真的测试方法，其通过Visual C++语言编写软件，模拟自动驾驶装置、人机交互单元、LKJ 装置及车载控制系统装置等硬件设备。
该纯数字仿真测试系统已被用于西康线机车自动驾驶项目，结果表明，其不仅可自适配不同运行线路，而且具备仿真加速功能，测试环境成本降低90%，测试时间缩短75%，测试效率提升4倍以上。
关键词：智能驾驶；软件测试；纯数字仿真；自动驾驶中图分类号 ：TP13；U260.1 文献标识码 ：A 文章编号 ：2096-5427(2020)06-0014-05doi:10.13889/j.issn.2096-5427.2020.06.003Research on Full Digital Simulation Test System for Locomotive Intelligent DrivingHUANG Wang, LIU Buqi, LIU Mengqi, PENG Huishui( CRRC Zhuzhou Institute Co., Ltd., Zhuzhou, Hunan 412001, China )Abstract: In view of the problems of high construction cost of test environment, large area occupation of test equipments, poor system generality and low test execution efficiency encountered by traditional software testing methods in the process of locomotive intelligent driving software testing, this paper presented a test method based on full digital simulation. It uses software with Visual C++ to simulate the functions of hardware devices such as automatic train operation device, driver machine interface, LKJ device and onboard central control unit, etc. The proposed digital simulation test system has been applied to the locomotive automatic driving project of Xikang line. The results show that the method can adapt to different running lines with the function of simulation acceleration to significantly reduce 90% test cost and 75% test time, and the test efficiency is increased to more than 4 times of the existing hardware in the loop simulation test efficiency.Keywords: intelligent driving; software test; full digital simulation; automatic driving0 引言随着列车速度规划曲线神经网络算法[1-2]、节能优化操纵算法及基于增量特征学习的深度学习算法[3-5]等技术的不断涌现，铁路行业机车智能驾驶技术的理论研究在不断深入,应用范围也日趋广泛。
数字信号处理(DSP )系统测试和调试1.
数字信号处理（DSP ）系统测试和调试1在软件开发领域，最关键但也是最无法预料的阶段是调试阶段。
在软件调试的过程中有很多要素都举足轻重，而其中最重要的则是时间。
设置和调试软件所需的时间对于软件的上市时间以及是否满足客户期望都有着巨大的影响，同时还影响着一个在市场取得成功的优秀产品的销售业绩。
一个应用的集成必须经过一个由构建、加载、调试/调谐到更改等多个阶段构成的过程，如图1 所示。
图1：集成和调试周期。
我在软件开发领域，最关键但也是最无法预料的阶段是调试阶段。
在软件调试的过程中有很多要素都举足轻重，而其中最重要的则是时间。
设置和调试软件所需的时间对于软件的上市时间以及是否满足客户期望都有着巨大的影响，同时还影响着一个在市场取得成功的优秀产品的销售业绩。
一个应用的集成必须经过一个由构建、加载、调试/调谐到更改等多个阶段构成的过程，如图1 所示。
图1：集成和调试周期。
我们的目的是要将这一周期的次数以及在每个部分花费嵌入式实时系统的调试既是一门艺术，又是一门科学。
用于调试和集成这些系统的工具和技术对于在调试、集成和测试阶段上所需时间的长度有着重要影响。
对运行中的系统越了解，我们就能越快发现并修正缺陷。
要了解系统有一个最传统也是最简单的方法，即在软件中的某些点添加消息，以便输出有关系统状态的信息。
这些消息可以是输出到显示器的“打印”指令，也可以通过LED 或者LED 组闪烁的形式来系统状态和健康度。
每个功能或任务都可以通过输出一个状态信息来开始指示是系统将之安排到程序中的某个点。
如果系统在某个点出现故障，对于这一输出信息的诊断就可以帮助工程师了解到系统最后一次正常状态点的所在，从而确认问题所在。
当然，这种方式会导致系统过载，进而影响系统性能。
因此，工程师必须在测试完系统后清除这些数据并在销售之前对系统重新验证，或者将系统和系统中测得的代码一起销售。
他们必须确保所工程师可以利用更先进的调试方法来减少集成和测试阶段的时间。
数字档案馆系统测试指标表
数字档案馆系统测试指标表主要包括以下几个方面的测试指标：
1.功能测试：检查数字档案馆系统是否具备各项功能，如信息检索、信息下载、
用户注册和登录等，是否能正常工作。
2.性能测试：测试数字档案馆系统的性能，包括响应时间、吞吐量、负载能力和
压力测试等，确保系统在高负载情况下也能正常运行。
3.兼容性测试：检查数字档案馆系统是否能在不同的浏览器、操作系统、设备和
网络环境下正常运行，解决因环境差异引起的问题。
4.安全测试：检测数字档案馆系统是否存在安全漏洞，如SQL注入、跨站脚本攻
击、文件上传漏洞等，以及用户数据的安全性和保密性。
5.用户界面测试：测试数字档案馆系统的用户界面是否友好、易用，符合用户的
使用习惯和期望，以及界面元素的布局和样式是否符合规范。
6.可用性测试：检查数字档案馆系统的易用性和用户体验，包括导航、表单、提
示信息等方面是否符合可用性原则。
7.稳定性测试：测试数字档案馆系统在长时间运行和大量数据下的稳定性，是否
存在内存泄漏、异常崩溃等问题。
8.文档测试：检查数字档案馆系统的相关文档是否齐全、准确、易懂，包括用户
手册、操作指南等。
9.安装与部署测试：测试数字档案馆系统的安装和部署过程是否简单、快速，以
及是否能在不同的环境中正确安装和配置。
10.验收测试：按照验收标准对数字档案馆系统进行测试，确保系统满足预定的要
求和标准，为最终验收提供依据。
通过以上测试指标的全面测试，可以确保数字档案馆系统的质量和稳定性，提高用户的使用体验和满意度。
数字系统设计及实验实验报告
数字系统设计及实验实验报告一、实验目的数字系统设计及实验课程旨在让我们深入理解数字逻辑的基本概念和原理，掌握数字系统的设计方法和实现技术。
通过实验，我们能够将理论知识应用于实际，提高解决问题的能力和实践动手能力。
本次实验的具体目的包括：1、熟悉数字电路的基本逻辑门、组合逻辑电路和时序逻辑电路的设计方法。
2、掌握使用硬件描述语言（如 Verilog 或 VHDL）进行数字系统建模和设计。
3、学会使用相关的电子设计自动化（EDA）工具进行电路的仿真、综合和实现。
4、培养团队合作精神和工程实践能力，提高解决实际问题的综合素质。
二、实验设备和工具1、计算机：用于编写代码、进行仿真和综合。
2、 EDA 软件：如 Quartus II、ModelSim 等。
3、实验开发板：提供硬件平台进行电路的下载和测试。
4、数字万用表、示波器等测量仪器：用于检测电路的性能和信号。
三、实验内容1、基本逻辑门电路的设计与实现设计并实现与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本逻辑门电路。
使用 EDA 工具进行仿真，验证逻辑功能的正确性。
在实验开发板上下载并测试实际电路。
2、组合逻辑电路的设计与实现设计一个 4 位加法器，实现两个 4 位二进制数的相加。
设计一个编码器和译码器，实现数字信号的编码和解码。
设计一个数据选择器，根据控制信号选择不同的输入数据。
3、时序逻辑电路的设计与实现设计一个同步计数器，实现模 10 计数功能。
设计一个移位寄存器，实现数据的移位存储功能。
设计一个有限状态机（FSM），实现简单的状态转换和控制逻辑。
四、实验步骤1、设计方案的确定根据实验要求，分析问题，确定电路的功能和性能指标。
选择合适的逻辑器件和设计方法，制定详细的设计方案。
2、代码编写使用硬件描述语言（如 Verilog 或 VHDL）编写电路的代码。
遵循代码规范，注重代码的可读性和可维护性。
3、仿真验证在 EDA 工具中对编写的代码进行仿真，输入不同的测试向量，观察输出结果是否符合预期。
数字系统设计的基础知识
05
数字系统的测试与验证
测试策略与技术
单元测试
对数字系统的各个模块进行独立测试，确保 每个模块的功能正常。
系统测试
对整个数字系统进行测试，确保系统满足设 计要求和功能需求。
集成测试
将各个模块组合在一起进行测试，确保模块 之间的接口正常工作。
验收测试
在数字系统交付之前，对系统进行全面测试， 确保系统能够满足用户需求。
案例分析：数字钟的设计需要高精度的计时和稳定的时钟源。石英晶体振荡器的选择对数字钟的准确性 和稳定性至关重要。此外，数字钟还需要考虑功耗和尺寸，以便于在各种应用场景中实现。
案例三：数字信号处理系统的设计
01
总结词：高效灵活
02
详细描述：数字信号处理系统是一种用于处理和分析信号 的数字系统。它通常由输入预处理电路、数字信号处理器 和输出后处理电路组成。数字信号处理器执行信号的滤波 、频谱分析、去噪等处理操作。
数字系统的发展历程
电子管时代
20世纪初，电子管作为数字系统的基 本元件，实现了计算机的初步发展。
02
晶体管时代
20世纪50年代，晶体管取代电子管成 为数字系统的基本元件，推动了计算 机小型化、便携化的发展。
01
互联网时代
21世纪初，互联网技术的普及和发展， 使得数字系统在信息传输和处理方面 发挥着越来越重要的作用。
03
的计数器用于控制指令的执行顺序。
存储器
存储器是数字系统中用于存储大量二进制数据的元件。
存储器由多个存储单元组成，每个存储单元可以存储一个二进制位。
存储器可以分为随机存取存储器（RAM）和只读存储器（ROM）等类型，在计算 机和其他数字系统中有着广泛的应用，如计算机的内存和硬盘等。
有线数字电视系统测量技术参考
有线数字电视系统测量技术参考第一部分:传输流测试1.1 传输码流参数及测试对MPEG-2 TS流参数的测试，主要是依据“DVB系统测试指导”文件TR101290。
MPEG-2 TS流参数的监测和特性分析包括：TR101290测试标准3级错误检测、PSI/SI信息分析、TS 流语法分析、PCR分析及缓冲区分析等。
一般采用码流分析仪对TS流进行检测分析。
TR101290的3个优生级(priority)错误的基本理解：依据最新的TR101290标准将DVB/MPEG-2 TS流的测试错误指示分为3个等级：第一等级是可正确解码所必须的几个参数；第二等级是达到同步后可连续工作必须的参数和需要周期监测的参数；第三等级是依赖于应用的几个参数。
1.1.1 DVB/MPEG-2 TS流的第一优先级测试第一级共6种错误，包括：同步错误、同步字节错误、PAT错误、连续计数错误、PMT 错误及PID错误。
（1）同步错误(TS Sync Loss)：同步错误是衡量传输流质量的最重要的指标。
用码流仪可观察某个TS有无同步错误的报警信息。
评测标准：连续检测到连续5个正常同步视为同步，连续检测到2个以上不正确同步则为同步丢失错误。
故障表现：传输流失去同步，标志着传输过程中会有一部分数据丢失，直接影响解码后的画面的质量,严重的同步丢失将导致TS传输中断。
在机顶盒端的表现为节目画面有马赛克，甚至节目播放中断。
（2）同步字节错误(Sync Byte Error)：同步字节错误和同步丢失错误的区别在于同步字节错误传输数据仍是188或204包长，但同步字头的0X47被其他数字代替。
评测标准：同步字节值只要不是0X47即可判断为同步字节错误。
故障表现：严重时会导致解码器解不出信号。
在机顶盒端的表现为节目播发有停顿，马赛克，甚至节目播放中断。
（3）PAT错误(PAT Error)：PAT在DVB标准中用于指示当前节目及其在数据流中的位置，标识节目相关表PAT的PID为0x0000。
《数字系统测试技术》课件
智能终端测试是数字系统测试的重要组成部分，涉及用户体验和性能等方面的 测试。
详细描述
智能终端测试主要关注用户界面、功能性和性能等方面的要求，通常采用自动 化测试、用户体验测试等方法进行测试。测试内容包括界面交互、功能验证、 性能测试等。
案例四：软件产品的测试
总结词
软件产品测试是数字系统测试的核心，涉及 功能、性能和兼容性等方面的测试。
Байду номын сангаас测试台
03
提供测试所需的硬件和软件环境，用于测试数字系统的功能和
性能。
调试工具
调试器
用于跟踪和调试程序中的错误和异常，帮助开发人员定位问题。
分析器
用于分析程序的性能和资源使用情况，帮助开发人员优化程序。
监视器
用于实时监控数字系统的状态和参数，帮助测试人员快速发现问 题。
自动化测试工具
自动化测试框架
制定测试计划
明确测试目标、范 围、资源、时间等 。
执行测试
按照测试计划和用 例进行测试，记录 测试结果。
测试总结与报告
对测试过程进行总 结，编写测试报告 。
数字系统测试的常
03
用工具
仿真测试工具
模拟器
01
模拟数字系统的运行环境，用于测试软件或硬件在真实环境下
的表现。
仿真器
02
模拟数字系统的硬件行为，用于验证数字系统的功能和性能。
持续测试
持续测试是软件开发领域的新趋势，通过集成测试和持续 集成工具，实现代码变更后的即时测试，提高软件质量。
性能测试
随着云计算和大数据技术的应用，数字系统的性能测试将 更加重要，以确保系统在高负载和大规模数据下的稳定性 和可靠性。
数字档案馆系统测评办法
数字档案馆系统测试办法第一条为加强数字档案馆的科学建设、安全运维和绩效管理，推动全国档案事业可持续发展，根据《中华人民共和国档案法》《中华人民共和国档案法实施办法》《数字档案馆建设指南》等有关规定，制定本办法。
第二条本办法适用于县级以上国家综合档案馆数字档案馆系统的测试，其他类型档案馆数字档案馆系统测试工作可参照本办法。
第三条国家档案局成立数字档案馆系统测试工作领导小组，并组建测试专家队伍，负责数字档案馆系统测试工作，领导小组日常事务由国家档案局技术部负责。
第四条数字档案馆系统测试依据是《数字档案馆系统测试指标表》(见附件1，以下简称《测试指标表》)，测试采用百分制。
测试结果达到80分以上认定为“通过国家级数字档案馆测试”，达到90分以上认定为“全国示范数字档案馆”。
第五条具有以下情形之一的，不得申请参加测试：（一）尚未完成建立涵盖全部馆藏文件级目录数据库的；1（二）馆藏纸质档案在50万卷以下但数字化率低于70％的，馆藏纸质档案在50-100万卷但数字化率低于60％的，馆藏纸质档案在100-150万卷但数字化率低于50%的，馆藏纸质档案在150万卷以上但数字化率低于40％的；（三）尚未进行电子档案接收工作的；（四）数字档案馆发生过重大安全事故或存在严重安全隐患的。
第六条各单位可对照《测试指标表》对数字档案馆进行自测试，自测试分数达到80分以上的，根据自愿申报原则，省、自治区、直辖市，计划单列市和副省级市以上国家综合档案馆数字档案馆由同级档案行政管理部门填写《数字档案馆系统测试申请表》（见附件2，以下简称《测试申请表》），向国家档案局提出申请，由国家档案局组织测试。
地市级及以下国家综合档案馆数字档案馆由同级档案行政管理部门填写《测试申请表》后，向省级档案行政管理部门提出申请，由省级档案行政管理部门组织测试。
地市级及以下国家综合档案馆数字档案馆自测试90分以上的，由省级档案行政管理部门认定后填写《测试申请表》，向国家档案局提出申请，由国家档案局组织测试。
实验8 数字系统测试
实验八数字系统测试一、实验目的1熟悉逻辑分析仪的主要应用；2掌握用逻辑分析仪测试数字系统的方法。
二、实验内容1 测试74LS160/74LS161的功能；2 观察60进制计数器的输出数据流；3 检测毛刺脉冲。
三、实验器材1 DSO-2902/512K型测试仪 1台2 标准信号发生器 1台3 数字实验箱 1台4 数字电路实验板 1块5 74LS160/74LS161 2片6 3线-8线译码器74LS138 1片7 双下降沿JK触发器74LS112 2片8 74LS00 1片四、实验要求1 学生实验前要查阅有关计数器、竞争冒险等的参考书；2 学生实验中要独立操作每一个步骤，并根据相关原理分析问题和解决问题。
五、实验步骤1 测试74LS160/74LS161（1）把74LS160/74LS161插入数字电路实验板，连接电源Vcc、GND，预置数端、复位端、使能端EP和ET 都接高电平，CLK端接100Hz脉冲。
（2）把CLK端同时接到“逻辑POD盒”的D0通道，把74LS160/74LS161的Q3Q2Q1Q0依次接到“逻辑POD盒”的D4D3D2D1通道。
注意小心接线，避免损坏测试钩和测试钩连线。
（3）设置通道名称：“Chan D 0”→“CLK”，“Chan D 1”→“Q0”，“Chan D 2”→“Q1”，“Chan D 3”→“Q2”，“Chan D 4”→“Q3”。
（4）设置采样速率为“10kSa(100μs)”，设置触发字（Word）为“00000000”。
（5）打开实验箱电源。
（6）点“”按钮，捕捉到数据后点“”按钮停止捕捉，观察逻辑分析仪波形显示区和数据显示区，画出74LS160/74LS161的计数工作波形图和状态转换图。
试分析74LS160/74LS161功能是否正常。
（7）如果把触发字设置为“00001000”， 观察逻辑分析仪波形显示区和数据显示区有何变化？为什么？ 2 观察60进制计数器的输出数据流（1）用两片74LS160/74LS161设计一个同步60进制计数器，要求所用状态对应十进制数“00”~“59”。
数字系统测试技术
化测试是关键环节之一。 发团队密切协作，确保
通过自动化测试，可以 自动化测试用例的编写
快速验证代码更改是否 和维护，以及在CI/CD
引入了缺陷，并确保软 流程中及时发现和修复
件质量。CI/CD流程中 缺陷。同时，测试团队
的自动化测试通常包括 还需要关注CI/CD工具
单元测试、集成测试和 的选择和配置，以便更
3
监控测试过程
对测试过程进行实时监控，确保测试按计划进行。
缺陷跟踪与修复
缺陷管理
建立缺陷管理系统，对缺陷进行跟踪和管理。
缺陷分析
对缺陷进行分析，确定缺陷原因和影响范围。
修复缺陷
开发人员修复缺陷，并进行验证。
回归测试与验收
回归测试
在修复缺陷后，对修改部分进行回归 测试，确保问题已解决且没有引入新 的问题。
系统验收
按照验收标准对系统进行全面验收， 确保系统满足需求和性能指标。
05
数字系统测试最佳实践
测试团队的组织与管理
明确测试团队职责
确保测试团队明确了解其职责，包括制定测试计划、设计测试用 例、执行测试、缺陷跟踪等。
建立有效的沟通机制
确保测试团队与其他相关部门（如开发、产品管理等）建立良好的 沟通机制，以便及时反馈测试进度和问题。
用于测试数字系统在高负载情 况下的性能表现。
压力测试场景
压力测试工具能够模拟各种高 负载场景，如大量用户同时访
问、高并发请求等。
压力测试指标
压力测试工具能够监测数字系 统的各项性能指标，如响应时
间、吞吐量等。
压力测试结果分析
压力测试工具能够对测试结果 进行分析，帮助开发人员了解
系统性能瓶颈。
缺陷管理工具
数字系统电路实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 理解数字系统电路的基本原理和组成。
2. 掌握数字电路的基本实验方法和步骤。
3. 通过实验加深对数字电路知识的理解和应用。
4. 培养学生的动手能力和团队合作精神。
二、实验原理数字系统电路是由数字逻辑电路构成的，它按照一定的逻辑关系对输入信号进行处理，产生相应的输出信号。
数字系统电路主要包括逻辑门电路、触发器、计数器、寄存器等基本单元电路。
三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 数字万用表3. 示波器4. 逻辑分析仪5. 编程器四、实验内容1. 逻辑门电路实验（1）实验目的：熟悉TTL、CMOS逻辑门电路的逻辑功能和测试方法。
（2）实验步骤：1）搭建TTL与非门电路，测试其逻辑功能；2）搭建CMOS与非门电路，测试其逻辑功能；3）测试TTL与门、或门、非门等基本逻辑门电路的逻辑功能。
2. 触发器实验（1）实验目的：掌握触发器的逻辑功能、工作原理和应用。
（2）实验步骤：1）搭建D触发器电路，测试其逻辑功能；2）搭建JK触发器电路，测试其逻辑功能；3）搭建计数器电路，实现计数功能。
3. 计数器实验（1）实验目的：掌握计数器的逻辑功能、工作原理和应用。
（2）实验步骤：1）搭建同步计数器电路，实现加法计数功能；2）搭建异步计数器电路，实现加法计数功能；3）搭建计数器电路，实现定时功能。
4. 寄存器实验（1）实验目的：掌握寄存器的逻辑功能、工作原理和应用。
（2）实验步骤：1）搭建4位并行加法器电路，实现加法运算功能；2）搭建4位并行乘法器电路，实现乘法运算功能；3）搭建移位寄存器电路，实现数据移位功能。
五、实验结果与分析1. 逻辑门电路实验通过搭建TTL与非门电路和CMOS与非门电路，测试了它们的逻辑功能，验证了实验原理的正确性。
2. 触发器实验通过搭建D触发器和JK触发器电路，测试了它们的逻辑功能，实现了计数器电路，验证了实验原理的正确性。
3. 计数器实验通过搭建同步计数器和异步计数器电路，实现了加法计数和定时功能，验证了实验原理的正确性。
GB1997同步数字体系（SDH）光缆线路系统测试方法pdf
中华人民共和国国家标准同步数字体系光缆线路系统测试方法发布实施国家技术监督局发布前言本标准是根据国际电信联盟电信标准部门有关建议等结合我国具体情况制定的编写格式和方法采用我国标准化工作导则的有关规定本标准主要目的是对国家标准同步数字体系光缆线路系统进网要求中规定的技术指标和性能要求提出测试方法包括系统测试和构成系统的设备外特性测试光缆线路系统是提供一个数字线路段的光缆传输系统这里线路意为有线所有过去光缆线路系统仅包含光线路终端光端机光缆线路和再生器由于新的光缆传输设备实现了线路终端光和复用器电一体化故本标准中的光缆线路系统包括复用器终端复用器或分插复用器光缆线路和再生器与数字线路段概念一致本标准的附录附录是标准的附录本标准的附录附录附录附录是提示的附录本标准由中华人民共和国邮电部提出本标准由邮电部电信科学研究规划院归口本标准由邮电部电信传输研究所负责起草本标准主要起草人邓忠礼赵晖中华人民共和国国家标准同步数字体系光缆线路系统测试方法国家技术监督局批准实施范围本标准规定了同步数字体系光缆线路系统技术指标和性能要求的测试方法适用于工程验收及维护等测试设备验收的部分项目也可参照使用引用标准下列标准所包含的条文通过在本标准中引用而构成为本标准的条文本标准出版时所示版本均为有效所有标准都会被修订使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性脉冲编码调制通信系统网路数字接口参数光纤的传输特性和光学特性测试方法剪断法光纤的传输特性和光学特性测试方法介入损耗法光纤的传输特性和光学特性测试方法后向散射法光纤的传输特性和光学特性测试方法相移法光纤的传输特性和光学特性测试方法脉冲时延法同步数字体系光缆线路系统进网要求脉冲编码调制通信系统网路数字接口参数测试方法单模光纤波长色散测试方法干涉法色散位移单模光纤光缆特性波长上损耗最小的单模光纤光缆特性与同步数字体系有关的设备和系统的光接口基于同步数字体系的光缆数字线路系统光接口测试平均发送光功率附自动关闭激光器后残余光功率指标平均发送光功率是发送机耦合到光纤的伪随机数据序列的平均功率在参考点上的测试值指标见中表表和表测试配置测试配置见图图案发生器是一个统称它接于被测设备的输入口实际使用的仪表类型与被测设备的输入接口有关线路群路光发送口测试相应可能有几个输入口有时需要有一个输入口送信号如果输入口是接口图案发生器是传输分析仪或误码分析仪的发送部分如果输入口是接口图案发生器则是分析仪的发送部分如果输入口既有又有接口当需要送信号时一般在一个输入口送信号支路光发送口测试通常只有一个相应的输入口有时需要在信号中与被测支路相关的内送测试信号则图案发生器是分析仪的发送部分图平均发送光功率测试配置操作步骤按图接好电路对于设备输入口一般不需要送信号如需要送信号按输入口的速率等级并依照表图案发生器选择适当的伪随机二元序列向输入口送测试信号如有需要测量并记录激光器的偏置电流或输入功率及温度光功率计设置在被测光波长上待输出功率稳定从光功率计读出平均发送光功率注意事项该项测试一定要清洁光接头并保证连接良好如有需要光连接器和测试光纤的衰减可认为是已知定值对光功率计读出的平均发送光功率进行修正精细的测试可通过多次测试取平均值然后再用光连接器和测试光纤的衰减对平均值进行修正表比特率容差测试用比特率容差测试用详见中中中中自动关闭激光器后残余光功率出于安全考虑在光线路信号丢失的情况下可能需要提供自动关闭激光器的功能关闭激光器后的残余光功率测试方法和平均发送光功率测试方法完全相同消光比指标消光比是最坏反射条件时全调制条件下传号发射光信号平均光功率与空号不发射光信号平均光功率的比值指标见中表表和表测试配置测试配置见图关于图案发生器的说明见图中的示波器是一个统称实际使用的仪表可以是通信信号分析仪光电变换器是它的一个附件图消光比测试配置操作步骤按图接好电路对于设备输入口一般不需要送信号如需送信号按输入口的速率等级并依照表图案发生器选择适当的向输入口送测试信号调整光衰减器使光电变换器有合适的输入光功率调整示波器获得稳定的波形读出传号和空号的功率和计算消光比注意事项测试中示波器需工作于直流耦合方式光电变换器不应引入附加的直流测试前进行无光零基线校准使光功率尽量高示波器显示的波形足够大发送信号波形眼图指标发送信号波形以发送眼图模框的形式规定了发送机的光脉冲形状特性它包括上升下降时间脉冲过冲及振荡眼图模框见图参数见表图光发送信号的眼图模框表光发送信号眼图模框参数注对于直角眼图模框的和相对于和处的纵轴不一定等距离偏差范围有待进一步研究考虑到系统的频率及相应的滤波器实现的困难性用于的参数值需要根据经验稍做调整测试配置测试配置见图眼图模框可以由仪表内部提供也可以外加关于图案发生器的说明见光标准接收机也是一种仪器它的传递函数应满足附录图光发送信号眼图测试配置操作步骤按图接好电路按输入口的速率等级并依照表图案发生器选择适当的向输入口送测试信号调整光衰减器使光电变换器有合适的输入光功率调整示波器按表调用相应的模框获得稳定的波形并由人工调整或由仪器自动对准使波形与模框之间位置最佳按模框参数记录相应的数值激光器工作波长指标激光器工作波长指它的主纵模中心波长该波长应在中表表和表规定的工作波长范围内测试配置测试配置见图测量激光器工作波长时可以用光波长计代替图中的光谱分析仪图激光器光谱特性测试配置操作步骤按图接好电路调整光衰减器使输出光功率在光谱分析仪或光波长计要求的范围内调整光谱分析仪或光波长计找到并读出主模中心波长最大均方根谱宽指标最大均方根谱宽是发光二极管和多纵模激光器的光谱特性参数表示规定光谱积分区内的总功率积分区的边界功率相对于主峰跌落指标见中表表和表测试配置测试配置见图操作步骤按图接好电路调整光衰减器使输出光功率在光谱分析仪要求的范围内定义积分区边界和通常选取光功率下降到或或的点对应的波长为和读出最大均方根谱宽最大谱宽指标最大谱宽是单纵模激光器的光谱特性参数它表示光谱积分区的宽度而积分区边界功率相当于主峰跌落指标见中表表和表测试配置测试配置见图操作步骤按图接好电路调整光衰减器使输出光功率在光谱分析仪要求的范围内定义积分区边界和选取光功率下降到的点对应的波长为和读出最大谱宽最小边模抑制比指标最小边模抑制比是单纵模激光器在最坏反射条件下全调制时主纵模的平均光功率与最显著边模的光功率之比的最小值指标见中表表和表测试配置测试配置见图操作步骤按图接好电路调整光衰减器使输出光功率在光谱分析仪要求的范围内测量主纵模的功率测量最显著边模的功率计算最小边模抑制比接收机灵敏度指标接收机灵敏度是在参考点上达到规定的比特差错率所能接收到的最低平均光功率指标见中表表和表测试配置测试配置见图线路群路光接收口测试见图如果被测设备有几个支路输入口应在一个比特率较高的支路口送测试信号并检测误码如果输入支路是接口则图案发生器和误码检测器应分别是传输分析仪或误码分析仪的发送和接收部分如果输入支路是接口则图案发生器和误码检测器应分别是分析仪的发送和接收部分支路光接收口测试见图通常在线路口送测试信号和检测误码分析仪应在与被测支路有关的通道发送和接收测试信号线路光接收图接收机灵敏度及过载功率测试配置支路光接收图完操作步骤按图接好电路按监视误码的通道速率等级并依照表图案发生器或分析仪发送选择适当的向支路输入口或线路输入口与被测支路相关的送测试信号调整光衰减器逐渐加大衰减值使误码检测器测到的误码尽量接近但不大于规定的通常规定断开点的活动连接器将光衰减器与光功率计相连读出点的接收光功率对于精确的测量应考虑和各点光功率的差异用活动连接器的衰减值对读出的接收光功率进行修正注意事项为了判断一次观察的时间按所测比特数计需要不少于比特对于较低比特率的通道误码监视需要很长的时间才能确定实际的对于大量测试接收机灵敏度的场合建议使用外推法见附录对光口横向兼容性有特别严格要求的场合需要另考虑可能的最差发送眼图和消光比影响接收机过载功率指标接收机过载功率是在参考点上达到规定的时所能接收到的最高平均光功率指标见中表表和表测试配置测试配置见图和对该图的说明操作步骤按图接好电路按监视误码的通道速率等级并依照表图案发生器或分析仪发送选择适当的向支路输入口或线路输入口与被测支路相关的送测试信号调整光衰减器逐渐减小衰减值使误码检测器测到的误码尽量接近但不大于规定的通常规定断开点的活动连接器将光衰减器与光功率计相连读出点的接收光功率对于精确的测量应考虑和各点光功率的差异用活动连接器的衰减值对读出的接收光功率进行修正光通道代价指标光通道代价规定了由于反射码间干涉模式分配噪声激光器啁啾声等引起的总色散功率代价指标见中表表和表测试配置测试配置见图线路群路光接收口测试见图并见有关说明支路光接口测试见图并见有关说明图中适当长的光纤指的是该光纤的衰减近似于中表表和表中衰减范围最大值线路光接收支路光接收图光通道代价测试配置操作步骤光通道代价测试分两大步进行第一步只用光衰减器操作步骤与测试接收机灵敏度相同见最后读出的点光功率第二步根据被测光接口参数规范的衰减范围上限取一条衰减等于上限衰减值的光纤进行光纤串接光衰减器的测试操作步骤与测试接收机灵敏度相同见最后读出的点光功率两次结果之差即为光通道代价注意事项基于同所述的原因光通道代价测试也可以使用外推法见附录接收机反射系数指标接收机反射系数是在参考点的反射光功率与入射光功率之比指标见中表表和表测试配置接收机反射系数的测试方法有两种基准方法是光连续波反射仪测试法替代方法是光时域反射仪测试法以上两种方法的原理见附录基准方法测试配置见图图接收机反射系数测试配置操作步骤按图接好电路调整光连续波反射仪读出反射系数接收机老化余度接收机老化余度规定了寿命开始且处于规定温度范围下的接收机灵敏度与寿命终了且处于最坏条件下的接收机灵敏度之差通常在工程中测试的是接收机灵敏度又称工厂检验值并要求该值比进网要求所规定的接收机灵敏度好见中评价接收机灵敏度规范中老化余度影响的可行方法见附录光通道衰减光通道衰减是再生段点之间的衰减指标见中表表和表光通道衰减测试方法有三种基准方法是剪断法见第一替代方法是后向散射法见第二替代方法是介入损耗法见光通道色散光通道色散是再生段点之间的色散指标见中表表和表光通道色散测试方法有三种基准方法是相移法见第一替代方法是干涉法见第二替代方法是脉冲时延法见光缆点回波损耗指标光缆点回波损耗是再生段的光缆线路包括任何光连接器点入射光功率和反射光功率之比指标见中表表和表测试配置光缆点回波损耗测试方法是光连续波反射仪测试法原理见附录测试配置见图光缆点可以接设备图光缆点回波损耗测试配置操作步骤按图接好电路光缆点可以接设备对于长光纤也可以不接调整光连续波反射仪读出回波损耗注意事项回波损耗和反射系数符号相反通常规定为正值为负值一般光连续波反射仪只给出二者之一点间离散反射系数指标点间离散反射系数规定再生段点间光纤包括任何光连接器不均匀性例如接头引起的反射指标见中表表和表测试配置测试配置见图光时域反射仪的测试原理见附录图点离散反射系数测试配置操作步骤按图接好电路调整选择适当的入射光纤长度超过的死区长度获得满意的波形从上读出反射最大点的幅度并按附件所给出的计算方法或按仪表说明书方法得到反射系数光输入口允许频偏指标再生器的内部振荡器在自由运行方式下的长期频率稳定度不得劣于所以下游设备输入口接收到这样的信号应能正常工作测试配置测试配置见图图光输入口允许频偏和光输出口速率测试配置操作步骤按图接好电路按被测接口速率等级分析仪发送送适当的测试信号在被测设备输出口用分析仪接收接收测试信号并检测误码分析仪发送加入正或负的频偏范围整个过程中被测设备不应出现误码光输出口速率指标设备输入口光信号丢失等故障情况下应从输出口向下游发其速率偏差对于再生器在范围内对于复用器在保持工作方式下速率偏差在范围内在自由振荡工作方式下速率偏差在范围内测试配置测试配置见图操作步骤按图接好电路按被测接口速率等级分析仪发送送适当的测试信号在被测设备输出口用分析仪接收接收测试信号断开输入光信号分析仪接收应收到信号从分析仪接收上读出的速率电接口测试若有需要测试输入口时可将以及结合在一起测试以检查输入口对最不利情况的承受能力输出口信号包括比特率指标输出口信号包括比特率规定了设备工作在内时钟状态下输出信号的比特率容差要求指标见表测试配置测试配置见图是支路口测试是群路口电口测试被测试设备有多个电口时应逐个测试如果被测是接口图案发生器和误码检测器分别是传输分析或误码分析仪的发送和接收部分如果被测是接口图案发生器和误码检测器分别是分析仪的发送和接收部分数字频率计的内部时间基准准确度优于显示分辨率个数字如果分析仪具有测量比特率的功能且时钟准确度优于或采用优于的外时钟同步可省去数字频率计支路口图输出口信号比特率测试配置群路口电口图完操作步骤按图接好电路将被测设备设置在内时钟自由振荡工作方式按被测接口的速率等级并依照表图案发生器选择适当伪随机二元序列向与被测输出口相对应的输入口送测试信号群路口测试时与输出口相对应的输入口一般不需要送测试信号用误码检测器在输出口接收测试信号并检查误码检测器的输出时钟已跟踪了测试信号比特率用数字频率计或用误码检测器自身测量频率所得数值即是输出口信号比特率断开图案发生器此时数字频率计测量到的频率数值即是输出口的比特率输出口信号波形和参数指标输出口信号波形规定了输出口终接测试负载阻抗条件下的输出波形指标见具体条目见表表输出口信号波形和参数接口等级指标接口见中表图接口见中表图接口见中表附录接口见中表图和图测试配置测试配置见图平衡输出口波形测试用图不平衡输出口波形测试用图和同等有效被测设备有多个电口时应逐个测试如果被测是接口图案发生器是传输分析或误码分析仪的发送部分如果被测是接口图案发生器是分析仪的发送部分当采用图和测试时射频电缆在频率点上的衰减不得大于注为负载电阻误差小于示波器工作于两通道相加方式并使第二通道处于反相方式通过低电容高阻抗探头测试平衡输出口波形注为负载电阻误差小于通过低电容高阻抗探头测试不平衡输出口波形图输出口信号波形和参数测试配置通过阻抗变换衰减器测试不平衡输出口波形群路口电口图完操作步骤按图接好电路图案发生器送人工码并选择易于观测的序列通常选择向与被测输出口对应的输入口送测试信号群路口测试时与输出口相对应的输入口一般不需要送测试信号调整示波器按表调用相应的模框或者在屏幕上加人工制作的模框并由人工调整或由仪器自动对准使波形与模框之间位置最佳从示波器上的数字读出波形各参数输出口信号眼图和功率指标输出口信号眼图和功率是对信号在交叉连接点上的要求指标见中图测试配置测试配置见图是支路口测试是群路口电口测试图中测试点规定在数字交叉连接设备的输入点连接电缆就是实际布线宽带电平表工作频率范围至少为示波器是一个统称实际使用的仪表可以是通信信号分析仪低通滤波器是它的一个附件支路口群路口电口图输出口信号眼图和功率测试配置操作步骤按图接好电路分析仪发送向与被测输出口相对应的输入口送信号调整示波器调用相应的模框或在屏幕上加人工制作的模框并由人工调整或由仪器自动对准使波形与模框之间位置最佳从示波器上判断眼图是否满足要求并读出波形参数特别注意被测信号中应无直流断开示波器将信号接至宽带电平表测出信号功率输入口允许频偏指标输入口允许频偏规定输入口接收到具有规定频偏信号时输入口应正常工作通常用设备不出现误码来判断指标见表详见测试配置测试配置见图并见说明支路口群路口电口图输入口允许频偏测试配置操作步骤按图接好电路图案发生器工作于外时钟方式如果图案发生器自身具有加频偏功能则用内时钟方式按接口速率等级并依照表选择适当的向支路输入口送测试信号外时钟输出或图案发生器时钟输出用数字频率计监视首先将频率调整到接近标称值的任一频率上用误码检测器监测与被测输入相应的输出判断系统已正常工作无误码逐渐调偏频率直至指标要求的正负范围整个过程中设备应正常工作无误码当需要测出实际可忍受的频偏极限时可继续加大正负频偏直至刚不出现误码为止记录相应频偏值注意事项一般情况下设备满足本项指标且富余度较大测试仪表时钟准确度不高一般为影响不大在设备达到指标困难的情况下应保证外时钟或仪表的内时钟准确度优于作精确测量以严格检验设备是否符合指标要求输入口允许衰减指标输入口允许衰减规定输入口收到受规定衰减的信号时输入口应正常工作通常用设备不出现误码来判断指标见表详见表输入口允许衰减接口速率等级衰减范围测试频率详见接口中接口中接口中接口中测试配置通常输入口允许衰减应和其他参数结合起来测试特别是测试结果会因不同衰减而改变的参数例如输入口抗干扰能力有时也需要单独测试输入口允许衰减测试配置见图并见说明支路口群路口电口图输入口允许衰减测试配置操作步骤按图接好电路按被测接口的速率等级并依照表图案发生器选择适当的通过电缆或人工线向输入口送测试信号用误码检测器在相应的输出口监视误码调整电缆或人工线衰减在表规定的范围内变化对任何值都不应出现误码输入口抗干扰能力指标输入口抗干扰能力规定和支路输入口接收信号被加入一定强度的干扰时输入口也应正常工作无误码指标见表详见表输入口抗干扰能力接口速率等级信噪比详见接口接口测试配置通常将输入口抗干扰能力和允许衰减结合起来测试测试配置见图图案发生器和误码检测器分别是传输分析仪或误码分析仪的发送和接收部分图输入口允许衰减和抗干扰能力测试配置操作步骤按图接好电路按被测接口速率等级并依照表两个图案发生器选择相同的适当但二者不同步二者不同时钟源即异步可变衰减器先置一较大值如误码检测器监视与被测输入口相关的输出信排卸仙璞腹ぷ髡 Ｎ尬舐氲髡 杀渌ゼ跗饔纱蟮叫〔怀鱿治舐胛 勾耸彼ゼ踔挡淮笥诒砉娑ǖ男旁氡榷杂电缆或人工线衰减在表范围内的任何值的测试都应满足输入出口反射衰减指标输入出口反射衰减规定了接口的标称阻抗以及反射衰减指标见表详见表接口反射衰减测试频率范围和指标接口速率等级测试频率范围反射衰减阻。
数字系统时序测试
数字系统时序测试数字系统时序测试是一项关键的测试方法，用于验证数字电路的时序性能。
时序测试是保证数字系统正确运行的关键环节，因此合适的时序测试方案和测试方法对于确保系统的可靠性至关重要。
1. 时序测试的意义时序测试是验证数字系统中各个模块按照正确的时序进行工作的方法。
它通过测试输入和输出信号之间的时序关系，确认系统在不同时间点上的状态是否符合设计预期。
时序测试可以发现时钟抖动、冒险现象、编码错误等问题，从而提高系统的可靠性和稳定性。
2. 时序测试的基本原理在数字系统中，时序的正确性取决于时钟信号的稳定性和各个模块之间的信号传输时延。
时序测试通过一系列的测试模式和时钟信号，确保系统在各种条件下都能按照预期的时序进行工作。
常用的时序测试方法包括纯随机测试、伪随机测试和时钟缩放测试等。
3. 时序测试的方法3.1 纯随机测试纯随机测试是一种基于随机输入信号的测试方法，通过随机生成输入模式，检测系统在各种不确定的情况下的时序性能。
纯随机测试可以全面覆盖系统的各种操作模式，但测试时间较长且不能保证覆盖所有可能的故障。
3.2 伪随机测试伪随机测试是一种基于伪随机序列的测试方法，通过生成特定的伪随机序列来进行测试。
与纯随机测试相比，伪随机测试具有更好的覆盖率和测试效率，能够在较短的时间内发现潜在的时序问题。
3.3 时钟缩放测试时钟缩放测试是一种通过改变时钟信号的频率和占空比来测试时序性能的方法。
通过增加或减小时钟频率，可以测试系统在不同工作条件下的时序可靠性。
时钟缩放测试可以有效地发现时钟频率相关的问题，如时钟抖动、时钟偏移等。
4. 时序测试工具为了方便进行时序测试，现代数字系统设计中常常使用专业的时序测试工具。
这些工具可以自动生成不同的测试模式和测试序列，能够全面、快速地检测系统的时序性能，并生成详细的测试报告供分析使用。
5. 时序测试的实践应用时序测试在数字系统的设计和验证过程中起着重要的作用。
通过合理选择测试方法和工具，可以提高测试的效率和准确性，从而提高系统的可靠性和稳定性。
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本章主要介绍了四方面的内容：1. 数字系统测试的基本原理，包括常用术语、故障模型等数字系统测试和数据域分析的基本概念、建立在通路敏化思想上的D算法和用数学方法寻求组合电路测试的布尔差分法、基于迭接阵列的时序电路测试方法和时序电路功能核实序列、随机测试和穷举测试的基本原理、数据域测试系统的组成和原理概述；2. 逻辑分析的主要特点、类型以及它的主要技术指标；逻辑分析仪的基本结构和组成原理；触发与跟踪方式、显示方式和在软硬件测试中的应用方法。
3. 可测性设计技术，包括可测性设计的基本原理，扫描可测性设计技术，内建自测试技术和边界扫描测试技术。
4．误码率测试和嵌入式微处理器的可测性设计。
11．1 数字系统测试的基本原理本节要求理解数字系统测试、数据域测试和传统时域测试和频域测试相比所具有的特点；理解数字系统测试和故障诊断中常用的故障模型；理解敏化通路法、D算法的基本原理和用D算法求解无冗余组合逻辑电路单故障测试矢量的基本步骤；了解用迭接阵列方法测试时序电路的基本原理；掌握一阶布尔差分法的运用和同步序列、引导序列和区分序列三种时序电路的功能核实序列的求法；理解随机测试和穷举测试的基本思想。
掌握数据域测试系统的基本和基本原理，特别是特征分析的原理和数字信号源的作用和原理。
11.1.1 数字系统测试和数据域分析的基本概念1．数字系统测试和数据域测试的特点与其它测试领域相比，数字系统测试和数据域测试有许多鲜明的特点，例如：第一，数字系统的响应与激励之间不是简单的线性关系。
第二，随着数字集成电路集成度增长，常常不得不依靠少数外部测试点上所得到的有限测试结果去推断电路内部所发生的复杂过程。
第三，在微机化数字系统中，除了由于硬件故障引起外部信息错乱外，还可能由于软件问题而导致异常输出。
第四，在一个数字系统的某一点上所发生的事件，往往经过若干个内部工作循环以后，才会在另一点或输出端有所表现，甚至可能毫无表现。
第五，由于数字信息几乎都是多位传输的，且数据流往往很长，许多信号仅发生一次，而其中可能只有一位，甚至只在某一瞬时出错，造成故障和出错不易辨认和捕获。
2．几个术语数据域测试的目的在于：首先，判断被测系统或电路中是否存在故障，此过程称为故障侦查（Fault Detection），也称作故障检测；进一步，如果有故障，则应查明其原因、性质和产生的位置，此过程称为故障定位(Fault Location)。
故障侦查和故障定位合称故障诊断或简称为诊断。
被测件因构造特性的改变而产生一个缺陷(Defect)，称为物理故障。
缺陷是指物质上的不完善性。
缺陷导致系统或电路错误动作，称为失效(Failure)。
缺陷所引起的电路异常操作称为故障(Fault)，故障是缺陷的逻辑表现。
由于故障而导致电路输出不正常，则称为出错或错误(Error)。
电路中出现故障并不一定立即引起错误。
对被测电路或系统的测试频率维持在被测系统或电路的功能性操作频率水平，这种测试称为“真速测试”(At Speed Testing)。
可由测试器直接驱动的输入称为主输入(Primary Input)，可以由测试器直接检测的输出称为主输出(Primary Output)。
如果在被测对象的主输入处同时施加一组数据侦查或诊断出了故障α，则称这组数据是故障α的测试图形（Test Pattern ）或测试矢量（Test Vector ），或简称为一个测试。
借助一定算法或工具，获得电路测试矢量的过程叫做测试生成。
常将一个测试集所侦查的故障数与电路总故障数之比定为故障覆盖率。
3．故障模型为了便于研究故障，须对故障进行分类，归纳出典型的故障，这个过程叫做故障的模型化。
模型化故障是代表一类对电路或系统有类似影响的典型故障。
（1）固定型故障固定型故障(Stuck Faults)模型主要反映电路或系统中某一信号线的不可控性，即在系统运行过程中总是固定在某一逻辑值上。
如果该线（或该点）固定在逻辑高电平上，则称之为固定1故障(stuck-at-1)，简记为s-a-1；如果该线固定在逻辑低电平上，则称之为固定0故障(stuck-at-0)，简记为s-a-0。
（2）桥接故障桥接故障可以表达两根或多根信号线之间的短接故障，这是一种MOS 工艺中常出现的缺陷。
按桥接故障发生的物理位置分为两大类，一类是元件输入端间的桥接故障，另一类是元件输入端和输出端之间的桥接故障，后者常称为反馈式桥接故障。
从信号线桥接后所表现出的逻辑效果看，桥接故障还可分为“线与”和“线或”两种类型，“线与”型是通常出现的情形。
图11-1示出了输入端短路故障等效于“线与”关系，11-1(a)为故障电路，11-1（b ）为模型化电路。
x 1x 2x 3x 3x 2 x 1 x 1 x 1x 2x 2 x 3 x3(a) (b) 图11-1 输入端短路故障等效于“线与”关系 (a) 故障电路 （b ）模型化电路图11-2给出了一般反馈式桥接故障的逻辑模型，其中x 1,x 2，…x s ，x s+1，…x n 是电路的输入端，输出Y 与S 个输入x 1,x 2，…，x s 发生桥接。
在反馈式桥接故障中，信号被反馈连接导致输出逻辑电平被强行倒置，这样电路可能产生振荡现象，另外，发生这类故障时有可能把组合电路改变成时序电路。
x 1...x s x ...x nx 1x sx nx (a) (b) 图11-2 反馈式桥接故障的一般模型（a ）故障电路 （b ）模型化电路 （3）延迟故障所谓延迟故障，这就是指因电路延迟超过允许值而引起的故障。
时延测试需要验证电路中任何通路的传输延迟，均不能超过系统时钟周期。
（4）暂态故障暂态故障(temporary faults)是相对固定型故障而言。
它有两种类型，即瞬态故障(Transient Fault)和间歇性故障(Intermittent Faults)。
瞬态故障往往是由电源干扰和α粒子的辐射等原因造成的，这一类故障无法人为地复现。
但一般说来，这一类故障不属于故障诊断的范畴，但在研究系统的可靠性时应予充分考虑。
间歇性故障是可复现的非固定型故障。
产生这类故障的原因有：元件参数的变化，接插件的不可靠，焊点的虚焊和松动以及温度、湿度和机械振动等其它环境原因等。
11.1.4 随机测试和穷举测试简介大型电路的测试生成往往需要复杂的计算和昂贵的硬件设备，因而必须寻求其它测试方法。
为了适应VLSI 测试的新发展，特别是为适应VLSI 内测试的需要，出现了随机测试和穷举测试这两种测试方法。
1． 随机测试技术 （1）原理概述随机测试是一种非确定性的故障诊断技术，它是以随机的输入矢量作为激励，把实测的响应输出信号与由逻辑仿真的方法计算得到的正常电路输出相比较，以确定被测电路是否有故障。
由于要产生一个完全随机的测试矢量序列十分困难，且随机测试中的实时逻辑仿真也存在诸多不便，所以，通常实用的方法是以已知序列的伪随机信号（矢量）作激励，此时正常电路的输出预先是知道的，因此在测试中不必进行实时的逻辑仿真。
这种借助伪随机序列进行随机测试的方法称为伪随机测试。
随机或伪随机测试的关键问题是，确定为达到给定的故障覆盖所要求的测试长度，或反之，对所给定的测试长度估计出能得到的故障覆盖。
如果一个故障的完备测试集中包含有多个测试矢量，则称为易测故障。
如果一个故障的完备测试集中仅包含很少几个测试矢量，则称故障为难测故障。
显然，侦查易测故障的随机矢量的序列可较短，而侦查难测故障的随机矢量的序列一般较长。
因此为保证整个电路的故障覆盖率，随机序列的长度主要取决于难测故障。
随机或伪随机测试的优点是不需要预先生成相应故障的测试矢量，这是很有意义的，但它毕竟是一种非确定性测试，一般难以保证100%的故障覆盖率。
此外，由于测试序列通常都较长，因此测试的时间开销也较大。
（2）伪随机序列发生器数字系统的伪随机测试中需要伪随机序列发生器提供测试激励。
m 序列是一种常见的伪随机序列，这里介绍两种产生m 序列的电路结构，一种是线性反馈移位寄存器，（Linear Feedback Shift Register ,LFSR ），另一种是细胞自动机(Celluar Automata,CA)，它们皆容易在VLSI 中实现。
①线性反馈移位寄存器 由数字电路相关知识可知，一个n 级线性反馈移位寄存器是由n 个串联的存储单元（如D 触发器）及模2加法器（可由异或门实现）组成，如图11-17所示，其中h i (1≤i ≤n －1)称为反馈系数，表示反馈的连通情况。
如果h i =1，则表示接通反馈线；如果h i =0，则表示断开反馈线。
x 012x n-2n-1n图11-17 n 级线性反馈移位寄存器框图LFSR 的逻辑功能完全由其反馈函数标志，图11-17所示的LFSR 的行为完全由反馈系数h i 决定，由反馈系数h i 在二元域上定义的多项式h(x)= x n +h 1x n －1+…+h n-1x+1称为该线性反馈移位寄存器的特征多项式。
由于n 级线性移位寄存器能表达的状态数不会超过2n。
同时如果该线性移位寄存器的初态为全0，那么无论经过多少次移位，它的状态总是全0，所以它的非零状态数为2n－1。
以n 次本原多项式为特征多项式的LFSR 可产生周期为2n－1的伪随机序列，这种序列也称为m 序列。
伪随机序列也常常被称为伪噪声序列。
②细胞自动机细胞自动机（CA）是自动有限状态机的一种实现形式，一个CA是由若干细胞（Cell）组成的阵列，若为一维阵列，则称为一维CA，CA中细胞的个数称为该CA的长度。
每个CA细胞由一个存储元件，如D锁存器和一个与之相连的组合逻辑块（CL）构成，组合逻辑实现布尔函数f，如图11-18。
一个细胞的状态即指其存贮元件的状态，逻辑值为‘0’或‘1’。
每个细胞的次态是该细胞的现态和逻辑上与该细胞相邻的若干细胞（简称邻）的现态的逻辑组合,由图11-18中的f实现，若f为线性逻辑函数，则称这种CA 为线性CA；若将某细胞的邻仅定义为最靠近该细胞的左和右两细胞，则称这种邻关系为冯·诺依曼邻，也称3-邻，此时将CA阵列中最左边的细胞的左邻和最右边细胞的右邻状态设置为恒‘0’，这种CA称为具有零边界条件,如图11-19，它是通常使用的边界条件。
在3-邻下，第i个细胞的次态x i(t+1)由第i个细胞的现态x i(t)和它的左邻和右邻的现态x i-1(t)、x i+1(t)共同决定，即x i (t+1)=f ( x i-1 (t), x i (t) , x i+1 (t) ) 上式中f由图11-18中的组合逻辑块f实现。
i (t)x i(t)+1(t)x i-1图11-18细胞结构图11-19 零边界条件一维CA表11-4 规则的命名（以规则90和150为例）3-邻下任一细胞的次态由含它本身的3个细胞共同决定，三个细胞的现态对应从（000）至（111）共8种取值，细胞C i在8种取值下的次态由该细胞的组合逻辑块对应的组合函数决定，将每种组合函数对应一种规则，3邻下每一细胞可有28=256种规则。