紫外光能谱 UPS
紫外光电子能谱(ups)(ppt)
VS
详细描述
为了提高UPS的分辨率和灵敏度,研究者 们正在探索新型的光源,如X射线、极紫 外线等,这些光源具有更高的能量和更短 的波长,能够提供更精细的能级结构信息 。同时,探测器技术和信号处理算法的改 进,也将有助于提高UPS的探测精度和信 噪比。
工作原理
通过测量逃逸电子的动能,可以推断 出其对应的束缚能,从而得到电子的 能级结构。
UPS的应用领域
材料科学
研究材料表面电子结构和化学 态,了解材料性质和反应机理
。
能源科学
用于研究太阳能电池、燃料电 池等能源材料的电子结构和化 学态,提高能源转换效率。
环境科学
用于研究大气、水体和土壤中 的污染物的电子结构和化学态 ,了解污染物迁移转化机制。
感谢观看
THANKS
UPS与其他谱学技术的联用
总结词
将UPS与其他谱学技术进行联用,可以实现 更全面的物质分析。这种联用技术有望在多 个领域发挥重要作用,如材料科学、生物学 和医学等。
详细描述
UPS可以与光电子能谱(PES)、X射线光电子 能谱(XPS)、红外光谱(IR)、拉曼光谱 (Raman)等技术进行联用,每种技术都有其 独特的优点和适用范围。例如,将UPS与 XPS联用,可以同时获得元素的价态信息和 轨道结构信息,对于理解化学反应机理和材 料性质具有重要意义。
有机分子和聚合物的研究
有机分子电子结构研究
UPS可以测量有机分子的电子结构和能量状态,有助于研究有机分子的化学键合和反应 机理。
Ultraviolet photoemission spectroscopy
Instrumentation
UV source
In UPS, a He discharge lamp is usually used to generate He I (21.2 eV) and He II (40.8 eV) emissions.
Discharge chamber High tension
UV source Synchrotron radiation
Principles UV Photoemission analysis
Angle-integrated UPS Angle-resolved UPS
Nomenclature
Nomenclature
• X-ray photoelectron spectroscopy, XPS is also known as “Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA) 化学分析用电子能谱”. • Actually, it belongs to a family of Photoemission Spectroscopy (PES) 电子 能谱, in which a photon source is used to excite a sample surface, the energy of those electrons ejected after the photoemission process (photoelectrons) are detected and analyzed. Specifically, if x-ray is used as the photon source, the technique is named as “X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)”. • If UV source is used instead, the technique is called the “Ultraviolet Photoemission Spectroscopy (UPS) 紫外光电子能谱” • With the emergence of Synchrotron Radiation同步辐射, tunable photon source can be generated.
电子能谱学第10讲紫外光电子能谱UPS教学课件
综合分析题
题目
讨论UPS在材料科学中的应用。
答案
UPS在材料科学中广泛应用于研究材料的电 子结构和化学状态。通过测量材料的电子跃 迁能量和态密度,可以了解材料的费米能级 、能带结构、化学键合状态等信息,对于理 解材料的物理和化学性质、优化材料性能以 及开发新材料具有重要的意义。
THANKS
感谢观看
区别
虽然UPS和UPS很相似,但它们的实验条件和应用范围有所不同。UPS通常使用紫外光作为激发源, 而UPS则使用X射线或电子束作为激发源。此外,UPS更常用于研究材料的价带结构和电子激发态, 而UPS则更常用于表面元素分析和化学态分析。
05
UPS技术前沿与展望
UPS技术发展现状
01
02
03
当前UPS技术已广泛应 用于物理、化学、材料 科学等领域,成为研究 物质结构和电子性质的
04
UPS与其他谱学技术的比较
UPS与XPS的比较
探测深度
UPS的探测深度比XPS更深,能够探测到样品表面下 几纳米深度的信息。
分辨率
UPS的分辨率比XPS更高,能够更准确地测量电子的 能量。
应用范围
UPS主要用于研究材料的价带结构,而XPS则更常用 于表面元素分析。
UPS与EELS的比较
能量分辨率
04
03
UPS实验技术与实践
UPS实验设备与操作流程
实验设备
UPS实验需要使用到紫外光源、电子能量 分析器、单色仪、样品台等设备。
VS
操作流程
首先,将样品放置在样品台上,并确保样 品表面平整、干净;然后,调整单色仪和 电子能量分析器的参数,使紫外光源发出 的光束通过单色仪,得到特定波长的光束 ;接着,将光束照射到样品上,激发出光 电子;最后,使用电子能量分析器对光电 子进行能量分析,得到光电子能谱。
紫外光电子能谱(UPS)_俄歇电子能谱(AES)
UPS 测量电离电位
Ek = h EB Er Ev Et EB +Er + Ev + Et = h Ek
对于气态样品来说,测得的电离电位相应于分子轨道的 能量。分子轨道的能量的大小和顺序对于解释分子结构、 研究化学反应是重要的。
在量子化学方面,紫外光电子能谱对于分子轨道能量的 测量已经成为各种分子轨道理论计算的有力的验证依据。
Ar分子中电子的电离能
因为Ar分子最外层是封闭 价电子壳层为P6。当一个 电子被激发后,外壳层变 为P5。由自旋角动量和轨 道 角 动 量 耦 合 有 2P3/2 和 2P1/2,在光电子能谱图上
表现为两个锐峰。
AES的基本原理
1.俄歇效应(Auger Effect)
处于基态的原子若用光子 或电子冲击激发使内层电 子电离后,就在原子的芯 能级上产生一个空穴。这 一芯空穴导致外壳层 的收缩。这种情形从能量 上看是不稳定的并发生弛 豫,K空穴被高能态L1的 一个电子填充,剩余的能 量( )用于释放一个 电子,即俄歇电子。
➢ 吸附过程是一个复杂的过程,表面发射电子与体相发射电子 的干涉加剧了问题的复杂性。为了处理方便,常做如下假设:
吸附物质对光电发射谱的贡献只反映表面上或吸附物质上的 局部态密度;
光电发射谱线强度决定于初态密度。实验上为区别光电子谱 中吸附物质的贡献,常采用差值曲线法。即分别取清洁表面 及吸附物质表面的扫描谱,取其差值,其中正贡献来自吸附 物质发射,负贡献则归因于基底对发射的抑制作用。
Ar的He I光电子能谱图
N2分子的电离能
紫外光电子能谱(UPS)的原理及应用
紫外光电子能谱(UPS)的原理及应用光电子能谱技术自二十世纪六十年代迅速发展起来,并成为研究固体材料表面态的最重要和有效的分析技术之一,主要包括X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称XPS)和紫外光电子能谱(Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy,简称UPS)两个分支体系。
Tunner 等人所发展的紫外光电子能谱,它的激发源在属于真空紫外能量范围,可以在高能量分辨率(10~20meV)水平上探测价层电子能级的亚结构和分子振动能级的精细结构,是研究材料价电子结构的有效方法。
1.紫外光电子能谱的测量原理UPS测量的基本原理与XPS相同,都是基于爱因斯坦光电定律。
对于自由分子和原子,遵循EK=hn-EB-Φsp,其中,hn为入射光子能量(已知值),EK为光电过程中发射的光电子的动能(测量值),EB为内层或价层束缚电子的结合能(计算值),Φsp 为谱仪的逸出功(已知值,通常在4eV左右)。
但是所用激发源的能量远远小于X光,因此,光激发电子仅来自于非常浅的样品表面(~10Å),反映的是原子费米能级附近的电子即价层电子相互作用的信息。
图1 光电子能谱测量原理图2.紫外光电子能谱的装置一般用于UPS测试的理想的激发源应能产生单色的辐射线且具有一定的强度,常采用惰性气体放电灯(如He共振灯),其在超高真空环境下(约10-8mbar)通过直流放电或微波放电使惰性气体电离,产生带有特征性的橘色的等离子体,主要包含HeI 共振线(波长为584Å,光子能量为21.22eV)和HeII共振线(波长为304Å,光子能量为40.8eV),其中,HeI线的单色性好(自然线宽约5meV),强度高,连续本底低,是目前常用的激发源。
图2 用于UPS的He共振线光子能量及强度3.紫外光电子能谱的分析方法紫外光电子能谱通过测量价层电子的能量分布从中获得有关价电子结构的各种信息,包括材料的价带谱、逸出功、VB/HOMO位置以及态密度分布等。
UPS 百度百科
UPS百科名片UPS作为英文缩写有很多含义,电脑UPS的中文意思为“不间断电源”,是英语“Uninterruptible Power Supply”的缩写。
UPS(United Parcel Service)是起源于1907 年在美国西雅图成立的一家信差公司。
UPS(Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy)是指采用真空紫外源作为激发源,激发分子或原子的价层电子电离,收集激发电离电子得到光电子能谱。
UPS是universitéparis-sud(南巴黎大学,巴黎第十一大学)的简称。
目录[隐藏]UPS(紫外光电子能谱)UPS(不间断电源)UPS(快递)南巴黎大学简称UPS(紫外光电子能谱)UPS(不间断电源)UPS(快递)南巴黎大学简称[编辑本段]UPS(紫外光电子能谱)UPS的英文全称为Ultraviolet Photoelectron Spectroscop y。
采用真空紫外源作为激发源,激发分子或原子的价层电子电离,收集激发电离电子得到光电子能谱。
激发源常用稀有气体的共振线如He I、He II。
它的单色性好,分辨率高。
可用于分析样品外壳层轨道结构、能带结构、空态分布和表面态,以及离子的振动结构、自旋分裂、John-Teller 分裂等方面的信息。
[编辑本段]UPS(不间断电源)UPS的中文意思为“不间断电源”,是英语“Uninterruptible Power Supply”的缩写,它可以保障计算机系统在UPS电源整体解决方案停电之后继续工作一段时间以使用户能够紧急存盘,使您不致因停电而影响工作或丢失数据。
它在计算机系统和网络应用中,主要起到两个作用:一是应急使用,防止突然断电而影响正常工作,给计算机造成损害;二是消除市电上的电涌、瞬间高电压、瞬间低电压、电线噪声和频率偏移等“电源污染”,改善电源质量,为计算机系统提供高质量的电源。
UPS目前分为在线式和后备式等,目前,主流的UPS厂商为台湾艾普斯,厦门科华、佛山BAYKEE(柏克),EAST(易事特)、深圳山特、东莞优玛电气UMART、APC、伊顿、爱默生等,都提供各种级别的UPS满足不同用户群的需要。
光电子能谱
8.3 分子的X-射外光电子能谱
X-射线可使原子的内层电子电离.分子中原子的内层电子基本不变. 对应M+的高激发电子态,不能解析振动结构. 在CO中, C 1s 的电离能为:295.8 eV 在CO2中, C 1s 的电离能为:297.8 eV 在CO中, O 1s 的电离能为:541.1 eV 在CO2中, O 1s 的电离能为:539.8 eV
M h M e 其中 e- 为发射出的光电子. 按能量守恒关系, 有 1 E(M) h E ( M ) me v 2 2 从而光电子动能为: 1 me v 2 h ( E ( M ) E(M)) h I 2
其中
I E ( M ) E(M)
Auger过程表示为: K-LILII
E K 和E LI 随原子的化学环境的变化相似, 故E K E LI 的化学位移较小, 从而Auger电子 引起. 的化学位移主要由E L
II
Auger过程为: KLIILIII
S原子的内层电子为:
1s 2 2s 2 2 p6 3s 2
电离后离子态为:
ee-
e-
或
M+ + e紫外线 光电效应
M+ + eX射线
2p 2s 1s
X 射线或其 他高能粒子
紫外: 16~41eV X射线: 1000~1500 eV
M
X射线荧光
Auger过程
e-
hv
e-
Auger 电
子
M+ + hv
M+ + e-
M++ + e-
2.光电子能谱的基本原理 光电子能谱研究的对象是光子作用于分子时发生的单电子过程,
电子能谱技术在材料表征与分析中的应用方法
电子能谱技术在材料表征与分析中的应用方法材料表征与分析是材料科学研究中的重要环节,它能够揭示材料的组成、结构和性能等关键信息。
而电子能谱技术作为一种非常有效的表征手段,已经在材料科学领域得到了广泛的应用。
本文将介绍电子能谱技术的基本原理和几种常见的应用方法。
一、电子能谱技术的基本原理电子能谱技术是利用材料中原子核外电子的能级分布来表征材料的一种方法。
它基于电子与材料原子相互作用的原理,通过测量材料中电子的能量分布来获得材料的组成和结构等信息。
常见的电子能谱技术包括X射线光电子能谱(XPS)、紫外光电子能谱(UPS)和逆光电子能谱(IPES)等。
二、X射线光电子能谱(XPS)的应用方法X射线光电子能谱是一种常用的电子能谱技术,它能够提供材料的元素组成、化学状态和电子能级等信息。
在XPS实验中,通过照射样品表面的X射线,使样品中的电子被激发并逸出,然后测量逸出电子的能量和强度。
通过分析逸出电子的能谱,可以确定材料中各种元素的存在状态和相对含量。
此外,XPS还可以通过调节X射线的能量来探测材料的深度分布,从而获得材料的表面和体积信息。
三、紫外光电子能谱(UPS)的应用方法紫外光电子能谱是一种用于研究材料能带结构的电子能谱技术。
在UPS实验中,通过照射样品表面的紫外光,使样品中的电子被激发并逸出,然后测量逸出电子的能量和强度。
与XPS相比,UPS测量的是逸出电子的动能,可以提供更加详细的材料能带结构信息。
通过分析逸出电子的能谱,可以确定材料的能带宽度、能带位置和价带顶等参数,从而揭示材料的电子结构和导电性质。
四、逆光电子能谱(IPES)的应用方法逆光电子能谱是一种用于研究材料电子结构的电子能谱技术。
在IPES实验中,通过照射样品表面的高能电子束,使样品中的电子被激发并逸出,然后测量逸出电子的能量和强度。
与XPS和UPS相比,IPES测量的是逸出电子的能量和角度,可以提供更加全面的材料电子结构信息。
通过分析逸出电子的能谱和角度分布,可以确定材料的能带结构、费米面和态密度等参数,从而揭示材料的电子结构和输运性质。
材料科学XPS 、AES、UPS、EDS 四大能谱分析介绍
材料科学XPS 、AES、UPS、EDS四大能谱分析介绍能谱分析能谱分析法是采用单色光源(如X射线、紫外光)或电子束去照射样品,使样品中电子受到激发而发射出来(这些自由电子带有样品表面信息),然后测量这些电子的产额(强度)对其能量的分布,从中获得有关信息的一类分析方法,广泛应用于材料表面分析技术。
主要有:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、紫外光电子能谱(UPS),能谱仪-电镜联用等方法。
仪器厂家1俄歇电子能谱法(AES)俄歇电子能谱法是用具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应,通过检测俄歇电子的能量和强度,从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。
利用受激原子俄歇跃迁退激过程发射的俄歇电子对试样微区的表面成分进行的定性定量分析。
AES可以用于研究固体表面的能带结构、表面物理化学性质的变化(如表面吸附、脱附以及表面化学反应);用于材料组分的确定、纯度的检测、材料尤其是薄膜材料的生长等。
原理:俄歇电子的产生和俄歇电子跃迁过程:一定能量的电子束轰击固体样品表面,将样品内原子的内层电子击出,使原子处于高能的激发态。
外层电子跃迁到内层的电子空位,同时以两种方式释放能量:发射特征X射线;或引起另一外层电子电离,使其以特征能量射出固体样品表面,此即俄歇电子。
俄歇跃迁的方式不同,产生的俄歇电子能量不同。
上图所示俄歇跃迁所产生的俄歇电子可被标记为WXY跃迁。
如 KLL跃迁:K层电子被激发后,可产生KL1L1,KL1L2,KL2L3…等K系俄歇电子。
应用方向:1、通过俄歇电子谱研究化学组态:原子“化学环境”指原子的价态或在形成化合物时,与该(元素)原子相结合的其它(元素)原子的电负性等情况。
2、定性分析:对于特定的元素及特定的俄歇跃迁过程,其俄歇电子的能量是特征的。
由此,可根据俄歇电子的动能来定性分析样品表面物质的元素种类。
3、定量分析或半定量分析:俄歇电子强度与样品中对应原子的浓度有线性关系,据此可以进行元素的半定量分析。
UPS-紫外光电子发射谱课件
The bindiБайду номын сангаасg energy of an electron in state i is equal to the negative of the orbital energy of the ith state.
(the ion is represented by (N-1) frozen orbitals) The ionization energy (Ii) for the removal of electrons from different orbitals in a molecule is given by the energy difference between the initial state of the neutral molecule (in the ground state) and the final state that is the state of the ionized molecule.
Koopmans’ theorem makes possible the identification of calculated orbital energies with ionization potentials. But it does not allow for electronic relaxation
紫外光电子能谱(UPS)应用
紫外光电子能谱(UPS)应用光电子能谱技术自二十世纪六十年代迅速发展起来,并成为研究固体材料表面态的最重要和有效的分析技术之一。
它的两个主要分支经过不断完善自成体系,一个是Siegbahn等人创立的X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称XPS),其激发源(常用Al kα或Mg kα)属于软X射线能量范围,用于测量内层轨道电子的结合能,这些内层电子的能量具有高度特征性,因此可用作定性分析,获取元素的指纹信息。
不过,元素的结合能会因受所处环境的影响而产生“化学位移”,“化学位移”本身可以反映出化学态的信息,这是XPS的一个重要应用。
另一个是Tunner等人所发展的紫外光电子能谱(Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy,简称UPS),它的激发源(常用He I)属于真空紫外能量范围,可以在高能量分辨率(10~20meV)水平上探测价层电子能级的亚结构和分子振动能级的精细结构,是研究材料价电子结构的有效方法。
利用两种技术获取的信息既有相似的部分,也有独特之处。
因此在固体材料表面研究领域,两者互为补充。
UPS测量的基本原理与XPS相同,见图1,都是基于Einstein光电定律。
对于自由分子和原子,遵循E K=hν-E B-Φsp,其中,hν为入射光子能量(已知值),E K为光电过程中发射的光电子的动能(测量值),E B为内层或价层束缚电子的结合能(计算值),Φsp为谱仪的逸出功(已知值,通常在4eV左右)。
但是所用激发源的能量远远小于X光,因此,光激发电子仅来自于非常浅的样品表面(~10Å),反映的是原子费米能级附近的电子即价层电子相互作用的信息。
图 1. 光电子能谱测量原理图一般用于UPS 测试的理想的激发源应能产生单色的辐射线且具有一定的强度,常采用惰性气体放电灯(如He 共振灯),其在超高真空环境下(约10-8mbar )通过直流放电或微波放电使惰性气体电离,产生带有特征性的橘色的等离子体,主要包含HeI 共振线(波长为584Å,光子能量为21.22eV )和HeII 共振线(波长为304Å,光子能量为40.8eV ),见图2。
紫外光电子能谱( UPS )
四,实例与图谱分析
谱带形状与轨道的键合性质
I:非键或弱键轨道电子电离 跃迁 II,III:成键或反键轨道电 子电离跃迁; IV:非常强的成键或反键轨 道电子电离跃迁; V:振动谱叠加在离子的连 续谱上; VI:组合谱带;
例一,苯在 上的UPS谱 例一,苯在Ni(111)上的 上的 谱
紫外光电子谱图的形状取 决于电离后离子的状态. 决于电离后离子的状态.
3. 检测器
产生的光电流:10-3~10-9; 电子倍增器作为检测器; 单通道电子倍增器;多通道电子倍增器;
4. 真空系统
光源,样品室,电子能量分析器,检测器都必须在高真 空条件下工作; 真空度:1.33×10-6 Pa .
三,紫外光电子能谱的应用
由于光源能量较低,线宽较窄(约为0.01eV), 由于光源能量较低,线宽较窄(约为 只能使原子的外层价电子,价带电子电离, 只能使原子的外层价电子,价带电子电离,并 可分辨出分子的振动能级,因此被广泛地用来 可分辨出分子的振动能级 因此被广泛地用来 研究气体样品的价电子和精细结构以及固体样 品表面的原子,电子结构. 品表面的原子,电子结构.
β-SiC单晶的UPS谱(Vb= -27 V)
6H-SiC单晶的UPS谱(Vb= -27 V)
离子束合成的β-SiC样品的UPS谱(Vb= -27 V)
Thank you!
�
紫外光电子能谱( 紫外光电子能谱( UPS )
--Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy
目 录
一,紫外光电子能谱的基本原理 一,紫外光电子能谱的基本原理 二,电子能谱分析仪 三,紫外光电子能谱的应用 四,实例与图谱分析
一,紫外光电子能谱的基本原理
电子能谱学第10讲紫外光电子能谱(UPS)
• 推广的Huckel法可以提供与谱比较一致的结果.从头计算法 的结果可靠,但计算工作量很大,所以主要针对一些简单分
子.近似的自洽分子轨道法的计算比较简单(如CNDO),但所 得的结果与谱的符合程度差一些.
清华大学化学系材料与表面实验室
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简化的方法
• 采用简化的方法通常作下列假定:
(1)认为某些分子轨道定域在分子中的一个原子或原子团 上.例如,在HCl中可以认为谱中的一个峰是由氯3p孤 对电子轨道的电离作用产生的.
• 根据双原子分子的非谐振子 模型,分子离子的振动能等 于
• 其中v为离子态的振动量子数, h为普朗克常数,X是非谐振 常数,ω是振动频率
• k是振动的力常数,u是体系 的折合质量.在这里k是键强 度的量度.
清华大学化学系材料与表面实验室
11
紫外光电子能谱的原理
• 假如电离时一非键电子被移去,键强度只改变一点,所 以k和ω以及振动能级之间的能量间距rc都几乎维持不变, 核间距离也将不受影响.
清华大学化学系材料与表面实验室
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谱带的形状和位置
• 如光电子来自非键或弱键轨道,分子离子的核间距离与中性分子的几 乎相同,绝热电离电位和垂直电离电位一致,这时谱图上出现一个尖 锐的对称的峰.在峰的低动能端还会存在一个或两个小峰。它们对应 于v=1,v=2等可能的跃迁,见I;
• 若光电子从成键或反键轨道发射出来,绝热电离电位和垂直电离电位 不一致,垂直电离电位具有最大的跃迁几率,因此谱带中相应的峰最 强,其它的峰较弱,见图5.4中的II和III.
杂的组合带,见谱带V清I.华大学化学系材料与表面实验室
24
• 谱带的位置代表谱带的能 量,所以也代表分子轨道 的电离电位.
紫外光电子能谱UPS
2. 电子能量分析器
(1)半球型电子能量分析器 改变两球面间的电位 差,不同能量的电子依次通 过分析器;分辨率高;
(2)筒镜式电子能量分析器 (CMA) 同轴圆筒,外筒接负压 、内筒接地,两筒之间形成 静电场; 灵敏度高、分辨率低; 二级串联;
3. 检测器
产生的光电流:10-3~10-9; 电子倍增器作为检测器; 单通道电子倍增器;多通道电子倍增器;
6H-SiC单晶的UPS谱(Vb= -27 V)
离子束合成的β-SiC样品的UPS谱(Vb= -27 V)
Thank you!
化学吸附后,带发生了位移 凝聚分子的谱带明显增 宽,并失去精细结构
气体分子有明显 的振动精细结构
横坐标为分子的电离能In 或 光电子动能
En hv I n
苯在Ni(111)上的UPS谱
例二、和Si样品有关的一些UPS谱
Si单晶的UPS谱 (Vb=-27V)
β-SiC单晶的UPS谱(Vb= -27 V)
四、实例与图谱分析
谱带形状与轨道的键合性质
I:非键或弱键轨道电子电离
跃迁 II、III:成键或反键轨道电 子电离跃迁; IV:非常强的成键或反键轨
道电子电离跃迁;
V:振动谱叠加在离子的连 续谱上; VI:组合谱带;
例一、苯在Ni(111)上的UPS谱
紫外光电子谱图的形状取 决于电离后离子的状态。
能量关系可表示:
hv Eb Ek Er
电子结合能 电子动能 原子的反冲能量 1 *2 Er M ma
2
二、电子能谱分析仪
electron spectroscopy
光电子能谱仪的方框图
紫外光电子能谱分析仪实物图
激发源
紫外光能谱 UPS
常用分析谱仪的名称和主要用途 名称 入射粒 发射粒子 子 光子 电子 主要用涂
X射线光电子谱 (XPS)
分析表面成分,研究表面吸附和表面电 子结构,目前已成为一种常规表面分析 手段 分析表面成分,更适合于研究价电子状 态,与XPS相互补充 分析表面成分,能分析除H,He外的所 有元素,还可用来研究许多反应 分析表面成分,研究界面反应和其它反 应 分析表面成分,研究元素的化学状态和 表面原子排列结构,其中低能电子能量 损失谱又称高分辨率电子能量损失谱, 所探测到的是表面几个原子层的信息 分析表面成分,研究表面结构
NMR波谱仪按磁体可以分为永久磁体、 电磁体和超导磁体,按射频频率可分为 100MHz、200MHz、400MHz、800MHz、 900MHz等,按射频源又可分为连续波波 谱仪(CW-NMR)和脉冲傅立叶变换波谱 仪(PFT-NMR)等。
在所有原子核中,1H的磁矩最大,给出 的核磁共振讯号最强,而且1H又是有机
征来看,这些副稳定表面有可能用作生长 周期量子线的模板。 庄叔贤等采用AES、LEED、XPS等 研究了Rh(1 0 0)上Sm膜和Sm/Rh表面合 金以及CO在这两类模型表面的吸附与反 应。
9.2.3 电子能量损失谱 电子能量损失谱(EELS)是入射电 子因激发电子跃迁或表面原子的某一个振 动模式而失去一个特征能量,由此测量非 弹性散射的电子能量,并结合电子能谱得 到电子态信息,则可以达到近表面的能带 结构信息与空带电子态的能谱。如果入射 电子引起表面原子振动激发,则结合原子 吸附模型进行计算,并与实验数据对比,
这些表面经退火后都能给出属于各自表 面的LEED图,而不是小面化的,说明 他们都是稳定的。从它们的LEED斑点
强度分布特征不仅可以推断(15,1, 17)是主稳定表面,而(1,1,11)、 (1,0,8)和(2,1,2)是副稳定表 面,还能知道这些副稳定表面的原胞结 构特征和许多重要细节。从原胞结构特
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常用分析谱仪的名称和主要用途 名称 入射粒 发射粒子 子 光子 电子 主要用涂
X射线光电子谱 (XPS)
分析表面成分,研究表面吸附和表面电 子结构,目前已成为一种常规表面分析 手段 分析表面成分,更适合于研究价电子状 态,与XPS相互补充 分析表面成分,能分析除H,He外的所 有元素,还可用来研究许多反应 分析表面成分,研究界面反应和其它反 应 分析表面成分,研究元素的化学状态和 表面原子排列结构,其中低能电子能量 损失谱又称高分辨率电子能量损失谱, 所探测到的是表面几个原子层的信息 分析表面成分,研究表面结构
UPS有其局限性,故在应用时常与其 他表面分析方法结合使用。 角分辨紫外光电子能谱(ARUPS) 可用来检测一些吸附质在催化剂上的行 为。 9.2.1.4俄歇(Auger)电子能谱 当电子束或X射线做激发源,使原 子内层电子被电离产生一个空穴后,其 他能量较高轨道的电子填充这个空穴,
同时释放出能量使其他电子(二次电 离),这样电离出来的电子是由Auger首 次发现的,称之为Auger电子。用电子动 能分析器分析俄歇电子,就得到俄歇电 子能谱(AES)。俄歇电子的能量与激 发源的能量无关,改变X光源时,光电子 的能量会改变,而Auger电子能量不会变, 利用这一点可以区别Auger电子峰和光电 子峰。
样 品 单色器 检测器 计算器
激光光源
图16-19 激光拉曼光谱仪示意
Raman光谱可通过鉴定基团的特征频率进 行分子结构分析,用于定性、定量分析等。 它可观察到非极性双原子分子如N2、O2等 光谱,是红外光谱所不及的。因此, Raman光谱与红外光谱两者互相补充。但 Raman散射存在截面积小、灵敏度低的缺 点。表面增强拉曼散射效应是指在特殊制 备的一些金属良导体表面或溶胶中,吸附 分子的Raman散射信号比普通Raman散射
信号大大增强的现象。SERS恰好克服 了普通Raman光谱灵敏度低的缺点,且 由于它是一种表面效应,可提供真空吸 附或靠近于金属表面分子的结构信息, 故可用于界面与表面吸附分子的排列取 向及结构研究。
9.5 核磁共振 原子核中的质子和电子一样作自旋运 动,且是量子化的。不同核的自旋量子数I 不同,可以为0(如12C、16O等)、半整 数(如1H、13C等为1/2,35Cl、79Br为 3/2等)、整数(如14N、2H等为1)。 低能级的核就会吸收电磁波,跃迁到 高能级,这称为核磁共振,常记为NMR。
影响质子化学位移的因素有以下几
种。
(1)电子密度 氢核周围的电子密度是 随邻近原子的电负性大小而变化的,邻
近原子的电负性大,诱导效应强,氢核周 围的电子密度减小,屏蔽效应减弱,使得 氢核共振磁场向低场偏移;反之,会移向 高场。 (2) 反磁各向异性 (3)溶剂和氢键的影响 使用不同溶剂往 往有不同的值,若有H键生成可使值增 大几个ppm。
9.6 正电子湮没谱 正电子射入材料中时,在与周围达 到热平衡后,通常要0.1-1000ns的时间 才会和电子湮没,这段时间称为正电子 寿命。材料中的空位、孔洞和位错等缺 陷强烈吸收正电子,使其处于被束缚状 态。处于自由态或束缚态的正电子都会 和电子湮没同时发射出射线。正电子 湮没谱(PAS)为不同正电子寿命与湮
若用I(x)表示干涉图的强度,是光程差x的 函数; B()=∫-∞∞I(x)cos(2x ) dx
由它记录干涉图并做出傅里叶余弦变 换,就可得到任何波数的光强。由于FTIR具有扫描速率快、分辨率高、波数精度 高、灵敏度高和光谱范围宽等优点,应用 十分广泛。
为了阻止金属纳米粒子间的团聚,沈之荃 等用蝉丝蛋白质溶液在室温条件下不加任 何还原剂,通过原位还原技术制备纳米贵 金属胶体,它的特点是丝素蛋白质既作还 原剂又作保护剂,形成的纳米贵金属胶体 具有新颖的核-壳结构,因而具有高度的 分散性和稳定性。
紫外线光电子谱 光子 (UPS) 俄歇电子能谱 (AES) 低能电子衍射 (LEED) 能量损失谱 (EELS) 电子
电子
电子
电子 电子
电子
电子
电离损失谱
(ILS)
电子
电子
名称 电子诱导脱附 (ESD) 静态次级离子 质(SSIMS) 次级中性粒子 质(SNMS)
入射粒子 发射粒子
主要用途
分析表面成分,研究表面原子吸附态
可得到表面原子吸附位、吸附分子解离状 况、束缚能、与吸附原子间横向相互作用 的结构与集合的信息。 入射电子损失能量可分为以下三种 情况: (1)激发晶格振动或吸附分子振动能的 跃迁,损失能量几至几百毫电子伏 (2)激发表面或体相等离子体激元或价
带电子跃迁,能量损失值约在1-10eV(3) 激发内层电子的跃迁,能量损失值约在 102-103eV。
透射电子显微镜是一种高能电子穿透 样品,根据样品不同位置的电子透过强度 不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同, 经过电磁透镜放大后,在荧光屏上显示出 图像。透射电镜主要由电子光学系统、真 空系统和供电系统三部分组成。
9.3.2 扫描电子显微镜 扫描电子显微镜是以电子探针对试样进 行反复扫描轰击,将被轰击微区发出的二次 电子信息用探测器逐个加以收集,经过适当 处理并放大,依此放大信号来调制同步扫描 的显像管的亮度,在显像管的荧光屏上得到 该信息提供的样品图像。 9.3.3 扫描隧道显微镜
物最重要的成分之一,12C和16O因没有 核磁矩,不会干扰质子的吸收讯号,这样 研究质子核磁共振谱就可以鉴定有机物的 结构,这是很有价值的。这里介绍质子核 磁共振谱。 由于核外围电子的存在,与外磁场的 相互作用受到屏蔽,使核实际感受的有效 磁场H比外加磁场H0略小一些,表示为:
H=(1–) H0 式中,为屏蔽常数,它随核在分子中 所处的环境不同而 变化。同一种核在分子中不同环境下的 值不同,H不同,因此产生核磁共振吸 收峰位置不同,这就是化学位移。
9.4 红外和拉曼光谱 9.4.1 傅里叶红外光谱仪 傅里叶变换红外光谱仪是基于光相 干性原理而设计的干涉型红外分光光度计, 不同于依据光的折射和衍射而设计的色散 型红外分光光度计,被称为第三代红外光 谱仪。 FI-IR是由红外光源、干涉仪、样品 室、检测室、计算机和记录仪等部件构
成,其框图如下所示。 光源干涉仪样品室检测器计 算机记录仪 目前所用的干涉仪大多数都是卖克 尔逊干涉仪,它将光源来的信号以干涉 图的形式送往计算机进行Fourier变换 的数学处理,最后将干涉图还原成光谱 图。
NMR波谱仪按磁体可以分为永久磁体、 电磁体和超导磁体,按射频频率可分为 100MHz、200MHz、400MHz、800MHz、 900MHz等,按射频源又可分为连续波波 谱仪(CW-NMR)和脉冲傅立叶变换波谱 仪(PFT-NMR)等。
在所有原子核中,1H的磁矩最大,给出 的核磁共振讯号最强,而且1H又是有机
பைடு நூலகம்
俄歇电子能谱是研究固体表面的一种重 要技术,已广泛应用于各种材料分析和 催化、吸附、腐蚀等过程。
9.2.2 低能电子衍射 低能电子衍射的激发源是低能量 (10-300eV )的电子束,只穿透表面几 层原子。低能电子衍射检测的弹性散射 电子,不同方向的电子通过相干散射而 产生衍射,它用荧光屏来检测衍射点。 做LEED测试,要求样品表面清洁完整。 低能电子衍射实验发现,单晶表面从原 子水平上看是不规则的,也是不平整
来,就得到了样品表面的密度分布、表面 形貌、原子排列和电子结构等的图像。 STM的主机由三维扫描控制器、样品逼近 装置、减震系统、电子控制系统、计算机 控制系统数据采集和图象分析系统组成。 STM独特的优点是: 1.具有原子级分辨率 2.能实时地观察到表面的三维图像
3.可直接观察到表面缺陷、表面吸附质的 位置和形态,以及由于吸附质产生的表面 重构 4.测试条件宽松,即样品可在真空、大气、 水溶液及常温下进行测试,不需要特别制 样,且对样品无伤害,因此可用于生物样 品、多相催化、电极表面变化等的检测 5.结合扫描隧道谱可以获得表面电子结构
这些表面经退火后都能给出属于各自表 面的LEED图,而不是小面化的,说明 他们都是稳定的。从它们的LEED斑点
强度分布特征不仅可以推断(15,1, 17)是主稳定表面,而(1,1,11)、 (1,0,8)和(2,1,2)是副稳定表 面,还能知道这些副稳定表面的原胞结 构特征和许多重要细节。从原胞结构特
9.4.2 激光拉曼光谱
激光拉曼光谱是研究被样品散射的 光,而不是吸收和发散的 光。若入射光和Raman散射光的频率分 别为a和b,分子散射前后
的能量分别为Ea和Eb,则有
E=Eb-Ea=h(a- b)
式中 E是分子处于两种状态的能差.这 样,测得Raman光谱频率位移a- b,便可得 到分子能级.
信息,表面不同层次的态密度,表面势 垒的变化和能隙结构等。 目前使用的STM可分为两类:一类 是观察时样品只能维持在一个固定的温 度;另一类是观察时样品可以控制在一 定范围内的任何温度。观察的方式有两 种:一种是非原位观察,比如,先把有 吸附物的表面加热导致反应发生,再降 至室温观察;另一种是原位,即在表面
紫外光电子能谱谱线呈分离结构,这提供 了电子确实存在于量子化的分子轨道上的 直接证据。对于一个成键或反键电子电离, 核间平衡距离要发生很大变化,这样UPS 图的谱带宽而复杂。对于一个非键或弱化 学键电子电离,核间平衡距离变小,谱带 窄而简单。如果分子振动能级很密,或者 分子离子态与分子基态的核间距变化很大, 则能带呈连续的谱带。
离子散射谱 (ISS)
离子中和谱 (INS)
离子 离子
离子激发X射 离子 线谱(IEXS)
同步辐射光电 子(SRPES) 角分解光电子 谱(ARPES) 光子 光子
光子
分析表面成分,研究秒边原子的电子结构,同 步辐射是理想的激发光源 分析表面成分,研究表面吸附原子的电子结构
电子 电子
9.3 观察表面形貌显微镜的特点和应用 9.3.1 透射电子显微镜
电子
离子