电子产品加速寿命试验研究

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电子产品温度加速寿命试验方案的分析

1 明确试验方案的具体目的在电子产品温度加速寿命试验中，主要目的就是明确产品的实际寿命情况，根据试验结果进行合理的研究与分析，开展管理工作，提升寿命管理工作效果。

对于寿命较长的产品而言，在温度试验的过程中，可实现合理的管理工作，开展合理的分析工作，在明确试验条件下具体情况之后，了解应力水平之下的寿命特点，开展正常应力水平之下的分析工作，以此形成良好的寿命管理工作模式。

对于电子产品而言，在实际试验的过程中，会受到应力方面与可靠性方面的因素影响，因此，需建设加速应力模型，开展温度类型、湿度类型与电场类型的试验工作，在试验期间了解具体的平衡性与寿命特征，了解无故障时间的平衡情况。

电子产品寿命试验，主要针对产品的应力情况与可靠性特点等进行严格分析，建立加速模型，例如：阿伦纽斯与逆幂率等模型，能够通过模型的支持，全面优化整体试验工作体系，了解当前电子产品的寿命特点与具体情况，提高整体试验工作的应用效果。

2 电子产品温度加速寿命试验概念与理论分析在电子产品温度加速寿命试验的过程中，需了解具体的概念与理论内容，实现合理的管理工作，了解当前产品寿命试验的内容与特点，全面提高整体工作效果。

■2.1 概念分析在加速寿命试验的过程中，需开展工程与统计假设等工作，合理试验物理失效等管理方式创建统计模型，了解正常情况下的具体情况，开展加速环境之下的信息转换管理工作，明确额定应力之下的具体产品特点，开展数值估计的管理工作，提升应力管理工作效果。

在实际工作中，应开展失效机制的管理工作，明确应力情况，筛选最佳的试验方式，提高管理工作效果。

管理工作，明确参数情况，提升整体管理工作效果，优化整体参数的管理模式。

在加速寿命方程建设过程中，需创建合理的管理体系，建设先进模型。

对于产品剩余寿命而言，在实际试验的过程中，应开展合理的假设工作，实现寿命数据的计算工作。

■2.3 加速寿命试验类型分析在加速寿命试验的过程中，应开展可靠性的试验工作，针对电子产品的寿命进行严格控制，筛选最佳的试验方法，创建合理的电子产品管理机制，提升加速寿命试验管理工作效果，满足当前的工作要求。

长寿命电子设备加速寿命试验技术研究

长寿命电子设备加速寿命试验技术研究
唐少波;王田宇;宋宇康;王家鑫;谢军;章华亮
【期刊名称】《环境技术》
【年(卷),期】2024(42)1
【摘要】针对工程实际中长寿命电子设备寿命评估困难的问题,基于派克(Peck)模型建立电子设备寿命消耗与温、湿度复合应力的物理化学关系,获得电子设备在加速试验应力下相对于正常工作环境下的加速因子,结合指数分布以及可靠性鉴定和验收试验理论,利用加速因子建立寿命消耗等效折算关系,计算电子设备加速寿命试验时间,通过提高经受的应力量级,刺激薄弱环节,提高试验效率,在较短的试验时间内验证了电子设备寿命满足研制的可靠性要求。

【总页数】4页(P6-8)
【作者】唐少波;王田宇;宋宇康;王家鑫;谢军;章华亮
【作者单位】国营长虹机械厂
【正文语种】中文
【中图分类】TB114.3
【相关文献】
1.长寿命航天器机构的加速寿命试验方法
2.加速寿命试验在弹载电子设备寿命试验中研究及应用
3.IEC 61373中模拟长寿命振动试验加速度比例系数计算方法分析
4.长寿命电气二次设备的加速试验方法
5.长寿命多任务段机载装备振动耐久试验加速方法研究
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电子元器件加速寿命试验方法的比较

电子元器件加速寿命试验方法的比较电子元器件作为现代电子技术的核心组成部分，其寿命和可靠性是电子产品质量的重要指标。

为了确保电子产品的质量和性能，必须对电子元器件进行加速寿命试验，以模拟元器件在长期使用过程中的老化和损耗，以及各种环境因素对元器件的影响，从而预测元器件的寿命和可靠性，为电子产品的研发和生产提供重要的依据。

本文将对常见的电子元器件加速寿命试验方法进行比较，并对其优缺点进行分析，以提供指导和参考。

一、温度循环试验法温度循环试验法是一种常用的电子元器件加速寿命试验方法。

该方法通过将电子元器件置于高温和低温交替的环境中，以模拟元器件在实际使用过程中遇到的温度变化，从而加速元器件老化和损耗。

优点：1. 温度循环试验法能够较好地模拟元器件在实际使用过程中的温度变化，具有较高的实用性和可靠性。

2. 该方法的试验条件比较容易控制和操作，试验设备的成本相对较低。

1. 该方法只能模拟元器件在温度变化环境下的老化和损耗，无法考虑其它因素对元器件寿命的影响。

2. 模拟的温度循环周期时间较长，需要较长的试验时间，导致试验成本较高。

二、加速老化试验法加速老化试验法是一种加速元器件老化和损耗的方法，可通过提高元器件的工作电压和温度来加速元器件的老化和损耗。

优点：1. 该方法能够较好地加速元器件老化和损耗，使试验时间得到缩短，试验效果较好。

2. 试验设备通常比较简单，成本不高。

缺点：1. 不同的元器件在加速老化过程中的变化速度和机理可能不同，需要根据具体元器件进行试验参数的选择和控制。

2. 加速老化试验法的试验结果可能受电压和温度的不均匀性等因素的影响。

三、湿热老化试验法湿热老化试验法是一种模拟元器件在潮湿环境下老化和损耗的方法，将元器件置于高温高湿环境中进行试验。

1. 湿热老化试验法能够较好地模拟元器件在潮湿环境中的老化和损耗，对某些元器件如电容器等的老化产生较大的影响。

2. 试验方法易于操作，试验设备的成本相对较低。

电子元器件加速寿命试验试验报告

试验报告1、引言加速寿命试验(Accelerated life test，ALT)是一种对受试品施加不同应力，从而快速暴露产品的缺陷，进而确定产品工作极限和破坏极限，以及发现并消除缺陷及潜在缺陷的试验程序，它利用阶梯应力方式施加在受试品上，施加在受试品上的应力有振动、高低温、湿度、电应力开关循环、极限电压及极限频率等。

ALT试验的主要目的是增加产品的设计极限值，迅速找出产品设计及制造的缺陷，通过根因分析并消除缺陷，从而增加产品可靠度并缩短研发时间和减少研发费用目前，加速寿命试验已在电子元器件研发制造中广泛应用。

所以加速寿命试验是在进行合理工程及统计假设的基础上,利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的信息进行转换,得到产品在额定应力水平下的特征可复现的数值估计的一种试验方法。

目前应用最广的加速寿命试验是恒加试验。

恒定应力加速度寿命试验方法已被IEC标准采用。

其中加速试验程序包括对样品周期测试的要求、热加速电耐久性测试的试验程序等，可操作性较强。

恒加方法造成的失效因素较为单一，准确度较高。

国外已经对不同材料的异质结双极晶体管（HBT）、CRT阴极射线管、赝式高电子迁移率晶体管开关（PHEMT switch）、多层陶瓷芯片电容等电子元器件做了相关研究。

恒加试验一般需要约1000 h，总共要取上百个样品，要求应力水平数不少于3个。

每个应力下的样品数不少于10个，特殊产品不少于5只。

每一应力下的样品数可相等或不等，高应力可以多安排一些样品。

步加试验只需1组样品，最好至少安排4个等级的应力，每级应力的失效数不少于3个，这样才能保证数据分析的合理性。

另外一种方法是步进应力加速寿命试验。

步加试验时，先对样品施加一接近正常值的应力，到达规定时间或失效数后，再将应力提高一级，重复刚才的试验，一般至少做三个应力级。

恒加试验已经成熟地应用于包括航空、机械、电子等多个领域。

步加试验往往作为恒定应力加速寿命试验的预备试验，用于确定器件承受应力的极大值。

电子产品整机高加速寿命试验技术应用分析

溪
厂厂一、
英研究显示 “ 神奇材料”石墨烯可自我修复
夫等人尝试让石墨烯薄层与金属不断接触．这个过程在石墨烯薄层上造成了许多孑洞研究人员用电子显微镜观察Ｌ这些孑洞发现．孔洞中可能会嵌入金属原子．但如果孔洞Ｌ
电子产品可靠性与环境试验
２２年０１
的激发与分析也是卓有成效的。
参考文献：
【１陈奇妙．国可靠性强化试验技术发展点评【质量与１美Ｊ】．
可靠性，１９，（）４４．９８４：４ — ７
பைடு நூலகம்
英国曼彻斯特大学科学家诺沃肖洛夫和同事因为在世界上最早制成石墨烯而荣获２１００年诺贝尔物理学奖．他所参与的一个研究小组在新一期英国《米通讯》杂志上报告了纳
本次最新的发现为了进一步探索石墨烯在电学方面的特性．诺沃肖洛
修复能力．这将可以提高石墨烯的应用价值．进一步拓宽这种 “ 奇材料 ”展示身手的舞台神（自千龙科技）摘
ＤＩＡＮＺ｜ＣＨＡＮＰＩＫＥＫＡＯＸｌＹＵＡＮＮＧＮＮＧＨＵＪＩＳＨＩＡＮＹ
周围还存在额外的碳原子．这些碳原子会将金属原子 “ ” 赶出来．自己嵌入孑洞之中．并与石墨烯薄层中原有的碳原Ｌ子相连接．使整个石墨烯薄层修复如初研究人员认为．这一现象说明石墨烯具有良好的自我

基于贝叶斯统计的汽车电子器件寿命分析

AUTO PARTS | 汽车零部件1　绪论随着汽车电气化乃至智能化的发展，汽车电子器件在车身各关键设备上的应用日渐广泛[1]。

汽车电子器件的工作状态、功能、寿命与汽车的正常行驶息息相关，若出现问题，轻则造成财产损失，重则造成人员伤亡。

因此，对汽车电子器件进行寿命分析，具有重大的实际意义。

1.1　加速寿命试验与加速模型为了快速地暴露产品的薄弱环节，在较高应力下以更短的试验时间推断正常应力下的寿命特征，常采取加速寿命试验（Life Accelerated Testing，ALT）。

即在失效机理不变的基础上，通过加速模型，利用加速应力水平下的寿命特征去外推评估正常应力水平下的寿命特征的试验技术。

加速寿命试验方法因其可缩短试验时间、提高试验效率、降低试验成本等优势已经被广泛应用于各类工程实际问题之中[2]。

为了能够利用ALT中搜集到的产品寿命信息外推产品在正常应力条件下的寿命特征，必须建立产品寿命特征与加速应力水平之间的关系，即加速模型。

常用的加速模型分为物理模型和统计模型，具体有阿伦尼斯模型、艾琳模型、广义艾琳模型、冲蚀磨损模型、逆幂律模型、Coﬃ n-Manson模型、Norris-Landzberg模型等[3]。

ALT的统计分析是通过估计寿命分布函数的参数和确定加速模型的参数，从而外推评估正常应力水平S0下的寿命特征。

1.2　贝叶斯理论在工程和实际试验中，对于待估计参数常常会有一定的现有经验和信息，为了利用好这一部分信息，同时通过新的数据对已有信息进行更新，则常用贝叶斯统计方法[4]进行统计推断。

()()()()f y pp ym yθθθ=()()()m y f y p dθθθ=∫p(θ|y)称为后验密度函数；p(θ)称为先验密度函数；m(y)是数据的边沿密度函数；f(y|θ)是数据的抽样密度函数。

由于汽车为批量生产的产品，因此其电子器件也具有相当多的历史信息，故采用基于贝叶斯统计ALT分析，能够更准确地评估汽车电子器件寿命，并对产品已有信息进行更新。

(电子产品)可靠性试验-高加速试验(HALT)简介

快温变、6轴向自由振动、复合振动
低温步进应力试验方法
试验起始温度为20℃ 以10℃为步长降温，直至找到样品的操作极限和破坏极限
每个温度点停留时间为10～15分钟试验中样品开机并进行功能测试
以上试验中的降温步长为建议值
高低温步进应力试验
高低温步进试验
低温步进试验故障
低温步进试验故障
元器件故障电路设计因素样品之间有非常大的极限差异元器件不良
综合应参数；
温度试验中配合步进的振动参数
试验中样品开机并进行功能测试
以上试验参数为建议值
综合应力试验方法
综合应力试验
综合应力试验故障
综合应力试验故障
前期试验中的故障在综合应力试验中都有出现的可能。
综合应力试验中，前期试验中的故障在综合应力试验中都有出现的可能。
（电子产品）可靠性试验
高加速试验（HALT）
不同阶段可靠性工作对成本的影响差异巨大
问题发现越早，所需成本越少
高加速试验
HALT 高加速寿命试验 -High Accelerated Life Test
HASS 高加速应力筛选 -High Accelerated Stress Screen
HASA 高加速应力抽选 -High Accelerated Stress Audit
HALT中需要注意的问题
注意样品与台面的隔热和风管的摆放
试验样品温变速率越快，试验效果越好
HALT中需要注意的问题
振动传感器位置
由于HALT台面的振动缺陷，传感器应尽量靠近试验样品
HALT中需要注意的问题
对感兴趣位置的振动检测
HALT试验中，对感兴趣位置试验信息的采集很重要
HALT中需要注意的问题

电子设备寿命设计与加速试验方法的研究

电子设备寿命设计与加速试验方法的研究第一章电子设备寿命设计概述随着电子技术的发展，电子设备已经成为人们生活和工作中必不可少的组成部分。

然而，随着使用时间的增长，电子设备往往会出现故障，甚至失效。

因此，电子设备的寿命设计变得越来越重要。

正确的寿命设计可以保证电子设备稳定运行，减少故障出现的频率，提高电子设备的可靠性。

第二章电子设备寿命设计方法针对不同类型的电子设备，需要采用不同的寿命设计方法。

一般来说，电子设备寿命设计可以从以下几个方面考虑：1. 确定寿命指标：即确定电子设备使用寿命的重要指标，例如：可靠性、使用寿命、失效率等。

2. 确定失效机理：对于不同的电子设备，往往存在不同的失效机理。

例如，集成电路器件的失效机理可能是老化、损坏、电热迁移等。

对失效机理的研究，可以帮助设计合理的寿命测试方案。

3. 寿命试验：寿命试验是测试电子设备在不同的使用条件下的失效情况。

通过寿命试验，可以确定电子设备的使用寿命，制定更加合理的寿命设计方案。

4. 寿命预测：在设计阶段，可以通过采用可靠性工程的方法，预测电子设备的寿命。

第三章加速试验方法电子设备的寿命试验需要耗费大量的时间和资源，而相比之下，加速试验则是一种更加高效的方法。

加速试验的基本思想是用更严酷的条件来模拟实际使用条件，使电子设备更快地出现失效情况，从而确定电子设备的使用寿命。

1. 试验设计：在进行加速试验前，需要设计合理的试验方案。

试验方案应当包括试验温度、湿度等环境要素以及试验时间和试样数目等。

2. 试验环境：在加速试验中，应当选取能够给电子设备带来最大威胁的环境进行试验。

同时，也需要对试验环境做好监控和控制，以确保试验数据的准确性。

3. 试验设备：直接使用实际生产的电子设备进行加速试验可能会造成巨大的成本和时间浪费。

因此，需要建立一套适合加速试验的设备，以模拟实际使用条件下的不同环境。

第四章生产实践在生产实践中，需要将寿命设计和加速试验方法结合起来，进一步提高电子设备的可靠性。

弹上电子产品加速寿命试验设计与应用

弹上电子产品加速寿命试验设计与应用提纲：第一章：引言1.1 研究背景和意义1.2 研究目的和意义1.3 国内外研究现状第二章：弹上电子产品加速寿命试验的原理2.1 弹上电子产品加速寿命试验的概念2.2 加速寿命试验的原理2.3 测试环境的选择与搭建第三章：试验设计和实施3.1 弹上电子产品加速寿命测试数据的选择与采集3.2 设计加速寿命试验的方案3.3 试验的实施过程第四章：数据处理与分析4.1 分析加速寿命试验的数据4.2 使用统计方法分析试验结果4.3 制定产品改进方案第五章：结论与展望5.1 结论5.2 存在的问题与展望5.3 相关工作的可行性探讨参考文献第一章：引言随着科学技术的不断发展和市场需求的不断增加，电子产品的种类越来越多，市场的竞争也越来越激烈。

考虑到消费者使用电子产品的需求和产品演进的速度，电子产品的寿命问题成为一个持续引起人们关注的问题。

电子产品的寿命问题主要表现为磨损、老化、材料劣化、机械故障和电气故障。

因此，为了提高电子产品的可靠性和寿命，电子产品的寿命评估问题非常重要。

弹上电子产品加速寿命试验是一种模拟电子产品使用过程而加速产品老化和寿命的试验方法。

它能够在短时间内提供真实且有效的数据，是电子产品研究和开发的重要手段。

通过弹上电子产品加速寿命试验及其结果分析，可了解产品老化机理和性能退化规律，为电子产品寿命预测、制造、改进提供技术支持和理论依据。

本文旨在介绍弹上电子产品加速寿命试验的原理、试验设计与实施、数据处理及分析，并结合实际的案例对弹上电子产品加速寿命试验的应用进行探讨，为电子产品寿命评估和可靠性提升研究提供参考。

本文的具体目标如下：1.介绍弹上电子产品加速寿命试验的原理与定义，阐述其在电子产品寿命评估和可靠性提升中的重要性。

2.介绍加速寿命试验的基本原理，包括环境、条件、样品的选取等方面的内容。

3.阐述试验设计和执行的具体步骤，包括数据采集、方案设计、实施流程等方面的内容。

弹上电子产品加速寿命试验设计与应用

总第２２４期２０１ｅｃｔｒｏｎｉｃＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ
Ｖｏ１．３３Ｎｏ．２
９９
弹上电子产品加速寿命试验设计与应用
文建国郭桂友
ｓｉｌｅ．Ｉｎｏｒｄｅｒｔｏｓｈｏｒｔｅｎｔｅｓｔｉｎｇｔｉｍｅａｎｄｅｖａｌｕａｔｅｉｔｓｌｉｒｅ，ｔｈｅｍｅａｎｓｏｆａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄｌｉｆｅｔｅｓｔｉｓａｄｖａｎｃｅｄ．Ｔｈｅｔｅｓｔｓｃｈｅｍｅｉｓｄｅｓｉｇｎｅｄｂｙｔｈｅｗａｙｏｆａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄｌｉｒｅｔｏｓｉｍｕｌａｔｅｄｉｆｆｅｒｅｎｔｅｎｖｉｒｏｍｅｎｔａ１ｓｔｒｅｓｓ．Ｔｈｅｉｄｅａｏｆｔｅｓｔｃａｎａｌｓｏｂｅａｐｐｌｉｅｄｔｏｄｅｓｉｇｎａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄｍｉｓｓｉｌｅｌｉｆｅｔｅｓｔｕｎ — ｄｅｒｄｉｆｆｅｒｅｎｔｅｎｖｉｒｏｍｅｎｔａｌｓｔｒｅｓｓ．ＫｅｙＷｏｒｄｓｍｉｓｓｉｌｅ，ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｐｒｏｄｕｃｔｓ，ａｃｃｅｌｅｒａｔｅｄｌｉｒｅｔｅｓｔ，ｅｎｖｉｒｏｍｅｎｔａｌｓｔｒｅｓｓＣｌａｓｓＮｕｍｂｅｒＶ５１２

电子产品整机高加速寿命试验（HALT）技术应用

电子产品整机高加速寿命试验（HALT）技术应用罗晓武【摘要】高加速寿命试验(HALT)起源于上世纪80年代末期的美国，经过20多年的不断研究和发展，现已成为美国和西方发达国家进行产品设计质量验证与产品制造质量验证的一个最基本的也是必须执行的验证方法。

这项旨在提高电子产品质量可靠性的试验技术在2005年后随着外资企业在国内使用和带动下而逐渐为国内一些知名的电子产品生产企业所熟悉和接受，而如何有效地运用 HALT 试验技术来达到提高自身电子产品质量的目的，是广大电子产品生产企业所最关心的问题。

在这样的背景下，本文对高加速寿命试验(HALT)方法技术应用进行了初步探析。

【期刊名称】《科技传播》【年(卷),期】2013(000)002【总页数】2页(P210-211)【关键词】电子产品;HALT;试验可靠性应用【作者】罗晓武【作者单位】国家电子计算机外部设备质量监督检验中心，浙江杭州 310012【正文语种】中文【中图分类】TP391 HALT 技术介绍HALT 的工作原理是按照一定的规范程序对产品逐渐的施加应力，直到产品应力超过了其承受极限从而暴露出相应的故障。

HALT 主要是运用故障物理学来作为一种激发出产品故障的模式，它是将产品在超过了其承受的应力极限时失效作为主要的研究对象，从而找出它的缺陷来对产品进行相应的整改，提高产品的质量。

另外在进行HALT 实验时，还可以还可以对产品进行测试，从而提高产品的测试性2 HALT 的原理特点2.1 HALT 技术原理HALT 技术主要原理是通过步进（或叫阶梯）增加应力的方式来找出或者说确定所设计产品的“工作极限”和“破坏极限”，这里所说的应力包括环境应力（如高低温、振动、温度循环以及温度和振动综合）和工作应力（如电源通断、电压拉偏、非正常负荷以及电压和频率边际测试等）。

如上图所示，产品的工作极限指的是在HALT 加速试验中，施加的环境应力远远超过了该产品能承受的最大应力，从而使产品发生了故障，不能进行正常的工作，但是一旦将实验停止环境应力恢复到标准值以后，产品又能进行正常工作的情况。

可靠性加速寿命试验综述

可靠性加速寿命试验综述吴松,吕晶晶,李小康(芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司,安徽芜湖241000)摘要:首先,简述了加速寿命试验模型的发展历程,基于现有中外文数据库及书刊提取了有效信息;然后,阐述了几种加速寿命的基本类型,并给出几种常用的加速寿命模型、加速因子和加速因子的计算公式,揭示了加速寿命试验的基本研究方法;最后,指出在缩短设计周期、提高可靠性和降低成本的前提下,加速寿命试验将成为一种新的趋势。

关键词:可靠性;加速寿命试验;加速模型;加速因子;加速寿命中图分类号:TB 114.3文献标志码:A文章编号:1672-5468(2021)01-0094-07doi:10.3969/j.issn.1672-5468.2021.01.020Review of Reliability Accelerated Life TestWU Song ,LV Jingjing ,LI Xiaokang(Wuhu CEPREI IT Research Institute Co.,Ltd.,Wuhu 241000,China )Abstract :First ,the development of accelerated life test model is briefly described ,andeffective information is extracted based on existing Chinese and foreign language databases and books.Then ,several basic types of accelerated life are described ,and several commonly used accelerated life models ,acceleration factors and calculation formulas of acceleration factors are given ,and the basic research methods of accelerated life test are revealed.Finally ,it is pointed out that under the premise of shortening the design cycle ,improving reliability and reducing costs ,accelerated life testing will become a new trend.Keywords :reliability ;accelerated life testing ;acceleration model ;acceleration factor ;acceler ⁃ated life收稿日期:2020-03-09修回日期:2020-03-12作者简介:吴松(1988-),男,安徽安庆人,芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司工程师,在职硕士研究生,主要从事电子产品可靠性试验与环境试验方面的研究工作。

加速寿命试验及其在电子产品上的应用

1 引言
加速寿命试验是电子元器件可靠性试验中的一项重要的试验手段，对于可靠性水平较高的产品按照恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案进行寿命评价需要很长的试验周期和大量的试验样品，试验成本相对较高。加速寿命试验是一种可在短时间内获得产品失效率数据的方法，它要求了解在正常应力下的主要失效机理与失效模式、环境应力水平与产品寿命特征的关系，一旦求得这种关系，即可确定有关应用环境的失效率估计值。加速寿命试验可以有效获得零件、部件或系统的失效率，可以减少测定低失效率产品寿命试验时间，是一种十分有效的寿命试验方法[1-2]。
t=[M2M1)/A0]exp(E/kT)
(公式2)
当退化量M2达到某个值Mp时，则认为该器件失效，
而影响到由产品构成设备的性能参数或工作。这时的时间
差(t2-t1)就是产品从t1开始延续的寿命L。即
ln L = ln M p − M1 + ∆E
A0
kT
(公式3)
令A=ln[(Mp-M1)/A0]，B=E/k，得lnL=A+(B/T)。式
序进应力加速寿命试验将试样从低应力开始试验，应力水平试验时间等速升高，直到一定数量的失效发生或者到了应力水平的极限为止。
基金项目：2017年工业转型升级（中国制造2025）资金（部门预算）—智能家电及高端消费类电子产品可靠性设计技术推广应用项目（项目中标编号：TC170A5UG/2）
68 │SMART FACTORY│智慧工厂
│
《智慧工厂》Smart factory February 2018
67
加速寿命试验及其在电子产品上的应用
Accelerated Life Testing and Application in Electronic Products

电工电子产品加速寿命试验.doc

电工电子产品加速寿命试验之一1概述寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。

但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。

因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。

因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。

加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。

然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。

加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。

该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。

2 常见的物理模型元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。

2.1失效率模型失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。

该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。

2.1 失效率模型图示：O1典型的失效率曲线规定的失效率随机失效早期失效磨损失效t2.2应力与强度模型该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。

应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。

随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。

因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。

2.3最弱链条模型最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。

该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。

电子元器件加速寿命试验方法的比较

式中：Ｆ０为累计失效概率；ｔ（Ｆ０）为产品达到某一累计失效概率Ｆ（ｔ）所用的时间。算出ｂ后，则Ｅ＝ｂｋ／１ｇｅ＝２．３０３ｂｋ a = 1gt2 ( F0 基础的反映器件寿命与绝对温度Ｔ之间的关系式，是以温度Ｔ为加速变量的加速方程，它是元器件可靠性预测的基础。
表２步进应力测试条件
应力台阶＃１＃２＃３＃４环境温度／℃ １５０１７５２００２２５沟道温度／℃ １８０２０６２３２２５８应力间隔／ｈ４０７０７０７０受试器件数２０１９１７１７＃５＃６２５０２７０２８４３０５７０７０１７１６
。
下面仅对ＧａＡｓＰＨＥＭＴ进行介绍，ＩｎＰＰＨＥＭＴ同前。对于ＧａＡｓＰＨＥＭＴＭＭＩＣ共抽取试验样品８４只，分为三组，每组２８只，环境温度分别为Ｔ１＝２５５ ℃，Ｔ２＝２７０ ℃，Ｔ３＝２８５ ℃，所有参数均在室温下测量。失效判据为４４ＧＨｚ时，｜ΔＳ２１｜＞１．０ｄＢ。三个组的试验结果如表１所示，试验数据服从对数正态分布。表中累计失效百分比、中位寿命、对数标准差（ σ ）均由试验数据求得。其中累计失效百分比＝每组失效数／（每组样品总数＋１）；中位寿命为失效率为５０％时的寿命，可在对数正态概率纸上画寿命－累计失效百分比图得出：σ ≈ ｌｇｔ（０．８４）－ｌｇｔ（０．５）。由表１根据恒定应力加速寿命试验结果使用Ｏｒｉｇｉｎ软件可画出图１。图中直线是根据已知的三个数据点用最小２乘法拟合而成，表示成ｙ＝ａ＋ｂｘ。经计算ｙ＝－１２．４１４＋８．８３５５ｘ，
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