标准加入法

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在上一讲“工作曲线法测定水中镁”的注意事项中有一项为“标准 溶液与试液的基体应相似,以消除基体效应”。如何做到相似呢?
干扰及分类
干扰:在原子吸收测定中受一些化学或物理因素的影响使得测定结果 偏高或偏低的 现象。
分类 原子吸收光谱法的干扰分为: ➢物理干扰; ➢化学干扰; ➢电离干扰; ➢光谱干扰。
标准加入法定量
按照下表中所示配制标准加入系列溶液,并测量吸光度。
容量瓶编号
加入试样体积 V1/mL 加入ρ=100µg/mL 铜标液的体积/mL
1 25.00
0.00
2 25.00
0.50
3 25.00
1.00
4 25.00
1.50
定容体积/mL
50.00
50.00 50.00 50.00
A4 A3 Biblioteka Baidu2 A1 Ax
Cx 0 C0 2C0 3C0 4C0 增入量 C
曲线延长线与浓度轴的交点CX即为试样的浓度。
特点及适用范围
标准加入法将样品与标准混合后测定吸光度,达到了标准与样品 基体的相似,因此消除了基体干扰,但是它不能消除背景干扰, 消除背景干扰需采用背景校正技术。
标准加入法每测定一个样品需要制作一条工作曲线,不适合大批 量样品的测定。适合于基体复杂的少量样品的测定。
单元技能训练
标准加入法测定水中微量铜
课程任务
职业关键能力 :掌握其它不同元素、不同样品标准加入法测定的操作方 法。
知识目标 :掌握原子吸收测定标准准加入系列溶液的配制方法;标准加入 法定量特点、原理、结果计算、使用范围、操作注意事项。
专门技能 :标准加入系列溶液的配制操作;标准加入法仪器条件的设置; 标准加入法工作曲线的绘制、实验数据记录、结果计算。
产生原因:光谱干扰是由于分析元素吸收线与其他吸收线或辐射不 能完全分开而产生的干扰。
光谱干扰包括谱线干扰(吸收线重叠;光谱通带内存在的非吸收线) 和背景干扰两种。
消除方法: ➢ 吸收线重叠 -另选其他无干扰的分析线进行测定或预先分离干 扰元素。 ➢ 光谱通带内存在的非吸收线 -减小狭缝 或适当减小灯电流。 ➢ 原子化器内直流发射干扰-光源进行机械调制,或者是对空心 极灯采用脉冲供电。 ➢ 背景干扰 -用氘灯校正背景。
设疑
原子吸收标准加入法适用于样品基体复杂,存在基体干扰的情况。 我们如何判断样品中是否存在干扰?请同学们自己查找有关资料 找出答案。
素质目标:提高分析结果准确度;培养学生精益求精的学习态度;培养学 生对工作过程和产品质量的自我控制和管理能力;培养学生对所做实验结 果进行自我评价的能力;培养学生团队合作与竞争的能力 。
问题
原子吸收测定的特点:干扰小,选择性好,但是对一些复杂基体还 是存在干扰,什么是干扰?如何消除呢?
电离干扰及消除
产生原因:在高温下,原子电离成离子,而使基态原子数目减少,导 致测定结果偏低,此种干扰称电离干扰。
电离干扰主要发生在电离势较低的碱金属和部分碱土金属中。 消除方法:消除电离干扰最有效的方法是在试液中加入过量比待测元
素电离电位低的其他元素(通常为碱金属元素)。
光谱干扰及消除
结果计算
水试样中铜含量
Cu) c V0
V1
式中: ➢ ρ(Cu):水样中铜含量,μg/mL;
➢ C :标准加入曲线与浓度轴交点,μg/mL; ➢ V0:样品溶液定容体积,50mL; ➢ V1:取样量,25mL。
小结
标准加入法注意事项 ➢ 相应的标准曲线应是一条通过原点的直线,待测组分的浓度应在 此线性范围之内。 ➢ 第二份中加入的标准溶液的浓度与试样的浓度应当接近,以免曲 线的斜率过大或过小,使测定误差较大。 ➢ 为了保证能得到较为准确的外推结果,至少应采用四个点来制作 外推曲线。
铜浓度的增量 C(Cu)/µgmL-1 吸光度A
0.00 Ax
1.00 A1
2.00 A2
3.00 A3
注意:这里使用(2+100)的硝酸定容,目的是避免铜的水解,使 其稳定 (动画M2-4-5.swf 以AA320型为例)
标准加入法定量(续)
测量溶液的吸光度,绘制A-C标准加入工作曲线。
学生实验
按照前面表中的数据配制溶液。 打开原子吸收分光光度计,安装铜空心阴极灯,设定仪器条件:
➢测量波长 :324.8nm; ➢光谱带宽:0.4nm; ➢空心阴极灯电流:3mA; ➢乙炔流量 :2000mL/min; ➢燃烧器高度:6mm。 实验方法中选择标准加入法。 点火预热20min。 测量溶液吸光度,绘制工作曲线,由曲线延长线与浓度轴的交 点查得试样浓度。
物理干扰及消除
产生原因:由于溶液的物理性质(如粘度、表面张力、密度和蒸气压 等)的变化而引起原子吸收强度下降的效应。
物理干扰是非选择性干扰,对试样各元素的影响基本相同。 物理干扰主要发生在试液抽吸过程、雾化过程和蒸发过程。 消除方法:消除物理干扰的主要方法是配制与被测试样相似组成的标
准溶液。
化学干扰及消除
产生原因:由于在样品处理及原子化过程中,待测元素的原子与干扰物 质组分发生化学反应,形成更稳定的化合物,从而影响待测元素化合物 的解离及其原子化,致使火焰中基态原子数目减少,而产生的干扰。
化学干扰是一种选择性干扰。 消除方法:
➢ 使用高温火焰(氧化亚氮/乙炔火焰),使化合物在较高温度下解离; ➢ 加入释放剂(镧盐);(动画m2-4-3.swf) ➢ 加入保护剂(EDTA); ➢ 化学分离干扰物质; ➢ 加入基体改进剂(用于电热原子化法)。
影响测定准确度的因素:溶液的配制;仪器条件的设置;操作的误 差;周围环境的影响(如空气对流,电压的波动,机械振动等)
拓展与引申
若水样中铜的含量很高,超出了工作曲线的线性范围,这时如何 利用标准加入法定量?
解决办法:1.稀释样品使铜含量在线性范围之内。2.减少标准溶 液的加入量。
标准加入法在一定程度内消除了基体干扰,但是标准加入法不是 万能的法宝,当干扰严重时标准加入法定量存在较大的误差,这 时需要找出干扰原因进行消除。另外一些非线性干扰也只能采用 其他方法消除。
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