实验十七、移位寄存器74164的逻辑功能测试

实验十七、移位寄存器74164的逻辑功能测

试

一、实验目的

1、掌握中规模8位移位寄存器逻辑功能。

2、认识74LS164及其引脚封装。

二、实验预习要求

1、复习有关寄存器的内容。

2、查阅74LS164及逻辑电路，熟悉其逻辑功能及引脚排

列。

三、实验设备

1、+5V直流电源

2、单次脉冲源

3、逻辑电平开关

4、DM74LS164

四、实验原理

1、移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中锁存的代码能够在移位脉冲的作用下一次左移和右移。既能左移又能右移称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号可实现双向移位要求。根据移位寄存器取存信息的方式不同分为：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。

本实验选用的8位移位寄存器，型号可为74LS164，其逻辑符号及引脚排列如图所示。

其中A、B为串行输入端；

CLR为异步清零端；

QH—QA为输入端；

CLK为移位脉冲输入端；

74164是一种串行输入、并行输出的器件，时钟高电平有效，没有时钟使能端，该器件用低电平复位

图1 74LS164的逻辑符号及引脚功能表其中QAO、QBO、QHO为在暂稳态输入条件建立之前QA、QB和QH相应的电平；QAN、QGN为在最近的时钟上升沿转换前QA或QG的电平，表示移一位。

移位寄存器应用很广，可构成移位寄存器型计数器；属虚脉冲发生器；串行累加器；可用作数据转换，即把串行数据转换位并行数据，或把并行数据转换位串行数据等。

五、实验内容

1、测试74LS164的逻辑功能

按图所示接线，A、B、CLK分别接至逻辑电平显示输入端。QA—QH分别接至逻辑电平显示输出端。14脚接+5V电源、7脚接地。

（1）清除：令CLR=0,其它输入均为任意态，这时寄存器输出QA—QH应均为0。清除后，置

CLR=1。

（2）置数：令CLR=1，送入任意2位二进制数，加CLK脉冲，CLK由0→1、CLK由1→0两种

情况下寄存器输入状态的变化，观察寄存器输

出状态变化是否发生在CLK脉冲的上升沿。

附：

实验报告

一、实验步骤

1、按图1的引脚功能表接好电路。

2、按如下步骤测试功能：

（1）异步清零功能：当=0时，这时Q3Q2Q1Q0=0000，双向移位寄存器清零。其它输入信号都不起作用，与CP无关，故称为异步清零。

（2）保持功能：当=1，且CP=0或M1 =M2=0时，双向移位寄存器保持状态不变。

（3）同步并行送数功能：当=1，M1 =M2=1时，在CP上升沿操作下，并行输入数据d3 d2 d1 d0送入寄存器。

（4）右移串行送数功能：当=1，M1 =0、M2=1时，在CP上升沿操作下，可依次把加在端的数据从时钟触发器行送入寄存器中。

（5）左移串行送数功能：当=1，M1 =1、M2=0时，在CP上升沿操作下，可依次把加在DS L端的数据从时钟触发器串行送入寄存器中。

二、实验结果

根据实验可得到如下状态图：

三、实验注意事项

1、按图接好电路；

2、接电源时注意电源和地之间不要短接；

3、注意各个控制端不要接反了或接错了；

4、在检查电路没有问题后，再接通电源。

四、实验小结

通过本实验，让我进步的了解了74LS164的功能，为以后的使用提供了基础。

实验人：陈俊先