TEM样品的制备

二、主要制备方法及其特点
常见透射电镜样品制备方法包括 支持膜法 薄膜制备法 复型法 超薄切片法
有机高分子材料必要时还要:
染色
刻蚀
1、支持膜法
粉末试样和胶凝物质水化浆体多采用 此法。一般做法是将试样载在一层支持膜 上或包在薄膜中，该薄膜再用铜网承载。

支持膜的作用是支撑粉末等试样 铜网的作用是加强支持膜。 常用的铜网直径为3mm，孔径约有数十μm
染色的目的就是让被分析样品结合上一些
重金属，以增加其反射电子的能力，使样品成 像的衬度变大，最终获得高质量的电镜照片。
蚀刻的目的在于通过选择性的化学、物理
作用，加大上述聚合物试样表面的起伏程度。 常用方法的有化学试剂蚀刻和离子蚀刻。
“薄块”，一般用砂轮片、金属丝锯(以酸液或
磨料液体循环浸润)或电火花切割等方法；
第二步，利用机械研磨、化学抛光或电解抛光
把“薄块”减薄成0.1mm的“薄片”。最后才用
上述的电解抛光和离子轰击等技术将“薄片” 制成厚度小于500nm的薄膜。
薄膜样品的制备比支持膜法和复型法复杂和
困难得多。之所以采用如此繁杂的制备过程，
支持膜上的粉末试样要求高度分散，可根 据不同情况选用如下分散方法：
1) 包藏法：将适量微粒试样加入制造支持膜的有 机溶液中，使之分散，再制成支持膜。 2) 撒布法：干燥分散的微粒试样可以直接撒在支 持膜表面，然后用手轻轻叩击，或用超声波仪进行 处理，去掉多余的微粒，剩下的就分散在支持膜上。 3) 悬浮法：以蒸馏水或有机剂作为悬浮剂，样品 制成悬浮液后滴在支持膜上，干后即成。不能使用 对试样或支持膜有溶解性的溶剂。
在材料研究中，复型法常用以下几种：
(1) 塑料一级复型 (2) 碳一级复型
(3) 塑料-碳二级复型
(4) 萃取复型
(1) 塑料一级复型
样品上滴浓度为1%的火棉
胶醋酸戍酯溶液或醋酸纤维 素丙酮溶液，溶液在样品表 面展平，多余的用滤纸吸掉， 溶剂蒸发后样品表面留下一 层100nm左右的塑料薄膜。
分解法（减薄法）分五种：
（1）化学腐蚀法 在合适的浸蚀下均匀薄化晶体片获得薄膜。这只
适用于单晶。
（2）电解抛光法
选择合适的电解液及相应的抛光制度均匀薄化晶
体片，然后在晶体片穿孔周围获得薄膜。这个方法是 薄化金属的常用方法。
（3） 喷射电解抛光
将电解液利用机械喷射方法喷到试样上将其薄化
成薄膜。这种方法所获得的薄膜与大块样品组织、结
凡用悬浮法在干燥过程中易产生凝聚的粉粒试 样，也可用特制的喷雾器将悬浮液喷成极细的雾粒， 粘附在支持膜上。
a
A-白垩颗粒；
b
B-聚苯乙烯塑料球
支持膜法透射电镜图像
2.复型法
在电镜中易起变化的样品和难以制成薄
膜的试样采用此方法。 用对电子束透明的薄膜（碳、塑料、氧 化物薄膜）把材料表面或断口的形貌复 制下来的一种间接样品制备方法。 复型材料和支持膜材料完全相同。 表面显微组织浮雕的复型膜，只能进行 形貌观察和研究，不能研究试样的成分 分布和内部结构。
碳一级复型与塑料一级复型比较：
1）碳膜的厚度基本相同，而塑料膜的上 表面基本是平面，膜的厚度随试样位置不同 而异； 2）塑料复型不破坏样品，而碳复型样品 受到破坏； 3）碳复型的分辨率比塑料复型高； 4）塑料复型相比碳复型简便。
（3）塑料-碳二级复型
用醋酸纤维膜（一般称为AC纸） 进行一次复型，然后进行二次碳 复型，把一次复型溶去，得第 二次复型,就称为塑料-碳二级复型。
样制备技术。
能否充分发挥电镜的作用，样品的制备是关键，
必须根据不同仪器的要求和试样的特征选择适 当的制备方法。
电子束穿透固体样品的能力，主要取决于加速
电压V和样品物质的原子序数Z。一般V越高， Z越低，电子束可以穿透的样品厚度越大。 比如对于透射电镜常用的50~100kV电子束 来说，样品的厚度控制在100~200 nm为宜。
目的全在于尽量避免或减少减薄过程引起的组
织结构变化，所以应力求不用或少用机械方法。
只有确保在最终减薄时能够完全去除这种损伤
层的条件下才可使用(研究表明，即使是最细致
的机械研磨，应变损伤层的深度也达数十微米)。
（5）超薄切片法
用超薄切片机可获得50nm左右的薄样品。 主要用于生物试样的薄片制备和比较软的无机材料 研究大块聚合物样品的内部结构，可采用超薄切片 法制样 通常的聚合物是由轻元素组成。因此反射电子能力 差，图像衬度小，由超薄切片得到的试样还不能直 接用透射电镜观察，还需要用染色或蚀刻的方法来 提高成像的质量
样品制备
要求：
(1)供TEM分析的样品必须对电子束是透明的，通
常样品观察区域的厚度以控制在50~300nm之间。
(2)所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分
析材料的某些特征。因此，样品制备时不可影响这
些特征，如已产生影响则必须知道影响的方式和程
度。
TEM应用的深度和广度一定程度上取决于试
构相同，但设备较为复杂。 （4） 离子轰击法 此法利用适当能量的离子束，轰击晶体，均匀地 打出晶体原子而得到薄膜。离子轰击装置仪器复杂， 薄化时间长。但这是薄化无机非金属材料和非导体矿 物唯一有效的方法。
上述几种方法都要先将样品预先减薄，一般
需经历以下二个步骤：
第一步，从大块试样上切取厚度小于0.5mm的
分布状态，并可通过电子衍射确定物相。 兼顾了复型膜和薄膜的优点。这种复型 分辨率跟塑料复型差不多，也能达到 10nm.
3、薄膜制备法
以上我们介绍的复型法，分辨能力比 较低，因此，不能充分发挥投射电镜高分 辨率(0.2~0.3nm)的效能。因此，发展了薄 膜样品的制备方法。
在金属研究方面，其发展尤为迅速； 目前在陶瓷等硅酸盐材料学（甚至包括水 泥熟料）以及岩矿石方面也有所进展。
支持膜材料必须具备的条件：
① 本身没有结构，对电子束的吸收不大，以免
影响对试样结构的观察；
② 颗粒度小，以提高样品分辨率；
③ 有一定的力学强度和刚度，能承受电子束的 照射而不变形、破裂。
常用的支持膜（复型）材料有：
火棉胶、聚乙酸甲基乙烯酯、碳、氧化铝等
上述材料除了单独能做支持膜材料外，还 可以在火棉胶等塑料支持膜上再镀上一层碳膜， 以提高其强度和耐热性。镀碳后的支持膜称为 加强膜。
样品
特点： 可以用于金相组织的分析，其图像与金相 显微组织有极好的对应性； 制备简便，对分析直径为 20nm 左右的细节 比较清晰； 只能做表面比较平整样品的分析，不适合 表面起伏较大的样品； 分辨率低（ 10 － 20nm ），电子束照射下易 分解和破裂。
（2）碳一级复型
样品放入真空镀膜装置中，
将碳棒以垂直方向，向样品 表面蒸镀一层厚度为10~20nm 的碳膜(其厚度通过洁白瓷片变 为浅棕色来控制)。然后针尖或 小刀将碳膜划成略小于电镜铜网 的小块，最后把样品放入配好的 分离液中进行电解或化学分离。
特点：碳粒子小，分辨率达2nm；膜厚度均匀；
导电、导热性能较好；但相对较为复杂，抛离 较难，样品易遭到破坏。
块状材料多采用此方法。 通过减薄制成对电子束透明的薄膜样品。 薄膜样品制备方法要求：
（1）不引起材料组织的变化； （2）足够薄，否则将引起薄膜内不同层次图象的重迭， 干扰分析； （3）薄膜应具有一定的强度，具有较大面积的透明区 域； （4）制备过程应易于控制，有一定的重复性，可靠性。
薄膜样品制备有许多方法，如沉淀法、塑性变形 法和分解法等，这边简单介绍分解法。
TEM样品的制备
组员：XXX
源自文库
一、引言 二、主要制备方法及其特点
1.支持膜法
2.复型法 3.薄膜制备法
一、引言
透射电镜的制样目的
制样目的：就是要使样品做的很薄，以
利于电子束的穿过。
制样方法：可以是粉碎；切片；研磨；
减薄；分散，以及复型或染色等等。
制样使用的设备有：超薄切片机；真空
镀膜机；离子减薄仪等等。
塑料-碳二级复型的特点：

1） 制样简便；
2）不破坏试样表面 3）中间复型为塑料（较厚）较易剥离
二级复型照片
（4）萃取复型（也称抽取复型）
这是在三种复型基础上发展起来的唯一
能提供试样本身信息的复型。
用碳薄膜把经过深度侵蚀（溶去部分基
体）试样表面的第二相粒子黏附下来。
特点：既复制表面形貌，又保持第二相
4) 糊状法：
用少量的悬浮剂和分散剂与微粒试样调成糊状， 涂在金属网的支持膜上，然后浸入悬浮液中或用悬 浮液冲洗，则残留在支持膜上的试样就达到均匀分 散的目的。 用凡士林作微粒分散剂，用苯荼溶去凡士林， 也可得到良好的效果。对于在干燥、湿润状态易结 团的微粒试样、油脂物质内的固体成分，可用此法。
5) 喷雾法