NAND FLASH在储存测试中的应用
305-4+汽车用nandflash存储芯片技术要求及试验方法
305-4+汽车用nandflash存储芯片技术要求及试验方法1. 引言1.1 概述本文旨在研究和探讨305-4+汽车用nandflash存储芯片技术要求及试验方法。
现如今，随着汽车行业的飞速发展，车辆电子设备越来越普及，对存储芯片的要求也变得越来越高。
汽车用nandflash存储芯片作为一种常见的非易失性存储器件，在汽车电子领域具有广泛应用前景。
1.2 文章结构文章主要分为四个部分：引言、305-4+汽车用nandflash存储芯片技术要求、305-4+汽车用nandflash存储芯片试验方法以及结论。
在引言部分，我们将阐述本文的概述、目的和文章结构，为读者提供一个清晰的框架。
1.3 目的本文旨在明确305-4+汽车用nandflash存储芯片技术要求，并提出相应的试验方法。
通过对存储容量、数据读取速度和数据可靠性等方面进行研究和测试，能够为汽车厂商和相关领域提供更好的参考和指导。
另外，我们还将展望未来发展方向，探讨可能的技术创新和提升空间。
以上就是本文引言部分的内容，希望能对您的撰写提供一些参考。
如有需要，请继续咨询其他部分的写作内容。
2. 305-4+汽车用nandflash存储芯片技术要求：2.1 存储容量要求：随着汽车电子系统的不断发展，对于存储容量的需求也越来越大。
因此，305-4+汽车用nandflash存储芯片需要具备较大的存储容量，以满足各类数据的存储需求，包括操作系统、应用程序、驱动程序和用户数据等。
该芯片应能提供高达数百GB甚至TB级别的存储空间。
2.2 数据读取速度要求：汽车电子系统对于数据读取速度有着严苛的要求。
为确保系统的实时响应性和高效运行，305-4+汽车用nandflash存储芯片需要具备快速、稳定的数据读取能力。
它应能够在极短时间内完成数据读取，并能够支持高速数据传输接口。
2.3 数据可靠性要求：汽车是一种复杂而严谨的机械设备，在行驶过程中可能会面临各种恶劣环境条件和挑战。
NAND FLASH在储存测试系统中的应用
NAND FLASH 在储存测试系统中的应用0 引言计算机技术的高速发展，存储系统容量从过去的几KB 存储空间，到现在的T8；乃至不久的将来要达到的PB 存储空间，其数据存取的能力在飞速扩展。
随之而来产生的SCSI、FC、SAN、iSCSI、IPStorage 和数据生命周期管理等崭新的领域，更给计算机技术和网络技术赋予了蓬勃的生命力。
存数性能的提升通常是通过在基础结构上增加更多的物理磁盘驱动数目或者采用更快转速的磁盘驱动器来完成。
机载存储设备要求具有高的可靠性和高抗撞击、抗震、防潮、耐高压和承受高温的特点，而磁盘驱动器存取数据时有机械转动，其抗冲击，抗震动性不强，所以不适用于航空航天等恶劣环境下使用。
基于半导体存储芯片闪存的固态存储器(SSD)的出现很好的解决了以上问题。
SSD 作为储存介质，没有机械转动部件、存储密度高、可靠性高、体积小、重量轻，并且抗震动、抗冲击、温度适应范围宽，具有很强的环境适应性，可以满足苛刻条件下的数据储存要求，因此，高性能大容量固态存储器已成为军用重大项目中的只要数据储存方式。
1 NAND FLASH Memory 的控制要求1．1 NAND FLASI-1 存储器结构功能介绍我们选用的是三星公司的K9K8G08UOM 型FLASH 芯片作为存储系统的介质，该款NAND F1ash 存储容量为8448Mbit，其中主数据区为8192M bit，辅助数据区为256Mbit，工作电压为2．7V~3．6V，I／O 端口的宽度为8 位。
NAND FLASH 不同于NOR FLASH，NOR FLASH 在出厂时不容许芯片有坏块存在，而NAND FLASH 容许成品中存在坏块，这是NAND 技术所特有的。
基于NAND型FLASH的双备份固态存储系统
基于NAND型FLASH的双备份固态存储系统梁永刚;崔永俊;郇弢【摘要】设计了一种以NAND型FLASH为存储核心的高速、大容量数据双备份存储系统,实现了对高速遥测数据的采集及实时可靠存储.采用模块化的设计思想,以现场可编程门阵列(FPGA)作为主控芯片,将采集的遥测数据进行高频消抖后,送入双FLASH并行存储；同时实现对FLASH的自断电保护.针对高速、高压、高冲击等各种高过载环境,对存储模块采用双筒灌封防护技术,有效保护了实验结果.从硬件电路及逻辑时序两个方面介绍了此存储系统,并给出了试验结果.【期刊名称】《科学技术与工程》【年(卷),期】2013(013)026【总页数】8页(P7675-7682)【关键词】FLASH;双备份;FPGA;高频消抖;灌封防护【作者】梁永刚;崔永俊;郇弢【作者单位】中北大学电子测试技术国家重点实验室,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051【正文语种】中文【中图分类】TP333.1航空航天领域，在各种飞行器飞行试验中，固态存储系统作为重要的数据记录设备，弥补了无线电遥测系统的缺点，在各种恶劣条件下，记录着飞行器各功能部分的工作环境参数和飞行动态参数，为飞行器的设计改进提供了可靠的试验依据，在遥测系统中有着不可替代的作用。
本文针对相关课题的任务要求，以NAND型FLASH 为核心存储芯片［1］，设计了一种可以工作在高速、高压、高冲击等各种高过载环境下的数据记录装置，为获取可靠的飞行试验数据提供了有力的保障［2］。
1 设计要求本任务要求双备份固态存储系统负责接收一路码率为9 830 400 bps的PCM数据流，并可以长期保留读取数据。
不论单机闭环自检还是实际飞行测试时，都要求该系统应具有实时监测、记录、事后数据回读功能。
nand_flash读写工作原理_概述说明
nand flash读写工作原理概述说明1. 引言1.1 概述NAND Flash是一种非常常见和重要的存储设备，被广泛应用于各种电子产品中。
它的独特设计使得它成为一种高性能、低功耗、擦写可靠且具有较大容量的存储器解决方案。
由于其许多优点，NAND Flash在移动设备、个人电脑、服务器以及其他许多领域都有着广泛的应用。
1.2 文章结构本文将详细介绍NAND Flash的读写工作原理，并探讨其在存储领域中的优势与应用场景。
首先，我们将简要介绍NAND Flash的基本概念和特点，包括其结构和组成部分。
然后，我们将重点讲解NAND Flash进行读操作和写操作时所涉及的工作原理和步骤。
通过对这些原理的详细阐述，读者将能够全面了解NAND Flash如何实现数据的读取和写入。
除此之外，我们还将探讨NAND Flash相对于其他存储设备的优势，并介绍几个典型应用场景。
这些优势包括快速读写速度、低功耗、体积小且轻便、强大的耐久性以及较大的存储容量。
在应用场景方面，我们将重点介绍NAND Flash 在移动设备领域、物联网和服务器等各个行业中的广泛应用。
最后，我们将进行本文的小结，并对NAND Flash未来的发展进行展望。
通过全面了解NAND Flash的工作原理和优势，读者将能够更好地理解其在现代科技领域中的重要性，并对其未来发展趋势有一个清晰的认识。
1.3 目的本文的目的是通过对NAND Flash读写工作原理进行详细说明，使读者能够全面了解NAND Flash是如何实现数据读写操作的。
此外，我们还旨在向读者展示NAND Flash在存储领域中所具有的优势和广泛应用场景，使其意识到这一存储设备在现代科技产业中所扮演的重要角色。
希望通过本文，读者能够加深对NAND Flash技术的理解，并为相关领域或产品的研发与设计提供参考依据。
2. NAND Flash读写工作原理：2.1 NAND Flash简介：NAND Flash是一种非易失性存储器，采用了电子闪存技术。
Flash在存储测试系统中的应用剖析
ＰＬＤＣＰＬＤＦＰＧＡ应用文章编号：１００８－０５７０（２００８）０３－２－０２２２－０３中文核心期刊《微计算机信息》（嵌入式与ＳＯＣ）２００８年第２４卷第３－２期Ｆｌａｓｈ在存储测试系统中的应用ＴｈｅＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｏｆＦｌａｓｈＭｅｍｏｒｙｉｎＳｔｏｒｅｄＴｅｓｔｉｎｇａｎｄＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＳｙｓｔｅｍｓ（仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学信息与通信工程学院）瞿杨霞张志杰杜红棉ＱＵＹＡＮＧＸＩＡＺＨＡＮＧＺＨＩＪＩＥＤＵＨＯＮＧＭＩＡＮ摘要：本文设计了一种基于Ｆｌａｓｈ的大容量存储测试系统，控制电路采用单片机和ＣＰＬＤ相结合，可以实现高速数据采集、存储。
两片闪存交替使用，不仅提高了系统的采样频率，还扩大了存储容量。
关键词：闪存；存储测试；单片机；ＣＰＬＤ中图分类号：ＴＮ９８文献标识码：Ｂ技术创新Ａｂｓｔｒａｃｔ：ＴｈｅｐａｐｅｒｉｎｔｒｏｄｕｃｅｓａｍｅｔｈｏｄａｂｏｕｔｓｔｏｒｅｄｔｅｓｔｉｎｇａｎｄｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｂａｓｅｄｏｎＦｌａｓｈｍｅｍｏｒｙ．Ｔｏｒｅａｌｉｚｅｈｉｇｈｓｐｅｅｄｃｏｌｌｅｃ－ｔｉｏｎａｎｄｓｔｏｒａｇｅ，ｔｈｅＡＶＲＭＣＵｉｓｃｏｍｂｉｎｅｄｗｉｔｈＣＰＬＤ（ｃｏｍｐｌｅｘｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅｌｏｇｉｃａｌｄｅｖｉｃｅ）ｔｏｃｏｎｔｒｏｌｔｈｅｃｉｒｃｕｉｔｓｃｈｅｄｕｌｉｎｇ，ｄａｔａｒｅａｄａｎｄｐｒｏｇｒａｍｏｐｅｒａｔｉｏｎｏｆｔｈｅＦＬＡＳＨｍｅｍｏｒｙ．ＴｗｏｐｉｅｃｅｓｏｆＦｌａｓｈｂｙｔｕｒｎｓｎｏｔｏｎｌｙｉｍｐｒｏｖｅｓａｍｐｌｅｆｒｅｑｕｅｎｃｙ，ｂｕｔａｌｓｏｅｘｔｅｎｄｓｔｏｒａｇｅ．Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：Ｆｌａｓｈｍｅｍｏｒｙ，Ｓｔｏｒａｇｅｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ，ＭＣＵ，ＣＰＬＤ１引言存储器技术是一种不断进步的技术，每一种新技术的出现都会使某种现存的技术走进历史，这是因为开发新技术的初衷就是为了消除或减轻某种特定存储器产品的不足之处。
Nandflash应用
NAND Flash芯片K9F1208在uPSD3234A上的应用1 NAND FlaSh和NOR Flash闪存(Flash Memory)由于其具有非易失性、电可擦除性、可重复编程以及高密度、低功耗等特点,被广泛地应用于手机、MP3、数码相机、笔记本电脑等数据存储设备中。
NAND Flash和NOR Flash是目前市场上两种主要的非易失闪存芯片。
与NOR Flash相比,NAND Flash在容量、功耗、使用寿命等方面的优势使其成为高数据存储密度的理想解决方案。
NOR Flash的传输效率很高,但写入和擦除速度较低;而NAND Flash以容量大、写速度快、芯片面积小、单元密度高、擦除速度快、成本低等特点,在非易失性类存储设备中显现出强劲的市场竞争力。
结构：NOR Flash为并行,NAND Flash为串行。
总线：NOR Flash为分离的地址线和数据线,而NANDFlash为复用的。
尺寸：典型的NAND Flash尺寸为NOR Flash尺寸的1／8。
坏块：NAND器件中的坏块是随机分布的,需要对介质进行初始化扫描以发现坏块,并将坏块标记为不可用。
位交换：NAND Flash中发生的次数要比NOR Flash多,建议使用NAND闪存时,同时使用EDC／ECC算法。
使用方法：NOR Flash是可在芯片内执行(XIP,eXecute In Place),应用程序可以直接在FIash闪存内运行,不必再把代码读到系统RAM中;而NAND Flash则需I／O接口,因此使用时需要写入驱动程序。
通过以上的分析和比较,NAND Flash更适合于大容量数据存储的嵌入式系统。
本设计选用Samsung公司生产的NAND Flash存储器芯片K9F1208作为存储介质,并应用在基于uPSD3234A增强型8051单片机的嵌入式系统中。
2 uPSD3234A简介uPSD3234A是由意法半导体公司生产的一款基于8052内核的增强型Flash单片机,其结构如图1所示。
nandtest 用法
nandtest 用法1. 引言1.1 概述：本篇长文将介绍nandtest的用法。
nandtest是一种用于检测和测试NAND闪存器件的工具。
随着闪存技术的广泛应用，nandtest成为了一个重要的工具，可以帮助我们验证和保证闪存器件的质量和可靠性。
1.2 文章结构：本文首先概述了nandtest的基本信息，并给出了文章目录以便读者快速了解全文内容。
然后详细介绍了nandtest的使用方法，包括它适用的场景和使用步骤。
接下来，我们将深入探讨nandtest的主要功能，分别介绍其三个核心功能。
最后，在结论部分总结nandtest的优点和局限性，并对未来发展提出展望或建议。
1.3 目的：本篇长文旨在帮助读者全面了解nandtest的用法，使读者能够熟练地在实际工作中应用这一工具。
通过掌握nandtest的基本操作步骤和核心功能，读者可以准确、高效地进行NAND闪存器件的测试与验证工作。
同时，本文也会对nandtest进行评价和总结，帮助读者更好地理解该工具的优缺点和发展前景。
2. nandtest 用法：2.1 什么是nandtestnandtest是一种测试工具，用于测试嵌入式系统中的NAND闪存设备。
NAND闪存是一种非易失性存储器，广泛应用于移动设备和嵌入式系统中。
nandtest可以通过验证数据可靠性和存储器稳定性来评估NAND闪存设备的质量，并帮助开发人员识别潜在的硬件或固件问题。
2.2 使用场景nandtest主要适用于以下场景：- 嵌入式开发：开发人员可以使用nandtest来评估他们所使用的NAND闪存设备的性能和可靠性。
- 硬件制造商：硬件制造商可以使用nandtest来检查他们生产出来的NAND 闪存设备是否符合规格和标准。
- 故障排除：当出现系统故障或数据损坏时，nandtest可以帮助技术人员确定是硬件还是软件引起的问题。
2.3 使用步骤下面是使用nandtest的基本步骤：步骤1: 准备测试环境在开始测试前，需要确保已经正确连接了NAND闪存设备，并且系统正常运行。
NandFlash存储管理在DSP系统中的实现(精)
Nand+Flash存储管理在DSP系统中的实现NandFlash作为一种安全、快速的存储体，因其具有体积小、容量大、成本低、掉电数据不丢失等一系列优点，已逐步取代其它半导体存储元件，成为嵌入式系统中数据存储的主要载体。
尽管NandFlash的每个单元块相互独立，且每块一般可擦除次数高达10～100万次，但是随着擦写次数增加，会有一些单元块逐渐变得不稳定或失效从而形成永久性坏块。
因此，要避免频繁地对同一块进行操作，尽量达到擦写次数均衡；同时，由于擦除操作耗时较多，会Nand Flash作为一种安全、快速的存储体，因其具有体积小、容量大、成本低、掉电数据不丢失等一系列优点，已逐步取代其它半导体存储元件，成为嵌入式系统中数据存储的主要载体。
尽管Nand Flash的每个单元块相互独立，且每块一般可擦除次数高达10～100万次，但是随着擦写次数增加，会有一些单元块逐渐变得不稳定或失效从而形成永久性坏块。
因此，要避免频繁地对同一块进行操作，尽量达到擦写次数均衡；同时，由于擦除操作耗时较多，会对系统的实时性造成影响。
为此，本文介绍了一种基于磨损均衡思想的Nand Flash存储管理方式，并深入讨论了该方式在Ti公司的DSP TMS320F28x中的程序实现。
1 器件介绍本文中采用的Nand Flash芯片K9F6408U0C是一块拥有8M(8,388,608)×8bit 存储空间及 256K(262，144)×8bit辅用存储空间的存储芯片，电源电压为1.8V－3.3V。
芯片内部按块和页的方式来组织的，如图1所示，共分成1024个块,每块包含16个页,每页内有528个字节。
F28x系列DSP是美国TI公司最新推出的C2000平台上的定点DSP芯片。
图1 K9F6408UOC内部结构示意图F28x系列芯片具有低成本、低功耗和高效能等特点，特别适用于有大量数据处理的测控场合。
2 Flash的特点及存储管理的作用由K9F6408U0C的基本结构可以知道，它的基本单位有块、页、字节等。
嵌入式系统中Nand-Flash的原理及应用
嵌入式系统中Nand-Flash的原理及应用文档说明:当前各类嵌入式系统开发设计中，存储模块是不可或缺的重要方面。
NOR和NAND是目前市场上两种主要的非易失闪存技术。
Nor-flash存储器的容量较小、写入速度较慢，但因其随机读取速度快，因此在嵌入式系统中，常应用在程序代码的存储中。
Nor-flash存储器的内部结构决定它不适合朝大容量发展;而Nand-flash存储器结构则能提供极高的单元密度，可以达到很大的存储容量，并且写入和擦除的速度也很快。
Nand-flash存储器是flash存储器的-种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量存储器的实现提供了廉价有效的解决方案。
Nand-flash存储器具有容量较大，改写速度快，适用于大量资料的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、MP3随身听记忆卡、体积小巧的U盘等。
本文以三星公司的K9F1208UOB芯片为例，介绍Nand-flash存储器芯片的读写流程和时序。
1 Nand-Flash存储器的工作原理1.1 Nand-Flash存储器的组成结构及指令集K9F1208UOB的容量为64Mb，存储空间按128K个页(行)、每页中528个字节(列)的组成方式构成。
备用的16列，位于列地址的512-527。
K9F1208UOB还将存储空间分为块(block)，每1块由32个页构成。
因此K9F1208UOB中一共有4096个块。
这种“块-页”结构，恰好能满足文件系统中划分簇和扇区的结构要求。
K9F1208UOB的内部结构如图1所示。
图1 K9F1208UOB的内部结构K9F1208UOB的读和写都以页为单位，擦除则以块为单位进行操作。
K9F1208UOB的地址通过8位端口传送，有效地节省了引脚的数量，并能够保持不同密度器件引脚的一致性，系统可以在电路不作改动的情况下升级为高容量存储器件。
K9F1208UOB通过CLE和ALE信号线实现I/O口上指令和地址的复用。
【A】-存储设备-功能测试用例-20140821
MID 评 估 报 告 MID Evaluation Rep
测试结果(Test Result):
测试内容及方法(Test Content & Method)：
编号
功能分 类
功能项
操作描述
ST01
验证开机后是否会自动检测 1.nandflash正常工作
nandflash并读取数据
据；
2.开机后插移动硬盘，查看是否可以读写移动硬盘数
ST18
支持主流的各类品牌/容量 据；
移动硬盘
3.反复挂载卸载移动硬盘，查看数据读写是否正常；
4.热插拔移动硬盘，查看数据是否读写正常；
5.单分区/多分区，多分区不同文件系统，查看是否
识别，读写正常
1.插上USB；
ST19
接USB删除文件时强制拔出 USB 异常操作 数据保护
A
1.状态栏提示“正在准备SD卡” 2.自动挂载flash和SD卡，并且读取到数据
A
SD卡数据读写正常，读写速度达到spec要求
（class4的sdcard要达到4MB/S，class6的卡要
C
达到6MB/S速度）
数据通信正常，nandflash读写正常，系统无其 他异常
C
SD卡和flash内数据不丢失
ST12
SD卡压力 测试
插卡情况下按电源键开机或 reset键开机
1.SD卡插入设备 2.开关机100次； 3.reset开机100次
ST13
播放卡内视频/音乐时反复 做休眠唤醒操作
1.SD卡插入设备 2.播放卡内视频/音乐； 3.间隔休眠唤醒样机，深度休眠唤醒和短休眠唤醒
1.SD卡插入设备；
NAND FLASH测试设计及使用探讨
• 116•NAND FLASH测试设计及使用探讨北京振兴计量测试研究所 杨 超 张金凤 马成英【摘要】本文首先介绍了NAND FLASH 的基本特征，指出了NAND FLASH 和普通存储器在测试和使用中的异同，明确了NAND FLASH 存储阵列中允许存在坏块的特征。
针对NAND FLASH 的特点进行了测试设计，实践证明取得了良好的效果；并对NAND FLASH 在使用过程中的坏块管理进行了探讨，提出了两种坏块管理办法并进行了对比，对测试者和使用者具有借鉴意义。
【关键词】NAND FLASH ；坏块管理；测试设计；使用探讨1.引言近年来，随着各种应用系统对存储容量的要求不断增加，NAND FLASH 作为一种新兴的半导体存储器，以其高密度、大容量、高数据存储速率以及更多的擦除次数等特点得到了迅猛发展，并广泛应用于各个领域[2]。
但是由于生产工艺和材料等问题，NAND FLASH 存储器不可避免的会出现坏块。
坏块的出现给测试和使用都带来了极大的挑战，本文将以MT29F64G08AJABAWP-IT 为例，详细介绍NAND FLASH 的测试并且对其使用进行探讨。
2.NAND FLASH简介NAND FLASH 是非易失性存储器，其基本存储单元是块（block ），每块又由若干页（page ）构成。
其中，最小读写单元是页，最小擦除单元是块。
在对一页进行编程之前，需要先将该页所在的块进行擦除操作。
NAND FLASH 在出厂时存在少量的坏块，厂家会对坏块进行标注，方便用户在使用过程中对其进行识别；在测试和使用过程中同样会产生新的坏块，元器件可靠性机构应当对坏块进行识别和回写，用户应进行坏块管理以跳过坏块，从而避免存储数据丢失。
NAND FLASH 主要供货商是SAMSUNG 和MICRON 两家公司，其内部结构大同小异，分为16位和8位两种数据形式，地址线、数据线、命令线分时复用，串行工作方式，需要特定的控制命令以执行相应的操作。
NAND型FLASH在高速多通道采集存储系统中的应用
（ 中北大学信息与通信工程学院 ， 山西太原 ００ ５ ） ３０ １
摘要 ： 设计 了一种基于 ＰＣ单 片机 和 Ｃ Ｌ （ Ｉ Ｐ Ｄ 复杂可编程逻辑器件） 同控 制 、Ｌ Ｓ Ｅ Ｒ 闪 共 Ｆ Ａ Ｈ Ｍ ＭＯ Ｙ（ 速大容量存储器 ） 存储 的新型存储测试系统。设计 方案实 现 了在 采样 速率变化 的情况 下 ， ＩＯ 自适 应 ＦＦ 地完成缓存速率调整的功能 ， 并且多通道数据 能连续不 问断 地存储 到 Ｆ Ａ Ｈ存储 器 中。采用 了一种新 ＬＳ
取 出来 一 。
般情 况下也 不便 于和各 种智 能仪 器直接 配合
使用 。这 就使 得测试 仪器 的工作 必须具 有一 定
的独立性 和 自适 应性 。
１ 系统 的设 计 思 路 和 结 构
１ １ 系统 设计 思路 ．
存储 测试 系统 是 一种 把 传 感 器 、 配 放 大 适 器 、／ Ａ Ｄ变 换 器 、 储 器 、 制 电路 、 口电 路 存 控 接 及微 型 电池集合 在一起 的微 型化测 试 系统 。存
ＰＣ Ｉ 单片机
模 ｌ — — 转 Ｌ — 拟 ］／ ］／ 化 模 —
Ｄ
信 号
拟 开
关
器
准ｃ ｓ和 Ｒ Ｄ信 号从 一个高 速并行 接 口存 取 的 。 ＷＥ为写信 号 ，Ｕ Ｙ的下 降沿来 临时 ，Ｐ Ｄ开 ＢＳ ＣＬ 始写 数 据 ， 于该 Ｆ Ｓ 的数 据 位 只有 ８位 ， 由 Ａ Ｌ Ｈ 所 以 Ａ Ｄ转 换 的数 据要 分 两 次 写入 ， 写 高 ６ ／ 先
１ ６ ｌ ６ Ａ Ｃ
的采 样 速 率 采集 数 据 ， 在模 数 转换 的一个 周 期
NAND FLASH在车载数据采集存储系统中的应用
NAND FLASH在车载数据采集存储系统中的应用马良;翟涌【摘要】设计实现了一种以NAND FLASH为存储设备的车载数据采集存储系统.介绍了NAND FLASH的组织结构和存储特点,通过研究NAND FLASH的页编程工作原理,采用流水线技术实现了NAND FLASH的页编程过程,大大提高了数据的存储速度.同时实现了NAND FLASH的坏块管理方案,保证了数据的稳定可靠.实车应用表明,系统运行稳定可靠、实用性强,在车辆的自动变速控制系统的研究过程中,发挥了非常重要的作用.【期刊名称】《仪表技术与传感器》【年(卷),期】2014(000)004【总页数】4页(P53-55,59)【关键词】车载系统;数据存储;单片机;流水线技术【作者】马良;翟涌【作者单位】北京理工大学机械与车辆学院,北京100081;北京理工大学机械与车辆学院,北京100081【正文语种】中文【中图分类】TP2730 引言自动变速操纵是一个传感器多、控制复杂的机电液一体化的复杂系统。
控制过程中信号不仅路数多，而且变化快，很难通过人工直接观测的方法分析研究[1-2]。
因此对于变速控制系统的研发，高速的同步随车数据采集存储系统必不可少。
虽然，随着电子技术新成果的不断引进，数据采集存储系统得到了很大的发展；但是，目前大多数存储系统不符合车辆控制研究的特色，实用性差、成本高、性价比低。
因此针对变速控制系统的研究需求，充分考虑了实车运行过程中振动冲击强、温度变化范围大等特点，设计开发了满足要求的高速车载数据采集存储系统。
由于NAND FLASH容量大、成本低、抗震动冲击能力强等特点，选用NAND FLASH 为存储设备，运用流水线技术实现了数据的快速存储[3]。
1 系统整体设计方案车辆自动变速控制系统中的传感器和执行器等相关信号，经过A/D转换电路存入电子控制单元ECU中，之后通过RS-232总线发送到系统下位机。
为了满足数据实时采集存储的要求，系统的下位机内部预留了两块16KB的数据缓存。
存储测试系统中FLASH的存储可靠性技术研究
存储测试系统中FLASH的存储可靠性技术研究高阳;王代华;王晓楠【摘要】The NAND FLASH has versatile features such as nonvolatile,large storage capacity and fast read-write speed, and is widely used in the field of stored measurement,but the low reliability of the invalid block mapping table has a bad influence on storage speed and reliability because invalid blocks may ineluctably appear in NAND FLASH memory and the traditional in-valid block management methods put the table in the FLASH memory. For these problems,invalid block information fast retriev-al architecture based on external storage data bits is proposed,with which the invalid block mapping table can be put in high-re-liability FRAM. The sliding window principle is imported into computer network to establish an invalid block pre-matching mech-anism based on the sliding window,by which the effective block address can be generated without delay while FLASH storage access speed does not be affected. The analysis and argument results indicate this architecture can improve the reliability and ac-cess speed of NAND FLASH stored data greatly,and the overall performance of storage testing system.%NAND FLASH存储器具有非易失性、存储容量大和读写速度快等优点,在存储测试领域的应用越来越广泛.由于NAND FLASH存储器中不可避免会出现无效块,传统的管理方法是将无效块映射表存放在FLASH存储器中,可靠性低,对数据存储速度和可靠性都会造成不利影响.针对这些问题,提出了基于外置存储数据位的无效块快速检索架构,将无效块映射表存放在可靠性高的铁电存储器中;引入计算机网络中的滑动窗口原理,建立了基于滑动窗口的无效块预匹配机制,在不影响FLASH存取速度的情况下可无时延地生成有效块地址.经分析和论证,这种架构对NAND FLASH存储数据的可靠性和存取速度有很大的提升,提高了存储测试系统的整体性能.【期刊名称】《现代电子技术》【年(卷),期】2017(040)018【总页数】5页(P131-134,138)【关键词】NAND FLASH;无效块管理;存储测试;铁电存储器【作者】高阳;王代华;王晓楠【作者单位】中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原 030051;中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原 030051;中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原 030051【正文语种】中文【中图分类】TN911-34;TM932存储测试特指在恶劣环境和紧凑空间下完成的高可靠性动态参数测试，用于实时、高速地采集和记录被测对象的数据信息[1⁃3]。
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NAND FLASH在储存测试系统中的应用(3)
2009-11-09 22:35:43 来源:王文杰马游春李锦明
关键字：NAND FLASH 储存测试K9K8G08UOM
2 NAND FLASkI Memory的硬件部分
本设计当中，FLASH的数据输入输出口、控制端口通过调理电路与FPGA的端口相连，图4所示是其硬件连接电路。
从图4中可知，FLASH的数据输入输出端口I／00～7、控制端口／CE、是通过芯片SN54LV245与FPGA相连；FLASH的控制端口cLE、ALE、／WE、／RE通过芯片SN54LV245和芯片74HCl4与ITGA相连。
其中F-CLE、F-ALE、F—WE、F-RE、F—CE、F- R／Bur是FPGA的I／O口，是FPGA逻辑的输入输出口。
CLE、ALE信号是FLASH存储器命令、地址锁存使能信号,／WE是保证命令、地址、数据能否及时正确的写入FLASH 的信号，／RE信号控制着数据的读取，这些信号的精确度关系着FLASH存储、读数功能的实现。
所以，这些信号的好坏直接关系着FLASH的正常工作。
经实践的电路调试，这些信号在传输过程中受到了其它因素的干扰，信号明显失真，在电路中加入74HCl4(非门)以后，信号会变得光滑，准确。
芯片SN54LV245是八进制三态总线收发器，DIR=1时，总线传输方向从A→B；DIR=0时，总线传输方向从B→A。
／OE是片选信号。
／0E，DIR信号是由FPGA内部编程逻辑控制的。
FL,ASH接口中，为了保证／wE、／RE、／CE、R／B控制信号初始状态无效，由硬件电路实现端口值拉高。
本设计中不使用写保护功能，所以／WP端口也接上了上拉电阻。
3 结束语
基于闪存技术的固态存储器存储密度大，功耗小，可靠性高，体积小重量轻且成本也在不断降f氐，在航空应用中有良好的应用前景。
在设计储存测试系统时选用大容量的NAIXD FLASH存储器大大提高了储存、读取速度，并且设计电路结构简单，易于修改。
(本文转自电子工程世界：http://www.eewo
闪存芯片KM29N32000TS在单片机系统中的应用
发布:2011-09-02 | 作者: | 来源: ducuimei | 查看:492次 | 用户关注：
摘要：介绍32M位闪存芯片（FlashMemory）KM29N32000TS,并以87C552单片机为例介绍它在单片机系统中的硬件连接和软件编制方法。
该芯片与单片机的硬件连接电路简单，可扩容能力强，易于编程，且体积小、容量大，具有很高的实用价值。
关键词：KM29N32000TSFlash 存储器单片机系统在许多测量和测试应用系统中，如便携式仪器等其它电池供电系统，需要保证数据的可靠性和可用性，即使整个系统掉电，而所采集到的数据仍能长时间的保持不丢失
摘要：介绍32M位闪存芯片（Flash Memory）KM29N32000TS,并以87C552单片机为例介绍它在单片机系统中的硬件连接和软件编制方法。
该芯片与单片机的硬件连接电路简单，可扩容能力强，易于编程，且体积小、容量大，具有很高的实用价值。
关键词：KM29N32000TS Flash存储器单片机系统
在许多测量和测试应用系统中，如便携式仪器等其它电池供电系统，需要保证数据的可靠性和可用性，即使整个系统掉电，而所采集到的数据仍能长时间的保持不丢失。
闪存技术的发燕尾服提供了这种可能性。
闪存的非易失性非常优越，数据可保存长达10的。
本文将介绍32M位闪存芯片KM29N32000TS及其在87C552单片机系统中的应用。
1 KM29N32000TS简介
KM29N32000TS作为闪速存储器兼有E2PROM的可编程能力和非易失性，并且容量大、速度快，只需单5V供电便可做读、编程、擦除等操作。
图1是它的存储器组织图。
KM29N32000TS是44（40）脚表面封装器件，封装尺寸为
18.80mm×11.78mm×1.20mm，内部有（4M+128K）×8位的存储空间，组织成8192行，（512+16）列，其中最后16列为后备列，列地址为512～527。
可以进行以512字节为一页的页读、字操作和以8K字节为一块的块擦除操作，有一个528字节的页豁口用于页读、页编程时存储单元的数据传输。
KM29N32000TS的突出优点在于：命令、地址和数据信息均通过8条I/O线传输，这样4MB空间的22位地址需要分三次写入地址寄存器，经译码后访问相应单元。
对单片机而言，当需扩展的存储空间超过64KB时，寻址便会存在一定困难，系统的连线复杂而使可靠性降低。
采用这种闪速存储器便能克服上述困难，而且便于各式级到更大容量而无需要改外部连接。
图2为其引脚功能图，各引脚的功能如下：
CLE：命令锁存使能。
其为高时，命令通过I/O口线在WE信号的上升沿被锁入命令寄存器。
ALE：地址锁存使能。
当其为高时，地址在WE信号的上升沿被锁入地址寄存器；当其为低时，锁定输入数据。
CE：片使能。
读操作期间，CE变高，器件转入standby模式；编程或擦除期间，器件处于忙状态时，CE高将被忽略。
WE：写使能。
命令、地址和数据在WE信号的上升沿被锁定。
RE：读使能。
下降沿有效。
WP：写保护。
在电源电压过渡期间，使WP为低电平时，可产生写/擦除保护。
R/B：操作状态指示。
为低电平时，指示正在编程或读操作中，操作结束后变成高，开路输出。
I/O口：（I/O0～I/O7）三态。
输入命令、地址和数据以及读操作时输出数据。
对该存储器的各种操作有着共同的特点：首先通过I/O口将操作命令字送入命令寄存器，然后在三个连续的写周期内送入欲操作单元的地址（顺序为A0～A7，A9～A16，A17～A21，A8会根据所访问的存储区域的不同而自动设定为高或低）。
2 与87C552单片机的连接
KM29N32000TS与87C552单片机的接口电路如图3所示。
由单片机的P1口直接与存储器的I/O0～I/O7相连，实现命令、地址和数据的传输；P1.0接CLE，控制命令输入；P1.2接ALE，控制地址输入；P1.1接CE，控制片选；P1.3接R/B，监测存储器的工作状态；WR、RD分别接WE、RE，控制读、写操作。
图3中的MAX809是一个电源电压监测芯片。
当电源电压低于某一个值时（门限电压），输出低电平，使得存储器进入写保护状态。
当电源电压超过门限电压240ms后，才解除写保护状态，可以正常写入数据。
这样可以保证写入存储器的数据都是有效的。
MAX809的工作电流只有17μA。
3 软件设计
与存储器有关的操作有读数据、写数据（即页编程）和擦除数据，下面仅以读写操作来说明其操作过程，具体过程的程序流程如图4、图5所示。
①在读操作子程序中，既可以一次读取一整页的数据，也可以读取指定地址处的数据。
如果要连续读取多页数据，则需要根据存储器的读时序修改子程序。
②页编程子程序每次可以写一页的数据，也可以在起始地址所在的当前页中写入数据，但不能实现跨页编程。
如果数据个数超出页边界，将会造成数据丢失。
结语
该芯片及应用系统已在石油钻井井下随钻测量系统中得到实际应用，虽历经多次系统掉电，但数据仍保存完好。
实践证明，其可靠性高，性能稳定，有很高的实用价值。