控制图应用步骤
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控制图
上控制界限(UCL) 中心线(CL) 下控制界限(LCL)
控制图分类---按用途
1.分析用控制图： 根据样本数据计算出控制图的中心线和上、下控制界限，画出控制图，以便分析和判断过程是否 处于于稳定状态。如果分析结果显示过程有异常波动时，首先找出原因，采取措施，然后重新抽 取样本、测定数据、重新计算控制图界限进行分析。 2.控制用控制图： 经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求，此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量进 行控制。※
2.子组数量：为了建立控制限，通常取25个子组，或更多个子组包含100或 更多个单值读数。
3.子组容量：较大的子组能很容易探测出较小的过程变化。一般2-5个样本。 4.子组频率：通常按时间顺序来取子组，目的是探测过程随时间发生的变化。
推荐的频率见附表所示
附表 推荐的子组频率
每小时产量
10以下 10-19 20-49 50-99 100以上
抽样间隔
不稳定
稳定
8小时
8小时
4小时
8小时
2小时
8小时
1小时
4小时
1小时
2小时
※
2) 控制图设置
1. 包括过程和抽样方法描述的表头信息； 2. 记录/显示所收集数据的实际值的部分，这应该包含日
期和时间或其它的子组编号； 3. 用于中间的数据计算的部分； 4. 对用于分析的每一个控制统计量描点的部分；通常纵
控制图的选择
控制图应用步骤
1. 收集数据
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
4. 为了持续控 制延长控制限
1)建立一个抽样计划 2)控制图的设置 3)记录原因数据 4)计算每一个子组样本的控制统计量 5)将控制统计量画在控制图上
1)确定控制图中心线 2)确定控制图上控制限和下控制限
1)分析极差图上的点 (控制图判异) 2)识别并标识特殊原因（R图） 3)重新计算控制限（R图） 4)识别和处理特殊原因（均值图） 5)重新计算控制限（均值图）
控制图分类---按数据类型
1. 计量型控制图
1) 单值与移动极差控制图（I-MR）。【 样本量n=1】 2) 均值极差控制图（XBar-R图）； 【样本量2 ≤n ≤9】
~ 3) 均值与标准差控制图（XBar-S图）；【样本量n ≥10】
4) 中位数与极差控制图（X-R图）；
2. 计数值控制图
1) 不良率控制图（P图）； 2) 不良数控制图（NP图）； 3) 缺点数控制图（C图）； 4) 单位缺点数控制图（U图）。※
过程能力和过程性能
计量型数据 过程能力和过程性能
1. 过程能力：仅适用于稳定统计过程，是过程固有变差的 6 范围，
式中
R
通常用 d 2
和
S C2
来估计。
2.过程性能：过程总变差的
6
范围，式中
通过用标准差S来估计。
3.如果过程处于统计受控状态，过程能力非常接近于过程性能。当过
程的能力和性能
1. 按照控制图的类型，计算合适的统计量，可能是：样本均值， 中位数，极差，标准差，等。※
5) 将控制统计量画在控制图上
1. 将计算出来的控制统计量画在图上，确保所描的控制统计量的 点是一一对应的。将相邻两点用直线连接起来从而帮助显示模 式和趋势；
2. 注意：在描图过程中，如果发现有的点比别的点高很多或低很 多，应再次确认是否计算错误或描图错误，并查询相关的观察 记录。※
当过程受控时并经过过程能力评价满足要求时， 应可以延长控制限，以满足未来过程控制的需 要。如果过程中心线偏离目标值，可能需要针 对目标值进行调整。
1) 返抽回 样计划
1.抽样计划的原则：合理的子组，即：组内出现特殊原因的机会最小，组间 出现特殊原因的机会最大。（子组内的变差代表的是零件间的变差， 而子组间的变差代表的是过程的变化）。 即：观测值的个数或样本量决定了控制图反映波动的能力。
坐标表示控制统计量的值，横坐标表示时间的顺序； 5. 对观察记入日志的部分，这部分包括：过程调整、更
换工装、材料变更，或其它任何可能影响过程变化的 详细资料。（控制图格式见样表）※
样表
正面；
示例
背面※
3) 记录原始数量
1. 记录每一个单值及每一个子组的编号； 2. 记录任何有关的观察事项。※
4) 计算每一个子组的样本统计量
过程相对稳定系数评价
1. 过程稳定系数：
2. 相对稳定系数：
过程相对稳定系数 drσ ＜10%
10%≤ drσ ＜20% 20%≤ drσ ＜50%
drσ ≥50%
评价 接近稳定 不太稳定
不稳定 很不稳定
6西格玛相关
（一）连续型数据的流程能力
流程的西格玛水平：Z值 Z值可以描述流程的不合格率P(d)
6
之间存在较大差别时表示有特殊原因存在。
双边公差的过程指数
1. CP能力指数（过程位于中心）： 2. CPK能力指数（过程不位于中心）：
C MIN(CPL,CPU) PK
3. PP性能指数（过程位于中心）： 4. PPK性能指数（过程不位于中心）：
P MIN(PPL, PPU) PK
CPK≤CP PPK≤PP
控制图应用步骤
1. 收集数据
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
1)确定控制图中心线 2)确定控制图上控制限和下控制限
4. 为了持续控 制延长控制限
控制图的中心线和上/下控制线
计量型；
计数型※
控制图应用步骤
1. 收集数据
1)分析极差图上的点 (控制图判异)
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
ZUSL =
USL-X
ZLSL =
X-LSL
Z值与不合格率P(d)对应表
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
（二）可区分型数据流程能力
可区分型数据：通过/不通过 一次通过率First Time Yield FTY=合格数量/总数量
p(d)=1-FTY = 不合格数量/总数量
（二）可数型数据流程能力
数据不只是通过/不通过，还知道一件产品上与多少个缺点 DPU-Defects Per Unit 每件的平均缺点数 dpu=缺点总数量/总件数 FTY=e-dpu p(d)=1-FTY
4. 为了持续控 制延长控制限
2)识别并标识特殊原因（R图） 3)重新计算控制限（R图） 4)识别和处理特殊原因（均值图） 5)重新计算控制限（均值图）
控制图应用步骤
1. 收集数据
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
4. 为了持续控 制延长控制限
当过程受控时并经过过程能力评价满足要求时， 应可以延长控制限，以满足未来过程控制的需 要。如果过程中心线偏离目标值，可能需要针 对目标值进行调整。
上控制界限(UCL) 中心线(CL) 下控制界限(LCL)
控制图分类---按用途
1.分析用控制图： 根据样本数据计算出控制图的中心线和上、下控制界限，画出控制图，以便分析和判断过程是否 处于于稳定状态。如果分析结果显示过程有异常波动时，首先找出原因，采取措施，然后重新抽 取样本、测定数据、重新计算控制图界限进行分析。 2.控制用控制图： 经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求，此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量进 行控制。※
2.子组数量：为了建立控制限，通常取25个子组，或更多个子组包含100或 更多个单值读数。
3.子组容量：较大的子组能很容易探测出较小的过程变化。一般2-5个样本。 4.子组频率：通常按时间顺序来取子组，目的是探测过程随时间发生的变化。
推荐的频率见附表所示
附表 推荐的子组频率
每小时产量
10以下 10-19 20-49 50-99 100以上
抽样间隔
不稳定
稳定
8小时
8小时
4小时
8小时
2小时
8小时
1小时
4小时
1小时
2小时
※
2) 控制图设置
1. 包括过程和抽样方法描述的表头信息； 2. 记录/显示所收集数据的实际值的部分，这应该包含日
期和时间或其它的子组编号； 3. 用于中间的数据计算的部分； 4. 对用于分析的每一个控制统计量描点的部分；通常纵
控制图的选择
控制图应用步骤
1. 收集数据
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
4. 为了持续控 制延长控制限
1)建立一个抽样计划 2)控制图的设置 3)记录原因数据 4)计算每一个子组样本的控制统计量 5)将控制统计量画在控制图上
1)确定控制图中心线 2)确定控制图上控制限和下控制限
1)分析极差图上的点 (控制图判异) 2)识别并标识特殊原因（R图） 3)重新计算控制限（R图） 4)识别和处理特殊原因（均值图） 5)重新计算控制限（均值图）
控制图分类---按数据类型
1. 计量型控制图
1) 单值与移动极差控制图（I-MR）。【 样本量n=1】 2) 均值极差控制图（XBar-R图）； 【样本量2 ≤n ≤9】
~ 3) 均值与标准差控制图（XBar-S图）；【样本量n ≥10】
4) 中位数与极差控制图（X-R图）；
2. 计数值控制图
1) 不良率控制图（P图）； 2) 不良数控制图（NP图）； 3) 缺点数控制图（C图）； 4) 单位缺点数控制图（U图）。※
过程能力和过程性能
计量型数据 过程能力和过程性能
1. 过程能力：仅适用于稳定统计过程，是过程固有变差的 6 范围，
式中
R
通常用 d 2
和
S C2
来估计。
2.过程性能：过程总变差的
6
范围，式中
通过用标准差S来估计。
3.如果过程处于统计受控状态，过程能力非常接近于过程性能。当过
程的能力和性能
1. 按照控制图的类型，计算合适的统计量，可能是：样本均值， 中位数，极差，标准差，等。※
5) 将控制统计量画在控制图上
1. 将计算出来的控制统计量画在图上，确保所描的控制统计量的 点是一一对应的。将相邻两点用直线连接起来从而帮助显示模 式和趋势；
2. 注意：在描图过程中，如果发现有的点比别的点高很多或低很 多，应再次确认是否计算错误或描图错误，并查询相关的观察 记录。※
当过程受控时并经过过程能力评价满足要求时， 应可以延长控制限，以满足未来过程控制的需 要。如果过程中心线偏离目标值，可能需要针 对目标值进行调整。
1) 返抽回 样计划
1.抽样计划的原则：合理的子组，即：组内出现特殊原因的机会最小，组间 出现特殊原因的机会最大。（子组内的变差代表的是零件间的变差， 而子组间的变差代表的是过程的变化）。 即：观测值的个数或样本量决定了控制图反映波动的能力。
坐标表示控制统计量的值，横坐标表示时间的顺序； 5. 对观察记入日志的部分，这部分包括：过程调整、更
换工装、材料变更，或其它任何可能影响过程变化的 详细资料。（控制图格式见样表）※
样表
正面；
示例
背面※
3) 记录原始数量
1. 记录每一个单值及每一个子组的编号； 2. 记录任何有关的观察事项。※
4) 计算每一个子组的样本统计量
过程相对稳定系数评价
1. 过程稳定系数：
2. 相对稳定系数：
过程相对稳定系数 drσ ＜10%
10%≤ drσ ＜20% 20%≤ drσ ＜50%
drσ ≥50%
评价 接近稳定 不太稳定
不稳定 很不稳定
6西格玛相关
（一）连续型数据的流程能力
流程的西格玛水平：Z值 Z值可以描述流程的不合格率P(d)
6
之间存在较大差别时表示有特殊原因存在。
双边公差的过程指数
1. CP能力指数（过程位于中心）： 2. CPK能力指数（过程不位于中心）：
C MIN(CPL,CPU) PK
3. PP性能指数（过程位于中心）： 4. PPK性能指数（过程不位于中心）：
P MIN(PPL, PPU) PK
CPK≤CP PPK≤PP
控制图应用步骤
1. 收集数据
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
1)确定控制图中心线 2)确定控制图上控制限和下控制限
4. 为了持续控 制延长控制限
控制图的中心线和上/下控制线
计量型；
计数型※
控制图应用步骤
1. 收集数据
1)分析极差图上的点 (控制图判异)
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
ZUSL =
USL-X
ZLSL =
X-LSL
Z值与不合格率P(d)对应表
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
（二）可区分型数据流程能力
可区分型数据：通过/不通过 一次通过率First Time Yield FTY=合格数量/总数量
p(d)=1-FTY = 不合格数量/总数量
（二）可数型数据流程能力
数据不只是通过/不通过，还知道一件产品上与多少个缺点 DPU-Defects Per Unit 每件的平均缺点数 dpu=缺点总数量/总件数 FTY=e-dpu p(d)=1-FTY
4. 为了持续控 制延长控制限
2)识别并标识特殊原因（R图） 3)重新计算控制限（R图） 4)识别和处理特殊原因（均值图） 5)重新计算控制限（均值图）
控制图应用步骤
1. 收集数据
2. 建立控制限
3. 统计上受不 受控的解释
4. 为了持续控 制延长控制限
当过程受控时并经过过程能力评价满足要求时， 应可以延长控制限，以满足未来过程控制的需 要。如果过程中心线偏离目标值，可能需要针 对目标值进行调整。