ADC测试方案

当满幅值输出时，输出值和最大理论输出值之间的差。
静态参数测试方法
方法一
使用信号源输出理想斜线信号，然后测得数据进行静态参数计算，但是此
方法局限于信号源的品质，对于精度比较高的ADC此种方法，会引入较大
测量误差。因为ATE精度较高，所以在量产ATE上用此方法。
方法二
软件模拟一个理想正弦波，然后通过示波器满幅度输入，采集较大量数据， 理想数据和实测数据进行对比，然后计算出静态参数。在实验室精度比较 高的电源不好找，但是精度比较高的信号发生器比较容易得到，所以一般
ADC测试
ADC产品简单介绍
使用场合：
无线基站、直放站
CT 、核磁共振 雷达、军事 仪器仪表等
市场上主流的ADC产品基本上是TI和ADI的，国内也有一 些设计公司和研究所在做，目前国内的技术水平如下：
8位ADC采样率超过1Gsps
12位采样率超过300Msps
16位采样率超过150Msps
量产测试
装备有测ADC的板卡的ATE有
1. Teradye J750 模拟信号低于2MHz 2. Teradye Ultra Flex 模拟信号1GHz
3. Advantest 93K 模拟信号1GHz
4. Credence D10
ATE模拟板卡的功能结构图
任意信号发生器
(AWG)
DUT
Digitizer
用这个方法。这种方法需要采集很多样本，样本越多,测得数据越精确。
静态参数matlab计算结果
采样时钟： FS=184MSPS 待测信号： FIN=1.9MHz 样本数据:4百万个
Hale Waihona Puke Baidu态技术参数
1. 信噪比:SNR SNR=20log10(RMS[signal]/RMS[Noise]) 2. 最大杂散:SFDR SFDR=20log10(Max [spur]/RMS[signal]) 3. 谐波抑制比:THD
Bench test
SPI COM 电脑 1. VS2010 2. matlab
ADC
SMA
LVDS SMA
LVDS
FPGA
USB3.0 GPIB
待测信号
采样时钟
芯片筛选机
Bench test
PC 软件要求
修改采样参数 A. 修改matlab计算参数： 参与计算的点数，采样频率，FFT计算是否加窗等 B. 修改硬件采样参数，如同步or异步, ADC传输模式是DDR or通用并行模式。 C. 设定小规模量产相关参数 动态显示被采信号的波形 同步/异步采样数据 保存采样数据，处理并计算SNR,SFDR,THD,INL/DNL 控制采样频率和信号频率，控制采样间隔。 通过控制筛选机，实现实验室小规模量产。
静态技术参数
1. DNL-微分线性度
DNL = |[(VD+1- VD)/VLSB-IDEAL - 1] |，其中0 < D < 2N - 2
2. INL-积分线性度
INL是DNL误差的数学积分。
3. Offset Error-偏移误差
当输入信号是零时，输出值和理论数值之间差。
4. Gain Error-增益误差
THD=20log10(RMS[harmonic]/RMS[signal])
4. SINAD
SINAD=20log10(RMS[harmonic]+RMS[signal]/RMS[signal])
5. 最大有效位数:ENOB ENOB=(SNR-1.76)/6.02
动态参数matlab计算结果
采样时钟： FS=184MSPS 待测信号： FIN=170MHz