锥光镜下二轴晶矿物干涉图观察试验指导基本要求试验内容
实验指导_2
1、实验一偏光显微镜使用及岩石薄片简介实验要求：1)、了解偏光显微镜的主要构造、装置、使用和保养方法。
2)、学会偏光显微镜的一般调节和校正方法(调节照明、调节焦距，中心校正及视域直径测定)。
实验内容：1)、使用中倍物镜(10×) ，调节照明(对光)、调节焦距(准焦)，校正中心及测定视域直径。
2、实验二解理及多色性观察实验要求：1)、认识解理等级，了解同一矿物不同方向切面上解理缝的表现特征不同。
学会解理夹角的测定方法。
2)、认识多色性现象及其明显程度。
了解同一矿物不同方向切面上多色性的表现特征不同。
3)、学会利用黑云母确定下偏光镜的振动方向。
实验内容：1)、观察并描述黑云母的极完全解理特征，以及其所具有的极明显多色性现象。
利用黑云母测定下偏光镜的振动方向。
2)、观察角闪石的解理特征，并测定其解理夹角。
3、实验三突起等级的观察实验要求：1)、观察突起等级，认识不同等级突起的特征。
2)、认识贝克线，学会利用贝克线移动规律确定相邻两矿物折射率的相对大小，并确定突起正负。
实验内容：1)、比较石榴石、辉石、角闪石、石英及萤石的边缘、糙面特征及突起高低，确定它们各自的突起等级及突起正负。
2)、观察方解石或白云母的闪突起现象。
4、实验四干涉色级序特征的观察及矿片上光率体椭圆半径方向和名称测定实验要求：1)、学会正交偏光镜的检查与校正方法。
2)、认识1—3级干涉色及高级白干涉色的特征。
3)、学会使用石膏试板、云母试板测定矿片上光率体椭圆半径方向和名称的方法。
实验内容：1)、检查上、下偏光镜的振动方向是否正交。
2)、观察石英楔1—3级干涉色级序及各级序的特征。
3)、观察方解石的高级白干涉色特征，并确定加试板前后干涉色的变化。
4)、观察具一级灰干涉色的石英颗粒，在加石膏试板前后干涉色的升降变化。
5)、确定具一组极完善解理白云母矿片上的光率体椭圆半径方向和名称。
5、实验五干涉色级序及双折率的测定实验要求：1)、学会应用楔形边法，判断矿片干涉色级序。
实验七 二轴晶干涉图像的观察
实验七 二、方法原理
二轴晶干涉图的观察
垂直Bxa切面光性的测定方法 垂直Bxa切面光性的测定方法 Bxa
实验七 二、方法原理
二轴晶干涉图的观察
光轴角大小的测定方法 当光轴面与上下偏光镜振动方向成45° 当光轴面与上下偏光镜振动方向成45°夹 45 角时，黑带的弯曲程度与光轴角大小成反比， 角时，黑带的弯曲程度与光轴角大小成反比，光 轴角愈大，黑带的弯曲程度愈小。 轴角愈大，黑带的弯曲程度愈小。
实验七 一、目的要求
二轴晶干涉图的观察
学会锥光镜的装置， 学会锥光镜的装置 ， 认识二轴晶不同切面 的干涉图像特征并测定一轴晶的光性符号
实验七 二、方法原理
二轴晶干涉图的观察
垂直Bxa切面光性的测定方法 垂直Bxa切面光性的测定方法 Bxa 二轴晶垂直 Bxa切面干 Bxa切面干 涉图的特征 及其光率体 椭圆半径的 分布
实验七 四、实Байду номын сангаас内容
二轴晶干涉图的观察
1.观察白云母垂直Bxa切面干涉图特点， 1.观察白云母垂直Bxa切面干涉图特点，并使用石膏 观察白云母垂直Bxa切面干涉图特点 试板测定光性符号 ； 2.观察黑云母垂直Bxa切面干涉图特点，并使用石膏 2.观察黑云母垂直Bxa切面干涉图特点， 观察黑云母垂直Bxa切面干涉图特点 试板测定光性符号 ； ； 3.估测光轴角大小； 3.估测光轴角大小； 估测光轴角大小
实验七 五、实验报告
二轴晶干涉图的观察
二轴晶矿物的干涉图像及光性 矿物 黑云母垂直 Bxa切面 切面 白云母垂直 Bxa切面 切面 干涉图像特点 干涉图像 转45°时的图像 ° 估计2V角 光性符号 估计 角
实验七 二、方法原理
二轴晶干涉图的观察
《造岩矿物学》第八章锥光镜下的晶体光学性质
一轴晶平行光轴切面干涉图
形象特点：闪图
一轴晶平行光轴切面干涉图成因
一轴晶平行光轴切面波向图
光轴
1.553 1.544
一轴晶平行光轴切面干涉图中光性符号测定
第三节 二轴晶干涉图
一、垂直锐角等分线（Bxa） 切片的干涉图 二、垂直一个光轴切片的干 涉图 三、平行光轴面切片干涉图
一、垂直锐角等分线（Bxa）切 片的干涉图
第二节 一轴晶垂直光轴切片 的干涉图
（一）图象特点 （二）垂直光轴切片干涉图的应用
（一）图象特点
重折率很大或薄片厚度很大
重折率很小或薄片厚度很小
干涉色圈的成因
一轴晶垂直光轴 切面的波向图
黒十字臂的成因
（二）垂直光轴切片干涉图的应用
• 1．确定轴性及切片方向 • 根据干涉图的形象特点，可确定为一轴晶垂直 光轴的切片。 • 2．测定光性符号 • 一轴晶垂直光轴切片的干涉图中，黑十字的四 个象限内，放射线方向代表 Ne′ 的方向；同心 圆的切线方向代表 No 的方向。加入试板，观察 干涉图中黑十字四个象限内干涉色的升降变化， 根据补色法则即能确定Ne′与No的相对大小。
（一）图像特点
（二）二轴晶垂直Bxa切片干涉图的应用
⊥Bxa切面 (+)
⊥Bxa切面
(-)
Ng=Bxa Np=Bxa
（一）图像特点
重折率较大时，干涉图形象
重折率较小时，干涉图形象
成因分析 光波振动图可以根据拜－弗定律做出
二轴晶垂直Bxa切面光波振动图
A
黒十字臂及弯曲黒带的成因
OA
Bxa
第八章
锥光镜下的晶体 光学性质
第一节 锥光镜的装置 第二节 一轴晶垂直光轴 切片的干涉图 第三节 二轴晶干涉图
实验2 正交和锥光下矿物的特征
b Y a X
parallel extinction
inclined extinction
Extinction angle – parallel extinction
• All uniaxial minerals show parallel extinction • Orthorhombic minerals show parallel extinction
2) 光轴倾角较大时，光轴出露点已不在视域中心，也没 有黑十字存在，只有一根黑带。这种情况下，需要确定 光轴出露点位置及象限归属，然后才能判别相应性质。 （见下图）
光轴出露点位置及象限归 属的确定方法如下：以顺 时针转动物台为标准，黑 带向下移动，光轴出露点 在右边，黑带上部为二象 限，下部为三象限；黑带 向上移动，光轴出露点在 左边，黑带上部为一象限， 下部为四象限； 黑带向右移动，光轴出露 点在上边，黑带左部为三 象限，右部为四象限；黑 带向左移动，光轴出露点 在下边，黑带左部为二象 限，右部为一象限；
实验 2
正交和锥光下 矿物的特征
2.1 实验目的和要求
1. 认识晶体（矿物）正交偏光下的各 种特征 2. 认识晶体（矿物）锥光下的各种特征
2.2 实验内容
1. 正交偏光镜下，晶体的光学性质
1）干涉色级序的观察 2）一轴晶和二轴晶矿物的干涉色的测定
2. 锥光镜下晶体的光学性质 1）一轴晶锥光镜下干涉图特征级光性正负 的确定 2）二轴晶锥光镜下干涉图特征及光性正负、 2∨角、……性等的测定；
' p
• 光程差计算
R d ( N g ' N p ' )
A OB sin 2 sin [d ( N N ) / ]
正交偏光镜下观察指导基本要求内容和方法
《正交偏光镜下观察》实验指导实验类型：综合实验学时：2实验要求：必修测定光率体椭圆半径名称、消光角类型、消光角、延性及双晶一、基本要求1．学会测定光率体椭圆半径的方位与名称。
2．认识三种消光类型，学会测定消光角、延性的方法。
3．认识双晶现象。
二、实验内容和方法1．用石膏试板测定磷灰石的光率体椭圆长短半径的方位和名称2．用石膏试板、云母试板分别测定白云母的光率体椭圆长短半径的方位与名称（1）选择欲测矿物（磷灰石、白云母）置于视域中心，旋转载物台至消光位，此时矿片上的光率体椭圆长短半径分别平行上下偏光镜的振动方向，即与目镜十字丝一致。
（2）从消光位转动载物台45o，此时矿片上的光率体椭圆长短半径分别与目镜十字丝成45o，矿片干涉色最亮。
（3）插入石膏试板，观察干涉色的升降变化。
根据补色法则：干涉色升高，同名半径一致；干涉色降低，异名半径一致。
如磷灰石在正交偏光镜下从消光位逆时针转45o（矿物处于II、IV象限）呈I级灰白干涉色（R1＝147nm），加入石膏试板（R2=550nm）后呈II级蓝干涉色（R总＝697nm）。
R总＝R1+R2＝147nm+550nm＝697nm干涉色增加，同名半径一致，因此，磷灰石光率体的长轴与晶体的短边平行，短轴与晶体的长边平行。
职工磷灰石在正交偏光镜下从消光位顺时针转45o（矿物处于I、III象限），加入石膏试板后，磷灰石矿物呈I级橙黄干涉色。
R总＝R2－R1＝550nm－147nm＝403nm干涉色降低，异名半径平行，磷灰石光率体椭圆切面的的长短轴分布与II、IV象限判定结果一致。
3．观察角闪石的三种消光类型（1）平行消光（2）斜消光（3）对称消光4．学会测定消光角的方法一般只有在单斜晶系和三斜晶系矿物中有些切面晶轴与光率体主轴不一致，因此只有单斜晶系和三斜晶系矿物测定消光角，由于不同矿物的消光角不同，测定消光角便具有鉴定意义。
消光角测定步骤：（1）选择定向切面。
如测角闪石的消光角，应选平行光轴面的切面，该切面具有一组清晰解理，多色性明显，干涉色最高。
晶体光学实验指导书
晶体光学实验指导书赖健清编（地质工程专业A方向适用）中南大学地球科学与信息物理学院目录实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察 (1)一.目的要求 (1)二.实验内容 (1)实验二突起等级和多色性的观察 (3)一.目的要求 (3)二.实验内容 (3)实验一、二报告内容： (3)实验三干涉色级序特征的观察，矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定 (4)一．目的要求 (4)二．实验内容 (4)实验四干涉色级序及双折率的测定和双晶的观察 (5)一．目的要求 (5)二．实验内容 (5)实验三、四实验报告内容 (5)实验五一轴晶干涉图、二轴晶干涉图 (6)一．目的要求 (6)二．锥光镜下观察的操作程序 (6)三．实验内容 (6)实验六斜长石的牌码测定 (6)一、目的要求 (6)二、实验内容 (6)实验五报告内容 (9)实验六斜长石牌号的测定 (9)实验七主要造岩矿物的光性鉴定(一) (10)一．目的要求 (10)二．实验内容 (10)实验八主要造岩矿物的光性鉴定(二) (10)一、目的要求 (10)二、实验内容 (10)实验七、八主要造岩矿物的光性鉴定 (10)附：常见透明矿物光学性质（一） (12)常见透明矿物光学性质（二） (13)实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察一.目的要求1．了解偏光显微镜的主要构造，装置，使用和保养方法。
2．学会偏光显微镜的一般调节和校正。
3．认识解理等级，测定解理夹角。
二.实验内容1．打开光源为了延长光源灯泡寿命，打开光源及关闭光源之前，务必确认光源强度调至．．．．．．最小．．．．．．．．．．．。
临时离开不必关闭光源开关，只需将光源．．。
永远不要把光源强度开至最大强度调至最小。
2．偏光显微镜的调节与校正1）调节照明2）调节焦距必须记住：通过下降物台来对焦．．．．．．．．．。
3）校正中心4）下偏光镜振动方向的确定和校正在单偏光镜下，找一具极完全解理的黑云母（12号薄片），置于视域中心。
二、二轴晶干涉图
Np
Nm Nm
Ng
Np
Nm
Np
Np Nm
二轴晶矿物主要切片类型示意图
一. 垂直锐角等分线切面干涉图
1. 垂直锐角等分线切面干涉图特点
(1).在0º 位置时由一个黑十字及“∞”字形干涉色色环组成. 黑十字交点在视域中心,为Bxa出露点.黑十字的两条臂粗细 不等，光轴面迹线方向黑臂较细，且在两光轴出露点处最细； Nm方向黑臂较粗. “∞”字形色环以两个光轴为中心，干涉 色向外逐渐升高, 当矿片双折射率很低时，四个象限只有灰 白干涉色而无干涉色色环. (2).转动物台时黑十字逐渐分裂为一对双曲线形的黑臂。 (3).在45º 位置时，双曲线形的弯曲黑臂顶点相距最远，顶 点的距离与光轴角的大小成正比，双曲线的顶点即光轴的出 露点，其连线方向为光轴面迹线，中点为Bxa出露点。
二. 垂直一个光轴切面的干涉图
1.干涉图特点： 相当于垂直Bxa干涉图的一半.光轴出露点位于视 域中心.随着物台的转动,干涉图变化特点如下:
(1).在0º 位置时,光轴与上下偏光振动方向平行，出现一条 直的黑臂及卵形干涉色环，黑臂最细的地方为光轴出露点. (2).转动物台黑臂逐渐发生弯曲. (3).至45º 位置时，黑臂弯曲最大.黑臂弯曲的顶点位于视域 中心，为光轴的出露点，凸向Bxa的出露方位. (4).当物台转动角度大于 45º 时,黑臂又渐趋平直，到90º 时， 黑臂完全恢复平直，只是方向恰与最初位置正交。继续转动 物台上述变化重复出现。
AP 钝角区 锐角区
Nm
Bxa投影方向
钝角区
B晶垂直Bxa切面干涉图中 光率体要素分布(A)和Bxa/Bxo的投影方位(B)
光性符号测定方法
Nm 锐角区
Np
Nm
10 二轴晶干涉图
实验内容
观察白云母⊥ Bxa切面 切面干 1. 观察白云母⊥ Bxa切面干 涉图，测光性、2V。 K19） 涉图，测光性、2V。（K19）
厚度不同的 片白云母： 厚度不同的3片白云母： 薄：不见干涉色圈 不见干涉色圈 中：可见l一2圈 可见l 厚：可见3—5圈 可见3
Nm方向 方向
2V
0°位置
OA露点 Bx 露点 a露 露 点
注：此切面只要求认识，可不描述
下课离开前，请： 关闭显微镜、电脑电源 归还薄片 盖好镜罩 交作业
实验8 实验8 二轴晶干涉图
1.⊥ 切面干涉图特征及应用（ 白云母） 1.⊥Bxa切面干涉图特征及应用（K19白云母） 切面干涉图特征及应用 2.⊥OA切面干涉图特征及应用（K16重晶石） 切面干涉图特征及应用（ 重晶石） 2.⊥ 切面干涉图特征及应用 3. 认识∥OAP切面干涉图特征（K18石膏） 认识∥ 切面干涉图特征（ 石膏） 切面干涉图特征 石膏 完成报告第10页 完成报告第10页 10
OA露点 露点
Nm方向 方向
45° 45°位置
2V OA露点 露点 Bxa露点 露点 OA露点 露点
OAP迹线 迹线
加入石膏试板，测光性
一般方法：判断中间或靠近 黑带区域干涉色的升降
1λ λ
1λ λ
45° 45°位
正光性
负光性
●也可插入云母试板，出现消色斑的象限干涉色降低！ 也可插入云母试板，出现消色斑的象限干涉色降低！
测2V（p109, 图5-25）
平行OAP OAP切面干涉图 3 平行OAP切面干涉图
图象特点：与一轴晶平行 切面相似。 图象特点：与一轴晶平行OA切面相似。45°位，由中心向外 切面相似 干涉色降低的方向为Bxa
实验课-锥光镜下的晶体光学性质(2)
黑云母垂直Bxa切面干涉图
黑云母垂直Bxa切面干涉图，旋转45度
插入石膏试板，锐角区干涉色降低，钝角区干涉色升高
Nm
Bxa=Np
锐角区
Ng
Ng
重晶石垂直Bxa切面干涉图
重晶石垂直Bxa切面干涉图，旋转45度，黑十字呈弧状分开
插入石膏试板，锐角区干涉色降低，钝角区干涉色升高
Nm
Np
Ng
重晶石垂直Bxa切面干涉图，再旋转90度，黑十字呈弧状分开
实验八 锥光镜下的晶体光学性质(二)
二轴晶干涉图观察
实验目的要求： 1．认识二轴直Bxa及垂直光轴切面 干涉图测定光性符号的方法。
实验内容：
1．观察黑云母垂直Bxa切面干涉图的图 像特点，并应用云母试板(或石膏试板)测定 其光性符号。 2.观察重晶石垂直光轴切面干涉图的特 点，估计2V大小，并测定光性符号。
Nm
Ng
Np
实验报告
观察黑云母垂直Bxa切面的干 涉图特征，确定其轴性和光性， 并绘图说明之。
Nm
Np
Ng
重晶石垂直光轴切面干涉图，为垂直Bxa切面干涉图的一部分
重晶石垂直光轴切面干涉图，旋转45度，黑带兵弯曲呈弧状 光轴面
锐角区
Nm
插入石膏试板，锐角区干涉色降低，钝角区干涉色升高
Ng Np Nm
重晶石垂直光轴切面干涉图，再旋转90度， 黑带呈弧状弯曲，凸出方向改变
Nm
插入石膏试板，锐角区干涉色升高，钝角区干涉色降低
实验3 常见透明矿物的鉴定(均质体、一轴晶、二轴晶矿物)
3.4 实验步骤
3.二轴晶矿物的鉴定（辉石或角闪石类）
1）单偏光下的特征
a.形态、粒径大小的观察 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察 d.解理的观察
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
a.垂直Bxa（Bxo）的切面的干涉光 b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
实验3 实验3 常见透明矿物的鉴定 （均质体、一轴晶、二轴晶矿物）
3.1实验目的和要求 3.1实验目的和要求
• 1.认识常见透明矿物偏光显微镜下的特 征 • 2.正握萤石、石榴石、橄榄石、辉石、 角闪石、磷灰石、石英等鉴定特征
3.2 实验内容
1.均质体矿物的鉴定（萤石和石榴石例） 2.一轴晶矿物的鉴定（石英或磷灰石） 3.二轴晶矿物 实验步骤
3）锥光镜下的特征
a.垂直Bxa（Bxo）的切面的干涉图 b.平行光轴的切面的干涉图 c.斜交光轴的切面的干涉图 d.确定光性正负、延性符号，2V角大小
3.5 实验报告
根据实验1和实验 掌握的知识观察 根据实验 和实验2掌握的知识观察下列矿物 和实验
并写出各自的鉴定特征： 并写出各自的鉴定特征：
2.一轴晶矿物的鉴定（磷灰石或石英）
1）单偏光下的特征
a.形态、粒径大小的观察 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
a.垂直光轴的切面的干涉光 b. b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
a.垂直光轴的切面的干涉图 b.平行光轴的切面的干涉图 c.斜交光轴的切面的干涉图 d.确定光行正负
3.3 实验仪器和用品
矿物岩石学实验课预习材料
光性矿物学实验二二轴晶矿物（一）： 辉石族矿物一、实验目的与要求（1）掌握辉石族矿物的通性；（2）认识常见的辉石类矿物，并掌握其鉴定特征。
二、实验内容及实验材料紫苏辉石（橄榄紫苏辉长岩） 普通辉石（同上）逶辉石 （透辉石薄片，上课时发） 霓辉石 （霓辉正长岩薄片，上课时发）霓石 （用来观察榍石的薄片，霓霞正长岩薄片）掌握以上矿物的光性：搞清普通辉石和透辉石的区别，霓石、霓辉石及普通角闪石之间的区别。
三、实验指导（一） 辉石族矿物的通性1、辉石是Mg 、Fe 2+、Ca 以及Na 、Al 、Fe 3+的偏硅酸盐，单链状构造，络阴离子共同式为（Si 2O 6）。
斜方辉石为Mg 2[Si 2O 6]和Fe 2[Si 2O 6]的类质同象系列，单斜辉石可分为三个类质同象系列：（1）斜顽辉石 Mg 2[Si 2O 6] —透辉石CaMg[Si 2O 6] （2）透辉石 CaMg[Si 2O 6]—钙铁辉石CaFe[Si 2O 6]（3）透辉石 CaMg[Si 2O 6]—霓石NaFe[Si 2O 6]—硬玉NaAl[Si 2O 6] 其相互关系如下图所示。
2、辉石结晶成斜方晶系和单斜晶系，短柱状多见，解理{110}完全，,为近于正交的解斜顽辉石Mg 2[Si 2O 6]钙铁辉石CaFe[Si 2O 6] 硬玉NaAl[Si 2O 6] 霓石NaFe[Si 2O 6] 普通辉石Ca(Mg,Fe,Al)[(Si,Al)2O 6] FeAl , Fe理，横截面以八边形常见，根据柱面和轴面的相对发育程度，可呈下图所示各种形状，宏观晶体多为暗绿一黑色，有时也呈淡绿、褐色，硬度5-7，比重2.8—3. 7。
3、辉石在薄片中一般无色或仅带较淡的色调，如很淡的淡绿，淡褐色碱性辉石例外，为绿色，褐色，多色性、吸收性较强，但比角闪石弱。
正高突起，横切面可见近于正交的两组完全解理。
纵切面短柱状，可见一组完全解理。
除解理外，可见平行(100)、(010)，(001)的裂理多为二轴晶正光性(紫苏辉石、霓石为负光性)，光轴面AP ∥(010)，辉石一般有中一高的双折率，最高达0.060±，一般为二级—三级干涉色（顽辉石例外，双折率为0.010）；斜方辉石为平行消光，单斜辉石为斜消光，消光角是区别单斜辉石不同变种的重要依据，Ng和C轴在钝角中视不同变种而形成+22°~95°的角度。
矿物分析测试技术实验指导书
辽宁工程技术大学矿业学院矿物加工工程专业矿物分析测试技术实验指导书（2013年06月版）专业：矿物加工工程课程名称：矿物分析测试技术**人：***矿物加工工程专业实验指导书矿物分析测试技术实验实验课时数：2课时1.实验名称：单偏光镜下的晶体光学性质2.实验目的：⑴认识解理等级，了解同一矿物不同方向切面上解理缝的表现情况不同。
学会解理夹角的测定方法。
⑵认识多色性现象及明显程度。
了解同一矿物，不同方向切面上多色性表现情况不同。
⑶学会利用黑云母确定下偏光镜的振动方向⑷观察突起等级，认识不同等级突起的特征。
⑸认识贝壳线及色散效应，学会利用贝壳线移动规律及色散效应，确定相邻两物质折射率的相对大小，确定突起正负。
3.实验内容及方法：⑴观察黑云母的极完全解理，极明显的多色性现象，并利用黑云母测定偏光镜的振动方向。
在岩石薄片中，找一个具极完全解理而多色性最明显的黑云母，置视域中心，转动载物台至黑云母颜色最深的位置。
此时黑云母解理缝方向为下偏光镜振动方向PP（因为已知光波沿黑云母解理缝方向振动时，吸收最强）。
使目镜十字丝之一与解理缝平行（十字丝必须是东西、南北方向），则此时十字丝横丝方向代表下偏光镜振动方向PP。
⑵观察普通角闪石的完全解理，不同方向的切面上解理缝的表现情况，测定其解理夹角。
观察普通角闪石明显的多色性现象，不同方向切面的多色性表现情况。
在岩石薄片中找一个同时垂直两组解理的切面，观察解理等级，并测定两组解理的夹角。
观察多色性的明显程度及颜色变化情况。
找一个具有一组清晰解理的切面，观察解理等级，多色性明显程度及其颜色变化情况。
找一个不具解理缝的切面，观察多色性的明显程度。
比较石榴子石、辉石、角闪石、石英、萤石的边缘、糙面特征及突起高低，确定它们的突起等级及突起正负。
⑶观察方解石及白云石的闪突起现象。
4.思考题⑴矿物的多色性在什么方向切片上最明显？为什么？测定一轴晶和二轴晶矿物的多色性公式，需要选择什么方向的切面？⑵岩石薄片中，矿物的突起高低取决于什么因素？如何区分正负突起？矿物加工工程专业实验指导书矿物分析测试技术实验实验课时数：2课时1.实验名称：正交偏光镜间的晶体光学性质2.实验目的：⑴学会正交偏光镜的检查与校正方法。
实习8 二轴晶干涉图
●也可插入云母试板，出现消色斑的象限干涉色降低！
0°位置
45°位置
低双折射率干涉图
45°插入 石膏试板后
光性正负？
2VK16（重晶石）
干涉图特点：
•
相当于⊥Bxa干涉图的一半
•
光轴出露点在视域中心
•
0度位置时，出现一个黑带
•
45度位置时，黑带弯曲，顶点位于视域中心 (此时观察2V角）
0°位置
45°位置
● ∥OAP干涉图 —— 闪图、瞬变干涉图
0°位置
5±°位置
干涉色升高方向 Bxo
干涉色降低方向 Bxa
45°位置
加入试板，根据视域中心 干涉色的升降来判断Bxo、 Bxa代表的轴性（Ng/Np）， 从而确定矿物的光性
●干涉图意义—— 如能肯定是二轴晶，则可确定切面平行 OAP ；可测光性正负 在本切面上可在正交镜下观察最高干涉色 在单偏光镜下观察Ng、Np的颜色
OA Ng=Bxa
OA
2V
Np=Bxo
(+)
Ng=Bxo OA
(-)
2V Np=Bxa
OA
1、⊥Bxa干涉图
0°位置
45°位置 90°位置
135°位置
2V 2V
OA露点
OA露点 Bx a露 点
OAP迹线
OA露点
Nm方向
Nm方向
Bxa露点 OA露点
OAP迹线
0°位置
45°位置
高双折射率干涉图
●●
双线当 折消 率光角 很影较 小大
(Ng)
. 三个主轴的相应折射率值:Ng>Nm>Np。
. 三个主轴面:
指包含有二个主轴的切面，
基本要求试验内容和方法思考题
1650mm 2200mm
第I级 第 II 级
第 III 级
三、用矿物楔形边法确定矿物的干涉色级序
薄片 矿物名 突起等 颗 干涉 干涉色紫红
号
称
级
粒 色 色圈的圈数
1
2 橄榄石
3
4
法
1.检查偏光显微镜的正交装置。 2.观察矿物的消光现象与消光位。 非均质体除垂直光轴以外的其他方向切面在正交偏光镜下旋转载物台一周出现四明四 暗现象，矿片黑暗时称为消光，矿片消光时所处的位置称为消光位。四次消光位各相差 90o， 从消光位转动载物台 45o，视域中矿片最明亮，干涉色最清晰。 3.掌握石膏试板云母试板的干涉色、光程差值及其光率体椭圆长短半径的位置。 4.观察石英楔的干涉色级序，掌握各级干涉色的色序及其特征。 将石英楔从试板孔（即 45o 位置）中缓慢插入，或将石英楔置于载物台上，从 45o 方向 缓慢推进，观察 I－III 级干涉色的级序与色序特征，对照米歇尔－列维色谱个观察。 5.利用楔形法判断橄榄石的干涉色级序。 首先选择具有楔形边的橄榄石颗粒，其最外缘必须是 I 级灰白干涉色的方可应用，其次， 注意观察红色干涉色色圈数目（n），最后依据（n+1）法则即可确定橄榄石中心部位的干涉 色为几级干涉色。如橄榄石边缘为 I 级灰，有两道红圈（或带），中间干涉色为蓝绿色，则 此橄榄石应为 III 级蓝绿干涉色。 6.已知橄榄石为 III 级蓝绿干涉色，用米歇尔－列维干涉色色谱表，薄片厚度为 0.03mm， 确定橄榄石的最大双折射率。 7.认识方解石的高级白干涉色特征，参观绿泥石的异常干涉色现象。 注意：描述干涉色时，一定要说明干涉色的级序和具体颜色，如 II 级蓝干涉色，同时 要与肉眼观察矿物的颜色，单偏光镜下观察的矿物颜色的形成机理进行区分。
实验3 常见透明矿物的鉴定(均质体、一轴晶、二轴晶矿物)
3.2 实验内容
1.均质体矿物的鉴定（萤石和石榴石例） 2.一轴晶矿物的鉴定（石英或磷灰石） 3.二轴晶矿物的鉴定（橄榄石或辉石或 角闪石）
3.3 实验仪器和用品
• 1.偏光显微镜 • 2.含石英、磷灰石、萤石、石榴石、橄 榄石、辉石、角闪石相关的薄片一套
3.4 实验步骤
1.均质体矿物的鉴定（石榴石或萤石）
a.垂直光轴的切面的干涉光 b. b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
a.垂直光轴的切面的干涉图 b.平行光轴的切面的干涉图 c.斜交光轴的切面的干涉图 d.确定光行正负
3.4 实验步骤
3.二轴晶矿物的鉴 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察 d.解理的观察
3.5 实验报告
根据实验1和实验 掌握的知识观察 根据实验 和实验2掌握的知识观察下列矿物 和实验
并写出各自的鉴定特征： 并写出各自的鉴定特征：
• 萤石 • 石榴石 • 石英 • 磷灰石 • 橄榄石 • 辉石 • 角闪石
1）单偏光下的特征
a.形态，粒径大小的测定 b.突起等观察 c.有否多色性等
2）正交镜下的特征
正交镜下视域为全光
3.4 实验步骤
2.一轴晶矿物的鉴定（磷灰石或石英）
1）单偏光下的特征
a.形态、粒径大小的观察 b.根据贝壳线和突起的等级确定 c.颜色和多色性的观察
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
3.4 实验步骤
2）正交镜下的特征
a.垂直Bxa（Bxo）的切面的干涉光 b.平行光轴的切面的干涉光 c.斜交光轴的切面的干涉光
3.4 实验步骤
3）锥光镜下的特征
二、二轴晶干涉图
近于垂直Bxa切面干涉图的特点
光轴
光轴Ap
光轴
光轴 Ap
(A) 0º 位置
(B) 45º 位置
(C) 90º 位置
(D) 135º 位置
近于垂直Bxa切面干涉图随物台转动的变化特点
近于垂直光轴切面干涉图的特点
光轴 Ap 光轴
Ap
(A) 0º 位置
(B) 45º 位置
(C) 90º 位置
(D) 135º 位置
第五章.锥光系统下晶体的 光学性质
第三节. 二轴晶干涉图
主要切片类型：
1. 垂直锐角等分线切面干涉图 2. 垂直光轴切面干涉图(常用)
※
3. 斜交光轴切面干涉图
4. 垂直钝角等分线切面干涉图 5. 平行光轴面切面干涉图(常用)
⊥OA切面 Nm
∥AP切面 Ng
⊥Bxa（+）切面 Nm
⊥Bxa（）切面 Nm
近于垂直光轴切面干涉图随物台转动的变化特点
2.二轴晶斜交切面干涉图的应用
（1)确定轴性及切片类型 （2)测定光性符号
光性符号的测定方法
Ap
光轴 光轴
Ap
光轴
Ap
光轴
45º
(A) 0º 位置 (B) 45º 位置
Bxa=Ng (+) Bxa=Np (-)
(C) 加入检板
(D) 加入检板
垂直一个光轴切面干涉图测定光性符号示意图
四.平行光轴面切面干涉图
干涉图特点
P P
Bxa OA Bxa OA
A
A
AA
A
Nm
Bxo
P (A) 0º 位置
P (B) 45º 位置
Bxo
(C)波向图
晶体光学与光性矿物学实习指导
晶体光学和光性矿物学实习指导一偏光显微镜的使用及矿物颗粒大小、含量的测定（一）偏光显微镜的使用和调节1 熟悉偏光显微镜的构造、装置、使用和维护保养方法2 调节照明（对光）（1）装上低倍或中倍物镜，打开锁光圈，轻轻推出上偏光镜、勃氏镜及聚光镜（2）转动反光镜至视域最亮为止。
如果总是对不亮，可以轻轻抽出目镜或推入勃氏镜，然后转动反光镜至视域内看到光源为止。
此时加上目镜或推出勃氏镜，视域必然最亮。
3 调节焦距（准焦）（1）将一薄片置于载物台上（注意必须使盖玻璃朝上），用弹簧夹夹住。
（2）从侧旁看物镜镜头，转动粗动螺丝，使镜筒下降，至物镜到最低位置（注意切勿压碎薄片）。
（3）从目镜中观察，同时转动粗动螺丝，使镜筒上升，当视域中刚刚出现物象时，改用微动螺丝，使物象清晰为止。
（4）换用高倍物镜，用同法调节焦距。
在调节焦距时，绝不能眼睛看着目镜下降镜筒，因为这样很容易压碎薄片并损坏物镜。
在调节高倍物镜焦躁时，尤应注意。
因为高倍物镜的焦躁很短，镜头几乎和薄片接触，若薄片盖玻璃朝下时，不但无法准焦，而且常有压碎薄片，割伤镜头的事故发生。
4 校正中心在校正中心前，必须检查接物镜位置是否正确，如物镜没有安装在正确位置上，中心不但不能校正，而且往往容易损坏物镜和校正螺丝。
校正中心时，如发现螺丝旋转费力，或失效时，应立即报告，请求指导，切勿强力扭动。
校正中心的方法，参阅教材的有关部分。
5 视域直径测量（1）测量中、低倍物镜的视域直径将带刻度的透明三角板置载物台上，准焦后，观察视域直径为几毫米，分别记录数值，待日后查用。
（2）高倍物镜视域直径的测量：此时应借助物台测微尺。
物台测微尺长1毫米，刻有100小格的显微尺（嵌在玻璃片上），每小格相当于0.01毫米。
测量时将物台测微尺置载物台上，准焦后，观察视域直径等于微尺的几小格。
若为20格，则直径等于20×0.01＝0.2毫米。
记录所测结果，备日后查用。
（二）矿物颗粒大小及含量的测量1 确定目镜微尺格值（每格代表的长度）a 将物台微尺置物台上，准焦；b 转动物台微尺和目镜微尺平行，并移动物台微尺和目镜微尺零点对齐。
6实验六锥光系统下矿物性质测定
实验六锥光系统下干涉图的观察及光性测定一、实验目的与要求：⒈熟悉和掌握聚敛偏光系统的组成和操作技术；⒉认识一轴晶二轴晶主要切面的干涉图形态特征及变化规律；⒊掌握一轴晶二轴晶光性正负的基本测定方法。
二、实验内容与步骤：（一）聚敛偏光系统的操作步骤用中低倍物镜找好欲测矿物颗粒，并将其移至十字丝中心。
在正交偏光基础上，拨正聚光镜并将其升至最高位置。
换用高倍物镜（40*）进行准焦并精确校正中心，最后推入勃氏镜（或去掉目镜）。
注意：⒈换用高倍物镜准焦时，必须严格按准焦要求进行；⒉物镜中心校正不许仔细精准；⒊对粒度小的晶体，可以不加勃氏镜而去掉目镜进行观察。
从而干涉图虽然小，但清晰。
（二）观察石英垂直（或近于垂直、或斜交光轴）切面的干涉图并测定其光性⒈选取石英定向切片置于十字丝中心；⒉按聚敛偏光系统观察要求操作，即可见到相应切面的干涉图。
观察干涉图的形态特征及物台转动时的变化规律；⒊根据干涉图的色圈情况，选用适宜的试板插入，观察黑十子所分割的四个象限内干涉色的变化情况，判定石英的光性正负。
（三）观察方解石垂直或斜交光轴切面的干涉图并测定其光性具体操作步骤同（二）。
（四）观察白云母⊥B xa切片的干涉图并测定其光性⒈选取白云母定向切片置于十字丝中心，按锥光观察要求进行操作，可见到相应切面干涉图；⒉旋转物台一周，观察干涉图的形态变化；⒊从00（即光轴面与上下偏光镜振动方向之一平行）位置转动物台至450位置，根据干涉图色环的多少。
选择合适试板插入，观察弯曲黑带内外的干涉色升降情况，判断B xa是N P还是 N g，从而确定白云母的光性正负。
（五）观察斜交切片干涉图，了解其形态特点和移动规律在晶体光性研究中，这种切片最为常见。
其干涉图的主要特点是：黑十字与干涉色环均不完整；转动物台黑带斜交目镜十字丝移过视域切其移动方向总是和物台转动方向相反；弯曲黑带的凸向永远指向B xa的出露点方向。
因此，利用这种干涉图测定光性时，只要掌握黑带的移动规律，找出B xa所在方向，然后插入试板，根据干涉色的升降情况即可确定。
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《锥光镜下二轴晶矿物干涉图观察》实验指导
实验类型：综合实验学时：2实验要求：必修
一、基本要求
1．认识二轴晶矿物垂直Bxa切面、垂直光轴切面及斜交切面干涉图的图像特征。
2．学会应用垂直Bxa和垂直光轴切面干涉图测定光性符号的方法。
3．学会利用垂直光轴切面干涉图估测光轴角的方法。
二、实验内容和方法
1．观察白云母垂直Bxa切面干涉图的特征，测定白云母光性符号，并估计2V大小提示：图像特点
（1）0o位置：光轴面与上、下偏光镜振动方向之一平行时，干涉图由一个黑十字和“∞”字形干涉色色圈组成。
黑十字交点为Bxa出露点，组成黑十字的两条黑带粗细不等。
沿光轴面迹线方向的黑带较细，在两个光轴出露点的位置更细。
垂直光轴面方向，黑带较宽，越向外越宽。
“∞”字形干涉色色圈以两个光轴为中心，越向外干涉色越高，干涉色色圈也越密。
干涉色色圈的多少与矿物的双折率大小及薄片厚度成正比。
（2）45o位置：旋转载物台45o，使光轴面与上、下偏光镜振动方向成45o夹角，黑十字分裂为双曲线黑带，黑带弯曲顶点为光轴出露点，两光轴出露点的连线是光轴面迹线方向，垂直光轴面迹线的方向为Nm方向。
垂直Bxa切面干涉图处于45o位置时，根据两个光轴出露点之间距离大小，表示光轴角的相对大小。
若两个光轴的出露点在视域内，则2V<45o。
若两个光轴的出露点在视域外，则2V>45o。
光轴角越小，双曲线弯曲的顶点距离越近。
（3）90o位置时：干涉图与0o位置时相似，仅粗细黑带及干涉色色圈的位置同时转动了90o。
提示：确定二轴晶光性符号正负要领：
（1）Ng>Nm>Np；
（2）光轴面法线方向永远是Nm；
（3）Bxa＝Ng，为二轴晶正光性（＋）；Bxa＝Np，为二轴晶负光性（—）。
2．观察重晶石垂直一个光轴切面干涉图的特征，测定光性符号正负，并估计2V大小提示：图像特点
二轴晶垂直一个光轴切面干涉图相当于垂直Bxa干涉图的一半，光轴出露点位于视域中心，围绕光轴出露点有卵形干涉色色圈。
提示：确定垂直一个光轴切面干涉图的光性符号正负，可把垂直光轴干涉图当成垂直Bxa干涉图的一半，在45o位置时，视域内弯曲黑带的凸方指向Bxa出露点，加入试板，根据补色法则确定光率体椭圆半径的分布，确定Bxa为Ng或Np，从而定出光性符号的正负。
估计光轴角2V的大小：
在二轴晶垂直光轴切面干涉图中，当光轴面在45o位置时，可根据黑带的弯曲程度估计光轴角2V的大小。
光轴角越大，黑带弯曲度越小；光轴角越小，黑带弯曲度越大。
当光轴角为90o时，黑带为一直带；当光轴角为零时，两个光轴出露点合而为一，故两个弯带成直角而构成黑十字。
3．斜交光轴切面干涉图
提示：图像特点
不垂直Bxa：相当于垂直Bxa切面干涉图的一部分。
不垂直光轴：在45o位置时，弯曲黑带顶点不在视域中心。
4．垂直Bxo切面干涉图
5．平行光轴面切面干涉图
三、思考题
1．二轴晶垂直光轴干涉图与一轴晶垂直光轴干涉图有何区别？
2．如何确定二轴晶垂直Bxa和垂直光轴干涉图中光轴面迹线上的光率体长短半径的分布方位？
3．二轴晶斜交光轴切面干涉图与一轴晶斜交光轴切面干涉图如何区别？
4．确定矿物的轴性、光性符号应选什么方向的切面？它在单、正交偏光镜下有何特点？
四、实验报告。