锥光镜下二轴晶矿物干涉图观察试验指导基本要求试验内容

《锥光镜下二轴晶矿物干涉图观察》实验指导

实验类型：综合实验学时：2实验要求：必修

一、基本要求

1．认识二轴晶矿物垂直Bxa切面、垂直光轴切面及斜交切面干涉图的图像特征。

2．学会应用垂直Bxa和垂直光轴切面干涉图测定光性符号的方法。

3．学会利用垂直光轴切面干涉图估测光轴角的方法。

二、实验内容和方法

1．观察白云母垂直Bxa切面干涉图的特征，测定白云母光性符号，并估计2V大小提示：图像特点

（1）0o位置：光轴面与上、下偏光镜振动方向之一平行时，干涉图由一个黑十字和“∞”字形干涉色色圈组成。黑十字交点为Bxa出露点，组成黑十字的两条黑带粗细不等。沿光轴面迹线方向的黑带较细，在两个光轴出露点的位置更细。垂直光轴面方向，黑带较宽，越向外越宽。“∞”字形干涉色色圈以两个光轴为中心，越向外干涉色越高，干涉色色圈也越密。干涉色色圈的多少与矿物的双折率大小及薄片厚度成正比。

（2）45o位置：旋转载物台45o，使光轴面与上、下偏光镜振动方向成45o夹角，黑十字分裂为双曲线黑带，黑带弯曲顶点为光轴出露点，两光轴出露点的连线是光轴面迹线方向，垂直光轴面迹线的方向为Nm方向。

垂直Bxa切面干涉图处于45o位置时，根据两个光轴出露点之间距离大小，表示光轴角的相对大小。

若两个光轴的出露点在视域内，则2V<45o。

若两个光轴的出露点在视域外，则2V>45o。

光轴角越小，双曲线弯曲的顶点距离越近。

（3）90o位置时：干涉图与0o位置时相似，仅粗细黑带及干涉色色圈的位置同时转动了90o。

提示：确定二轴晶光性符号正负要领：

（1）Ng>Nm>Np；

（2）光轴面法线方向永远是Nm；

（3）Bxa＝Ng，为二轴晶正光性（＋）；Bxa＝Np，为二轴晶负光性（—）。

2．观察重晶石垂直一个光轴切面干涉图的特征，测定光性符号正负，并估计2V大小提示：图像特点

二轴晶垂直一个光轴切面干涉图相当于垂直Bxa干涉图的一半，光轴出露点位于视域中心，围绕光轴出露点有卵形干涉色色圈。

提示：确定垂直一个光轴切面干涉图的光性符号正负，可把垂直光轴干涉图当成垂直Bxa干涉图的一半，在45o位置时，视域内弯曲黑带的凸方指向Bxa出露点，加入试板，根据补色法则确定光率体椭圆半径的分布，确定Bxa为Ng或Np，从而定出光性符号的正负。

估计光轴角2V的大小：

在二轴晶垂直光轴切面干涉图中，当光轴面在45o位置时，可根据黑带的弯曲程度估计光轴角2V的大小。光轴角越大，黑带弯曲度越小；光轴角越小，黑带弯曲度越大。当光轴角为90o时，黑带为一直带；当光轴角为零时，两个光轴出露点合而为一，故两个弯带成直角而构成黑十字。

3．斜交光轴切面干涉图

提示：图像特点

不垂直Bxa：相当于垂直Bxa切面干涉图的一部分。

不垂直光轴：在45o位置时，弯曲黑带顶点不在视域中心。

4．垂直Bxo切面干涉图

5．平行光轴面切面干涉图

三、思考题

1．二轴晶垂直光轴干涉图与一轴晶垂直光轴干涉图有何区别？

2．如何确定二轴晶垂直Bxa和垂直光轴干涉图中光轴面迹线上的光率体长短半径的分布方位？

3．二轴晶斜交光轴切面干涉图与一轴晶斜交光轴切面干涉图如何区别？

4．确定矿物的轴性、光性符号应选什么方向的切面？它在单、正交偏光镜下有何特点？

四、实验报告