微电子学概论 3

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

a wq
小结 (1)什么叫pn结,如何形成的
扩散,自建电场,漂移,势垒
(2) pn结电流电压关系
正向反向
(3)什么叫耗尽层
形成:孤零零的电离杂质中心
(4) pn结的击穿
隧道,雪崩,软
(5) pn结的电容
势垒电容
(6) pn结的制作
扩散,离子注入
第二章 半导体物理和器件物理基础
2.3 pn结 2.3.1 2.3.2 2.3.3 2.3.4 2.3.5 平衡pn结 正向特性 反向特性 击穿 电容

流过PN结的电流主要是少子的漂移决定 的,称为PN结的反向电流。
PN结的反向电流很小,而且与反向电压的大小 基本无关。PN结表现为很大的电阻,称之截止。
I(mA) 画出PN结的理论伏安特 D 2 T=25℃ 性曲线。
1.5 1 0.5
U(mV) 曲线OD段表示PN
0
0.25 50 75 100 -I S
(V)
B
结正向偏置时的伏 安特性,称为正向 特性;
(uA)
图 PN结的理论伏安特性

曲线OB段表示PN 结反向偏置时的伏 安特性,称为反向 特性。

PN结外加正向电压时(P正、N负),空间
电荷区变窄。

不大的正向电压,产生相当大的正向电流。
外加电压的微小变化,扩散电流变化较大。

a wq
Pn结的IV特性
n型
P型
(1)正偏:p正,n负 势垒降低,电流增大
a wq
回忆: 电子的跃迁禁带的概率比例于 EXP(-Eg/kT) 所以可知,随偏置电压的变化,电流呈指数变 化。
第二章 半导体物理和器件物理基础
2.3 pn结 2.3.1 2.3.2 2.3.3 2.3.4 2.3.5 2.3.6 平衡pn结 正向特性 反向特性 击穿 电容 制作
a wq
Pn结的制作
B
1200℃
p n型
(1)扩散
a wq
Pn结的制作
B
p
n型
高真空 高能量 直接打进去
(2)离子注入
平衡:扩散流=漂移流, n,p区域的费米能级一致 能带的弯曲, 形成势垒
耗尽层的特点 (1)只剩下杂质中心没有自由载流子 因此电阻很大 (2)它的宽度与杂质浓度有关,越浓,越薄 (3)电场强度:边缘为零,线形变化中间最强,
N型 + + + +
P型
-
-
-
-
耗尽层
第二章 半导体物理和器件物理基础
2.3 pn结 2.3.1 2.3.2 2.3.3 2.3.4 2.3.5 平衡pn结 正向特性 反向特性 击穿 电容
雪崩击穿


由倍增效应引起的击穿。当PN结外加的反 向电压增加到一定数值时,空间电荷数目 较多,自建电场很强,使流过PN结的少子 漂移速度加快,可获得足够大的动能,它 们与PN结中的中性原子碰撞时,能把价电 子从共价建中碰撞出来,产生新的电子空 穴对。 雪崩击穿通常发生在掺杂浓度较低的PN结 中。
e
UT
1
U UT
I ISe 23 kT 1.38 10 300 即正向电流随正向电压的增加以指数 UT 26mV 19 规律迅速增大。 1.6 10 q
U
I I S (e
UT
1)
U
e
UT
1
I≈IS 即加反向电压时,PN结只流过很小的反向饱和 电流。
微电子学概论 第二章
第二章 半导体物理和器件物理基础
2.3 pn结 2.3.1 2.3.2 2.3.3 2.3.4 2.3.5 平衡pn结 正向特性 反向特性 击穿 电容
2.3.1 平衡pn结:无偏压下的pn结
空间电荷区也称作 扩散的结果形成自建电场。
“耗尽区” “势垒 区” 空间电荷区为高阻区,因为 缺少载流子
外加电压
流过PN结 绝对温度(K) 的电流 反向饱和电流 电子电荷量 q =1.6×10-19C 玻耳兹曼常数
自然对数的底
k =1.38×10-23J/K


kT q
qU
UT 则
I I S (e kT 1)
U
当U大于UT数倍
I I S (e
UT
1)
U
在常温下,T = 300K,
I(mA)

UBR 0 U(V)

加大PN结的反向 电压到某一值时, 反向电流突然剧增, 这种现象称为PN 结击穿,发生击穿 所需的电压称为击 穿电压,如图所示。
图 PN结反向击穿
反向击穿的特点: 反向电压增加很小, 反向电流却急剧增 加。
第二章 半导体物理和器件物理基础
2.3 pn结 2.3.1 2.3.2 2.3.3 2.3.4 2.3.5 平衡pn结 正向特性 反向特性 击穿 电容
结论:

PN结的单向导电性: PN结加正向电压产生大的正向电流, PN结导电。 PN结加反向电压产生很小的反向饱和 电流,近似为零, PN结不导电。


PN结的伏安特性

定量描绘PN结两端电压和流过结的电流的关 系的曲线——PN结的伏安特性。 根据理论分析,PN结的伏安特性方程为
qU
I I S (e kT 1)
a wq
齐纳击穿
P型
强电场破坏共价健引起的。 齐纳击穿通常发生在掺杂浓度较高 的PN结中。
n型
第二章 半导体物理和器件物理基础
2.3 pn结 2.3.1 2.3.2 2.3.3 2.3.4 2.3.5 平衡pn结 正向特性 反向特性 击穿 电容


除了单向导电性之外,PN结还存在电容效应。 势垒电容CB 多子的充放电引起的。是指外加电压的 变化导致空间电荷区存储电荷的变化,从而 显示出电容效应。几皮法~几百皮法。 PN结的电容很小,是针对高频交流小信号而 考虑。
a wq
wenku.baidu.com
反偏增加:耗尽层加厚 如果两侧浓度不同,向低浓度一侧扩展
a wq
Pn结的IV特性
P型
n型
(1)反偏:p负,n正 势垒加高,电流很小 I=Is

PN结加反向电压时,空间电荷区变宽,自



建电场增强,多子的扩散电流近似为零。 反向电流很小,它由少数载流子形成,与少 子浓度成正比。 少子的值与外加电压无关,因此反向电流的 大小与反向电压大小基本无关,故称为反向 饱和电流。 温度升高时,少子值迅速增大,所以PN结 的反向电流受温度影响很大。
相关文档
最新文档