扫描电镜SEM简介-文字版
扫描电镜SEM应用简介1
能谱分析
分辨率:129eV (MnK) 选区分析 线扫描 面扫描
能谱仪
EDX 选区分析
EDX线扫描
400 350 300 250 200 150 100 50 0 1 46 91 136 181 226 271 316 361 406 451 496
Ni
La
O
EDX Map
SE
LaL
NiK
OK
扫描电镜样品的制备
1.要求干净,干燥的块状或粉末样品,尺寸 最好不大于φ20×10mm。 2. 断口样品:要求是干净、新鲜的表面,最 好断面平整。 3.非金属样品最好在真空镀膜机中喷镀金、 铝或碳,以保证样品导电性良好;或者采 用低真空操作模式。
电镜操作的基本步骤
作为放大镜须掌握的技能
样品初始高度的调整 聚焦:正焦、欠焦、过焦 像散及消除 亮度、对比度
像散
过焦 正焦 欠焦
像散影响
1 3 2 4
1正焦无像散 2正焦有像散 3欠焦有像散
4过焦有像散
扫描电镜图象及衬度
Hale Waihona Puke 二次电子像背散射电子像
二次电子象
二次电子象是表面形貌衬度,它是利用 对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调 节信号得到的一种象衬度。因为二次电子信 号主要来处样品表层5-10nm的深度范围, 它的强度与原子序数没有明确的关系,便对 微区表面相对于入射电子束的方向却十分敏 感,二次电子像分辨率比较高,所以适用于 显示形貌衬度。
电镜应用简介1
扫描电镜
扫描电镜的工作原理
扫描电镜的工作原理 可以简单地归纳为 “光栅扫描,逐点成 像”。 扫描电镜图像的放大 倍数定义为 M=L/l
扫描电镜的简介
扫描电镜(SEM)扫描电镜(SEM)主要用于直接观察固体表面的形貌。
先利用电子透镜将一个电子束斑缩小到几十埃,用偏转系统使电子束在样品面上作光栅扫描。
电子束在它所到之处激发出次级电子,经探测器收集后成为信号,调制一个同步扫描的显像管的亮度,显示出图像。
样品表面上的凹凸不平使某些局部朝向次级电子探测器,另一些背向探测器。
朝向探测器的部分发出的次级电子被集收得多,就显得亮,反之就显得暗,由此产生阴阳面、富有立体感的图像。
像的放大倍数为显像管的扫描幅度比上样品面上电子束的扫描幅度SEM的分辨本领比电子束斑直径略大。
历史1926年汉斯·布什研制了第一个磁力电子透镜。
1931年厄恩斯特·卢斯卡和马克斯·克诺尔研制了第一台透视电子显微镜。
展示这台显微镜时使用的还不是透视的样本,而是一个金属格。
1986年卢斯卡为此获得诺贝尔物理学奖。
1938年他在西门子公司研制了第一台商业电子显微镜。
1934年锇酸被提议用来加强图像的对比度。
1937年第一台扫描透射电子显微镜推出。
一开始研制电子显微镜最主要的目的是显示在光学显微镜中无法分辨的病原体如病毒等。
1949年可投射的金属薄片出现后材料学对电子显微镜的兴趣大增。
1960年代投射电子显微镜的加速电压越来越高来透视越来越厚的物质。
这个时期电子显微镜达到了可以分辨原子的能力。
1980年代人们能够使用扫描电子显微镜观察湿样本。
1990年代中电脑越来越多地用来分析电子显微镜的图像,同时使用电脑也可以控制越来越复杂的透镜系统,同时电子显微镜的操作越来越简单。
衬度(反差)的来源扫描电镜除次级电子外,用背散射电子(经过多次散射后又从试样表面出来的入射电子)成像可辨别原子序数的差别。
用标识X 射线成像可辨别元素分布。
其他效应如阴极荧光、电子束诱导电流在半导体材料和器件中有其应用。
用电子沟道效应可得出晶体取向信息。
在电子显微镜中样本必须在真空中观察,因此无法观察活样本。
扫描电子显微镜简介 SEM
作用体积
• 电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际 上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以 存在一个作用“体积”。 • 作用体积的厚度因信号的不同而不同: • 俄歇电子:0.5~2纳米。 • 次级电子:5λ,对于导体,λ=1纳米;对于绝缘体 ,λ=10纳米。 • 背散射电子:10倍于次级电子。 • 特征X射线:微米级。 • X射线连续谱:略大于特征X射线,也在微米级。
五、成像
人的白细胞
花粉
谢谢!
二、结构
• 真空系统 • 电子束系统 • 成像系统
真空系统
• 真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。
• 真空柱是一个密封的柱形容器。 • 真空泵用来在真空柱内产生真空。
• 成像系统和电子束系统均内置在真空柱中。真空柱 底端即为密封室,用于放置样品。
用真空的两点原因:
• 电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速氧化而失 效,所以除了在使用SEM时需要用真空以外,平时还 需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。 • 为了增大电子的平均自由程,从而使得用于成像的 电子更多。
成像系统
电子经过一系列电磁透镜成束后,打到样品 上与样品相互作用,会产生次级电子、背 散射电子、俄歇电子以及X射线等一系列信 号。所以需要不同的探测器譬如次级电子 探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信 号以获得所需要的信息。 (虽然X射线信号不能用于成像,但习惯上, 仍然将X射线分析系统划分到成像系统中)
工作距离
工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离 如果增加工作距离,可以在其他条件不变 的情况下获得更大的场深。 • 如果减少工作距离,则可以在其他条件不 变的情况下获得更高的分辨率。 • 通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间 。
四、用途
扫描电镜sem
扫描电镜(SEM)简介扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种利用电子束对样品表面进行扫描的显微镜。
相比传统的光学显微镜,SEM具有更高的分辨率和更大的深度视野,使得它成为材料科学、生命科学和物理科学等领域中常用的研究工具。
SEM通过利用电子多次反射,将样品表面的形貌细节放大数千倍,可以观察到微观结构,比如表面形态、粗糙度、纳米级颗粒等。
SEM通常需要真空环境下操作,因为电子束在大气压下很快会失去能量而无法达到高分辨率。
工作原理SEM的工作原理可以简单地分为以下几步:1.电子发射:SEM中,通过热发射或场发射的方式产生电子束。
这些电子被加速器加速,形成高速的电子流。
电子束的能量通常在10-30 keV之间。
2.样品照射:电子束通过一个聚焦系统照射到样品表面。
电子束与样品原子发生相互作用,从而产生各种现象,比如电子散射、透射和反射。
3.信号检测:样品与电子束发生相互作用后,产生的信号会被探测器捕获。
常见的SEM信号检测器包括二次电子检测器和反射电子检测器。
这些探测器可以测量电子信号的强度和性质。
4.信号处理和图像生成:SEM通过对探测到的信号进行处理和放大,生成图像。
这些图像可以显示出样品表面的微观结构和形貌。
应用领域SEM在许多科学领域中都有广泛的应用。
以下是一些常见的应用领域:材料科学SEM可以用于研究材料的结构和形态。
它可以观察微观缺陷、晶体结构、纳米颗粒等材料细节。
这对于材料工程师来说非常重要,可以帮助他们改进材料的性能和开发新的材料。
生命科学SEM可以用于观察生物样品的微观结构。
比如,它可以观察细胞的形态、细胞器的分布和细胞表面的纹理。
这对于生物学家来说非常重要,可以帮助他们了解生物体的结构和功能。
纳米科学SEM在纳米科学领域中也有广泛的应用。
通过SEM可以对纳米材料进行表面形貌和结构的观察。
它可以显示出纳米结构的细节,帮助科学家研究纳米颗粒的组装、层析和相互作用等现象。
扫描电子显微镜(SEM)简介
完成观察后,关闭扫描电子显微镜主机和计 算机,清理样品台,保持仪器整洁。
注意事项
样品求
确保样品无金属屑、尘埃等杂质,以 免损坏镜体或影响成像质量。
避免过载
避免长时间连续使用仪器,以免造成 仪器过载。
保持清洁
定期清洁扫描电子显微镜的镜头和样 品台,以保持成像清晰。
操作人员要求
操作人员需经过专业培训,了解仪器 原理和操作方法,避免误操作导致仪 器损坏或人员伤害。
操作方式
有些SEM需要手动操作,而有 些型号则具有自动扫描和调整 功能。
适用领域
不同型号的SEM适用于不同的领 域,如材料科学、生物学等,选
择时应考虑实际应用需求。
04
SEM的操作与注意事项
操作步骤
01
02
03
开机与预热
首先打开电源,启动计算 机,并打开扫描电子显微 镜主机。预热约30分钟, 确保仪器稳定。
场发射电子源利用强电场作用下的金属尖端产生电子,具有高亮度、低束流的优点, 但需要保持清洁和稳定的尖端环境。
聚光镜
聚光镜是扫描电子显微镜中的重 要组成部分,它的作用是将电子 束汇聚成细束,并传递到样品表
面。
聚光镜通常由两级组成,第一级 聚光镜将电子束汇聚成较大直径 的束流,第二级聚光镜进一步缩
小束流直径,提高成像质量。
生态研究
环境SEM技术可以应用于生态研究中, 例如观察生物膜、土壤结构等,为环 境保护和治理提供有力支持。
THANKS
感谢观看
样品放置
将样品放置在样品台上, 确保样品稳定且无遮挡物。
调整工作距离
根据样品特性,调整工作 距离(WD)至适当位置, 以确保最佳成像效果。
操作步骤
扫描电子显微镜SEM-2017
扫描电子显微镜(SEM)-2017简介扫描电子显微镜(SEM)是一种最早应用于材料科学和生物学等领域的显微镜之一。
SEM通过使用电子来成像,所以它可以得到比光学显微镜更高的分辨率,同时也在表面形貌和结构等方面有更好的表现。
本文旨在介绍SEM的基本原理、工作方式、应用领域和标准维护过程,以及一些商用SEM设备的主要特点和性能。
原理和工作方式SEM使用常规的电子枪作为其光源。
电子从电子枪发射出来,经过一系列电子透镜聚焦到一点,然后该电子点射出的电子与样品表面交互,最后通过探测器(如SE和BSE)进行检测,并转换成数字信号。
扫描电子过程中,样品表面的原子会因为电子束的作用而失去一部分能量,电子束作用区的电子动量将成为SEM获得的电子显微镜图像中最表现显著的特征之一。
SEM与传统的TEM不同,它没有上下透射的概念,而是以横向扫描的方式来获取样品表面的信息。
应用领域SEM通常被应用于不同领域,主要有以下几个方面:材料科学领域通常在金属、聚合物、纳米材料、陶瓷和复合材料等方面使用。
SEM可用于观察微观结构和表面形貌,如纳米颗粒的分布、纤维的形态、孔洞的分布、氧化物颗粒的分布等。
生命科学领域SEM在生物学领域中的应用也非常广泛,用于观察透明细胞、组织切片、骨质等复杂形态样本等。
SEM较常见的应用是对生物细胞和组织切片的观察。
生物细胞和组织切片通常首先需要用特殊的电解质和表面处理来帮助利用SEM进行成图,然后可以观察到细胞内的结构細胞质及其细胞器、核和其他膜平面结构等更深的结构。
地质、地理与环境科学SEM也广泛用于地质学、地理学和环境科学等领域,如岩石、土壤、矿物和微生物的形态观察、纤维、病毒和细菌的形态观察等。
维护要确保SEM在使用时保持正确的运行状态以达到最佳的成像效果,必须对所涉及的设备和工作进程进行标准维护和定期检查。
下面简单列举一些常见的标准维护过程:•清洗SEM并反射性地定期查看SEM工作观察部件。
扫描电子显微镜(SEM)-介绍-原理-结构-应用
探头
扫描发生器 显像管
视频放大器
光电倍增管
试样
光导管
试样台
扫描电子显微镜主要由以下四个部分组成: 1. 电子光学系统:作用是获得扫描电子束,
作为信号的激发源。 2. 信号收集及显示系统:作用是检测样品在
入射电子作用下产生的物理信号 3. 真空系统:用来在真空柱内产生真空 4. 电源系统:作用是提供扫描电镜各部分所
3.3 背散射电子
背散射(backscattered)电子是指入射电子在样 品中受到原子核的卢瑟福散射后被大角度反射,再 从样品上表面射出来的电子,这部分电子用于成像 就叫背散射成像。 背散射分为两大类:弹性背散射和非弹性背散射。 弹性散射不损失能量,只改变方向。非弹性散射不 仅改变方向,还损失能量。从数量上看,弹性背反 射电子远比非弹性背反射电子所占的份额多。背反 射电子的产生范围在100nm-1mm深度。
d4
光电倍增管
d3:扫描系统ຫໍສະໝຸດ 试样光导管d4:试样室
试样台
2.1.1 电子枪
电子枪:钨丝成V形,灯丝中通以加热电流, 当达到足够温度时(一般操作温度为 2700K),发射电子束。在10-6Torr的真空 下,其寿命平均约40—80小时。
电子束 光阑孔
2.1.2 电磁透镜
电磁透镜:透镜系统中所用的透镜都是缩 小透镜,起缩小光斑的作用。缩小透镜 将电子枪发射的直径为30μm左右的电 子束缩小成几十埃,由两个聚光镜和一 个末透镜完成,三个透镜的总缩小率约 为2000~3000倍
03
SEM工作原理
3 扫描电镜成像的物理信号
入射电子轰击样品产生的物理信号
电子束与样品原子间的相互作用是表 现样品形貌和内部结构信息的唯一途 径。入射电子与样品原子中的电子和 原子核会发生弹性碰撞和非弹性碰撞, 所产生各种电子信号和电磁辐射信号 都带有样品原子的信息,从不同角度 反映出了样品的表面形貌、内部结构、 所含元素成分、化学状态等。
简述扫描电子显微镜(SEM)
简述扫描电子显微镜(SEM)
扫描电子显微镜(SEM)是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具,主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。
二次电子能够产生样品表面放大的形貌像,这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的,即使用逐点成像的方法获得放大像。
扫描电镜的结构主要包括:
1.真空系统和光源系统;
2.电子光学系统——电子强、电磁透镜、扫描线圈、样品室;
3.信号放大系统。
扫描电镜的优点是:
1.有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;
2.有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;
3.试样制备简单。
扫描电镜的应用范围是:
1.生物——种子、花粉、细菌……
2.医学——血球、病毒……
3.动物——大肠、绒毛、细胞、纤维……
4.材料——陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂……
5.化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌)、机械、电机及导电性样品,如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……)电子材料等。
主流厂家:
美国FEI(赛默飞)——Apreo SEM扫描电镜
德国蔡司——EVO MA 25/LS 25
日本日立——TM4000、SU8220,SU8230,SU8240日本电子——JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜捷克TESCAN——S8000系列
韩国COXEN——CX-200系列
中科院KYKY——KYKY-2800系列。
扫描电镜SEM&透射电镜TEM简介
扫描电镜SEM&透射电镜TEM简介1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。
光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。
2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关:λe=h / mv= h / (2qmV)1/2=12.2 / (V)1/2 (Å)在 10 KV 的加速电压之下,电子的波长仅为0.12Å,远低于可见光的4000 - 7000Å,所以电子显微镜分辨率自然比光学显微镜优越许多,但是扫描式电子显微镜的电子束直径大多在50-100Å之间,电子与原子核的弹性散射 (Elastic Scattering) 与非弹性散射(Inelastic Scattering) 的反应体积又会比原有的电子束直径增大,因此一般穿透式电子显微镜的分辨率比扫描式电子显微镜高。
3. 扫描式显微镜有一重要特色是具有超大的景深(depth of field),约为光学显微镜的300倍,使得扫描式显微镜比光学显微镜更适合观察表面起伏程度较大的样品。
4. 扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束,经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束的扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品的上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary Electron) 或背向散射电子 (Backscattered Electron) 成像。
5. 电子枪的必要特性是亮度要高、电子能量散布 (Energy Spread) 要小,目前常用的种类计有三种,钨(W)灯丝、六硼化镧(LaB6)灯丝、场发射 (Field Emission),不同的灯丝在电子源大小、电流量、电流稳定度及电子源寿命等均有差异。
扫描电子显微镜SEM
对象是 包含结晶相和非结晶相两个组成部分的样品。暴露 出晶区的细微结构
05 试验应用
实例:对功能梯度混凝土层界面结合区样品进行扫描
选取
取样部位表面尽可能平整 且尺寸应尽可能小
清洗断口
断口样品存在污染物时,应 用无水己醇或者丙丽进行清
洗干净
喷金处理
样品属于不导电材料,故将 样品送至于真空刻蚀锻膜仪
扫描电镜 scanning electron microscope , (SEM)是介于透射电镜和光学显微镜 之间的一种微观形貌观察手段,可 直接利用样品表面材料的物质性能 进行微观成像。
1、有较高的放大倍数,20-200000倍之间连续 可调; 2 、有很大的景深,视野大,成像富有立体感 ,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结 构; 3、 试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射 线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织形 貌的观察和微区成分分析(即SEM-EDS),因 此它是当今十分重要的科学研究仪器之一
05
试验应用
05 试验应用
样品要求
扫描电镜样品可以是块状、薄膜或 者粉末颗粒,由于是在真空中直接 观察,扫描电镜对各类样品均有要 求。
1、要求样品保持其结构和形貌的稳定性,不因 取样而改变;
2 、要求样品表面导电,如果样品表面不导电 ,将在样品表面产生电荷的积累和放电,使得 图像不清晰,造成无法观察和抓拍图片;
02
工作原理
02 工作原理
成像原理
不同于透射电镜,它不用透镜来进行 放大成像,而是象以前的电视一样, 用电子枪发射聚焦得非常细的高能电 子束出去,逐点逐行扫描,根据电子 与物质的相互作用,激发出各种物理 信息。通过对这些信息的接受、放大 和显示成像,获得测试试样表面形貌 的观察
扫描电镜
分辨率和放大倍数
分辨率:能分辨出的两点间的最小距离; 放大倍数就是显示的尺寸比实际的尺寸,即:
M=Lob/Lreal 工作距离、景深和分辨率的关系:
在相同的加速电压下,工作距离越长,景深越大,分辨率越低;反之亦然。
扫描电镜具有以下特点:
景深长视野大:在相同放大倍数的情况下,扫描电镜的景深比光学显 微镜大几百倍,比透射电镜大几十倍,所以扫描电镜图像有极强的立
体感,可以观察样品的三维立体结构;
样品制备简单:可以直接观察大块厚样品,不需切片等样品处理; 分辨率高;
样品信息丰富:不同检测器分别接受不同的信号,可以得到相应的图
像,对样品的表面形貌、成分和结构进行观察和分析。
三、扫描电镜配置
电子光学系统由电子枪、电磁透镜、扫 描线圈和样品室等部件组成。
这种现象称为荷电效应。 减少荷电效应的方法:喷金、喷碳、低真空、冷场电镜、低加速电压等。
损伤:1)真空损伤,生物样品从大气中放入真空中,产生真空损伤;2)
电子束损伤,电子束的能量引起照射点的局部加热等,造成样品破裂或 局部漂移。
较少损伤常用方法:降低加速电压及较小的电子束流,加厚喷镀金属膜。
边缘效应:在凸起的边缘,由于扩大了电子作用区的裸露表面,而使二次电子 产率有明显增大。在图像上这些区域特别亮,造成不自然的反差,可通过降低 加速电压的方法来减轻边缘效应。
BSE
SE
SE Z
SE
sample
nm-1 μm深度
背散射电子束成像分辨率一般为 50-200 nm 。
背散射电子成像(Back-scattered electrons imaging, BSE)
背散射电子产率随原子序数的增加而增加,利用背散射电子作为成像信号不仅 能分析形貌特征,也可以用来显示原子序数衬度,定性进行成分分析。
扫描电镜分析简介
扫描电镜分析简介
扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种高分辨力电子显微镜技术,它是研究尺度上非常小的目标物质的分子结构的工具。
它的发展是电镜发展的新一步,因为它不仅可以观察物体的表面和形状,而且能够潜入表面深处,甚至可以分析其化学成分。
SEM技术的原理主要是使用激光束来照射样品表面,激光束穿过空气层在样品表面受到反弹,经过反弹的激光首先进入到放大镜系统,再经过扫描器激光射频控制,发射到样品表面,进而可以获得样品表面的高分辨率图像。
扫描电子显微镜是由支持用空气压进行绝缘的真空容器、电子源、偏振器、扫描仪和控制系统组成的一个设备。
它的真空容器由一个金属模型和一个电子枪组成,具有十几个测量系统,而电子源能够将千万伏特的电源供给给电子枪,使其产生电子束,该电子束射向样品,使样品表面放射出可以记录观测的电子信号。
扫描电镜分析简介
扫描电镜分析简介扫描电镜(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一种常用的材料分析技术,通过表面扫描电子束所产生的电子与样品表面相互作用,测量和分析电子束与样品之间的相互作用现象,得到图像和各种表征参数,从而实现对样品微观结构的观察和分析。
SEM的工作原理是将样品置于真空条件下,利用电子枪产生高能电子束,以扇形或螺旋形的方式扫描在样品表面,当电子束与样品相互作用时,部分电子进入样品表面产生的电子云,将原本在电子束路径上不可见的电子转化为可见的信号。
这种信号包括二次电子(Secondary Electrons, SE)和反射电子(Backscattered Electrons, BSE)两种,二次电子主要来自于样品表面物质的元素分布和拓扑结构,反射电子则主要来自于电子束与原子核的碰撞反射。
通过收集、放大和检测这些反射电子,就可以获取样品的电子图像。
SEM与传统的光学显微技术相比,具有以下优点:1.高分辨率:SEM的分辨率可达到亚纳米级别,能够观察到更小的细节和粒子。
2.能够观察非导电材料:相对于传统的透射电镜,SEM可以直接观察非导电材料,不需要特殊的样品制备。
3.大深度焦距:SEM具有较大的深度焦距,可以获得更清晰的三维像。
4.显示能力强:SEM可以生成高对比度的图像,并且具有较强的深度感。
5.多功能性:SEM除了观察样品表面形貌外,还可以进行成分分析、晶体结构分析、导电性测量等多种功能。
SEM主要应用于材料研究、生物医学、纳米科学等领域。
在材料研究中,SEM常用于观察材料的晶体形貌、断口形貌、金属表面的腐蚀和磨损等。
在纳米科学领域,SEM可以用于观察纳米材料的形貌和尺寸分布,同时还可以通过能谱分析技术,得到不同区域的元素组成。
在生物医学中,SEM可以观察细胞结构、病毒和细菌等微生物形态特征,对研究细胞生物学、病理学等具有重要意义。
为了更好地进行SEM分析,需要注意以下几个方面的问题:1.样品制备:样品要求具有一定的导电性,通常需要进行金属镀膜或者冷冻干燥等处理才能满足要求。
扫描电子显微镜 (SEM)介绍
扫描电子显微镜(SEM)介绍(SEM)扫描电子显微镜的设计思想和工作原理,早在1935年便已被提出来了。
1942年,英国首先制成一台实验室用的扫描电镜,但由于成像的分辨率很差,照相时间太长,所以实用价值不大。
经过各国科学工作者的努力,尤其是随着电子工业技术水平的不断发展,到1956年开始生产商品扫描电镜。
近数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中,促进了各有关学科的发展。
目录扫描电镜的特点扫描电镜的结构工作原理扫描电镜的特点和光学显微镜及透射电镜相比,扫描电镜SEM(Scanning Electron Microscope)具有以下特点:(一) 能够直接观察样品表面的结构,样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(二) 样品制备过程简单,不用切成薄片。
(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转,因此,可以从各种角度对样品进行观察。
(四) 景深大,图象富有立体感。
扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍,比透射电镜大几十倍。
(五) 图象的放大范围广,分辨率也比较高。
可放大十几倍到几十万倍,它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。
分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间,可达3nm。
(六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。
(七) 在观察形貌的同时,还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。
扫描电镜的结构1.镜筒镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。
其作用是产生很细的电子束(直径约几个nm),并且使该电子束在样品表面扫描,同时激发出各种信号。
2.电子信号的收集与处理系统在样品室中,扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号,其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇(Auger)电子等。
在上述信号中,最主要的是二次电子,它是被入射电子所激发出来的样品原子中的外层电子,产生于样品表面以下几nm至几十nm的区域,其产生率主要取决于样品的形貌和成分。
4.3-扫描电镜(SEM)
(3)样品室
扫描电子显微镜的样品室空间较大,一般可放置 20×10 mm的块状样品。
为适应断口实物等大零件的需要,近年来还开发 了可放置尺寸在125mm以上的大样品台。观察时, 样品台可根据需要沿X、Y及Z三个方向平移,在水 平面内旋转或沿水平轴倾斜。
新型扫描电子显微镜的样品室内还配有多种附件, 可使样品在样品台上能进行加热、冷却、拉伸等 试验,以便研究材料的动态组织及性能。
入射电子束束斑直径是扫描电镜分辨本领的极 限。热阴极电子枪的最小束斑直径6nm,场发射电 子枪可使束斑直径小于3nm。 2) 用于成像的物理信号不同,分辨率不同。
二次电子像的分辨率最高,X射线像最低。
(3)景深
景深是指电镜对高低不平的试样各部位能 同时聚焦成像的一个能力范围。
扫描电镜的末级透镜采用小孔径角,长焦 距,所以可以获得很大的景深,它比一般光学 显微镜景深大100-500倍,比透射电镜的景深大 10 倍。
在最近20多年的时间内,扫描电子显 微镜发展迅速,又综合了X射线分光谱仪、 电子探针以及其它许多技术而发展成为分 析型的扫描电子显微镜,仪器结构不断改 进,分析精度不断提高,应用功能不断扩 大,越来越成为众多研究领域不可缺少的 工具,目前已广泛应用于冶金矿产、生物 医学、材料科学、物理和化学等领域。
2、仪器分辨本领较高。二次电子像分辨本领可达 1.0nm(场发射),3.0nm(钨灯丝);
3、仪器放大倍数变化范围大(从几倍到几十万倍), 且连续可调;
4、图像景深大,富有立体感。可直接观察起伏较大 的粗糙表面(如金属和陶瓷的断口等);
5、可做综合分析。SEM装上波长色散X射线谱仪 (WDX)(简称波谱仪)或能量色散X射线谱仪 (EDX)(简称能谱仪)后,在观察扫描形貌图像 的同时,可对试样微区进行元素分析。
扫描电镜SEM
扫描电子显微镜(Scanning Electronic Microscopy, SEM) 扫描电镜(SEM)就是介于透射电镜与光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
扫描电镜的优点就是,①有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。
目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察与微区成分分析,因此它就是当今十分有用的科学研究仪器。
电子束与固体样品的相互作用扫描电镜从原理上讲就就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。
通过对这些信息的接受、放大与显示成像,获得对就是试样表面性貌的观察。
具有高能量的入射电子束与固体样品的原子核及核外电子发生作用后,可产生多种物理信号如下图所示。
电子束与固体样品表面作用时的物理现象一、背射电子背射电子就是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子,其中包括弹性背反射电子与非弹性背反射电子。
弹性背反射电子就是指倍样品中原子与反弹回来的,散射角大于90度的那些入射电子,其能量基本上没有变化(能量为数千到数万电子伏)。
非弹性背反射电子就是入射电子与核外电子撞击后产生非弹性散射,不仅能量变化,而且方向也发生变化。
非弹性背反射电子的能量范围很宽,从数十电子伏到数千电子伏。
从数量上瞧,弹性背反射电子远比非弹性背反射电子所占的份额多。
背反射电子的产生范围在100nm-1mm深度,如下图所示。
电子束在试样中的散射示意图背反射电子产额与二次电子产额与原子序束的关系背反射电子束成像分辨率一般为50-200nm(与电子束斑直径相当)。
背反射电子的产额随原子序数的增加而增加(右图),所以,利用背反射电子作为成像信号不仅能分析新貌特征,也可以用来显示原子序数衬度,定性进行成分分析。
二、二次电子二次电子就是指背入射电子轰击出来的核外电子。
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2. 背散射电子
背散射电子是固体样品中原子核“反射”回来的一部分入射电子,分 弹性散射电子和非弹性散射电子。背散射电子的产生深度 100nm~1μm。 背散射电子的产额随原子序数 Z 的增加而增加,大致 I∝Z2/3~3/4。利用背 散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征,还可以作为原子序数程度, 进行定性成分分析。
4. 俄歇电子
如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以 X 射线 的形式发射出去,而是用这部分能量把空位层内的另—个电子发射出去, 这个被电离出来的电子称为俄歇电子。俄歇电子能量各有特征值(壳层), 能量很低,一般为 50-1500eV。俄歇电子的平均白由程很小(~1nm)。只有 在距离表面层 1nm 左右范围内(即几个原子层厚度)逸出的俄歇电子才具 备特征能量,俄歇电子产生的几率随原子序数增加而减少,因此,特别 适合作表层轻元素成分分析。
图 10 样品室
信号收集系统用于信号收集,包括二次电子和背散射电子收集器 、吸收 电子检测器、X 射线检测器 (波谱仪和能谱仪),如图 11(a)。
图 1 现代化的扫描电子显微镜
二、 SEM 的产生
1. 光学显微镜(Optical Microscope,OM)的分辨率极限 一个理想的点光源,通过会聚透镜成像,得到的并不是一个像点,
而是一个亮斑,称为艾里斑,光能量的 84%集中在中央。如果物体上两 个点所成的两个像斑发生了重叠,两圆心间距恰好是圆的半径时,恰好
电子束进入轻元素内部之后会造 成一个液滴状的作用体积。入射电子 束在被样品吸收或者散射出样品表面 之前将在这个体积内活动。如果是原 子序数较大的金属,形成的是一个类 似半球状的作用体积。
图 6 电子束的液滴作用体积示意图
表 1 各种信号的空间分辨率 (nm)
信号 俄歇电子 二次电子 背散射电子 吸收电子 特征 X 射线
人的肉眼可以分辨的最小物体大概是 0.1mm,那么假如有一个 200nm 的物体,则必须对它进行放大,放大倍数 M=0.1mm/200nm=500 倍。对于更小的物体,几纳米、几十纳米,则无法用光学显微镜来看。 需要更高的放大倍数和更好的分辨率。
2. 电子束作为光源
高速运动的电子具有波粒二象性,它的波长比可见光短的多。根据 德布罗意公式:
可以产生信号的区域称为有效作用区,有效作用区的最深处为电子 有效作用深度。在有效作用区内的信 号并不一定都能逸出材料表面、成为 有效的可供采集的信号。这是因为各 种信号的能量不同,样品对不同信号 的吸收和散射也不同。随着信号的有 效作用深度增加,作用区的范围增加, 信号产生的空间范围也增加,这对于 信号的空间分辨率是不利的。
3. SEM 的产生简史
1924 年,德布罗意提出物质波的概念,为电子显微镜提供了最基本 的物理基础。1926 年,德国的 Garbor 和 Busch 发现用铁壳封闭的线圈形 成轴对称磁场可以使电子流折射聚焦,于是人们就可以对电子波进行操 控。1935 年,德国的 Knoll 提出现代 SEM 的概念,通过扫描成像进行放 大。1965 年,英国剑桥仪器公司生产出第一台商用 SEM,其分辨率为 25nm。1968 年,Knoll 研制出场发射电子枪,使 SEM 的分辨率得到进一 步的提高。1958 年,中国长春光机所生产了我国第一台 SEM,它的分辨 率是 10nm。
图 4 入射电子与样品原子的相互 作
电子能量损失谱的基础。
图 5 各种信号的产生
各种信号(如上图 5)包括:二次电子、背散射电子、特征 X 射线、俄 歇电子、透射电子、吸收电子、阴极荧光等。
1. 二次电子
二次电子是指在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样 品的核外层电子。二次电子的能量较低,一般都不超过 50 ev,大多数二 次电子只带有几个电子伏的能量。二次电子一般都是在表层 5-10 nm 深度 范围内发射出来的,它对样品的表面形貌十分敏感,因此,能非常有效 地显示样品的表面形貌。它的产额与原子序数 Z 没有明显关系,不能进 行成分分析。
分辨率 0.5~2
5~10
50~200 100~1000 100~1000
如图 6 和图 7,俄歇电子和二次电子因为本身能量低,平均自由程短, 只能在样品的浅层表面内一处。一般情况下能激发出的俄歇电子的样品 表层厚度约 0.5~2nm,二次电子的深度是 5~10nm。入射电子束进入样品 浅层时,尚未横向扩展开来。因此,俄歇电子和二次电子只能在一个和 入射电子束束斑直径相当的圆柱体内被激发出来,因此束斑直径就是一 个成像单元的大小,就是一个像点,所以这两种电子的分辨率就相当于 束斑直径。
扫描电子显微镜简介
摘要:本文介绍了扫描电子显微镜 SEM 的基本原理、各种信号的产生、结 构组成、衬度和成像的机制、样品的制备、特性参数。此外,对扫描电镜、 光学显微镜和透射电镜的进行了比较。同时,结合自己做过的 Si 纳米线、 Ag 纳米颗粒的制备,进行应用举例。
一、 概述
扫描电子显微镜,简称为扫描电镜,英文缩写为 SEM (Scanning Electron Microscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作 用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。 现在 SEM 都与能谱(EDS)组合,可以进行成分分析。所以,SEM 也是显 微结构分析的主要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。下 图 1 是一个现代化的扫描电子显微镜,已经完全商品化、精密化、自动化。
图 2 Max Knoll (1897-1969) 1935 年提出扫描电镜的设计思想和工作 原理。
图 3 1965 年,剑桥仪器公司制造世 界第一台商用扫描电镜。
上图 2 是 Max Knoll,SEM 设计思想的提出者,他除了 SEM 外,还 参与 Ruska (因为 TEM 的工作,而获得 1986 年的诺贝尔物理奖)的 TEM 的设计中。图 3 是 1965 年剑桥仪器公司的 SEM。
图 9 三种电子枪及其对比
电磁透镜的作用是把电子枪的束斑逐渐缩小,从原来直径约为 50mm 的 束斑缩小成一个只有数 nm 的细小束斑。一般有三个聚光镜,前两个透镜是 强透镜,用来缩小电子束光斑尺寸。第三个聚光镜是弱透镜(习惯上称其为 物镜),具有较长的焦距,它的功能是在样品室和透镜之间留有尽可能大的空 间,以便装入各种信号探测器。在该透镜下方放置样品可避免磁场对二次电 子轨迹的干扰。
入射电子进入样品深处,横 向扩展,激发出来的背散射电子 能量很高,由于横向扩展的体积 很大,所以背散射电子的分辨率 较低。更深的是特征 X 射线, 它的分辨率比背散射电子还低。
由于二次电子的产额远高
于俄歇电子,且俄歇电子需要超 高真空进行探测分析。所以,二
图 7 各种信号的能量和产额
次电子的分辨率相当于束斑直径。一般都以二次电子为 SEM 的分析成像
λ= ℎ
③
������������
设电子的初速度为 0,可以用电压 V 对它进行加速。于是,电子的 动能可以表示为:
1 ��������面的③④两式,推出电子的速度表达式如下:
λ= ℎ
⑤
√2������������������
上面的式③④⑤中,h 是普朗克常数,e 是元电荷量,m 是电子的质 量,v 是电子的运动速度,。如果是超高速运动,还得考虑相对论,最终 可以得到表达式:
三、 电子束与固体的相互作用
入射电子束与固体物质碰撞时,电子与组成物体的原子核和核外电 子发生相互作用(如图 4),使入射电子的方向和能量改变,有时还发生电 子消失、重新发射或产生其他种类离子、改变物质性质等现象,被称为 散射。根据散射中的能量是否改变,分为弹性散射和非弹性散射。如果 电子碰撞后只改变方向而能量不变,则是弹性散射;如果方向和能量都 改变了,就是非弹性散射。电子在非弹性散射中损失的能量转变为热、 光、X 射线、二次电子等,电子的非弹性散射是扫描电镜、能谱分析、
扫描线圈的作用是提供入射电子束在样品表面上以及阴极射线管内电子 束在荧光屏上的同步扫描信号。改变入射电子束在样品表面扫描振幅,以获 得所需放大倍率的扫描像。SEM 的放大倍数是由调节扫描线圈的电流来改变 的,电流小,电子束偏转小,在样品上移动的距离小,放大倍数大。
样品室首先就是样品台。要容纳大的样品(~100mm),能进行三维空间的 移动,还能倾斜(0°~90°)和转动(360°),精度高,振动小。还得有各种信号检 测器,信号的收集效率和相应检测器的安放位置有很大关系。很多时候还要 有多种附件,用于加热、冷却、拉伸,可进行动态观察。如图 10 所示。
3. X 射线
样品原子的内层电子被入射电子激发,原子就会处于能量较高的激 发状态,此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺,从而使具 有特征能量的X射线释放出来。X 射线从样品 0.5μm~5μm 发出。波长 λ 满足莫塞莱定律:
������
∝
1 (������−������)2
⑦
通过特征波长检测相应元素,进行微区成分分析,即能谱分析 EDS。
可以分辨,此时亮斑中间的光强度与峰值强度的差大于 19%,则两个亮 斑尚能分辨开来,这就是瑞丽判据。根据瑞利判据,可以得到显微镜的
分辨率 δ 的决定式,如下式①:
δ = 0.61λ
①
nsinα
δ = 0.61×500 = 201.99 nm
②
1.51×sin90°
式①中,λ 是光波在真空中的波长,n 是透镜与物体之间介质的折射 率,α 是孔径角之半。可见波长越短,折射率越大,sinα=1,则分辨率 δ 越小。可见光的波长范围是 390nm~760nm,松柏油的折射率 n=1.51,则 可以得到式②,于是得出分辨率 δ=201.99nm。
电子枪是发射电子的照明源。最初的电子枪是发夹式钨丝灯,它是一种 热阴极电子枪,利用阴极与阳极灯丝间的高压产生高能量的电子束。它的优 点:灯丝价格便宜, 真空要求不高;缺点:发射效率低,发射源直径大,分 辨率低。更好的热发射电子枪采用六硼化镧(LaB6),因为它的功函数比钨低, 发射电子更容易。场发射电子枪利用的是电子的隧穿效应,二次电子像的分 辨率可达到 2nm。图 9 是三种电子枪的参数的对比,场发射电子枪的电流密 度最大,而束斑直径最小。