数字平板探测器培训..

选择DR必然考虑到平板探测器的选择，平版探测器的性能指标会对图像 产生很大的影响。
目前市场上存在的平板探测器主要有两种： 非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，从能量转换的方式来看，前者 属于直接转换平板探测器，后者属于间接转换平板探测器。
4
概述
非晶硒平板探测器主要由非晶硒TFT构成。入射的X射线 使硒层产生电子空穴对，在外加偏压电场作用下，电子和 空穴对向相反的方向移动形成电流，电流在薄膜晶体管中 形成储存电荷量对应于入射X射线的剂量，通过读出电路 可以知道每一点的电荷量，进而知道每点的X射线剂量。 由于非晶硒不产生可见光，没有散射线的影响，因此可以 获得比较高的空间分辨率。
6
概述
影响非晶硅平板探测器的图像质量的因素
-影响非晶硅平板探测器DQE的因素主要有两个方面：闪烁体的涂层和晶体管。 首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力，因此对DQE 会产生影响，目前常见的闪烁体涂层材料有两种：碘化铯和硫氧化钆。碘化铯 对X线的转换效率要高于硫氧化钆，但是碘化铯的成本比较高，将碘化铯加工成 柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，并减少散射光。使用硫氧化钆做 涂层的探测器成像速度快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯。 -其次将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响，薄膜 晶体管FTF的设计及工艺也会影响探测器的DQE。 -影响非晶硅平板探测器空间分辨率的因素：由于可见光的产生，存在散射现象 ，空间分辨率不仅仅取决于对散射光的控制技术。总的来说，间接转换平板探 测器的空间分辨率不如直接转换型平板探测器高。
平板探测器的主要指标
有效像素尺寸，如143um
19
非晶硅平板探测器
非晶硅平板探测器 DQE 曲线
非晶硒平板探测器 DQE 曲线
10
概述
由于DQE影响图像的对比度，空间分辨率影响图像对细节的分辨能力，在临床 应用中用应根据不同的检查部位来选择不同类型的平板探测器，对于像胸部这 样的检查，重点在于观察和区分不同组织的密度，因此对密度分辨率的要求 比较高，在这种情况下，宜使用非晶硅平板探测器的DR，这样DQE比较高，容 易获得较高对比度的图像，更有利于诊断；对于乳腺检查，需要对细节要有较 高的显像，对空间分辨率的要求很高因此宜采用非晶硒平板探测器，以获取高 空间分辨率的图像，目前绝大多数厂家的数字乳腺机都采用了非晶硒平板探测 器。
7
概述
影响非晶硒平板探测器的图像质量的因素 -X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对，DQE的高低取决于 非晶硒产生的电荷能力。 -由于没有可见光的产生，不发生散射，空间分辨率取决于单位面积内薄膜晶体 管矩阵大小，矩阵越大薄膜晶体管的个数越多，空间分辨率越高，随着工艺的 提高可以做到很高的空间分辨率。
5
概述
非晶硅平板探测器主要由碘化铯等闪烁涂层与薄膜晶体管（TFT） 构成。它的工作过程一般分为两步，首先闪烁晶体涂层将X射线能量 转换成可见光，其次TFT将可见光转换成电信号，由于在这个过程中 可见光会发生散射，对空间分辨率产生一定的影响，虽然新工艺中将 闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射，但散射光对空间 分辨率的影响不能完全消除。
数字平板探测器
www.landwind.com.cn
2
1 2 2 3
概述 非晶硅平板探测器介绍 非晶硅平板探测器厂家及类型
3
概述源自文库
在平板DR数字化摄影中，X线能量转换成电信号是通过平板探测器 （Flat panel Detector)来实现的,所以平板探测器的特性会对DR图像质 量产生比较大的影响。
16
非晶硅平板探测器
探测器为外围电路
探测器为外围电路由：时序控制器，行驱动电路，读出电路，A/D转换电路 ,通讯及控制电路组成。在时序控制器的统一指挥下行驱动将像素的电荷逐行 检出，经A/D转化电路转化成数字信号，由网络通讯接口发送至PC。
17
非晶硅平板探测器
平板探测器的内部
18
非晶硅平板探测器
非晶硅平板探测器组成：闪烁体、a-si FTF阵列、采集控制电路 非晶硅平板探测器获取一幅图像主要分为以下三步： -X 射线经过闪烁体转化为可见光。 -可见光经过A-SI FTF光电转换为电信号进行存储。 -电信号经过读出电路读出并经AD转换形成数字信号，传至计算机形成 数字图像。
14
非晶硅平板探测器
11
概述
由于早期非晶硒平板探测器制作工艺存在缺陷，大面阵探测器的稳定性较差 在市场占有率逐年减少，DR市场上主要以非晶硅平板探测器为主。 目前非晶硒平板探测器主要用于乳腺DR上。 以下主要介绍非晶硅平板探测器。
12
1 2 2 3
概述 非晶硅平板探测器介绍 非晶硅平板探测器厂家及类型
13
非晶硅平板探测器
闪烁体材料主要有：碘化铯（CSI:TI)、硫氧化钆( Gd2O2S:Tb)
柱状碘化铯（CSI:TI) 碘化铯和硫氧化钆发射光谱与 a-si光电二极管量子效率谱均在 波长550nm处出现峰值具有很好 的匹配性 使用CsI做涂层的探测器转换效率 比硫氧化钆涂层高。
硫氧化钆
15
非晶硅平板探测器
A-si TFT 由具有光敏性的非晶硅光电二极管及不能感光 的三级管、行驱动线和列读出线构成
8
概述
量子检测效率DQE与空间分辨率的关系 -对于同一种平板探测器，在不同的空间分辨率时，其DQE是变化的，极限的 DQE高，不等于在任何空间分辨率时DQE都高，DQE的计算公式如下： DQE=S2*MFT2/NSP*X*C S：信号平均强度，MFT是调制传递函数，X是X线曝光强度，NPS是系统噪声 功率谱，C是X线量子系数。 从公式可以看出在不同的MTF值中对应不同的DQE，也就是说在不同的空间分 辨率时有不同的DQE。
9
概述
-非晶硅平板探测器的极限DQE比较高，但是随着空间分辨率的提高，其DQE 下降得较多，而非晶硒平板探测器的极限DQE不如非晶硅平板探测器高，但是 随着空间分辨率的提高，其DQE反而超过了非晶硅平板探测器。 -这种特性说明非晶硅平板探测器在区分组织密度差异的能力较强，而非晶硒 平板探测器在区分细微结构差异的能力较高。