影响电容寿命的因素.

1 引言
电解电容广泛应用在电力电子的不同领域，主要是用于平滑、储存能量或者交流电压整流后的滤波，另外还用于非精密的时序延时等。

在开关电源的MTBF预计时，模型分析结果表明电解电容器是影响开关电源寿命的主要因素，因此了解、影响电容寿命的因素非常重要。

铝电解电容的寿命取决于其内部温度。

因此，电解电容的设计和应用条件都会影响到电解电容的寿命。

从设计角度，电解电容的设计方法、材料、机械加工工艺决定了电容的寿命和稳定性。

而对应用者来讲，使用电压、纹波电流、开关频率、安装形式、散热方式等都影响电解电容的寿命。

2　电解电容的非正常失效
一些因素会引起电解电容失效，如极低的温度，电容温升（焊接温度，环境温度，交流纹波），过高的电压，瞬时电压，甚高频或反偏压；其中温升是对电解电容工作寿命Lop影响最大的因素。

电容的导电能力由电解液的电离能力和粘度决定。

当温度降低时，电解液粘度增加，因而离子移动性和导电能力降低。

当电解液冷冻时，离子移动能力非常低以致非常高的电阻。

相反，过高的热量将加速电解液蒸发，当电解液的量减少到一定极限时，电容寿命也就终止了。

在高寒地区（一般－25℃以下）工作时，就需要进行加热，保证电解电容的正常工作温度。

如室外型UPS，在我国东北地区都配有加热板。

电容器在过压状态下容易被击穿，而实际应用中的浪涌电压和瞬时高电压是经常出现的。

尤其我国幅员辽阔，各地电网复杂，因此，交流电网很复杂，经常会出现超出正常电压的30，尤其是单相输入，相偏会加重交流输入的正常范围。

经测试表明，常用的450V/470uF 105℃的进口普通2000小时电解电容，在额定电压的1.34倍电压下，2小时后电容会出现漏液冒气，顶部冲开。

根据统计和分析，与电网接近的通信开关电源PFC输出电解电容的失效，主要是由于电网浪涌和高压损坏。

电解电容的电压选择一般进行二级降额，降到额定值的80％使用较为合理。

3 寿命影响因素分析
除了非正常的失效，电解电容的寿命与温度有指数级的关系。

因使用非固态电解液，电解电容的寿命还取决于电解液的蒸发速度，由此导致的电气性能降低。

这些参数包括电容的容值，漏电流和等效串联电阻（ESR）。

参考RIFA公司预计寿命的公式：
PLOSS = IRMS&sup2x ESR　（1） Th = Ta PLOSS x Rth　（2） Lop = A x 2 Hours　（3） B = 参考温度值（典型值为85 ℃） A = 参考温度下的电容寿命（根据电容器直径的不同而变化） C = 导致电容寿命减少一半所需的温升度数从上面的公式中，我们可以明显的看到，影响电解电容寿命的几个直接因素：纹波电流IRMS和等效串联电阻值（ESR）、环境温度（Ta）、从热点传递到周围环境的总的热阻（Rth）。

电容内部温度最高的点，叫热点温度（Th）。

热点温度值是影响电容工作寿命的主要因素。

而下列因素又决定了热点温度值实际应用中的外界温度（环境温度Ta）, 从热点传递到周围环境的总的热阻（Rth）和由交流电流引起的能量损耗（PLOSS）。

电容的内部温升与能量损耗成线形关系。

电容充放电时，电流在流过电阻时会引起能量损耗，电压的变化在通过电介质时也会引起能量损耗，再加上漏电流造成的能量损耗，所有的这些损耗导致的结果是电容内部温度升高。

3.1、设计上考虑因素
在非固态电解液的电容里，电介质为阳极铝箔氧化层。

电解液作为阴极铝箔和阳极铝箔氧化层之间的电接触。

吸收电解液的纸介层成为阴极铝箔与阳极铝箔之间的隔离层，铝箔通过电极引接片连接到电容的终端。

·　通过降低ESR值，可减少电容内由纹波电流引起的内部温升。

这可通过采用多个电极引接片、激光焊接电极等措施实现。

ESR值和纹波电流决定了电容的温升。

促使电容能有满意的ESR值的主要措施之一是：通常用一个或多个金属电极引接片连接外部电极和芯包，降低芯包和引脚之间的阻抗。

芯包上的电极引接片越多，电容的ESR值越低。

借助于激光焊接技术，可在芯包上加上更多的电极引接片，因此使电容能达到较低的ESR 值。

这也意味着电容能经受更高的纹波电流和具有较低内部温升，也就是说更长的工作寿命。

这样做也有利于提高电容抗击震动的能力，否则有可能导致内部短路、高的漏电流、容值损失、ESR值的上升和电路开路。

·　通过对电容芯包和铝壳底部之间良好的机械接触及通过芯包中间的热沉，可将电容内部热量有效地从铝壳底部释放到与之联接的底板。

内部热传导设计对于电容的稳定性和工作寿命极其重要。

在Evox Rifa公司的设计中，负极铝箔被延长到可直接接触电容铝壳厚的底部。

这底部就成为芯包的散热片，以使热点的热量能释放。

如选用带螺栓安装方式，安全地将电容安装到底板上（通常为铝板），可得到更为全面的
具有较低热阻（Rth.）的热传导解决方案。

·　通过采用整体绕注有电极的酚醛塑料盖和双重的特制的封垫与铝壳紧密咬合，可大大减少电解液的损失。

电解液通过密封垫的蒸发决定了长寿命的电解电容工作时间。

当电容的电解液蒸发到一定程度，电容将最终失效（这个结果会因内部温升而加速）。

Evox Rifa公司设计的双层密封系统可减缓电解液蒸发速度，使电容达到其最长的工作寿命。

以上这些特性保证了电容在要求的领域中具有很长的工作寿命。

3.2、影响寿命的应用因素
根据寿命公式，可以得出影响寿命的应用因素为：纹波电流IRMS、环境温度（Ta）、从热点传递到周围环境的总的热阻（Rth）。

1.纹波电流纹波电流的大小，直接影响电解电容内部的热点温度。

查询电解电容的使用手册，就可以得到纹波电流的允许范围。

如果超出范围，可以采用并联方式解决。

2.环境温度（Ta）和热阻（Rth）根据热点温度的公式，电解电容的应用环境温度也是重要因素。

在应用时，可以考虑环境散热方式、散热强度、电解电容与热源的距离、电解电容的安装方式等。

电容器内部的热量，总是从温度最高的“热点”向周围温度相对较低的部分传导。

热量传递的途径有几种：其一是通过铝箔和电解液传导。

如果电容被安装在散热片上，一部分热量还将通过散热片传递到环境中。

不同的安装方式和间距和散热方式都将影响电容到环境的热阻。

从“热点”传递到周围环境中的总热阻用Rth 来表示。

采用夹片安装，将电容安装在热阻为2℃/W的散热片上，所得到的电容热阻值Rth　=
3.6℃/W；采用螺栓安装方式，将电容安装在热阻为 2℃/W散热片上、强迫风冷速率为2m/s 时，所得到的电容热阻值Rth　=　2.1℃/W。

（以
PEH200OO427AM型电容为例，环境周围温度为 85℃）。

另外将延长的阴极铝箔与电容器铝壳直接接触，也是很好的降低热阻的方法。

同时应注意铝壳会因此带负电，不能作负极连接。

电容必须正确安装才能达到它的设计工作寿命。

例如：RIFA　
PEH169系列和PEH200系列应该竖直向上安装或者水平安装。

同时确保安全阀朝上，这样热的电解液及蒸气才能在电容失效的情况下，从安全阀顺利排出。

当电容排列很紧凑时相邻电容间至少应留出5mm的间隔以保证适量的空气流动。

使用螺栓安装时，螺母扭矩的控制非常重要。

如果拧得太松，则电容与散热片间就不
能紧密接触；如果拧得太紧，又可能使螺纹损坏。

同时应注意电容器不应倒置安装，否则可能造成螺栓的折断。

电容安装时应尽量远离发热元件，否则过高的温度会缩短电容器的使用寿命，从而使得电容器成为整个电路中寿命最短的部件。

在环境温度较高的情况下，尽量采用强迫风冷，将电容安装在进风口处。

3.频率的影响
若电流由基频和多次谐波构成，则须计算每次谐波产生的功率损耗值，并将计算结果相加以求得总损耗值。

在高频应用中，电容两端引线应尽量短以减小等效电感。

电容的谐振频率fR，因电容器种类不同而不同。

对于焊片式和螺栓连接式铝电解电容，谐振频率在1.5kHz至150kHz之间。

如果电容器在高于谐振频率时使用，对外特性呈感性。

4结语
综上所述，在避免非正常失效的情况下，选择正确的应用条件和环境，电解电容的寿命是可以保障的。

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电解电容
电解电容器耐压测试及应用
电容的耐压，表示电容在一定条件下连续使用所能承受的电压。

如果加在电容上的工作电压超过额定电压，电容内部的绝缘介质就有可能被击穿，造成极片间短路或严重漏电。

因此，电容的工作电压不能大于其额定耐压，以保证电路可靠工作。

对于电解电容器，漏电流是性能指标中重要的一项。

电解电容的漏电流与电压的关系密切，漏电流随工作电压的增高而增大。

当工作电压接近阳极的赋能电压时，漏电流会急剧上升。

通过测试电解电容的漏电电流，可以推算出它的极限耐压和额定耐压，对于电路中电容耐压的取值，有直接的参考意义。

根据这个原理，笔者设计并制作了～款电容耐压测试仪，其线路简单、成本低廉、制作容易，较好地解决了业余条件下电容耐压测试的问题。

变压器T1和T2型号相同，背靠背对接，提供高低压两组电源，并起到隔离作用。

低压的经整流滤波后，由R1、DWl、Q1、Ral ～Ral 1组成电流可调的恒流源。

高压的经整流滤波后由Rbl～RblO、DW2分压，Q2输出可调的直流电压。

使用时选择合适的电压Uc和电流Jc，将被测电容接到Cxa、Cxb两点上，此时会看到电压表指针缓慢偏转，达到一定的位置后静止，指针所指的电压即为该电容在漏电电流为lc时所承受的耐压。

波段开关K3、K4（各单挡11位）分别是测试电压和电流（即漏电流）选择开关，其测试量程如表1所示。

表2为测试电路中的元件清单。

一、测试电路的使用方法
1.将测试电压调到比电容额定电压高一些的挡位。

如测试35V的
申容。

可将挡位放到64V，测试50v的电容，可将挡位放到64M或96V.挡位高一些对测试结果影响不大，只是挡位越高，三极管Q1的功耗相应会大一些。

2.选择合适的测试电流。

测试电流应根据电容容量来选择，容量越大测试电流也越大。

对于4700μF以上的电容，可选择大于
10mA的测试电流；对于1000～4700μF的电，容，可选择5mA左右的测试电流：对于10μF以下的电容，可选择0.2～1mA的测试电流。

3.红色鳄鱼夹接电容正极，黑色鳄鱼夹接电容负极。

接好后看到电压表指针先匀速缓慢偏转。

正常情况下偏转位置应超过额定电压，当达到某一值时其指针偏转变慢，并且越来越慢，最终静止下来，此时电容的漏电流等于Q1集电极的恒流电流，电压表所指示的电压，为此电容在漏电电流为Ic时所承受的耐压，可粗略认为是该电容的极限耐压。

4.测试完毕后将开关K2闭合，待电容放电后取下。

表3是利用附图的测试电路测量的部分电解电容器的产品实例。

二、测试经验总结
1.电容容量越大，测试电流（漏电流）也应相应变大。

国产的铝电解电容器，在额定电压6.3～450V，标称容量10～680μF时，漏电流可按下列公式计算：I≤（KxCxU）／1000公式中：I为漏电流（mA）；K为系数（20℃±5℃时，K=O.03）；U 为额定工作电压（V）；C为标称容量（μF）；
2.由于电解电容器只能单向工作，如将电解电容正负端接反测试，在5mA电流下测试其电压会极低，大约只有4V左右。

3.长期不用的电解电容器，由于氧化膜的分解，容量、耐压都有一定的衰减，在第一次使用时，应先加低压（1／2额定耐压）老化一段时间（等效电解电容器的赋能）。

4.同样的容量和耐压的电解电容器，其体积较大、分量较重的一般耐压性能更好些；同样的容量和耐压的电解电容器，其相同的测试电流，电压指针偏转快的，漏电流较小。

5.正品电解电容极限耐压一般为其额定电压的120％左右。

6.当工作电压高于额定电压时，电容就较容易击穿。

因此选用电解电容时，应使额定电压高于实际工作电压，并要预留一定的余量，以应付电压的波动。

一般情况下，额定电压应高于实际工作电压的10％～20％，对于工作电压稳定性较差的电路，可酌情预留更大的余量。

7.使用本电路测试电解电容器，不会造成电容的损坏。

三、测试电路的改进
1.由于没有购买到合适的电压表头，DC250V以上挡不能指示。

如果能够换成DC320v表头就比较理想。

表头量程也不宜太大，否则会降低分辨率，用这样的表头去测试低耐压电容时，会造成读数偏差太大。

2.为了取得更准确的测试电压，可将Rbl～Rbl0分压电阻换成相应稳压值的稳压管（加限流电阻）或多圈精密可调电阻。

3.V1若换成数字式电压表，电压读数将更加直观、精确。

不过需另外加装一组DC5v浮动电源。

4.恒流电阻Ral～Rall，若用一只47∞电阻串联一只4.7kΩ多圈精密电位器代替后，其恒流值（1.1～12mA）可连续可调。

四、测试电路功能的扩展
除了测试电解电容，本仪表还可以测试以下元件的部分参数： 1.薄膜电容的耐压。

薄膜电容的极限耐压一般高于其额定电压的50％～100％，测试时选择小电流挡（＜lmA），电压可选择2倍额定电压。

相同容量的电容，充电速度越快，漏电流和损耗越小，质量越好。

金属化薄膜电容器在测试时如听到轻微的"啪啪"声，说明其内部有局部击穿，应降低测试电压。

2.压敏电阻的保护电压。

电压挡和电流挡都可以放在最大挡位测试，电压表头所指即为压敏电阻的保护电压。

3.LED的工作电压。

由于LED的工作电压较低（1.5-3V），需在Cxal、Cxbl处并联数字电压表，电流挡选择5～10mA，通过数字表读数。

4.二极管的反向击穿电压。

对于1N4001系列耐压，其值小于250V的塑封二极管，电流挡可选择lmA，电压挡调至最高，利用电压表头读出其反向击穿电压。

5.稳压二极管的工作电压。

电流挡调至1～5mA，电压挡可略高于其额定值，在电压表头上可读出二极管的实际的稳压值。

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瓷片电容
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金属膜电容
点图进入相册贴片电解电容
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