射频开关自动测试系统(精)
射频开关测试方案介绍
射频开关测试方案介绍
也许大家已经注意到,随着无线设备复杂性急剧增加,手机支持的频段数量也在不断增加。
从最开始的2个GSM频段,到现在的4个GSM频段,3个CDMA频段,5个UMTS频段和10个LTE频段。
未来,诸如5G New Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性。
开关是射频前端模块(RF FEM)切换多个频段的关键元件,所以,我们今天要讨论的话题就是射频开关测试方法
典型射频前端模块
关于射频开关,这些你知道吗?
在一个典型的射频前端模块中,包括功率放大器(PA)、低噪放大器(LNA),多路器,收发开关和天线开关等。
开关的目的是实现收发机与天线信号之间的定向传播,将发射机信号耦合到天线,或者将天线信号耦合到接收机,并且将发射机信号与接收机进行隔离以避免接收机链路被发射机干扰。
因此在射频前端模块中的开关都必须满足很高的隔离度与很低的插入损耗等指标。
本文将针对射频开关芯片的方案,包括典型的测试项进行详细介绍,包括插入损耗、隔离度、开关时间、谐波、三阶交调点IP3等,并对实验室验证测试及量产测试分别使用方法进行解析。
射频开关测试项详解
使用传统仪器应对射频开关测试遇到了难题
插入损耗、隔离度测试→使用矢量网络分析仪VNA完成
开关时间、谐波测试→VNA配合其他仪器完成→测试成本增加
另外很多厂商在构建测试平台时不仅仅是只针对于射频开关芯片测试,经常还会考虑在这个测试平台上会覆盖其他芯片类型,如PA、LNA等,所以一个通用的、高复用度的测试平台是很多厂商在采购仪器时的重要考虑点。
基于GPIB总线的GSM基站自动测试系统
动测试系统将能够很好地解决上述设备检测 中存在的问
题 ,极大的提高设备测试的效率 、准确性和客观性 。
本文 中的 G M 基站 自动测试 系统通过 G I S P B总线
与测试仪表进行通信 ,并通过 G I / B转接设备与 P B US
GI P B地址 ,G I PB地址格式是 固定的 ,如下 : GP B b a d : p i r d rs[ :e o d r I [ o r 】 : rmay a d e s:sc n a y
GI P B总线 的GS M基站 自动 测试 系统 的设 计和 实现 方案 。系统方案最大限度地实现 了测试的 自动化 ,并且
具有一定的代表性 ,适用于一般 自动测试系统的开发 。 关键 词 自动测试系统 基站 G I V S PB IA
随着移动通信技术的高速发展 , 移动通信设备的测 试方法和过程也变得越来越复杂 。 传统的人工手动测试 方法存在 周期长 、工作量大 、 数据记录繁琐 、测试结果 的准确度和可靠性难以得到保证等一 系列弊端 。 建 自 构
G I P B总线 ( IE 4 8 即 E E 8 总线)是一种数字式 2 脚 4 并行总线 ,数据传输 采取 位并行 , 字节 串行 , 向联络 双 和双 向异步的方式进行 。 总线分三类 :6 1 根为 T L电平 T 信号传输线 , 条屏蔽 线 , 条地 线。信号线又分 3 : 一 7 组
最多可以连 接 1 个设备 。 5 总线上 的仪器以下列 3 种身份 之一 存在 ,( )听者 :仅接受数据 ;()讲者 :仅发送 1 2 数据 ;( )控者 :控制总线上的所有仪器的数据交换 , 3
基于同步触发的射频开关自动测试方法与实现
基于同步触发的射频开关自动测试方法与实现杨洋;赵秀才;王书见【摘要】RF switches in the fast switching channels occasionally appear signal power loss too large in a radar system,led to the signal attenuation and even suspension.This paper proposes an automatic test method based on synchronous trigger for the insertion loss index test beforeused.Through the measurement and control software,realize the automatic control of the whole test process and data acquisition,and output the test data and test process information into reportforms.Experiments show that this method can accurately test the insertion loss of RF switches,and then to detect the quality of RF switches,to ensure the signal stability in the radar system.%某雷达系统中射频开关在快速切换通道时偶尔会出现信号功率损耗过大的情况,导致信号衰减甚至中断.该文提出了一种基于同步触发的自动化测试方法,以实现射频开关使用前的插入损耗指标测试.通过编译的测控软件,实现了整个测试过程的自动化控制和数据采集,并将测试数据以及测试过程信息输出到报表中.实验证明,该方法可以准确地测试射频开关的插入损耗指标,进而实现对射频开关的质量检测,保证了雷达系统中的信号稳定性.【期刊名称】《工业仪表与自动化装置》【年(卷),期】2017(000)004【总页数】4页(P105-108)【关键词】射频开关;同步触发;矢量网络分析仪;函数信号发生器【作者】杨洋;赵秀才;王书见【作者单位】中国电子科技集团公司第四十一研究所,山东青岛266555;中国电子科技集团公司第四十一研究所,山东青岛266555;中国电子科技集团公司第四十一研究所,山东青岛266555【正文语种】中文【中图分类】TP273.5在各类无线通信应用中,射频开关起着重要作用,包括各种射频、微波设备的控制等。
VXI/PXI开关模块在自动测试系统中的应用
O 引 言
由于 被 测 对 象 ( UT)在 测 试 过 程 中 需 不 断 改 u 变 激励信 号类型 、激励 点位置和 在多个 u uT输 出 点提 取 相 应 信 号 ,需 信 号 通 路 灵 活 转 换 ( 图 1 。 如 ) VXIP / XI 的 模 块 化 开 关 的 配 置 模 式 可 通 过 软 件 控 制 ,并 形 成 A S中开 关 系统 的 不 同 组 态 , 足 uuT T 满 测 试 所 需信 号 要 求 。其 次 , 是 A S 中信 号连 接 的 T 枢 纽 ,其 性 能影 响 A S的 指 标 和 功 能 ,故 开 关 系 统 T 的 设 计 和 配 置 是 A S硬 件 系 统 设 计 的关 键 环 节 。 T
12 开 关 类 型 .
① 射 频 开 关 。 组 态 上 是 树 型 开 关 ,3 B 带 宽 在 d 最 大 达 3 Hz 峰 值 电压 达 4 V, 多 个 开 关 可 连 成 G , 2 多 种 配 置 方 式 ; ② 功 率 开 关 。 针 对 电源 信 号 的 切 换 而 配 置 , 最 大 交 流 承 载 电压 达 2 0 其 5 V,直 流 电压 3 V,电流 8 常 用 通 用 型 的 双 刀 单 掷 式 开 关 结构 ; 5 A, ③ 通用 开关 。在 该模块 中集成 的开 关路数较 多 , 承 载 电流 电压 较 大 , 2 0 DC, 5 V/ 为 0 V/ 2 0 AC; 矩 ④
射频开关自动测试系统
应用 方案
测
、
:
为 了 提 高射 频 单 刀 双 掷 开 关 产 品 的 测 试 效 率
组 建 了 该 自动 测 试 系 统
。
,
降 低 人 为判 断 造 成 的 误
,
漏 测概率
。
。
该 系统 用 分 选 机 代替 人 工 操 作
配 合矢 量 网 络
分 析仪 完 成 测 量
使用的产 品 l 摘
试
。
R &S
,
、
VGA
Ou tp
u
t
、
以
用 了创新 的 硬 件和 软 件
其四端
,
口
及双独立网卡
并 且 提 供 了 可 以 允许
USE R CONT R OL
口
”
近年 来各个 客 户对 制造 商的 主要
号
,
拥 有 两 个 内部 独 立 信 号 源
,
8 个独
客 户 自定 义 的
“
性 能 参数 的过 程 控 制 能 力 ( C P 提 出 了相 应 的 要 求
。
K
) 都
立接收机 量
,
能 够 实 现 多路 并行 S 参数 测
接
D
—
口 S
,
见图1
b
。
。
该接
类型 为2
5
针
电性 能 测 试 数 据
可 以 非 常快 速 地 完 成 多 端 口 开 关
,
u
为 用 户 提 供 了 四 位 自定 义
。
是 对 于 器 件 关 键 参数 C P K 值 计算 的 基
模块 的 测 量
2 0 10
kaye(无线实时射频验证系统)
Kaye RF ValProbe® 无线实时射频验证系统KayeRFValProbe®无线实时射频验证系统的组成: RF ValProbe® 基站RF ValProbe® 记录器RF ValProbe® 软件IRTD温度标准干井式温浴和低温温浴GE Kaye RF ValProbe® 无线射频验证系统,将突破性的射频网技术与GE公司完善的现场温度验证记录器融为整体。
该系统应用于空间环境和存储区域的验证和实时监测。
比如,实验室环境、稳定性培养箱、冰箱、仓库实时温度验证,以及蒸汽在线灭菌(SIP)设备的验证。
无线射频验证系统利用2.4 GHz射频网网络和多级冗余数据存储技术,提供超可靠的稳定通讯,以及严格的验证数据存储功能。
提供数据安全保护功能,确保数据完整性,以及存储数据符合法规要求。
RF ValProbe® 无线射频验证系统RF ValProbe® 无线射频验证系统一个专门针对满足FDA新的数据保护条款(21 CFR Part 11),满足国际上和欧洲cGMP对制药、生物技术和医疗设备生产的要求(EN285, EN554)而设计。
满足FDA关于保护电子数据的条款(21 CFR Part 11)∙利用用户设置的ID和密码防止非授权介入操作。
∙生成安全的数据文件,防止篡改。
∙通过被保护文件生成打印报告和制表数据文件。
∙建立综合的所有硬性规定用户数据行为的检查跟踪数据记录(Audit trail功能)。
RF ValProbe® 基站RF ValProbe® 基站是无线实时射频验证系统的重要组成部分,与PC连接并运行Windows支持的验证软件,可以对多个探头记录器进行数据读取、编程、校正、校正检查,生成验证数据报告等工作。
RF ValProbe® 无线射频验证系统利用2.4 GHz射频网网络和多级冗余数据存储技术,提供超可靠的稳定通讯,以及严格的验证数据存储功能。
多无线通信终端并行自动化射频测试系统开发与应用
UT RA) ; Us e r E q u i p me n t ( UE ) c o n f o r ma n c e s p e c i i f c a t i o n ; Ra d i o
测试项 目 单芯片测 试 ( 一 多芯片并行测试 ( 八 部) 测试 时 间 ( 秒) 部 )测 试 时 间 ( 秒) G S M 校准 2 8 . 5 6 4 . 3 验 证 1 6 . 4 4 9 . 5 W C D M A 校准 1 0 . 5 4 0 . 8 验 证 1 5 . 8 4 4 . 5 总 测试 时 间 7 1 . 2 1 9 9 . 1 四 、结 论
【 1 ] 3 G P P TS 3 6 1 2 1 一 l : Us e r E q u i p me n t ( UE ) c o n f o r ma n c e
s p e c i i f c a t i o n .
【 2 ] 3 G P P TS 3 6 . 5 2 1 —3 : 3 r d Ge n e r a t i o n P a r t n e r s h i p P r o j e c t ; Te c h n i c a l S p e c i f i C a t i o n Gr o u p Ra d i o Ac C e s s
消 费 电子
2 0 1 3年 9月 下 C o n s u me r E l e c t r o n i c s Ma g a z i n e 电子 科 技
C M W S是罗德与施瓦茨公司推 出一款配合 C M W使用 的射频 矩 阵 开 关 系 统 ,它 具 备 三 行 、 2 4个 射 频 端 口 。如 图 I 所示 , C M W能够提供 两个通 道,每个通 道都有 单独的信 号分析和信
射频全自动化测试系统的设计与实现
ELECTR0NI C M EAS U REM ENT TECHN0L0GY
射 频 全 自动化 测试 系统 的设 计 与 实现 *
陈玉华 刘鑫 正 蔡成 亮 刘永 波
( 中兴 通 讯 西安 7 1 0 1 1 4 )
摘
要 :通 用 的终 端 射 频 测 试 方 案 中 பைடு நூலகம் 测试 仪 表 一 次 只能 连 接 一 台终 端 进 行 测 试 , 测试 完 成 后 必 须 由 测试 人 员 更 换 终
Ch e n Yu h u a Li u Xi n z h e n g Ca i Ch e n g l i a n g L i u Yo n g b o
( ZTE Co r p o r a t i o n, Xi ’ a n 7 1 0 1 1 4, Ch i n a )
端、 在 无人 环 境 下 , 仪 表 处 于 闲 置 状 态 。提 出 了一 种 可 以 实 现 多 部 终 端 射 频 全 自动 化 测 试 的方 案 , 通 过 引 入 射 频 多 路 开关 、 US B多路 开关 等 关 键 技 术 , 使 测试 仪 表 一 次 和 多 台 终 端 相 连 , 并 自动 实 现 多 部 终 端 间 的 自动 切 换 和 测 试 , 由 于 整 个 测 试 过 程 自动 进 行 无 需 测 试 人 员 参 与 , 该 系 统 可 以在 夜 间等 无 人 环 境 下 运 行 。 系统 节 省 了人 力 成 本 , 有 效 提 高 了 仪 表 的利 用 率 , 缩 短 了测 试 周 期 。最 后 设 计 并 实 现 了 一 套 系 统 , 进 行 了 大 量 的 测 试 。测 试 结 果 验 证 了 该 系 统 的 有
Ab s t r a c t :I n g e n e r a l t e r mi n a l r a d i o f r e q u e n c y t e s t p r o g r a m, a t e s t i n s t r u me n t c a n c o n n e c t a n d t e s t o n e t e r mi n a l o n c e . A t e s t e r n e e d t o c h a n g e a n o t h e r t e r mi n a l a f t e r o n e t e r mi n a l i s f i n i s h e d, t h e i n s t r u me n t wi l l b e i d i e wi t h o u t a t e s t e r . Th e p a p e r p r e s e n t s a n e w mu l t i p l e - t e r mi n a l s r a d i o f r e q u e n c y a u t o ma t i c t e s t p r o g r a m wh i c h o n e t e s t i n s t r u me n t c a n c o n n e c t ma n y t e r mi n a l s o n c e , a n d t h e s y s t e m c a n c o mp l e t e s wi t c h a n d t e s t a u t o ma t i c o f ma n y t e r mi n a l s a c c o r d i n g t o r a d i o f r e q u e n c y s wi t c h n e t wo r k a n d US B s wi t c h n e t wo r k . Th e n e w s y s t e m c a n wo r k a u t o ma t i c wi t h o u t a n y t e s t e r , s o i t c a n wo r k u n d e r n o — p e o p l e e n v i r o n me n t s u c h a s a t n i g h t . Th e s y s t e m c a n r e d u c e h u ma n c o s t a n d r i s e u p t h e e f f i c i e n c y o f t h e i n s t r u me n t a n d r e d u c e t h e t e s t p e r i o d . Fi n a l l y we d e s i g n a n d i mp l e me n t a t i o n o n e s y s t e m a n d d o ma n y t e s t s . Th e t e s t r e s u l t s v a l i d a t e t h e u s e f u l o f t h e n e w s y s t e m. Ke y wo r d s :r a d i o f r e q u e n c y t e s t ;a u t o ma t i c ;r a d i o f r e q u e n c y s wi t c h n e t wo r k;U S B s wi t c h n e t wo r k
基于固态射频开关单次快脉冲分段测试系统
关键词 : 射频开关 ; 单次脉冲 ; 分段测试  ̄ .G9 ] AD 0
中图分类号 : TN7 8 文献标识码 : A 文章编号 : 0 5—94 2 1 ) 1 2 20 2 80 3 (0 0 0- 8-3 0
在高能物理单次快脉 冲测试系统中, 目标 信号 的动态范围一般可达 8 d 一9d , O B 0 B 幅度在 几毫 伏至几 十伏 , 但示 波器 只能记 录一 个量 级 , 因此 须将待 测信号 压缩 至 1 O倍范 围 内 , 这样 势 必会丢失某些细节信息, 尤其影响小信号 的完 整性。 针 对这 一问题 , 文提 出 了一 种 采 用 固态 本 射频开关将单次快脉冲信号进行分段测试 的思 想, 对动态范围较大 的单次脉冲按量级进行分 段, 保证了 目 标信号的测试精度 。
J L . .
: =
开单t 关元 J
} = =
图 1 单 次快脉 冲分 段测试系统原 理框 图
固态 开关 有 F T和 PI 两大 类 。F T型 E N E
开关多采用 C S技术 , MO 虽然其插入损耗较机
电型 的同轴 开关 大 , 常 为 0 5d 至 6d 但 通 . B B, 其开 关速 度 可 达 纳 秒 级 , 间晃 动 也 较 小 。本 时
控制信号与被测信号二者时间关系如图 1 所示 , 主要与以下几个因素有关 : 脉冲分段点甄 别单元时间延迟量 t, z控制信号产生单元时间 延迟量 t, 3开关单元开关速度 , 触发信号与被
测信 号传输 电缆 电长 度 t和 t, s用公式 表示为 :
= s一 (1 2+ + t) = :t + 4
整波 形 , 关 单元 须 在 被 测信 号 到来 时 处于 闭 开
一种大功率射频同轴开关的设计
行系统的零件的边缘,避免出现加工毛刺,拐角加工 成圆角。此外,防止微波导行系统内污染,降低耐功 率阈值,装配前用酒精清洗零部件,还要在满足洁净 度要求的专用操作间内进行装配和调试等,而且存放 环境应洁净,防止出现污染物 。 [10]
3 产品实测结果
根据以上设计,将产品加工完成后进行实际试
验测试,得到实测结果与技术指标要求的对比如表 2
根据微波导行系统结构大间隙设计要求,本型 号开关选用螺线管式磁路结构,其特点是磁利用率高, 铁芯的行程较大 [8]。结合技术指标的振动要求,对 电磁转换系统进行结构设计,在 Maxwell 软件中建立 结构模型,进行电磁仿真分析 [9]。
通过仿真分析,磁路中的磁感应强度未达到产 品选用的软磁材料的饱和值,因此开关的电磁转换系 统结构设计可以满足整体结构及技术指标要求。电磁 转换系统仿真结果如图 6 所示。
所示。由对比可知,该产品具备低驻波比、低损耗以
及低气压环境功率耐受能力强的特点,产品的结构设
计满足用户技术指标要求。
表 2 主要性能指标对比
主要指标 某型号大功率射频同轴开关 用户使用要求 符合性
驻波比
≤ 1.08
6.27
隔隔隔离离离度/度d度//BddBB
-0.012 -0.012 -0.014 -0.014 -0.016 -0.016
Name X
Y
Name X
Y
m1 800.0000 -0.0179
m1 800.0000 -0.0179
-0.018 -0.011080.00
100.00
200.00 300.00 400.00 500.00 200.00 300.00 400频.00率/M5H0z0.00
1.010
DC2400ATS无线接入自动测试系统的性能分析
蓝 牙 设 备 测试 要 求 在 高 中 低 3个 频 点 分 别 进 行 测试 ,功
率测试项 ( 最大发射功率 、最大 功率谱密 度 )至少要在 高、
4测试方法简介
4. 1自动测试方法
自动 测试 是 指 由测 试 软 件 按 照 测 试 人 员 预 先 设 定 好 的 测
能 产生 的 互 扰 。
利用 N4 1 0 0提供的存储功能 ,可将每项 测试对应的设
置 按 顺 序 存 入 内部 存 储 器 中 ,再 次 使 用 时 ,仅 需 从 内部 存 储 器 中 按存 储 号 码直 接 调 用 即可 。 蓝 牙 测试 工 作 需要 暂 停 时 , 按 “ 可 RUN/ SUME” , RE 键
其 中 几项 进 行 说 明 。 等 效 全 向辐 射 功 率 及 最 大 功 率 谱 密 度 两 项 测 试 指 标 应
和测试合格指标 ” 修改全局参数 ” “ 一“ 一 执行测试规划 ” “ 一 完
成 测 试 ”一 “ 成测 试 报 告 ”一 “ 存 ” 。 形 保
( 2)wL RFD等设备 AN |
2系统的工作流程
测 试系 统 内各 指 令通 过 GPI 线 进 行 传输 ,当 被 测设 B总 备 连 接 到 测 试 系统 后 ,系 统 会 根 据被 测设 备 的 类 型 和 测 试项 目 自动 选 择 射频 开关 通 路 ,通 过 相 应 的衰 减 器 和 滤 波 器 连接 到 测 试 仪 表 ,并 按 照 测 试 程 序 进 行 测试 。测 试 软 件 是整 个 系 统 的 “ 经 中枢 ”,它 能 够 根据 不 同 的测 试 设 备 类 型 ̄ i 神 J - , N试 仪 表和 射 频 开 关进 行控 制 ,将测 试 数 据保 存 到 .ml 件 中 , x 文 并 能够 自动生 成 测 试报 告 。
用于大规模量产射频开关芯片的谐波测试系统
用于大规模量产射频开关芯片的谐波测试系统胡信伟上海知白智能科技有限公司 上海 200333摘 要 本文介绍了一种应对量产自动测试机的大功率谐波测试系统的设计,该设计可以对绝大多数的射频前端开关芯片进行二次和三次谐波的测试。
这种方法可以广泛地应用于半导体固态射频开关的量产FT测试和CP测试及实验室可靠性测试中。
关键词 谐波测试;固态开关;射频;天线调谐开关Harmonic Test System for Mass Production of Radio Frequency Switch ChipsHu Xin-weiShanghai Zhibai Intelligent Technology Co., Ltd., Shanghai 200333, ChinaAbstract This paper introduces the design of a high-power harmonic test system for mass production of automatic testmachine, the design can perform the second and third harmonic tests of most radio frequency front-end switch chips. This method can be widely used in mass production of FT testing and CP testing of semiconductor solid-state radio frequency switches and laboratory reliability testing.Key words harmonic test; solid state switches; radio frequency; antenna tuning switch引言谐波(Harmonics)是一个数学概念,也是一个物理概念,是射频测试中非常重要的一个测项。
OTA测试系统介绍
天线测试系统介绍•OTA测试概括•有关测试系统•测试软件•发展趋势•OTA是英文Over The Air的缩写,意思是通过空气(传导)进行的(测试)。
•一般来说,绝大部分手机设计都会用到射频连接器,就算从外表看不到,把手机拆开了也会看到的。
这个射频连接器起什么作用呢?它把手机的射频测试分成了两个部分,射频连接器以里的测试,和手机整体测试。
这个射频连接器简单的说就是一个三通开关,保证在任意时刻手机内部的射频信号要么从射频连接器上走向射频线并进入测量仪器,要么通过射频连接器走向手机天线。
通路的切换取决于是否插入射频测试电缆。
我们把通过插入射频测试电缆做的测试叫做conductive测试,把拔出射频测试电缆做的测试叫做radiative测试,也叫OTA测试。
•在设计手机时,天线工程师和系统工程师要考虑的问题是产品最终的辐射性能和接收性能要足够好,同时这种性能要对方向不敏感。
如果手机的辐射性能对方向敏感(方向性很强)的话,在实际使用过程中很有可能让人感觉到比如原地转90度,结果手机掉话了。
这样的使用性能让消费者是无法接受的。
所以,在手机设计过程中,我们引入OTA测试的方法,来验证手机辐射性能和接收性能的方向性,从而保证最终的产品质量。
•如果想验证手机的辐射性能,就必须有一个标准的测试系统。
比如在繁华的闹市,突然的掉话也许是因为网络繁忙的原因造成的。
一个标准的测试系统主要有以下几个标准:•对外界的干扰不受影响。
•测试系统可以模拟无限开放的空间。
•对外界的干扰不受影响主要指的是要在相应的测试频段有足够好的射频隔离度。
解决方案就是屏蔽室,外面有再大的干扰信号,里面也不受影响。
•模拟无限开放的空间是指微波是电磁波,在一个封闭空间内传播是会来回反射的,如果直接在屏蔽室内辐射电磁波,那么屏蔽室就成了一个封闭的波导,在无数个空间点上会形成驻波,这些驻波点会极大地影响测试结果,甚至会损伤器件。
为了消除驻波,人们在屏蔽室内部敷设吸波材料,效果就是从发射天线或者手机发出的电磁波碰到墙壁不会有任何的反射,从而保证只有一个路径的电磁波传输到相应的接收器上。
【国家自然科学基金】_射频开关_基金支持热词逐年推荐_【万方软件创新助手】_20140731
推荐指数 2 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
Hale Waihona Puke 2010年 序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
2011年 科研热词 推荐指数 序号 开关 3 1 高场非对称波形离子迁移谱 1 2 高场非对称方波 1 3 馈线终端 1 4 配电网 1 5 超宽带 1 6 波束扫描 1 7 欧姆接触 1 8 无线通讯 1 9 无线网络 1 10 数据传输 1 11 微带 1 12 射频电压 1 13 射频标签(rfid) 1 14 射频微电子机械系统(rf mems) 1 15 射频微机电(rf mems)开关 静电累积 1 黏附失效 电荷预注入 16 射频 1 17 寄生 1 18 声表面波(saw) 1 19 可靠性 1 20 光通信 1 21 光载无线通信(rof) 1 22 光相位调制器(pm) 1 23 光毫米波生成 1 24 倍频技术 1 25 信号发生器 1 26 介质充电 1 27 三次反射 1 28 xe1205 1 29 tms320f2812 1 30 pwm 1 arm 1
2011年 科研热词 非晶二氧化硅 隔离度 锁模脉冲 逐次逼近 超高频射频识别 自动增益控制 线性度 电容式 生物机器人 版图 混频器 混合模型 植入式神经电刺激 时分抽样 时分复用 无定形sio2 收费机制 插损 开关过程 开关 射频接收机 射频微机电系统 射频前端 双相恒流源 共面波导 光模数转换 信号处理 低噪声放大器(lna) sio2薄膜 rf mems 推荐指数 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
天线间耦合度自动测试系统设计
天线间耦合度自动测试系统设计
王方明;苏东林;曹景阳;倪子
【期刊名称】《国外电子测量技术》
【年(卷),期】2010(0)8
【摘要】多天线系统的电磁兼容性很大程度上取决于系统内收发天线间的射频能量耦合。
天线间耦合度是评估系统级电磁兼容性的重要指标。
针对目前传统手工测试的种种弊端,设计了基于射频开关自动切换的天线间耦合度自动测试系统,详细阐述了系统硬件构成、软件的设计思路以及具体的测试流程,使用LabVIEW编写软件控制收发天线对的自动切换,实现自动测量,具有测量误差小,测量便捷等优点。
【总页数】4页(P9-12)
【关键词】天线耦合度;自动测试;电磁兼容;射频开关
【作者】王方明;苏东林;曹景阳;倪子
【作者单位】北京航空航天大学电磁兼容实验室
【正文语种】中文
【中图分类】TP274
【相关文献】
1.雷达辐射近场和天线间耦合度计算方法分析与改进研究 [J], 黄松高;温定娥;吴楠;刘松
2.典型雷达辐射近场和天线间耦合度预测方法改进研究 [J], 黄松高;温定娥;吴楠
3.FDTD结合变分法计算线天线间耦合度 [J], 张玉;朱培芸;梁昌洪
4.复杂平台天线间耦合度预测的逐级等效法 [J], 陈政;谢拥军;李江;张;李丹
5.机载天线间耦合度分析计算 [J], 丁君;孙敏;郭陈江
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卫星导航射频芯片自动化测试平台设计与实现
0 引言随着我国北斗卫星导航系统正式开通服务,北斗产业迅猛发展,应用需求愈加广泛。
卫星导航终端深入全社会各个行业,为其提供基础的时空信息服务,保障国家经济、国防、交通以及通信等各行业安全、健康地发展。
卫星导航终端芯片化、小型化、低功耗和低成本已经成为行业发展的方向,各类芯片广泛应用在卫星导航终端上。
此外,芯片产业作为高端制造业的重点领域,正在成为衡量一个国家高端制造业水平的标杆。
卫星导航终端射频芯片作为导航终端产品的基础部件,其性能的优劣将直接影响导航终端整机的性能指标。
射频芯片测试则是射频芯片研发、制作和生产过程的重要环节,对北斗卫星导航终端产业的发展起举足轻重的作用[1]。
1 射频芯片测试1.1 卫星导航射频芯片卫星导航射频芯片是将电磁波信号从模拟信号转换为数字信号(或者从数字信号转换为模拟信号)的集成电路。
射频芯片内部器件包括功率放大器、低噪声放大器、滤波器以及射频开关等。
功能包括信号接收、信号转换、信号处理和信号发送等。
卫星导航射频芯片功能机构图如图1所示。
1.2 射频芯片测试射频芯片集成测试就是搭建射频芯片集成测试环境,按照射频芯片性能指标测试流程、控制仪器设备(直流电源、频谱仪、示波器以及矢量网络分析仪等)对射频芯片的功能和性能指标参数进行测试。
射频芯片测试对射频芯片的研发、生产都是至关重要的,通过测试保证了射频芯片的质量,通过测试发现射频芯片在研制、生产过程中的问题,对提升射频芯片性能具有重要作用。
射频芯片测试还可以避免不必要的人员和成本浪费。
但是,射频芯片测试技术同样也面临问题和挑战:1) 射频芯片测试需要不断提升测试能力,以满足射频芯片多样化、复杂化的测试需求。
随着射频芯片设计、工艺以及制造技术水平的不断提高,射频芯片的复杂度和测试项目不断增加,芯片测试难度也不断提高。
2) 射频芯片测试需要满足批量化、自动化的需求。
随着射频芯片产能的提高,传统射频芯片测试能力不能满足射频芯片厂家重复性的测试需求,需要专业化、自动化的射频芯片测试系统。
综测仪测试nb-iot-射频指标手册
综测仪测试N B-I o T-射频指标手册(总32页)-CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company One1-CAL-本页仅作为文档封面,使用请直接删除1文档综述1.1前言本文适用于使用综测仪对NB-iot进行与模拟小区的连接及射频测试,当前版本。
1.2版本更新信息Signaling中添加DAU链接以及用户自定义调度。
Measurement添加RX测试功能。
可以建立NB-iot小区,并在Measurement中进行TX测试。
2NB-iotSignaling2.1信令界面NB-iotSignalingNB-iotSignaling小区模拟界面需要LicenseKS300才能打开,打开后界面如下图所示。
(打开方式,仪表面板上的SIGNALGEN按键,选择NB-iotSignaling1)2.1.1连接状态ConnectionStatus小区指示Cell,小区打开后会亮起数据包开关PacketSwitched,小区打开后显示Cellon,终端进行小区搜索的时候显示SignalinginProgress,终端注册成功后显示Attached。
无线资源管理状态RRCstate,终端未注册时显示Idle,终端注册成功后显示Connected。
2.1.2日志显示EventLog终端与仪表的信令交互情况,会显示在这个区域,如图中所示。
蓝色信息都是正常的提示,黄色信息为失败消息,红色信息为仪表出现错误。
终端信息UEInfo及其他,暂未添加。
2.1.3小区设置Cell频带和双工方式选择,目前只支持FDD,后续版本将会支持TDD信道及频率选择Channel/Frequency,信道和频点有对应关系,设置一个参数的数值会相应变化。
窄带参考符号每资源元素功率NRSEPRE (NarrowReferenceSymbolEnergyperResourceElement),通过这个参数,可以设置仪表发射给终端的信号强度。
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以弹簧连接,压缩行程约 l , m m 。
下部。
ZVB 的控制、分选机控制。
、系统各个组成部分之间的时序控制,、产品分拣、测试与测试板接触见图8 。
上部与测试件接触数据存储等功能动单元控制 L a ,由于 Z V B 自带了 4 位用户自定义,可以分别做 3 个 B i n f tl 开关驱。
而不需
另外的 P C 接口或电路非常方便 b V IE W 是N I 公司开发的一款图形化编程工具。
编程灵活,使用方便。
5 直流稳压电源 S UT 需要两路独立电源控制 ( 不开关驱动单元也需要单独 5 V 。
共地,囱圈图 1 3 参数设置图 14 测量界面电源提供偏置因此需要一台能够提。
供 3 路输出的直流电源供电 3 1 软件编程环境和实现功能本测试系统软件,主要实现对 R & S 的全系列产品都给用户提供了丰富的驱动库选择。
,用的户可以很方便的从网站上免费下载 L a 值得注意的是随 Z V , B b V IE W 子V I 库中,,提供了详细的 H e l p 文件一无需再查找 I 。
厚重的编程手册只
需轻松搜,便能找到相对应的S u b V 、软件最大的难点就在于如何同步分选机驱动单元。
ZV B B 和开关根据分选机的时序图“ ,多次反复调试 Z V s $ N分选机,确定了。
c h a n n e l bit ” 设置延时 ( 10 0 m 和分选机 B in 延时
在软件中增加了“ m a n u a l ” 模式,支持手动测量模式。
系统框图及设置见图9 — 14 。
2 软件漉程图软件启动后,自动恢复上一次保存的设置值,。
在参数设,置中,不仅可以设置 S U T 的常规参数,比如频率范围 S UT 两路的传输 M a r 反射和隔离指标 ( 作为合格/不合格判据,。
k e r 输入框用来定义测试报告中需要记录的频率点 ce ZVB 的每条t r a 最多支持 1 0 个 M a r k e r 。
软件中设置的所有参数都能通过设置文件进
行保存或调用参数设置完毕图 1 2 软件流程图,。
运行S e t u 。
p ,软
件会自动对 Z V B 进行设置,包括 L i m it lin e 的设置 (下转第 16 页一 6 一中国科技核心期刊
准溯源技术,可提供最高的置信度。
80A自动校准技术不
仅提供58检测和出错报告能力,可以极大地方便应用程序的调试工作。
用户可以方便地利用已有的自动测试系统、程序及调试经验。
只要符合IE482标准或者SP语言,EE8.CI
连续运行80A能够在各种恶劣条件的58GI总线控制的校准方式,还提供PB前面板操作的校准方式。
环境下工作。
80A中没有任何散热风扇和58冷却通道。
各端钮均为密封型,各输入端都具有完善的保护功能,所有电压量程都可以承受l0V有效值的00总线控制80A的GPB接口遵循最新58I其他仪器的程序也可以应用。
这样,大大减少了组建自动测试系统的时的
lE482标准。
它与IE48EE8.E8(9817)兼容,但是引入了特定信息处理的约定,公用命令和标准状态报告格式。
新标准要求仪器仅对严格符合格式的信息做出响应,这样就消除了产生非法的状态而发生“ 死” 现锁间。
只有在远地程控方式下,80A58
的测量速度才能全部发挥出来。
测量结果通过总线接口将数据传输出去。
80A的各功能各量程都能保58高压冲击。
数字多用表往往是关系整个系统性能的最基本部分,因而为保证系统的可靠运行要经常进行快速有效的自检。
80A利用内部的标准源随时可58
进行自我检测,对80A各功能、58证得到稳定可靠的读数,仪
器内设置的缺省延迟可以确保所有模拟输入稳定后才能进行数字化转换。
象的潜在危险。
开发应用程序时的调试能力是十分重要的。
80A的前面板按键可58以发出触发信号,也能使仪器返回到各量程的各个关键测试点进行精确检查。
各量程的零点偏移、噪声水平也都严格检查,每一步的检查结果都以编码输出,指示仪器的故障或不足。
(品资料由福禄克公司提供)产前后面板的输入都是完全可程控的。
除了IE48接口,后面板还有EE8本地状态,加上80A广泛的语法58单独一个TL信号可用于触发测量。
T(上接第6页)固定的延时。
方便非生产时试验数据的记录与分析,而且还可以结合外部软件对产品软件提供个两种测量模式“ uoAt”和“ nN” 。
Mau4结论生产电性能部分的过程控制(PSC)只需按“ aue键,ZMesrVB便进入测量模式。
在Auo式下,t模该系统不仅实现了测试过程的自进行统计,为后续生产的过程控制提供有力的依据。
系统经过一段较长时间的使用,该系统运行稳定,运行速度满足设计要求。
动化,杜绝了人为因素造成的产品质zVB为外触发状态,等待S00Pl0
量波动,而且可以在一个测试过程中TryCa捡置式分选机的SaTonOT信同时完成开关的收、发两路测试,极大的提高了测试效率。
测试数据自动保存不仅可以为后续追溯提供依据,号。
按照流程图所示,ZVB接收到SOT后,便开始对SUT每个通路测量。
测量结束后,返回到初始状态等待下一个STO信号。
“ na”模式下,Z工作于MaulVB自由触发状态。
每一个开关测试存在马宏涛,男,1g年出生。
现任中国电子科技集团第五十五研究所射频模90块产品部(九部)Q、质量工程师。
主要负责线上产品质量与仪表设备的c调试、开发与使用;试数据的采集与分析。
测一1一6中国科技核心期刊。