X射线衍射分析的应用ppt课件

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高中化学 X-ray射线衍射分析方 课件 (共14张PPT)(共14张PPT)

高中化学 X-ray射线衍射分析方 课件 (共14张PPT)(共14张PPT)

Symmetry of Crystal
西汉.韩婴. 《韩诗外传》 “凡草木花多五出,雪花独六出”。 南北朝.庚信. “雪花开六出,冰珠映九光” 唐代武将高骈 《对雪诗》:“六出飞花入户时,坐看青竹变琼枝”。 宋代韩琦 《咏雪诗》:“六花耒应腊,望雪一开颜”。 1611德国Kepler.《六面形雪》记述雪晶是六角形,比我国晚一千多年
Solid substances with 3D periodicity
单晶特性
Self-definite (自范性) Homogeneity (均一性) Symmetry (对称性) Anisotropic (向异性) Minimum Inner Energy (低能性) Stability (稳定性)
X-ray射线衍射分析方法 简介
物质的组成鉴定
• 看世界
X-ray射线衍射分析原理
• 电子显微镜
X-ray射线衍射条件
• 固态物质的单晶是衍射必要条件
What is Crystal
地球上的晶态物质比比皆是,矿物中有98% 是晶体.动物的骨骼、毛发中也有结晶组织. 脱离了营养介质的病毒会形成结晶.漫天飞 舞的雪花也是晶体……
为什么雪花是六角形
汉. 刘熙. 宋. 朱熹. 《释名》 “凡花五出,雪花六出,阴之成数也。” 《语类》 “雪花所以必六出者,盖只是霰下被猛风拍开,故成六出 。如人掷一团烂泥于地,泥必缵开,成棱瓣也又六者阴数,太 阴元精石亦六棱,盖天地自然之数。”
1611年德国天文学家开普勒在一本结晶学论著《圣诞节礼物——六方形
实例:如何从石墨层抽取出平面点阵
石墨层
小黑点为平面点阵. 为比较二者关系, 暂以
石墨层作为背景,其实点阵不保留这种背景.

材料分析方法之材料X射线衍射分析PPT(30张)

材料分析方法之材料X射线衍射分析PPT(30张)

X射线的产生及其与物质的相互作用

1、有时候,我们活得累,并非生活过于刻薄,而是我们太容易被外界的氛围所感染,被他人的情绪所左右。

2、身材不好就去锻炼,没钱就努力去赚。别把窘境迁怒于别人,唯一可以抱怨的,只是不够努力的自己。

3、大概是没有了当初那种毫无顾虑的勇气,才变成现在所谓成熟稳重的样子。

8、世上的事,只要肯用心去学,没有一件是太晚的。要始终保持敬畏之心,对阳光,对美,对痛楚。

9、别再去抱怨身边人善变,多懂一些道理,明白一些事理,毕竟每个人都是越活越现实。

10、山有封顶,还有彼岸,慢慢长途,终有回转,余味苦涩,终有回甘。

11、人生就像是一个马尔可夫链,你的未来取决于你当下正在做的事,而无关于过去做完的事。
l
dIx Ix
1 dx
l X射线通过单位厚度(体积)
物质的相对衰减量
m l /
m--质量吸收系数 可反应物质本质的吸收特性
II0emt I0emm
m—单位面积厚度为t的体积中的物质的质量(m= t)
m—X射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量。
m 具有加和性
称为吸收限。 每种物质都有它本身确定的一系列的吸收限。
二、X射线的真吸收
吸收系数突变是由于光电效应消耗大量入射能量引起的
光电效应是指吸收体原子某壳层电子获得入射光量子能
量,从内层溢出而成为自由电子(称光电子),使原子
处于相应激发态

如k激发态
: hνk

wk=
hc λk
,k、k为K吸收限频率和波长

1、不是井里没有水,而是你挖的不够深。不是成功来得慢,而是你努力的不够多。

X射线衍射及其应用课件PPT

X射线衍射及其应用课件PPT

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X-射线结晶学方面获得的诺贝尔奖
➢ 1901:诺贝尔物理学奖授予Wilhelm Conrad RÖntgen.发现X-射 线.
➢ 1914:诺贝尔物理学奖授予Max TheodorFelix von Laue.发现X射线衍射.
➢ 1915:诺贝尔物理学奖授予William Henry Bragg和 William Lawrence Bragg.布拉格定律及晶体结构.
识谱。每一种化学元素产生一种次级X射线辐射,它可被看作是 该元素的特征标志,巴克拉称其为标识X射线。标识谱线被区分 为两个不同的范围:K系列和L系列。
对K系列和L系列的进一步研究得到了有 关原子内部结构的极为重要的结果:是 原子的核电荷,而不是原子量,决定该 原子在元素周期表中的位置。也就是说, 原子的核电荷决定原子的化学属性。
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X射线谱:
X射线管发出的X射线,其波长组成是很复杂的。按其特 征可以分成两部分: 连续光谱 特征光谱
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韧致X射线:当X光管中阴极发出的电子经加速后与阳极靶材相 撞并急剧减速时,其相互作用的产物之一便是被称作白色辐射或 韧致辐射(bremsstrahlung)的连续谱。
的衍射现象,证明了X射线的波动性和晶体内部结构的周期性 。
劳厄(1879~1960)获1914年诺贝尔物理学奖
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➢ 1912年,小布拉格(William Lawrence Bragg)成功地解释了劳厄的
实验事实。解释了X射线晶体衍射的形成,并提出了著名的布拉格 公式: 2dsinθ=nλ,表明用X射线可以获取晶体结构的信息。
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《X射线衍射分析》课件

《X射线衍射分析》课件

总结
X射线衍射实验的优缺点
概述X射线衍射实验的优点和局 限,以及可能的改进措施。
X射线衍射分析的发展趋势
讨论X射线衍射分析的未来趋势, 来自新技术和应用领域。对学习与研究的启示
总结X射线衍射分析对学习与研 究的重要性和价值,以及可能的 研究方向。
掌握X射线衍射实验的基本实现步骤,从样品 制备到衍射图谱的获取。
X射线衍射实验
X射线源
不同类型的X射线源及其在实验 中的应用。
单晶衍射实验
解释单晶衍射实验原理和步骤, 以及单晶衍射实验在材料研究 中的应用。
多晶衍射实验
介绍多晶衍射实验的原理和操 作,以及多晶材料的结构分析。
X射线衍射数据处理
衍射图解析
《X射线衍射分析》PPT 课件
X射线衍射分析课件是关于X射线衍射的详细介绍。包括X射线衍射概念、实验 原理和操作演示,以及数据处理和应用举例。让我们一起探索X射线衍射的奥 秘!
X射线衍射概念
1 X射线衍射实验原理
2 X射线衍射实现步骤
了解X射线衍射实验的基本原理,如光的波动 性和晶体结构的相互作用。
如何解析X射线衍射图,以确定晶体结构和晶格常数。
峰面指数的确定
讲解确定峰面指数的方法,以及它在晶体学中的重要性。
晶格常数的计算
介绍计算晶格常数的公式和步骤,为材料研究提供准确的结构信息。
实验操作演示
1
单晶衍射实验
展示单晶衍射实验的操作步骤,包括样
多晶衍射实验
2
品装载、X射线照射和衍射图的获取。
演示多晶衍射实验的操作流程,详细说
明多晶样品的制备和衍射数据的处理。
3
粉末衍射实验
进行粉末衍射实验的操作演示,包括样 品制备、测量和数据分析。

XRD的原理及应用ppt课件

XRD的原理及应用ppt课件

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三、X射线衍射方法
• X 射线的波长较短, 大约在10- 8~ 10- 10cm 之间。与晶体中的原子间距数量级相同, 因 此可以用晶体作为X 射线的天然衍射光栅, 这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成 为可能。在研究晶体材料时,X射线衍射方 法非常理想非常有效,而对于液体和非晶 态物固体,这种方法也能提供许多基本的 重要数据。所以X射线衍射法被认为是研究 固体最有效的工具。在各种衍射实验方法 中,基本方法有单晶法、多晶法和双晶法。
衍射),已成为近代X射线衍射技术取得突出成 就的标志。但在双晶体衍射体系中,当两个晶体 不同时,会发生色散现象。因而,在实际应用双 晶衍射仪进行样品分析时,参考晶体要与被测晶
体相同,这使得双晶衍射仪的使用受到限制。
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24
四、X射线衍射的应用
• X射线衍射技术发展到今天, 已经成为最基 本、最重要的一种结构测试手段, 其主要应 用主要有物相分析 、 精密测定点阵参数、 应力的测定、晶粒尺寸和点阵畸变的测定、 结晶度的测定 、 晶体取向及织构的测定
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德拜相机
德拜相机结构简单,主 要由相机圆筒、光栏、 承光管和位于圆筒中心 的试样架构成。相机圆 筒上下有结合紧密的底 盖密封,与圆筒内壁周 长相等的底片,圈成圆 圈紧贴圆筒内壁安装, 并有卡环保证底片紧贴 圆筒。
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19
X射线衍射仪法
• X射线衍射仪法以布拉格实验装置为原型,融合了机械与 电子技术等多方面的成果。衍射仪由X射线发生器、X射 线测角仪、辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成, 是以特征X射线照射多晶体样品,并以辐射探测器记录衍 射信息的衍射实验装置。现代X射线衍射仪还配有控制操 作和运行软件的计算机系统。

X射线衍射实验方法ppt课件

X射线衍射实验方法ppt课件
测量动作:θ-2θ联动
❖位于试样不同部位MNO,处平行于 试样表面的(hkl)晶面可以把各自的反射 线会聚到F点
❖沿测角仪圆移动的计数器只能逐个地 对衍射线进行测量。
❖衍射仪应使试样与计数器转动的角速 度保持1:2的速度比
测角仪要求与 X射线管的线 焦斑联接使用 ,线焦斑的长 边与测角仪中 心轴平行。
根据样品中晶体含量大,衍射峰较强的特 点,比较峰值的大小,来判断结晶程度。 1.欣克利法
一般选取110和111晶面进行对比,根据( A+B)/At大小来判断结晶度
衍射分析当中,如果晶体在空间随机分 布,衍射强度的比值为理论值,如果晶体排 列有一定规律,则在测试中某一晶面的衍射 强度变大或变小,计算测试结果中各衍射峰 的强度与PDF卡片中该物质对应的衍射线相 度强度,得到折合的衍射线强度,如果折合 的强度相同,则无取向度,反之,有一定取 向。
觉衍射线的宽化
点阵常数的确定:
根据布拉格方程,测量衍射角度,根据X射线波 长,计算出各个晶面间的距离,从而确定晶体 的点阵常数。
材料密度的测定
根据X射线测试结果,计算出晶胞结构,结合晶 面间距与原子量,计算出材料的密度。
晶体在受到外部应力或者内部应力时晶面 间距会有相应变化。
晶体所受应力可以分为:宏观应力引起的 的晶体间应力,析晶、晶型转变等引起的晶体 间应力,位错等引起的晶体内应力。
马氏体的含碳量与马氏体的四方度c/a或者由精确测定的点阵
参数按上式直接计算出马氏体含碳量。通常,钢中含碳量低时仅
仅表现出衍射线的宽化,只有当含碳量高于0.6形时,原铁素体的衍射线才明显地分 裂为两条或三条线。
在淬火高碳钢中有时出现奥氏体相,它是碳在g—铁中的过饱
和固溶体。奥氏体的点阵参数a与含碳量。呈直线性关系:

X射线衍射分析PPT课件

X射线衍射分析PPT课件
穿过一层物质,降低一部分动能,穿透深浅 不同,降低动能不等,所以有各种波长的X射
线。
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CHENLI
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二.特征X射线
由阳极金属材料决定,波长确定 产生机理:高速电子将原子内层电子激发, 再由外层电子跃迁至内层,势能下降而产生 的X射线,波长由原子的能级决定。 如CuK1=1.5405Å
MoK1=0.7093Å 在X射线衍射分析工作中,利用的是特
征X射线,而连续X射线只能增加衍射谱图的 背底。
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特征X射线的激发原理
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晶体结构
晶体的定义
由原子或分子在三维空间周期排列而成 的固体物质
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一.晶体结构的特征 晶体中原子或分子的排列具有三维空间的周
1·三斜晶系(triclinic)a≠b≠c,≠≠≠90 2·单斜晶系(monoclinic)a≠b≠c,==90≠ 3·六方晶系(hexagonal)a=b≠c,==90=120 4·三方晶系(rhombohedral or trigonal)a=b=c,==≠90 5·正交晶系(orthorhombic)a≠b≠c,===90 6·四方晶系(tetragonal)a=b≠c,===90 7·立方晶系(cubic)a=b=c,===90
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二.标准卡片 标准卡片由国际粉末衍射标准协会搜
编,称JCPDS卡,至2005年已搜集到无机 物、有机物近10万张卡片,而且还在不断 增补。
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10
d 1a 1b 1c 1d 7

《射线衍射分析原理与应用》PPT模板课件

《射线衍射分析原理与应用》PPT模板课件
(3)窗口——X射线出射通道。 既能让X射线出射,又能使管密封。
窗口材料用金属铍或硼酸铍锂。窗口与 靶面常成3-6°的斜角,以减少靶面对 出射X射线的阻碍。
X射线管
(4)高速电子转换成X射线的效率只有1%,其余99% 都作为热而散发了。所以靶材料要导热性能好,常 用黄铜或紫铜制作,还需要循环水冷却。因此X射 线管的功率有限,大功率需要用旋转阳极。
X射线与物质的相互作用
当一束X射线通过物体后,其强度将被衰减,它是被散射和 吸收的结果,并且吸收是造成强度衰减的主要原因。
X射线的散射
当X射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场 的作用下将产生受迫振动,其振动频率与入射X 射线的频率相同。
任何带电粒子作受迫振动时将产生交变电磁场, 从而向四周辐射电磁波,其频率与带电粒子的振 动频率相同。
Bragg定律的讨论--(3)干涉面和干涉指数
为了使用方便, 常将布拉格公式改写成。
如令
2dhkl s in
n
dHKL
dh kl n
,则)晶面的n级反射,看成(HKL)晶面 的1级反射。 (HKL) 与(hkl)面互相平行, 晶面间距为(hkl)晶面的1/n。 (HKL)晶面 不一定是晶体中的原子面,而是为了简化布拉 格公式而引入的反射面,常将它称为干涉面。
特征X射线的命名方法
当K电子被打出K 层时,若L层电子 来填充K空位,则 产生Kα辐射。X射 线的能量为电子跃 迁前后两能级的能 量差,即
hK W K W L hK hL
特征X射线的命名方法
同样当K空位被M层电子填充时,则产生Kβ辐射。M能 级与K能级之差大于L能级与K能级之差,即一个Kβ光 子的能量大于一个Kα光子的能量; 但因L→K层跃迁的 几率比M→K迁附几率大,故Kα辐射强度比Kβ辐射强 度大五倍左右。

材料研究方法三X射线衍射分析PPT课件

材料研究方法三X射线衍射分析PPT课件

结构分析时所采用的就是K系X射线。
.
20
eU=1/2mV2
λmin=hc/eU
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三、X射线与物质的相互作用
➢1.透射。强度减弱,波长不变,方向基本不变; ➢2.吸收。①能量以其他能量形式释放,如光电效应、 俄歇(Auger)效应、荧光效应等。②吸收。类似LB定 律。 ➢3.散射。原子使X射线偏离原来方向。 ①波长不变相干散射-Thomson散射;②有能量交换,波长变长, 非相干散射-Compton散射。
.
13
本章主要内容
➢ 1. X 射线介绍 ➢ 2. X 射线与物质的作用 ➢ 3. X 射线衍射仪器 ➢ 4. X 射线衍射分析方法 ➢ 5. X 射线衍射应用
.
14
一、X-射线的性质
➢ ①肉眼不能观察到,但可使照相底片感光、荧光
板发光和使气体电离; ➢ ②能透过可见光不能透过的物体; ➢ ③这种射线沿直线传播,在电场与磁场中不偏转, 在通过物体时不发生反射、折射现象,通过普通光栅 亦不引起衍射; ➢ ④这种射线对生物有很厉害的生理作用。
穿透能力强,一般条件下不能被反射,几乎完全不发
生折射——X射线的粒子性比可见光显著的多
.
16
二、X-射线的产生
1.产生X-射线的方法:是使快速移动的电子(或 离子)骤然停止其运动,则电子的动能可部分转 变成X光能,即辐射出X-射线。
.
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*X射线发生器的主要部件
➢ (1)阴极:钨灯,电流3-4A,加速电压5-8KV ➢ (2)阳极靶材:Cu/Mo/Ni等熔点高、导热性好的金属 ➢ (3)Be窗:d=0.2mm,可透过X射线。
X 射
铅 屏

线
晶体

X射线衍射分析方法和应用专题培训课件ppt

X射线衍射分析方法和应用专题培训课件ppt
确定衍射强度 I
粉末衍射图谱可提供的信息
峰位 面间距d → 定性分析
点阵参数 d漂移 → 残余应力
固溶体分析
强 度
半高宽 结晶性 微晶尺寸
非晶质的积分强度 结晶质的积分强度 定量分析
结晶度
角度(2θ)
实验方法
1、制备样品的方法
• 正压法: • 2)背压法:
2、计数测量方法
1)连续扫描方式 (也称叠扫)
发散狭缝K 样品D 防散射狭缝L
梭拉狭缝S1
梭拉狭缝S2
计数器C 接收狭缝
单色器
焦斑S
接收狭缝F
➢由样品D发出的衍射线, ➢通过防散射狭缝L, 第二组梭拉狭缝S2,
➢会聚于接收狭缝F, ➢再经单色器, 进入计数器C。
发散狭缝K 样品D 防散射狭缝L
梭拉狭缝S1
梭拉狭缝S2
计数器C 接收狭缝
单色器
焦斑S
➢图d 为CaTiO3的XRD谱。 ➢可见: SrTiO3-CaTiO3系固溶体的XRD 谱图与SrTiO3的XRD谱图相似,由于 CaTiO3的加入使峰值、峰形稍有变化。 ➢而混合物的衍射图则是由SrTiO3和 CaTiO3的衍射图叠加而成的,这两种物相 各自的衍射峰清晰可辨。
XRD的应用之三:薄膜材料物相分析
• 定性分析的基本方法:
将由试样测得的衍射花样的d-I数据组与 已知结构的标准衍射花样的d-I数据组(PDF 卡片)进行对比,从而鉴定出试样中存在 的物相。
粉末衍射卡(Powder Diffraction File,简 称PDF)
➢PDF标准卡分为有机物和无机物两大类, ➢每张卡片记录一个物相。 ➢为说明卡片内容,可将卡片分为10个区。
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PDF卡的内容分述如下: 区间la、1b、1c:低角度区(2<90°) 的

X射线衍射分析(XRD)PPT课件

X射线衍射分析(XRD)PPT课件

1845——1923) 面有广泛应用,因此而获得1901年诺贝尔物
理奖。 2021
4
X射线衍射技术的主要应用领域
1,晶体结构分析:人类研究物质微观
结构的第一种方法。
2,物相定性分析 3,物相定量分析
4,晶粒大小分析 5, 非晶态结构分析,结晶度分析
6,宏观应力与微观应力分析 7,择优取向分析
2021
50
40 Mo
30 Cu
Ka 1
20
10 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 2.0 2.2
1/2 (109 Hz1/2)
1 CZ
K1: C=3*103 =2.9
2021
C1Z
K1: C1=5.2*107 =2.9
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产生机理
• 特征X射线谱的产生机理与阳极物质的原子内 部结构紧密相关的。
2021
30
当增加X射线管的电压,连续X射线谱有下列特征
1,各种波长的X射线的 相对强度一致增高, 2,最高强度的射线的波 长逐渐变短(曲线的峰 向左移动), 3,短波极限逐渐变小, 即0向左移动, 4,波谱变宽。
Intensity
50 kV
2
40 kV
1
30 kV
20 kV
0 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0

相互关系为:
eV
hmax
hc
0
或者
0
hc eV
• 式中 e —电子电荷,等于 1.61019C(库仑)
• V—管电压
• h—普朗克常数,等于 6.6251034js
2021
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相关习题
• 试计算用50千伏操作时,X射线管中的电子 在撞击靶时的速度和动能,所发射的X射线 短波限为多少?
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其内容依次为按强度递减顺序排列的8条强线的晶面间距 和相对强度值、化学式、卡片编号和参比强度值。条目 示例如下:
芬克无机数值索引与哈那瓦特数值索引相类似,主要不 同的是其以八强线条的d值循环排列,每种相在索引中可 出现8次。
12
(2)字母索引
以物相英文名称字母顺序排列。每种相一个条目,占一 横行。
2000
0
2
3
4
5
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
6
7
8
9
10
2 ()
XRD图参数:衍射峰位置、衍射峰强度(峰高、峰面 积)、衍射峰形、衍射峰半高宽度
2
XRD的应用
单一物相的鉴定或验证
物相定性分析
物相分析
混合物相的鉴定
物相定量分析
点阵常数的精确测定
晶体定向(取向)
织构分析(极图、反极图、织构的取向分布函数)
晶格畸变(微观应变)与晶粒度(晶块尺寸)测定
条目的内容顺序为:物相英文名称、三强线d值与相对强 度、卡片编号和参比强度号。条目示例如下:
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4.物相定性分析的基本步骤
(1)制备待分析样品; (2)用衍射仪法或照相法获得样品衍射花样; (3)检索PDF卡片; (4)核对PDF卡片与物相判定。
各种粉末衍射仪用样品片、微背景样品托片
14
5. 多相物质分析(混合物相分析)
结晶度分析
残余应力(宏观应力)分析
非晶态材料结构径向分布函数的测定,等等。
• X射线衍射实验方法.李树棠.北京:冶金工业出版社,1993
• 多晶材料X射线衍射 实验原理、方法与应用.黄继武,李周.北京:冶
金工业出版社,2012
3
XRD在材料科学研究中的应用举例
金属材料的塑性形变:孪晶面与滑移面指数的测定(单晶 定向),形变与再结晶织构测定,应力分析等;
他将物相的衍射花样特征(位置与强度)用d(晶面间距) 和I(衍射线相对强度)数据组表达,并制成相应的物相 衍射数据卡片。
卡片最初由“美国材料试验学会(ASTM)”出版,故称 ASTM卡片。
1969年,成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会 (JCPDS)”,由它负责编辑出版“粉末衍射卡片”,称 PDF卡片(The Powder Diffraction File )。
多相物质相分析的方法是按上述基本步骤逐个确定其组成 相。
多相物质的衍射花样是其各组成相衍射花样的简单叠加。 与单相物质相比,多相物质分析困难得多。 检索用的三强线不一定属于同一相,而且还可能发生一个
相的某线条与另一相的某线条重叠的现象。 因此,多相物质定性分析时,需要将衍射线条轮番搭配、
反复尝试,比较复杂。 分析实例,请阅读教材。
多实践!!!
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6.应注意的几个问题
(1)实验条件影响衍射花样 在查核强度数据时,要注意样品实验条件与PDF卡片实
验条件之异同。 在定性分析过程中,以d值为主要依据,而相对强度仅作
为参考依据。 在核查d值时,应考虑到低角度衍射线的分辨率较低,因
5
一、物相定性分析
1. 基本原理 不同结构的物相的X射线衍射花样特征不同,据此可以分
析和确定样品中有哪些物相。
方法:制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化, 将待分析物质的衍射花样与之对照,从而确定样品的组成 相。
6
2. PDF卡片
1938年,哈那瓦特(J. D. Hanawalt)开创各种已知物相 衍射花样的规范化工作。
相变过程与产物研究:马氏体相变,合金时效,相变过程 中产物(相)结构的变化及最终产物,工艺参数对相变的影 响,新生相与母相的取向关系等;
固溶体:固溶极限测定,点阵有序化(超点阵)参数测定、 短程有序分析等;
高分子材料:高聚物鉴定、晶态与非晶态及晶型的确定、 结晶度测定、微晶尺寸测定等。
4
Hanawalt无机物检查手册 Hanawalt有机相检查手册 无机相字母索引 Fink无机索引 矿物检索手册等。 检索手册按检索方法可分为两类,一类以物质名称为索
引(即字母索引),另一类以d值数列为索引(即数值索 引)。
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(1)数值索引
以Hanawalt无机相数字索引为例。 其编排方法为:一个相一个条目,在索引中占一横行,
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强度
三强线
最长线
结构式、矿物名称 或通用名称
化学式及英文名称
数据可靠性
晶体学数据
实验条件
光学及其它数据
样品来源、制备 方法等
氯化钠(NaCl)的PDF卡片
8
X射线的波长不同
同一干涉面的2也不相同
9
X射线的波长不同 但同一干涉面的面间距相同 d-spacing
10
3. PDF卡片索引
为方便、迅速查对PDF卡片,JCPDS编辑出版了多种 PDF卡片检索手册:
第七章 X射线衍射分析的应用
第一节 物相分析 一、物相定性分析 二、物相定量分析
第二节 点阵常数的精确测定 一、概述 二、校正误差的数据处理方法
1
20000
10.1610
18000
16000
14000
12000
12.1657
CPS
10000
8000
6000
14.8239
26.5804
4000
而测量误差比高角度线条大的情况等。 (2)在分析工作中充分利用有关待分析物的化学、物理、
力学性质及其加工等各方面的资料信息。 (3)固溶体相的鉴定:d值会发生变化。 (4)计算机自动检索:可节省时间,但最后必须人工核
查。
16
二、物相定量分析
定量分析的任务:确定样品中各组成相的相对含量。 一般都采用衍射仪法。 1. 基本原理 设样品中任意一相为j,其某(HKL)衍射线强度为Ij,体积
第一节 物相分析
物相分析(简称“相分析”):确定物质由哪些相组 成和确定各组成相的含量。
确定物质由哪些相组成称为物相定性分析(或称“定 性相分析”,或称“物相鉴定”):
确定物质中各组成相的含量称为物相定量分析(或称 “定量相分析”),常以体积分数或质量分数表示。
X射线衍射物相分析(简称“X射线物相分析”):用 X射线衍射法确定物质由哪些相组成和确定各组成相的 含量。
分数为fj,样品(混合物)线吸收系数为;定量分析的基
本依据是: Ij随fj的增加而增高,但由于样品对X射线的吸收,Ij亦不
正比于fj,而是依赖于Ij与fj及之间的关系。
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