杂散发射的测定方法

杂散发射的测定方法

简介

杂散发射是指在电子设备中产生的非意图发射信号。准确测定设备的杂散发射是保证其电磁兼容性的重要步骤之一。本文档将介绍杂散发射的测定方法。

测定设备

进行杂散发射测定时，可以采用专用的测量设备。该设备应具备以下特征：

- 高分辨率和高灵敏度，以确保能够准确测量微弱的杂散发射信号；

- 宽频率范围，以涵盖设备可能产生的不同频率的杂散发射；

- 快速响应时间，以捕捉瞬时的杂散发射信号。

测定步骤

进行杂散发射测定时，可以按照以下步骤进行操作：

1. 设置测量环境

确保测量环境符合标准要求。环境中的电磁干扰应尽量降低，以避免对测定结果的影响。

2. 连接设备

将待测设备与专用测量设备相连。确保连接正确可靠，避免信号衰减或失真。

3. 预热设备

根据设备的要求，进行适当的预热时间，以确保设备处于稳定工作状态。

4. 开始测定

触发专用测量设备开始测定。设备将记录并分析待测设备产生的所有杂散发射信号。

5. 分析结果

根据测定结果，分析设备的杂散发射情况。确定是否存在异常或超出规定范围的杂散发射。

6. 优化设备

如有必要，根据测定结果进行设备优化。通过改进设计或减少干扰源，降低杂散发射的水平。

测定结果报告

完成杂散发射测定后，应根据测定结果生成报告。报告应包括以下内容：

- 测定设备的详细信息；

- 测定环境的描述；

- 测定步骤和参数的说明；

- 杂散发射测定结果的数据和分析；

- 设备优化建议（如适用）。

结论

杂散发射的测定方法是保证电子设备电磁兼容性的重要步骤。通过准确测定设备的杂散发射，可以及时发现问题并进行优化，确保设备在工作中不会产生不必要的电磁干扰。