SPC统计过程控制系统摸式培训

日复一日的努力只为成就美好的明天 。23:44:0523:4 4:0523:44Mon day , November 16, 2020
安全放在第一位，防微杜渐。20.11.16 20.11.1 623:44:0523:4 4:05No vember 16, 2020
加强自身建设，增强个人的休养。202 0年11 月16日 下午11 时44分2 0.11.16 20.11.1 6
所谓SPC（统计过程控制）就是：为了贯彻 预防原则，应用统计技术对过程中的各个阶段 进行评估和检察，从而保证产品与服务满足要 求的均匀性。
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产品质量的好坏是由过程质量来决定的, 一个好的过程，它必须满足两个条件(1)处于 受控状态(2)过程能力指数CPK值达到要求。 所以持续的过程改善对每个公司来讲都非常 重要。
算得到。
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(2). p控制图
p—不合格品率 p控制图主要用于控制对象为不合格品率或合
格品等计数质量指标的场合。 控制对象：不合格品率，废品率，交货延迟率， 等等。
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计算公式：
P控制图 UCLP = μp+3σp = P+3 P（1-P）/n
CLp = μp = P
UCLX = μp-3σp = P - 3 P（1-P）/n
精益求精，追求卓越，因为相信而伟 大。202 0年11 月16日 星期一 下午11 时44分5 秒23:4 4:0520. 11.16
让自己更加强大，更加专业，这才能 让自己 更好。2 020年1 1月下 午11时4 4分20. 11.1623 :44Nov ember 16, 2020
这些年的努力就为了得到相应的回报 。2020 年11月1 6日星 期一11 时44分5 秒23:4 4:0516 November 2020
（a）连续9点落在中心线同一侧；
U CL A B C
X C B
LC L A
产生的原因:分布的X的μ在变小。
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（b）连续6点或更多点呈上升或下降趋势；
UCL A B C
X C B
LC L A
产生的原因:过程平均值的趋势在变化；可能是工具逐 渐磨损，ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ作员技能的逐渐提高等。
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（c）连续14点中相邻点上下交替；
1.33＞Cp≥1.0 Ⅲ 过程能力一般,表示技术管理能力较勉强,应设法提高
1.0＞Cp≥0.67 Ⅳ 过程能力不足,表示技术管理能力很差,应采取措施立即改善
0.67＞Cp
Ⅴ 过程能力严重不足,表示应采取紧急措施和全面检查,必要时可停工整顿
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7. 有偏移情况的过程能力指数:
当产品质量特性值分布的均值μ与公差中心M 不重合(即有偏移)时,显然不合格品率将增大, 也即Cp值降低,故Cp公式所计算的过程能力 指数不能反映有偏移的实际情况,需要加以修 正。
备注：若P未知，则用求平均值的方法来估计，公式 中用P来代替P值。
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5. 控制图的绘制 在X—R 图中，我们应该先做哪一个图？ （1）如果先作X图，则由于这时R图还未判稳，R
的数据不可用，故不可行。 （2）如果先做R图，则由于R图公式中只有R 一个
数据，可行。等R图判稳后，再作X图。
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6． 过程能力指数 CP ： •过程能力评价目的在于衡量产品分散宽度符合公差 的程度. •CP值越小,表示过程能力差,反之表示能力好
则: σ A= [(1-5)2+(5-5)2+(5-5)2+(5-5)2+(9-5)2]/5 =2.53 σ B = 3.58
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（一）预防与查误 有一句话在品管领域是非常实用的“第一
次就把事情做好”，当然“预防胜于治疗”也有 相同的意义。查误可在不良发生后找出问题所在， 而预防则可以防范不良之发生。后者具有更积极 的意义 （二）过程控制系统
（d）缺陷数控制图
U控制图
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2．制作和使用控制图的的一般步骤： （1） 收集预备数据 （2） 制作分析用控制图 （3） 计算过程能力指数 （4） 作控制用控制图 （5） 修正控制图
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3．控制图的判读
判断过程稳态的准则（判稳准则）： 1. 连续25个随机排列的点,界外点数d=0. 2. 连续35个随机排列的点,界外点数d≤1. 3. 连续100个随机排列的点,界外点数d ≤2.
注意：Cpk也必须在稳态下求得。
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生活中的辛苦阻挠不了我对生活的热 爱。20. 11.1620 .11.16 Monday , November 16, 2020
人生得意须尽欢，莫使金樽空对月。2 3:44:05 23:44:0 523:44 11/16/2 020 11:44:05 PM
做一枚螺丝钉，那里需要那里上。20. 11.1623 :44:052 3:44No v-2016 -Nov-2 0
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（六）控制图
控制上限 UCL 中心线 CL 控制下限 LCL
1．控制图的种类： 按使用目的分类：分析用控制图和控制用控制图
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1．控制图的种类：
按用途分类：
（1）计量值控制图：所谓计量值指控制图的数据 均属于由量具实际测量而得，如长度、重量、电阻 等。例如：
（a）均值-极差控制图
X--R控制图
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统计基础:
(2).极值—R
R=Xmax-Xmin 例如:
A组:30,50,60,70,90 B组:40,50,60,70,80
则: RA=90-30=60 XB=80-40=40
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统计基础:
(2).标准差--σ
n
Σ(Xi-X)2 = σ
i=1
n
例如: A组:1,5,5,5,9 B组:1,1,5,9,9
4.不受控不可接受：无法符合要求，又不在控制状态。 必须同时降低偶因以及消除异因。
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（五）过程改善
过程之持续改善，可分为三个阶段： 1. 分析过程
过程之现况 过程之问题 过程该如何进行 使过程在统计控制状态 决定过程能力
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2. 维护过程
监控过程绩效 追查特殊原因并改善
3. 改善过程
改变过程以进一步了解普通原因造成的变异 降低一般原因造成之变异
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3．偶因与异因的比较：
偶因 ① 始终存在与生产过程中。 ② 对产品质量的影响微小。
异因 生产中时有时无。
影响较大。
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偶因与异因的比较：
偶因
异因
③ 受到的影响是随机的 。
产品受到同一方向
的影响。
④ 难以除去，不是技术上
不难除去。
有困难，就是经济上不允许。
⑤偶因只能减小，不能
彻底消除。
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（四）过程控制及过程能力
统计过程控制（SPC）培训
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背景与概念：
为了保证预防原则的实现,20世纪20年代美国 贝尔电话实验室成立了两个研究质量的课题组, 一为过程控制组,学术领导人为休哈特(Walter A.Shewhart);另一为产品控制组,学术领导人为 道奇(Harold F.Dodge)。其后，休哈特提出了过 程控制理论以及控制过程的具体工具———控 制图（control chart),现今统称为SPC。
制程仅有普通原因（偶因）时，仍属于控制状态。
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2. 特殊原因（异因）
又称为非机遇原因，在制程中某些失误造成，失 误的来源，可能为人、机器、材料、方法、环境等， 此等变异比一般原因造成的变异大，且非周期性产 生。异因引起的异常波动（简称异波），异波对质 量的影响大，且采取措施不难消除，故在过程中异 波及造成异波的异因是我们注意的对象，一旦发生， 就应该尽快找出，采取措施加以消除，并纳入标准 化，保证它不再出现。若异波发生则表示制程已经 失去控制了。
UCL A B C
X C B A
LC L
产生的原因:类似与（d),分布的X的μ在变化。
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（f）连续15点在C区中心线上下；
UCL A B C
X C B A
LC L
产生的原因:数据虚假或数据分层不够。
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（g）连续8点在中心线两侧,但无一点在C区；
UCL A B C
X C B
LC L A
产生的原因:数据分层不够。
过程能力指数公式： CP = T/6σ=（TU-TL）/ 6σ≈ （TU-TL）/ 6σ
TU是规格上限, TL是规格下限.
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过程能力指数Cp值的评价参考
Cp值的范围 级别
过程能力的评价参考
Cp≥1.67
Ⅰ 过程能力过高(应视具体情况而定)
1.67＞Cp≥1.33 Ⅱ 过程能力充分,表示技术管理能力较强,应继续维持
T/2
TL
ε
TU
PU
Mμ
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7. 有偏移情况的过程能力指数: 定义分布中心μ与公差中心M的偏移为 ε=│M - μ │ 以及μ与M的偏移度K为 K= 2ε/T (0<K<1) 过程能力值数修正为: Cpk=(1-K)Cp=(1-K)T/6σ≈ (1-K)T/6σ 当μ=M(无偏移)时,K=0,Cpk=Cp,即还原。
（b）均值-标准差控制图 X--s控制图
（c）中位数-极差控制图 X--R控制图
（d）单值-移动极差控制图 X--Rs控制图
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（2）计数值控制图：所谓计数值指控制图之数据以单位 计数而得，如不良数、缺点数等。
例如：
（a）不合格品率控制图 P控制图
（b）不合格品数控制图 Pn控制图
（c）单位缺陷数控制图 C控制图
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1.普通原因（偶因）
又称为一般、偶然、机遇原因，在制程中的自然 或天生的变异，通常这些变异是由一些小的干扰造成， 不容易控制，即使再好的过程，我们必须承认，必定 有变异存在。偶因引起的质量的偶然波动（简称偶 波），偶波是不可避免的，但对质量的影响微小，故 可以把它看作背景噪音而听之任之，所以我们认定当