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光刻工艺步骤介绍
1
综述
一光刻工艺流程介绍
1 涂胶工艺介绍 2 曝光工艺介绍 3 显影工艺介绍 4 显检图形介绍 5 条宽&套刻测量
二在线流片相关知识介绍
2
光刻工艺流程
涂胶 显检
曝光
显影
条宽测量
套刻测量 送刻蚀
送注入
3
光刻工艺步骤实例-N-WELL层次涂胶
•N-Well PR Coating
PR Si3N4
对位
由于要进行多次光刻,对位就是下一次光刻时光刻版上的标记和上一次光刻图形中 标记进行套准对位,以达到每层光刻图形均与上层图形套准的目的。对位的好坏直 接影响着套准精度。 影响光刻套准精度因素:
1光刻机自身的定位精度包括光学、机械、电子等系统的设计精度和热效应; 2 硅片的加工精度和硅片在热加工氧化、扩散、注入、烘片等过程中的形变; 3 振动(设备和周围环境的振动)和波动(环境温度等); 4 整套光刻版中版与版之间的套准精度。
去 边 ( EBR ) 喷管
圆片
吸盘
A 图 正面去边,胶的边缘比较规则。
胶层
胶层 圆片
吸盘 B图背面去边,胶的边缘呈锯齿状。 去边(EBR)喷
管
加速旋转
圆片 吸盘
胶 层 圆 片 吸盘
11
涂胶后烘
目的: 提高光刻胶与衬底(圆片)的粘附力及胶膜的抗机 械磨擦能力。
作用: 充分的前烘可以改善胶膜的粘附性与抗刻蚀性。
17
显影工艺介绍
基本原理: 显影就是用显影液去除已曝光部分的光刻胶,在 硅片上形成所需图形的过程。曝光部分的光刻胶与显影液作 用并溶解于水,未曝光部分不与显影液作用并保持原状。显 影液为碱性溶液,与光刻胶是一一对应的。
显影工艺过程
圆片从片架中取出(机械手臂)
PEB(曝光后烘)
圆片在显影腔放稳后
旋转(低速)
光源(平行入射)
光刻版
圆片
14
曝光工艺介绍
曝光工艺流程
圆片从片架中取出
预对位(找平边)
圆片由机械手臂传输到载 片台(Stage)上
自动对位
圆片曝光
机械手臂传输到片架中曝光工艺完成
15
曝光工艺介绍
曝光方式: 目前西岳光刻间光刻机只有一种曝光方式,步进重复式投影曝光光刻机, 即BLOCK通过快门的开关逐步进行曝光,显影后圆片图形是光刻版图 形的1/5。
2.目的: 由于圆片表面是亲水的,而光刻胶具有疏水性如果
不进行增粘处理直接涂胶并后烘,就会有水存在于 圆片和胶分界处,导致光刻胶在圆片表面的粘附性 变差。增粘处理可以增加圆片表面对光刻胶的粘附 性,对保持光刻图形完整性,稳定性以及光刻胶对 刻蚀和注入工艺的屏蔽都有很重要的作用。 3.过程 高温气化后的HMDS与圆片同处一腔经过一段时间作 用完成。
曝光光源: 光刻胶主要对紫外光光源感光,常用的紫外光光源是高压汞灯。其中对 光刻胶感光起主要作用是波长为435.8nm(g线)、 365nm(i线)、 248nm(DUV远紫外线)等光谱线。我们所用的NIKON光刻机分为G 线和I线,就是由此而来,它们都是一种波长的单色光;高精度光刻图 形与曝光光源有着直接的关系。
13
曝光工艺介绍
基本原理:光刻工艺中最关键的工序它直接关系到光刻分辨率、留膜率、条宽控 制等。将涂好光刻胶的圆片通过光刻机的对位系统和光刻版套准后,用紫外光进行照 射,照射过的光刻胶发生光化学反应,性质发生了变化,显影时就会和显影液发生化 学反应并去除;而被光刻版挡住的部分,未发生任何变化,显影时不和显影液发生反 应被保留在圆片上,这样光刻版的图形就转移到圆片表面,通过刻蚀工序就能将图形留 在圆片上。
N-Si
Si(P)
SiO2
4
光刻工艺步骤实例-N-WELL层曝光
•N-Well Exposure
PR Si3N4
N-Si
Si(P)
SiO2
5
光刻工艺步骤实例-N-WELL层次显影
•N-Well Developing
PR Si3N4
N-Si
Si(P)
SiO2
6
光刻工艺步骤实例-N-WELL的形成
曝光量 曝光的目的是用尽可能短的时间使光刻胶充分感光,并在显影后获得尽 可能高的留膜率、近似于垂直的光刻胶侧壁和可控的条宽。曝光量是指 使光刻胶充分感光的能量,通常用E来表示。实际中,显影后是无法获 得完全垂直的光刻胶侧壁的 。一般来说,侧壁形状呈一个梯形。
16
Βιβλιοθήκη Baidu 预对位&对位:
预对位
待曝光的圆片均匀旋转时,首先通过NIKON机传感器找平边,其次使圆片在光刻机 有固定且唯一的位置,便于对位曝光。
9
涂胶
化学品 光刻胶 由具有感光性高分子聚合物、增粘剂、溶剂以及
其它添加剂组成。 稀释剂(EBR-10A) 喷胶方式
动态 喷胶时圆片旋转,胶膜均匀性较好但粘附性稍差。 静态 喷胶时圆片静止,胶膜粘附性较好但均匀性稍差。
10
涂胶
涂胶前旋转
圆 片
旋转涂胶
吸 盘
滴胶
圆 片
加速旋转匀胶
吸盘
旋转去边 胶层
•N-Well Etching
PR Si3N4
N-Si Si(P)
SiO2
7
涂胶工艺介绍
涂胶工艺流程
圆片从片架中取出(机械手臂)
涂胶后烘 Soft-bake
增粘处理(HMDS) 涂胶动作 圆片送回片架涂胶工艺完成
具体过程: 1)增粘处理 2)涂胶 3)涂胶后烘
8
增粘处理(化学气相涂布)
1 化学品: HMDS液(六甲基二硅亚胺)
圆片低速渐静止或静止
喷显影液
圆片轻转(依靠圆片表面张力显影液在圆片表面停留一段时间)
较高速旋转(甩去圆片表面的显影液)
喷水旋转
加速旋转(甩干)
停止旋转并取片
显影后烘(坚膜)
圆片送回片架显影工艺完成
18
显影方式
显影方式 静态浸渍显影 圆片静止显影液喷在圆片表面,依靠圆片表面张
力使显影液停留在圆片上,圆片轻轻的转动,让显影液在圆片表 面充分浸润,一段时间后,高速旋转将显影液甩掉。如:SVG、 DNS、TEL设备。 旋转喷雾显影 圆片旋转由高压氮气将流经喷嘴的显影液打成微小 的液珠喷射在圆片表面,数秒钟显影液就能均匀地覆盖在整个圆 片表面。如:以前5寸SVG设备。 影响显影质量因素 显影时间 影响条宽控制精度 显影液的温度 影响显影的速率
方式: 烘箱对流加热 红外线辐射加热 热板传导加热
12
影响胶膜因素:
一 涂胶腔排风量的大小直接影响着胶膜的均匀性; 二 硅片吸盘的水平度、同心度以及真空度都会影响胶
膜的均匀性; 三 胶盘的形状应能有效的防止光刻胶在高速旋转时出
现的“回溅”; 四 涂胶的工作环境,如湿度、温度、洁净度等均会影
响胶膜的质量。
1
综述
一光刻工艺流程介绍
1 涂胶工艺介绍 2 曝光工艺介绍 3 显影工艺介绍 4 显检图形介绍 5 条宽&套刻测量
二在线流片相关知识介绍
2
光刻工艺流程
涂胶 显检
曝光
显影
条宽测量
套刻测量 送刻蚀
送注入
3
光刻工艺步骤实例-N-WELL层次涂胶
•N-Well PR Coating
PR Si3N4
对位
由于要进行多次光刻,对位就是下一次光刻时光刻版上的标记和上一次光刻图形中 标记进行套准对位,以达到每层光刻图形均与上层图形套准的目的。对位的好坏直 接影响着套准精度。 影响光刻套准精度因素:
1光刻机自身的定位精度包括光学、机械、电子等系统的设计精度和热效应; 2 硅片的加工精度和硅片在热加工氧化、扩散、注入、烘片等过程中的形变; 3 振动(设备和周围环境的振动)和波动(环境温度等); 4 整套光刻版中版与版之间的套准精度。
去 边 ( EBR ) 喷管
圆片
吸盘
A 图 正面去边,胶的边缘比较规则。
胶层
胶层 圆片
吸盘 B图背面去边,胶的边缘呈锯齿状。 去边(EBR)喷
管
加速旋转
圆片 吸盘
胶 层 圆 片 吸盘
11
涂胶后烘
目的: 提高光刻胶与衬底(圆片)的粘附力及胶膜的抗机 械磨擦能力。
作用: 充分的前烘可以改善胶膜的粘附性与抗刻蚀性。
17
显影工艺介绍
基本原理: 显影就是用显影液去除已曝光部分的光刻胶,在 硅片上形成所需图形的过程。曝光部分的光刻胶与显影液作 用并溶解于水,未曝光部分不与显影液作用并保持原状。显 影液为碱性溶液,与光刻胶是一一对应的。
显影工艺过程
圆片从片架中取出(机械手臂)
PEB(曝光后烘)
圆片在显影腔放稳后
旋转(低速)
光源(平行入射)
光刻版
圆片
14
曝光工艺介绍
曝光工艺流程
圆片从片架中取出
预对位(找平边)
圆片由机械手臂传输到载 片台(Stage)上
自动对位
圆片曝光
机械手臂传输到片架中曝光工艺完成
15
曝光工艺介绍
曝光方式: 目前西岳光刻间光刻机只有一种曝光方式,步进重复式投影曝光光刻机, 即BLOCK通过快门的开关逐步进行曝光,显影后圆片图形是光刻版图 形的1/5。
2.目的: 由于圆片表面是亲水的,而光刻胶具有疏水性如果
不进行增粘处理直接涂胶并后烘,就会有水存在于 圆片和胶分界处,导致光刻胶在圆片表面的粘附性 变差。增粘处理可以增加圆片表面对光刻胶的粘附 性,对保持光刻图形完整性,稳定性以及光刻胶对 刻蚀和注入工艺的屏蔽都有很重要的作用。 3.过程 高温气化后的HMDS与圆片同处一腔经过一段时间作 用完成。
曝光光源: 光刻胶主要对紫外光光源感光,常用的紫外光光源是高压汞灯。其中对 光刻胶感光起主要作用是波长为435.8nm(g线)、 365nm(i线)、 248nm(DUV远紫外线)等光谱线。我们所用的NIKON光刻机分为G 线和I线,就是由此而来,它们都是一种波长的单色光;高精度光刻图 形与曝光光源有着直接的关系。
13
曝光工艺介绍
基本原理:光刻工艺中最关键的工序它直接关系到光刻分辨率、留膜率、条宽控 制等。将涂好光刻胶的圆片通过光刻机的对位系统和光刻版套准后,用紫外光进行照 射,照射过的光刻胶发生光化学反应,性质发生了变化,显影时就会和显影液发生化 学反应并去除;而被光刻版挡住的部分,未发生任何变化,显影时不和显影液发生反 应被保留在圆片上,这样光刻版的图形就转移到圆片表面,通过刻蚀工序就能将图形留 在圆片上。
N-Si
Si(P)
SiO2
4
光刻工艺步骤实例-N-WELL层曝光
•N-Well Exposure
PR Si3N4
N-Si
Si(P)
SiO2
5
光刻工艺步骤实例-N-WELL层次显影
•N-Well Developing
PR Si3N4
N-Si
Si(P)
SiO2
6
光刻工艺步骤实例-N-WELL的形成
曝光量 曝光的目的是用尽可能短的时间使光刻胶充分感光,并在显影后获得尽 可能高的留膜率、近似于垂直的光刻胶侧壁和可控的条宽。曝光量是指 使光刻胶充分感光的能量,通常用E来表示。实际中,显影后是无法获 得完全垂直的光刻胶侧壁的 。一般来说,侧壁形状呈一个梯形。
16
Βιβλιοθήκη Baidu 预对位&对位:
预对位
待曝光的圆片均匀旋转时,首先通过NIKON机传感器找平边,其次使圆片在光刻机 有固定且唯一的位置,便于对位曝光。
9
涂胶
化学品 光刻胶 由具有感光性高分子聚合物、增粘剂、溶剂以及
其它添加剂组成。 稀释剂(EBR-10A) 喷胶方式
动态 喷胶时圆片旋转,胶膜均匀性较好但粘附性稍差。 静态 喷胶时圆片静止,胶膜粘附性较好但均匀性稍差。
10
涂胶
涂胶前旋转
圆 片
旋转涂胶
吸 盘
滴胶
圆 片
加速旋转匀胶
吸盘
旋转去边 胶层
•N-Well Etching
PR Si3N4
N-Si Si(P)
SiO2
7
涂胶工艺介绍
涂胶工艺流程
圆片从片架中取出(机械手臂)
涂胶后烘 Soft-bake
增粘处理(HMDS) 涂胶动作 圆片送回片架涂胶工艺完成
具体过程: 1)增粘处理 2)涂胶 3)涂胶后烘
8
增粘处理(化学气相涂布)
1 化学品: HMDS液(六甲基二硅亚胺)
圆片低速渐静止或静止
喷显影液
圆片轻转(依靠圆片表面张力显影液在圆片表面停留一段时间)
较高速旋转(甩去圆片表面的显影液)
喷水旋转
加速旋转(甩干)
停止旋转并取片
显影后烘(坚膜)
圆片送回片架显影工艺完成
18
显影方式
显影方式 静态浸渍显影 圆片静止显影液喷在圆片表面,依靠圆片表面张
力使显影液停留在圆片上,圆片轻轻的转动,让显影液在圆片表 面充分浸润,一段时间后,高速旋转将显影液甩掉。如:SVG、 DNS、TEL设备。 旋转喷雾显影 圆片旋转由高压氮气将流经喷嘴的显影液打成微小 的液珠喷射在圆片表面,数秒钟显影液就能均匀地覆盖在整个圆 片表面。如:以前5寸SVG设备。 影响显影质量因素 显影时间 影响条宽控制精度 显影液的温度 影响显影的速率
方式: 烘箱对流加热 红外线辐射加热 热板传导加热
12
影响胶膜因素:
一 涂胶腔排风量的大小直接影响着胶膜的均匀性; 二 硅片吸盘的水平度、同心度以及真空度都会影响胶
膜的均匀性; 三 胶盘的形状应能有效的防止光刻胶在高速旋转时出
现的“回溅”; 四 涂胶的工作环境,如湿度、温度、洁净度等均会影
响胶膜的质量。