第3章射线照相的影像质量
射线照相的影像质量
射线照相的影像质量无损检测资源网整理3.1 影像形成的简单分析射线检测中的影像质量主要包括照相法时底片反映的影像质量和实时成像时在屏幕上反映的影像质量,这里主要从照相法的方面叙述,实时成像的影像质量考虑因素和评价方法在实时成像检测中有其自己的特点,但是有许多基本考虑因素是相通的。
正确评定底片时应具备的三个最基本的概念:1 影像重叠的概念-有可能使得物体中不同位置(特别是相同射线路径上不同深度)的缺陷在射线照相影像上表现成一个缺陷影像,从而给影像判断带来困难例如一个气孔影像落在一个夹渣影像中-一个黑的小圆点落在一片暗黑色的影像中2 影像放大的概念-影像放大的程度与射源至被透照物体的距离、影像表示的物体与胶片(检测器)的距离相关,焦点尺寸大于缺陷尺寸的情况下影像可能不产生放大,利用微焦点射源做近距离拍摄可得到放大影像特别在较厚工件上同一缺陷靠近射源侧和靠近胶片侧得到的影像尺寸大小不同,前者被放大3 影像畸变的概念-原因是体积形缺陷具有一定的空间分布,形状通常是不规则的,表现为透照时存在多个投影截面,不同投影截面部分在胶片上形成影像时产生的放大不同(二维成像)例如裂纹延伸方向与射线方向相同时表现为一条细线,有倾斜角度时表现为有一定的宽度,容易误判为夹渣3.2 影像质量衡量射线照相检测的影像质量的基本因素:对比度、颗粒度、不清晰度对比度△D(影像与背景的黑度差,决定了在射线透照方向上可识别的细节尺寸)颗粒度σD(影像黑度不均匀性的程度,决定了影像可显示的细节最小尺寸)不清晰度U(影像边界扩展的宽度,决定了垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸)射线照片上影像的质量由对比度、不清晰度、颗粒度决定什么是影响射线照相影象质量的三要素?答:影响射线照相影像质量的三个要素是:对比度、清晰度、颗粒度。
射线照相对比度定义为底片影像中相邻区域的黑度差。
射线照相清晰度定义为底片影像中不同黑度区域间分界线的宽度。
用来定量描述清晰度的量是“不清晰度”。
医学成像原理第三章--模拟X线成像
单纯型:CaWO4
荧
母体:基本成分,荧光体具有
光
某种特性的基础。
体
赋活型: 赋活剂:增强荧光体活性的物
如稀土类 质,如Tb、Eu等。
溶剂:促进母体结晶化,并增
加发光效率
(二)荧光物质
❖ 1896年,美国发明家托马斯·爱迪生发现了一种吸 收X线后能发射出荧光的物质。
❖ 1897年,一种以荧光物质为主要材料的钨酸钙 (CaWO4)增感屏开始在临床使用。
❖ 今天,增感屏得到不断改进,已成为模拟X线摄 影不可缺少的组成部分。
1、荧光物质及发光机制
荧光现象:物理学定义,某种物质吸收了射线形式(紫 外线、 X线、电子线)的激发能量,并将吸收的能量以 可见光的形式(荧光)释放出来。
荧光物质:上述能发光的物质。 发光机制:荧光体在X线的激发下,通过能量转换的方
线占原X线的百分数。
吸收效率越高, X线有效利用率越高,其与荧光物质的 原子序数和X线的能量有关。
原子序数:其越高,入射X线光子与荧光物质相互作用 的几率增加,ηa也越高。稀土增感屏中含钡、镧、钇等 高原子序数的稀土元素,其吸收可达50~60%,高于 CaWO4增感屏(20~40% )。
K层结合能:当X线的光子能量处于荧光体材料的K层吸 收峰之上时, ηa 。
经自动洗片机的显影、定影、水洗、干燥 等化学加工过程,胶片上保存的潜影还原 为金属银;
银颗粒在照片堆积的数量决定影像的密度 不同,形成X线影像。
(二)结构:分双面和单面
是一层坚硬的保护 性明胶,防静电
利于乳剂层牢固 地粘附在片基上
多使用透明聚酯材料,作 为胶片的物理支架
由AgX、明胶、少量的有机 和无机物组成
射线三级强老师第三章问答题 (2)
射线检测第三章思考题问题1:射线照相灵敏度定义?问题2:射线照相灵敏度与超声波检测灵敏度有什么差异?两者属不同的概念——射线照相灵敏度对应于提高图像信噪比,灵敏度越高越有利于缺陷识别和检出;超声波检测灵敏度是指回波信号的放大倍数,与信噪比无关,灵敏度高并不意味缺陷检出率高。
问题3:什么是绝对灵敏度?问题4:什么是相对灵敏度?问题5:JB/T4730.2采用的是绝对灵敏度还是相对灵敏度?问题6:什么是像质计灵敏度?问题7:像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度的关系如何?问题8:为什么射线照相灵敏度≠缺陷检出率?问题9:为什么“即使底片上像质计灵敏度很高,黑度、不清晰度符合要求,也会出现裂纹难于检出甚至完全不能检出的情况?”问题10:除了裂纹以外,还有哪些缺陷的检出灵敏度与像质计灵敏度不符?问题11:射线照相对比度、不清晰度、颗粒度是如何定义的?问题12:射线照相灵敏度影响因素是如何归纳的?问题13:底片对比度增大有哪些有利和不利影响?问题14:如果缺陷中不是充满空气,公式是什么样?ΔI / I =(μ-μ’)ΔT/ ( 1 + n )问题15:②③条假设有何区别?②是指IS不变,③是指n不变,因为n=Is/Ip,所以公式中Ip 要用没有缺陷存在的透射线值。
问题16:怎样理解“在大多数情况下,以上假设引起的误差极小,因此公式是可以成立的。
只有缺陷尺寸较小时,讨论对比度才有意义。
问题17:公式由哪些参数构成?问题18:公式的意义和用途是什么?问题19:主因对比度和胶片对比度的关系?问题20:放大系数为3-8是从哪儿得来的?见第二章表2-13 胶片的分类;几种胶片的梯度。
问题21:ΔT与缺陷尺寸和透照方向关系?问题22:其他影响透照厚度差ΔT的因素?问题23:衰减系数μ与射线能量关系?问题24:材质的哪些特性影响衰减系数μ问题25:散射比有哪些影响因素?问题26:使用高梯度胶片有哪些有利和不利影响?问题27:提高黑度有哪些有利和不利影响?问题28:改变显影条件变化有哪些有利和不利影响?问题28:怎样理解“本影消失,对比度显著下降现象”?问题29:射线照相不清晰度U是如何定义的?问题30:什么叫黑度过渡区的趾部和肩部?问题31:黑度过渡区的趾部和肩部是如何产生的?问题32:几何不清晰度是如何定义的?问题33:固有不清晰度是如何定义的?问题34:U、Ug和Ui的关系?问题35:公式(3-3)和(3-4)有什么不同?问题36:JB/T4730怎样规定L1与Ug值的?问题37:通过哪些方法可以减小Ug值?问题38:在减小Ug值的同时会带来哪些不利影响?问题39:焊缝上不同位置的Ug值受哪两大因素影响?焦点投影,工件形状。
第三章 射线照相质量的影响因素
第三章 射线照相质量的影响因素一、 射线照相灵敏度概念1.射线照相灵敏度所谓射线照相灵敏度,从定量方面来说,是指在射线底片上可以观察到的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸,从定性方面来说,是指发现和识别细小影像的难易程度。
灵敏度有绝对与相对之分,在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸称为绝对灵敏度。
此最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比称为相对灵敏度。
为便于定量评价射线照相灵敏度,常用与被检工件或焊缝的厚度有一定百分比关系的人工结构,如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计,又称为像质计,作为底片影像质量的监测工具,由此得到灵敏度称为像质计灵敏度。
需要注意的是,底片上显示的像质计最小金属丝直径、或孔径、或槽深,并不等于工件中所能发现的最小缺陷尺寸,即像质计灵敏度并不等于自然缺陷灵敏度。
2.影响射线照相灵敏度的因素射线照相灵敏度是射线照相对比度(缺陷影像与其周围背景的黑度差)、不清晰度(影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度)和颗粒度(影像黑度的不均匀程度)三大要素的综合结果,而此三大要素又分别受到不同工艺因素的影响。
二、 射线照相对比度1.概念射线照相对比度:射线底片上缺陷影像与其周围背景的黑度差。
可分为主因对比度和胶片对比度。
主因对比度:由于工件厚度差引起的射线片上的黑度差。
胶片对比度:底片上某一小区域和相邻区域的黑度差。
2.影响射线照相对比度因素射线照相对比度ΔDΔD=0.434μGΔT/(1+n)主因对比度ΔI/I=μΔT/(1+n)胶片对比度G= ΔD/ΔlgE取决于:a)缺陷造成的透照厚度ΔT(缺陷高度、透照方向) b)射线的质μ(或λ、KV,MeV)c)散射比n(=Is/Ip)取决于:a) 胶片类型(或梯度G)b) 显影条件(配方、时间、活度、温度、搅动)c)底片黑度D三、 射线照相清晰度1. 概念不清晰度:影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度。
射线照相不清晰度包括几何不清晰度Ug 和固有不清晰度Ui 。
2024年射线探伤工理论知识考试题库及答案(核心题)
2024年射线探伤工理论知识考试题库及答案(核心题)一、单选题1.康普顿效应指的是入射光子与原子中的()相互作用后,除波长不变的光子外,还出现了波长变长的光子的现象A、原子核B、核外库仑场C、壳层电子D、中子参考答案:C2.习惯上把能量在0.1MeV以上的中子叫做()A、快中子B、慢中子C、中能中子D、共振中子E、热中子F、冷中子参考答案:A3.影像放大率与几何不清晰度()A、实际上是一回事B、没有直接关系C、可以共同构成总的不清晰度D、前者指影像放大系数,后者指影像的半影参考答案:D4.对于标志为“6FE12”的我国线型像质计,下面列出的叙述中,存在错误的是()A、线型像质计由6-12号丝组成B、线型像质计有7根金属丝C、丝径值等比数列的公比近似为1.25D、最细金属丝编号为6参考答案:D5.射线和物质作用,使物质发出电子,而射线能量衰减、方向改变,这种现象称为()A、光电效应B、康普顿效应C、电子对生成效应D、都不是参考答案:B6.当射线通过厚度为X的物质后,射线强度的衰减规律是:()(式中:μ-线吸收系数[衰减系数];e-自然对数的底;I0-射线原有的强度;I-射线通过物质后的强度)A、I=I0eμxB、I=I0e-μxC、I0=Ie-μxD、I=I0e-2μx参考答案:B7.选择小焦点的X射线管目的是为了获得()A、对比度高的影像B、黑度大的影像C、清晰度高的影像D、以上都不对参考答案:C8.放射线同位素的能量()A、随时间增加而增加B、随时间增加而减弱C、不受时间的影响D、以上都不对参考答案:C9.相同厚度的同一材料分别承受不同波长的射线照射,哪种情况下对射线的吸收较少?()A、承受波长短的射线照射B、承受波长长的射线照射C、两种情况下都一样D、以上都不对参考答案:A10.连续X射线束是()A、异种X射线束B、特征X射线束C、单一波长的X射线束D、含有多种波长的X射线束参考答案:D11.下列关于X射线机使用过程中老化训练目的表述中,正确的是()A、提高输出电压稳定性B、提高射线管真空度C、提高穿透能力D、提高检测灵敏度参考答案:B12.X射线或伽玛射线,其能使标准状况下的1Cm3空气产生1个静电单位的能量称为():A、1CiB、1RC、1RADD、1Rem参考答案:B13.下面列出的射线照相影像质量基本因素中,错误的是()A、影像黑度B、影像对比度C、影像颗粒度D、影像不清晰度参考答案:D14.瓦特是什么量的单位?()A、磁场强度B、电感C、电功D、电功率参考答案:D15.X射线属于()A、直接电离辐射B、非电离辐射C、间接电离辐射D、以上都不对参考答案:C16.光量子与质子、中子、电子的一个重要不同是()A、质量更小B、不带电荷C、速度更快D、以上都不是参考答案:D17.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,亦即是该元素原子()A、核中的质子数B、核中的中子数C、核外的电子数D、A和C都对参考答案:D18.X射线和γ射线跟物质相互作用的机理主要是和()相互作用A、核外电子B、原子核C、中子D、质子参考答案:A19.铁、钴、镍的原子序数分别为26、27、28,当钴60释放出伽玛射线和其他射线而蜕变时,最可能产生的核种是()A、铁B、钴C、镍D、铱参考答案:C20.单色X射线束是()A、异种X射线束B、特征X射线束C、单一波长的X射线束D、含有多种波长的X射线束参考答案:C21.将X射线管靶极金属由钼靶改为钨靶,而管电压和管电流都一定时,所发生标识X射线的能量与波长是否相同?()A、能量与波长都相同B、能量不同,波长相同C、能量与波长都不同D、能量相同,波长不同参考答案:C22.为了提高曝光的经济效果,用快速胶片代替慢速胶片,但这样会带来什么后果?()A、对胶片必须经过严格处理B、必须提高底片的清晰度C、降低了图像分辨能力D、需配制特殊的显影剂参考答案:C23.钴60或铱192用于无损检测是利用其所发出的()A、阿尔法(α)粒子B、中子C、伽马射线D、X射线参考答案:C24.射线照相法和荧光屏观察法的图像之间的基本区别是什么?()A、荧光屏显像更灵敏B、荧光屏显像较暗C、两者之间无差别D、荧光屏显像是正的透明图像,而射线照相是负的透明图像参考答案:D25.将X射线管靶极金属由钼靶改为钨靶,而管电压和管电流都一定时,所发生连续X射线的线质有何变化?()A、变硬B、变软C、不变D、随环境而变硬参考答案:C26.当射线波长一定时,如果被穿透物质的原子序数和密度越大,则衰减系数μ也越大,试指出下列哪种物质的μ最大?()A、铸铁B、铸铝C、铸铜D、铸镁参考答案:C27.当射线波长一定时,如果被穿透物质的原子序数和密度越大,则衰减系数μ也越大,试指出下列哪种物质的μ最大?()A、中碳钢B、硬铝C、镍基高温合金D、钛合金参考答案:C28.胶片的增感因子在40-400KV之间时的变化情况是()A、相同的B、不规则的C、随着管电压增大而增大D、随着管电压降低而减小参考答案:B29.在胶片特性曲线上,使底片获得例如D=1.5的一定密度所需曝光量的倒数称为该胶片的()A、感光度B、胶片速度C、A和BD、以上都不对参考答案:C30.下述哪种粒子或射线在空气中的电离效应最高?()A、α粒子B、β粒子C、中子D、γ射线及X射线参考答案:A31.一个已知伽玛射源的射线通过物质后其被吸收的量视什么而定?()A、该物质的杨氏弹性模量B、该物质的原子量、密度及厚度C、该物质的机械性质D、射源的比活性参考答案:B32.以X光机(有效焦点尺寸3mm)检测厚度10mm的钢板,若要求几何不清晰度Ug为0.5,则射源至底片的距离至少应为多少?()A、60mmB、50mmC、70mmD、80mm参考答案:C33.α、β、γ三种射线的穿透力大小次序为()A、α>β>γB、β>α>γC、β>γ>αD、γ>β>α参考答案:D34.在X射线管中,电子的动能在靶上的能量转换形式为()A、大部分转换成热能,少部分转换成X射线能B、大部分转换成X射线能,少部分转换成热能C、全部转换成热能D、全部换成X射线能参考答案:A35.下列哪种原因会导致几何不清晰度减小?()A、射源尺寸减小B、试件厚度减小C、射源至物件距离增加D、以上都是参考答案:D36.影响X射线管寿命的最主要因素是下面哪种情况?()A、环境温度B、环境湿度C、使用时间D、工作负荷参考答案:D37.各种物质对中子的衰减(吸收),以下哪种材料为最大?()A、铅B、钢C、铝参考答案:D38.下列同位素中以哪一种同位素的半衰期最长?()A、170TmB、137CsC、192IrD、60Co参考答案:B39.入射X射线由于与物质的相互作用,使它将被(),从而导致透射射线强度发生衰减A、电离与激发B、反射与折射C、散射与吸收D、以上都是参考答案:C40.光电效应发生的或然率随光子的能量()A、增加而减少B、增加而增加C、不一定D、与光子能量无关参考答案:C41.在射线照相检验时,下面因素对所得到的影像颗粒度没有影响的A、胶片性质B、射线能量C、焦点尺寸D、显影条件参考答案:C42.铅箔增感屏能使底片产生增感效应是由于()A、辐射短波被增感屏所吸收B、可消除掉背面地板所产生的散射C、降低在底片上的辐射照相效应D、由射源侧的增感屏上射出电子参考答案:D43.工业射线照相检验过程中,下面关于胶片选用的叙述中,存在错误的是()A、不允许使用增感型胶片B、按照标准技术级别规定选用C、优先选用粗颗粒胶片D、检验裂纹时必须用性能好的胶片参考答案:C44.γ射线的穿透力主要取决于()A、射源尺寸B、射源种类C、曝光时间D、源活度参考答案:B45.γ射线通过被检查物质时,其强度的衰减与被检查物质的()有关A、导电性B、导磁性C、导热性D、原子序数参考答案:D46.采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A、直接用X射线胶片曝光B、利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C、利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D、利用荧光增感屏加X射线胶片曝光参考答案:B47.X射线管的管电压值影响射线的哪一参数?()A、X射线的穿透力B、X射线束的强度C、X射线束的穿透力和强度D、X射线束的硬度参考答案:C48.射线的频率增高,则其()A、波长增高,能量增高B、波长减小,能量减小C、波长减小,能量增高D、波长增高,能量减小参考答案:C49.当管电流一定,降低X射线管的管电压时,连续X射线的线质、波长、穿透能力有何变化?()A、线质不变,波长不变,穿透能力不变B、线质变硬,波长变短,穿透能力增加C、线质变软,波长变长,穿透能力降低D、线质逐渐变软,波长变长,穿透能力增加参考答案:C50.针对单色射线概念的下列表述中,正确的是()A、能量高的射线B、能量低的射线C、由单一波长组成的射线D、由连续谱组成的射线参考答案:C51.对某一γ射线源来说,通过物质时射线被吸收的程度取决于()A、物质的杨氏模量B、物质的泊松比C、物质的原子序数、密度和厚度D、放射源的放射性比度参考答案:C52.通常所谓20kVX射线是指()A、能量为0.2MeV的单能射线B、能量高于0.2MeV的所有射线成分C、最大能量为0.2MeV的“白色”X射线束D、平均能量为0.2MeV的X射线参考答案:C53.X射线管焦点的大小直接影响下面哪个参数?()A、穿透深度B、影像清晰度C、管子的功率比D、散热效果参考答案:B54.产生高速电子打在X射线管内哪个部件上产生X射线?()A、聚焦罩B、阳极靶C、灯丝D、阴极参考答案:B55.关于X射线机主要技术性能指标,下面所列项目中,错误的是()A、辐射强度B、曝光量C、焦点尺寸D、辐射角参考答案:B56.不带电荷的粒子是()A、α粒子B、β粒子C、中子D、质子参考答案:C57.β粒子带()A、正电B、负电C、不带电D、可能带正电,也可能带负电参考答案:B58.下述哪个句子的叙述是正确的?()A、若仅从清晰度高的需要出发,应使焦距尽可能长B、只要不超出几何不清晰度的允许值,应使焦距尽可能长C、若仅从清晰度高的需要出发,应使焦距尽可能短D、为了保证X射线能穿透工件,焦距应尽可能短参考答案:A59.最容易发生康普顿效应的射线能量为()A、10KeV-500KeVB、100KeV-10MeVC、1.02Mev以上D、10KeV以上参考答案:B60.最容易发生光电效应的射线能量为()A、10keV-500keVB、100keV-10MevC、1.02MeV以上D、10keV以下参考答案:A61.人工放射性同位素钴60在核衰变过程中辐射出β和γ射线射线后变成()A、钴59B、镍60C、铁D、铱参考答案:B62.某物质对某线质的X射线的半值层为1.8mm,如其线质在透过物质时不变,则其(1/20)值层应为()A、7.8mmB、6.8mmC、5.8mmD、4.8mm参考答案:A63.α射线属于()A、直接电离辐射B、非电离辐射C、间接电离辐射D、以上都不对参考答案:A64.射线照相的原理主要是利用了X射线与γ射线的()A、穿透力强B、能使底片感光C、成直线行进不会折射D、以上都是参考答案:D65.应用几何原理的原则是()A、选取尺寸尽量大的射线源B、射线源到被透照工件的距离尽可能小C、胶片离被透照工件尽可能远D、中心射线尽可能垂直于胶片平面参考答案:D66.伽玛射源的r.H.m/Ci是指()A、距离1英尺,每居里每小时的伦琴数B、距离1公尺,每居里每小时的伦琴数C、距离1公尺,每伦琴每小时的居里数D、距离1英尺,每伦琴每小时的居里数参考答案:B67.物质对辐射的吸收是随什么而变?()A、直接与距离射源的距离平方成正比B、直接与物质的厚度成正比C、与物质中产生的散射量成反比D、与物质厚度成指数比参考答案:D68.已知2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收,如果原来使用6毫米厚的铅板作防护,现改用钢板的话,应用多厚的钢板可以代替原来的铅板?A、90mmB、72mmC、60mmD、100mm参考答案:B69.连续X射线穿透厚工件时,有何特征?()A、第二半价层小于第一半价层B、第二半价层等于第一半价层;C、第二半价层大于第一半价层D、实际半价层小于计算值参考答案:C70.强度一定的两种同位素源,若其放射性比活度值不同,则对于放射性比活度值较高的源来说,下面哪种叙述是正确的?()A、其半衰期比放射性比活度低的源短B、其外形尺寸比放射性活度低的源小C、其外形尺寸比放射性活度低的源大D、其能量比放射性活度低的源大参考答案:B71.改善透照底片的几何不清晰度可采用()A、小焦点、大焦距透照B、小焦点、小焦距透照C、选细微粒胶片D、铅箔增感参考答案:A72.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是()A、单位时间的射线强度B、与强度成反比,而与时间成正比的量C、射线辐照强度与时间的乘积D、随时间按指数变化的与强度成反比的量参考答案:C73.由于荧光物质具有直接吸收X射线而发出可见光的特点,从而达到增感的目的,这称之为(C)A、互易效应B、屈光效应C、叠加效应D、光电效应参考答案:C74.当射线通过()时能够产生自由电子,能够引起固有的不清晰度A、空气B、工件C、胶片D、暗盒参考答案:C75.对于β射线,其剂量当量D中的线质系数Q值为()A、0.5B、1C、10D、100参考答案:B76.某像质计灵敏度级别为4-1T,下列像质计中采用该表示方式的是()A、线型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、槽型像质计参考答案:C77.关于X射线与物质相互作用发生衰减的原因,下列表述中,正确的是()。
第3章 射线照相的影像质量
第3章 射线照相的影像质量3.1 影像形成的简单分析图3—1画出了射线照相影像形成的过程。
从图3—1可以看到,在射线透照下,物体内部的情况将投影在胶片平面,形成射线照相影像的图像。
这幅图像的形成,以从射线直线传播的性质讨论。
作为初步分析,可以假设射线源是——个几何点,射线从这点发出,沿直线在空间传播,并沿直线穿透被透照物体。
上述影像形成的过程使影像具有下面一些特点。
1.影像重叠影像的每个点都是物体的一系列点对射线衰减产生的总结果,或者说是物体一系列点的影像的重叠。
例如,图中的影像A 是射线穿过1A 、2A 、3A ……等无数个点到达胶片后形成的,所以A 点影像反映了1A 、2A 、3A ……等无数个点对射线衰减的情况。
这样,当从不同方向进行射线检测时,对同一物体得到的影像可以不同。
影像的重叠性使得物体中不同位置的缺陷,在射线检测的影像上可能表现成一个缺陷,这给射线检测影像的判断带来困难。
2.影像放大影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸。
图3—2清楚地显示出,物体中一宽度为W 的区域,在胶片上形成的影像的宽度为W ,明显地这是一个放大的影像,从投影关系不难理解这一点。
影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关、与影像所表示的物体和检测器的距离有关。
在一般的情况下,影像都存在一定程度的放大。
应注意的是,在实际射线照相检验时,如果X 射线机的焦点大于缺陷的尺寸,则影像可能不产生放大。
3.影像畸变如果得到的影像的形状与物体在投影方向截面的形状不相似,则称影像发生了畸变。
产生这种情况的原因是,物体截面上不同的部分在胶片上形成影像时产生的放大不同,这样就导致影像的形状与物体的形状不相似。
只要物体的投影截面与记录影像的截面不平行,就将发生影像畸变。
在实际射线照相中,缺陷影像畸变是经常发生的,这是由于缺陷总是具有一定的体积,具有一定的空间分布,形状常常是不规则的,这些情况使得透照时将存在多个投影截面,不同的投影截面形成的影像的放大总是存在一些不同,就造成了影像畸变。
RT2理论知识 第三章 射线照相质量的影响因素新2021
第三章 射线照相质量的影响因素
常用的线型像质计有: 1号线型像质计 线号为1~7; 6号线型像质计 线号为6~12; 10号线型像质计 线号为10~16; 13号线型像质计 线号为13-19。
第三章 射线照相质量的影响因素
透照材料不同,所用的像质计不同。 如:Fe、Ni、Ti、Al、Cu。
常用的FE(铁,钢)像质计用于碳钢、低 合金钢、不锈钢等。 表示为:10 FE JB。 符合JB/T7902-2015标准的最大线号为10的 钢像质计。
➢如:一张质量符合标准的射线底片,清晰 显示像质计丝线直径为 0.20 ㎜ 的影像。 不能确认为:该工件内部大于或等于0.20 ㎜的缺陷影像全部显示出来。
第三章 射线照相质量的影响因素
➢像质计灵敏度是评价射线照相技术质量的 一种手段。一般来说,像质计灵敏度和缺 陷检测灵敏度之间不能划等号,后者的情 况要复杂得多,是缺陷自身几何形状、吸 收系数、位置及取向角度的复合函数。
射线检测 第三章
淄博市特种设备检验研究院 徐长业
130 5338 4958
射线检测
射线照相法的原理:
射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射 而使其强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数u和射线在 物质中穿越的厚度。如果被透照物体(试件)的局部存在缺陷,且 构成缺陷的物质的衰减系数又不同于试件,该局部区域的透过射线 强度就会与周围产生差异,把胶片放在适当位置使其在透过射线的 作用下感光。经暗室处理后得到底片。底片上各点的黑化程度取决 于射线照射量(又称曝光量,等于射线强度与照射时间乘积),由 于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同,底片上相应部位就会 出现黑度差异。底片上相邻区域的黑度差定义为“对比度”。把底 片放在观片灯光屏上借助透过光线观察,可以看到由对比度构成的 不同形状的影响,评片人员据此判断缺陷情况并评价试件质量。
04.典型工件的射线照相检验技术1
第4章 典型工件的射线照相检验技术本章将运用第三章给出的技术讨论一些有代表性的工件的射线照相检验技术。
4.1 铸件射线照相检验技术4.1.1 铸件射线照相检验常用技术铸件射线照相检验时,经常遇到的主要问题之一是处理变截面工件透照技术。
也就是,在一次透照区中将包含不同的透照厚度。
这种情况,一般称为变截面工件射线照相检验技术。
处理这种问题的常用技术主要是:双(多)胶片技术、适当提高透照电压(X 射线)、补偿方法等。
当然,厚度的变化范围必须限制在适当的范围之内。
1.双胶片技术双胶片技术是在同一暗盒中放置两张感光度不同或感光度相同的胶片同时透照的技术。
当采用两张感光度不同的胶片时,感光度较高的胶片应适于工件厚度较大部分的透照,感光度较低的胶片应适于工件厚度较小部分的透照。
当采用两张感光度相同的胶片时,单张胶片观察时评定厚度小的区域,两张胶片叠加观察时评定厚度大的区域。
如果工件截面厚度变化不是太大,特别是主要由两个厚度组成时,则可以采用双胶片技术进行透照。
对采用两张感光度不同胶片的双胶片技术,应解决的问题是选用胶片。
简单地说,选用方法是利用曝光曲线和胶片的感光特性曲线。
从曝光曲线确定应使用的一种胶片和对应的厚度,并从曝光曲线确定两厚度的曝光量比,利用此比和胶片感光特性曲线确定应使用的另一种胶片。
选取方法可参照图4-1进行。
对采用两张感光度相同胶片的双胶片技术,应注意的是底片的黑度。
在目前的多数标准中,均限定双片迭加观察区的黑度,该区单片的黑度不能低于标准规定的下限值。
不同标准限定值可能不同,主要的下限限定值有:ASTM E1742—00:D ≥1.0;EN 444:1994:D ≥1.3;ISO 5579:1998:D ≥1.3;GJB 1187A —2001:D ≥1.2.2.适当提高透照电压技术对截面厚度变化比较小,特别是截面厚度是连续变化时,可采用适当提高透照电压技术进行透照。
从曝光曲线可以看出,不同透照电压的曝光曲线其厚度宽容度不同。
射线照相质量的影响因素叶宇峰总结
2、底片对比度越大,影像越容易被观察到和 识别清楚。 3、为检出较小的缺陷,获得较高的灵敏度, 就必须设法提高底片对比度。但在提高对 比度的同时,也会产生一些不利后果,例 如试件能被检出的厚度范围减小(厚度宽 容度 ↓ ),底片上的有效评定区域缩小, 曝光时间延长,检测速度下降,检测成本 增大等等。
二、影响射线照相灵敏度的因素
射线照相对比度ΔD
D 0.434 G
主因对比度
射线照相不清晰度U
2 U Ug U i2
几何不清晰度 固有不清晰度
0.79
T (1 n)
D lg E
射线照相颗粒度 σD
N ( Di D) 2 D N 1 i 1
B. 影响胶片对比度的因素 : 胶片种类、底片黑度,显影条件 1)不同类型的胶片具有不同的梯度
通常,非增感胶片的梯度比增感型胶片的梯 度大。非增感型胶片中,不同种类的胶片有时梯 度也不一样,要想提高对比度,可以选择梯度较 大的胶片。(梯度:T1>T2>T3>T4) 若要增大G值,可选用G值更高的微粒胶片; 由于非增感胶片G值和黑度成正比,也可通过提高 底片黑度增大G值。但高G值的微粒胶片感光速度 往往较慢,需要增大曝光时间,提高黑度也需要 增加曝光时间,此外,黑度的提高会增加最小可 见对比度△Dmin ,对灵敏度产生不利影响。
射线照相质量的影响因素
浙江省特种设备检验研究院 ---叶宇峰 2013年3月8日
第三章的主要内容
一、射线照相灵敏度的影响因素 1、基本概念及相关定义 2、射线照相--对比度ΔD 3、射线照相--清晰度U 4、射线照相--颗粒度σD 二、灵敏度和缺陷检出的有关研究 1、最小可见对比度△Dmin 2、底片黑度与灵敏度 3、缺陷检出试验 4、几何因素对小缺陷对比度的影响 5、不同缺陷的灵敏度关系式 6、裂纹检出的研究 7、信噪比
射线检测计算题解
D
D
23
2.10 欲使底片黑度达到1.5,用铅箔增感屏 需曝光4分钟,用荧光增感屏需曝光40秒,不用增 感材料需曝光6分钟,求铅增感屏和荧光增感屏的 增感系数。
E0 6 铅增感屏:Q铅= = =1.5 E 4 E0 6 荧光增感屏:Q荧= = =9 E 40 / 60
24
E0 解:Q = E
0.693
=
0.693 =119 (天) 0.00583
15
1.18 用X射线透照母材厚度30mm,焊缝余高 4mm的试件,若射线质不因厚度而异,吸收系数均 为0.693cm-1,求半价层厚度和射线贯穿工件后母材 部位和焊缝部位的射线强度之比。(已知X射线的 散射比对于母材和焊缝分别为2.5和3)。
31
3.2 用φ4×4mmIr192源内透透照50mm厚的双面 焊对接焊接接头,欲使Ug≦0.2mm ,求射线源至胶 片的最小距离。
df b df Ug = F b(1 ) F b Ug
df b 解:U g = F b df 4 F b(1 ) (50 4)(1 ) 1134 mm Ug 0.2
4
1.6 当X射线管的管电压为150kV时,产生的 X射线的最短波长为多少?若连续X射线最大强度 所对应的波长为最短波长的1.5倍,求最大强度处 的光子能量为多少?
12.4 λ min = - -λIM = 1.5λmin V
0 12.4 解:λ min = = 0.0827( A ) 150 0
3.5 透照无余高的焊接接头时,气孔部分的透 射线比无气孔部分的透射线总强度(包括散射线强 度)增大了50%,若底片黑度范围内胶片G值为3.5, 求气孔部位的射线照相对比度。
D2 - D1 D G lg E 2 - lg E1 lg E 2 - lg E1
射线透照工艺
第3章 射线透照工艺3.1 射线照相灵敏度的影响因素3.1.1 概述从事射线透照,首先必须编制出透照工艺(严格按透照工艺进行所有的操作),以满足被透照对象对射线照相影像质量的要求,保证检测结果的一致性和可靠性。
评价射线照相影像质量最重要的指标是射线照相灵敏度。
所谓射线照相灵敏度,从定量方面来说,是指在射线底片上可以观察到的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸,从定性方面来说,是指发现和识别细小影像的难易程度。
灵敏度有绝对与相对之分,在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸称为绝对灵敏度。
此最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比称为相对灵敏度。
显然,用自然缺陷尺寸来评价射线照相灵敏度是不现实的。
为便于定量评价射线照相灵敏度,常用与被检工件或焊缝的厚度有一定百分比关系的人工结构,如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计,又称为像质计,作为底片影像质量的监测工具,由此得到灵敏度称为像质计灵敏度。
需要注意的是,底片上显示的像质计最小金属丝直径、或孔径、或槽深,并不等于工件中所能发现的最小缺陷尺寸,即像质计灵敏度并不等于自然缺陷灵敏度。
但像质计灵敏度提高,表示底片像质水平也相应提高,因而也能间接地反映出射线照相对最小自然缺陷检出能力的提高。
对裂纹之类方向性很强的面积型缺陷,即使底片上显示的像质计灵敏度很高,黑度、不清晰度符合标准要求,有时也有难于检出甚至完全不能检出的情况。
面积型缺陷检出灵敏度与像质计灵敏度存在着较大差异。
造成这种差异的影响因素很多,例如焦点尺寸等几何因素的影响,射线透照方向与缺陷平面有一定的夹角而造成透照厚度差减小的影响等。
要提高此类缺陷的检出率,就必须很好考虑透照方向及其他有助于提高缺陷检出灵敏度的工艺措施。
射线照相灵敏度是射线照相对比度(小缺陷或细节与其周围背景的黑度差)、不清晰度(影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度)和颗粒度(影像黑度的不均匀程度)三大要素的综合结果,三大要素又分别受到不同工艺因素的影响。
射线照相质量的影响因素
(b)底片黑度 对于非增感型胶片,梯度与黑度关系曲线为 一次曲线(近似直线),为近似正比关系。所以 随着黑度增大,梯度也同时增大。图2-49。底 片黑度与梯度关系数据见上表。 为保证对比度,常常对底片的最小黑度提出 限制。4730标准规定黑度不得小于1.5(A级)。 为提高对比度,可取较高的黑度值。 由此带来的 问题是宽容度降低,黑度超过观 片灯的能力范围。且要求曝光时间可能延长。
3.1.3 清晰度
阶边影像的射线照相不清晰度
对于图示的台阶试块,理论上底片上的理想影像 由AO部分形成的高黑度均匀区与OB部分形成的 低黑度区两部分黑度区域组成,交界处应该是突 变的,不连续的,如图 a 所示;但实际底片上的 黑度变化不是突变的。实际的“阶边”影像是模糊 的,黑度变化如图b所示,存在一个过渡区。c为 b的放大图,由c可见过渡区不是单纯的直线,而 是存在一个趾部和肩部。把黑度在该区域的变化 绘制成曲线,称之为 “ 黑度分布曲线 ” 或 “ 不清晰 度曲线 ” 。黑度变化区域越大,轮廓越模糊,所 以定义该黑度变化区域的宽度为射线照相不清晰 度U。
影响因素: b:缺陷到胶片的距离: b↑→Ug↑→灵敏度↓ df:源的大小:df↑→Ug↑→灵敏度↓ F:焦距:F↑→Ug↓→灵敏度↑ L1:源到工件表面的距离: L1↑→Ug↓→灵敏度↑ L2:工件表面到胶片的距离(L2=b) L2↑→Ug↑→灵敏度↓
总而言之: 几何不清晰度与焦点尺寸和工件厚度成正比,而 与焦点至工件表面的距离成反比。在焦点尺寸和 工件厚度确定的情况下,为得到较小的几何不清 晰度,透照时则需取较大的焦距值,但由于射线 强度与距离平方成反比(平方反比关系),为保 证底片黑度不变,在增大焦距的同时必须延长曝 光时间或提高管电压,所以对此要综合权衡考虑。 而且延长曝光时间和提高管电压会有负面影响。
射线检测第三、四、五、六、七章
db 3 30 Ug 0.15mm F b 600 30
16
c.若以L1表示源到 缺陷距离 ,L2表 示缺陷到胶片距离, 几不清晰度也可表 示为: L2 Ug d f L1
17
b.固有不清晰度Ui 固有不清晰度是由于照射到胶片上的射 线在乳剂层中激发出的电子的散射产生的。 当光子穿过乳剂层时,与乳剂相互作用 发生光电效应、康吴效应以及电子对效应, 在乳剂中激发出电子。这些电子向各向散射, 使乳剂中的卤化银晶粒感光,形成潜影。胶 片显影后,使影象轮廓模糊 固有不清晰度的大小主要取决于 射线的能量,能量越大,固有不清晰 度就越大。 使用增感屏也会使固有不清晰度增大, 特别是屏—片接触不良时更为显著。
28
2)、焦距的选择
选择焦距的原则是满足规定的几何不清 晰度的要求: 由于:
Ug df b f b
Fmin b df Ug
L2 L1
如几何不清晰度以U g d f
L1 min
表示,
L2 df L1
29
JB/T4730.2-2004标准规定: a.所选用的射线源至工件表面的距离f应 满足下式的要求: A 级:f ≥ 7.5d· 2/3 b AB级:f ≥ 10d· 2/3 b B 级:f ≥ 15d· 2/3 b b.采用源在内中心透照方式周向曝光时, 只要得到的底片质量符合要求,f值可以减小, 但减小值最多不应超过规定值的50%。 c.采用源在内单壁透照方式时,只要得到 的底片质量要求,f值可以减小,但减小值最 多不应超过规定值的20%。
9
ΔI/I即称为主因对比度,它反映透过试件 完好部位与有缺陷部位的射线强度的相差程度。 由公式(6)可以看出,影响主因对比度 的因素有试件吸收系数、散射比和试件厚度差。 b.胶片对比度由胶片特性曲可知,胶片对 比度:
第三章 射线照相影响因素2
3.用微光密度计测出的不清晰度曲线 (略) 几乎所以的射线照相中都包含有两种不清晰度, 即如图3-7c所示的曲线。 3.1.4 射线照相颗粒度 颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布 不均匀的视觉印象。 颗粒度则是根据测微光密度计测出的数据、按一 定方法求出的所谓底片黑度涨落的客观量值。 颗粒性印象不是单个显影的感光颗粒引起的。颗 粒的视觉印象是由许多银粒交互重叠组成的颗粒 团产生的,而颗粒团的黑度则是由这些单个银粒 的随机分布造成的。
胶片对比度:G=△D/△lgE 将主因对比度公式入得: 射线照相对比度: △D=0.434Gμ△T/(1+n)
(3-1)
射线照相对比度的影像因素 由公式(3-1)可知,射线底片的对比度△D 是主因对比度μ△T/(1+n)和胶片对比度G共 同作用的结果,主因对比度是构成底片对比度 的根本原因,而胶片对比度可看做是主因对比 度的放大系数,通常这个系数为3~8。
(1)影响主因对比度的因素有厚度差△T、衰减系 数μ和散射比n。 1)△T与缺陷尺寸有关,某些情况下还与透照方向 有关。例如,为检出坡口未熔合,往往选择沿 坡口的透照方向。为保证裂纹的检出率,就必 须控制射线束的角度,使之与裂纹的夹角不得 过大。 2)衰减系数μ与试件材质和射线能量有关。在试件 材质给定的情况下,透照的射线能量越低,线 质越软,μ值越大。所以,通常在保证射线穿透 力的前提下,选择能量较低的射线进行照相, 是增大对比度的常用方法。
颗粒的随机性是多种因素造成的:胶片乳剂层中 感光银盐颗粒大小,分布均匀度具有随机性;射 线源发出的光量子到达胶片的空间分布是随机的; 胶片乳剂吸收光量子,使乳剂中的一个或多个溴 化银晶体感光也是随机的。 颗粒性产生的原因可归纳为两个方面:一是胶片 噪声,相关于银盐粒度和感光速度;二是量子噪 声,即光子随机分布的统计涨落,相关于射线能 量、曝光量和底片黑度。 一般来说,颗粒性随胶片粒度和感光速度的增大 而增大,随射线能量的增大而增大,随曝光量和 底片黑度的增大而减小。
射线检测技术6-3 射线检测影像质量
主要内容
• 6.3.1 影响影像质量的基本因素
1 影像的对比度 2 影像的不清晰度 3 影像的颗粒度
• 6.3.2 射线检测影像质量评价-检测灵敏度
1 概念 2 像质计及射线照相灵敏度
• 6.3.3 IQI灵敏度与射线检测技术因素的关系 • 6.3.4. 缺陷可检出性 • 2. ΔDmin,ΔD,w的关系 • 3. 射线照相灵敏度计算
典型缺陷对比度
•丝型缺陷 V r2 l
A (U 2r F)l (U 2r)l F T
d
D 0.434GD r2 (1 n) 2r U
另一个丝型缺陷缺陷对 比度的近似公式:
D 0.434GDr
r
1 n
F T
ΔA
—— 形状因子
Ug
σ -----几何修正系数
典型缺陷对比度
•柱孔型缺陷
设缺陷在透照方向上 的高度尺寸为h,柱孔的 直径为d
V d 2h
4
A
U
d 2
2
4
2U
d
2
D
0.434GD (1 n)
dh2 (2U d )2
•球形小缺陷
以球形气孔作为这类 缺陷的典型代表,设气 孔缺陷的直径为d
• 产生原因: 胶片噪声 量子噪声,即光子随机分布的统计涨落,相关于射线能量、曝光量和 底片黑度
• 与胶片性质、射大 射线能量越高,颗粒度越大 随曝光量和底片黑度增大而减小
颗粒度的测量
• 颗粒度是采用测微密度计,对底片局部变化的黑度在扫
射线能量决定 ,n
射线入射方向决定 T
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第3章 射线照相的影像质量3.1 影像形成的简单分析图3—1画出了射线照相影像形成的过程。
从图3—1可以看到,在射线透照下,物体内部的情况将投影在胶片平面,形成射线照相影像的图像。
这幅图像的形成,以从射线直线传播的性质讨论。
作为初步分析,可以假设射线源是——个几何点,射线从这点发出,沿直线在空间传播,并沿直线穿透被透照物体。
上述影像形成的过程使影像具有下面一些特点。
1.影像重叠影像的每个点都是物体的一系列点对射线衰减产生的总结果,或者说是物体一系列点的影像的重叠。
例如,图中的影像A 是射线穿过1A 、2A 、3A ……等无数个点到达胶片后形成的,所以A 点影像反映了1A 、2A 、3A ……等无数个点对射线衰减的情况。
这样,当从不同方向进行射线检测时,对同一物体得到的影像可以不同。
影像的重叠性使得物体中不同位置的缺陷,在射线检测的影像上可能表现成一个缺陷,这给射线检测影像的判断带来困难。
2.影像放大影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸。
图3—2清楚地显示出,物体中一宽度为W 的区域,在胶片上形成的影像的宽度为W ,明显地这是一个放大的影像,从投影关系不难理解这一点。
影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关、与影像所表示的物体和检测器的距离有关。
在一般的情况下,影像都存在一定程度的放大。
应注意的是,在实际射线照相检验时,如果X 射线机的焦点大于缺陷的尺寸,则影像可能不产生放大。
3.影像畸变如果得到的影像的形状与物体在投影方向截面的形状不相似,则称影像发生了畸变。
产生这种情况的原因是,物体截面上不同的部分在胶片上形成影像时产生的放大不同,这样就导致影像的形状与物体的形状不相似。
只要物体的投影截面与记录影像的截面不平行,就将发生影像畸变。
在实际射线照相中,缺陷影像畸变是经常发生的,这是由于缺陷总是具有一定的体积,具有一定的空间分布,形状常常是不规则的,这些情况使得透照时将存在多个投影截面,不同的投影截面形成的影像的放大总是存在一些不同,就造成了影像畸变。
理解射线照相影像的这些特点,对正确地评定底片上的缺陷具有重要意义。
3.2 影像质量3.2.1 影像质量的基本因素射线照相检验影像质量的基本因素,可以从金属边界射线照相的影像导出。
如图3-3所示,当透照一锐利的垂直的金属物体边界时,理想的情况应得到图3—3b所示的黑度分布曲线,即当从一个厚度过渡到另一个厚度时,对应的黑度应从一个黑度以阶跃的形式过渡到另一个黑度。
但测量指出,实际的黑度分布并不是这种阶跃形式,而是如图3-3c所示,—在两个黑度之间存在一个缓慢变化的区域,使黑度逐渐地从一个黑度过渡到另一个黑度,缓慢变化区的黑度分布不是直线,而是一存在坡脚和肩部的曲线。
这个缓慢变化区的宽度即是射线照相的不清晰度,一般记为U,它造成了射线照片上影像边界的扩展。
进一步的研究发现,过渡区的的细致情况如图3-3d所示,即实际的黑度存在不规则的大大小小的不断变化,并不是单调均匀的变化。
黑度不规则变化的统计平均值(统计标准差)称为影σ。
对应金属边界的黑度差称为该影像的对比度,记为∆D。
像的颗粒度,记为Dσ即是影像质量的基本因素,即射线照片上影像的质量由对比度、不清晰度、∆D、U和D颗粒度决定。
对比度是影像与背景的黑度差,不清晰度是影像边界扩展的宽度,颗粒度是影像黑度的不均匀性程度。
影像的对比度决定了在射线透照方向上可识别的细节尺寸,影像的不清晰度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸,影像的颗粒度决定了影像可显示的细节最小尺寸。
3.2.2 影像的射线照相对比度在射线照相中影像的对比度定义为射线照片上两个区域的黑度差,常记为∆D 。
即如果两个区域的黑度分别为'D 、D ,则它们的对比度为D D D -=∆' (3-1)射线照片上影像的对比度常指影像的黑度与背景的黑度之差。
从物体厚度的一个小的增加量AT 产生的黑度变化,即可得到射线照相对比度的公式。
如图3-4所示,设在厚度 之上局部叠加了一小的厚度T ∆,而D 为对应厚度T 部分的黑度;'D 为对应厚度T T ∆+部分的黑度。
显然,D ∆是由厚度小增量T ∆引起的两区域的黑度差。
在第2章曾经给出,对胶片特性曲线的直线部分存在关系:k H G D +=lgk H G D +='''lg式中,'H 、H 为曝光量,它等于射线强度与曝光时间之积 tI H ItH ''== 由于T 与T T ∆+之差很小,因此D 与'D 之差也很小,所以可认为对应于D 与'D ,的梯度近似相等,因此对T ∆引起的黑度差有 )lg (lg 'H H G D -=∆这样有)lg()(lg 'It t I G D -=∆)lg('II G D =∆ (3-2) 首先考虑简单的情况,即窄束、单色射线情况,从射线衰减规律有T e I I μ-=0)(0'T T e I I ∆+-=μ两式相除,得到T e II ∆-=μ'所以T e T II ∆-=∆-=μμ434.0lg lg '将此式代入式(3-2),得到T G D ∆-=∆μ434.0 (3-3)这就是一个小的厚度增量(也就是小的厚度差)T ∆,在窄束、单色射线情况下产生的对比度的公式。
应指出的是,小厚度差T ∆在垂直于射线透照方向应具有较大尺寸时才满足这个关系。
实际探伤时一般都是宽束射线情况,这是必须考虑散射线,即这时应采用宽束连续谱射线的衰减规律讨论式(3-2)。
S D I I I +='''S D I I I +=记I I I -=∆',由于T ∆很小,近似认为'S s I I =。
因为存在I ∆《I ,利用近似公式 x e x +=1(x <1 则有II I I eI I '1=∆+=∆ 这样,从式(3-2)可以得到 )/(434.0lg()/I I e G D I I ∆==∆∆由于nT I I +∆-=∆1μ 最后得到nT G D +∆-=∆1434.0μ (3-4) 对实际工件中的缺陷,严格地说,不能简单地应用式(3-4)计算,这时应考虑缺陷对射线的衰减特性。
如果记缺陷的线衰减系数为'μ,则式(3-4)应改写成nT G D +∆--=∆1)(434.0'μμ (3-5)当存在'μ《μ或'μ=0时,也就是缺陷引起的射线衰减远小于同样大小的工件本身引起的射线衰减时,式(3-5)将转化为式(3-4)。
对于宽束连续谱射线情况,应注意的是,这时应认为式中的线衰减系数是对应于等效波长(能量)的线衰减系数。
显然,式(3-4)包含了式(3-3)。
式(3-4)是射线照相检验技术理论的基本公式,它指导射线照相检验技术的基本考虑。
从式(3-5)可以看到,某个细节(缺陷)影像的射线照相对比度相关于一系列因素,这些因素决定于下列3个方面: 1)细节本身的性质和尺寸——T ∆、'μ;2)射线照相技术参数——μ、n 、G ;3)被透照物体本身的性质和尺寸——μ、n 。
为了得到较高的射线照相对比度主要应遵循以下几点:1)选用可能的较低能量的射线透照——提高线衰减系数;2)采取各种措施,减少到达胶片的散射线强度——降低散射比;3)选用质量优良的胶片,采用良好的暗室处理技术——获得较高的梯度。
3.2.3 影像的射线照相不清晰度影像的射线照相不清晰度是影像质量3个因素的另一个重要因素,本应该用清晰度描述影像质量的这个方面,但由于定量地表述清晰度比较困难,所以在射线照相中目前广泛采用不清晰度概念描述影像的清晰度。
不清晰度描述的是影像边界扩展的程度。
对工业射线照相,产生不清晰度的原因是多方面的,其中最主要的是几何不清晰度和胶片固有不清晰度,此外还有屏不清晰度和运动不清晰度。
几何不清晰度一般记为g U ,胶片固有不清晰度一般记为i U 。
几何不清晰度产生于射线源总是具有一定的尺寸,而不是个点。
这样,当透照一定厚度的物体时,按照几何投影(射线直线传播)成像原理,所成的像总要有一定的半影区,即边界扩展区,这就是几何不清晰度。
图3-5画出了几何不清晰度的形成。
从图中可以看到,几何不清晰度与射线源焦点尺寸大小、射线源至胶片的距离、工件本身的厚度(缺陷与胶片的距离)有关,从相似三角形容易得到几何不清晰度的计算公式 TF dT U g -=(3-6) 式中 d ——射线源焦点尺寸;F ——焦距,即射线源至胶片的距离;T ——工件射线源侧表面与胶片的距离、通常取为工件本身的厚度。
从图3—5或式(3—6),都可以看出,焦点尺寸越小、焦距越大、工件厚度越小则几何不清晰度也越小。
在射线照相中几何不清晰度应控制在规定的范围,一般总是希望减少几何不清晰度,除了选择射线源外,.主要是通过改变焦距控制几何不清晰度。
此外,正确地选定透照布置也能够减小几何不清晰度。
对于X 射线机来说,由于X 射线管的有效焦点尺寸在不同方向具有不同大小,因而,如果严格地讨论射线照相中的几何不清晰度,它将是一个复杂的问题。
工件中的缺陷,由于其位置的不同——位于不同的深度,也将具有不同的几何不清晰度。
胶片固有不清晰度是由于入射到胶片的射线,在乳剂层中激发出的次级电子的散射产生的。
在射线与乳剂的相互作用中产生的次级电子,能够从产生它们的卤化银颗粒到达其他的卤化银颗粒,并使这些卤化银颗粒成为可显影的,这使得每个射线光子产生的可显影的卤化银颗粒成为具有一定分布的区域。
因此,在显影时,不仅受到射线照射的曝光区,而且曝光区的周围,都将显现一定的黑度。
这就使锐利的边界的影像扩展成为具有一定分布的黑度区,分布区的宽度称为胶片固有不清晰度。
分布区的宽度决定于次级电子,在乳剂层中能量损失的过程,因此胶片:固有不清晰度决定于射线的能量。
图3—6是胶片固有不清晰度与X 射线能量关系的曲线,表3—1列出了部分X 射线透照电压的胶片固有不清晰度之值。
在射线照相中,由于胶片吸收的射线能量只占入射射线能量的很少部分,因此经常采用增感屏(关于增感屏将在第4章讨论),利用增感屏吸收射线能量后产生的次级效应,如发射电子、发射荧光等,增加射线对胶片的曝光量。
当使用增感屏时,由于增感物质对射线的散射或次级效应带来的散射,将产生一个新的不清晰度,即屏不清晰度,记为Ue 。
荧光增感屏即使对于较低能量的射线也能产生较大的不清晰度(见表3—2),金属箔增感屏在厚度较大时也将产生不清晰度,但不清晰度都很小,所以,对金属增感屏一般不考虑它引起的不清晰度。
如果在射线照相过程中,射线源与工件存在相对移动,则将产生另一个不清晰度,即运动不清晰度,常记为Um 。