Cpk实用培训教材

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Cpk訓練教材
❖ 使用范疇.
圖一表現是在穩態下的情形, 對于那些過程不穩定, 尚未推行 SPC(statistical process control, 統計過程控制)與SPD(statistical process diagnosis,統計過程診斷)的企業來說,本來是沒有條件去計算Cpk 的, 如果 客戶迫切要求給出Cpk值, 在這種不得已的情況下, 只好選擇過程較為平穩的 階段的數據計算一下Cpk值, 作為臨時性的措施。最根本的方法還是趕上世 界潮流, 盡快推行SPC.
不良率 (Defect rate)2
不良率 (Defect rate)3
從(圖二~圖四面)看:
當T=6σ,Cp=1 從表面上看,似乎這是既滿 足技朮要求又很經濟的情況,但由于過程總是波 動的,分布中心一有偏移,不合格品率就要增加,因 此,通常取Cpk 大于1 .
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相關參數之定義及計算
根据T與6σ的相對大小可以得到下圖三种 情況.Cpk值比較大,表明加工質量越好,品 質越穩定,但這時對設備操作人員的要求也. 越高,加工成本越大,所以對Cpk的選擇應根 据技朮與經濟的綜合分析來決定.
(圖二)
(圖三)
(圖四)
Cpk>1
Tl
Tu
Tl
Cpk=1
Tu
Tl
Cpk<1
Tu
不良率 (Defect rate)1
A級:理想的狀態故維持現狀. B級:盡可能調整,改進為A級. C級:應立即檢討并予于改善. D級:應采取緊急措施,并全面檢討,
必要時應考虙停止生產.
*上表之分級僅供參考,并非絕對如此不可。
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¶ Ca意義之說明:
規格中心值和上下限規格間是產品變異可允許的 空間.我們若以此空間當作100%的話,則Ca表示制程已 耗去此空間有多少%.亦可以解釋為制程之實際中心值偏 離目標值的程度,因此它是愈小愈好.
Cpk 培訓資料
制作:SQM 日期:Mar/15
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➢ 學習目的. ➢ 使用范疇. ➢ 相關參數之定義及計算. ➢ 統計公式(利用excel 中的函數公式進行計算) ➢ 實例講解Cpk之制作.
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目的
實際工作制程的品質不是一塵不變, 或多或少存在一些變異, 而這些變異恰好滿足概率中的泊松分布(也稱正態分布)如下圖
制程精密度Cp(Capability of Precision)
Cp值是衡量規格公差范圍與制程變量寬度兩者之間相 差的程度。
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➢制程精密度Cp(Capability of Precision)
Cp值是衡量規格公差范圍與制程變量寬度兩者之間相差的程度。
Cp值之計算(分兩種情況:單邊規格和雙邊規格)
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二)等級判定
Ca值越小, 品質越佳. 依Ca值的大小分為四個等級
注:分母之所以取規格公差的一半是為了易知 X 是較規格中
心值U 偏高或偏低.
等級 A B C D
Ca 值 ︱ Ca︱ ≦12.5% 12.5%≦ ︱ Ca ︱ ≦25.0% 25.0% ≦ ︱ Ca ︱ ≦50.0%
50.0%< ︱ Ca ︱
由以上公式可知,規格公差 T 大于估計實際值標 准差σ時, 若大得越多Cp值也越大。
換言之即制程的變量寬度遠小于規格公差, 所以 Cp值越大,決定于質量因素的人, 機, 料, 法, 環(4M 1E) 越好, 品質越佳。
依Cp值的大小分為5個等級:
A+級:制程能力過高,產品變異大一些也不要緊,
可考慮管理的簡單化或降低成本.
D
︱ Cp︱<0.67
C級:已產生不良品,產品需全數選別,并管理改
善制程.
D級:品質無法在滿足的狀態,須進行品質的改善,
探求原因,須采取緊急對策并重新檢討規格。
當產品質量分布的均值X與公差中心μ不重
合(即有偏移)時,顯然不合格品率增大。因
此:Cp = T = TU-TL
6σ 6σ
所計算的所反映的有偏移的實際情況需加以修正(見
右圖)定義分布中心與公差中心X的偏移ε=︱X-μ ︱,以及μ
T/2
與 X的偏移度K為 K= ε = 2ε = Ca
TU
TL
ε
T/2 T
側制程能力制數修正為:
Cpk=(1-K)Cp=(1-|Ca |)Cp
μX
產品質量分布的均值X 與公差中心μ不重合的情況
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Cpk 之計算:
1).單邊規格時:Cpk1 = SU-X (只有上限規格)
單邊規格時:Cp=規格上限-實際平均值= SU-X (SU > X,只有上限規格)
3個估計實際值標准差

Cp=實際平均值-規格下限 = X- SL (SU < X,只有下限規格) 3個估計實際值標准差 3σ
雙邊規格時:Cp=
規格公差
=
6 個估計實際值標准差
T = SU -SL 6σ 6σ
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Cpk的計算公式是Cpk=(1-k)T/6σ
上述公式中T反映對產品的技朮要求(也可以理解為客戶要求), 而σ反 映過程加工的質量(也即本企業的控制范圍),所有在過程能力指數Cp中將6σ 与T比較,就反映了過程加工質量滿足產品技朮要求的程度(也即企業產品的 控制范圍滿足客戶要求的程度).
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目的就是為了統計這些變異,然后再利用七大手法來分析變異的
原因,找出改善對策,提升品質.
(圖一) 100
%
隨機變數 X N(, 2)
2 變異 (Variance)
發音
μ : Mu σ : Sigma
(以 μ 為中心數據密集程度)
wenku.baidu.com
σ : 標準差 (Standard Deviation)
μ
中心位置參數 (圖形以 為中心左右對稱)
制程准確度Ca(Capability of Accuracy) Ca值是衡量制程之實際平均值與規格中心值之一致性
一 Ca之計算:
Ca= 實際中心值-規格中心值 x100%= X- U X100% 規格公差的一半 T/2
T=SU-SL =規格上限-規格下限
注:單邊規格因沒有規格中心值,故不能計算Ca.
等級
Cp值Cpk
A級: 制程能力充分,表示技朮管理能力已經很
A+
︱ Cp︱ ≧1.67
好,應繼續維持.
A
1.33≦ ︱ Cp︱ <1.67 B級:確實進行制程管理,使其能保持在管制狀態
B
1.0 ≦ ︱ Cp︱ <1.33
當Cp值接近于1時恐怕會產生不良品,應盡
C
0.67 ≦ ︱ Cp︱ <1.0
可能改善為A級 .
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