G652D光纤宏弯损耗测试法结果分析

G652D光纤宏弯损耗测试法结果分析

江苏亨通光纤科技有限公司光纤分析实验室光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。
为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。
大多光纤厂家都提供Φ60mm×100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm×1圈与Φ60mm×100圈的数据差异就十分有必要。 两种宏弯损耗测试方法的比较 两种宏弯损耗测试方法分别对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。整体数据汇总图形如图。 从整体数据汇总图可看出Φ32mm×1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm×100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm×1所得数据的平均值大于Φ60mm×100所测得的；还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm×100的。
10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm×1的判断标准应考虑的与60mm×100比较接近。 在测试过程中，Φ32mm×1宏弯测试方法易于操作，能减少测试误差，根据GB/T9771.3-2008宏弯损耗的说明，认为Φ32mm×1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。 而Φ60mm×100作为标准明确规定一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良，如，保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。
宏弯与截止波长的关系
为更好地摸索宏弯损耗与截止波长的关系，随机抽取760个样品进行实验，结果显示1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散，实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。 而且1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm-1290nm，截止波长越小，宏弯损耗越大，且分布散乱无规律。
通过以上分析，可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响，当截止波长分布在1210nm-1290nm范围内时，1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中，数据稳定，这为我们优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。
结论 1.Φ32mm×1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。

2.而Φ60mm×100作为标准明确规定的一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良。
　3.大量实践数据验证了截止波长与宏弯损耗存在相关性。