微波暗室静区性能
微波暗室的技术指标
1.暗室参数微波暗室的电性能指标主要由静区的特征来表征。
静区的特性又以静区的大小、静区内的最大反射电平、交叉极化度、场均匀性、路径损耗、固有雷达截面、工作频率范围等指标来描述。
影响微波暗室性能指标的因素是多元化的，也是很复杂的。
在利用光线发射法和能量物理法对暗室性能进行仿真计算时，需要考虑电波的传输去耦，极化去耦，标准天线的方向图因素，吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影响。
但在实际的工程设计过程中，往往以吸波材料的性能作为暗室性能的关键决定因素。
1)交叉极化度：由于暗室结构的不严格对称、吸波材料对各种极化波吸收的不一致性以及暗室测试系统等因素使电波在暗室传播过程中产生极化不纯的现象。
如果待测试天线与发射天线的极化面正交和平行时，所测试场强之比小于-25dB，就认为交叉极化度满足要求。
2)多路径损耗：路径损耗不均匀会使电磁波的极化面旋转，如果以来波方向旋转待测试天线，接收信号的起伏不超过±0.25 dB，就可忽略多路径损耗。
3)场均匀性：在暗室静区，沿轴移动待测试天线，要求起伏不超±2dB；在静区的截面上，横向和上下移动待测天线，要求接收信号起伏不超过±0.25 dB。
2.天线测量的误差1)有限测试距离所引起的误差。
设待测的是平面天线，接收的来波沿其主波束的轴向。
若测试距离大小，由待测天线之不同部位所接受的场不能相同，因此具有平方根律相位差。
若待测天线恰位于源天线远场区的边界2D2/λ，其口径边缘与相位中心的场存在22.5度的相位差.若测试距离加倍，在相位差减半。
对于测量中等旁瓣电平的天线，距离2D2/λ通常已经足够，测出的增益约偏小0.06dB。
测试距离缩短会使测量误差迅速增大，旁瓣会与主波束合并成肩台式，甚至合为一体。
通常0.25 dB的锥销使测出的增益降低约为0.1 dB，并造成近旁瓣的些许误差。
2)反射。
直射波受从周围物体反射的干涉，在测试区域形成场的变化，由于该波波程差作为位置的函数而迅速变化，使起伏的长度属于波长的数量级。
微波暗室分类
微波暗室分类暗室一般分为电波暗室、微波暗室、雷达仿真测试暗室：3M法暗室产品描述：上海墨石电子3米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
整个的系统具有多功能用途，覆盖国际、欧洲、美国和各国的标准。
产品性能：1.频率范围：30MHz～18GHz2.吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB3.3M 法暗室及屏蔽控制室必须按照EN50147-1 进行测试，屏蔽效能至少能满足如下要求：4.归一化场地衰减：3M法暗室可确保在直径为2M的静区内从30MHz 至1GHz 测量的归一化位衰减(NSA、Normalized site Attenuation)与理论值偏差不超过±3.5dB（标准要求±4.0dB），符合ANSIC63.4--1992， CISPR16， EN50147-2 的要求。
5M法暗室产品描述:5米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
产品性能：和电磁敏感度（EMS）测试。
适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。
产品性能：2. 按照ANSI C63.4-2003的步骤和规定在直径3米的圆柱体静区内所有位置从30MHz至1GHz进行归一化场衰减测试，按照10米法测量的归一化衰减 (NSA)值与理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测试方法进行测试，仅在5GHz、10GHz 和18GHz三点进行测试,归一化衰减(NSA)值与理论值偏差优于±4dB。
同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、 GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的要求。
3. 按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz进行场均匀度测试，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测试距离要求16个测试点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测试仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测试。
微波暗室设计地要求说明书
微波暗室设计要求说明
1、主要用途：模拟自由空间，主要用于天线远、近场测试、分1m 法、3m 法或10m 法。
根据具体使用要求还可定制各种非标暗室。
2、性能指标：
频率范围：30MHz ～18GHz
（一）吸波材料反射损耗：30MHz ～18GHz ≥15dB （吸波材料采用复合吸波
测试方法按GB12190-90 标准
微波暗室内景
（三）归一化场地衰减± 4dB ，场均匀性0～6dB ，多径损耗均匀性±0.25dB 内。
3、结构组成：
（一）屏蔽室：屏蔽室由屏蔽壳体、屏蔽门、通风波导窗及各类电源滤波器等组成。
根据用户要求，屏蔽壳体可采用焊接式或拼装式结构均可。
（二）吸波材料：
1、单层铁氧体片：工作频率范围30MHz ～1000MHz 。
2、锥形含碳海绵吸波材料：锥形含碳海绵吸波材料是由聚氨脂泡沫塑料在碳胶溶液中渗透而成，具有较好的阻燃特性。
（三）其它：主要有信号传输板、转台、天线、监控系统等。
微波暗室静区性能仿真预测方法
微 波ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ暗 室 静 区 性 能 仿 真 预 测 方 法
洪 丽 娜 一 ，何 洪 涛 ，郝 晓军 ，周 波
（． １电子 信 息 系统 复 杂 电磁 环 境 效应 重 点 实 验 室 ，河 南 洛 阳 ４ ｌ ０ ；２中 国人 民解 放 军 ６ ８ ２ 队 ，河南 洛 阳 ４ １ ０ ） ７０３ ． ３９ 部 ７ ０ ３
第 １ ０卷 第 ３期 ２１ ０ ２年 ６月
信 息 与 电 子 工 程
Ｉ ＮＦＯＲＭＡＴ１ ０Ｎ ＡＮＤ ＥＬＥＣＴＲ０ＮＩ ＥＮＧＩ Ｃ ＮＥＥＲＩ ＮＧ
ＶＯ ． ０。 １ １ ＮＯ． ３
Ｊ ｎ． ２ ２ ｕ ． ０１
文 章 编 号 ： １ ７ ． ８ ２ ２ １ ）３ ０ ９ － ５ ６ ２ ２ ９ （ ０ ２ ０ － ２ ５０
２Ｕｎｉ ６３ ９２ｏ ． ｔ ８ ｆＰＬＡ， Ｌｕ ｙ ｎｇＨｅ ａ ７１ ０３， Ｃｈ ｎ ） ｏ ａ ｎ ｎ４ ０ ｉ ａ
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微波静区的概念
微波静区的概念微波静区指的是在微波暗室内受杂散波干扰最小的区域。
在短波通信中，自发射天线数十公里以外直至电离层把电波反射回地面以前的一个区域，也称为静区。
静区的特性以静区的大小、静区内的最大反射率电平、交叉极化度、场强均匀性、路径损耗、固有雷达截面、工作频率范围等参数来描述。
其中，静区内的最大反射率电平是主要因素。
因此，设计一个暗室时，必须规定静区的性能指标，然后由此来决定暗室的尺寸、吸波材料的选择等。
微波静区的设置需要满足以下条件：静区应尽可能大，以便微波信号可以更准确地传输。
在静区内，应该避免有任何可能反射微波信号的物体或结构，以防止信号干扰和失真。
静区的噪声电平应足够低，以便可以检测到微弱的微波信号。
静区的环境应该受到控制，以避免外部因素（如电磁干扰、振动等）对微波信号的影响。
为了实现这些条件，微波静区通常设置在具有良好电磁屏蔽性能的微波暗室内。
暗室的设计和建造需要满足一定的标准和技术要求，以确保其性能和稳定性。
在暗室内，可以设置适当的吸波材料和散射体，以消除微波信号的反射和散射，并降低噪声电平。
此外，暗室内还可以配备适当的测试设备和仪器，以对微波信号进行准确的测量和评估。
总之，微波静区的设置需要考虑到多方面的因素和要求，以确保其性能和质量。
在设置微波静区时，需要注意以下几点：静区的选择：在选择静区时，需要考虑其大小、形状、位置和环境等因素。
静区应该足够大，以容纳所需的测试设备和人员，并且其形状和位置应该有利于减少外部干扰和反射。
同时，静区的环境也应该受到控制，以避免外部因素对微波信号的影响。
吸波材料的选用：在静区内，需要使用适当的吸波材料和散射体，以消除微波信号的反射和散射，并降低噪声电平。
吸波材料的选用应该根据具体情况进行选择，以保证其性能和质量。
散射体的放置：在静区内，散射体的放置应该合理，以避免对微波信号产生影响。
散射体应该放置在合适的部位，以保证微波信号的传输和接收质量。
测试设备和仪器的选用：在静区内，需要使用适当的测试设备和仪器，以对微波信号进行准确的测量和评估。
微波暗室静区反射电平计算方法研究
Ｋ ｙ Ｗ ｏ ｄ ａ ｅ ｈ ｉ ｈ ｍｂ ｒ ｕｅ ｏ ｅ ｅ ｌｃ ａ ｃ ｖ ｌ ｅ ｒｓ ｎ ｃ ｏ ｃｃ ａ ｅ ，ｑ ｉ ｔ ｎ ，ｒ ｆｅ ｔ ｎ ｅ ｌ ｅ ，Ｆｉ ｉ ｆｅ ｅ ｃ ｍｅ Ｄｏ ｉ （ ＤＴＤ） ｚ ｅ ｎ ｔ Ｄｉ ｒ ｎ ｅ Ｔｉ ｍａ ｎ Ｆ ｅ ｆ Ｃｌｓ ｍｂ ｒ ＴＮ９ ８ ａ ｓ Ｎｕ ｅ ５
０ ０ ０ ） ６８ ０ 队 ５０ ３ （３ ８ 部
军
洛阳 ４ １０ ） ７０ ３
（ 放 军 军械 工 程 学 院 ” 石 家 庄 解
摘
要
微波 暗室静区性能 的仿真计 算通 常采用几何光学法 ， 而这种 方法对于高频场计算准确性较高 ， 当微波暗室应
用 于较低频率 时， 再利用这种方法就会产生较大的误差 。文章在探讨两种微 波暗室静区性能分析方法 的基础上 ， 提出在微 波 暗室仿真计算时 ， 对于高频段采用几何光学法 ， 低频则采用时域有限差分法 。两种分析方 法相互补充 ， 能够较好 的满足微
１ 引言
微波 暗室 的电性 能 主要 由静 区 的特性来 描述 。 静区性 能包 括 静 区 的 大 小 、 区 内 的最 大 反 射 电 静
平、 交叉极化 度 、 强均 匀 性 、 场 路径 损 耗 、 固有雷 达
指导意 义 。本 文正 是 针 对 常用 的微 波 暗室 静 区反 射电平仿 真分析 方法存 在 的问题 ， 出微 波 暗室仿 提
总第 １ ６ ９ 期
舰 船 电 子 工 程
Ｓ ｉ ｅ ｔｏ ｉ Ｅｎ ｉ ｅ ｒｎ ｈ ｐ Ｅｌｃ ｒ ｎｃ ｇｎ ｅ ｉｇ
Ｖｏ ＿ Ｏ ＮＯ １ ｌ３ ． ０
９ ２
２１ 年第 １ ００ ０期
微 波暗 室静 区反射 电平计 算 方 法研 究
emc10米暗室介绍大全
在屏蔽室的天花板和四面墙贴上吸波材料，地面的吸波材料采用活动式铺设，即构成EMC实验室。
该EMC暗室（实验室）为十米法半电波暗室，在30MHz至18GHz的频率范围内，在3米测量距离拥有2米静区，10米测量距离拥有3米或更大静区，该暗室满足FCC、CE和VCCI对十米法暗室的认证、测量规则暗室是模拟开阔场而进行EMC测量的，并提供一个电磁背景干净、场均匀性好的一个测量场地。
吸收微波只是吸波材料的特点而已。
暗室使用频率一般在10KHz~40GHz左右。
暗室吸波材料通常是用铁氧体加聚氨酯泡沫尖劈吸波材料组成的复合材料，铁氧体在1GHz以下，最佳在500MHz以下；聚氨酯泡沫尖劈吸波材料通常适在450MHz以上，耐高温、高场强。
为满足30MHz～40GHz的归一化场地衰减规则，通常暗室需采用铁氧体片和渗碳泡沫角锥或空心角锥复合型的宽带吸波材料。
民用为30M-18G，军用为9k-40GHz的频段。
根据文献报道，对于10m法暗室，为满足归一化场地衰减偏差≤±4dB规则，吸波材料在30～1000MHz垂直入射时反射系数应小于-20dB，45°入射角时小于-15dB。
对于1～40GHz频率范围，吸波材料垂直入射及45°角入射的反射系数也应不高于上述数值。
关于复合型宽带吸波材料，要注意以下两点：a)和铁氧体片组合的渗碳聚氨酯泡沫角锥，其含碳量不同于单独使用的角锥，对于这点，国内第一次（1995年）研制复合型吸波材料时并不清楚，而是沿用常规的角锥吸波材料的含碳量配方。
b)复合型吸波材料和屏蔽室之间宜加一层胶合板。
根据国外文献报道，增加这层电介质（胶合板）对改善反射系数是有益的。
没有下面的铁氧体和胶合板的暗室一般是用来测量天线的微波暗室，这个EMC暗室不一样，EMC暗室必须要有铁氧体1）EMC暗室模拟开阔场，也就是说五个面是没有任何障碍物，所以EMC暗室五个面要粘贴吸波材料，吸收电磁波，防止反射；而微波暗室是模拟自由空间，因此六个面都要粘贴吸波材料；2）测量原理不一样，EMC测量接收能量是通过空间直射和地面反射叠加值，而微波暗室是直接发射接收到的值；静区性能是微波暗室综合性能的体现，也是暗室设计的关键。
暗室参数要求及误差分析
暗室参数要求及误差分析1、暗室参数微波暗室的电性能指标主要由静区的特征来表征。
静区的特性又以静区的大小、静区内的最大反射电平、交叉极化度、场均匀性、路径损耗、固有雷达截面、工作频率范围等指标来描述。
影响暗室性能指标的因素是多元化的，也是很复杂的，在利用光线发射法和能量物理法则对暗室性能进行仿真计算时，需要考虑电波的传输去耦，极化去耦，标准天线的方向图因素，吸收材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影响。
但在实际的工程设计过程中，往往以吸收材料的性能作为暗室性能的关键决定因素。
1）交叉极化度：由于暗室结构的不严格对称、吸收材料对各种极化波吸收的不一致性以及暗室测试系统等因素使电波在暗室传播过程中产生极化不纯的现象。
如果待测试天线与发射天线的极化面正交和平行时，所测试场强之比小于-25dB，就认为交叉极化度满足要求。
2）多路径损耗：路径损耗不均匀会使电磁波的极化面旋转，如果以来波方向旋转待测试天线，接收信号的起伏不超过+-0.25 dB，就可忽略多路径损耗。
3）场均匀性：在暗室静区，沿轴移动待测试天线，要求起伏不超+-2dB；在静区的截面上，横向和上下移动待测天线，要求接收信号起伏不超过+-0.25 dB。
2、天线测量的误差1）有限测试距离所引起的误差设待测的是平面天线，接收的来波沿其主波束的轴向。
若测试距离大小，由待测天线之不同部位所接受的场不能相同，因此具有平方根律相位差。
若待测天线恰位于源天线远场区的边界2D2/，其口径边缘与相位中心的场存在22.5度的相位差。
若测试距离加倍，在相位差减半。
对于测量中等旁瓣电平的天线，距离2D2/通常已经足够，测出的增益约偏小0.06dB.测试距离缩短会使测量误差迅速增大，旁瓣会与主波束合并成肩台式，甚至合为一体。
通常0.25 dB的锥销使测出的增益降低约为0.1 dB，并造成近旁瓣的些许误差。
2）反射。
微波暗室分类
微波暗室分类暗室一般分为电波暗室、微波暗室、雷达仿真测试暗室：3M法暗室产品描述：上海墨石电子3米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
整个的系统具有多功能用途，覆盖国际、欧洲、美国和各国的标准。
产品性能：1.频率范围：30MHz～18GHz2.吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB3.3M 法暗室及屏蔽控制室必须按照EN50147-1 进行测试，屏蔽效能至少能满足如下要求：4.归一化场地衰减：3M法暗室可确保在直径为2M的静区内从30MHz 至1GHz 测量的归一化位衰减(NSA、Normalized site Attenuation)与理论值偏差不超过±3.5dB（标准要求±4.0dB），符合ANSIC63.4--1992， CISPR16， EN50147-2 的要求。
5M法暗室产品描述: 5米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。
产品性能：（EMI）和电磁敏感度（EMS）测试。
适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。
产品性能：1GHz进行归一化场衰减测试，按照10米法测量的归一化衰减 (NSA)值与理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测试方法进行测试，仅在5GHz、10GHz 和18GHz三点进行测试,归一化衰减(NSA)值与理论值偏差优于±4dB。
同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、 GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的要求。
3. 按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz进行场均匀度测试，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测试距离要求16个测试点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测试仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测试。
微波暗室静区性能
微波暗室静区性能测试方法2008 年 1 月微波暗室静区性能测试方法拟制审核会签微波暗室静区性能测试方法1概述微波暗室用于天线测量。
作为室内测量，微波暗室应能把发射天线直接辐射到接收天线主波束区以外的射频能量,尽可能地吸收或改变其反射方向，使之不进入接收天线的主波束区，即在接收天线所在区域内提供近似无反射的静区。
2测试项目2.1静区反射电平2.2交叉极化5.3场幅均匀性5.4多路径损耗3测试方法3.1行程线及其命名接收天线沿某线移动采集信号电平数据，该线称为行程线。
为了便于区别接收天线在不同频率、不同行程线、不同指向角〔方位θ〕时的采集结果，特作如下命名：XX XXX ． X表示测试频率表示接收喇叭方位角θ的度数测量行程线例如：ox090．3表示测量频率为3GHz，接收喇叭方位角θ=900，自O点沿OX行程线移至X点。
3.2静区测试方法静区性能的核心指标是反射电平，其它指标本质上均于反射电平有关。
静区反射电平可以采用自由空间电压驻波比法来测量。
微波暗室是一个模拟的“自由空间”，由于暗室内壁吸波材料吸收电磁波不完全，对于入射到它上面的电磁波始终存在着大小不同的反射，这些反射随空间位置的不同而不同，它们与直射波矢量迭加后就形成了自由空间电压驻波，其数量大小就反映了暗室空间反射电平的大小。
设E d为来自源天线的直射波场强，E r为等效反射波场强，它与轴线夹角为θ。
令接收天线方向图在θ方向的电平为A〔dB〕，则接收天线方向图最大值旋转到θ方向时，它在直射波方向收到的场强 E d’将为E d’= E d×10A/20设直射波 E d’和反射波 E r同相和反相时检测到的场强最大值和最小值分别用B〔dB〕和C〔dB〕来表示，则可分以下三种情况讨论：1)E r＜ E d’时B= 20l g(E d’+E r )/ E d’=20l g(E d10A/20+E r )/ E d10A/20C= 20l g(E d’-E r )/ E d’=20l g(E d10A/20-E r )/ E d10A/20则暗室反射电平Γ为Γ= 20l g(E r /E d)=A+20l g[(10(B-C)/20-1)/(10(B-C)/20+1)]2)E r =E d’时Γ=A3)E r＞E d’时同理可得Γ=20l g(E r /E d)=A+20l g[(10(B-C)/20+1)/(10(B-C)/20-1)]因此，只要测出空间驻波曲线和接收天线的方向图，就可以按上述三类情况计算出反射电平。
3米法暗室和10米法暗室介绍
在屏蔽室的天花板和四面墙贴上吸波材料，地面的吸波材料采用活动式铺设，即构成EMC实验室。
该EMC 暗室（实验室）为十米法半电波暗室，在30MHz至18GHz的频率范围内，在3米测量距离拥有2米静区，10米测量距离拥有3米或更大静区，该暗室满足FCC、CE和VCCI对十米法暗室的认证、测量规则。
一.用途：可对通讯设备、电子、电气设备进行EMC（EMC）测量，即电磁干扰（电磁干扰）和电磁敏感度（EMS）测量。
适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。
二.主要规格及性能1.屏蔽效能，满足EN 50147-1、GB12190-90。
技术参数如下：频率屏蔽效能14 kHz ＞60 dB 磁场100 kHz ＞ 80 dB 磁场100 kHz ＞ 100 dB 电场1 MHz ＞100 dB 磁场1 MHz ＞100 dB 电场100 MHz ＞ 100 dB 电场1 GHz ＞100 dB平面波10 GHz ＞100 dB微波18 GHz ＞100 dB微波100 MHz ＞ 100 dB电场 1 GHz ＞100 dB &nb2.按照ANSI C63.4-2003的步骤和规定在直径3米的圆柱体静区内所有位置从30MHz至1GHz进行归一化场衰减测量，按照10米法测量的归一化衰减(NSA)值和理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测量方法进行测量，仅在5GHz、10GHz和18GHz三点进行测量,归一化衰减(NSA)值和理论值偏差优于±4dB。
同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的规则。
3.按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的规则，在30MHz至1GHz进行场均匀度测量，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测量距离规则16个测量点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测量仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测量。
微波暗室静区计算方法
微波暗室静区计算方法
微波暗室静区是一种用于测试和研究微波设备的实验室环境。
在这个区域内，微波信号的反射和干扰被最小化，以确保实验结果的准确性和可靠性。
下面将介绍微波暗室静区的计算方法，以帮助读者更好地理解这一概念。
微波暗室静区的计算方法主要涉及到电磁场的传播和反射特性。
为了实现暗室静区，需要采取一系列措施来减小电磁信号的干扰。
首先，暗室内部需要被高吸波材料包围，这些材料能够有效地吸收微波信号，减少反射。
其次，暗室内部的结构应该设计合理，尽量避免信号的多次反射和散射。
最后，暗室的尺寸和形状也会对静区的形成产生影响，需要根据具体的实验需求进行优化。
在计算微波暗室静区时，可以采用有限元方法或射线追踪法等数值计算方法。
有限元方法适用于复杂的结构和边界条件，能够较准确地描述电磁场的分布情况。
射线追踪法则是一种较为简单和直观的方法，通过追踪射线的路径来计算电磁场的传播和反射特性。
根据计算结果，可以评估微波暗室静区的性能。
常用的评估指标包括反射损耗、传输损耗、场均匀性等。
反射损耗是指微波信号在暗室内部的吸收和散射程度，反映了暗室的吸波性能；传输损耗是指信号在暗室内部传播过程中的损耗程度，反映了暗室的传输性能；场均匀性是指暗室内部电磁场的均匀程度，反映了暗室的电磁性能。
微波暗室静区的计算方法对于微波设备的设计和实验研究具有重要意义。
通过合理的计算和优化，可以提高微波设备的性能，并保证实验结果的准确性和可靠性。
希望本文能够帮助读者更好地理解微波暗室静区的计算方法，为微波设备的研究和应用提供参考。
多探头微波暗室(含标准天线)需求参数公示
多探头微波暗室（含标准天线）需求参数公示一、技术标准（一）具体技术指标要求1、外边界尺寸：1.8m（宽）×1.10m（厚）×1.95m（高）2、屏蔽壳体内切圆直径：1.75m3、静区中心到测量天线口径的距离R：800mm4、屏蔽性能≥70dB5、内表面电磁波吸波材料处理：20cm高性能尖劈吸波材料6、箱体内整装测量天线：10对正交右旋和左旋圆极化探头天线测量天线性能（1~2.5GHz）射频端口VSWR：≤1.5dB右旋圆极化椭圆度轴比：≤1.5dB7、一维转台：负重20kg，0.5°分辨率8、低介电常数待测物件支撑平台9、被测终端支架10、屏蔽门：50cm（宽）×50cm（高）手动门11、有效测试区域：250mm直径×250mm高柱形区域12、系统工作频率范围：1.0GHz~2.7GHz13、系统测量精度估算：路径最大标准误差：±0.5dB测试区最大反射干扰：±0.25dB最大被测检件摆放和缆线干扰：±0.5dB允许测量仪表读数误差：±0.5dB测量系统总误差：±0.9dB(K=2);±1.75dB（最大可能误差）14、标准天线性能型号：右旋圆极化：RA1225RH/左旋圆极化：RA1225LH 尺寸：182mm*182mm*104mm频段：1.1 GHz-2.5 GHz轴比：≤1.3dB重量：<0.5 kg法向增益：≥3dBi输入阻抗：50 Ω（二）配置单— 2 —（三）实施人员要求相关专业人员实施安装。
（四）生产及安装调试等要求1、供方负责本项目所需设备的运输、安装、调试、测试等，设备到达用户所在地后，5天内供方须组织专业队伍进行安装调试作业，并自带安装调试所需全部工具，安装调试作业包括硬件的安装调试以及软件安装服务，安装所需的所有费用由供方承担，直至通过验收；2、设备安装调试完毕后，供方应向需方提交第三方检测机构开具的设备计量证书。
暗室静区测试系统及暗室静区测试方法与设计方案
图片简介:本技术提供了一种暗室静区测试系统及暗室静区测试方法，测试系统包括：发射装置、接收装置、伺服机器人、以及控制装置；发射装置设于暗室远离所述静区的一端并发射测试信号；接收装置设于伺服机器人上，包括用于接收测试信号的接收天线及处理测试信号的信号处理模块；伺服机器人设于暗室静区内，并用于调整接收天线的空间位置；所述控制装置用于控制发射天线发射毫米波信号、接收并处理信号处理模块的结果、控制伺服机器人的工作状态以支持接收天线的俯仰角和方位角调节及在对应俯仰角和方位角下在X轴、Y轴、Z轴三个轴向上行进并接收信号。
该测试系统轻便、便于携带，可为有需要客户提供上门服务。
技术要求1.一种暗室静区测试系统，适用于测试暗室静区参数，其特征在于，包括：发射装置、接收装置、伺服机器人、以及与发射装置、接收装置及伺服机器人均电连接的控制装置；所述发射装置设于暗室远离所述静区的一端，包括用于发射测试所需毫米波信号的发射天线；所述接收装置设于伺服机器人上，用于接收毫米波信号；所述伺服机器人设于所述暗室静区内，并用于调整接收天线的空间位置；所述控制装置用于控制发射天线发射毫米波信号、接收并处理信号处理模块处理的结果、控制伺服机器人的工作状态以支持接收天线的俯仰角和方位角调节及在对应俯仰角和方位角下在X轴、Y轴、Z轴三个轴向上行进并接收信号。
2.根据权利要求1所述的暗室静区测试系统，其特征在于，所述控制装置设于所述暗室外部，并经传输线缆与发射装置、接收装置和伺服机器人电连接。
3.根据权利要求1所述的暗室静区测试系统，其特征在于，所述控制装置包括仪器柜和计算机，所述仪器柜与所述发射装置、接收装置和伺服机器人电连接，所述计算机与仪器柜电连接，用于向仪器柜发送控制信号和显示暗室静区的测试结果。
4.根据权利要求3所述的暗室静区测试系统，其特征在于，所述接收装置包括用于接收毫米波信号的接收天线和用于对接收天线接收的信号进行预处理的信号处理模块，所述信号处理模块与接收天线之间通过弯波导连接。
微波暗室技术配置
微波暗室技术配置一、基本要求通过采取屏蔽措施,有效衰减周围环境中的电磁干扰，也避免室内测试电磁场对周围环境的辐射。
同时吸波材料用于微波暗室的顶面、地面及墙面部位的安装和铺放，以获得合格的电磁测试环境。
总体性能满足天线近场测试的技术要求。
二、暗室尺寸与布局暗室布局如图1所示：暗室屏蔽净空尺寸:41. 3m(L) X38. Om(W) X22. 8m(H)(其中0. 5m在零标高以下)。
类似结构示意图如下暗室配置1扇电动屏蔽大门用于大型设备的进出，2扇屏蔽小门用于人员和小型设备的进出，2扇屏蔽小门用于消防逃生。
暗室的指定区域内可安装两套近场扫描系统，其中第一套扫描架系统安装位置(扫描架基础1)见图1,第二套扫描架系统需预留扫描架基础。
屏蔽体可采取必要的吊挂及支撑措施与周围建筑体连接，需向建筑设计单位提供相关需求。
与本次建设的平面测量系统的配套为：1间非屏蔽控制室尺寸为：20m(L) X 5. 7m(W)X3. 5m (H)(暂定)，1间会议室，1间休息室，1间扫描架备件储藏室及1间待测天线(AUT)储藏室。
具体建筑位置见图1,具体建筑尺寸可参照原预留房间尺寸。
图1暗室布局示意图三、主要性能指标暗室功能：利用平面近场方法实现各类天线的测量。
工作频率范围：0.3〜40GHz 暗室屏蔽效能（不包括吸波材料）：0.3〜1GHz ： 295dB （平面波） 1〜10GHz ： 295dB （微波） 10〜18GHz ： 290dB （微波） 18〜40GHz ： 280dB （微波）静区尺寸：33m （L ） X16m （H ） X5m （W ）（注：待测天线距离测试探头的距离：按低频段0. 3GHz 对应的5个波长计 算为5米，可覆盖最低可测频段到0.2GHz ）平面近场测试工作区域反射电平：0.3〜1GHz ： W-35dBX ™-会议室1 测控室1各件锄《 （实施） （实施）扫描架基础2 （预扫描架基础1 （实休息室1 （实At1 〜2GHz： W-40dB2〜12GHz： W-50dB12〜40GHz： W-55dB四、主要配置如表表1屏蔽工程主要设备清单五、屏蔽部分介绍屏蔽效能，除符合暗室总体屏蔽效能指标要求外，还应满足GB12190.EN50147-1和MIL-STD285要求，所有设施和配套部件不应影响其屏蔽效能。
微波暗室静区性能测量及影响因素分析
微波暗室静区性能测量及影响因素分析作者：白昀初来源：《物联网技术》2019年第05期摘要：在天线、雷达等无线通信产品和电子设备的测试中，微波暗室是一个理想的场所，在民用、军事及专项工程领域得到了广泛应用，如何评估暗室的静区性能也变得愈发重要。
基于测量静区反射电平的自由空间电压驻波比（VSWR法），给出了测量原理和具体的测量过程，以及测量系统的布置方案，并通过测量实例进行验证。
结合实际测量中出现的问题，对可能影响测量结果的因素和需要注意的问题进行了分析，并提出了相应的解决方案，对微波暗室的日常使用维护和微波暗室性能测量系统的组建具有一定的参考价值。
关键词：微波暗室;静区反射电平;VSWR法;影响因素;无线通信;性能测量中图分类号：TP39;TN98 文献标识码：A 文章编号：2095-1302（2019）05-00-020 引言静区指暗室内电场均匀性满足规范要求的空间区域，评价一个暗室静区的性能指标是否合乎要求，主要参考指标为反射电平。
静区反射电平的现行测量方法主要包括两种，即VSWR 法与天线方向图比较法[1-2]。
在实际测量时，优先选用VSWR法。
对于微波暗室的静区反射电平的测量结果，目前尚未有相关标准和规范能对其进行评价，而且在实际测量中，微波暗室的静区性能会受到暗室环境和测量系统内产生的误差等因素影响，无法对微波暗室的静区性能进行准确评价。
1 静区反射电平测量过程及测试实例微波暗室性能测量系统如图1所示，可按具体功能划分为如下三部分：（1）信号发射部分由发射天线、转台及升降杆，信号源组成;（2）信号接收部分由接收天线，转台及扫描架，频谱仪组成;（3）控制部分包括程控计算机，扫描架控制器及射频线缆、网线等。
信号源的信号经发射天线发射后，通过计算机对接收天线转台进行控制，在频谱仪上实时采集接收信号电平参数，完成测试数据的统计处理及结果析。
VSWR法是在若干个给定的离散方位角上，在待测静区内选定的行程线上进行重复测量。
微波暗室静区性能的测量方法
微波暗室静区性能的测量方法
王志宇;乔闪;袁宇;皇甫江涛;冉立新;周慧忠
【期刊名称】《微波学报》
【年(卷),期】2007(23)B08
【摘要】本文给出了使用自由空间驻波法进行微波暗室静区性能测量的基本原理,并以实际测量为例,给出了使用对数周期天线、矢量网络分析仪对一矩形微波暗室静区性能进行测量的详细步骤及检验方法。
本文对微波暗室的建设、使用和维护具有一定的指导意义,对使用微波暗室进行天线和微波后向散射测量也有一定的参考意义。
【总页数】4页(P69-72)
【关键词】微波暗室;静区;测量
【作者】王志宇;乔闪;袁宇;皇甫江涛;冉立新;周慧忠
【作者单位】浙江大学信息与电子工程系;浙江省信息产品质量检测中心
【正文语种】中文
【中图分类】TN97;TU238.2
【相关文献】
1.微波暗室静区反射率电平的能量法仿真 [J], 叶圣天;邓智平;刘朝辉;周国柱
2.制导舱微波暗室静区性能的测量方法 [J], 陈奇平;王万富;徐耀年;武亚君
3.微波暗室内静区的功率比计算模型 [J], 杨春峰;杨敏;叶文超
4.微波暗室静区性能仿真预测方法 [J], 洪丽娜;何洪涛;郝晓军;周波
5.微波暗室静区性能测量及影响因素分析 [J], 白昀初
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天线微波暗室设计方案
第一部分：天线微波暗室设计方案书一、范围1、主题内容微波暗室性能和屏蔽性能总体方案设计书重点是根据微波暗室技术要求，论证了微波暗室吸波材料的选择、微波暗室性能、暗室屏蔽材料的选用，暗室屏蔽的关键件：门、通风窗、电源滤波器、屏蔽接地等主要问题，并确定最佳方案，以保证微波暗室屏蔽性能、暗室性能达到贵所提出的性能指标。
2、适用范围本设计书适用于微波暗室建设工程，待中标后作为设计依据。
二、引用文件1. GJBz20219-94中华人民共和国国家军用使用标准《军用电磁屏蔽室通用技术要求和检验方法》2.微波暗室技术要求三、微波暗室设计微波暗室，就是从几何上比较对称，建筑空间满足一定要求的房屋中安装吸波材料，使室的各内壁、天棚、地板对于所接收到的电磁波反射甚微，从而较好的模拟自由空间环境，进行室内天线测试的场所。
1、技术要求1.1屏蔽效能（包括所有屏蔽间）1GHz～20GHz≥100dB20GHz～40GHz≥80dB1.2暗室性能（屏蔽暗室）工作频率范围:400MHz～40GHz反射电平:-38dB～-50dB静区的范围:Ø1.2m×1.2m（中心位于暗室长轴中轴线,转台上方）场不均匀性:横向 ≤±0.3 dB纵向 ≤±2 dB交叉极化率：－25 dB2、设计微波暗室的基本思路随着天线技术的发展，天线测试技术也随着发展。
就天线方向图测试方法来说，以往人们熟知的方法是室外场地远场测试。
但由于微波吸收材料技术和计算机的飞跃发展，以及其他学科，如全息照相技术的成熟，方向图测试技术从室外场地测试发展到相互竞争又相互补充的多种测试方法。
由以往的室外测试逐渐转为室内测试为主，室外测试为辅。
近年来大量微波暗室建成使用，就是鲜明的标志。
国内已建成微波暗室80多个，有些正在筹建中，而国外建成的微波暗室超过400多个。
3、微波暗室尺寸确定准则微波暗室的几何尺寸和微波暗室的性能与里面的实验产品类型有关。
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微波暗室静区性能
测试方法
2008 年 1 月
微波暗室静区性能
测试方法
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微波暗室静区性能测试方法
1概述
微波暗室用于天线测量。
作为室内测量，微波暗室应能把发射天线直接辐射到接收天线主波束区以外的射频能量,尽可能地吸收或改变其反射方向，使之不进入接收天线的主波束区，即在接收天线所在区域内提供近似无反射的静区。
2测试项目
2.1静区反射电平
2.2交叉极化
5.3场幅均匀性
5.4多路径损耗
3测试方法
3.1行程线及其命名
接收天线沿某线移动采集信号电平数据，该线称为行程线。
为了便于区别接收天线在不同频率、不同行程线、不同指向角（方位θ）时的采集结果，特作如下命名：XX XXX ． X
表示测试频率
表示接收喇叭方位角θ的度数
测量行程线
例如：ox090．3表示测量频率为3GHz，接收喇叭方位角θ=900，自O点沿OX行程线移至X点。
3.2静区测试方法
静区性能的核心指标是反射电平，其它指标本质上均于反射电平有关。
静区反射电平可以采用自由空间电压驻波比法来测量。
微波暗室是一个模拟的“自由空间”，由于暗室内壁吸波材料吸收电磁波不完全，对于入射到它上面的电磁波始终存在着大小不同的反射，这些反射随空间位置的不同而不同，它们与直射波矢量迭加后就形成了自由空间电压驻波，其数量大小就反映了暗室空间反射电平的大小。
设E d为来自源天线的直射波场强，E r为等效反射波场强，它与轴线夹角为θ。
令接收天线方向图在θ方向的电平为A（dB），则接收天线方向图最大值旋转到θ方向时，它在直射波方向收到的场强 E d’将为
E d’= E d×10A/20
设直射波 E d’和反射波 E r同相和反相时检测到的场强最大值和最小值分别用B（dB）和C（dB）来表示，则可分下列三种情况讨论：
1)E r＜ E d’时
B= 20l g(E d’+E r )/ E d’=20l g(E d10A/20+E r )/ E d10A/20
C= 20l g(E d’-E r )/ E d’=20l g(E d10A/20-E r )/ E d10A/20
则暗室反射电平Γ为
Γ= 20l g(E r /E d)=A+20l g[(10(B-C)/20-1)/(10(B-C)/20+1)]
2)E r =E d’时
Γ=A
3)E r＞E d’时
同理可得
Γ=20l g(E r /E d)=A+20l g[(10(B-C)/20+1)/(10(B-C)/20-1)]
因此，只要测出空间驻波曲线和接收天线的方向图，就可以按上述三类情况计算出反射电平。
E r和 E d’的大小判别方法是：由于E d’随天线的移动有规律变化，E r无规律变化，在某一取向角上，如果实测空间驻波曲线的平均值出现无规律的变化，就能判别 E r> E d’，或在这个取向角上，实测空间驻波曲线的平均电平比在这个取向角上方向图电平高，也能判别E r >E d’。
测试反射电平的操作过程如下：
A.接收天线在θ=00方向的参考线，由空间驻波曲线包络的平均值，获得反射电平计算所需接收天线方向图在θ方向的电平A（dB）。
B.将接收天线的方向图最大值在θ=00~ ±900范围内以适当的间隔指向θ方向，接
收天线沿测量行程线移动并记录空间驻波曲线。
C.空间驻波曲线计算出相应的反射电平。
不同频率、极化、取向角等条件下重复上述测量过程，,完成暗室静区反射电平检测。
f(GHz):8GHz，10GHz，18GHz
θ角分别为0°、30°、60°、90°、270°、300°、330°
两种极化状态
经数据处理(应满足远场条件)求出暗室静区性能数据。
3.3交叉极化度验收测试方法
将线极化的发射天线和接收天线置于微波暗室的纵轴线上，其方向图的最大值彼此相互对准，距离满足远场测试条件，接收天线位于所需测试的区域内。
当发射天线为水平极化时，以接收天线相同极化状态下的接收电平为参考电平，记录接收天线垂直极化时的信号电平，它与参考电平之差即为交叉极化电平。
当发射天线为水平极化时，以接收天线相同极化状态下的接收电平为参考电平B0，在使用频率范围内（8～40GHz）抽取10GHz、18GHz两个频率点进行测试，测得的数值分别与B0的差值（B0－测量值）为交叉极化度。
两组数据应分别优于25dB。
3.4场强幅值均匀性验收测试方法
场强幅值均匀性测试方法同静区测试方法一样，不单独再做；沿行程线C1D1，θ＝0°时，收、发天线发射接收的数据，接收电平差即为场强幅值差，其差值应优于±0.25dB ；沿行程线O1O2，θ＝0°时，收、发天线发射接收的数据，分别测出两个端点的接收电平，求出两点的电平差即为场强幅值差，其差值应优于±2dB 。
3.5多路径损耗验收测试方法
将发射天线和接收天线置于暗室纵轴线上，抽取10GHz、18GHz两个频率点，其方向图的最大值相互对准，距离满足远场测试条件，接收天线位于静区内，将发射天线和接收天线保持相同的极化方向，同步旋转，隔22.5°记录一次接收功率电平（旋转360°），标称值为接收电平平均值，其信号电平的变化程度即为多路径损耗，该值应满足±0.25dB。
4安全要求
为确保操作人员及设备的使用安全，需要遵守以下规定：
a)测试时，暗室内的喇叭前向辐射区无任何障碍物、无工作人员；
b)测试时，需要在暗室内放置的电器类设备的供电要注意电气安全；不测时断开供电电源。
5屏蔽接地
接地电阻﹤1Ω
微波暗室静区性能测试方法
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com 7。