发射率修正方法

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固定发射率工作用辐射温度计校准方法研究

固定发射率工作用辐射温度计校准方法研究余时帆;崔超;王晓;熊玉亭;沈才忠【摘要】讨论分析了用于校准固定发射率工作用辐射温度计的原理.在校准中,应用辐射面源是必要的,其发射率应与温度计的固定发射率一致,以保证温度量值传递的准确性,并分析了由于两个发射率的不一致而带来的温度误差,给出了在不同温度下由发射率偏离而引起的温度误差计算式.在发射率为0.95、温度为700 K的情况下,最大误差可以达到15 K.如果实际测量对象的发射率与温度计的固定发射率相同,则可以直接测量出被测对象的真实温度.【期刊名称】《计量学报》【年(卷),期】2017(038)001【总页数】3页(P40-42)【关键词】计量学;辐射温度计;黑体;固定发射率;辐射面源【作者】余时帆;崔超;王晓;熊玉亭;沈才忠【作者单位】浙江省计量科学研究院,浙江杭州310018;浙江省计量科学研究院,浙江杭州310018;浙江省计量科学研究院,浙江杭州310018;浙江省计量科学研究院,浙江杭州310018;浙江省计量科学研究院,浙江杭州310018【正文语种】中文【中图分类】TB942随着辐射测温在各个领域中的广泛应用，市场上出现了型号众多、结构各异以及波长范围不同的工作用辐射温度计。

这些温度计大致可以分为两类：可调整发射率(调整范围从0～1)的温度计和不可调整的固定发射率(小于1)的温度计[1]。

前者适用于各种目标的温度测量，而后者则主要针对某些特定的测量对象。

在工作用辐射温度计中，固定发射率温度计占有相当数量的份额[2]。

其中，最为常见的是发射率为0.95的温度计，当然也可看到少量的其他发射率如0.8左右、0.38等的温度计[3]。

这些温度计主要用于长波下(例如8～14 μm)的中低温特定目标的温度测量。

理想情况下，当被测对象的表面发射率与温度计的固定发射率一致，则可用温度计直接测量出被测对象的真实温度[4～6]。

新颁布的JJG 856—2015《工作用辐射温度计检定规程》，主要适用于可调整发射率的工作用辐射温度计，而不适用于固定发射率的温度计。

(整理)怎样调整红外测温仪发射率

红外线测温仪-发射率表！
发射率
发射率是指物体放射或吸收能量的能力。理想的发射器具有可以发射100%射入能量的发射率。一个具有0.8发射率的物体可以吸收80%的射入能量，而把其他的20%反射掉。发射率是一个物体在特定的温度下辐射出的能量和在同样温度下一个理想的辐射体所放射出的能量的比率。发射率的数值一般是在0.0和1.0之间。
当我们需要对红外辐射的效果进行量化时，我们就需要测量红外辐射的温度，此时就要用到红外测温仪。材料不同，所表现的红外辐射特性也不同。在使用红外测温仪读取温度之前，我们率=吸收率+反射率+透射率
无论何种红外辐射，一旦发出都将被吸收，,因此吸收率=发射率。红外测温仪所读取的正是物体表面发出的红外辐射能量，红外辐射仪无法读取空气中散失的红外辐射能量，因此在实际测量工作中我们可以忽略透射率不计，这样我们就得到一个基本的红外辐射测量公式：
怎样调整红外测温仪发射率
型号:红外线测温仪厂商:北京金泰科仪检测仪器有限公司
怎样调整红外测温仪发射率
（6）环境影响评价结论的科学性。红外线(IR)辐射
红外线辐射无处不在而且永无休止，物体之间的温差越大，辐射现象就越明显。真空可将太阳发出的红外线辐射能量通过9300万英里的时空传送到地球，被我们吸收,为我们带温暖。当我们站在商场的食品冷藏柜前时，我们身体发出的红外辐射热量被冷藏食品吸收，令我们感到非常凉爽。这两个例子中辐射效果都非常的明显，我们可以明显感觉到其中的变化并感觉到它的存在。
对于绝大多数红外测温仪来说，唯一需要设置的就是被测材料的额定发射率，该值通常预设为0.95，这对于测量有机材料或涂有油漆的表面就足够了。
通过调整测温仪发射率，可以补偿部分材料表面红外辐射能量不足的问题，尤其是金属材料。只有被测物体表面附近存在并反射高温红外辐射源时才需要考虑反射率对测量的影响。

如何调整红外测温仪发射率

如何调整红外测温仪发射率红外测温仪是利用物体辐射红外线的原理来测量物体表面温度的仪器。

而发射率是红外测温仪能够准确测量物体表面温度的一个关键参数，因此调整红外测温仪的发射率非常重要。

发射率是一个介于0和1之间的数值，用来描述物体辐射能力的大小。

发射率越高，物体辐射的能量越多，测温仪测得的温度就越准确。

不同材料的发射率普遍存在差异，因此在使用红外测温仪之前，需要根据被测物体的材料来调整测温仪的发射率。

下面是一些调整红外测温仪发射率的方法：1.使用预设发射率：一些红外测温仪可以提供一些常见材料的预设发射率，用户可以从预设列表中选择适合的发射率。

这种方法简单易行，但是对于特殊材料或不同表面处理的物体来说，可能会引入一定的误差。

2.查找发射率表：另一种方法是查找相关的发射率表，这些表中列出了许多常见物体材料的发射率数值。

用户可以根据被测物体的材料，在表中找到相应的发射率数值并进行设定。

这种方法相对准确，但是需要额外的查找工作。

3.利用样品与测温仪校准：如果红外测温仪可以进行校准的话，可以利用已知温度的样品与测温仪进行校准。

首先，将样品置于已知温度环境中，然后使用红外测温仪测量样品的温度。

根据已知温度和测量温度的差异，可以计算得到红外测温仪的实际发射率，并进行设定。

4.实验测量发射率：另一种方法是利用实验测量的方式来确定物体的发射率。

首先，使用红外测温仪测量一个物体的温度，再使用其他准确的温度测量仪器（如热电偶或热电阻温度计）测量同一物体的温度。

比较红外测温仪测量的温度和准确测量仪器测量的温度差异，可以用来计算物体的发射率。

无论采用哪种方法来调整红外测温仪的发射率1.保持测温仪与被测物体之间的距离适当，以确保测量准确性。

2.考虑被测物体的表面处理情况，对于不同的材料和表面处理方式，发射率可能有所差异。

3.注意测温仪的环境条件，如温度、湿度等，这些因素也可能会对测量结果产生影响。

总之，发射率是红外测温仪进行准确测量的重要参数。

2πα、2πβ粒子发射率现场校准装置的建立

2πα、2πβ粒子发射率现场校准装置的建立李泽西;贺海江;梁珺成;单健;甘亚洲;杨志杰;刘皓然;张明【摘要】基于大面积无窗流气正比计数器和多道能谱测量单元,建立了2πα、2πβ粒子发射率现场校准装置.性能测试结果表明:该装置对α平面源的坪区为700～1 500V,坪长为800 V,坪斜为0.25％/100 V;对β平面源的坪区为1 650～2 050V,坪长为400V,坪斜为0.44％/100V.使用该装置测量2π α、2πβ粒子发射率基准装置定值的标准平面源,经各项修正后,结果与基准测量结果在不确定度范围内一致.在现场校准了一批α、β标准平面源,校准结果与上一校准周期的结果在不确定度范围内一致,验证了该装置作为现场测量标准装置实现粒子发射率量值现场传递的可行性.【期刊名称】《计量学报》【年(卷),期】2017(038)001【总页数】6页(P117-122)【关键词】计量学;粒子发射率;平面源;量值传递;核素污染【作者】李泽西;贺海江;梁珺成;单健;甘亚洲;杨志杰;刘皓然;张明【作者单位】南华大学核科学技术学院,湖南衡阳421001;中国计量科学研究院,北京100029;中国计量科学研究院,北京100029;中国地质大学,北京100083;中国计量科学研究院,北京100029;南华大学核科学技术学院,湖南衡阳421001;中广核(深圳)辐射监测技术有限公司,广东深圳518124;中国计量科学研究院,北京100029;中国地质大学,北京100083;中国计量科学研究院,北京100029;中国计量科学研究院,北京100029【正文语种】中文【中图分类】TB98放射性同位素的广泛应用使得放射性表面污染难以避免[1，2]。

在核电、核医学、环境保护、职业病防控等领域，放射性表面污染需要用α、β放射性表面污染仪或监测仪来进行测量，而这些仪器需要使用大面积α、β标准平面源来校准。

α、β标准平面源的计量检测需要2π α、2π β粒子发射率校准装置绝对测量装置来完成[2，3]。

有效亮度温度测量中发射率影响的修正

有效亮度温度测量中发射率影响的修正原遵东;邢波;柏成玉;傅承玉;陈桂生【摘要】The cIassicaI cOrrectiOn mOdeI with the Wien and ambient-radiatiOn-Iess apprOximatiOns is nOt suitabIe fOr emissivity cOrrectiOn and uncertainty evaIuatiOn middIe and IOw temperature infrared thermOmetry. The effective radiance temperature cOncept is adOpted tO Obtain the emissivity effect mOdeI,with wide vaIidity fOr measured temperature and measuring waveIength and its differentiaI fOrm with ObviOus physicaI meanings. The errOr using the cIassicaI cOrrectiOn mOdeI is discussed under the middIe and IOw temperature measurements. The emissivity cOrrectiOn methOds are described under different bIackbOdy radiatOr traceabIe apprOaches in radiatiOn thermOmeter caIibratiOn,and an exampIe is given. The methOd discussed is suitabIe fOr the emissivity and refIected ambient radiatiOn cOrrectiOns and assOciated uncertainties caIcuIatiOns in the appIicatiOns and caIibratiOns Of radiatiOn thermOmeters and bIackbOdy radiatOrs.%经典的短波高温修正模型不适用于中长波红外温度计的发射率修正和不确定度评定。

一种用于红外测温系统的发射率校准方法[发明专利]

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 202010476548.9(22)申请日 2020.05.29(71)申请人红鼎互联（广州）信息科技有限公司地址 510000 广东省广州市天河区海乐路12号3702房(仅限办公用途)(72)发明人陈圆　(74)专利代理机构北京化育知识产权代理有限公司 11833代理人尹均利(51)Int.Cl.G01J 5/00(2006.01)G01J 5/06(2006.01)(54)发明名称一种用于红外测温系统的发射率校准方法(57)摘要本发明公开了一种用于红外测温系统的发射率校准方法，属于红外测温技术领域，包括计算机，所述计算机的输入端设置有热电偶测温仪，所述热电偶测温仪包括数据传输模块，其中，所述计算机的输入端通过导线连接有数据传输模块；本发明通过设置热电偶测温仪，精确的对待测物体的温度进行测定，保证测量精度，提高测量范围，保证使用的便利性，并可通过热电偶测温仪的数据与红外测温仪的温度数据进行对比，提高红外测温仪发射率调节的精度，提高测温的可靠性，保证校准的便利性，提高工作效率，保证使用质量，确保测量结果的准确可靠，并可在持续工作的过程中进行同步修正，防止出现测量误差。

权利要求书1页说明书2页附图2页CN 111912526 A 2020.11.10C N 111912526A1.一种用于红外测温系统的发射率校准方法，包括计算机(3)，其特征在于：所述计算机(3)的输入端设置有热电偶测温仪(5)，所述热电偶测温仪(5)包括数据传输模块(51)，其中，所述计算机(3)的输入端通过导线连接有数据传输模块(51)。

2.根据权利要求1所述的一种用于红外测温系统的发射率校准方法，其特征在于：所述热电偶测温仪(5)的输入端通过导线连接有热电偶探头(4)。

3.根据权利要求2所述的一种用于红外测温系统的发射率校准方法，其特征在于：所述计算机(3)的另一个输入端连接有红外测温仪(2)，所述红外测温仪(2)中设置有数据处理模块(21)，所述红外测温仪(2)的输入端设置有红外测温探头(1)。

发射率修正

Fluke Corporation 热像仪可望可及，问题点即拍即得更多热像仪信息请参考： http://www .fluke. com. cn / theory – Emissivity – 20080911 发射率修正发射率是影响红外温度检测精度的重要参数之一，因各目标表面性质不尽相同，故发射率会有很大差别；若不能准确设置发射率，则会造成测量误差，本章讲述的是如何修正发射率，满足客户精确测量的需求。

热像仪原理 — 发射率什么是发射率？发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。

（黑体是一种理想化的辐射体，可辐射出所有的能量，其表面的发射率为1.00）各种物质的发射率是由物体的本身材质所决定，相同的温度下，物质不同，向外辐射的能量也会不同。

例如下图，电工绝缘胶带贴在不锈钢杯的表面，将红外热像仪的发射率设为胶带的发射率（0.93），同时使用接触式热电偶测量温度，可以看到绝缘胶带处温度与接触式测温一致，而不锈钢杯表面与胶带的发射率不同，故温度显示有较大差别。

影响发射率的因素有哪些？我们将检测的目标分为非金属和金属材料两大部分，大多数非金属材料（如塑料、油漆、皮革、纸张等）发射率可设置为0.95，相同材质、不同颜色的目标其发射率非常接近，误差通常不超过测量精度范围；部分表面光亮的非金属材料发射率较低（如瓷砖、玻璃等），这些材料需要参考后页内容进行发射率确认。

金属材料的发射率会受到下列因素的影响：材料不同材料的发射率不同，如铜的发射率一般来说比铝高。

表面光洁度通常表面粗糙的材料发射率比光洁表面高。

表面颜色以黑色为代表的深色系表面发射率比浅色系高。

表面形状表面有凹陷、夹角或不平整规则的部位比平整的部位发射率高，如通常我们在检测模具加热时会发现温度有偏高的部位，但实际上该模具温度是均匀的，偏高的位置往往是表面不规则的部分。

发射率确定方法 – 查表法查阅发射率表确定相应材料的发射率。

红外热像检测发射率修正方法

查阅方法
注意事项
发射率确定方法 – 绝缘胶带法
发射率确定方法 – 喷漆法
操作方法
适用场合
发射率确定方法 – 涂抹法
操作方法
适用场合
操作方法建议使用Fluke 566或Fluke 17B的接触式测温功能。（右侧图片红圈处）适用场合测量方便，但需注意现场是否允许进行表面接触测温。（特别是带电、运动等现场）注意事项应使热电偶与被测目标表面接触良好，同时要求测试的数据必须是温度稳定后的数据。
影响发射率的因素
发射率确定方法 – 查表法
，查看附录C 发射率值；进入SmartView软件→帮助→内容→目录→双击”测得准确的温度”→发射率表；查询Ti40,Ti45,Ti50,Ti55产品手册附录C 发射率值。
此方法仅用于参考，帮助大致判断该材料发射率的可能范围，但不建议在需要精确测温的场合下使用。查阅发射率表确定相应材料的发射率。
用接触式温度计，如热电偶、热电阻等直接测量物体表面温度，然后通过调整红外热像仪发射率，直到热像仪所测得的表面温度与接触式接触式温度计测得的表面温度相同或接近，此时的发射率即为目标物体正确的发射率。
发射率确定方法 – 接触温度计法
Ti10在仪器上无法更改发射率，针对这种情况，解决方案如下：使用软件：任意一台Fluke红外热像仪（包括Ti10）拍摄的红外热图（非BMP格式）都可以在软件上进行发射率修正，修正范围可以任意选择，软件提供了多点/区域发射率修正的功能。对于目标材料状况比较复杂的现场，建议发射率设置为0.95时进行热图拍摄，在软件上进行不同目标材料的发射率修正。对比法：以正常运行的相同设备进行参照对比，因目标状态相同，可以使用对比方法进行检测；为确保不受环境温度变化的影响，建议在同一空间内进行对比，对比时请注意该设备是否处于正常负载，若不是则可能对参照结果带来误差。例如三相输入接线排，材质为铜，建议在正常负载下三相最高温差不超过10℃。

标准平面源与探测器窗的一致性对α、β表面污染仪表面发射率响应测量结果影响及修正

Ni —— 仪器对标准平面源的读数的平均值， s-1；
Nb —— 仪器的放射性本底的平均计数率，s-1； q —— 标准源与探测器对应面积上的表面发射率，s-1 2 结果与分析 2.1 实验结果标准平面源活性区与探测窗不同时，α、β 表面污染仪表面发射率响应测量结果见图 1、图 2。
图 1 两种仪器在不同 α 标准平面源面积下的表面发射率响应
0 引言 α、β 表面污染仪是常用的辐射防护仪器，用于
中 α 的标准平面源核素为 241Am（α 的主要能量为 5.486 MeV），活性区域为 150 cm2（15 cm×10 cm），
测量开放性放射性工作场所放射性表面污染水平。表面发射率响应是 α、β 表面污染仪最主要的计量性能参数 [1]，JJG 478-2016《α、β 表面污染仪》规定，
β 标准平面源活性区形状、面积难以与探测器窗一致。当标准平面源活性区大于或小于探测器窗时，由于平面源与探测器的几何立体角的不一致 [7][8]，将对表
实验中用以改变标准平面源活性区的形状与面积。经试验可以完全吸收 241Am 发射的 α 粒子和 204Tl 发射的 β 粒子及其产生的韧致辐射。
值增大。
2.2 修正计算
对于实验数据作多项式拟合计算，结果近似线
性。根据计算结果，尝试建立相应型号仪器表面发
Hale Waihona Puke 射率响应测量值的修正公式。
R
=
Ri
·C(
S S0
)
式中：C(
S S0
)
——
表面发射率响应修正因子；
S —— 标准平面源活性区面积；
S0 —— 探测器窗面积 1）α 粒子的响应修正
PAM-150 型 α、β 表面污染仪 α 表面发射率响

基于 LabVIEW 实现固定发射率辐射温度计校准的温度修正

基于 LabVIEW 实现固定发射率辐射温度计校准的温度修正徐含青;郭智伟;韦维【摘要】在辐射温度计检定中，根据规程要求，需要将辐射温度计的发射率设置为1，而在实际校准辐射温度计的过程中发现大量发射率固定且不为1的情况，同样有用户要求校准后给出不同发射率下的辐射温度计修正值，为实现宽波段任意固定发射率辐射温度计在校准过程中的修正值计算，文章使用 LabVIEW 的两分法迭代实现Plank 公式的积分算法，有效提高校准过程的自动化程度，文章用实例说明了两分法与普通步进算法的效率区别，从而高效的实现了任意波段、任意发射率、任意温度点的温度修正值计算。

%In the process of radiation thermometer calibration, according to the verification regulation, the emissivity of radiation thermome-ter shoulds be set to 1. 00, while during the actual calibration process, the correction value of radiation thermometers with different emissivity values is required to give out by customers after the calibration and the emissivity is fixed and not equal to 1. 00. In order to realize correction val-ue calculation for wide range radiation thermometers with arbitrary fixed emissivity in the calibration process, the article uses LabVIEW dichoto-my iterative to achieve the integral algorithm of the plank formula and improves the degree of automation in the process of calibration effective-ly. The article verifies the difference of efficiency between dichotomy and common stepping algorithm, so that the correction value calculation could be efficiently implemented in any band, any emissivity, and any temperature point.【期刊名称】《计测技术》【年(卷),期】2016(036)004【总页数】3页(P14-16)【关键词】辐射温度计;发射率;修正;LabVIEW【作者】徐含青;郭智伟;韦维【作者单位】苏州市计量测试研究所温度检测室，江苏苏州 215128;苏州市计量测试研究所温度检测室，江苏苏州 215128;苏州市计量测试研究所温度检测室，江苏苏州 215128【正文语种】中文【中图分类】TB942在对辐射温度计检定中，按照JJG 856-2015《工作用辐射温度计检定规程》要求，需要将被检辐射温度计发射率设置为1，从而匹配黑体辐射源的发射率。

法向全辐射发射率检定校准_概述说明以及解释

法向全辐射发射率检定校准概述说明以及解释1. 引言1.1 概述法向全辐射发射率检定校准是一个重要的工业应用领域。

在工程和科学研究中，我们经常需要评估材料或物体的热辐射特性，并对其进行测量和校准，以确保其精确性和可靠性。

法向全辐射发射率是描述材料或物体在各个波长范围内从表面均匀散发的辐射能力的参数。

1.2 文章结构本文将通过以下几个方面来阐述法向全辐射发射率检定校准的相关内容。

首先，在第2节中，我们将介绍法向全辐射发射率的定义和意义，包括该概念的形成和在工业应用中的重要性。

接下来，在第3节中，我们将详细讨论法向全辐射发射率检定校准的过程与原理，包括目标、要求、基本步骤、流程以及使用的仪器设备及其工作原理。

然后，在第4节中，我们将通过实际案例分析与结果解释来验证所提出的方法和理论，并讨论该方法在某领域中的应用，并探讨遇到的相关问题和挑战。

最后，在第5节中，我们将总结这项工作的成果，并展望其未来的发展趋势和应用前景。

1.3 目的本文的目的是为了深入探讨法向全辐射发射率检定校准的方法、原理及其在工业应用中的重要性。

通过对该主题进行全面而系统的解释与分析，我们希望能够提供一个清晰的指导框架，使读者能够更好地理解和应用法向全辐射发射率检定校准技术，并为该领域的研究和实践提供有价值的借鉴。

2. 法向全辐射发射率的定义和意义2.1 法向全辐射发射率的概念法向全辐射发射率是衡量物体表面在单位频率范围内沿法线方向上辐射能力的参数。

简而言之，它描述了物体表面向所有方向上发射热辐射的能力。

法向全辐射发射率通常使用Greek字母ε（epsilon）来表示。

2.2 法向全辐射发射率的测量方法为了准确测量物体表面的法向全辐射发射率，一种常用方法是使用红外线热成像技术。

这种技术利用红外相机来获取物体表面的红外图像，并通过对红外图像进行分析，可以得出物体表面不同位置处的温度分布情况。

根据斯蒂芬-波尔兹曼定律和普朗克定律，可以利用这些温度数据计算出物体表面在不同波长上的法向全辐射发射率。

黑体发射率知识

/downloads87/sourcecode/windows/detail336117.html/cgi-bin/show_detail?Hash=3E88E541ABE3F85610E6800E798659C45535BABA ###热像仪原理_发射率v1.0瑞泰凯博测试仪器网文章来源：本站原创更新时间：2009-10-9 14:22:14发射率是影响红外温度检测精度的重要参数之一，因各目标表面性质不尽相同，故发射率会有很大差别；若不能准确设置发射率，则会造成测量误差，本章讲述的是如何修正发射率，满足客户精确测量的需求。

什么是发射率？发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。

金属材料的发射率会受到下列因素的影响：材料不同材料的发射率不同，如铜的发射率一般来说比铝高。

表面光洁度通常表面粗糙的材料发射率比光洁表面高。

表面颜色以黑色为代表的深色系表面发射率比浅色系高。

一种辐射发射测试的数据修正方法[发明专利]

专利名称：一种辐射发射测试的数据修正方法专利类型：发明专利
发明人：苏东林,戴飞,曹成,谢树果,李益民
申请号：CN200810119631.X
申请日：20080904
公开号：CN101344558A
公开日：
20090114
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明提供了一种辐射发射测试的数据修正方法，在每个设备的修正数据的上频率边界右侧和下频率边界左侧各添加一频点，合成所有设备的修正数据的频率值得到离散频率列表，按照频率列表对各个设备的修正数据做线性离散，将离散后的修正系数相同频率值相加得到修正系数结果。

本方法修正数据点少，而且频率边界点处对周围频点的幅度值产生影响很小，提高了电磁兼容性测试修正数据的计算速度和正确性，能够更加便利地发现设备的故障，具有很高的经济价值。

申请人：北京航空航天大学
地址：100083 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
代理机构：北京永创新实专利事务所
代理人：周长琪
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基于 LabVIEW 实现固定发射率辐射温度计校准的温度修正

基于 LabVIEW 实现固定发射率辐射温度计校准的温度修正徐含青;郭智伟;韦维
【期刊名称】《计测技术》
【年(卷),期】2016(036)004
【摘要】在辐射温度计检定中，根据规程要求，需要将辐射温度计的发射率设置
为1，而在实际校准辐射温度计的过程中发现大量发射率固定且不为1的情况，同样有用户要求校准后给出不同发射率下的辐射温度计修正值，为实现宽波段任意固定发射率辐射温度计在校准过程中的修正值计算，文章使用 LabVIEW 的两分法迭代实现Plank 公式的积分算法，有效提高校准过程的自动化程度，文章用实例说
明了两分法与普通步进算法的效率区别，从而高效的实现了任意波段、任意发射率、任意温度点的温度修正值计算。

【总页数】3页(P14-16)
【作者】徐含青;郭智伟;韦维
【作者单位】苏州市计量测试研究所温度检测室，江苏苏州 215128;苏州市计量测试研究所温度检测室，江苏苏州 215128;苏州市计量测试研究所温度检测室，江苏苏州 215128
【正文语种】中文
【中图分类】TB942
【相关文献】
1.固定发射率工作用辐射温度计校准方法研究 [J], 余时帆;崔超;王晓;熊玉亭;沈才忠
2.发射率设定值不为1的辐射温度计的校准 [J], 原遵东;段宇宁;王铁军;邢波
3.固定发射率辐射温度计校准中的温度修正计算方法 [J], 王文革
4.辐射温度计发射率ε对检测校准结果影响初探 [J], 涂克农
5.基于等效辐射源替代法的辐射温度计校准方法研究 [J], 赵丹侠;杜文岚
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标准平面源与探测器窗的一致性对α、β表面污染仪表面发射率响应测量结果影响及修正

标准平面源与探测器窗的一致性对α、β表面污染仪表面发射率响应测量结果影响及修正韩刚;陆小军;李小双;唐方东【摘要】表面发射率响应是α、β 表面污染仪的主要计量性能参数,按照JJG 478-2016中的测量方法,实验探讨平面源活性区面积与探测器窗面积不一致对α、β 表面污染仪表面发射率响应测量结果的影响.结果显示,当标准平面源活性区面积大于或小于探测窗面积时,表面发射率响应测量结果会偏大,标准平面源活性区面积与探测窗面积差异在±20%以内时,α、β 表面污染仪表面发射率响应测量值的变化均近似线性,且探测器窗面积较大,则表面发射率响应测量值的偏差也较大.【期刊名称】《上海计量测试》【年(卷),期】2018(045)003【总页数】3页(P2-4)【关键词】表面发射率响应;标准平面源;探测器;几何立体角【作者】韩刚;陆小军;李小双;唐方东【作者单位】上海市计量测试技术研究院;上海市计量测试技术研究院;上海市计量测试技术研究院;上海市计量测试技术研究院【正文语种】中文0 引言α、β表面污染仪是常用的辐射防护仪器，用于测量开放性放射性工作场所放射性表面污染水平。

表面发射率响应是α、β表面污染仪最主要的计量性能参数[1]，JJG 478-2016《α、β表面污染仪》规定，测量表面发射率响应时，探测器与α标准平面源的距离为5 mm，与β标准平面源的距离为10 mm，探测器窗与标准平面源保持平行[2][3][4][5]，标准平面源活性区域应覆盖探测器窗。

α、β表面污染仪的型号规格较多[6]，其形状、大小各异，因而作为测量标准的α、β标准平面源活性区形状、面积难以与探测器窗一致。

当标准平面源活性区大于或小于探测器窗时，由于平面源与探测器的几何立体角的不一致[7][8]，将对表面发射率响应测量结果产生影响。

本文尝试定性与定量探究标准平面源与探测窗的几何立体角对α、β表面污染仪表面发射率响应测量结果的影响规律，可为α、β表面污染仪的检定提供技术参考。