控制系统分析、综合与校正

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控制系统分析、综合和校正
(6.16)
• 用频率特性法设计超前网络的步骤如下: ①根据性能指标对稳态误差系数的要求, 确定开环放大系数K
• ②利用求得的K,绘制原系统的伯德图,主
• ③在伯德图上测取原系统的相位裕量和增 益裕量,或在对数幅频特性图上测取剪切
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频率ωc,通过计算求出原系统的相位 裕量γ。再确定使相位裕量达到希望值 γ″所需要增加的相位超前相角
• 1)稳态指标 • 稳态指标是衡量系统稳态精度的指标。
• 2) • 时域动态指标通常为上升时间wk.baidu.comr、峰值时间
tP、调节时间ts、超调量σP%等。
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• 3) • 频域动态指标分开环频域指标和闭环频域
指标2种。 • (2)系统的校正 • 为使系统满足性能指标而引入的附加装置,
称为校正装置,其传递函数用Gc(s) • 表示。
倍,并且随ω
的改变而改变。
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• 6.1.3 PI控制(比例+积分)
• 具有比例加积分控制规律的控制器,称为 比例积分控制器(或称PI控制器),如图 6.5所示。
• 其中:
(6.5)
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图6.5 PI控制器
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• 控制器输出的时间函数: (6.6)
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图6.2 反馈校正
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• 6.1 PID控制作用
• 6.1.1 P控制(比例控制)
• 具有比例规律的控制器称为比例控制器(或 称P控制器),如图6.3所示。
• 其中:
(6.1)
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图6.3 P控制器
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• 6.1.2 PD控制(比例+微分)
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• ③如原系统的相角和增益裕量不满足要求, 找一新的剪切频率 ,在 处开环传递 函数的相角应等于-180°加上要求的相角裕 量后再加上5°~12°,以补偿滞后校正网络的 相角滞后。
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图6.8 无源超前网络的对数幅、相特性
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• 最大超前角:
• 应用三角公式改写为:
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(6.15)
则超前校正装置的微分效应越强。为了保持 较高的信噪比,实际选用的β值一般不大于 20。通过计算,可以求出ωm处的对数值
• (2)串联超前校正方法
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(6.20) (6.21)
图6.11 无源滞后网络对数频率特性
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• (2)
• 采用滞后网络进行校正,主要是利用其高 频幅值衰减特性。
• 应用频率法设计滞后校正装置,其步骤如 下:
• ①根据性能指标对误差系数的要求,确定 系统的开环增益K
• ②作出原系统的伯德图,求出原系统的相 角和增益裕量;
• 讨论方便,令比例系数KP=1则式(6.5)变为:
(6.7) • 由式(6.7)看出,PI控制器不仅引进了一个
积分环节,同时还引进了一个开环零点。
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图6.6 PID控制器
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• 6.1.4 PID控制(比例+积分+微分)
• 比例加积分加微分规律(或称PID控制规律) 是一种由比例、积分、微分基本控制规律 组合的复合控制规律。
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• 6.2.2 串联滞后校正
• (1) • 控制系统具有满意的动态特性,但其稳态
性能不能满足要求时,可采用串联滞后校 正。图6.10是无源滞后校正网络的电路图。
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(6.17)
(6.18)
(6.19)
• 根据式(6.17)作出的滞后网络对数频率特性 如图6.11所示。
控制系统分析、综 合和校正
控制系统分析、综合和校正
• 综合的具体任务是选择校正方式,确定系 统结构和校正装置的类型以及计算参数等, 这些工作的出发点和归宿点都是满足对系 统技术性能的要求,这些要求在单变量系 统中往往都是以性能指标的形式给出。
• (1)性能指标
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• 工程上,对单变量系统常用性能指标来衡 量控制系统的优劣。
• 具有比例加微分控制规律的控制器称为比 例加微分控制器(或称PD控制器),如图6.4 所示。
• 其中:
(6.2)
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图6.4 PD控制器
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(6.3)
(6.4)
• 式(6.4)表明,PD控制器的输入信号为正弦
函数时,其输出仍为同频率的正弦函数,
只是幅值改变
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(6.8)
• 6.2 基于频率法的串联校正设计
• 6.2.1
• (1) • 图6.7是一个无源超前校正装置的电路图。
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图6.7 无源超前网络
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• 这样无源超前校正装置的传递函数为 (6.12)
• 根据式(6.12)作出无源超前校正装置的对数 特性,如图6.8所示。
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图6.1 串联校正
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• 校正装置Gc (s)与系统固有部分的联接方式, 称为系统的校正方案。在控制系统中,校 正方案基本上分为3种。校正装置与原系统 在前向通道串联联接,称为串联校正,如 图6.1所示。由原系统的某一元件引
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• 出反馈信号构成局部负反馈回路,校正装 置设置在这一局部反馈通道上,如图6.2所 示,则称为反馈校正。如第1章和第3章所 述对干扰和输入进行补偿的复合控制,称 为前馈校正。
• 当验算结果γ″不满足指标要求时,需另选 ωm值,并重复以上计算步骤,直到满足指 标为止。重选ωm值,一般是使ωm= 的值增大。
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• 应当指出,有些情况采用串联超前校正是 无效的。串联超前校正受以下两个因素的
• ①闭环带宽要求。 • ②如果原系统在剪切频率附近相角迅速减
小,一般不宜采用串联超前校正。
• ④利用下式计算超前校正装置的参数β。
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• ⑥求出超前校正装置的另一个参数T2。
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• ⑦画出校正后系统的伯德图,检验已校正 系统的相角裕度γ″性能指标是否满足设计要 求。验算时,已知 计算出校正后系统在 处相角裕度γ″( )。
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