头影测量
儿童的头影测量标准值
儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。
以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。
2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。
3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。
以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。
X线头影测量
X线头影测量X线头影测量介绍：X线头影测量是对头部进行投影测量，用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。
X线头影测量正常值：检查中没有发现异常阴影和图样。
X线头影测量临床意义：异常结果：?研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。
?2?牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断。
?3?确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。
?4?研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。
如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
?5?外科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。
6?下颌功能分析：X线头影测量还可以用来研究下颌运动，语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。
也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。
需要检查的人群：颅面生长异常，面部畸形的人群。
《X线头影测量学》课件
对于需要手术治疗的颅面畸形，X线头影测 量可以评估手术前后颅面形态的变化，指 导手术方案的制定和调整。
比较治疗效果
科学研究
通过比较治疗前后的X线头影测量结果，可 以评估治疗效果，为进一步治疗提供依据 。
X线头影测量在颅面外科研究中也有广泛应 用，如颅面生长的规律、手术效果的评价 等。
其他医学领域应用
头影测量的目的是为了了解颌面部软硬组织的生长发育状态、分析颌面部畸形 的病因、制定正畸治疗方案、评估治疗效果和预测未来生长趋势等。
头影测量学发展历程
早期头影测量学
早期的头影测量学主要依靠手工测量和目测，精度和可靠性较低。
数字化头影测量
随着计算机技术的发展，数字化头影测量逐渐取代手工测量，实现 了快速、准确、可重复的测量和分析。
04 X线头影测量学实 验操作
实验设备介绍
01
02
03
实验设备
X线机、头影测量分析软 件、测量工具等。
设备功能
X线机用于拍摄头颅X线片 ，头影测量分析软件用于 测量和分析X线片，测量 工具用于辅助测量。
设备要求
确保设备性能稳定、精度 高，以保证实验结果的准 确性和可靠性。
实验操作流程
实验准备
选择合适的实验对象，准备实验材料和设 备。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
06 总结与展望
X 线头影测量学
应用
华 西口腔
• 5. 下颌功能分析
X 线头影测量学在正畸学中的作 用
1. 研究颅面的生长发育及生长预测 2. 牙颌颅面畸形的诊断分析及治疗设计 3. 研究矫治前后牙颌颅面形态结构的矫治
变 化和生长 改变 以及判断各种矫 治器的 作用机理 4. 外科正畸的术前诊断设计和术后疗效的 评价 5. 下颌功能分析
• 软组织颏下点 ( Me’ menton of soft tissue ): 软组织颏 之最下点 .
华 西口腔
华 西口腔
备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
华 西口腔
• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
华 西口腔
测 量平面 腭平面 ANS-PNS /PP.(palatal plane)
有称上颌 平面， 由前鼻嵴 点和后 鼻嵴 点的连 线 构 成。常用于评 价 上颌 的位置和生 长 方向
华 西口腔
测 量平面 下颌平面 MP MP.(mandibular plane)
1. 通过颏下点与 下颌 角下缘 的 切线 ；
板，圆规，量角器、 3H 铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记, 可用强光局部观察 .
华 西ห้องสมุดไป่ตู้腔
华 西口腔
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
华 西口腔
头影测量的标志点、平面、角度、线距
头影测量的标志点、平面、角度、线距标志点：1、颅部标志点：鼻根点（N）、蝶鞍点（S）、耳点（P）、Bolton点；2、上颌标志点：眶点（Or）、前鼻棘点（ANS）、后鼻棘点（PNS）、上切牙点（UI）、上齿槽点（A）；3、下颌标志点：下切牙点（LI）、下齿槽点（B）、颏前点（Po，）、颏顶点（Gn）、颏下点（Me）、下颌角点（Go）；4、软组织点：鼻顶点（Prm）、软组织颏前点（Pos）、软组织颏顶点（Gs）、软组织颏下点（Me）、上唇度突点（UL）、下唇度突点（LL）。
头影测量平面：（1）基准平面：前颅底平面—SN、眼耳平面—FH、Boltond平面。
（2）测量平面：腭平面（ANS-PNS，PP，MxP）、颅底平面（Ba-N）、合平面（OP）、下颌平面（MP，MnP）、下颌升支平面（RP）、面平面（NPo）、NA平面、AB平面、APo平面、审美平面（Prm-Pos，E-line）展开剩余78%角度和线距：01、颅底角（NSBa）：该角反映的是关节凹与颞下颌关节的位置。
该角小时下颌趋向前，反之下颌后缩。
02、SNA角：表明上颌相对于前颅底的前后位置。
该角大时上颌相对鼻根点前突，反之，后缩。
03、SNB角：该角表示下颌相对于前颅底的前后位置。
该角大时下颌前突，反之下颌后缩。
04、ANB角：表示上颌骨和下颌骨的相对前后位置。
该角越大时表示上颌前突或者下颌后缩，反之，上颌后退或者下颌前突。
05、面角（FH-NPo）：表示颏相对于面部其他部份的位置。
面角增大表示颏部前突，反之后退。
06、A-B水平距（Wits）：由A和B点向功能合平面作垂线，其两交点之间的距离。
表示A点和B点之间的前后不调，显示上颌基骨和下颌基骨之间的不调程度，修正ANB角的固有问题。
BO在AO前负值，2mm以上，表示安氏III类错合，AO在BO前正值，表示安氏II类颌关系。
07、A-B平面角：A-B平面与面平面之间的上交角，表示上颌基骨和下颌基骨相对于面平面的前后关系。
线头影测量分析
前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖
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A (Subspinale上齿槽座点)
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－定点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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3.下颌标志点
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－定点
髁顶点(Co):髁突最上点
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－定点
作为诊断分析 的基础
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3.确定错牙合畸形的矫治计划
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正常牙颌 பைடு நூலகம்面关系
对比
个体牙颌 颅面结构
分析出错牙合畸形的机制 确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
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治疗前
对比
治疗中,矫治后
正畸治疗
❖ 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点 指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。
定位
2.头影图的描绘
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❖ X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结 构不完全对称而出现的左右影像不完全重合
按其平均中点来作描绘
传统X线片
数字化X线片
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传统手描图
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简介
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❖ 1934年Hofrath and Broadbent 提出 ❖ 我国于20世纪60年代初运用于临床
X线头影测量分析
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通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅 面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙 颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由 表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断 及治疗设计的一种重要手段.
头影测量分析方法
头04影测量分析方法的优缺点与 局限性
头影测量分析方法的优点
• 头影测量分析方法的优点 • 客观性强，减少了人为误差 • 可以准确反映颅颌骨的结构特点，为诊断和治疗提供依据 • 可以重复测量，便于长期观察和对比分析
头影测量分析方法的缺点
• 头影测量分析方法的缺点 • 操作复杂，需要专业的知识和技能 • 依赖影像手段，可能受到影像质量的影响 • 难以全面反映患者的生理和心理状况
头03影测量分析的主要指标与意 义
头影测量分析的主要指标
头影测量分析的主要指标
• 角度指标：如SNA、SNB、ANB等 • 线距指标：如ANS-Me、UI-SN等 • 面积和体积指标：如全面积、下颏体积等
头影测量分析的辅助指标
• 牙齿指标：如牙槽骨高度、牙齿倾斜角度等 • 软组织指标：如鼻唇角、颏颈角等
头影测量分析结果的评估与诊断
头影测量分析结果的评估
• 根据正常值范围和统计学方法，评估测量结果的正常与否 • 分析测量结果之间的关联性，了解各种指标的变化趋势 • 结合患者的临床表现和其他检查结果，进行综合分析
头影测量分析的诊断
• 根据测量结果，诊断患者的颅颌骨生长发育状况和疾病程度 • 指导正畸治疗和颌面外科手术方案的设计 • 预测治疗效果和评估治疗进展
头影测量分析方法的发展趋势与前景
头影测量分析方法的发展趋势
• 个性化治疗和精准医疗的需求，推动头影测量分析方法的改进和发展 • 口腔医学与其他学科的交叉融合，拓展头影测量分析的应用领域 • 计算机辅助设计和人工智能技术的应用，提高头影测量分析的效率和准确性
头影测量分析方法的前景
• 在口腔医学领域发挥重要作用，为诊断和治疗提供科学依据 • 随着技术的进步，头影测量分析方法将不断完善和发展，为患者提供更优质的医疗 服务
X线头影测量分析方法
Downs分析法
是以眼耳平面作为基准平面，具体包括以下的测量内容。
(1)骨骼间关系的测量： 1)面角(facial angle)：面平面 与眼耳平面相交之下后角。此角代 表了下颌的凸缩程度。此角越大则 表示下颌越前突，反之则表示下颌 后缩。 2)颌凸角(angle of convexity)： NA与PA延长线之交角。此角代表面 部的上颌部对整个面部侧面的关系。 当PA延长线在NA前方时，此角为正 值，反之若PA延长线在NA之后方时， 则此角为负值。此角越大表示上颌 相对凸度越大，反之表示上颌相对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括： 全颅底长（Ba-N）； 中面部深度（Ba-A），包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离； 下面部深度（Ba-Pog），包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距 离； 全面高（N-Me），包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LI-Me、 ANS-Me 距离； 后面高（N-Go），包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离； 下颌支长度（AL）和下颌体 长度（MP）。
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Steiner分析法
1)SNA角：前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部
精华版X线头影测量分析方法课件
5)U1〖TXX-〗-NA(mm)：上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角：上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm)：下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
13)SL(mm)：蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm)：蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
X线头影测量学
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
3.面部高度的常用测量项目
全面高:N’-Me’ 上面高:N’-ANS’ 下面高:ANS’-Me’
P
为各点在FH平面垂线 上投影之距离（与教 材不同）
X线头影测量分析
Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院 正畸学系 李宇
Beauty is only skin deep ?
X线头影测量分析
1 概念、应用、拍摄及描图 2 常用头影测量标志点及平面 3 常用硬组织、软组织测量项目 4 常用X线头影测量分析法
临床实例
什么是X线头影测量？
Y轴(Y axis):S与Gn的 连线，代表面部生长发 育方向
S
N
Po Gn
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
SNA 角：反映上颌相对
N
于颅部的前后位置关系
S
SNB 角：反映下颌相对
于颅部的前后位置关系
A
ANB 角=SNA-SNB，反映
上下颌骨对颅部的相互
B
位置关系
面角（NP-FH）：面平
不同人群的FMIA目标有差异
Tweed 三角
下中切牙－FH平面（FMIA）
正常值 白人 北京 成都 65° 56° 54°
FH平面－MP平面角（FMA） 25° 31° 28°
下中切牙－MP平面（IMPA） 90° 94° 98°
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角 测量FMIA=55 ° 标准值(65°)-测量值
头影测量评分标准表
其他特殊因素（如咬合功能、骨骼发育情况）
根据具体情况评估对脸型的影响程度并酌情加分/扣分
注：该评分标准仅供参考，实际评估时还需结合医生的专业意见。不同医院和医生的评估标准和侧重点可能略有差异。
头影测量评分标准表
项目
描述
分值
颅骨位置
头部轮廓是否对称，额结节、颞凸起等部位的位置和角度
10分
下颌角与下颌前突度
下颌角的角度和前突程度，以及是否存在后缩或前伸下颌
5分
鼻唇部位置
上唇高度、鼻基底宽度及鼻孔大小来自鼻唇部特征的形态和角度7分
面部整体比例协调性
面部的长宽比、上下高度比及各部分之间的相对关系是否协调
X线头影测量分析方法
X线头影测量分析方法
一、原理和方法
X线头影测量是基于X线透射成像的原理进行的。
将头部放置在X线
透射成像设备中，通过发射X射线，X射线会被不同组织结构吸收和散射，形成X线头颅影像。
利用该影像，可以通过测量头颅中的各种参数来评估
头颅的生理和形态情况。
在X线头影测量中，常用的测量参数包括颅骨间距、颅骨厚度、颅骨
角度等。
颅骨间距是指头颅内部各个关键结构之间的距离，如颅骨板间距、颅底间距等。
颅骨厚度是指头颅骨的厚度，可以用来评估颅骨质量和颅骨
疾病的程度。
颅骨角度是指头颅内部关键结构之间形成的角度，如脑颅角、额颅角等。
这些参数可以通过计算机软件自动测量，也可以通过手工测量
来获取。
二、应用领域和意义
其次，X线头影测量在中枢神经系统疾病的诊断和治疗中也起到了重
要的作用。
通过测量头颅内的结构和参数变化，可以帮助医生评估脑部异
常的程度和性质，并且更好地指导手术操作。
此外，X线头影测量还可以应用于人类进化学研究、骨科手术规划、
颅颌面外科的评估和治疗等领域。
通过测量头颅参数的变化，可以更好地
了解人类进化的过程，也可以为骨科手术和颅颌面外科手术提供指导。
总的来说，X线头影测量是一种非常重要的医学影像分析方法，它可
以通过测量头颅中的各种参数来评估头颅的生理和形态情况。
在临床医学中，它可以帮助医生判断儿童头骨发育情况、评估中枢神经系统疾病的程
度和性质，为手术治疗提供指导，并且在人类进化学研究等领域也具有重要的应用价值。
x线头影测量名词解释
x线头影测量名词解释
嘿，你知道啥是 x 线头影测量不？这可真是个超有意思的东西呢！
就好像我们拍照留下自己的瞬间一样，x 线头影测量就是给我们的头颅拍个特别的“照片”。
比如说吧，你看那些模特走秀，他们的身材比例都被完美呈现出来，这就有点像 x 线头影测量对头颅的呈现呀！它能把头颅的各种细节，
像什么骨骼结构啦、牙齿位置啦，都清清楚楚地展示出来。
医生们为啥要用它呢？哎呀呀，这可太重要啦！就好像你要去了解
一个神秘的城堡，得有张详细的地图一样，x 线头影测量就是医生了解我们头颅内部情况的“地图”呀！通过它，医生能发现好多问题呢。
想象一下，要是没有 x 线头影测量，医生就像在黑暗中摸索，怎么
能准确地诊断和治疗呢？比如牙齿矫正，要是不知道头颅的具体情况，怎么能制定出最合适的矫正方案呢？这可不是随便乱来的呀！
而且哦，它可不是随随便便就能做的，得有专业的设备和技术才行呢。
这就好比你要做出一道超级美味的菜肴，没有好的食材和厨艺怎
么行呢？
我觉得呀，x 线头影测量真的是医学领域里超级厉害的一个工具呢！它就像一个神奇的钥匙，能打开了解头颅秘密的大门，帮助医生更好
地为我们的健康保驾护航。
你说是不是呢？反正我是这么认为的啦！。
X线头影测量分析1
二.X线头影测量的由来
三. X线头影测量的主要应用
1.研究颅面生长发育； 2.牙颌颅面畸形的诊断分析； 3.确定错合畸形的矫治设计； 4.研究矫治过程中.矫治后的牙颌颅面形 态结够的变化； 5.外科正畸的诊断和矫治设计； 6.下颌功能分析；
四.头颅定位X线照像与头影图的描绘
Tweed分析方法:
在下列情况下,不适于进行Tweed三角中下切牙唇舌 向倾斜度的校正: 1. 如果患者由于下頜后缩而表现的安氏２类１分类 错合,这时直立下切牙将会加重已存在的深复盖. 2. 某些頦唇沟较深的安氏２类２分类错合,使下切 牙内收则会加重畸形,且效果也不会稳定. 3. 对于正处在生长发育阶段的患者,要确定上下 切牙的最后位置.
S P N
Or
Y轴角（NSGn）
蝶鞍点至頦顶点 连线与前颅底平 面（S-N）所构成。
Gn
常用头影测量项目
7. 下颌平面角（FMA）：下颌 平面与眼耳平面的交角。
根据下颌平面角将垂直骨面形 分为3种 （1）正常型：均值27.2° 、 标准差4.7 ° （2）高角型：垂直向发育过 度大于32 ° ( 3) 低角型：垂直向发育 不足小于22 °
常 用 头 影 测 量 项 目
眼耳平面
16. /1-眼耳平面 角：下中切牙长轴与 眼耳平面之交角。 （FMIA）
常 用 头 影 测 量 项 目
S
N
17.前、后面高比 （S-Go/N-Me）。
Go
Me
常用头影测量项目
17.前、后面高比（S-Go/N-Me） 根据X线头影前-后面高的比例，面部的生长 型可分为三种类型： （1）正常生长型；面部生长均衡，后面高与前 面高的比值在65%左右。 （2）水平生长型；面部生长方向较为水平，后 面高与前面的比值一般大于68%。 （3）垂直生长型；面部生长方向较垂直，后面 高与前面高的比值一般小于62%。
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下颌角点
软组织侧貌标志点
• 额点（G. Glabella）:额部最突点 • 鼻顶点（Prn. Pronasale）:鼻部软组织最突点 • 上唇突点（UL. Upper Labrale）:上唇最突点 • 下唇突点（LL. Lower Labrale）:下唇最突点 • 软组织颏前点（Pos. Pogonion of Soft Tissue）:
下颌标志点
髁顶点（Co. Condylion）:髁突最上点 关节点（Ar. Articulare）:颅底下缘与下颌髁突颈后缘交点， 在颏顶点不清晰时用，为升支平面标志点之一 下颌角点（Go. Gonion）:下颌角的后下点，即下颌平面和下 颌升支后缘切线交角的角平分线与下颌角的交点（通过下颌平 面与升支后缘切线的交点GO'来确定）
• 下切牙点（Li. Lower Incisor）:最前的下中切牙切缘点 • 下齿槽座点（B. Supramental）:
下齿槽缘点与颏前点间之骨部最凹点
下颌标志点
• 颏前点（Po. Pogonion）:颏部最前点 • 颏顶点（Gn. Gnathion）:颏前点与颏下点骨连线中点 • 颏下点（Me. Menton）：颏部最下点
颅部标志点
• Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点
上颌标志点
• 眶点（Or. Orbitale）:眶下缘最低点
上颌标志点
• 前鼻棘点（ANS. Anterior Nasal Spine）:前鼻 棘之尖
• 后鼻棘点（PNS. Posterior Nasal Spinale）： 硬腭后部骨棘之尖
上颌标志点
• 常用的点不用背，只需理解
• 冒着眼瞎的风险定出来的点，具体临床作 用
拍摄时射线主轴沿外耳道上缘穿过， Frankfort水平面需平行于地面
头部的前后倾斜对片子本身没有 太大影像，但是会有视觉误差
• 与方向有关的点 • 与方向无关的点
放大率的产生使 得靠近底片的左 脸颊影像比较小
常用标记点
牙-齿槽
• 下中切牙角（LI-MP）:下中切牙与下颌平 面后交角，均值95.1±6.1。值越大，下 切牙越唇倾。
牙-齿槽
• 上下中切牙角（UI-LI）:上下中切牙后交 角，均值123.4±7.1，值越大，上下颌切 牙凸度越大
前、后 面 部 高 度
• 前面高（N-Me）:从鼻根点至颏下点的距离 • 后面高（S-Go）:蝶鞍点至下颌角点的距离 • 后、前面高比（S-Go/N-Me）:约为62%。值偏大表明
颏部软组织最前点
头影测量平面
两个标志点连接形成测量 平面。严格来讲，两点连 线只能称作线段，所以平 面是学者们的习惯称谓
基准平面
• 前颅底平面(S-N):无论是生长方向还是生 长速度均相对稳定，常作为其它结构对颅 底关系的定位平面
• 眼耳平面（FH. Frankfort Horizontal Plane）:由耳点P与眶点O连线构成。大部 分个体在自然头位时，该平面与地面平行。
点连线与颏前点至上齿槽座点连线延长线交角，均值 为7.3±4.9，值越大表示上颌凸度大，反之上颌后缩 • Y轴角：Y轴（S-Gn）与SN\FH交角，均值为66.3±7.1。 该角过大，则下颌后缩，生长型为垂直型；反之下颌 发育过度，水平生长型
牙-齿槽
• 上中切牙角（UI-SN）:上中切牙长轴与前 颅底平面之后下交角。均值为104.1±5.2。 值越大，中切牙越唇倾。
鼠标右击定点
• 翼上颌裂点（Ptm. Pterygomaxillary Fissure）: 翼上颌裂轮廓之最下点
上颌标志点
• 上齿槽座点（A. Subspinale）: 前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点，也称鼻棘下点 • 上中切牙点(UI. Upper Incisor) :最前的上中切牙切缘
下颌标志点
面部呈水平生长型
软组织
常用硬组织分析法
Tweed分析法 • FMA • FMIA • IMPA
分别从A、B点向功能合平面作垂线，垂点分别为AO、BOቤተ መጻሕፍቲ ባይዱAO-BO距离
• Wylie分析法、Downs分析法、Steiner分析法、 Ricketts分析法、Coben分析法、Riedel分析法、
Bjork分析法、四边形分析法......
• 头影测量有十几种分析方法，各有特点，但 不是每一项都有重要的意义。我们在临床中 不一定要用某一分析法，重要是弄清我们需 要了解这些数值的意义，然后选择我们需要 了解的头颅结构比例，分析其口内表现的形 成机理，来指导临床病例的方案制定
北京大学分析法
怎样使用测量软件
• Bolton平面：由Bolton点与鼻根点N连线 构成。多用于重叠头影图的基准平面
测量平面
•
颚平面（ANS-PNS）：前后鼻棘点 的合 平平 面连面一线（般有OP两. 种Oc确cl定usa方l法Pl。ane）:合
• 颅一种底是平第面一磨（牙Ba的-咬N）合中:颅点与底上点下与中鼻根
点切牙连切线缘点间连线的中点连线；
理想的标记点应该是 易于定位的解剖标志 点，而且在生长发育 过程中应相对稳定
颅部标志点
• 蝶鞍点（S. Sella）:蝶鞍影像中心
颅部标志点
• 鼻根点（N. Nasion）：鼻额缝的最前点
颅部标志点
• 耳点（P. Porion）:外耳道之最上点（解剖耳点）
颅部标志点
• 颅底点（Ba. Basion）:枕骨大孔前缘最下点
头影测量的应用
---正畸医生必不可少的技能
主讲人：周星辰 单位：深圳爱康健口腔医院 时间：2017年6月
• 侧位片怎么定点？ • 那么多乱七八糟的点，我都要记吗？ • 什么高角、低角，到底什么鬼？ • 侧位片那么模糊怎么描点哇？难道其 他医生有火眼晶晶？ ......
• 怎样定点？
• 怎样有根据的瞎猜？
• Y轴：蝶鞍点S与颏顶点Gn连线
软组织测量平面
• 审美平面：鼻顶点Prn至软组织颏前点Pos连线 • H平面：上唇突点UL至软组织颏前点Pos连线
上下颌骨常用测量项目
• SNA:均值81.7±3.3 • SNB:均值77.8±3.6（受SN-FH角影响，需矫正后参考） • ANB：当SNA>SNB 为正值，当SNA<SNB为负值 • 颌凸角（angle of conrexity）:由鼻根点至上齿槽座
该另平一面种将称功头能颅合划平面分，为由颅均部分后与牙颌合面部 两接 第部触一分乳点磨而牙得或，第通一常双使尖用牙第的一合恒接磨触牙点及。
这种方法不使用切牙的任何标志点
测量平面
• 下颌平面（MP. Mandibular Plane）:三种方法 （1）下颌角点与颏顶点间连线（Go-Gn） （2）下颌角点与颏下点连线 （3）通过颏下点与下颌角下缘相切的线条