第3章_双极结型晶体管
第三章--双极型晶体管
c
b e
PNP
c b
e
NPN
3.1 晶体管的基本结构及杂质分布
3.1.2 BJT的杂质分布 1.锗合金管-均匀基区晶体管 特点: 三个区杂质均匀分布 2结为突变结
2.硅平面管-缓变基区晶体管 特点: E、B区杂质非均匀分布 2结为缓变结
3.1 晶体管的基本结构及杂质分布
“背靠背”的2个二极管有放大作用吗?
I ne IE
I ne Ine I pe
1 1 I pe
I ne
I pe Ine
,则 0
2、基区输运系数β*
0
I nc I ne
Ine Irb I ne
1
I rb I ne
I rb I ne
,则
0
3、集电区倍增因子 *
Ic 1
I nc
3.2.3、晶体管电流放大系数
e 1 e qVbe kT
x LpE
3.3 晶体管的直流电流增益
一、少数载流子分布
(3)、集电区少数载 流子分布
pC(x)
0
x
pC
x pC0 pC0
e 1 e qVbc kT
x LpC
3.3 晶体管的直流电流增益
二、电流密度分布函数
jnB
3.3 晶体管的直流电流增益
任务:导出α 0、β 0的定量关系式
0 0 0
0
0 10
0
1 1 I pe
I ne
0
1
I rb I ne
3.3.1 均匀基区晶体管的电流增益 均匀基区晶体管直流电流增益推导思路
双极型晶体管
3 2 5 晶体管的主要参数 3.2.5
晶体的参数分为三大类: 直流参数 交流参数 极限参数 直流参数、交流参数、极限参数 1. 直流参数 (1) 直流电流放大系数 ①共发射极组态直流电流放大系数 对共射组态的电流放大系数, 在UCE不变的条件下,输出 集电极电流ICQ与输入基极 电流IBQ之比,定义:
i C / mA
ICM
饱 和 区
过流区
过 PCM 损 耗 区 作 区
截止区
过电流区是集电极电流达到 ICM和超过ICM以上的部分。
过 电 压 区
u CE / V
安 全 工
过损耗区由晶体管的集电极 最大功率损耗值确定,是一 条曲线。 过电压区由U (BR)CEO决定。 曲线中间部分为安全工作区 曲线中间部分为安全工作区。
N
P
N
IE
IEP IBN
b
电子
ICN ICBO IB
空穴
IC
c
IC= ICN +ICBO ICN= IEN - IBN
e IEN
IB= IEP + IBN - ICBO
2. 晶体管电极电流的关系 发射极电流:IE= IEN+IEP 集电极电流:IC=ICN+ICBO ICN=IEN-IBN 基极电流: 且有IEN>> IBN , ICN>>IBN IB=IEP+IBN-ICBO 且有IEN>>IEP
3.2.7 晶体管的型号及封装
1. 晶体管的型号 国家标准对半导体三极管的命名如下: 用字母表示同一型号中的不同规格 3 D G 110 B 用数字表示同种器件型号的序号 用字母表示器件的种类 用字母表示材料 三极管 第二位:A锗PNP管、B锗NPN管、 C硅PNP管、D硅NPN管 第三位:X低频小功率管、D低频大功率管、 G高频小功率管、A高频大功率管、K开关管
第三章 BJT双极型晶体管
中国计量学院光电学院
晶体管——transistor 它是转换电阻transfer resistor的缩写 晶体管就是一个多重结的半导体器件 通常晶体管会与其他电路器件整合在一起, 以获得电压、电流或是信号功率增益
双极型晶体管(bipolar transistor)
IC 0 I E ICBO
(10)
理想BJT的静态特性
何谓静态?
静态电流 电压特性 各端点的电流方程式
五点假设
意味什么?
(1)晶体管中各区域的浓度为均匀掺杂; (2)基区中的空穴漂移电流和集基极反向 饱和电流可以忽略; (3)载流子注入属于小注入; (4)耗尽区中没有产生-复合电流; (5)晶体管中无串联电阻。 用途:为推导理想晶体管电流、电压表达 式做准备!
从这个方程中可以看出,少数载流子分布趋近于一条直线。
那么整体PNP晶体管在放大模式下的少子分布究竟如何呢?
类似于基区的求解,可以求出发射区和集电区中的少子分布。
发射区和集电区中性区域的边界条件为:
nE ( x xE ) nE 0 e q VCB nC ( x xC ) nC 0 e
注意
载流子浓度 exp[(载流子能量) / kT ]
qVbi nn 0 n p 0 exp( ) kT qVbi p p 0 pn 0 exp( ) kT
热平衡时的PN结载流子浓度
基本上,假设在正向偏压的状况下,空穴由 发射区注入基区,然后这些空穴再以扩散的 方式穿过基区到达集基结,一旦我们确定了 少数载流子的分布(即N区中的空穴),就 可以由少数载流子的浓度梯度得出电流。
基区输运 系数
发射效率
第三章双极型晶体管
ICn
电子电流 电子流
上式等号右边第一项称为
发射效率,是入射空穴电
流与总发射极电流的比,
即:
I E•
I Ep IE
I Ep I Ep+I En
第二项称为基区输运系数,
是到达集电极的空穴电流量
与由发射极入射的空穴电流
量的比,即
T
I Cp I Ep
所以 0=T
发射区 (P )
}I EP
I En
基区 (n) I BB
(d)n-p-n双级型集体管的电路符号
图 4.2
+
VEC
-
E+
发射区 基区 集电区
P
n
P
+C
VEB
-B-
VCB
(a)理想一维p-n-p双级型集体管
IE E
+
+ VEC - IC - C
VEB
VBC
- + IB
B
(b)p-n-p双级型集体管的电路符号
-
VCE
+
E
发射区 基区 集电区
P
n
P
C
VBE
++ B
I En I BB
I B I E IC I En (I EpICp ) ICn
晶体管中有一项重要的参数
,称为共基电流增益,定义
为
0
I Cp IE
IB
空穴电流 和空穴流
图4.5
因此,得到
=
0
I
I Cp Ep+I
En
=
I Ep I Ep+I En
I Cp I Ep
}
集电区(P)
3和5章简答
24、随着信号频率的提高,晶体管的αω, βω的幅度会(下降),相角会(滞后)。
25、在高频下,基区渡越时间τb对晶体管有三个作用,它们是:(复合损失使小于1β0*小于1)、(时间延迟使相位滞后)和(渡越时间的分散使|βω*|减小)。
12、当晶体管处于放大区时,理想情况下集电极电流随集电结反偏的增加而(不变)。但实际情况下集电极电流随集电结反偏增加而(增大),这称为(基区宽度调变)效应。
13、当集电结反偏增加时,集电结耗尽区宽度会(增宽),使基区宽度(变窄),从而使集电极电流(增大),这就是基区宽度调变效应(即厄尔利效应)。
4、什么是有效沟道长度调制效应?如何抑制有效沟道长度调制效应?
答:沟道有效长度随VDS的增大而缩短的现象成为-;抑制有效沟道长度效应的措施:减小VDS增大NA。
5、什么是MOSFET的跨导gm?写出gm的表达式,并讨论提高gm的措施。
答:跨导是MOSFET的对称特性的斜率,它反映了MOSFET的栅源电压VGS对漏电极ID的控制能力。提高措施:增大沟道宽度,减少沟道长度,增加VGS等。
4、N沟道MOSFET中,VGS越大,则沟道中的电子就越(多),沟道电阻就越(小),漏极电流就越(大)。
5、在N沟道MOSFET中,VT>0的称为增强型,当VGS=0时MOSFET处于(截止)状态;VT<0的称为耗尽型,当VGS=0时MOSFET处于(导通)状态。
6、由于栅氧化层中通常带(正)电荷,所以(P)型区比(N)型区更容易发生反型。
10、当N沟道MOSFET的VGS<VT时,MOSFET(不)导电,这称为(增强型)导电。
第三章-双极型晶体管的频率特性
ic
Ic/mA
10
I B 25A
负载线
频率响应
~ VEB
8
ic
~ ic
20
iB
~ iB
iB
n
6
4
工作点
15 10
前面讨论的是晶体管的静态特性 ( 直流 特性 ) ,没有涉及其交流特性,也就是 当一小信号重叠在直流值上的情况。小 信号意指交流电压和电流的峰值小于直 i 流的电压、电流值。 高频等效电路: 图 (a) 是以共射组态晶 p 体管所构成的放大器电路,在固定的 i n 直流输入电压 VEB 下,将会有直流基 p 极电流 IB 和直流集电极电流 IC 流过晶 V~ i 体管,这些电流代表图(b)中的工作点, V V 由供应电压 VCC 以及负载电阻 RL所决 定出的负载线,将以一 1/RL的斜率与 (a)连接成共射组态的双极晶体管 VCE轴相交于VCC。
fT 10
8
f 10
9
1010
频率 / Hz
另外,一截止频率fT(又称特征频率)定义为β的绝对值变为1时的频率, 将前式等号右边的值定为1,可得出
2 f 1 f ( 1 ) f f T 0 0 0 0
因此fT很接近但稍小于 f。
双极型晶体管的频率特性
c
Ic/ A
B
负载线
c
B
B
c
C
B
B
工作点
EB
输出电流
E
EB
CC
EC
CC
(a)连接成共射组态的双极晶体管
(b)晶体管电路的小信号工作状态
B
B
C ~ V
E B
C ~ V
《模拟电子技术基础》第3章 双极型晶体管及其基本放大电路
3.2 双极型晶体管
3.2.4 晶体管的共射特性曲线
2.输出特性曲线—— iC=f(uCE) IB=const
以IB为参变量的一族特性曲线
(1)当UCE=0V时,因集电极无收集
作用,IC=0;
(2)随着uCE 的增大,集电区收集电
子的能力逐渐增强,iC 随着uCE 增加而
增加;
(3)当uCE 增加到使集电结反偏电压
电压,集电结应加反向偏置电压。
3.2 双极型晶体管
3.2.3 晶体管的电流放大作用
1. 晶体管内部载流子的传输
如何保证注入的载流
子尽可能地到达集电区?
P
N
IE=IEN + IEP
IEN >> IEP
IC= ICN +ICBO
ICN= IEN – IBN
IEN>> IBN
ICN>>IBN
N
IEP
IE
3. 晶体管的电流放大系数
(1) 共基极直流电流放大系数
通常把被集电区收集的电子所形成的电流ICN 与发射极电流
IE之比称为共基电极直流电流放大系数。
ത
I CN
IE
由于IE=IEP+IEN=IEP+ICN+IBN,且ICN>> IBN,ICN>>IEP。通常ത
的值小于1,但≈1,一般
ത
为0.9-0.99。
ത
3.2 双极型晶体管
3.2.3 晶体管的电流放大作用
3. 晶体管的电流放大系数
(2) 共射极直流电流放大系数
I C I CN I CBO I E I CBO ( I C I B ) I CBO
ebers-moll模型
极 晶 体 管( Unipolar Transistor )。在 NPN 和 PNP 晶 体 管 中 ,两 种 载 流 子 同
时 对 电 流 传 输 起 重 要 作 用 。 从 而 把 NPN 和 PNP 晶 体 管 称 为 双 极 结 型 晶 体 管
( BJT ⎯ Bipolar Junction Transistor )。
q Vc 来 到 集 电 结 的 电 子 被 电 场 扫 入 集 电 区 ,成 为 集 电 极 电 流 。这 个 注 入 电 子
电流远大于反偏集电结所提供的反向饱和电流,是集电极电流的主要部分。 如果在集电极回路中接入适当的负载就可以实现信号放大。
从以上分析可见,基区宽度很窄是晶体管实现放大作用的必要条件之 一 。 如 果 基 区 较 宽 ( 大 于 电 子 扩 散 长 度 ), 注 入 到 基 区 的 过 量 电 子 在 到 达 集
从 基 区 向 发 射 区 注 入 。基 区 出 现 过 量 电 子 ,发 射 区 出 现 过 量 空 穴 。过 量 载 流 子 浓 度 取 决 于 发 射 结 偏 压 的 大 小 和 掺 杂 浓 度 。当 基 区 宽 度 很 小( 远 远 小 于 电 子 的 扩 散 长 度 )时 ,从 发 射 区 注 入 到 基 区 的 电 子 除 少 部 分 被 复 合 掉 外 ,其 余 大 部 分 能 到 达 集 电 结 耗 尽 区 边 缘 。集 电 结 处 于 反 向 偏 压 ,集 电 结 势 垒 增 加 了
(3) 饱和模式:
VE >0, VC >0;
(4) 截止模式:
VE <0, VC <0。
3.2.1 晶体管的放大作用
以 正 向 有 源 工 作 模 式 为 例 说 明 晶 体 管 的 放 大 作 用 。图 3-6 表 示 晶 体 管 偏 置在正向有源模式下的情形。
第3章 双极结型晶体管(二)
n
p
发射极
分析: 交叉指状电极能有效克服电流集聚 效应?
型基极 型集电极
n
发射极接触
图5-18 中功率双极晶体管指状交叉图形的俯视图
5.7基区宽度调变效应
1.问题的提出
IC 0 IC IB 1 1 hFE I B I CE 0
图5-8 (b)共发射极情形
5.7基区宽度调变效应
VE 0, VC 0
VE VT
n p x B 0
n p xB n p0 eVC VT
E
(3)饱和工作模式:
相应的边界条件为: np 0 (4) 截止工作模式: VE <0, VC <0 相应的边界条件为:
n p0eV
VT
n p xB n p0 eVC VT
2.基区宽度调变效应的分析:
前面的讨论中默认有效基区宽度是 1)
x B 不变的,实际上 x B 是集电结偏压的函数。
hFE 的变化:
hFE 2L2 T T 2n 1 1 T 1 T xB
(3-60)
2 共发射极电流增益正比于 x B ,当 VCE 增加时,集电结空间电荷区展宽,使
I n qAnp xvx
(5-67)
dx vxdt
一个电子渡过基区所需要的时间
B
xB
0
xB qAnp x dx dx 0 v x In
(5-68)
5.8晶体管的频率响应
根据(5-55)式
1 B Dn
xB
0
dx xB N a x dx x N a x
0 1 j
,
(5-62)
03 双极型晶体管(BJT)解析
3
3.1 BJT的结构及内部载流子的传输
晶体管是通过一定的工艺,将两个PN结结合在一起的器件。两 个PN结互相影响,使晶体管表现出不同于单个PN结的特性而具有信 号放大功能,因而成为各种电子电路的核心元件。 在晶体管中,参与导电的有空穴和电子两种载流子,又因为它 是由两个PN结构成,所以被称为双极型晶体管(Bipolar Junction Transistor)。 由于BJT有三个电极, 因而又称为三极管。它有很多种类。按频 率分有高频管、低频管;按功率分有大、中、小功率管;按材料分 有Si和Ge管。 根据结构的不同,三极管一般有两种类型:NPN 型和 PNP 型。
14
(1) 当VCE=0V时,从输入回路看,由于发射结正偏,输入特性与半导 体二极管的正向特性曲线类似。 (2)当VCE0时,这个电压的极性有利于把发射区扩散到基极的电子收 集到集电极。如果VCE>VBE,则发射结正偏,集电结反偏。集电极开始 收集电子,基区复合减少,在同样的vBE下,IB减小,特性曲线右移。
第3章 双极型晶体管(BJT)
中山大学 郭东亮
1
1947年的晶体管(transistor)
1947年12月16日,美国新泽 西州的贝尔实验室里,3位科学 家——威廉·肖克利(William Shockley)、约翰·巴顿(John Bardeen)和沃特·布拉顿 (Walter Brattain)成功地制造 出第一个晶体管,改变了人类的 历史。 1950年,William Shockley 开发出双极性接面晶体管 (bipolar junction transistor, BJT),也就是现在俗称的晶体管。
15
二、输出特性曲线
电子科技大学《微电子器件》课件PPT(3-1)
3.1 双极结型晶体管基础
PN 结正向电流的来源是多子,所以正向电流很大 ;反向 电流的来源是少子,所以反向电流很小。
如果能用其他方法给反偏 PN 结Байду номын сангаас供大量少子,就能提高 反偏 PN 结的电流。
给反偏 PN 结提供少子的方法之一是在其附近制作一个正偏 PN 结,使正偏 PN 结注入的少子来不及复合就被反偏 PN 结收集 而形成很大的反向电流。反向电流的大小取决于其附近正偏 PN 结偏压的大小。
E
CE
C
P NP
NP N
B
B
E
C
E
C
B
B
均匀基区晶体管:基区掺杂为均匀分布。少子在基区主要 作扩散运动,又称为 扩散晶体管。
缓变基区晶体管:基区掺杂近似为指数分布,少子在基区 主要作漂移运动,又称为 漂移晶体管。
0
NE(x)
N+ P
xje
NB(x) NC
xjc
N
0 xje xjc
x
3.1.2 偏压与工作状态
PN P
通过改变正偏 PN 结的偏压来控制其附近反偏 PN 结的电流 的方法称为 双极晶体管效应 ,由此发明的双极结型晶体管获得 了诺贝尔物理奖。
双极结型晶体管 ( Bipolar Junction Transistor ) 简称为双极 型晶体管,或晶体管。
3.1.1 双极结型晶体管的结构
双极型晶体管有两种基本结构:PNP 型和 NPN 型,其结构 示意图和在电路图中的符号如下
定义:发射结正偏,集电结 零偏 时的 IC 与 IE 之比,称为
共基极直流短路电流放大系数,记为 ,即
IC
VEB 0,VCB 0
03模拟电子技术第三章_双极结型晶体管
14
3 厄利电压
VCE VCE VBE / Vt I C I C 0 I C I C 0 1 V ISe 1 V A A
2010年10月12日星期二
15
I C 0 I C VCE VA
ICBO:发射结开 路时的集电极 反向电流.
定义到达集电极的那部分IE与IE之比, 叫共基极直流电流增益,以 表示。
2010年10月12日星期二
8
共发射极组态
I C I C I B I CBO
或 式中
I C I B 1 I CBO
1
I CEO 1 I CBO
2010年10月12日星期二
26mV 得 rb 'e (1 ) I E (mA)
34
2、晶体管的高频特性 β或hfe是在输出短路时定义的。 将π型等效电路输出短路,即
I c I b
0 V ce
g m vb 'e jC vb 'e ib
图 的等效电路
vb ' e
2010年10月12日星期二
6
另外还有 支流 ICBO: 发射极开路的集 电极反向电流。
穿透电流ICEO: 基极开路的集电 极电流。
7
2010年10月12日星期二
三、组态 共基极组态
I C I E I CBO I B 1 - I E I CBO
I E IC I B
rb ' e 1 ib ib rb ' e j Cb ' e C 1 j Cb ' e C rb ' e
第3章双极晶体管
的。
23
3. 缓变基区晶体管的电流放大系数 (1)缓变基区晶体管的自建电场
基区存在着杂质浓度梯度,这将导致空穴向 浓度低的方向扩散,空穴一旦离开,基区中的电 中性将被破坏。为了维持基区的电中性,必然会 在基区中产生一个电场,使空穴做反方向的漂移 运动来抵消空穴的扩散运动。这个为了维持基区 的电中性,而产生的电场称为缓变基区的自建电 场。
对于NPN晶体管,发射效率是注入基区的电子电 流与发射极电流的比值,即有
0
In (X 2 ) IE
对于NPN晶体管,基区输运系数是指到达集电结 的电子电流与注入基区的电子电流的比值,即有
0
In(X3) In(X2)
IC In(X2)
20
因此,可得 0
,
0
和
0
的关系为
0
IC IE
In(X2) IE
In(X3) In(X2)
0
0
所以,可按下面的步骤求解晶体管的电流放大倍数:
第一步 求发射效率;
第二步 求基区输运系数;
第三步 求共基极直流电流放大系数;
第四步 求共射极直流电流放大系数。
21
(1)发射效率
0
1
1 eWb
b Lpe
(2) 基区输运系数
晶体管的直流伏安特性曲线是指晶体管输入 和输出的电流—电压关系曲线。晶体管的三个端, 共有四个参数:输入电流、输入电压、输出电流 和输出电压。可以把任何两个参数之间的关系用 曲线表示出来(以其余两个参数中的一个作为参 变数)得到一族曲线,最常用的是输入特性曲线 和输出特性曲线。
第三章 双极型晶体管及其放大电路
基极开路时,集电极-发射极之间允许施加的最高反向电压,
其值比U (BR)CBO要小一些。
由晶体管的三个极限参数 I CM、PCM 和 U (BR)CEO,可以画出管子 的安全工作区,如图3-8所示。使用中,不允许将工作点设在安 全工作区外。
图 3-7
15
(2)晶体管的极限参数
1) 集电极最大允许电流 I CM
在使用三极管时,I
C
超过
I
时并不一定会使三极管损坏,
CM
但值将逐渐降低。
2) 集电极最大允许功耗 PCM 其大小主要决定于允许的集电结结温。锗管最高允许结温
为 700 C ,硅管可达1500 C ,超过这个值,管子的性能变坏,甚至 烧毁管子。
•
三极管电流放大的实验电路
IB(mA) IC(mA) IE(mA)
0
0.02
0.04
0.06
0.08
0.10
<0.001 0.70
1.50
2.30
3.10
3.95
<0.001 0.72
1.54
2.36
3.18
4.05
IB
0
0.02
0.04
0.06
0.08
0.10
IC
<0.001
0.70
1.50
2.30
第3章
双极型晶体管及其放大电路
3.1 双极型晶体管 3.2 基本放大电路的工作原理及其组成 3.3 静态工作点稳定及分压式射极偏置电路 3.4 共发射极电路 3.5 共集电极极放大电路和共基极极放大电路 3.6 多级放大电路 3.7 放大电路的频率响应和阶跃响应 3.8 电流源电路 3.9 应用电路介绍
第三章 双极结型晶体管习题)
第三章双极结型晶体管(习题)第三章3–1.画出PNP晶体管在平衡时以及在正向有源工作模式下的能带图。
画出晶体管的示意图并表示出所有的电流成分,写出各级电流表达式。
画出发射区、基区、集电区少子分布示意图。
3–2.考虑一个NPN硅晶体管,具有这样一些参数:xB?2?m,在均匀掺杂基区Na?5?1016cm?3,?n?1?s,A?。
若集电结被反向偏置,InE?1mA,计算2在发射结基区一边的过量电子密度、发射结电压以及基区输运因子。
3–3.在3–2的晶体管中,假设发射极的掺杂浓度为1018cm?3,xE?2?m,?pE?10ns,发射结空间电荷区中,?0??s。
计算在InE?1mA时的发射效率和hFE。
3–4.一NPN晶体管具有以下规格:发射区面积=1平方密耳,基区面积=10平方密耳,发射区宽度= 2?m,基区宽度= 1?m,发射区薄层电阻为2?/200?/,基区薄层电阻为,集电极电阻率=?.cm,发射区空穴寿命=1ns,基区电子寿命=100ns,假设发射极的复合电流为常数并等于1?A。
还假设为突变结和均匀掺杂。
计算用半对数坐标画出曲线。
IE?10?A、100?A、1mA、10mA、100mA以及1A时的hFE。
中间电流范围的控制因素是什么?3-5.根据式或式,证明对于任意的2xBLn值公式和变成a11??qAni[DnNaLn2(cothxBLnxBLn)?DPENdExE] a12?a21?qADnniNaLn2cscha22??qAni[证明,若xBDnNaLn(cothxBLn)?DPCNdCLPC]Ln 3–6.证明在有源区晶体管发射极电流–电压特性可用下式表示IE?IE01??F?ReVE/VT+qAniWE2?0eVE/VT其中IE0为集电极开路时发射结反向饱和电流。
提示:首先EM方程导出IF0?IE01??F?R。
3–7.忽略空间电荷区的复合电流,证明晶体管共发射极输出特性的精确表达式为 -VCE?VTln注意:首先求出用电流表示结电压的显示解。
第3章 双极结型晶体管2
3.4爱拜耳斯-莫尔方程
小结 ➢ 给出了BJT在四种工作模式下少子分布边界条件和少子分布示意图。0 eVE VT 1 R I R0 eVC VT 1
I C F I F 0 eVE VT 1 I R0 eVC VT 1
(3-48)
I C F I F 0 eVE VT 1 I R0 eVC VT 1
(3-49)
✓ 了解E-M方程中四个参数的物理意义 ✓ 根据E-M方程写出四种模式下发射极电流和集电极电流表达式。 ※ 作业:习题3-5、3-6、3-7。
3.5缓变基区晶体管
3.5缓变基区晶体管
3.4爱拜耳斯-莫尔方程
根据图3-15C可以写出
I F I F 0 eVE VT 1
I R I R0 eVC VT 1
其中 I F0和 I R0 分别为两个二极管反向饱和电流。
端电流为: I E I F R I R IC F IF IR
联立(3-44),(3-45),(3-46)和(3-47)式得到
I E I F 0 eVE VT 1 R I R0 eVC VT 1 I C F I F 0 eVE VT 1 I R0 eVC VT 1
(3-48)和(3-49)式即为E-M方程
(3-44) (3-45)
(3-46) (3-47) (3-48) (3-49)
3.4爱拜耳斯-莫尔方程
暂时把发射结空间电荷区复合电流看作是外部电流,则
I E I pE InE a11 eVE VT 1 a12 eVC VT 1
式中
a11
qAni2
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Dn
d 2np dx
2
n p n p0
n
VE VT
0
VC VT
n 边界条件为: p 0 n p 0 e
n p x B n p 0 e
解为: x n n
p
p0
n p 0 eVE
VT
xB x sinh Ln 1 n p 0 eVc VT 1 xB sinh Ln 20
x sinh Ln xB sinh Ln
I nE qADn
Dn n p 0 Ln
dn p x dx
VT
x 0
I nE qA
cth x B (eVE Ln
9
3.2.2电流分量
10
3.2.2电流分量
电流分量之间的关系
I E I nE I pE I rg
I B I pE I RE I nE I nC I C 0
I C I nC I C 0
I E IC I B 0
11
3.2.3电流增益
为描述晶体管的增益特性引进以下物理量 发射极注射效率
(5)中性区的电导率足够高,串联电阻可以忽略,偏压加在结 空间电荷区上;
(6)发射结面积和集电结面积相等; (7)小注入,等等
18
理想晶体管的结构示意图:
Nd Na
xE
0
WE
xB
xC x
图 3-10 各区均匀掺杂 NPN 晶体管的杂质分布
19
3.3.1载流子分布不电流分量
一、基区载流子分布及电流 中性基区( 0x x B )少子电子分布及其电流:
式中定义
hFE
1
IC0 1
共发射极直流电流增益 IB=0时,集电极-发射极漏电流,也 称为穿透电流。
16
I CE 0
伏安特性曲线
饱和区 10 8
125 100 75
10 8 6
IC (mA )
10 8 6 4 2 0 10 0 2 4 6
IC (mA )
6 4 2
4 2
有源区
50 25
第3章 双极结型晶体管
1
晶体管的収展史
1947.12.23日第一只点接触晶体管诞生
1949年提出PN结和双极结型晶体管理论 1951年制造出第一只锗结型晶体管 1956年制造出第一只硅结型晶体管 1956年Bardeen、Shockley、Brattain获诺贝尔奖
1956年中国制造出第一只锗结型晶体管-(吉林大学 高鼎三) 1970年硅平面工艺成熟,双极结型晶体管大批量生产
VT
1
ni2 I nc qADn eVE N a Ln
VT
xB 1 csc h Ln
I nE
ni2 qADn eVE N a Ln
VT
xB 1 coth Ln
I nc qADn
14
当集电结处于正向偏压时:
I C I E I C 0 (e
VC / VT
1)
上式中,当VC为负的很大时,将还原为反向 向偏置的情况。
15
共发射极电流增益
I C I C I B I C 0
IC0 IC IB hFE I B I CE 0 1 1
e
VC VT
1
I nE
ni2 qADn eVE N a Ln
VT
xB 1 coth Ln
I nc qA
Dn n p 0 Ln
1 eVE sinh( xB ) Ln
VT
xB VC 1 cth e Ln
n eVE N a Ln
2 i
VT
xB 1 csc h Ln
T sec h( )
xB Ln
当xB Ln时
I nE
ni2 qADn eVE N a xB
2 1 xB T 1 2 2 Ln
28
VT
1
当晶体管处于放大状态
I nE ni2 qADn eVE N a xB
22
VT
xE x sinh L pE 1 x E WE sinh L pE
若 x E L pE ,(3-3-11)式可以写作:
pE x pE 0 pE 0 e
VE VT
WE x 1 1 xE WE
pC xC pC 0 eVC 边界条件:
VT
pC pC 0
1 e
pC x pC 0 pC 0 e
I pC x qADpC
qAD pC
VC VT
x xC L pC
pC 0 VC e LpC
VT
1 e
x xC LpC
1 1 ) xB sinh L n
e
VC VT
1
I nC qADn
dn p x dx
x xB
qA
Dn n p 0 Ln
1 eVE xB sinh( ) Ln
21
VT
xB VC 1 cth e Ln
B (d)
图 3-2 (a)理想的一维 NPN 双极结晶体管, (b)图(a)的电路符号 (c)理想的一维 PNP 双极结晶体管, (d)图(c)的电路符号
4
1、由两个相距很近的PN结组成,基区 宽度远远小于少子扩散长度,分为: NPN和PNP两种形式
2、发射区为重搀杂,发射结为P+N或 者N+P,基区是两个PN结的公共端
3、 双极晶体管的主要作用是对电流或 者电压的放大。
5
3.2双极结型晶体管的基本工作原理
双极晶体管有四种工作模式,相应地称为四个工作区 令
VE VBE VB VE VC VBC VB VC
(1)正向有源模式
(2) 反向有源模式: (3)饱和模式: (4)截止模式
VE 0 VE 0
8
载流子的运输: (1)发射结正偏,由于正向注入,电子从发射区注 入基区,空穴由基区注入发射区。呈现正向偏置 的少子注入 (2)假设:基区很小。即少子在到达基区与集电区 边界时还没有被完全复合掉。其中大部分能到达 集电结,并被内电场加速进入集电结,称为集电 结电流。
(3)从发射区注入基区,进入集电区的电子电流远大 于集电结反偏所提供的发祥饱和电流,是集电极电 流的主要成分。 (4)晶体管实现放大的必要条件之一:基区宽度很窄
I nE I nE I E I nE I pE I RE
的意义:从发射区注入到基区的电子电流,
在总的发射极电流中所占的比例。
12
基区输运因子
T
I nC T I nE
T 的意义:发射区注入到基区的电子电流中
能到达集电极的电子电流比例。
共基极直流电流增益
I nE
I nC T I pE I rg
VC VT
1 e
x xC L pC
26 图3-11 正向有源模式下晶体管各区少数载流子分布
二、电流分量
在正向有源模式下 有:
I nE qA
Dn n p 0 Ln
cth x B (eVE Ln
VT
1 )
1 x sinh B L n
x 1 1 xE
p E x p E 0 p E 0 e
VE VT
空穴电流为:
I pE WE qADpE
pE 0
xE
eVE
VT
1
VT
qADpE
23
ni2 e VE N dE x E
1
三、集电区少子空穴分布及其电流
I B I pE I nE I nC I RE
DPE Dn xB qAn 2 N dE xE 2 N a Ln
ni2 eVC N dC LpC
VT
1 e
( x xC ) / L pc
24
ห้องสมุดไป่ตู้
3.3.2正向有源模式
一、少数载流子分布
在 x B Ln 的情况下,以及正向有源区的条件下
xB x sinh Ln 1 n p 0 eVc VT 1 xB sinh Ln x sinh Ln xB sinh Ln
I E 0 mA
0 2 4 6 8 VCB (V ) (a )
I B 0 A
8 10
截止区
VCE (V ) (b )
集电结电流电压特性:(a)共基极情形,(b)共发射极情形
17
3.3理想双极结型晶体管中的电流传输
理想晶体管假设:
(1)各区杂质都是均匀分布的,因此中性区不存在内建电场; (2)结是理想的平面结,载流子作一维运动; (3)横向尺寸远大于基区宽度,并且不考虑边缘效应,所以载 流子运动是一维的; (4)基区宽度远小于少子扩散长度;