劈尖干涉如图
劈尖干涉ppt课件pptx
实验目的
实验仪器及材料
01
02
03
04
05
06
实验前准备
调整显微镜,使其对准劈尖干涉仪的棱镜。
将平面镜按照要求放置并固定;
将劈尖干涉仪放置在水平台上,调整水平;
熟悉劈尖干涉原理和实验操作步骤;
检查实验仪器和材料是否齐全、完好;
03
实验步骤及数据记录
实验步骤
劈尖、测量显微镜、平行光管、光源、光屏等。
劈尖干涉定义
劈尖干涉原理是利用两个或多个相干波源产生的波在空间某点叠加时,不同波源的波因相位差而引起在叠加点形成干涉现象。
劈尖干涉是一种具有高分辨率、高精度和高稳定性的干涉测量方法,被广泛应用于光学测量、光学仪器、光电子技术等领域。
劈尖干涉原理
劈尖干涉的应用
劈尖干涉在光学测量领域有着广泛的应用,如测量光学元件的面形误差、表面粗糙度、折射率等参数。
思考题
学生提问
在实验中,我们如何保证两束光波是相干光?
答
可以通过将同一光源发出的光分成两束,然后经过不同的路径后重新相遇。由于它们来自同一光源,因此可以视为相干光。
学生互动环节
THANKS
感谢观看
环境不确定度
由于系统误差引起的测量不确定度。
由于环境因素变化引起的测量不确定度。
03
不确定度分析
02
01
结果可靠性评估
数据处理方法可靠性评估
对数据处理方法的可靠性进行评估,如干涉条纹计数方法是否准确等。
06
实验总结及思考题
实验目的
本实验旨在通过观察和分析劈尖干涉现象,了解和掌握光的干涉原理以及应用。
去除重复、异常值,处理缺失值,确保数据质量。
光学讲稿——等厚干涉(劈尖)
例题讲解:
[例]为测定 Si 上的 SiO2 厚度 d,可用化学方法将 SiO2 膜的一部分腐蚀 成劈尖形。现用λ =589.3nm 的光垂直入射,观察到 7 条明纹, 问 d=? (已知 Si: n1=3.42,SiO2: n2=1.50)
归纳总结:
由光程差的决定因素入手,引入劈尖(薄膜厚度线性变化)干涉的 基本概念、图样形成原因、特点、光程差的计算方法及应用,给出薄膜 干涉的相长与相消条件,并举生活中的实例说明薄膜干涉的现象;结合 劈尖干涉在实际生活中的应用,提高学生理论联系实际、解决实际问题 的能力。通过本节课学习,要求同学们掌握等厚干涉(劈尖干涉)的图 样形成原因、特点、光程差的计算方法及应用;并能够应用劈尖干涉图 样分析和解决简单的物理问题。
本节系统讲授等厚干涉中的劈尖干涉(薄膜厚度线性变化)干涉图 样及应用。
新课讲授
一.劈尖干涉
设光垂直入射,
2nd
2
j 2 j 1
----明纹 ----暗纹
2
j 0,1,2,
棱边处(d=0),对应 j=0 的暗纹
d暗
j 2n
jn 2
d明
(2
j 1) 4n
(2
j
1)n 4
第1页共3页
讲稿 讲授内容
更新内容
1.讨论:
(1)每级明或暗条纹与一定的膜厚 d 相对应,干涉图样为平行于棱边的直
条纹。
----劈尖干涉
(2)棱边(d=0)处,有半波损失时形成暗纹。
(3)相邻两明(或暗)纹对应劈尖的厚度差 d n
(4)相邻两明(或暗)纹之间的距离
作业布置:
教材 41 页 例 1 例 2
劈尖干涉问题简析
劈尖干涉简析劈尖干涉是薄膜干涉中等厚干涉中的一种,那么他具体干涉是怎么发生的呢如图所示,当从A点垂直向下一束光,光经过B点发生折射,折射光路为BC;经过空气上表面C发生折射,折射光路为CD,并在C同时反射,形成反射光路CE;折射光CD穿过空气劈尖后,沿原路DC返回,并沿原折射路径CB返回于B 点。
同理A’点垂直向下发射光线,由B’点入射,在C’发生折射,折射光线交于B点。
A点A’点为无数平行相干光源,此时符合光程差的要求将产生干涉现象。
A点发射的折射光程为:n1*BC+n*(CD+DC)+n1*CB+λ/2A’点发射的反射光程为:n1*B’C’+n1*CB则光程差为:n*(CD+DC)+λ/2=2ne1+λ/2此时:2ne1+λ/2=kλ(k=1,2,3...)为明2ne1+λ/2=(2k+1)*λ/2(k=0,1,2...)为暗那么假设B点是第一条明条纹,B’点是第二条明纹则2ne1+λ/2=λ,e1=λ/4n2ne2+λ/2=2λ,e2=3λ/4n故△e=e2-e1=λ/2n即:此时相邻明纹之间距离BB’为L则:那么接下来讨论用于检测截面是否水平时的干涉条纹情况。
一般情况下,明暗条纹相间,即每竖直方向变化△e距离,出现一条明纹(暗),可以理解为有无数的,等间距的相干光线AB、A’B’、A’’B’’产生,形成无数条等间距明暗条纹。
如果检测的截面出现了凹凸不平的现象,那么此时观测到的干涉条纹就是这样的首先讨论:乙这种情况把玻璃劈尖想象成向里的一个平面,那么此时明暗条纹是一个一个的线,此时某一个地方不平整,导致直线出现变化,分析这个:“(”点的情况,以偏移最大点讨论,即“(”的峰此时相当于原本应该在B点出现的明条纹,跑到M点出现去了,此时M的入射光线也应该与一个折射反射波相干,即OP光线相干那么两个N点与O点的光线应该满足,明纹出现条件,半波长的偶数被,但是如果截面是水平的,他是不满足的,为什么此时能满足条件,就是因为截面不水平,向下凹了。
《劈尖牛顿环干涉》PPT课件
2)属于等厚干涉,条纹间距不等,为什么?
3)将牛顿环置于 的液体n中,1条纹如何变?
明环半径 暗环半径
r (k 1 ) R (k 1,2,3,)
2n
r kR / n (k 0,1,2,)
4)应用例子:可以用来测量光波波长,用于检 测透镜质量,曲率半径等.
测量透镜的曲率半径
rk2 kR
r2 km
例2:如图;用λ=500nm的单色光垂直照射劈尖,劈尖
λ=500nm
由空气到充满n=1.40的液体前后,距劈棱 数起第5条明纹移动多少?
2 104 rad
解:由
e
2nek
2
k
L sin L
(k 5)
k=5
L
e
L (2k 1) 4n
L 9 (1 1 ) 1.61mm 4 n
劈尖干涉的应用 1)干涉膨胀仪
干涉条件: k
Δr
2n d cos 2
/2
Δr 2n2 d / 2
k=1.2.3….(k 级明纹)
Δ (2k 1) / 2 k=0.1.2….(k 级暗纹)
条纹特点: 等间隔,等宽度,平行直条纹.
b 2n /
dk / 2n
条纹变化因素: (1) 厚度变化使得条纹移动.
(2) 介质使得条纹移动变化.
(k
m)R
R
r2 km
r2 k
m
工件 标准件
R
r
2r
例2 用氦氖激光器发出的波长为633nm的单色光做牛顿环实验,测得第个
k k R 暗环的半径为5.63mm , 第 +5 暗环的半径为7.96mm,求平凸透镜的曲率半径 .
解 rk kR
rk5 (k 5)R
12-5-劈尖干涉
观察到劈尖上出现9条暗纹,且第9条在劈尖斜坡上端
点M处,Si的折射率为3.42。试求SiO2薄膜的厚度。
解:由暗纹条件
= 2ne
M
SiO2
O
= (2k+1) /2 (k=0,1,2…) Si
知,第9条暗纹对应于k=8,代入上式得
e = (2k+1) /4n = 1.72(m)
所以SiO2薄膜的厚度为1.72 m。
观察到某处干涉条纹移过了N条,
l0
即表明劈尖的上表面平移了N·/2
的距离。
l N
2
N / 2
L0(t t0)
(2)测膜厚
n1
n2
Si
e SiO2
eN 2 n1
例 在半导体元件生产中,为了测定硅片上SiO2 薄膜的厚度,将该膜的一端腐蚀成劈尖状,已知SiO2 的折射率n =1.46,用波长 =5893埃的钠光照射后,
语言表达。
首 先 , 要 感 父亲对 我们的 养育和 教诲之 恩。自 古“人 到七十 古来稀 ”,父 亲大人 和 母 亲 同 舟 共济的 六十多 年里, 是不畏 难辛、 自强不 息。在 过去的 风雨中 ,您两 位 老 人 家 含 心茹苦 地将四 个子女 抚养成 人。66年 风风 雨雨, 66载生 活苍桑 。岁月 的 印 痕 消 消 地爬上 了您的 额头, 将您老 人家的 双鬓染 成白霜 。您给 了我们 宝贵的 生 命 ; 您 让 我们过 上了幸 福生活 ;您的 血脉在 我们的 身上流 淌,给 了我们 勇往直 前 的 力 量 ; ,您的 品德在 我们的 心头烙 下了深 深的印 记,启 迪引导 着我们 热爱生
一、劈 尖干涉
L
S
劈尖角
T
M
1劈尖干涉理论
1 劈尖干涉理论首先我们再来回顾一下波的干涉的定义:“两列频率相同的波相互叠加,在某些地方振动加强,某些地方振动减弱,这种现象叫波的干涉”。
具体来说,最大加强区域和最大减弱区域分别为:波的最大加强区域:该点到两个波源的路程之差是波长的整数倍,即δ=k λ;波的最大减弱区域:该点到两个波源的路程之差是半波长的奇数倍,即δ=(2k+1)λ/2; 对于光波来说,上面的波的干涉情况也适用。
两列同样的光波,光波的路程差情况也会引起光的干涉。
如图 所示。
用单色光从上面照射,入射光在空气层的上下表面发生反射,从放射光中就会看到等宽明暗相间的干涉条纹,设两玻璃间的夹角为θ,入射光的波长为λ,入射点处膜的厚度为h 。
考虑光从光疏介质射向光密介质有半波损失,则有干涉相长产生明纹的条件为:22λ+nh = λk 3,2,1=k (1)干涉相消产生暗纹的条件为:22λ+nh = λ)1(+k 3,2,1=k (2)2.劈尖干涉的应用(1) 检查平面的平整度 当光入射向玻璃和其下方的工件时时,在(参原理图像)工件的上表面和玻璃板的下表面反射的两束光将发生光的干涉。
根据光的干涉原理,(如左图所示)当光波的光程差为波长的整数倍时,在反射区域的光屏上就会形成明条纹;同理,当光波的光程差为半个波长的奇数倍时,就会在光屏上形成暗条纹。
在图中我们能够看到,当工件平整度极佳是,光程差取决于空气层的厚度。
空气层厚度相同的位置,明暗纹情况相同,我们看到的是平行的、交错的明暗纹(直线状)。
若工件不平整,即在工件的上表面反射的光的路程不在一致的时候,则条纹会凸起或者凹陷(如下图所示)我们还可以根据干涉原理算出其纹路深度:设b 为条纹间隔,a 为弯曲深度,则由相似三角形关系可得:b a e h =∆,而对于空气来说,有2λ=∆e ,从而可以得到ba h 2λ= (2) 测量微小长度利用劈尖干涉可以测量微小长度,要测量小球的直径,可以把小球夹在两块平玻璃之间,形成空气劈尖如图所示。
2020年高中物理竞赛—基础光学27薄膜等厚干涉:劈尖干涉(共16张PPT)
二. 等倾干涉
条纹特点
(1) 等倾干涉条纹为一系列同心圆 环;内疏外密;内圆纹的级次比 外圆纹的级次高
(2) 膜厚变化时,条纹发生移动。 当薄膜厚度增大时,圆纹从中 心冒出,并向外扩张,条纹变 密
(3) 使用面光源条纹更清楚明亮
(5) 透射光图样与反射光图样互补
PE i
i
n1
d
n2 n1
i
屏幕
即厚度每增加 / 2 时,条纹向下移动一级,数出条纹移动的数 目,即可测知厚度改变多少。(测量精度达 /10 以上)。干涉膨 胀仪就是根据这种原理形成的,用它可以测量很小的固体样品的
热膨胀系数。
薄膜上表面 面上移
k+1
·k
· ·
·
k-1
k
移动后条纹位置 移动前条纹位置
干涉条纹的移动
3.检查工件表面质量
增透膜的最小厚度
d
d 550 100nm
4n 4 1.38
r1 r 2
n 1.00 n 1.38 n 1.55
说明 增反膜
薄膜光学厚度(nd)仍可以为 / 4 但膜层折射率 n 比玻璃的折射率大
例:测量半导体薄膜氧化硅的
SiO2
厚度,用
0
5896A
钠光垂直照
பைடு நூலகம்
射,测得10条亮纹,且最右端处为一暗纹,求薄膜的厚度 d(n1 1
i
f
S
L
M
n
观察等倾条纹的实验装置和光路
例 波长550 nm黄绿光对人眼和照像底片最敏感。要使照像机
对此波长反射小,可在照像机镜头上镀一层氟化镁MgF2薄 膜,已知氟化镁的折射率 n=1.38 ,玻璃的折射率n=1.55
2020年高中物理竞赛—基础光学27薄膜等厚干涉:劈尖干涉(共16张PPT)
d 0
/2
设劈尖夹角 ,相邻明条纹(或暗条纹)之间距离 l
则
l sin
dk 1
dk
2
.
一定,当 大,l 小,条纹密,当相当大时,条纹将密得无法辨认,
所以干涉条纹只能在很尖的劈尖上看到。
实际用途;
1. 测量微小角度或细丝直径
2l
例:将细丝放在两块平面玻璃板之间,
如图,已知用绿光, 5461nm
凹厚度每增加时,条纹向下移动一级,
即移动b,现在条纹移动了a,所对应的厚度
变化
b: a:H
2
H a
2b
即可测量工件与标准板的偏差值。
三. 牛顿环
入射光垂直照射,i=0
干涉特点:中心 疏而边缘密的一
组同心环状条纹。 B
光程差
A
2d
2 R2 r2 (R d)2
C• R
r
O
S• d
又R d 所以d 2略去,d r2 2R
n2 1.5, n3 3.42)
n1 SiO2 n2
解:n1 n2 光疏→光密,有半波损失 n2 n3 光疏→光密,有半波损失
n3
光程差
2n2d
( 2k
k
1)
明纹
暗纹
2
对k值取法 棱边d=0,=0明纹
2n2d k
k应取9,即共有9个间隔,且明纹与暗纹间隔为
4n2
薄膜厚度: D k 19 1.867 m
增透膜的最小厚度
d
d 550 100nm
4n 4 1.38
r1 r 2
n 1.00 n 1.38 n 1.55
说明 增反膜
薄膜光学厚度(nd)仍可以为 / 4 但膜层折射率 n 比玻璃的折射率大
劈尖干涉判断平面凹凸题目
劈尖干涉判断平面凹凸题目
题目:利用劈尖干涉检测微小变化示意图。
(1)工件表面纹路是凹的还是凸的?
(2)证明凹纹深度。
答案:
(1)P点Q点在j级条纹上,P点对应空气膜厚度与Q点对应厚度同,因此P点对应的纹路是凹的。
(2)结果三。
解析:
(1)根据劈尖干涉原理,当光线通过两个相接触的平面时,会在交界处产生干涉现象。
如果两个平面是平行的,则干涉条纹是等间距的。
如果其中一个平面有凹凸变化,则干涉条纹会发生变化。
根据题目中的示意图,P点和Q
点都在干涉条纹上,且它们对应的空气膜厚度相同。
由于干涉条纹的等间距性,我们可以推断出P点对应的纹路是凹的。
(2)要证明凹纹深度,我们需要利用干涉条纹的变化规律。
根据劈尖干涉原理,当一个平面有凹凸变化时,干涉条纹会发生变化,具体表现为条纹的增密或减稀。
根据题目中的示意图,我们可以观察到干涉条纹的变化情况,从而推断出凹纹的深度。
具体计算过程需要根据干涉条纹的变化规律进行推导,这里不再赘述。
劈尖干涉PPT演示课件
l0 为样品在温度为 t0 时的长度。 33
用劈尖干涉法测膜厚。
例: A 、 B 处恰为
A
明纹中心,其间共有
N条暗纹。
B
sio2 e
si
n1 1 n2 1.57
nn33 33..4422
解: 相邻条纹高差
2n2
由棱边 A 到B 处 有 N 个明纹间隔
L
sin D
L
由: l sin
2n
有: l D
L 2n
金属丝直径为: D L
2n l 32
测量固体线膨胀系数
干涉膨胀仪
如果观察到某处干涉明
纹(或暗纹)移过了N 条, l
即样品高度增长了Δl ,为:
l N
l0
2
根据线膨胀系数的定义
石
样品
英 圆
柱
l N
5R
r2 k5
rk2
R
r2 k5
rk2
(7.96mm )2
(5.63mm )2
10.0m
5
5 633nm
23
迈克耳孙干涉仪
24
反射镜 M1
M1 移动导轨
单 色 光 源
分光板 G1
M1 M2
反 射 镜
M2 补偿板 G2
G1//G 2 与 M1, M2 成 450角
解:由于同一条纹下的空气薄膜
厚度相同,由图的纹路弯曲情况
知,工件表面的纹路是凹下去的。
由图:H = a sin
因 :l sin = / 2,
标准平面
纹路深度为: H a l2
大学物理课件劈尖干涉福州大学李培官
问: (1)不平处是凸的,还是凹的? (2)凹凸不平的高度为多少?
解: (1) 等厚干涉,同一条纹上各点对 应的空气层厚度相等, 所以不 平处是凸的.
(2)由相似三角形关系得:
b
a
2b
ha
h a
b2
abh
2
17
a
b
【例5】 工件质量检测 有一劈尖,光的=0.55m,明纹 间距a=2.34mm,但某处干涉条纹 弯曲,最大畸变量b=1.86mm,问: 该处工件表面有什么样的缺陷,其 深度(或高度)如何?
等厚线
等厚线
条纹向劈棱方向平移
条纹向远离劈棱方向平移
当某种原因引起膜的等厚线发生变化时,将引起 条纹作相应地移动。
膜厚每改变 / 2n2 ,条纹就向劈棱方向(或 向远离劈棱方向)平移一条。
12
四.解题举例
【例1】有一玻璃劈尖,放在空气中,劈尖夹角 =810-6rad. 波长=0.589m的单色光垂直入射时,测得相邻干涉条纹的
解:同一条干涉条纹的各点下面的 薄膜厚度相等,现在干涉条纹向劈 尖的棱边方向弯曲,因此判断工件 在该处有凹下的缺陷。
hb b
2a
得:h=0.219 m
18
欢迎指导
谢谢
19
谢谢聆听
若干涉条纹是平行直线,说明
A B 面是平的。
B
待测平晶
8
4. 测表面不平度
等厚条纹
平晶
待测工件
同一条等厚条纹对应相 同的膜厚度,所以在同一 条纹上,弯向棱边的部分 和直线的部分所对应的膜 厚应该相等。本来越靠近 棱边膜的厚度应越小,现 在在同一条纹上近棱边处 和远棱边处厚度相等,这 说明工件表面有凹坑。
2
光程 薄膜干涉 劈尖
§11. 3 波程 L: 波传播的距离.
光程 薄膜干涉
光波波长不同. 这样, 传播相同的距离, 两光的相位改变是不同的.
一、光程
一束光波在不同介质中传播时, 频率不变, 传播速度和波长发生变化. 即
c , (2)
真空
, n
介质折射率为 n
n
c c 1 , n n n n
1 /21
§11. 3
光程 薄膜干涉
2 2 2d n2 n2 sin 2 r
2 2 2 2d n2 n1 sin i 2 2
(9)
6 /21
r 2d n n sin i 2
2 2 2 1 2
§11. 3
光程 薄膜干涉
(9)
L 1 2 P
因此, 反射光2和3在P点的干涉条件为
r
一、劈尖和劈尖干涉
1. 劈尖
如图所示, G1和G2平板玻璃的一端搁一直径为D的细丝, 形成一个楔形, 这样在G1的下表面和G2的上表面之间形
T
L
S
劈尖角
G1 G2
M
成一层厚度均匀变化的空气层, 称为空气劈尖.
2、劈尖干涉(条纹)
当单色光源S发出的光经透镜L后成为平行光, 经M反射 后垂直射向劈尖( i 0), 自空气劈尖上下表面反射的光是
(1) 驾驶员看到的是反射光1和2的干涉结果
第5讲 等厚_劈尖干涉
l
d d N
L
2n
d
d
表面凹陷
测定硅片上二氧化硅 薄膜厚度的方法?
(棱边在左)
等厚_劈尖干涉
入射光波长 = 0.589 m. 现测得干涉条纹的宽度为 l = 2.4 mm,
求玻璃的折射率.
l
解:
d
d d
L
L l 2nl
n
2 l
5.89 107 28105 2.4103
1.53
应用 1. 光学表面检查
等厚_劈尖干涉
k: 反映偏离直线条纹的程度
2. 测小球直径
薄膜端部厚度d 的测量
条纹动态变化变小条纹变宽条纹向远离棱边方向移动变化等厚劈尖干涉劈尖底面有一凹槽条纹形状如何
大学物理
波动光学
第5讲 等厚_劈尖干涉
劈尖膜干涉的条纹是什么样的?
等厚_劈尖干涉
等厚_劈尖干涉
1. 劈尖膜的干涉 装置: 两光学平板玻璃一端接触,另一端垫一薄纸或细丝.
明暗条纹条件: 单色、平行光垂直入射 i = 0
2d
n22
n12Βιβλιοθήκη sin2i
2
2nd
2
dn
k
k 1,2,3, 明纹
(2k
1)
2
k 0,1,2, 暗纹
2nd
2
k
(2k
1)
k
2
1,2, k 0,1,2,
条纹特点:
等厚_劈尖干涉
明 暗
形态: 平行于棱边,明、暗相间条纹
棱边处 d = 0, 暗纹
2
l
相邻明(暗)纹对应薄膜厚度差:
d
d dk1 dk 2n 条纹宽度(两相邻条纹间距)
劈尖干涉--ppt课件
劈体元件生产中,为了测定硅片上SiO2薄
膜的厚度,将该膜的一端腐蚀成劈尖状,已知SiO2 的
折射率n =1.46,用波长 =5893埃的钠光照射后,观
察到劈尖上出现9条暗纹,且第9条在劈尖斜坡上端点M
4. 劈尖干涉的应用
4.1 依据:
4.2 应用: • 测表面不平度
等厚条纹
• 测波长:已知θ、n,测L可得λ
• 测折射率:已知θ、λ,测L可得n
• 测细小直径、厚度、微小变化
λ
平晶
平晶
待测工件
标 准
待 测
Δh
块
块
规
规
5. 牛顿环的应用
5.1 依据: 公式
5.2 应用:
• 测透镜球面的半径R :
已知, 测 m、rk+m、rk,可得R 。
实际应用中,通常使光线 垂直入射膜面,
即
,光程差公式简化为:
为此,明纹和暗纹出现的条件为: 明纹 暗纹
:为因为半波损失而生产的附加光程差。
等厚干涉条纹
当薄膜上、下表面的反射光都存在或都 不存在半波损失时,其光程差为:
当反射光之一存在半波损失时,其光程 差应加上附加光程 /2 ,即:
2. 劈尖膜
劈尖:薄膜的两个表面是平面,其间有很小夹角。
所以:
a b
ba
h
ek-1
ek
h
等厚干涉条纹
解:如果工件表面是精确的平面,等厚干涉条纹应 该是等距离的平行直条纹,现在观察到的干涉条纹 弯向空气膜的左端。因此,可判断工件表面是下凹 的,如图所示。由图中相似直角三角形可:
所以:
a b
18.04.劈尖 牛顿环迈克尔逊干涉仪
t
干涉条纹移动数目 介质片厚度
N t n 1 2
1881年迈克尔逊用他的干涉仪做了 著名的以太漂移实验。他认为若地球绕太 阳公转相对于以太运动时,其平行于地球 运动方向和垂直地球运动方向上,光通过 相等距离所需时间不同,因此在仪器转动 90°时,前后两次所产生的干涉必有0.04 条条纹移动。实验得出了否定结果。 迈克尔逊-莫雷实验,否定了以太参照系的 存在,使经典物理学的绝对时空观受到了严重的 挑战,为狭义相对论的建立提供了实验基础。
迈克尔逊干涉仪的主要特性 两相干光束在空间完全分开,并可用移动反射镜 或在光路中加入介质片的方法改变两光束的光程差.
M'2 M1
d
移动反射镜
d
2 d N
光程 差的 变化 干涉 条纹 移动 数目
G1
G2
M2
M'2 M1
d
插入介质片后
n
G1
G2
M2
光程差的变化量
Δ 2(n 1)t
h
G n1
解 1)条纹为同心圆
h
r
o
R
d
dk k
Δ 2n2 d k k
2n2
明纹
k 0,1, 2,
油膜边缘 k
0, d0 0 明纹
k 1, d1 250nm
k 2, d 2 500nm
k 3, d3 750nm
h
r
o
R
d
k 4, d 4 1000nm
二 光程差分析
n
n n1
n1 n1
Δ 2nd
2
d
三 干涉结果
第5讲 薄膜干涉2- 劈尖
第5讲 薄膜干涉2---劈尖
波动光学
h e
ab
a
h b2
凹
h e
ek 1 ek
h
D
n=1 空气劈尖
第5讲 薄膜干涉2---劈尖
二、光程差计算
2ne
2
k , k 1, 2,3 明条纹
=
( 2k 1 ) 2 , k 0,1, 2,
暗条纹
光程差取决于膜的厚度---等厚干涉
波动光学
空气 空气
第5讲 薄膜干涉2---劈尖
三、劈尖干涉条纹特点 ——等厚条纹
2ne ห้องสมุดไป่ตู้k
第5讲 薄膜干涉2---劈尖
波动光学
例题:有一玻璃劈尖,放在空气中,劈尖夹角=810-6rad。 波长=0.589m的单色光垂直入射时,测得干涉条纹的宽
度为2.4mm,求玻璃的折射率。
解:
2nl
5.89 107
n 2 l 28105 2.4103 1.53
第5讲 薄膜干涉2---劈尖
2
2
为了精确测量较大的长度, 需将待测物 体K(滚珠)的长度与标准块规G的长度 进行比较。从A和G之间劈形空气层的等 厚条纹求得角,由此可算出K的直径与 G的长度之间的差值
A
KG
B
校准块规
G1、G2是同规号的两个块规,G1的长度是标准的,G2是待校准的。 校准的方法如下:把G1和G2放在钢质平台面上使面和面严密接 触,G1 、G2上面用一块透明平板T压住。如果G1和G2的高度(即 长度)不等,微有差别,则在T和G1 、G2之间分别形成劈尖形 空气层,它们在单色光照射下产生等厚干涉条纹。1)设入射光
的波长是589.3nm,G1和G2相隔5cm(即图中的L)T和G1 、G2间干
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3.劈尖干涉 如图43-5所示:
当平行单色光垂直照射时,在劈尖的上下两 表面反射的两束光发生干涉。其光程差可用式 (43-1)表示。k 级干涉暗条纹对应的薄膜 厚度如式(43-2)表示。 k 0 时, d 0 ,即在两 由(43-2)可以看出, 玻璃的接触处为零级暗条纹;如在细丝处呈现 k N 级条纹 ,则待测细丝或薄纸片厚度为:
【思考题】 1.牛顿环的各环是否等宽?环的密度是否 均匀?应如何解释? 2.用同样的方法,能否测量凹透镜的曲面 半径? 3.牛顿环干涉条纹发生畸变的可能原因有 哪些?
2.牛顿环
牛顿环装置是由一块曲率半径较大的平凹玻璃 透镜,以其凸面放在一块光学玻璃平板(平晶) 上构成的,如图43-3所示:
一束单色光垂直照射在透明薄膜上,薄膜上、下 表面反射的两束光满足相干条件,产生干涉,厚 度相同对应同一级次的干涉条纹,故为等厚干涉。 当一束单色光垂直照射时,在薄膜上、下表面 的两束光的光程差满足下式:
(3)首先测出劈尖长度 L ,然后测量20个暗 条纹的间距,计算出 X 即可用公式(43-11) 计算出被测量。
【数据处理】 1.列出原始数据和中间计算数据表格。 2.用逐差法处理数据并求出。 3.计算的不确定度,并给出结果标准表达式。 4.计算出被测薄纸片的厚度。
【注意事项】 1.调节显微镜的焦距时,应使物镜筒从待测物 移开,使物镜筒自下而上地调节,严禁将镜筒 反向调节,以免碰伤和损坏物镜和待测物。 2.在整个测量过程中,十字叉丝中的一条线 必须与主尺平行,十字叉丝的走向应与待测 物的两个位置连线平行,同时不要将待测物 移动。 3.测量中的测微鼓轮只能向一个方向转动, 以防止因螺纹中的空程而引起的误差。
d N
2
(43-10)
如果劈尖总长为 L ,测出相邻两条纹之间的距 离 X ,则暗条纹数为 N L / X 于是:
L d X 2
(43-11)
【实验内容】 1.用牛顿环测量平凸透镜的曲率半径 (1)在日光下,用手轻调牛顿环的三个螺钉, 使牛顿环位于其中心。
(2)接通钠光灯电源,按图43-6放置读数显微 镜和牛顿环,用钠光灯垂直照射,经45º 反射 镜反射到牛顿环器件上,观察牛顿环干涉图样, 调节显微镜,使条纹清晰。
/ 2 是因为光线由光疏媒质入射到光密媒 式中, 质在 AA界面上反射时,有一项为突变引起的附 加光程差。
式(43-1)只与薄膜的厚度 d 和光波波长有 关。 当光程差:
2d
2
(2k 1)
2
(k 1,2,3)
1 即: d k 2 时产生暗条纹;
(43-2)
当光程差
2k ; k 1,2,3, , 明条纹 2 2nd (43-4) 2 (2k 1) ; k 0,1,2,3, 暗条纹 2
如图43-4所示:
由图中几何关系可知,干涉环半径 r 处薄膜的 厚度 d 与平凸透镜的曲率半径 R 之间有如下关 系:
D 2kR
2
(43-8)
另一方面,读数显微镜的系统误差也对 D 的 读数有一定影响,为减小这一影响,我们在实 验中通常采用逐差法,具体是,测量第 m 环 和第 n 环的直径 Dm , Dn ,由式(43-8)有:
D D R (43-9) 4(m n)
2 m 2 n
在实验中,如单色光的波长已知,则可用此 法测出透镜曲率半径 R ;反之亦然。
2d
2
2k
2
(43-3)
(k 1,2,3)
即: 时产生两条纹。
ห้องสมุดไป่ตู้
1 d (k ) 2 2
因此在空气薄膜厚度相同处产生同一级条纹, a 如图43-2所示。( )表示上下表面的平整 度很好,因而产生规则的干涉直条纹;( ) 表示上下表面的平整度很差,因而产生不规则 b 的干涉花样。这些均为等厚干涉。
实验四 十三 牛顿环及光的等厚 干涉
【实验目的】 1.用牛顿环测量平凹透镜的的曲率半径。 2.用劈尖干涉法测量薄纸的厚度 3.进一步学习读数显微镜的使用方法。 【实验仪器】 牛顿环装置,平面玻璃(两块),读数显 微镜,钠光灯及电源。
【实验原理】
如图43-1所示 :
当薄膜为空气时,其折射率 n 1 ,而且上下 表面 BB 与 AA 之间的夹角又很小,使光线几乎 11 2 2 C BB 垂直入射,则 在 表面上,光线 和 的光 程差为: 2d (43-1) 2
R r (R d )
2
2
(43-5)
因为 R d ,上式刻化简为:
r d 2R
2
(43-6)
将式(43-6)代入式(43-4),并认为空气 的折射率 n 1 ,则:
r kR
2
(43-7)
干涉环的中心不易测准,从而影响了半径 r 的 准确测量,为了减小这一误差,实验中通常测 量暗环的直径 D ,式(43-7)可写成:
(3)找到牛顿环的中心环,将叉丝对准中央暗 纹后,朝一个方向转动显微镜鼓轮,使镜筒朝 左方移动,并依次数出暗纹级次(中央为零 级)。 2.用劈尖干涉法测量薄纸片的厚度 (1)将平行平面玻璃用镜纸擦拭干净。 (2)把一侧夹有待测薄纸片的两块玻璃板放在 读数显微镜的载物台上,调节读数显微镜,使 视场内出现一系列清晰的明暗相间的直条纹。 注意要保证整个劈尖在读数显微镜的读数范围 内。