低压设备中铜及铜镀银镀锡后温升和载流量
镀锡铜线载流量
镀锡铜线载流量1. 镀锡铜线的定义和用途镀锡铜线是一种通过电镀工艺在铜线表面镀上一层锡的产品。
它具有良好的电导性能和耐腐蚀性，广泛应用于电子、通讯、汽车、航空航天等领域。
在这些领域中，镀锡铜线承担着承载电流的重要任务。
2. 镀锡对铜线导电性能的影响镀锡层可以提高铜线的导电性能。
通过在表面形成一层均匀、致密的锡层，可以减少表面氧化和腐蚀，提高导电效率。
此外，镀锡还可以改善铜与其他材料（如焊料）之间的结合力，提高接触可靠性。
3. 镀锡对铜线耐腐蚀性能的影响由于镀上了一层耐腐蚀性较好的锡层，镀锡铜线具有较好的耐腐蚀性能。
在潮湿环境中，普通纯铜容易发生氧化和变质现象，而镍与其他杂质元素会降低铜的耐腐蚀性。
镀锡铜线的锡层可以有效地防止这些问题的发生，延长线材的使用寿命。
4. 镀锡铜线在电子领域中的应用在电子领域中，镀锡铜线广泛应用于印刷电路板（PCB）制造过程中。
PCB是电子设备中不可或缺的组成部分，而镀锡铜线作为连接各个元件和导电层之间的导体，承担着承载和传输信号和电流的重要任务。
其优良的导电性能和耐腐蚀性能保证了PCB在长期使用过程中不会出现连接松动、信号传输不畅等问题。
5. 镀锡铜线在通讯领域中的应用通讯设备是现代社会不可或缺的重要工具，而镀锡铜线作为通讯设备内部连接元件之一，对于保证信号传输质量起着关键作用。
通过使用镀锡铜线可以有效减少信号衰减、提高信噪比，并且具有良好抗干扰能力。
6. 镀锡铜线在汽车领域中的应用随着汽车电子化的发展，汽车中的电子设备越来越多。
镀锡铜线在汽车中被广泛应用于电气系统、音响系统、导航系统等。
它不仅可以提供稳定的电流传输，还可以提高线材的耐高温性能，保证在恶劣环境下的可靠性。
7. 镀锡铜线在航空航天领域中的应用航空航天领域对于材料的要求非常高，要求材料具有良好的导电性能、耐腐蚀性能和高温性能。
镀锡铜线作为一种优质导体材料，在航空航天领域中被广泛应用于飞机和宇宙飞船等设备中。
镀锡铜线载流量
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铜是主要成分，锡在表面形成一层 薄薄的镀层。
镀锡铜线广泛应用于电子、电气、 通讯等行业。
镀锡铜线的制作方法
铜线准备：选择优质铜线，并进行表面处理 镀锡：将铜线放入镀锡溶液中，进行电镀锡处理 清洗：将镀锡后的铜线进行清洗，去除表面杂质 烘干：将清洗后的铜线进行烘干，去除水分 检验：对镀锡铜线进行检验，确保质量合格 包装：将镀锡铜线进行包装，准备出售或运输
05
镀锡铜线的优缺点 及改进方案
优点
导电性好：镀锡铜线具有良好的导电性能，能够有效地传输电流。 耐腐蚀：镀锡铜线表面镀有一层锡，具有良好的耐腐蚀性能，能够抵抗各种环境因素的侵 蚀。
易于焊接：镀锡铜线表面光滑，易于焊接，能够提高生产效率。
机械性能好：镀锡铜线具有良好的机械性能，能够承受较大的拉力和压力。
计算镀锡铜线的电阻率 r
公式适用于直流电路
计算镀锡铜线的载流量 I
04
镀锡铜线的应用场 景
电力输送
电力传输：镀锡铜线用于电力传输，提高传输效率 配电系统：镀锡铜线用于配电系统，保障电力供应稳定 输电线路：镀锡铜线用于输电线路，降低线路损耗 变压器：镀锡铜线用于变压器，提高变压器性能
电子设备制造
缺点
成本较高：镀 锡铜线的生产 成本相对较高， 可能导致产品
价格上升。
导电性能较差： 镀锡铜线的导 电性能相对较 差，可能影响 产 腐蚀性相对较 差，可能影响 产品的使用寿 命和安全性。
环保问题：镀 锡铜线的生产 过程中可能会 产生有害物质， 对环境造成影
Simple & Creative
镀锡铜线载流量
汇报人：xx
镀锡铜线的定义 影响镀锡铜线载流量的因素
低压配电铜排载流量设计修订稿
低压配电铜排载流量设计内部编号：（YUUT-TBBY-MMUT-URRUY-UOOY-DBUYI-0128）低压配电铜排载流量设计目录目录...............................................................1 目的.............................................................2 适用范围......................................................... 3引用/参考标准或资料 ..............................................4 材料介绍.........................................................4.1铜和铜合金板 (5)4.2牌号及状态 .....................................................4.3力学性能 ....................................................... 5规范内容 .........................................................5.1基本功能描述 ...................................................5.2 技术要求.......................................................6 铆接介绍.........................................................7 检验/试验要求....................................................7.1 检查铜排及其附件的质量，按图纸技术要求检验.....................7.2镀层检验 .......................................................7.3 搭接面检查.....................................................7.4 铜排样件防腐试验...............................................1 目的本规范适应于结构设计人员，外协加工管理人员，目的是规范铜排结构件设计，指导结构设计人员正确地选择铜排形式和材料，保证设计人员设计出的零件有较好的加工工艺性，加快加工进度，降低加工成本。
铜排载流量与温度的变化规律
铜排载流量与温度的变化规律铜排载流量与温度的变化规律，听起来有点严肃吧？别担心，今天咱们就轻松聊聊这个话题，让复杂的东西变得简单点。
想象一下，铜排就像是电流的高速公路，车辆就是电流，铜排就是那条宽宽的路，车多了，路就可能堵上。
而温度就像是天气，天气热了，车子开得慢了，不仅人烦，车也累。
铜排的工作环境可不简单，温度一升，载流量就得跟着调整，不然可就得小心了，别让电流闯了祸。
说到铜排，大家可能知道，它可是电力系统中不可或缺的材料。
铜导电性好，像个电流的小超人，无论是输电还是配电，都少不了它的身影。
不过，铜排的载流量并不是一成不变的哦。
当周围的温度上升，铜排的温度也跟着涨。
你想，夏天外面热得像蒸锅一样，铜排的“心情”也会受到影响，电流的“脚步”就会变得慢慢悠悠。
如果温度太高，铜排可能就受不了，过载了，真是得不偿失。
你们有没有注意到，天气越热，电器使用频率也越高，空调、冰箱拼命工作，电流就像是赶集一样，瞬间就多了起来。
这时候，如果铜排承受不住，嘿嘿，那就可能会出现“中暑”现象，严重的还可能烧毁，这可不是开玩笑的。
要知道，铜排的温度和载流量之间的关系可不是个小事。
过高的温度不仅会影响铜排的导电性，还可能造成材料老化，简直就是在为将来的问题埋下隐患。
所以，咱们在设计电力系统的时候，可得小心翼翼，得考虑到温度变化的影响，不能只顾着眼前的好处，而忽略了潜在的风险。
常说“宁可千日不做，绝不可一日妄为”，这道理放在这里也是适用的。
设计的时候，铜排的载流量一定要留有余地，给它留点空间，让它在高温环境中也能安心工作。
谁愿意看到自己辛苦建设的系统因为一个小小的温度变化而崩塌呢？如果咱们能通过一些科学的方法来预测温度变化，那可真是太好了。
比如说，安装一些监测设备，实时查看铜排的温度变化。
就像给铜排装个“温度计”，这样一来，随时掌握它的“健康状况”，能够及时采取措施，避免过载情况的发生。
再说，现代科技发达，咱们完全可以用数据说话，不再凭感觉来判断，省得受累。
镀锡铜线载流量
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低压开关柜主母线的表面镀锡或镀银是必须的吗？
低压开关柜主母线的表面镀锡或镀银是必须的吗？
铜排镀锡、镀银其目的就是为了提高温升，它与铜排的导电性毫无关系。
由于铜排镀锡或者镀银需要一定的费用，于是在很多场合下为了降低费用仅将铜排的搭接面局部镀锡或者镀银，以达到提高温升的效果。
铜镀锡后，若表面镀锡层出现破口，因为锡比铜活泼，破口处的锡将被腐蚀；铜镀银后，若表面镀银层出现破口，因为铜比银活泼，破口处的铜将被腐蚀。
要防止某种金属被腐蚀，首先要避免该金属表面存在其他种类的金属；其次，若某金属的表面电镀覆盖了它种金属的镀层，则特别注意避免出现破口。
铜比银活泼，所以银的电极电位比铜的电极电位要高，银相对铜更具有氧化性，而铜相对于银更具有还原性，因此铜与银放在一起时，银更稳定而铜则易腐蚀。
同理，锡比铜活泼，所以铜和锡放在一起时铜更稳定，锡相对于铜更易受到腐蚀。
对于裸铜，虽然铜的表面会形成无数的铜离子原电池，但所有原电池的电极电位数值均相等，故裸铜不会发生电子转移和电化学腐蚀，由此可知裸铜的抗腐蚀性最好。
结论：所有单质构成的纯金属，其表面电极电位一致，由此单质纯金属的抗腐蚀性一定好于含杂质的金属和多金属混合体。
铜排电流负荷校正系数表(TMY铜母线、载流、温升)
一、TMY铜母线关键性能指标符合GB/T5585-2005 TMY铜母线标准化学成分：Cu+Ag≥99.90%20℃直流电阻率≤0.01777Ω.mm2/m ；电阻温度系数0.00381℃-1硬度≥65HB二、温升试验条件持续50Hz交流电，电流排暴露在不流动的空气中，且无人工冷却。
三、环境温度为35℃，引起电流排上温度65℃及85℃的电流。
空气温度35℃时电流负荷能力（A）规格截面积母线温度65℃母线温度85℃10*3 30 110 14020*5 100 310 37050*3 150 500 61030*5 150 430 52030*6 180 470 57050*4 200 600 73040*5 200 550 670 20*10 200 470 57040*6 240 600 74050*5 250 680 830 30*10 300 640 78040*8 320 720 88060*6 360 880 1080 40*10 400 830 1020 80*6 480 1100 1340 60*8 480 1050 1280 50*10 500 1000 1220 60*10 600 1200 1460 80*8 640 1350 1650 80*10 800 1500 1830 100*10 1000 1830 2230 110*10 1090 2000 2440 120*10 1200 2150 2620 120*12 1440 2550 3110四、校正系数曲线图注:由于计算及试验条件均为理想环境（空气无流动、环境温度恒定、母线无常规氧化、无自然折旧、无外界电场及磁场影响、无光照及其它外界因素影响等），实际使用环境较复杂，对载流及温升影响不同，表格中数据均为理想条件下负荷能力，建议实际选用时考虑安全系数。
例如：TMY/50*10铜母线，在理想使用环境下，空气温度35℃，母线温度为65℃情况下，载流1000A。
电气设备常用材料及元器件允许的温升
电气设备常用材料及元器件允许的温升红外线测温枪能够安全地读取难以接近的或不可接触的目标温度，可以在仪器允许的范围内读取准确的目标温度。
在对电气设备进行检测时，可以较为准确、快速地判断出故障发生的原因及范围，甚至可以具体到细小的位置。
红外线测温枪主要由光学系统、光电探测器、信号放大器、信号处理与显示输出等部分组成。
其发出的激光束起指向作用，并接收所指被测物体表面辐射的红外线能量，然后由其内部电路分析处理、运算后显示出被测物体表面温度值。
将该值与被测物体的正常温进行比较，就可判断出故障原因。
表1及表2中列出了电气设备常用材料及元器件允许的温升，供检测时对比参考。
表1 电器材料及部件的允许温升速查表应用部位导电材料允许温升（工业用电器）(℃)触头自力式铜基合金40、45他力式铜及铜基合金30、40、50（长期工作制） 65 (8h工作制)银及银基合金、镀银65、75内部电路连接螺栓紧固铜及铜基合金50铜及铜基合金镀银、镀锡、镀镍65弹簧压紧铜及铜基合金45铜及铜基合金镀银、镀锡、镀镍55铜及铜基合金镀银65与熔断器连接60与绝缘导线连接65接线端铜及铜基合金50铜及铜基合金镀银、镀锡、镀镍 65与绝缘零件接触的导体以绝缘材料的允许温升为限手动操作部件金属的15绝缘的30电气附属的电阻元件 180油浸式电器油面／与油接触的零件60/65表2 绝缘材料的耐热等级及允许温升速查表绝缘等级允许温度(℃)允许温度(℃)常用材料举例用电阻法测量的电压线圈的平均温升用温度计或热电偶法测量线圈表面温升或橘色绝缘体的导体、金属件的温升A1058565浸渍过的棉纱、丝、纸等天然有机纤维、塑料、聚酰胺等E10080聚氨基甲酸酯、环氧树脂、纤维素三醋酸盐等B13011090玻璃纤维、石棉、云母、沥青、合成树脂等155135115玻璃纤维、石棉、云母、沥青、合成树脂与耐热性好的合成树脂的组合材料等H180160140玻璃纤维、石棉、云母与硅树脂的组合材料等C>。
低压成套开关设备温升试验方法分析
低压成套开关设备温升试验方法分析摘要：所谓温升试验就是给设备施加额定电流，模拟设备在满负荷正常条件下的运行，验证设备中各部件的温升极限是否超过国家标准的规定。
关键词：低压成套开关设备；温升；试验方法前言低压成套开关设备的温升试验,是指在指定条件下，测量温度的升值,即相应部位工作温度和环境温度的差值,把温度升高的值和环境的温度值加一起就是工作温度,最高工作温度不能超过相应部位的允许极限。
温升是低压成套开关设备的重要指标，直接影响产品的质量和寿命，因此，低压开关柜的结构设计和元器件选型，通常需要在评估过程中通过温升试验来检验。
方法是对低压成套开关设备主回路通以额定电流，各分支回路通以约定电流值，使其开关上下口、母排连接处、空间、外壳、手柄等部位，1小时内升温不超过1K，则认为达到温升稳定状态，此时温升应不超过相应部位国家标准规定的限值。
1温升的测试方案的选取选择低压成套开关设备进行型式试验时，要根据不同的安装方向，考虑最严酷的隔室及外壳条件(考虑到形状、尺寸、隔板及外壳的通风设计等)，选择最严酷的方案。
在验证温升试验前，需要先对低压成套开关设备的防护等级进行验证，以确保成套柜在生产企业声称的防护等级下进行温升的验证，选择试验用外接导线时，应根据低压成套开关设备的各个功能单元以及主/配电母线的额定电流来选择的，与要验证的实际施加的试验电流无关。
温升试验时，如果试品只有单一回路，可以直接在试品的出线末端短接，通以额定电流进行测试。
例如低压成套开关设备中母线干线或者由单一元件组成的柜体进行温升试验时采用此方案。
通常情况下低压成套开关设备中具有若干个出线回路。
对这种开关柜进行温升试验时，应根据各条出线回路的实际情况，通以相应额定电流值。
实验室通常采用多磁路升流变压器输出低压大电流到试品的进线端，而试品的各个出线回路根据额定电流的大小选择电流调节装置连接，试验过程中，利用电源侧的变压器和输出侧的电流调节装置调节输入和输出电流到额定值。
【必藏】铜排计算方法、载流量计算方法、折弯经验计算表及高压柜铜排计算方法
铜排的计算方法1铜排载流量计算方法2铜铝排载流量快速查询：3估算法：单条铜母排载流量= 宽度(mm) X 厚度系数双母排载流量= 宽度(mm) X 厚度系数 X 1.5(经验系数)铜排和铝排也可以按平方数来,通常铜应该按5-8A/平方,铝应该按3-5A/平方常用铜排的载流量计算方法：40℃时铜排载流量=排宽*厚度系数排宽(mm);厚度系数为:母排12厚时为20;10厚时为18;依次为:[12-20，10-18，8-16，6-14，5-13，4-12].双层铜排[40℃]=1.56-1.58单层铜排[40℃]（根据截面大小定）3层铜排[40℃]=2单层铜排[40℃]4层铜排[40℃]=单层铜排[40℃]*2.45(不推荐此类选择,最好用异形母排替代) 铜排[40℃]= 铜排[25℃]*0.85铝排[40℃]= 铜排[40℃]/1.3例如求TMY100*10载流量为：单层：100*18=1800(A)[查手册为1860A]；双层：2(TMY100*10)的载流量为：1860*1.58=2940(A)；[查手册为2942A]；三层：3(TMY100*10)的载流量为：1860*2＝3720(A)[查手册为3780A]以上所有计算均精确到与手册数据相当接近。
另外，铜排载流量也有一个非常简明的计算公式：单根矩形铜排载流量= 排宽 * (排厚 +8.5)A例如：15*3的40℃时载流量=15*11.5=172.5A 100*8的40℃时载流量=100*16.5=1650A双层载流量＝1.5倍单层载流量三层载流量＝2.0倍单层载流量45口诀：铝排电流要算快，排宽系数乘起来；厚三排宽乘十个，后四排宽乘十二。
加一依次往上添，铜排再乘一点三。
母线排的载流量与其截面大小有关。
故可通过母线排的厚度和宽度尺寸，直接算出载流量。
口诀指出，对一定厚度的铝排，它的载流量为排宽乘个系数即可。
厚3毫米的铝排，载流量为排宽×10，厚4毫米的铝排载流量为宽×12。
浅谈低压开关柜的温升
科技与创新┃Science and Technology&Innovation ·140·2019年第23期文章编号：2095－6835（2019）23－0140－02浅谈低压开关柜的温升陈家旺（厦门华电开关有限公司，福建厦门361000）摘要：随着电网的发展和设备技术的提高，开关柜在电网中已大量使用。
通过讨论温升的定义，指出了开关柜发热的原因，并分析了如何有效改善开关柜温升的措施。
关键词：开关柜；温升；环境温度；改善措施中图分类号：TM591文献标识码：A DOI：10.15913/ki.kjycx.2019.23.0651温升的定义温升是指开关柜中的各个部件高出环境温度。
开关柜在通电后产生电流热效应，随着时间的推移，开关柜中各个部件的温度不断上升直至稳定，此时测得开关柜各个部件表面的温度为最终温度，温度的单位为℃。
上升的温度中超过周围空气的温度（环境温度）的这一部分温度称为温升。
有些关于温升方面的文章中，经常把温升的单位写成℃，单位用摄氏度（℃）来表示温升是不妥当的，温升的单位应为开氏度（K）。
温升用公式表示为：θ=T2－T1（1）式（1）中：θ为温升；T1为环境温度，室温不允许超过40℃；T2为开关柜各部件发热状态下的温度。
温升极限值是指不造成开关柜的载流部件和/或相邻部件损坏的最高温升值，与开关柜的载流导体及其包覆绝缘材料、支撑绝缘材料的允许工作温度有关。
2引起开关柜发热的有关因素分析开关柜温度升高的过程就是各个部件发热的过程。
开关柜在正常的工作情况下，由于各种损耗造成各部件的发热，开关柜的损耗主要有电阻损耗、涡流损耗。
2.1电阻损耗开关柜的载流部件在正常工作情况下，通过不超过额定值的电流，而在电流流过的回路上必然存在着一定的回路电阻，因此在此电阻上会产生损耗，这就是电阻损耗。
开关柜的载流部件主要就是各电器元件和导体，这些部件与电源和负载连接在一起，形成了电流回路。
低压电器铜排温升
[低压电器]母线槽最关键的安全技术参数——极限温升2009-04-22 10:25:21 作者：珠海光乐电力母线槽有限公司来源：赛尔电气应用总第80期•母线槽最关键的安全技术参数关键字：极限温升值 [1篇]摘要：母线槽的极限温升值直接涉及到导体的载流能力和安全隐患问题，为此，标注母线槽的极限温升值是很有必要的，它是母线槽最关健的安全技术参数。
关健词极限温升值随着我国经济及现代化建设的飞速发展，用电负荷越来越大。
近几年来发达国家用母线槽代替电缆已是普遍现象，我国也已形成定向发展趋势。
但由于有些设计人员，用户及质量监督人员对母线槽最关健的安全技术参数?极限温升值，认识和了解不深，致使工程上存在安全隐患及投资浪费现象，下面谈一下有关母线槽极限温升值的若干问题。
在我国火灾事故中，属电气引起的火灾事故占比例超出60%，而由电气引起火灾事故的肇事者包括：电缆、电线、高低压成套设备、变压器、母线槽、电器元件等。
大部分是由于长期温升高发热，导致绝缘材料老化发生短路而引起火灾事故，发热检测的标准术语就是极限温升。
所以要确保供电系统安全运行及节能减排，母线槽的极限温升则是对母线槽产品考核的一项必不可少的技术参数，足以引起设计、监理、甲方施工单位、验收单位重视。
一、温升为何确定了母线槽的载流能力：低压电力输送干线有电线、电缆、分支电缆、母线槽、裸导电排，穿刺电缆等。
由于各种产品散热不同，每平方毫米的载流能力也是有所不同的：同样的产品，同样的导体规格，当通过相同的电流时，其温升不同；同样的导体截面积，因设计结构不同，温升也不同。
当然，温升高，电阻值增大，电压降也加大，电能的损耗也随着加大。
例如：35mm2的电线通过80A电流时温升较低，通过100A 电流时符合标准，如果通过120A电流或150A电流，温升就超标准，绝缘材料随之快速老化，最终产生短路事故。
如果35mm2电线通过100A电流，每mm2相当于通过2.85A电流，另外6mm2电线通过38A电流，每mm2相当于通过6.3A电流，如果6mm2电线同样每mm2通过2.85A电流，那么6mm2电线此时通过的电流是18A，它的电压降及电损比35mm2小很多，就因为导体的温升下降了，电能的损耗也随着下降。
铜排表面涂漆后载流量为何会比裸铜排高？
例如铜排规格100*10，涂漆铜排的载流量为1810A，而裸铜排载流量为1490A，比涂漆铜排低了17.6%。
有读者提出质疑，认为铜排“涂漆”是一种落后工艺，现在铜排都用镀银、镀锡、镀镍等工艺，其实这些表面处理方式的作用完全不一样。
铜排搭接面镀银、镀锡、镀镍等表面处理方式，是降低搭接面接触电阻和保持长期稳定的低电阻状态，而铜排“涂漆”相对于裸铜排，其表面粗糙度不一样，有利于提高辐射散热的发射率，进而提高了铜排的允许载流量。
另一个疑问，铜排表面“涂漆”为何会提高铜排的载流能力呢？我们知道导体的散热有三种方式：热传导、对流以及辐射。
热传导就是高温通过导体传导至低温侧，最终实现温度平衡，对流是通过空气流动带走热量，热辐射是通过电磁波传播能量。
铜排表面涂漆对热传导和对流散热影响不大，但是对于热辐射散热有一定帮助。
根据斯忒潘-玻尔兹曼定律，物体单位面积的辐射功率为：P f=σεf(T24-T14 )其中σ为斯忒潘-玻尔兹曼常数，T2为发热体表面温度，T1为接受辐射物体表面的温度，εf 为发射率。
发射率εf与发热体表面状况及颜色有关。
对于绝对黑体，它的辐射和吸收能力最强εf=1，对于一般物体εf在0到1之间。
经验数据表明，黑色磁漆的发散率为0.95，氧化了的铜的发散率为0.5~0.6，抛光的紫铜发散率为0.15，见下表1-5。
DIN43671-1975中涂漆铜排的发散率基于0.9，而裸铜排的发散率是基于0.4。
我们计算铜排载流量时，其理论基础就是牛顿公式。
在正常运行情况下，当发热与散热达到平衡时，满足牛顿公式：I2R=K t*A*ΔTI为额定电流，R是母线电阻，A是母线散热表面积（cm2），ΔT是温升，即母线表面温度与环境温度之差：T C-T0，K t是综合散热系数（瓦/cm2度），它表明母线的散热能力，与母线材料的表面状况和所处环境有关。
对于某特定规格的铜排，电阻、表面散热面积、综合散热系数都是固定的，所以铜排载流量就只和铜排温升有关系。
低压成套开关设备检测温升验证、电弧故障试验
附录 A（规范性）温升验证A.1 低压成套开关设备温升验证A.1.1 总则低压成套开关设备的温升极限值不应超过GB/T 7251.1—2013中9.2的规定。
低压成套开关设备的温升试验参照GB/T 7251.1—2013中10.10和GB/T 7251.1—2013中附录O 的规定，并应符合本附录要求，其相关试验条件见A.1.2。
温升试验时使用的外接导体的尺寸、布置方式、试验电流、温升布点位置等应采用照片及示意图的形式详细记录并载入试验报告中。
温升试验分两种验证方式：单柜试验和由多个单柜组合成的组合柜试验（以下简称组合柜试验）。
A.1.2 试验条件外壳应完整，成套设备应按正常使用时放置，所有覆板包括底板都应就位。
柜门应保持闭合，电缆接口处应按使用状态予以封闭，确保温升试验期间其外壳防护等级不应降低；抽屉柜、固定分隔柜温升试验时，应保持功能单元及其内的元器件状态一致，即在温升试验前和温升试验后的状态应保持与电弧故障试验前的状态一致，如不一致,则电弧故障试验前应重新进行温升试验。
试验时，温升试验区域不应有热辐射、热对流影响，例如：阳光照射、空调出风口影响试验。
试验室空间应足够大；温升试验时室内的周围空气温度+10 ℃～+40 ℃；试验环境应无明显的空气流动，风速不大于1 m/s。
水平母线额定电流4000A以下风机不允许启动。
A.1.3 试验方法A.1.3.1 通用要求按GB/T 7251.1—2013附录O中O.3.2方法a）规定进行温升试验。
成套设备的进、出线电路应通以额定电流, 即等效额定分散系数为1.0。
如果进线电路或配电母线系统的额定电流小于所有出线电路额定电流的总和，出线电路应根据进线电路或配电母线系统的额定电流分成几组。
分组形式应能获得最高可能的温升。
应形成足够多的组并进行试验，以保证至少在一个组中包含功能单元的所有不同的方案，并且：a)单柜或组合柜进行温升试验时，以配电母线（垂直母线）的额定电流为基准，确保在不超过配电母线额定电流值的情况下，每个出线电路在最严酷的负载电流工况下进行温升试验，即在柜门全部关闭、风机（如有）不启动。
铜排标准及载流量计算
圆角圆边全圆边省略B Q 软态硬态R Y其中含银TM -TH11M 0.08-0.15TH12M 0.16-0.25r 0.5a 0.81.21.63.2r 0.25a r 0.5a 计算时，20℃时铜和铜合金母线的参数如下g/cm 3℃-1℃-1234.45234.45=1/0.00393-20℃-1242.47电阻的温度系数，是指当温度每升高一度时，电阻增大的百分数。
例如，铂的温度系数是0.00374/℃。
它是一个百分数。
在20℃时，一个1000欧的铂电阻，当温度升高到21℃时，它的电阻将变为1003.74欧。
实际上，在电工书上给出的是“电阻率温度系数”，因为我们知道，一段电阻线的电阻由四个因素决定：1、电阻线的长度；2、电阻线的横截面积；3、材料；4、温度。
前三个因素是自身因素，第四个因素是外界因素。
电阻率温度系数就是这第四个因素的作用大小。
实验证明，绝大多数金属材料的电阻率温度系数都约等于千分之4左右，少数金属材料的电阻率温度系数极小，就成为制造精密电阻的选材，例如：康铜、锰铜等。
242.47=1/0.00381-200.017094017=1/58.5ρ75 Ω·mm 2/m 0.020*******.021*******.0170940170.020780962TMY 、THMY 0.0172410.01777ρ20 Ω·mm 2/m TMR 、THMR TMY 、THMY 0.003930.00381电阻温度系数(20℃时)a ×b-0.214a20.0000178.89密度线膨胀系数a截面a ×b-0.0684a 225＜a a截面TMR 、THMR a ×b-0.858r 2全圆边a截面圆边二类银铜合金母线化学成分%铜加银不小于99.9099.90a ≤2.82.8＜a ≤4.754.75＜a ≤12.5圆角GB/T 5585.1-2005 电工用铜、铝及其合金母线第1部分：铜和铜合金母线按截面形状分按状态分12.5＜a ≤2599.90型号名称铜母线一类银铜合金母线化学成分名称单位计算按允许温升计铜排厚δmm 6铜排宽h mm 80宽厚比h/δ13.33333额定频率f Hz 50工作温度下R 100Ω0.004578100m 长导体在工作温度下的直流电阻工作温度℃9070℃电阻率Ω·mm 2/m0.021974(f/R 100)^0.5104.5088集肤效应kf(查图) 1.054按保定变压器手册P367载流量IA 29001565.481976热损耗功率P=kf*I^2*R W 40578.9711825综合传热系数k12.5100m 有效散热面积S=2*(h+δ)*100*10^(-3)m 217.2温升τ=P/S/k K188.739455环境温度35根据《高低压电器速查速算手册》-方大千等编允许温度θ12025303540455090 1.13 1.09 1.04 1.000.950.900.8580 1.15 1.11 1.05 1.000.940.880.8270 1.20 1.13 1.07 1.000.930.850.7665 1.22 1.15 1.08 1.000.910.820.7160 1.26 1.18 1.10 1.000.890.770.63501.41 1.29 1.15 1.000.820.580.00排厚mm 排宽mm 面积mm 2周长mm 推算θ2=35表θ2=35推算θ2=40推算θ2=45表θ2=35推算θ2=45表θ2=35推算θ2=4531545361851851711563206046241242223204325755629830027525143012068415420384350440160885455505044604502001086766255704602401288067456805402009061761557052155025011076275570564456030013090890084076758040017011991109101262012052363336306630180725234844426402409268363257765030011284384078071266036013210029909278461530129319701664680480172132113001222111618601571239020196100600212163915901517138521701833279023578604801361174116010879921900160524602079880640176154314901428130323001943297025108100800216191118301768161426902273346029248120960256227921102109192529902527382032281060600140133213001233112522501901290024501080800180174416701614147427302307351029661010010002202156203019951822318026874090345610120120026025672330237621693610305145803870单片载流量AK=((θ1-θ2)/(θ1-35))^0.5环境温度θ2二片三片铜排截流量按θ1=70(表数据摘自新编电工实用手册)铜排尺寸。
低压设备中铜及铜镀银镀锡后温升和载流量
低压设备中铜及铜镀银镀锡后温升和载流量铜及铜镀银镀锡后温升和载流量的分析一、银及银基合金触头长期使用允许温升值得确定银及银基合金触头长期使用允许温升值在电（D）202—61“低压电器触头及母线允许温度”标准中规定为80℃（在周围介质温度为40℃时），而且国外有关标准镀银及银基合金触头允许温升仅规定其相邻部件的温升限制，例如ICE刊物号158-1-1970“低压控制设备——接触器”标准、法国NFC63-110-1970 “工业用低压设备――接触器”标准，对银及银基合金触头温升值均是规定其受相邻部件温升的限制。
对银及银基合金触头温升值，究竟如何规定恰当？在74年3月于无锡召开的低压电器允许温升标准验证工作会议上做了分工，对交流接触器和自动开关中所用的银基合金触头进行试验验证。
验证试验是将通过通断能力试验后的银基合金触头通以产品额定电流，发热至稳定，然后提高电流，使其稳定温度达140℃左右，再持续通电一个月，每8个小时测量触头温升、动静触头间的压降等，以考核银基合金触头在140℃左右的电阻稳定性。
验证后的结果表明银及银基合金触头在140℃时接触电阻是稳定的。
由于银及银基触头在空气中具有较高的抗氧化耐腐蚀的能力，在长期高温下使用具有稳定的电阻率，故对银及银基合金温升的规定，可依其受相邻部件的升温为限。
导电材料相接触时采取防护措施，可降低其接触电阻，改善发热条件，提高其允许温升值。
原电（D）202―61以及其他低压产品的标准中。
对镀层接触的允许温升，均比没有镀层的要高。
如铜镀锡接触表面规定允许温升为60℃（指周围空气温度为40℃时，以下同），比没有镀层的要高10℃，铜镀银接触表面规定允许温升为80℃。
二、铜镀银和镀锡对稳定载流量的好处电器的接线端都是铜质的，母线连接处压花以增强导电性能. 裸母排比相应母排搪锡或镀银后的载流量稍大，但铜很容易氧化，其氧化膜电阻率极大，比铜的电阻率大十几个数量级。
同时，要除去铜的氧化膜又非常困难，几乎要在略低于铜的熔点的高温下才会熔解，也很难为强电场所破坏，只有机构摩擦才能将它去除。
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铜及铜镀银镀锡后温升和载流量的分析
一、银及银基合金触头长期使用允许温升值得确定
银及银基合金触头长期使用允许温升值在电（D）202—61“低压电器触头及母线允许温度”标准中规定为80℃（在周围介质温度为40℃时），而且国外有关标准镀银及银基合金触头允许温升仅规定其相邻部件的温升限制，例如ICE刊物号158-1-1970“低压控制设备——接触器”标准、法国NFC63-110-1970 “工业用低压设备――接触器”标准，对银及银基合金触头温升值均是规定其受相邻部件温升的限制。
对银及银基合金触头温升值，究竟如何规定恰当？在74年3月于无锡召开的低压电器允许温升标准验证工作会议上做了分工，对交流接触器和自动开关中所用的银基合金触头进行试验验证。
验证试验是将通过通断能力试验后的银基合金触头通以产品额定电流，发热至稳定，然后提高电流，使其稳定温度达140℃左右，再持续通电一个月，每8个小时测量触头温升、动静触头间的压降等，以考核银基合金触头在140℃左右的电阻稳定性。
验证后的结果表明银及银基合金触头在140℃时接触电阻是稳定的。
由于银及银基触头在空气中具有较高的抗氧化耐腐蚀的能力，在长期高温下使用具有稳定的电阻率，故对银及银基合金温升的规定，可依其受相邻部件的升温为限。
导电材料相接触时采取防护措施，可降低其接触电阻，改善发热条件，提高其允许温升值。
原电（D）202―61以及其他低压产品的标准中。
对镀层接触的允许温升，均比没有镀层的要高。
如铜镀锡接触表面规定允许温升为60℃（指周围空气温度为40℃时，以下同），比没有镀层的要高10℃，铜镀银接触表面规定允许温升为80℃。
二、铜镀银和镀锡对稳定载流量的好处
电器的接线端都是铜质的，母线连接处压花以增强导电性能. 裸母排比相应母排搪锡或镀银后的载流量稍大，但铜很容易氧化，其氧化膜电阻率极大，比铜的电阻率大十几个数量级。
同时，要除去铜的氧化膜又非常困难，几乎要在略低于铜的熔点的高温下才会熔解，也很难为强电场所破坏，只有机构摩擦才能将它去除。
但接线端与母线间的连接是静止的，它们之间不存在相对运动，所以一旦形成了氧化膜，就只好任其存在。
氧化膜的存在使铜接头处的接触电阻增大很多，以致该处温升非常高，能量损耗很大。
另外，由于材料在高温下的蠕变，还可能造成螺栓连接的松动，使接触电阻更加大。
有时还可能导致局部出现电火花，终于形成一种恶性循环。
如果铜质出线段是同铝母线连接，则又因铜铝接头间有电化学腐蚀，它与温升的增大两者之间也存在一种恶性循环，情况尤为严重。
为了解决上述问题，习惯是将接头处镀上一层银或锡，
因为这是防止铜和铝氧化以及它们之间发生电化学腐蚀，从而降低接电阻和能量损耗、并且稳定接触电阻的有效方法。
母线接头处镀锡,能增加接触面积。
因铜母线在打孔时铜排有局部变形,螺栓压紧时,铜排会变形弯曲,使接触面减少,搪锡后,表面的锡较软,在螺栓压紧时,高处的锡变形,能增加接触面积，从而增加铜排连接处的载流量。
对低压电器各部分在周围空气温度为40℃时的允许温升值规定如下：。