材料研究方法复习题(PDF)
材料研究方法复习题
1.根据下图，试推导Bragg方程，并对方程中主要参数范围的确定进行讨论。
答：1）Bragg方程推导：根据题图，有：相邻两个原子面上的原子散射波光程差δ= AE + AF = ABsinθ+ ABsinθ=2 ABsinθ= 2dsinθ干涉加强条件是，晶体中任意相邻两个原子面上的原子散射波在原子面反射方向的相位差为2π的整数倍，光程差等于波长的整数倍。
因此，干涉加强的条件为：2dsinθ= nλ即Bragg方程。
2）方程中主要参数范围的讨论：a. 根据布拉格方程，sinθ不能大于1，因此：nλ/2d =sinθ< 1，对衍射而言，n的最小值为1，所以在任何可观测的衍射角下，产生衍射的条件为λ<2d，这也就是说，能够被晶体衍射的电磁波的波长必须小于参加反射的晶面中最大面间距的二倍，否则不能产生衍射现象。
b.当x射线波长一定时,晶体中存在可能参加反射的晶面族也是有限的,它们必须满足d>λ/2, 即只有那些晶面间距大于入射x射线波长一半的晶面才能发生衍射2.什么是X射线谱，连续X射线谱的产生机理是什么？答：1）X射线谱：x射线的强度随波长而变化的曲线称为X射线谱。
2）具有连续波长的X射线，构成连续X射线谱，其产生机理为：能量为eV的电子与阳极靶的原子碰撞时，电子失去自己的能量，其中部分以光子的形式辐射，碰撞一次产生一个能量为hv的光子，这样的光子流即为X射线。
单位时间内到达阳极靶面的电子数目是极大量的，绝大多数电子要经历多次碰撞，产生能量各不相同的辐射，因此出现连续X射线谱。
3.写出标识X射线谱的波长与阳极物质原子序数间的对应关系（莫塞莱定律），说明莫塞莱定律的意义。
答：1）莫塞莱定律：标识X射线谱的波长λ与原子序数Z关系为：1/λ=K/(Z-σ)22）莫塞莱定律的意义：莫塞莱定律指出了标识X射线谱的波长λ与阳极物质原子序数Z的关系，莫塞莱定律是X射线光谱分析中的重要理论基础。
用电子轰击待测试样辐射出标识X射线，并测定其波长，则可以知道试样中含有哪些元素。
材料研究方法课后习题答案
材料研究方法课后习题答案第一章绪论1. 材料时如何分类的？材料的结构层次有哪些？答：材料按化学组成和结构分：金属材料、无机非金属材料、高分子材料、复合材料材料的结构层次有：微观结构、亚微观结构、显微结构、宏观结构。
2.材料研究的主要任务和对象是什么？有哪些相应的研究方法？答：任务：研究、制造和合理使用各类材料。
研究对象：材料的组成、结构和性能。
研究方法：图像分析法、非图形分析法：衍射法、成分谱分析。
成分谱分析法：光谱、色谱、热谱等；光谱包括：紫外、红外、拉曼、荧光；色谱包括：气相、液相、凝胶色谱等；热谱包括：DSC、DTA等。
3.材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？答：按研究仪器测试的信息形式分为图像分析法和非图形分析法；按工作原理，前者为显微术，后者为衍射法和成分谱分析。
重要性：1）理论：新材料的结构鉴定分析；2）实际应用需要：配方剖析、质量控制、事故分析等。
第二章光学显微分析1.区分晶体的颜色、多色性及吸收性，为何非均质体矿物晶体具有多色性？答：颜色：晶体对白光中七色光波选择吸收的结果。
多色性：由于光波和晶体中的振动方向不同，使晶体颜色发生改变的现象。
吸收性：颜色深浅发生改变的现象称为吸收性。
光波射入非均质矿物晶体时，振动方向是不同的，折射率也是不同的，因此体现了多色性。
2.什么是贝克线？其移动规律如何？有什么作用？答：在两个折射率不同的物质接触处，可以看到比较黑暗的边缘，称为晶体的轮廓。
在轮廓附近可以看到一条比较明亮的细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条较亮的细线称为贝克线。
移动规律：提升镜筒，贝克线向折射率答的介质移动。
作用：根据贝克线的移动规律，比较相邻两晶体折射率的相对大小。
3.什么是晶体的糙面、突起、闪突起？决定晶体糙面和突起等级的因素是什么？答：糙面：在单偏光镜下观察晶体表面时，可发现某些晶体表面较为光滑，某些晶体表面显得粗糙呈麻点状，好像粗糙皮革一样这种现象称为糙面。
材料研究方法复习题库
材料研究方法1.均质体与非均质体介质的折射率不因光波在介质中的振动方向的不同而发生改变，其折射率值只有一个，此类介质属于光性均质体，简称均质体。
介质的折射率因光波在介质中的振动方向的不同而发生改变，其折射率值不止一个，此类介质属于光性非均质体，简称非均质体。
光波入射非均质体时，除特殊方向外，都要发生双折射现象，分解为振动方向垂直、传播速度不同、折射率不等的两种偏光，两者之差为双折射率。
2.正交偏光下晶体的消光现象和四次消光现象。
3.光学显微镜提高分辨能力的方式。
分辨率：d = 1.22λ/2n·sinα所以可以从三个方面提高：①、选用波长较短的光波，如紫外、X射线、电子束等。
②、采用折射率较大的材料，如油浸显微镜。
③、增大显微镜的孔径角，如采用复式透镜4.X射线管的结构、X射线产生原理工作原理X射线管由主要由电子枪阴极和金属靶阳极组成。
高速运动的电子或其他高能辐射流与物体发生碰撞时被突然减速，并与物质内层电子发生作用而产生X-ray。
在X射线管中，在通电时阴极被加热释放自由电子，这些电子在阴阳极的高压下被加速成高能电子束，高速射向阳极靶发生碰撞，由阳极靶产生X射线，经铍窗口射出。
由于高能电子撞击阳极靶后一部分能量转化为X射线，大部分的转化为热能，使得阳极靶温度剧增，因此必须对阳极靶进行冷却，一般采用循环水冷却，也可采用旋转靶材的方法。
5、X射线的线吸收系数和质量吸收系数与波长和原子序数的关系。
μl=μm·ρμm=aλ3+bλ4；μm≈Cλ3Z3μl：当x射线穿过单位长度为1cm物质时强度衰减的程度。
μl越大衰减越大μm：当x射线穿过单位质量物质（单位截面的1g物质时的强度衰减程度，其值与X射线照射的物质的原子序数和X射线波长有关。
波长一定时，其关系表达式为：μm∝Z36、X射线与物质作用后为什么会出现规则斑点、圆环、晕圈？多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环，单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点所组成，而非晶体物质的衍射花样只有一个漫散的中心斑点（晕圈）。
材料研究与测试方法复习资料 (含答案)
填空题(每空1分)1.当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱X 射线和 特征谱 X 射线。
2. 点阵常数测定过程中需要确定峰位，确定峰位的常用方法有峰顶法 、 切线法 、半高宽法，和抛物线拟合法 。
3. 经过厚度为H 的物质后，X 射线的强度为 H H m e I I ρμ-=0 。
4. X 射线扫描仪中的常规测量中的实验参数包括狭缝宽度、扫描速度和 时间常数 。
5. 磁透镜的物距L 1，相距L 2和焦距f 三者之间的关系为 。
6. 透射电镜样品制备各方法主要有复型法、和薄膜法，其中复型样品制备中塑料-碳二的复型优于碳一的 复型是由于 其制备过程不损坏金相试样表面，重复性好，供观察的第二级复型一碳膜导电导热性好， 在电子束照射下较为稳定 。
7. 差热分析曲线总的峰高表示 试样和 参比物 之间的最大温差，即从封顶到该峰所在基线碱的垂直距离。
8. 第一类应力导致X 射线衍射线位移，第二类应力导致X 射线衍射线线形变化，第三类应力导致X 射线衍射线 强度降低。
9. 红外光谱法定量分析的具体方法主要有 标准法 、吸光度比法 和 补偿法 共同组成。
10.单晶体电子衍射花样是规则的衍射斑点组成。
11. 大量实验证明，X 射线具有波动性和微粒性 的双重性，即波粒二象性。
12. 布拉格方程式衍射分析中最基本的公式，其应用主要集中在 结构分析 和成分分析两个方面。
13.由于X 射线的发展，相继产生了X 射线透射学 、 X 射线衍射学 和 X 射线光谱学 等三个学科。
14.提高透镜分辨率的本领 波长 ， 介质 和 孔径半角 。
15. 电磁透镜的几何像差包括 球差和 像散，而电子束波长的稳定性决定的像差为色差 。
16. 透射电镜主要有电子光学系统、电源控制系统和 真空系统构成。
17. 非弹性散射机制主要有 单电子激发 、 等离子激发 、和 声子激发 。
18. 透射电镜的主要性能指标分辨本领、 放大倍数 、和 加速电压 。
材料研究方法复习题
材料研究方法复习题1.Ｘ射线的波长范围大致为多少？Ｘ射线产生的基本原理及X射线管的基本结构（1）0。
0１-1０ｎm(２）高速运动的自由电子被突然减速便产生X射线；(3)X射线管的基本结构：使用最广泛的是封闭式热阴极X 射线管，包括一个热阴极(绕成螺线形的钨丝）和一个阳极(靶），窗口，管内高真空（１０—7Ｔorr）2.X射线谱的基本类型及其特点X射线强度 I 随波长λ的变化曲线称为X射线谱，可分为连续X射线(由连续的各种波长组成,其波长与工作条件V、I有关）和特征X射线（又称标识X射线,不随工作条件而变，只取决于阳极靶的物质）。
3.描述X射线于物质的相互作用（俄歇效应和光电效应）课本图3.8补充俄歇效应：当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。
4.X射线衍射的几何条件(布拉格方程或定律)Ｘ射线通过物质（晶体)后衍射线特征包括方向和强度，其中衍射线的方向与晶体的点阵参数（晶胞大小和形状）、入射线的方位及X 射线波长有关,具体表现为:劳厄方程式、布拉格定律和倒易空间衍射公式.5.X射线衍射分析的方法主要有哪些？各自的特点是什么？(注意λ和Θ的变化）单晶：劳厄法（λ变，θ不变)；转晶法（λ不变，θ部分变化）粉末：粉末照相法（粉末法或粉晶法) (λ不变,θ变)；粉末衍射仪法(λ不变，θ变化）6.Ｘ射线衍射物相分析的基本原理（Ｉ/Ｉ0、2Θ)X射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小，即决定于各晶面的晶面间距,而衍射线的强度决定于晶胞内原子种类、数目及排列方式,每种结晶物质具有独特的衍射花样，且试样中不同物质的衍射花样同时出现互不干涉，某物相的衍射强度取决于它在试样中的相对含量，当试样的衍射图谱中d值和I/I0与已知物质的数值一致时，即可判定试样中含有该已知物质.7.说明Ｘ射线衍射仪法定性分析物相组成的基本过程,注意事项及ＰＤＦ卡片的检索方法（1）X射线衍射定性分析是将试样的衍射谱与标准衍射谱进行比较鉴别,确定某种物相的存在以及确定该物相的结晶状态。
材料研究方法（唐正霞）习题及答案
材料研究方法习题答案光学显微分析1.如何提高光学显微分析的分辨能力？①选择更短的波长,如紫外光、X射线、电子束等；②采用折射率很高的材料,如采用浸油显微镜；③增大显微镜的孔径角,如采用复合透镜以加大显微镜物镜的孔径角。
2.阐述光学显微镜分析用光片制备方法。
（1）取样：光片的取样部分应具有代表性，包含研究对象并满足特定要求；（2）镶嵌：对一些形状特殊尺寸细小而不易握持的样品需进行镶嵌；（3）磨光：去除样品表面损伤，获得光滑样品表面；（4）抛光：去除细磨痕以获得无暇镜面，并去除变形层；（5）浸蚀：使不同组织，不同相位晶粒以及晶粒内部与晶界处各受到不同程度浸蚀，形成差别，从而清晰的显示出材料的内部组织。
3.电磁波谱的主要参数波普区波长范围波数/cm-1频率/MHZ光子能量/ev 域Y射线0.5~140pm2×1010~7×1076×1014~2×1012 2.5×106~8.3×103 X射线10-3~10nm106~10103×1010~3×1014 1.2×106~1.24×102紫外光10~400nm106~2.5×1043×1010~7.5×108124~3.1可见光400~750nm 2.5×104~1.3×1047.5×108~4×108 3.1~1.65近外光730~3.1×106nm 1.4×104~3.2 4.1×108~9.7×104 1.7~4×10-4微波 3.1×106~3.1×109nm0.0032~3.2 97~9.7×1044×10-4~4×10-7射频1~1000m10-5~0.010.3~300 1.2×10-9~1.24×10-6（1）σ=1/λ=1/（0.5×10-10）=2×1010cm-1 σ=1/λ=1/（140×10-10）=7×107cm-1 （2）σ=1/λ=1/（10-3×10-7）=1×1010cm-1 σ=1/λ=1/（10×10-7）=1×106cm-1v=c/λ=(3×108) /（10-3×10-9）×106=3×1014 MHZ、v=c/λ=(3×108) /（10×10-9）×106=3×1010MHZE=1240/λ=1240/10-3=1.2×106ev E=1240/λ=1240/10=1.24×102ev（3）λ=c/v =(3×108) /（3×1010×106）=10-8m=10nmλ=c/v =(3×108) /（7.5×108×106）=4×10-6m=400nmσ=1/λ=1/(10-6)=106cm-1 σ=1/λ=1/（400×10-5)=2.5×104cm-1E=1240/λ=1240/10=124ev E=1240/λ=1240/400=3.1ev （4）σ=1/λ=1/（400×10-7）=2.5×104cm-1 σ=1/λ=1/（750×10-7）=1.3×104cm-1 v=c/λ=(3×108) /（400×10-9）=7.5×1014HZ =7.5×108MHZv=c/λ=(3×108) /（750×10-9）=4×1014HZ=4×108MHZE=1240/λ=1240/400=3.1ev E=1240/λ=1240/750=1.65ev（5）v=c/λ=(3×108) /（730×10-9）=4.1×1014HZ =4.1×108MHZv=c/λ=(3×108) /（3.1×106×10-9）=9.7×1010HZ =9.7×104MHZλ=hc/ E =1240/E=1240/1.7=730nm λ=hc/ E =1240/E=1240/4×10-4=3.1×106nmσ=1/λ=1/(730×10-7）=1.4×104cm-1 σ=1/λ=1/(3.1×106×10-7）=3.2cm-1(6)λ=hc/ E =1240/E=1240/4×10-4 =3.1×106nmλ=hc/ E =1240/E=1240/4×10-7 =3.1×109nmσ=1/λ=1/（3.1×106×10-7）=3.2cm-1 σ=1/λ=1/（3.1×109×10-7）=0.0032cm-1 v=c/λ=(3×108) /（3.1×106×10-9）=9.7×1010HZ =9.7×104MHZv=c/λ=(3×108) /（3.1×109×10-9）=9.7×107HZ =97MHZ（7）σ=1/λ=1/100=0.01cm-1 σ=1/λ=1/1000×102=10-5cm-1v=c/λ=(3×108) /1 =3×108HZ =300MHZv=c/λ=(3×108) /1000=3×105HZ =0.3MHZE=1240/λ=1240/10-6=1.24×10-6ev E=1240/λ=1240/（1000×10-6）=1.24×10-9evX射线衍射分析1.试述X射线的定义、性质，连续X射线和特征X射线的产生、特点。
材料研究方法复习题2011
一、名词解释：1）短波限连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。
P7。
2）质量吸收系数指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物理量。
P12。
3）吸收限吸收限是指对一定的吸收体，X 射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。
每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。
P12。
4）X 射线标识谱当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X 射线标识谱。
P9。
5）连续X 射线谱线强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。
P7。
6）相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。
P14。
7）闪烁计数器闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。
P54。
8）标准投影图对具有一定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。
P99。
9）结构因数在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2HKL F 的平方成正比，结构振幅的平方2HKL F 称为结构因数。
P34。
10）晶带面（共带面）晶带轴我们说这些相交于平行直线的一组晶面属于同一晶带，称晶带面或共带面，其交线即为晶带轴。
P99。
11）选择反射镜面可以任意角度反射可见光，但X 射线只有在满足布拉格方程的θ角上才能发生反射，因此，这种反射亦称选择反射。
材料研究方法知识题库及答案
材料研究方法知识题库及答案1、【单选题】由于近轴光线和远轴光线的折射程度不同,导致平面物体经透镜后形成曲面状的像称为( )A、像差B、球差C、像场弯曲D、色差答案：像场弯曲--------------------------------2、【单选题】由于透镜的中心区域和边缘区域对光的折射能力不符合预定规律而造成的图像模糊现象称为( )。
A、像差B、球差C、像散D、色差答案：球差--------------------------------3、【单选题】因光源的( )而导致图像模糊不清的现象称为色差。
A、波长长B、波长短C、波长有差异答案：波长有差异--------------------------------4、【单选题】光学显微镜具有( )放大功能。
A、一级B、二级C、三级答案：二级--------------------------------5、【单选题】成像物体上能分辨出来的两物点间的最小距离称为( )A、分辨率B、有效放大倍数C、景深答案：分辨率--------------------------------6、【单选题】光学显微镜的极限分辨能力为( )。
A.400nmB.400μmC.200nmD.200μm答案：C--------------------------------7、【单选题】金相显微镜的物镜放大倍数为100倍时,其景深有可能是( )A、1nmB、1μmC、1cmD、1dm答案：1μm--------------------------------8、【单选题】硬度最高的磨料是( )。
A、氧化铝B、氧化镁C、氧化锆D、碳化硅答案：碳化硅--------------------------------9、【单选题】取样后,对金相磨面方向没有要求的材料是( )。
A、轧制钢板B、渗碳小工件C、薄壁铸件D、经均匀化退火后的大型工件答案：经均匀化退火后的大型工件--------------------------------10、【多选题】会导致景深变小的因素有( )。
材料研究方法作业题目及答案(全)-polymer-xiaoyi
材料研究方法作业题目及答案（全）此版本为老师布置的所有题目及答案。
答案内容参考了PPT、书以及其他版本的答案，并对某些部分做出了较大改动。
仅作复习参考！刘学良老师部分第3章X射线衍射分析1、X射线的波长范围大致为多少？X射线产生的基本原理及X射线管的基本结构。
1】X射线的波长范围：X射线是一种波长为10-2~102Å的电磁波，介于紫外线和γ射线之间。
2】X射线产生的基本原理：凡是高速运动的电子流或其他高能辐射流（γ射线、X射线、中子流等）被突然减速时均能产生X射线。
3】X射线管的基本结构：X射线管的本质是一个真空二极管，基本结构包括：①一个热阴极——绕成螺线形钨丝②一个阳极——铜质底座上镶以阳极靶材料，如W、Ag、Mo、Cu、Ni、Co、Fe、Cr等，产生不同特征的X射线③窗口——用对X射线吸收极少的材料，如Be、Al、轻质玻璃等制成。
④管内高真空10-7Toor2、X射线谱的基本类型及其特点。
X射线强度I随波长λ的变化曲线称为X射线谱，其基本类型有：①连续X射线（白色X射线）——特点：1】由连续的各种波长组成；2】强度随波长连续变化②特征X射线（标识X射线）——特点：1】波长一定、强度很大2】只有当管电压超过V k（激发电压）时才会产生3】与X射线管的工作条件无关，只取决于光管阳极靶材料，不同的阳极靶材料具有特定的特征谱线3、描述X射线与物质的相互作用（俄歇效应与光电效应等）X射线透过物质后会变弱，这是由于入射X射线与物质相互作用的结果，作用过程会产生物理（如X射线的散射和吸收）、化学（破坏物质的化学键、促使新键形成）和生化过程（促进物质合成，导致新陈代谢发生变化）。
具体作用如下图所示：由图可见，当一束X射线通过物质时，其能量可分为三个部分：一部分被散射，一部分被吸收，其余部分则透过物质按方向继续传播。
其中：康普顿效应——散射光中除了有原波长λ0的X光外，还产生了波长λ>λ0的X光，其波长的增量随散射角的不同而变化俄歇效应——当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
材料研究方法-复习资料
绪论1材料研究方法中，研究物相组成的主要有哪些方法？研究结构特征主要有那些方法？物相组成分析：非图像分析-成分谱分析（色谱分析；热普分析；能谱分析；光谱分析）；衍射法（X射线衍射法；电子衍射法；中子衍射法）结构特征分析：图像分析法-显微术（光学显微术；透射电子显微术；场离子显微术；扫描电子显微术；扫描隧道显微术）X射线衍射1试述X射线的定义、性质，X射线的产生、特点？定义：X射线是一种波长为0.01纳米到10纳米之间的电磁波。
性质：具有波粒二象性。
波动性：以一定的频率和波长在空间传播；粒子性：由大量的不连续粒子流（光子）构成，每个光子具能量。
产生：高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子运动受阻失去动能，小部分-X射线，大部分-热能。
特点：1）穿透力强。
2）能使底片感光。
3）能使荧光物质发光。
4）能使气体电离。
5）对生物细胞有杀伤作用。
2、X射线定性相分析的目的和原理是什么？步骤是什么？目的：判定物质中的物相组成。
原理：1）每种结晶物质具有特定的衍射花样。
2）多相试样的衍射花样是由所含各物相的衍射花样机械叠加。
基本步骤：1）通过用粉末衍射法或粉末照相法等获取被测试物质的衍射图像。
2）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值与I值。
3）利用I值最大的三根强线的对应d 值查找索引，找出基本符合的物相名称及卡片号。
4）将实测的d、I值与卡片上的数据--- 对照，若基本符合，就可定为该物相。
3、X射线谱一一X射线随波长而变化的关系曲线。
4、连续X射线一一波长连续变化的X射线5、标识X射线一一具有特定波长的X射线。
透射电镜和扫描电镜1分辨本领一一显微镜能分辨的样品上两点间的最小距离。
2、景深一一透镜对高低不平的试样各部位能同时聚焦成像的一个能力范围。
3、二次电子被入射电子轰击出来的样品核外电子。
4、背散射电子 - 被固体样品中院子反射回来的一部分入射电子。
5、衍射衬度一一晶体中各部分因满足衍射条件的程度不同而引起的衬度。
《材料现代研究方法》复习题及答案
10．在选择滤波片时，当靶材原子序数Z靶＜40时，Z滤波片=（Z靶-1）；
Z靶≥40时，Z滤波片=（Z靶-2）
11．德拜相机底片的安装方法包括（正装法）、（反装法）、（不对称安装），其中（不对称安装）比较常用。
12．X-Ray衍射仪的结构主要包括（X-Ray发生装置）、（测角仪）、（X-Ray探测器）、（记录系统）。
七试推导内标法的基本公式并说明其意义。
设n个相的质量分别为W1 W2 W3…..Wn，总质量为W= W1+W2+W3…..+Wn，试样中加入的标准物质为S，其质量为Ws。第j相质量为Wj。 为第j相在为加入标准物质时的质量分数， ，为加入标准物质之后的质量分数， 为s相在新式样中的质量分数。
，
则 ，
4．什么是热分析参比物？选用原则是什么？经常用的参比物有哪些？
参比物是在测定条件下不产生任何热效应的惰性物质，应选择整个测温范围无热反应、比热与导热性及粒度与试样相近的作为参比物，如α－Al2O3（经1270K煅烧的高纯氧化铝粉，α－Al2O3晶型）
5.什么是磁透镜的像差？有哪些种类？其形成原因和减少的措施是什么？
名词解释有错的地方说一下啊
x-ray强度：单位时间内通过垂直于X-ray传播方向的单位截面的X-ray的能量
吸收限:物质的质量吸收系数随波长 变化发生突变时的临界波长
结构消光：由两个以上等同点构成的复杂晶体，除了遵守各自所属的点阵消光外还会附加的消光
景深：成像时像平面不动，在满足成像清晰的前提下，物平面沿轴线前后可移动的距离
像差是指从物平面上一点散射出来的电子束不一定全部汇聚一点，或物平面上各点并不是按比例成像于同一像平面而导致图像模糊不清或与原物几何形状不成比例的现象。包括几何相差和色差。几何相差主要包括球差和像散。球差是由于电磁透镜磁场对近轴电子和远轴电子的会聚能力不同引起的，可通过减小电磁透镜孔径角来改善。像散是由于透镜的磁场不是旋转对称磁场引起的，可加装消像散器来改善。色差是由于入射电子的波长不单一引起的，可通过稳定电压与电流、减小试样厚度来改善。
材料研究方法重点习题
《材料研究方法》课后习题答案第1章1、材料是如何分类的？材料的结构层次有哪些？答：材料按化学组成和结构分为：金属材料、无机非金属材料、高分子材料、复合材料；按性能特征分为：结构材料、功能材料；按用途分为：建筑材料、航空材料、电子材料、半导体材料、生物材料、医用材料。
材料的结构层次有：微观结构、亚微观结构、显微结构、宏观结构。
2、材料研究的主要任务和对象是什么，有哪些相应的研究方法？答：任务：材料研究应着重于探索制备过程前后和使用过程中的物质变化规律，也就是在此基础上探明材料的组成(结构)、合成(工艺过程)、性能和效能及其之间的相互关系，或者说找出经一定工艺流程获得的材料的组成(结构)对于材料性能与用途的影响规律，以达到对材料优化设计的目的，从而将经验性工艺逐步纳入材料科学与工程的轨道.研究对象和相应方法见书第三页表格。
3、材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？答：按研究仪器测试的信息形式分为图像分析法和非图像分析法；按工作原理，前者为显微术，后者为衍射法和成分谱分析。
§1-3.材料研究方法是如何分类的？如何理解现代研究方法的重要性？答：（ 1）现代材料研究方法主要采用仪器分析的手段，它们按信息形式可分为图象分析法和非图象分析法。
图像研究法是材料结构分析的重要研究手段，主要分为形态学和体视学研究。
形态学是研究材料中组成相的几何形状及其变化，进一步探究它们与生产工艺及材料性能间关系的科学。
体视学是研究材料中组成相的二维形貌特征，通过结构参数的测量，确定各物相三维空间的颗粒的形态和大小以及各相百分含量。
非图像分析法分为衍射法和成分谱分析，前者主要用来研究材料的结晶相及其晶格常数，后者主要测定材料的化学成分。
衍射法包括 X 射线衍射、电子衍射和中子衍射等三种分析方法。
成分谱用于材料的化学成分分析，成分谱种类很多，有光谱，包括紫外光谱、红外光谱、荧光光谱、激光拉曼光谱等，色谱，包括气相色谱、液相色谱、凝胶色谱等，热谱，包括差热分析仪、热重分析仪、示差扫描量热计等；此外，还有原子吸收光谱，质谱等。
材料研发考试题库及答案
材料研发考试题库及答案一、单项选择题（每题2分，共20分）1. 下列哪种材料不属于高分子材料？A. 聚乙烯B. 聚氯乙烯C. 聚丙烯D. 硅酸盐答案：D2. 材料科学中的“四要素”不包括以下哪一项？A. 结构B. 性能C. 工艺D. 应用答案：D3. 金属材料的塑性变形主要通过哪种机制实现？A. 位错运动B. 相变C. 扩散D. 断裂答案：A4. 陶瓷材料的主要特点不包括以下哪一项？A. 高熔点B. 低密度C. 良好的电导性D. 高硬度5. 以下哪种合金属于铁基合金？A. 铝合金B. 铜合金C. 镁合金D. 不锈钢答案：D6. 材料的疲劳破坏通常发生在哪个阶段？A. 弹性阶段B. 塑性阶段C. 断裂阶段D. 蠕变阶段答案：A7. 以下哪种材料不属于复合材料？A. 玻璃钢B. 碳纤维增强塑料C. 铝合金D. 纳米材料答案：C8. 材料的硬度测试中，布氏硬度测试适用于哪种材料？A. 软质材料B. 硬质材料C. 脆性材料D. 塑性材料答案：B9. 材料的断裂韧性通常用哪个参数表示？B. 应变C. 弹性模量D. 断裂韧性答案：D10. 以下哪种材料具有自修复功能？A. 金属B. 陶瓷C. 聚合物D. 所有材料答案：C二、多项选择题（每题3分，共15分）1. 以下哪些因素会影响材料的强度？A. 微观结构B. 温度C. 加工工艺D. 材料种类答案：ABCD2. 金属材料的腐蚀类型包括哪些？A. 化学腐蚀B. 电化学腐蚀C. 应力腐蚀D. 氢脆答案：ABCD3. 以下哪些是材料的力学性能？A. 硬度B. 韧性D. 抗拉强度答案：ABD4. 以下哪些是材料的热处理工艺？A. 退火B. 正火C. 淬火D. 回火答案：ABCD5. 以下哪些是材料的疲劳破坏特征？A. 循环应力B. 局部塑性变形C. 裂纹扩展D. 突然断裂答案：ABCD三、判断题（每题1分，共10分）1. 材料的疲劳寿命可以通过S-N曲线来预测。
（对）2. 材料的断裂韧性越大，其抗疲劳性能越好。
2016年材料研究方法期末复习
2016年材料研究方法期末复习试题类型名词解释（2分*8个=16分）填空题（1分*30个=30分）简答题（6分*5个=30分）谱图解析（7分*2个=14分）综合分析题（10分*1个=10分）第1章绪论1. 聚合物结晶度测定的方法有哪些？X射线衍射法，电子衍射法，核磁共振，红外吸收，密度法，热分析法等2. 高分子分子量测定方法包含哪些？溶液光散射法，凝胶渗透色谱法，粘度法，扩散法，渗透压法，沸点升高法，端基滴定法等3. 哪种方法能够同时测定聚合物的分子量和分子量分布？凝胶渗透色谱4. 测定聚合物转变和运动方法的类型有哪些？●体积变化的测定：膨胀计，折射率测定。
●热学性质的测定：差热分析(DTA)，差示扫描量热法(DSC)●力学性质的测定：热机械法，应力松弛法。
●动态测量法：动态模量和内耗。
5. 高分子分离的三种基本方法。
三种：溶解-沉淀分离法、索氏提取法、真空蒸馏法。
✧作业5. 高分子分离的三种基本方法。
6.设计一种简单的方法测定丙烯酰胺溶液聚合过程中转化率？醋酸乙烯酯的乳液聚合过程中如何测定转化率？第2章化学分析1. 名词解释酸值：是指中和1g试样所消耗的KOH的mg数，它表征了试样中的游离酸的含量皂化值：1g试样中的酯基(包括游离酸)反应所需要的KOH的毫克数。
羰值：肟化1g试样所需的羟胺相当于KOH的毫克数。
羟值：1g试样所含羟基相当于KOH的毫克数。
碘值：指与100g试样反应所消耗的碘的克数。
是高分子材料不饱和程度的量度。
环氧值：100g环氧树脂中所含有的环氧基团的摩尔数。
2. 如何测定聚乙烯醇溶液的含量和残留醋酸乙烯酯含量？（如何测定PVA的醇解度？）1）定量分析①聚乙烯醇含量比色分析取2mL中性或弱酸性的PVA溶液，在20℃加入80mL 0.003M碘和0.32M硼酸的混合溶液，混合后测量在670nm 的光密度。
同时配制已知浓度的溶液作为参比，此法误差对于浓度不小于60 μg/mL 的PVA 为±3.4%。
材料科学研究方法复习题
复习题（2015）1、归纳与演绎法、分析与综合法、类比与移植法、系统与优化法、假说与理论法，特别注意各研究方法的特点、分类及事例应用等。
归纳与演绎法：归纳是从特殊到一般；演绎是从一般到特殊。
（1）归纳法：通过简单枚举某类事物中的一部分对象都具有某种属性，而又没有观察到相反的事例，由此推及全体,概括出该类事物的所有对象都具有此种属性。
分类：（Ⅰ）完全归纳法（Ⅱ）不完全归纳法：①简单枚举法②科学归纳法：Ⅰ求异法Ⅱ求同法Ⅲ同异并用法Ⅳ剩余法Ⅴ共变法。
（2）演绎法：从已知的一般原理、定理、法则、公理或科学概念出发，推论出某些事物或现象具有某种属性或规律的新结论的一种科学研究方法。
1.归纳与演绎之间是一个辩证的关系，是一个对立统一的关系。
2.两者相互联系，相互依赖，相互补充和相互渗透。
3.归纳和演绎在一定条件下会互相转化。
分析与综合法：（1）分析的作用与特点：分析就是把研究对象分解成几个组成部分，然后分别加以研究，从而认识事物的基础或本质的一种科学研究方法。
分析方法是以客观事物的整体与部分的关系为客观基础的。
在于它从事物的整体深入到它的各个组成部分，通过深的认识事物的各个组成部分来认识事物的内在本质或整体规律。
（2）综合的作用与特点：综合方法：把研究对象的各个部分联系起来加以研究，从而在整体上把握事物的本质和规律的一种科学研究方法。
综合方法在思维方式上的特点:它把事物的各个部分连接为整体时，力求通过全面掌握事物各部分、各方面的特点以及它们之间的内在联系，然后加以概括和上升，从事物各部分及其属性、关系的真实联结和本来面目，复现事物的整体，综合为多样性的统一体。
类比与移植法：（1）类比法：通过两个或两类事物或现象进行比较，根据相似点或相同点推论出它们的其他属性或规律，也可能有相似点或相同点的结论。
这是以比较为基础，既包含从特殊到特殊，又包含从一般到一般的逻辑思维方法。
分类：①数学相似类比法：根据对象的属性之间具有某种确定的函数变化关系来进行推理。
材料研究方法试题库
第一章一、选择题１、用来进行晶体结构分析得Ｘ射线学分支就是( ）A、X射线透射学；B、X射线衍射学;C、X射线光谱学；D、其它2、Ｍ层电子回迁到K层后,多余得能量放出得特征X射线称（）A.Kα；B、Ｋβ;C、Kγ；D、Lα.3、当X射线发生装置就是Cｕ靶，滤波片应选（)A．Cu；B、Ｆe;C、Ni;D、Mo.4、当电子把所有能量都转换为X射线时,该Ｘ射线波长称( )A.短波限λ0;Ｂ、激发限λk;C、吸收限;D、特征X射线5、当X射线将某物质原子得K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（)(多选题)A.光电子;B、二次荧光；C、俄歇电子;Ｄ、（A+Ｃ）二、正误题1、随X射线管得电压升高，λ０与λk都随之减小。
（)２、激发限与吸收限就是一回事，只就是从不同角度瞧问题。
( )3、经滤波后得Ｘ射线就是相对得单色光.（）４、产生特征X射线得前提就是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5、选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
( )三、填空题１、当X射线管电压超过临界电压就可以产生Ｘ射线与X射线。
2、X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、.3、经过厚度为H得物质后，X射线得强度为。
4、X射线得本质既就是也就是,具有性。
5、短波长得X射线称，常用于；长波长得X射线称，常用于.习题1.X射线学有几个分支？每个分支得研究对象就是什么？2.分析下列荧光辐射产生得可能性，为什么？（1）用CuＫαＸ射线激发CｕＫα荧光辐射；(２)用CuＫβＸ射线激发CｕKα荧光辐射；(3)用CuKαＸ射线激发CuＬα荧光辐射。
3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”？4.X射线得本质就是什么？它与可见光、紫外线等电磁波得主要区别何在？用哪些物理量描述它?5.产生X射线需具备什么条件？6.Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性与波动性分别表现在哪些现象中？7.计算当管电压为50 kv时,电子在与靶碰撞时得速度与动能以及所发射得连续谱得短波限与光子得最大动能.8.特征X射线与荧光X射线得产生机理有何异同？某物质得Ｋ系荧光X射线波长就是否等于它得K系特征Ｘ射线波长？9.连续谱就是怎样产生得?其短波限与某物质得吸收限有何不同(V与V K以kv为单位）？10.Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何？对x射线分析有何影响？反冲电子、光电子与俄歇电子有何不同？11.试计算当管压为50kv时,Ⅹ射线管中电子击靶时得速度与动能,以及所发射得连续谱得短波限与光子得最大能量就是多少？12.为什么会出现吸收限?K吸收限为什么只有一个而Ｌ吸收限有三个?当激发X系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L系？当L系激发时能否伴生K系？13.已知钼得λKα=０、71Å,铁得λKα＝1、93Å及钴得λＫα=1、79Å，试求光子得频率与能量。
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9࢛线荧ΈΈ谱ʱؓٙਿ͉ࡡଣʿ˴ࠅ͜f 基本原理：利用初级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧 光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究 主要用于物质成分分析，以及原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键 等的研究。
9࢛线ʱؓٙ˴ࠅ͜f X射线分析是目前研究晶体结构最有力的方法，适用于晶态物质的物相分析。
EPMA
电ɿઞ针ʱؓٙਿ͉ࡡଣ EPMA利用被聚焦成1µm的高速电子束轰击样品表面，由X射线波谱仪或能谱仪检测从试样 表面有限深度和侧向扩展的微区体积内产生的特征X射线的波长和强度，从而得到体积约为 1µm3微区的定性或定量的化学成分。
电ɿઞ针ٙ˴ࠅʱؓ˙ج ①定点元素全分析(定性或定量) ②线扫描分析 ③面扫描分析
О为9࢛线ձ荧Έ9࢛线k X射线是一种波长为10-2～102Å的电磁波，具有波粒二象性，可看作具有一定能量、动量和 质量的光子流。 当原子受到X射线光子或其它微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电 子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，即荧光X 射线。
材料研究方法复习题
注意事项： ①一般在对试样分析前，应尽可能详细了解样品的来源、化学成分、工艺状况，仔细观察其 外形、颜色等性质，为其物相分析的检索工作提供线索。 ②尽可能根据试样的各种性能，在许可的条件下将其分离成单一物相后进行衍射分析。 ③由于试样为多物相化合物，为尽可能地避免衍射线的重叠，应提高粉末照相或衍射仪的分 辨率。 ④对于数据d值，由于检索主要利用该数据，因此处理时精度要求高，而且在检索时，只允 许小数点后第二位才能出现偏差。 ⑤特别要重视低角度区域的衍射实验数据，因为在低角度区域，衍射线所对应了d值较大的 晶面，不同晶体差别较大，在该区域衍射线相互重叠机会较小。 ⑥在进行多物相混合试样检验时，应耐心细致地进行检索，力求全部数据都能合理解释，但 有时也会出现少数衍射线不能解释的情况，这可能由于混合物相中，某物相含量太少，只出 现一、二级较强线，以致无法鉴定。 ⑦在物相定性分析过程中，尽可能地与其他的相分析实验手段结合起来，互相配合，互相印 证。
9࢛线谱ٙਿ͉类ۨʿՉत点f 连续谱：由X射线管产生的X射线所包含的各种连续波长构成。强度随波长连续变化。 特征谱：波长一定，强度很大。只有当管电压超过一定值时才会产生。不同的阳极靶材料具
有其特定的特征谱线。
ࠑ9࢛线ي质ٙʝЪ͜ 9࢛线ي质ʝЪ͜产͛ٙيଣࣖ应يאଣڦ号
波长的一种电磁波辐射 ⑥俄歇电子：原子内层电子能级跃迁过程所释放的能量，大于包括空间层在内的邻近或较外
层的电子临界电离激发能，则有可能引起原子再一次电离，发射具有特征能量 的俄歇电子
电ɿ显ฆ镜ٙࡡଣʿ˴ࠅ类ۨ 以波长远小于可见光的电子束为照明源，制成分辨率极高的电子显微镜。 主要类型有：透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、电子探针仪(EPMA)
质谱图ɪ̈现ٙ˴ࠅɿ类ۨ ①分子离子峰 ②同位素离子峰 ③碎片离子峰 ④重排离子峰 ⑤两价离子峰 ⑥离子分子反应 ⑦亚稳离子峰
Ϟ质谱ٙ˴ࠅ͜ 主要用于有机化合物的结构鉴定，能够提供化合物的分子量、元素组成以及官能团等结构信 息。
质谱仪ʕɿ๕ٙЪ͜ʿ੬ٙ͜ɿ๕᮱类 作用：将试样分子转化为正离子，并使正离子加速、聚焦为离子束，此离子束通过狭缝而进 入质量分析器。 种类：①电子轰击 ②化学电离 ③场致电离 ④高频火花电离 ⑤热电离 ⑥激光电离 ⑦表面电 离
9࢛线ʱؓٙ˙ࠅ˴جϞࡳԬkІٙत点݊ʡɯkءจǃ ƨ ٙ变ʷઋ况
实验方法
所用辐射
样品
照相法
衍射仪法
粉末法
单色辐射
多晶或晶体 粉末
样品转动或 固定
德拜照相机
粉末衍射仪
劳厄法
连续辐射
单晶体
样品固定
劳厄相机
单晶或粉末 衍射仪
转晶法
单色辐射
单晶衍射仪
扫电镜ٙίҿࣘӺʕٙ˴ࠅ͜f 扫描电镜具有景深大、放大倍数连续调节范围大、分辨本领比较高等特点，所以它成为固体 材料样品表面分析的有效工具，尤其适合于观察比较粗糙的表面如材料断口和显微组织三维 形态。扫描电镜不仅能做表面形貌分析，而且能配置各种附件，做表面成分分析及表层晶体 学位向分析等。
Ϟ质谱无质谱ϞО៦Ν 两者均以较快的测试速度广泛应用于地质学、矿物学、材料科学等特种分析方面。 两者的工作原理不同，主要体现在物质离子化的方式不一样。有机质谱主要以电子轰击离子 化，无机质谱主要以电感耦合高频放电离子化。另一方面有机质谱主要用于有机化合物的结 构鉴定，无机质谱主要用于无机元素微量分析和同位素分析等方面。
TEM
电ɿոᠧي质ʝЪ̙͜˸产͛ࡳԬيଣڦ号dϞʡɯत点k ①背散射电子：被固体样品中原子反射回来的一部分入射电子，又称反射电子 ②二次电子：被入射电子轰击出来的样品核外电子，又称次级电子 ③吸收电子：随着与样品中原子核或核外电子发生非弹性散射次数的增多，其能量和活动能
力不断降低以至最后被样品所吸收的入射电子 ④透射电子：入射束的电子透过样品而得到的电子 ⑤特征X射线：原子的内层电子受到激发后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和
图྅衬ܓٙ฿ׂϼ师ౢɝ语j电ɿ显ฆ图྅ʕฮٙࢨ៦ 定义：像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。
5&.ٙ˴ࠅ图྅衬ܓ ①质量厚度衬度(简称质厚衬度) ②衍射衬度
5&.ٙत点ʿ˴ࠅ͜ 特点:利用波长极短的电子束作为照明源,分辨本领高,放大倍数高.光路与光学显微镜相仿 TEM在材料科学、生物学上应用较多，在材料科学方面： ①水泥：可观察原料颗粒的表面及聚集体状况，观察水泥水化产物的形态 ②陶瓷：观察黏土矿物形态 ③金属：应用于金相分析和金属断口分析 ④高分子材料：观察粒子的形状、大小及分布
SEM
扫电镜ٙਿ͉ࡡଣf 扫描电镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产生各种物理信号，这些 信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的 图像。
扫电镜ٙ结ᦻձत点5&.进Б对ˢf 在电子光学系统(镜筒)方面，SEM与TEM相仿，均由电子枪、聚光镜、样品室等组成 区别在于TEM中，电子束透射样品后直接经由物镜、中间镜和投影镜最终至荧光屏成像。而 SEM中，扫描发生器和扫描线圈组成的扫描系统，与电子收集器等组成的信号收集系统共 同组成了SEM的成像结构，这是一种间接信号成像，而不是TEM中直接由电子束信号成像
扫电镜图྅衬ܓٙ产͛ࡡΪe类ۨʿ˴ࠅत点f 产生原因:样品微区(诸如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面)存在差异 表面形貌衬度：通过利用与样品表面形貌比较敏感的物理信号(通常用二次电子信号)作为显 像管的调制信号，来得到像衬度。
材料研究方法复习题
原子序数衬度：又称化学成分衬度，利用对样品微区原子序数或化学成分变化敏感的物理信 号(背散射电子、吸收电子和特征X射线等)作为调制信号，来得到显示微区化学成分差别的 像衬度。
电子枪
聚光镜
样品
物镜
中间镜&投影镜
最终图像
5&.样ۜٙՓ备˴ࠅ类ۨ TEM对样品的要求比较高，需要将试样制成很薄的薄膜样品，以利于电子束穿透样品。 ①支持膜法：❶包藏法 ❷撒布法 ❸悬浮法 ❹糊状法 ❺喷雾法 ②复型法：❶塑料一级复型 ❷碳一级复型 ❸塑料-碳二级复型 ❹萃取复型(也称抽取复型) ③薄膜制备法：❶化学腐蚀法 ❷电解抛光法 ❸喷射电解抛光 ❹离子轰击法 ❺超薄切片法
光电子能谱(不考...有兴趣自己看...) 电ɿঐ谱˴ࠅϞࡳԬ类ۨk
其次功能上电子探针还能观察和研究微观形貌、晶体结构等，而EDXRF则可用于 原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究
MS
质谱ʱؓٙਿ͉ࡡଣ 质谱分析法主要是通过对样品的离子的质荷比的分析而实现对样品进行定性和定量的一种方 法。
质谱仪ٙ᮱类 ①磁质谱仪 ②四级质谱仪 ③离子阱质谱仪 ④飞行时间质谱 ⑤离子回旋共振傅立叶质谱仪
ঐ谱ʱؓت౷ʱؓϞО៦Ν点 波谱分析：用分光晶体将X射线波长分散开来分别加以检测，每一个检测位置只能检测一种 波长的X射线。 能谱分析：按X射线光子能量展谱，通过检测器将所有波长的X射线几乎同时吸收，经过积 分分析，输出X射线能谱曲线。
电ɿઞ针对ҿࣘϓʱʱؓ&%93'ϓʱʱؓϞО៦Ν点k 相同点：两者均通过分析受到粒子轰击的样品所发出的次级X射线来进行物相成分分析 不同点：电子探针分析的激发源是高速电子束，而EDXRF的激发源大都为初级X射线
材料研究方法复习题
XRD和EDXRF
9࢛线ٙت长ߪ围ɽߧ为εˇk9࢛线产͛ٙਿ͉ࡡଣʿ9࢛线၍ٙਿ͉结ᦻf 波长范围是10-2～102Å。 X射线是由高速运动的电子流或其他高能辐射流(如ϒ射线、X射线、中子流等)被突然减速时 产生的。 X射线管实质上就是一个真空二极管，其结构主要由产生电子并将电子束聚焦的电子枪(阴 极)和发射X射线的金属靶(阳极)两大部分组成。
材料研究方法复习题
5&.ٙࡡଣ˙ج 原理：透射电镜以波长极短的电子束作为照明源，从而用电子透镜聚焦成像，是一种高分辨 率、高放大倍数的电子光学仪器。 方法：首先由热阴极电子枪发射电子束，在阳极加速电压的作用下，高速穿过阳极孔，然后 被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。透过样品的电子束携带有多种信息，经过 物镜聚焦放大在其像平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像，经过中间镜和投影镜进一 步放大，在荧光屏上得到多级放大的最终电子图像。