材料物相分析
材料分析基础实验报告之X射线衍射(XRD)物相分析【范本模板】
实验一 X射线衍射仪的结构与测试方法一、实验目的1、掌握X射线衍射的基本原理;2、了解X射线衍射仪的基本结构和操作步骤;3、掌握X射线衍射分析的样品制备方法;4、了解X射线的辐射及其防护方法二、实验原理根据晶体对X射线的衍射特征-衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法,就是X射线物相分析法。
每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。
没有任何两种物质,它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。
当X射线波长与晶体面间距值大致相当时就可以产生衍射。
因此,当X射线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I/I1来表征。
其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关,相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I/I1是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。
三、实验设备丹东方圆仪器有限公司的D2700型X射线粉末衍射仪一台;玛瑙研体一个;化学药品或实际样品若干(Li4Ti5O12)。
四、实验内容1、采用玛瑙研体研磨样品,在玻璃样品架上制备一个合格试验样品;2、选择合适的试验参数,获得XRD图谱一张;3、理解样品、测试参数与XRD图谱特征的关系。
五、实验步骤1、开机1)打开总电源2)启动计算机3)将冷却水循环装置的机箱上的开关拨至运行位置,确认冷却水系统运行,水温正常(19—22℃);4)按下衍射仪ON绿色按键打开衍射仪主机开关5)启动高压部分(a)必须逐渐提升高压,稳定后再提高电流。
电压不超过40kV,管电流上限是40mA,一般为30mA。
(b)当超过4天未使用X光管时,必须进行光管的预热。
在25kV高压,预热10分钟;30kV,预热5分钟;35kV,预热5分钟。
(c)预热结束关机后,至少间隔30分钟以上方可再次开机实验。
6)将制备好的样品放入衍射仪样品台上;7)关好衍射仪门.2、样品测试1)在电脑上启动操作程序2)进入程序界面后,鼠标左键点击“测量”菜单,再点击“样品测量”命令,进入样品测量命令3)等待仪器自检完成后,设定好右边的控制参数;4)鼠标左键点击“开始测量”,保存输出文件;5)此时仪器立即开始采集数据,并在控制界面显示;(a)工作电压与电流:一般设为40kV,40mA;(b)扫描范围:起始角度>5°,终止角度<80°;(c)步进角度:推荐0.02°,一般在0.02—0。
物相分析
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目前已知的晶体物质已有成千上万 种。事先在一定的规范条件下对所 有已知的晶体物质进行X射线衍射, 获得一套所有晶体物质的标准X射线 衍射花样图谱,建立成数据库。
当对某种材料进行物相分析时,只 要将实验结果与数据库中的标准衍 射花样图谱进行比对,就可以确定 材料的物相。
X射线衍射物相分析工作就变成了简 单的图谱对照工作。
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辐射光源 波长 滤波片 相机直径
所用仪器可测最 大面间距 测量相对强度的 方法
数据来源
14
晶系 空间群 晶胞边长
轴率 A=a0/b0 C=c0/b0
轴角
单位晶胞内“分 子”数
数据来源
15
光学性质 折射率 光学正负性 光轴角 密度 熔点 颜色 数据来源
16
样品来源、 制备方法、 升华温度、 分解温度等
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如待分析试样为单相,在物相未知的 情况下可用Hanawalt索引或Fink索
定 引进行分析。用数字索引进行物相鉴 性 定步骤如下: 分 1 根据待测相的衍射数据,得出三强 析 线的晶面间距值d1、d2和d3(并估计 方 它们的误差)。 法 2 根据最强线的面间距d1,在数字索
引中找到所属的组,再根据d2和d3找 到其中的一行。
基
己特定的结构参数(点阵类型、晶胞大
本 原 理
小、晶胞中原子或分子的数目、位置 等),结构参数不同则X射线衍射花样 也就各不相同,所以通过比较X射线衍 射花样可区分出不同的物相。
当多种物相同时衍射时,其衍射花样也 是各种物相自身衍射花样的机械叠加。 它们互不干扰,相互独立,逐一比较就 可以在重叠的衍射花样中剥离出各自的 衍射花样,分析标定后即可鉴别出各自 物相。
1.28 18 1.22 5 1.08 20
材料研究方法物相定性分析
二 、PDF(The Powder Diffraction File)卡片
说明:
二 、PDF(The Powder Diffraction File)卡片
新版删除了旧版中的1栏、2栏和5栏的内容。
三 、卡片的检索
1)字母索引
按物质英文名称的第一个字母顺序排列,每一行包括以下几个主要部分:质量标志、物相 名称、化学式、三强线晶面间距值、相对强度、卡片序号等
例如: i Copper Molybdenum Oxide CuMoO4 3.72X 3.268 2.717 22-242 O Copper Molybdenum Oxide Cu3Mo2O9 3.28X 2.638 3.396 22-609
2)数字索引
在未知待测相的任何信息时,使用数字索引(Hanawalt)检索卡片。每行代表一张卡片, 共有七部分:1-卡片质量标志;2-八强峰的晶面间距,下标表示相对强度,x表示最强峰定为 10,其余四舍五入为整数。3-PSC(Pearson Sympol)表示物相所系布拉菲点阵;4-化学式;5矿物名或普通名;6-PDF卡片号;7-I/Ic参比强度。
X射线的衍射分析是以晶体结构为基础的。X射线衍射花样反映了晶体中的晶 胞大小、点阵类型、原子种类、原子数目和原子排列等规律。每种物相均有 自己特定的结构参数,因而表现出不同的衍射特征,即衍射线的数目、峰位 和强度。即使该物相存在于混合物中,也不会改变其衍射花样。尽管物相种 类繁多,却没有两种衍射花样特征完全相同的物相,这类似于人的指纹,没 有两个人的指纹完全相同。因此,衍射花样可作为鉴别物相的标志。
将三强峰所对应的d接近的几行需注意的是在同一大组中各行是按d符合后再对照第三第四直至第八强线若八强峰均符合则可取出该卡片相近的可能有多张对照剩余的d若d值在允许的误差范围内均符合即可定相
物相定性分析原理
物相定性分析原理物相定性分析是一种常用的材料分析方法,其主要原理是通过观察和分析材料在特定条件下的各种物相,来确定材料的组成、结构、性质和变化规律。
物相指的是材料在固相、液相和气相之间的状态变化,通过观察和分析物相变化的特征,可以确定材料的晶体结构、晶体形貌、晶格常数、元素组成、晶格缺陷和晶体性质等信息。
物相定性分析的主要方法包括X射线衍射、电子衍射、红外光谱、拉曼光谱、扫描电镜和透射电镜等。
这些技术能够提供关于晶体结构、成分和形貌的详细信息,从而揭示材料的内在性质和性能。
X射线衍射是物相定性分析中最常用的方法之一。
它利用X射线的特性和物质的晶体结构之间的相互作用,通过测量衍射图案来确定材料的晶体结构、晶格常数和晶面间距。
X射线衍射技术对晶体的要求比较高,只有具有一定程度的结晶性的材料才能通过X射线衍射进行分析。
通过X射线衍射分析,可以确定材料的晶体结构类型、晶胞参数和晶体取向。
电子衍射是一种通过电子束照射材料表面或薄片,利用电子与物质的相互作用来进行分析的方法。
电子衍射技术对样品的要求较低,可以分析非晶态材料或粉末材料的晶体结构。
通过电子衍射,可以确定材料的晶体结构、晶胞参数、相对晶格常数和晶体的取向。
红外光谱是一种通过测量物质在红外辐射下吸收和散射的光谱来进行分析的方法。
红外光谱可以用来研究物质的分子结构和化学键,通过分析红外光谱图谱,可以确定物质的官能团和化学组成。
拉曼光谱是一种通过测量物质在受到激发光照射时发生的光散射来进行分析的方法。
拉曼光谱对样品的要求较低,可以分析固态、液态和气态材料。
通过分析拉曼光谱图谱,可以确定物质的化学成分、结构和分子相互作用。
扫描电镜和透射电镜是通过利用电子束与样品相互作用,测量样品表面和内部结构的显微镜分析方法。
扫描电镜可以观察样品表面的形貌和结构特征,透射电镜可以观察样品的晶体结构、晶体形貌和晶格缺陷。
这两种电子显微镜技术对样品的要求较高,需要制备良好的样品。
XRD物相定量分析
XRD物相定量分析X射线衍射(X-Ray Diffraction,XRD)是一种常用的材料物相分析方法,可以确定材料的结晶结构、晶格参数以及物相比例等信息。
通过测量材料对入射X射线的衍射,可以得到衍射谱图,通过对谱图的分析计算,可以得到材料的物相及其定量分析结果。
本文将介绍XRD物相定量分析的基本原理、常用方法和数据处理过程。
X射线衍射的基本原理是由入射的X射线通过晶体与晶体原子或分子发生散射而产生的。
根据布拉格定律,当入射角度满足2dsinθ=nλ时,其中d是晶格面间距,θ是入射和散射光束夹角,n是整数,λ是X射线波长,就会发生衍射。
不同晶体具有不同的晶格参数和晶体结构,因此它们会在不同的衍射角(θ值)出现不同的衍射峰,通过测量衍射角可以获得晶体的结构信息。
XRD物相定量分析的实验步骤主要包括样品的制备、衍射谱图的测量和数据处理等。
首先,样品需要制备成适当的形式,通常是粉末状或薄片状。
对于晶体较大的样品,可以直接进行测量;而对于晶体粒度较小的样品或非晶体样品,需要进一步进行研磨和退火等处理,以提高样品的结晶度。
制备完成后,将样品放置在X射线衍射仪的样品台上,进行衍射谱图的测量。
衍射谱图的测量通常采用旋转或倾斜方式,分别称为旋转衍射和倾斜衍射。
在旋转衍射中,样品台固定,X射线管和检测器绕着样品台进行旋转,测量不同角度下的衍射强度。
在倾斜衍射中,样品台和检测器保持固定,X射线管进行倾斜照射,测量不同角度下的衍射强度。
通过测量一系列角度下的衍射强度,可以得到样品的衍射谱图。
XRD物相定量分析方法有许多种,常用的包括全谱法、内标法、正交试验法、铺峰法等。
全谱法是通过将衍射谱图进行全范围积分来定量分析各个物相的含量,适用于物相含量差异较大的样品。
内标法是通过在样品中加入已知物相作为内标,根据内标峰的强度比值来计算其他物相的含量,适用于物相含量差异不大的样品。
正交试验法是通过设计一系列正交试验样品,根据试样中各物相峰的强度来计算各物相的含量,适用于物相含量差异较大的样品。
第3章物相分析
(3)在倒易点阵中,由原点o*指向任意 坐标为hkl的阵点的矢量Ghkl为:
Ghkl=ha*+kb*+lb*
➢倒易矢量Ghkl垂直于正点阵中相应 (hkl)晶面,或平行于它的法向 Nhkl。 ➢倒易点阵中的一个点代表正点阵 中的一组晶面。
3、倒易点阵与正空间点阵的关系
(1)以h、k、l为指数倒易点阵矢量
3、干涉面和干涉指数-简化bragg方程
如令
d HKL
dhkl n
,则
2 dhkl sin n
2dHKL sin
4. 衍射方向-衍射花样和晶体结构的关系。
立方系: sin2
2 4a2
(H2
K2
L2 )
正方系: sin2
2 4
H2 K2 a2
L2 c2
斜方系: sin2
2 4
H2 a2
物相分析是指利用衍射分析的方法探测晶格类型和晶 胞常数,确定物质的相结构。物相分析不仅包括对材 料物相的定性分析,还包括定量分析,和各种不同的 物相在组织中的分布情况。
三、物相分析的手段
1、x射线衍射。 2、电子衍射 低能电子衍射(LEED) 高能电子衍射分析(HEED) 3、中子衍射
汤姆生的ED实验原理图
K2 b2
L2 c2
六方系:
s in 2
2 4
4 3
H2
HK a2
K2
L2 c2
(三)布拉格方程应用
X射线衍射学 (λ恒定,通过测θ求d--晶体结构分析 ) X射线光谱学(d 恒定,通过测θ求λ)
(四)衍射矢量方程 1、反射定律:s0及s分居反射面(HKL)法线(N)两侧且s0、s与N共面,s0及
建筑材料物相研究基础
建筑材料物相研究基础建筑材料是构建建筑物的基础,其物相研究是为了深入了解材料的结构和性质,以便更好地应用于建筑领域。
物相研究通过观察和分析材料的微观结构,揭示材料的组成、相互关系和性能特点,为材料的制备、加工和应用提供科学依据。
一、物相研究的方法物相研究主要采用显微镜观察和分析技术,包括光学显微镜、电子显微镜和X射线衍射仪等。
光学显微镜是最常用的观察手段,通过对材料切片的薄片进行放大观察,可以得到材料的显微结构信息。
电子显微镜则可以提供更高的放大倍数和更详细的结构信息,适用于对微观组织的深入研究。
X射线衍射仪则可以通过衍射图谱分析材料的晶体结构和相对含量。
二、物相研究的对象物相研究的对象主要包括金属材料、陶瓷材料、高分子材料和复合材料等。
金属材料的物相研究主要关注晶体结构和晶粒形貌,以及晶界、孪生和位错等缺陷。
陶瓷材料的物相研究则着重于晶体结构、晶粒尺寸和相互作用等方面。
高分子材料的物相研究则关注聚合物链的排列方式和相的形成。
复合材料的物相研究则需要对各种材料的相互作用和分布情况进行分析。
三、物相研究的意义物相研究对于建筑材料的开发和应用具有重要意义。
首先,物相研究可以帮助我们了解材料的组成和结构,从而选择合适的制备工艺和加工方法。
其次,物相研究可以揭示材料的性能特点和变化规律,为材料的性能改善和优化提供科学依据。
再次,物相研究还可以帮助我们了解材料的失效机制和寿命预测,从而提高材料的可靠性和耐久性。
最后,物相研究可以为建筑材料的设计和应用提供理论支持,促进建筑领域的技术创新和发展。
四、物相研究的应用物相研究在建筑材料领域有广泛的应用。
在金属材料方面,物相研究可以用于合金的设计和优化,以提高材料的强度、韧性和耐腐蚀性。
在陶瓷材料方面,物相研究可以用于陶瓷的制备和改性,以提高材料的导热性、耐磨性和抗冲击性。
在高分子材料方面,物相研究可以用于聚合物的合成和改性,以提高材料的稳定性、可加工性和耐候性。
河北工业大学现代材料分析方法第6章物相分析
材料学院
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一、PDF卡片简介
J.D.Hanawalt等人于1938年首先发起,以d-I数据组代替衍射花 样,制备衍射数据卡片的工作。
1942年“美国材料试验协会(American Society for Testing Materials-ASTM)”出版约1300张衍射数据卡片(ASTM卡 片)。
PDF-1: d, I
PDF-2: card
PDF-3: pattern
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PDF衍射数据卡片类型
PDF衍射数据卡片分为有机和元机两类,常用的形 式有四种:
一是8cm 13 cm的卡片: 二是微缩胶片,它可以将116张卡片印到一张胶片
上,以节省保存空间,不过读取时要用微缩胶片读 取器;
材料现代分析方法- X射线物相分析
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X射线物相分析
利用X射线衍射的方法对试样中由各种元素形成的具有确定 结构的化合物(物相),进行定性和定量分析。
X射线物相分析给出的结果,不是试样的化学成分,而是由 各种元素组成 的具有固定结构的物相。
第一节 第二节 第三节 第四节
引言-基本原理 PDF卡片 物相定性分析 物相定量分析
材料学院
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物相的化学式及英文名称④
在化学式之后常有数字及大写字母,其中数字表示单胞中的 原子数,英文字母表示布拉菲点阵类型。
各个字母所代表的点阵类型是:C一简单立方;B一体心立 方;F一面心立方;T一简单四方;U一体心四方;R一简单 菱形;H一简单六方;O一简单斜方;P一体心斜方;Q一底 心斜方;S一面心斜方;M一简单单斜;N一底心单斜;Z一 简单三斜。
三强线②。两种或两种以上的物质的衍射线条中有一些位置 相近或相同,但是最强线和次强线通常是不相同的。据此, Hanawa1t将d值数列中衍射花样中前反射区(2θ <90°)中 三条强度最高的三根线条(三强线)的面间距和相对强度提 到卡片的首位。三强线能准确反映物质特征,受试验条件影 响较小。
物相分析及点阵参数精确测定(材料分析方法)
第五章物相分析及点阵参数精确测定一、定性分析材料的成分和组织结构是决定其性能的基本因素。
化学分析、光光谱分析、X射线荧光光谱分析、X射线微区域分析(电子探针)等均可测定样品的元素组成,但X 射线物相分析却可鉴别样品中的物相。
物相包括纯元素、化合物和固溶体。
当待测样由单质元素或其混合物组成时,X射线物相分析所指示出是元素,此时元素就是物相;但当元素相互组成化合物或固溶体时,则所给出的是化合物或固溶体而非它们的组成元素。
X射线衍射得到的结果是宏观体积内(约1cm2×10μm)大量原子行为统计的结果,它与材料宏观的物理、化学及力学性能有直接、密切的关系。
(一)原理X射线定性相分析是根据晶体对X射线的衍射特——衍射线的方向及强度来达到鉴定结晶物质的。
X射线衍射分析是以晶体结构为基础的。
每种结晶物质都有其特定的结构参数,包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子(离子或分子)的数目及其位置等等,而这些参数在X射线衍射花样中均有所反应。
尽管物质的种类有千千万万,但却没有两种衍射花样完全相同的物质。
因此,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射面的晶面间距d值和反射线的相对强度I/I1来表征,这里的I是同一结晶物质中某一晶面的反射线(衍射线)强度,I1是该结晶物质最强线的强度,一般把I1定为100。
其中面间距d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I/I1则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关,任何一种结晶物质的衍射数据d和I/I1是其晶体结构的必然反映,即使该物质存在于混合物中,它的衍射数据d和I/I1也不会改变,因而可以根据它们来鉴定结晶物质的物相。
即某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置及其强度是该种物质的特征,因而可以成为鉴别物相的标志。
如果将几种物质混合后摄照,则所得结果将是各单独物相衍射线条的简单叠加。
根据这一原理,就有可能从混合物的衍射花样中,将各物相一个一个的寻找出来。
物相分析
辐射光源 波长
滤波片
相机直径
所用仪器可测最 大面间距 测量相对强度的 方法
数据来源
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晶系 空间群
晶胞边长
轴率 A = a 0 / b C=c0/b0
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轴角
单位晶胞内“分 子”数
数据来源
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光学性质
折射率 光学正负性
光轴角
密度 熔点 颜色 数据来源
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样品来源、 制备方法、 升华温度、
分解温度等
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目前已知的晶体物质已有成千上万
种。事先在一定的规范条件下对所 有已知的晶体物质进行X射线衍射, 获得一套所有晶体物质的标准X射线 衍射花样图谱,建立成数据库。 当对某种材料进行物相分析时,只 要将实验结果与数据库中的标准衍 射花样图谱进行比对,就可以确定 材料的物相。 X射线衍射物相分析工作就变成了简 单的图谱对照工作。
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定 性 分 析 方 法
3 比较此行中的三条线,看其相对强 度是否与被摄物质的三强线基本一致。 如d和I/I1都基本一致,则可初步断定 未知物质中含有卡片所载的这种物质。 4 根据索引中查找的卡片号,从卡片 盒中找到所需的卡片。 5 将卡片上全部d和I/I1与未知物质的 d和I/I1对比,如果完全吻合则卡片上 记载的物质,就是要鉴定的未知物质。
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多 相 混 合 物 物 相 定 性 分 析 方 法
当待分析样为多相混合物时,根据混合物 的衍射花样为各相衍射花样的叠加,也可 对物相逐一进行鉴定,但手续比较复杂。 具体过程为: 用尝试的办法进行物相鉴定:先取三强线 尝试,吻合则可定;不吻合则从谱中换一 根(或二根)线再尝试,直至吻合。 对照卡片去掉已吻合的线条(即标定一 相),剩余线条归一化后再尝试鉴定。直 至所有线条都标定完毕。
第一章1.6 物相分析
x射线物相分析
三石:化学组成Al2O3· 2,其密度、莫来石 SiO 转化温度各不相同。 红柱石D = 3.1-3.3 g/cm3 T = 1350-1400℃ 蓝晶石D = 3.5-3.7 g/cm3 T = 1300-1350℃ 硅线石D = 3.1-3.2 g/cm3 T = 1500-1550℃ 两种方法不能互相代替,但可互补,已知化学 成分可大大减轻物相分析的难度。 物相分析包括定性分析与定量分析两部分。
⑤ 做定性分析中,了解试样来源、化学成分、 物理性质
在多相混合物的衍射图谱中,属于不同相的某些衍射线 条,可能因面间距相近而相互重叠,所以,衍射图谱中的最 强线实际上可能并非某一相的最强线,而是由两个或两个以 上物相的某些次强或三强线条叠加的结果。在这种情况下, 若以该线条作为某相的最强线条,可能与该相粉末衍射标准 图谱中的强度分布不符,或者说,找不到与此强度分布对应 的卡片。此时,必须仔细分析,重新假设和检索。有些物质 的晶体结构相同,点阵参数相近,其衍射图谱在允许的误差 范围内可能与几张卡片相近,这就需要结合化学分析结果、 试样来源、热处理条件,根据物质相组成关系方面的知识, 在满足结果的合理性和可能性的条件下,得到可靠的结论。 比较复杂的相分析工作,往往要与其他方法(如化学分析、 电子探针、能量色散谱EDS)配合才能得出正确的结论。
粉末衍射卡也简称JCPDS 国际粉未衍 射标准联合会(the Joint committee on Powder Diffraction Standards)卡,该联 合会每年出版一组有机物质和一组无机物质 的粉未射卡片,第张卡片上记录了一种物质 的衍射数据和结晶学据。到2003年初,已 出版了65 组,包括有机和无机物质。现在 已可以通过光盘进行检索。
XRD物相分析原理及应用
XRD物相分析原理及应用X射线衍射(XRD)是一种用于分析材料的物相和晶体结构的重要技术方法。
其原理基于X射线的特性,可以通过材料中晶体的衍射反射来确定晶体结构和组成。
下面将详细介绍XRD物相分析的原理和应用。
一、原理nλ = 2dsinθ其中,n是衍射序数,λ是入射X射线的波长,d是晶体的晶面间距,θ是入射角。
在XRD实验中,将针对不同晶面的入射X射线束照射到待测样品上,样品中的晶体会对入射的X射线进行衍射,衍射的X射线束会被一个固定角度的检测器接收,并转换为电信号。
通过测量衍射角,可以根据布拉格定律计算出晶面的间距。
然后,通过测量不同的晶面间距,可以得到晶体的晶面间距的分布情况,从而推断出晶体的晶格结构和组成。
通常,将XRD图谱绘制成衍射强度与衍射角的关系图,称为XRD谱图。
二、应用1.物相鉴定:XRD物相分析可以用于确定样品中的晶体结构和组成。
通过与数据库中的标准谱进行对比,可以鉴定出样品中存在的各种晶相。
2.晶体结构表征:XRD可以提供晶体结构的详细信息,包括晶胞参数、原子位置和晶面指数。
这对于理解晶体的化学组成以及原子之间的排列方式十分重要。
3.化学定量分析:通过对XRD谱图中峰的强度进行定量分析,可以推断出不同相对含量的化合物在样品中的存在量。
4.晶体缺陷分析:XRD可以检测晶体中的缺陷,例如晶格畸变、晶粒尺寸和微应变等。
通过分析峰的形状和位置的变化,可以得到晶体结构的微观信息。
5.相变研究:XRD可以揭示材料在不同温度、压力和环境下的相变行为。
通过监测衍射峰的位置和强度的变化,可以确定相变的温度、相变类型以及相变过程中伴随的结构变化。
6.材料优化和设计:XRD可以帮助优化材料的晶体结构和晶体的完整性。
通过分析不同制备条件下的样品的XRD谱图,可以确定最佳制备参数。
7.薄膜和纳米材料研究:XRD可以用于表征薄膜和纳米材料的结构。
因为薄膜和纳米材料会引入尺寸效应和表面扭曲等效应,这些效应可以通过XRD来检测和理解。
现代材料检测第五章多晶体物相分析
Hanawalt索引说明(一)
每个条目中,衍射线的相对强度分为10个等级,最强线为100用×表示,其余者均以小10倍的数字表示,写在面间距d值的右下角处。
01
参比强度I/I是被测相与刚玉按11重量配比时,被测相最强线峰高与刚玉最强线峰高之比。
02
Hanawalt索引说明(二)
εα nωβ eγ Sign 2V D mp Color Ref. 5
6
PDF卡片形式
PDF NaCl 05-0628
多晶体的物相分析
单击添加副标题
单击此处添加文本具体内容,简明扼要地阐述你的观点
& 1 概 述
定性分析:确定物相 定量分析:确定物相的含量(衍射线条的位置和强度)
X射线物相分析
利用X射线衍射的方法对试样中由各种元素形成的具有确定结构的化合物(物相),进行定性和定量分析。
X射线物相分析给出的结果,不是试样的化学成分,而是由各种元素组成 的具有固定结构的物相。
右上角的符号标记表示:*—数据高度可靠;i—已指标化和估计强度,但可靠性不如前者;O—可靠性较差;C—衍射数据来自理论计算。
试验条件 Rad.—辐射种类(如Cu Kα);λ—波长;Filter—滤波片;Dia.—相机直径;Cut off—相机或测角仪能测得的最大面间距;Coll—光阑尺寸;I/I1—衍射强度的测量方法;d corr.abs.?—所测值是否经过吸收校正;Ref—参考资料
试样来源、制备方式及化学分析数据有时亦注明升华点(S.P.),分解温度(D.T.),转变点(T.P.),摄照温度等。
d值序列。(衍射位置的先后顺序)
3. PDF卡片的索引
PDF卡片索引是一种能帮助实验者从数万张卡片中迅速查到所需要的PDF卡片的工具书。由JCPDS编辑出版手册有:
材料现代分析技术-4物相分析
引,这类索引以衍射线d值作为检索依据,按其排 列方式的不同,又分为哈那瓦特(Hanawalt)索引和 芬克(Fink)索引。
Hanawalt索引
Hanawalt索引将已经测定的所有物质的三条最强线 的面间距d1值从大到小按顺序分组排列。整个手册 将面间距d值,从大于10.00到1.0A分成45组 (1982年版本)。每组的d值连同它的误差标写在 每页的顶部。每个条目由第一处面间距d1值决定它 应属于哪一组。每组内按d2值递减顺序编排条目, 对d2值相同的条目,则按d1值递减顺序编排。不同 的d值对应误差:考虑到影响强度的因素比较复 杂,为了减少因强度测量的差异而带来的查找困 难,索引中将每种物质列出三次。分别以d1d2d3、 d2d3d1、d3d1d2进行排列。
于Ij与fj及μ之间的关系。
定量分析
基本原理
V:试样被照射体积 V0:试样晶胞体积 fj:第j相体积分数
μ:试样线吸收系数
Ij:第j相衍射线强度
Ij = I0
e4 m2c4
λ3 32πR 3
Vj V2
0
F 2 P 1 + cos2 2θ sin 2 cosθ
e −2M
2μ
B = I0
e4 m2c4
ω
⋅
j' ρs
ωs ρ j
=
Cj Cs
⋅
1−ωs ωs ρ
ρs
j
ω
j
= Cω j
C = C j ⋅ (1−ωs )ρs
Cs ωs ρ j
ωs : 试 样 中 标 准
物质质量分数
ω’j:试样中加入
标准物质后第j 相质量分数
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强度
以最高衍 射峰的强度 为100,作 归一化处理 的数据
卡片顺序号
由集序号和卡片 序号组成
粉末衍射卡的组成
◼ 物质的矿物学名称或通用名称,有机物 为结构式。本栏中若有“☆”号表明卡 片数据高度可靠;若有“○”号则表明 其可靠程度较低;无标号者表示一般; 有字母“i”者表示已指标化及估计强度, 但不如有星号的卡片可靠;有“c”表示 数据是计算值。
物相定性分析
◼ 目前已知的晶体物质已有成千上万种。 事先在一定的规范条件下对所有已知的 晶体物质进行X射线衍射,获得一套所有 晶体物质的标准X射线衍射花样图谱,建 立成数据库。
◼ 当对某种材料进行物相分析时,只要将 实验结果与数据库中的标准衍射花样图 谱进行比对,就可以确定材料的物相。
§2 粉末衍射数据库
粉末衍射数据库
◼ 目前出版的检索手册对于无机物和有机物都有依据 三条最强线进行组合排列的Hanawalt索引和按首字 母顺序排列的字母顺序索引。对于无机物,有按化 学式首字母顺序排列的及按矿物名称或习惯名称作 排列的索引;对于有机物(包括有机金属化合物) 则有按化学名称、化学式和通用名称首字母排列的 索引。尚有按类别分类出版的索引,如矿物、沸石 和分子筛、金属和合金、水泥和化合物、爆炸物和 有关材料等。
X射线物相分析
◼特别要指出的是,所谓相,不是 指化学元素,X射线衍射一般也不 能分析出材料中所包含的元素, 相反,化学元素成分作为物相分 析的一个已知条件。
◼ 举例:
◼ 有一白色固体混合物粉末, 化学法测定存在: K+, NKaN+O, C3,Nl-,aNCOl,3化-。学到方底法是不K能Cl直, N接aN给O出3还。是XRD则 可以简单地解决这一问题。
试样来源
制备方法 升华点
分解温度 摄照温度
化学分析 转变点
粉末衍射卡的组成
◼ 6栏:为备注栏,包括样品的化学分 析、试样来源、制备方式、摄照或 扫描温度等数据,有时也注明物质 的升华点(S.P),分解温度 (D.T),转变点(T.P),热处理 等。
粉末衍射卡的组成
物相的化 学式和名称
矿晶物面学间名距、干 称涉指数和相对
◼ 3栏:表示所用的实验条件。Rad.—— 辐射的种类;λ——波长;Filter——滤 波片,当采用单色器时写明“Mono.”; Dia——圆筒相机直径;Cut off——所 用量设线备条能相得对到强的度最的大方面法间;d距;I/I1——测 Corr.abs?——所测d值是否经过吸收 校正。
粉末衍射卡的组成
粉末衍射卡的组成
◼ PDF衍射数据卡片分为有机和无机两类,常用的 形式有四种:
◼ 1)纸质卡片:8×13cm的卡片;
◼ 2)微缩胶片:它可以将116张卡片印到一 张胶片上,读取时要用微缩胶片读取器;
◼ 3)书本卡片:将卡片印成书本式,每页印 三张卡片;
◼ 4)电子版卡片:有磁盘存储,有光盘版, 最新的光盘版为2004PDF4版。
◼ 再 Al2比O如3(刚: 玉Al2)比O3表有面各积种为变1体m,2性/g质, 而差异-A很l2O大3,(-活 性 法A无l2法O确3)定比物表相面,积X1R0D0则2可00以m简2/g单。地化解学决分这析一 问题。
定性相分析
37◼01利定用性布分拉析格的公基式本2原d理sinθ= λ ,通过计算机将图 谱中的衍射峰位和高度转换成d-I列表 0国际标准协会测量各种已知物质的d-I数据,并 存为数据库30(每一个物40相的数据46-1,52012称> Co为rund一um张- A6l2P0OD3 F 卡片) 将试样的d-I数据与数据库中的数据对比,可检 测出待测试样中的物相2-Theta(°
X射线物相分析
◼ 碳在α-Fe中的固溶体称为铁素体,碳在γ-Fe中 的固溶体称为奥氏体。铁和碳还能形成化合物 Fe3C,称为渗碳体,其晶体结构相当复杂。又 如,矿物中同样是SiO2,它能以菱方结构的α石英、两种不同四方结构的方石英和超石英、 以及两种不同单斜结构的鳞石英和柯石英等形 式存在。Al2O3的同分异构体就更多了。随着近 代材料科学的迅猛发展,物相的含义不断扩大。
X射线物相分析
◼ 物相分析与化学分析
◼ 举例来说,一种铁氧材料,用化学分析方法可以 分析出试样中含有铁和氧元素,但不能知道是氧 化铁Fe2O3还是氧化亚铁FeO,或者是磁铁F3O4, 或者是它们的混合物,更不可能知道它们各自的 百分含量。
◼ 经X射线衍射得到的衍射图谱,可以明确地告诉 我们到底是哪种或哪几种化合物,而且,经过计 算,可以得到它们各自的百分含量。
X射线物相分析
清华大学 2019年11月
内容
§1、定性分析原理 §2、粉末衍射数据库 §3、物相定性分析方法 §4、物相定量分析原理 §5、物相定量分析方法
X射线物相分析
◼ 物相,简称相,它是具有某种晶体 结构并能用某化学式表征其化学成 分(或有一定的成分范围)的固体 物质。比如,同样是铁,它能以体 心立方结构的α-Fe、面心立方结构 的γ-Fe和体心立方结构的高温δFe三种物相形式存在。碳能溶解于 这三种相中形成固溶体。
粉末衍射卡的组成
◼ PDF卡片的实验条件
◼ 测量该卡片时所使用的 实验条件。包括
▪ 滤波材料
▪ 波长
▪ 相机直径
▪ 相机或测角仪能测得
晶体学数据
的最大面间距 ▪ 光阑大小
晶系、空间群
晶胞参▪ 衍射强度的测量方法
数
▪ 所测d值是否通过吸
晶胞中原子或分子的数目 收校正
参考资料
▪ 参考资料
▪ 说明
粉末衍射卡的组成
§1 物相定性分析原理
定性分析的基本原理
任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构。 在一定波长的X射线照射下,不同的晶体结构
产生完全不同的衍射图谱。 不可能有两种晶体结构的衍射花样完全相同。 多相试样的衍射图谱不因为存在多相而产生变
化,只是各自衍射花样的机械叠加。
物相定性分析
◼ 物相定性分析原理:任何一种晶体物质, 都具有特定的结构参数,包括点阵类型、 晶胞大小、晶胞中原子(离子或分子) 的数目及其位置等。在给定波长的X射线 辐射下,呈现出该物质特有的多晶体衍 射花样(衍射线的位置和强度)。
Ref.
3
Sys.
S.G.
a0 b0
c0
A
C
Αβ
γ
Z
9
9
Ref.
4
εα
nωβ
2V D mp
eγ Sign Color
Ref.
5
6
粉末衍射卡的组成
◼ PDF卡片
3强线
衍射花样前反射区 (2 θ<90°)中三条 最强衍射线对应的面 间距和强度值
PDF卡片实例图
粉末衍射卡的组成
◼ 1栏:1a、1b、1c分别从衍射花样的 前反射区(2θ<90°)中选出最强、 次强、再次强三强线的面间距,1d是 试样的最大面间距。 2栏:2a、2b、2c、2d分别列出上述 各线条以最强线强度(I1)为100时的相 对强度I/I1。
粉末衍射数据库
◼ 1941年美国材料实验协会(The American Society for Testing Materials,简称ASTM)承担了编辑和 整理工作,将每种物质的面间距d和相对 强度I/I1及其他一些数据以卡片形式出版 (称ASTM卡),公布了1300种物质的 衍射数据。
粉末衍射数据库
◼ 早在1919年,哈尔(A.w.Hull)已经指出, 可以用X射线衍射进行物相鉴定,但X射线 真正成为一种常规的物相检验手段,是 1938年以后的事情。1938年Dow化学公 司的J.D.Hanawalt等公布了他们摄制的上 千种物质的衍射花样,并将其分类,给出每 种物质三条最强线的面间距索引(称为 Hanawalt索引)。
◼ 4栏:物质的晶体学数据。Sys.—— 晶系;S.G.——空间群;a0、b0、 c0——点阵常数,其中A、C为轴比, A= a0/b0,C= c0/ b0;α、β、γ—— 晶轴间夹角;Z——单位晶(阵)胞 中化学单位(对元素指原子,对化 合物指分子)的数目;V ——单位 晶胞体积。
粉末衍射卡的组成
X射线物相分析
◼ 假如有A、B两元素在同一容器中加 热,可生成化合物AB,但该反应进 行没有,有多少生成了AB,剩下还 有没有A或B,用普通的化学方法是 难于鉴别的。对上述问题,可以用X 射线衍射进行物相的定性和定量分 析。
X射线物相分析
◼ 物相的定义
◼ 所谓物相,指三种情形: ◼ 单质:由单一元素组成,如纯Al,纯Cu ◼ 化合物:如Fe2O3,FeO,F3O4 ◼ 固溶体:如Al-Zn-Mg-Cu合金经充分固 溶后得到的单相,该相具有Al的结构, 但由于溶质原子固溶到Al基体中,但其 点阵常数略大或略小于纯Al的点阵常数.
到1963年共出版13集,以后按每年1集的速度递
增
粉末衍射数据库
◼ 至2003年.PDF一共出版 61组,共收衍射谱 157 048个。其中,实验谱92 011个,计算谱多于65 000 个。无机物谱约133 000个.有机物谱约25 000个。 为便于使用大量的卡片进行人工物相鉴定,还出版 对这些卡片进行检索的索引和检索手册。最早的检 索手册书是由 PDF的编辑Davey W P编制的。以后 还提出过Keysort和IBM卡,Fink索引,Matthews 索引等多种检索方法和手册。其中,Fink索引是依 据8条最强线进行排列并作检索的,随同PDF卡发行, 直到1982年。