(整理)光学零件检验方法
光学零部件的基本测量
干 涉 法
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第一节 光学面形偏差的检测
特点:
具有更高的测试灵敏度和准确度; 绝大部分的干涉测试都是非接触式的,不会 对被测件带来表面损伤和附加误差;
较大的量程范围;
抗干扰能力强;
干 涉 法
操作方便;
在精密测量、精密加工和实时测控的诸多领 域获得广泛应用。
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第一节 光学面形偏差的检测
分类:
干涉测试技术
按光波 分光方式
按相干光束 传播路径
按用途
干 涉 法
动 态 干 涉
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分 振 幅 式
分 波 阵 面 式
共 程 干 涉
非 共 程 干 涉
静 态 干 涉
第一节 光学面形偏差的检测
1、干涉的概念
1)相干光 (1)频率相同 (2)位相差恒定 (3)光矢量振动方向相同 (4)光程差小于波列长度
θ
影响干涉条纹对比度的因素 -f 在干涉测量中,采取尽量减小光源尺 a) ②光源大小与空间相干性 b) c) 寸的措施,固然可以提高条纹的对比 图4-3 光阑孔大小对干涉条纹对比度的影响 干涉图样的照度,在很大程度上取决于光源 干 图 4-2 等厚干涉仪中的扩展光源 度,但干涉场的亮度也随之减弱。 的尺寸,而光源的尺寸大小又会对各类干涉 涉 图样对比度有不同的影响 : 当采用激光作为光源时,因为光源上 法
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1 §4-1 激光干涉测试技术基础 第一节 光学面形偏差的检测
K
在波动光学中,把光通过相干 x 长度所需要的时间称为相干时 1.2 影响干涉条纹对比度的因素 I 间,其实质就是可以产生干涉 ①光源的单色性与时间相干性 的波列持续时间,(其对应产 生干涉的两列波的光程差)。 如图,干涉场中实际见到的条纹是 λ到λ+Δλλ干 λ+Δλ 因此,激光光源的时间相干性 中间所有波长的光干涉条纹叠加的结果。 涉 比普通光源好得多,一般在激 m 0 1 2 3 4 5 6 当λ+Δ λ 的第m 级亮0 1 2 3 4 5 6 法 光干涉仪的设计和使用时不用 λ+Δ 图4-1 各种波长干涉条纹的叠加 考虑其时间相干性。 纹与λ的第m+1级亮纹重
光学元件瑕疵检测方法
光学元件瑕疵检测方法我折腾了好久光学元件瑕疵检测方法,总算找到点门道。
说实话,刚开始的时候我真是瞎摸索。
最初我想的特简单,就拿个放大镜,对着光学元件看,觉得这就能发现瑕疵了。
可实际操作起来才知道这有多不靠谱。
首先呢,很多细微的瑕疵,放大镜根本看不到,感觉跟大海捞针似的,能看到大的瑕疵,稍微小一点的就不行了。
而且就这么用放大镜看,眼睛很快就累得不行了。
这就相当于你在地上找一根特别细的针,没有工具就光靠眼睛瞪着,效率极低,还不准确。
后来我又想光学元件嘛,那打光看看会不会好点。
就把光学元件放在一个简单的灯光下,左看右看。
结果呢,有些瑕疵在特定角度才能看到,转来转去得把自己都转晕了,还是会错过不少瑕疵。
就像捉迷藏,你知道他在那一片,但是你每个角落看不全,就找不到他。
再后来我试了用显微镜。
这个倒是能看到好多之前看不到的小瑕疵了。
但是新的问题又出现了,怎么区分那些是真正的瑕疵,哪些可能只是灰尘或者表面污染啥的。
我当时没经验呀,看到个小点就以为是瑕疵,记录下来。
结果仔细一分析好多都是污染物,就像你看到地上的一粒黑东西,以为是坏东西,拿起来发现是颗小石子不是垃圾一样。
这个判断可太折磨人了。
后来我才发现得对光学元件先做个清洁处理再用显微镜看,这样结果就准确多了。
我现在还尝试了一种新的方法。
就是用光学相干断层扫描技术。
这东西就厉害了,就像是给光学元件拍内部的片子一样,能清楚地看到元件内部有没有瑕疵,断层扫描的图像就把元件内部结构清清楚楚显示出来,哪怕很微小的瑕疵也躲不过。
不过这个设备太贵了,并不是所有地方都能用得上。
要是自己做简单检测的话,我建议先把元件清洁干净,再用显微镜慢慢看,从不同角度看。
而且要把看到的特征好好分析分析,别就凭第一感觉就判定是瑕疵。
对于那些可疑的,要想办法再确认一下,比如换个倍数的镜头再看看之类的。
这光学元件瑕疵检测是一件挺考验耐心和经验的事儿,得不断摸索总结才行。
光学元件检验标准
光学元件检验标准《光学元件检验标准,你知道多少?》嘿,小伙伴们!你们知道吗?在我们生活中那些神奇的光学产品背后,可有着一套严格的光学元件检验标准呢!这就好像是一场超级重要的考试,只有通过了才能成为优秀的“光学小战士”。
比如说我们常见的眼镜片,这小小的东西可有着大讲究。
检验人员就像是超级侦探,拿着各种神秘的工具,对镜片进行仔细的“审查”。
他们会看镜片的清晰度,哎呀,这要是不清晰,戴上眼镜不就跟没戴一样啦?难道你愿意看东西还是模模糊糊的吗?还有那些望远镜的镜片,要是检验不过关,那我们用望远镜看星星的时候,看到的难道是一堆模糊的光斑?那多扫兴呀!检验的时候,可不光是看看这么简单。
他们要测量镜片的厚度是不是均匀,这就好像做蛋糕,要是有的地方厚有的地方薄,那能好吃吗?镜片也是一样呀,不均匀怎么能给我们带来清晰的视野呢?还有啊,光学元件的表面不能有划痕。
这就好比我们漂亮的脸蛋,如果有了划痕,那得多难看呀!你想想,要是镜片上有划痕,看东西的时候不就总有个道道挡着吗?而且,对于镜片的折射率也要严格把控。
这折射率就像是镜片的“本领”,本领大不大,决定了它能不能出色地完成任务。
要是折射率不对,那成像效果能好吗?我曾经好奇地问过检验员叔叔:“叔叔,这么严格的检验标准,不累吗?”叔叔笑着说:“孩子,这可关系到大家使用的效果和安全,累也值得!” 听到这话,我心里可敬佩他们啦!其实,光学元件检验标准就像是给光学元件们设立的一道道关卡,只有那些真正优秀的才能通过。
这就好像我们参加比赛,只有实力最强的才能拿到冠军。
如果没有这些标准,那市场上不就会有很多不合格的产品吗?那我们的生活不就会变得乱糟糟的?所以呀,光学元件检验标准可太重要啦!它能保证我们用到高质量的光学产品,让我们的生活更加清晰、更加美好!小伙伴们,你们说是不是呀?。
零件常用的检验方法有
零件常用的检验方法有
以下是一些常用的零件检验方法:
1. 外观检查:通过目视检查,检查零件的表面是否有磨损、划痕、氧化、变形、裂纹等问题。
2. 尺寸检测:使用测量工具(如卡尺、量规、显微镜)测量零件的尺寸,与设计图纸或规格要求进行比较,以确定零件的尺寸是否符合要求。
3. 检测密封性:使用压力测试装置或浸漏法检测零件的密封性能,以确保没有泄漏。
4. 材料检验:通过使用化学分析、显微镜观察、拉伸试验等方法来检查材料的成分、晶体结构和机械性能,以验证材料的质量。
5. 功能性能检测:将零件安装到相应的设备或系统中,并测试其在实际运行条件下的功能性能,以确保零件能够正常工作。
6. 环境试验:将零件暴露在不同的环境条件下(如温度、湿度、振动等)进行测试,以评估零件的适应性和耐久性。
7. 可靠性试验:通过在特定条件下进行长时间的运行测试或边界条件测试来评估零件的可靠性和寿命。
8. 破坏性测试:将零件暴露在极限条件下,如超载、过温等,
以测试零件的最大承载能力和抗破坏性能。
这些方法可以组合使用,以确保零件的质量和可靠性。
具体的检验方法应根据零件的特点和要求进行选择。
光学及光学仪器光学零件表面疵病试验方法
3 3 擦痕等效宽度(n—q i l t it ,E . 1 eeu a n dh L W) i ve w 全显露的擦痕的宽度或与所拦截的部分显露擦痕的透光量相当的吸光擦痕的宽度。
注: 全显露 的擦 痕的宽度即为其几何宽 度 。
34 麻点等效直径 ( o~ uvl t i e rS D) . s t q i e a t ,E p e andm e
光学及光学仪器光学零件表面疵病试验方法
IO1 9 7: 0 3 S 49 20
1 范
围
本 国际标准规 定了实旃 IO 1 107中测量表面疵病的两种方法 ( S 0 1— 方法 I ——疵病面积法和方法
Ⅱ —— 疵病 可 见法 ) 的物理 准则 和实 用手 段 。
这两种方法适用于各种大小规格 的光学零件的表面疵病 , 以及 由供需双方为特殊零件协定的特定公
在规定的疵病公差内, 设计者具体选择哪种方法取决于零件的应用场合 , 以及对疵病的测量要求。如 需实测所有的疵病采用方法 I 如要求对零件质量进行快速全面地评估采用方法 Ⅱ ; 。由于辐射量的差异 ,
这两种方法所作的质量评估是无法比较的。 5 方法 I 阻光面积截的部分显露麻点的透光量相当的吸光麻点的直径。
注: 全显露 的麻点直径 即为其几何直径 , 而级数是麻点面积的平方根 。
3 5 疵病 阈值( pr c o rso ) . i ef t nt eh l m ei h d
零件表面疵病 总量的限定值 , 超过该值时该零件不再适用其特定的应用。
维普资讯
・ 2・ 9
光
学 仪
器
第 2 卷 9
观察者刚好能察觉物体细节时所需的物体亮度与其背景光亮度之 比的最小值 。
光学品质、功能性及检测
光学品质、功能性及检测1.光学零件的技术要求:1.1.光圈数:被检光学表面的曲率半径相对于参考光学表面曲率半径的偏差,用N表示通常用工作原器与加工面贴合观察牛顿环来测量以判断高光圈(相对于是中间接触,颜色序列从中到边为黄、红、蓝),低光圈(相对于边的接触,颜色序列从中到边为蓝、红、黄)。
1.2.局部不规则度:被检光学表面与参考光学表面在任何一方向上产生的干涉条纹的局部不规则程度通常也称为面精度,采用干涉仪来测量(用△N表示)。
1.3.表面光洁度:加工光学表面所要求达到的粗糙度。
1.4.光学的镜片外观要求:(主要参考U.S MIL-013830A)。
1.5.光学镀膜:1.6.镜片光轴偏差:镜片机械与光学轴不同轴的偏差,一般用M2镭射激光检测仪和光轴显微仪测量。
1.7.镜片的机械尺寸要求:中心厚度、外径、深度、边厚、一般采用厚度计、光学投影仪、千分尺、深度仪。
2.镜片代号及含义:2.1.≠表示镜片表面有伤痕,亦是一种直线状不良(因硬物触及镜片表面而造成)。
2.1.セ表示镜片表面徵(Stain),亦是一种在反射检验时,可以看出表面上一种颜色深浅不良(因镜片表面发生化学变化而造成)。
2.3.ス表示镜片表面的砂目(Grty),亦即镜片表面仍可看到许多点状不良。
2.4.X表示镜片边缘的裂边(Chip),亦即镜片表面边缘处,有因碰伤或夹伤造成的破裂。
2.5.F表示镜片表面有“喷药”,亦即镜片表面镀膜后有因蒸镀物熔解过快未完全气化即喷药到镜片表面,造成点状不良为镜片报废原因之一。
2.6.R 表示镜片曲率半径值。
2.7.N表示镜片相对于原器的牛顿圈及光圈数。
2.8.△N表示镜片面精度即局部不规则度(Irreyularuty)。
2.9.C 表示镜片表面镀膜后,颜色超过规格要求即称过色。
2.10.CO表示镜片未镀膜面积超过图面规格要求。
3.光学镜头的功能性测量:3.1.投影解像力:在被测镜头的焦平面上放置CHART或成实像CHART图案,通过投影方式在投影屏上判读镜头的解像能力。
光学元件制造中所用到的测试测量方法
远棱边处厚度相等,说明工件表面的纹路是凹下
去的,即在工件表面病的天真,我能说什么?我低头,任眼泪流
凹痕的深度为h ,由图(1c)可知 AD/AB=AE/AC, 而 AC 为相邻干涉条纹对应的空气厚度之差,即 为λ/2,而AE即使凹痕的深度h ,故a/b=
制造光学元件时,常常需要得到十分精确的 平面、球面等,为此我们必须检查元件表面的质
量,最简单的方法是用样板检验。我们通过观察
干涉条纹的形状来判断被检表面的缺陷,从而进
行相应的磨制,最终达到我们的标准要求。 在制造光学元件时,常常需要得到十分精确
的平面、球面等,为此我们必须检查元件表面的
质量,最简单的方法是用样板检验。下面笔者对
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2fb0f5c7a 光博会
面对你充满语病的天真,我能说什么?我低头,任眼泪流
此问题做以分析和探讨。 1.检查平面的平整度 1(a)所示,若被检查的表面 A 是不规则的平
面,则可在 A 上放一标准样板 B,使其一端 P 相 接触,另一端 Q 处垫一薄片,这样便在 A、B 两
表面间得到一个空气的劈形薄膜。若薄膜很薄,
光在薄膜表面的入射角又不大(通常我们采用单
△h/(λ/2),即△h=(a/b)(λ/2)。
同理,若观察到的等厚条纹有局部远离棱边方向 发生弯曲,1(d)所示,则表明工件表面有一垂直
于 棱 边 的 凸 痕 , 凸 起 的 高 度 应 为 ?
h=(a/b)(λ/2)。
面对你充满语病的天真,我能说什么?我低头,任眼泪流
面对你充满语病的天真,我能说什么?我低头,任眼泪流
色光垂直入射)的情况下,等厚条纹定域在膜的 表面,故眼睛注视薄膜表面就可看到等厚干涉条
【光电集成】光学零件的面形偏差 检验方法(光圈识别)-概述说明以及解释
【光电集成】光学零件的面形偏差检验方法(光圈识别)-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述:在光电集成领域,光学零件的面形偏差是一个重要的参数,它直接影响到光学元件的光学性能和品质。
因此,准确地检验光学零件的面形偏差是非常关键的。
本文将针对光学零件的面形偏差进行检验方法的探讨,特别是使用光圈识别技术来实现更精确的检测。
通过本文的研究和分析,希望能为光学零件的制造和检验提供一定的参考和指导,提高光学元件的质量和性能。
1.2文章结构1.2 文章结构本文主要由引言、正文和结论三部分组成。
在引言部分,首先对光学零件的面形偏差进行了概述,然后介绍了文章的结构和目的。
接下来在正文部分,详细探讨了光学零件的面形偏差和检验方法,并重点介绍了光圈识别技术的应用。
最后在结论部分,对整篇文章进行了总结,展望了未来可能的研究方向,并得出了结论。
整篇文章通过逐步展开的结构,层层深入地探讨了光电集成中光学零件面形偏差的检验方法,并提供了一种新的检验技术,为相关研究提供了新的思路和方法。
1.3 目的本文旨在探讨光学零件的面形偏差检验方法中的一种新技术——光圈识别。
通过详细介绍光学零件的面形偏差和当前常用的检验方法,结合光圈识别技术的原理和应用,旨在提供一种更精准、高效的面形偏差检验手段。
通过本文的研究,希望能够为光学零件制造和质量控制领域提供有益的参考,推动光电集成技术的发展和应用,提高光学零件加工的精度和质量。
2.正文2.1 光学零件的面形偏差光学零件的面形偏差是指光学元件的表面与理想形状之间的偏差。
在实际生产过程中,光学零件的制造往往会受到各种因素的影响,导致表面形状的偏差,从而影响光学设备的性能和精度。
光学零件的面形偏差通常包括以下几种类型:1. 曲率偏差:表面的曲率与理想曲率之间的偏差。
2. 相位偏差:表面的相位与理想相位之间的偏差。
3. 波面偏差:表面的波面与理想波面之间的偏差。
这些面形偏差会导致光学元件在光学系统中的成像质量下降,影响设备的分辨率和成像清晰度。
光学零件检验方法
光学零件检验方法光学零件的检验方法是确保光学零件质量和性能的重要步骤。
以下是常见的光学零件检验方法:1.外观检验:外观检验是最简单和最常见的检验方法之一、它涉及对光学零件表面的检查,以确保没有明显的缺陷、瑕疵或污染。
常用的外观检查仪器有放大镜、显微镜和光谱仪等。
2.尺寸检验:尺寸检验是测量光学零件尺寸和形状的方法。
常用的尺寸测量仪器有投影仪、坐标测量机和光学分光计等。
这些仪器可以精确测量光学零件的长度、宽度、直径、圆度和平面度等。
3.表面粗糙度检验:表面粗糙度是表面微小不规则性的度量标准,对光学零件的性能具有重要影响。
常用的表面粗糙度检测仪器有光学轮廓仪、表面粗糙度仪和压电表面粗糙度仪等。
4.平整度检验:平整度是表面平坦性的度量标准,对光学零件的质量和性能有着重要影响。
常用的平整度测量仪器有检测平台和激光干涉仪等。
5.光学性能检验:光学性能检验涉及到对光学零件传输、透射、反射、折射、散射等光学性能的测量和评估。
常用的光学性能测量仪器有光谱仪、干涉仪、激光测距仪和分光光度计等。
6.工作环境检验:在一些特殊应用中,光学零件需要在特定的环境条件下工作,比如高温、低温、高湿度或低湿度等。
在这种情况下,光学零件的工作环境稳定性也需要进行检验。
7.强度检验:一些光学零件可能会经受较大的外力作用,因此需要进行强度检验。
常用的强度检验方法包括拉伸测试、弯曲测试、冲击测试和疲劳测试等。
总之,光学零件的检验方法是多样的,根据具体需要选择合适的检验方法进行检验,以确保光学器件的质量和性能符合要求。
光学元件表面检验公式
光学元件表面检验公式光学元件表面检验是光学工程中非常重要的一环,它对于确保光学元件的质量和性能起着至关重要的作用。
而在光学元件表面检验中,公式的应用是不可或缺的工具。
本文将就光学元件表面检验公式进行探讨,希望能够对读者有所帮助。
一、光学元件表面检验的重要性光学元件表面质量直接影响着光的传输和反射效果,因此在生产过程中,必须对光学元件的表面质量进行严格的检验。
通过表面检验,可以有效地发现并排除元件表面的缺陷和污染,确保元件的正常工作。
二、光学元件表面检验公式的应用1. 表面粗糙度公式表面粗糙度是评价光学元件表面质量的重要指标之一。
常用的表面粗糙度公式包括Ra、Rz等。
其中,Ra代表平均粗糙度,Rz代表最大峰谷高度。
这些公式可以通过仪器测量得到,从而对元件的表面质量进行定量评估。
2. 表面平整度公式表面平整度是评价光学元件表面平整程度的指标。
常用的表面平整度公式包括PV、PVr等。
其中,PV代表表面峰谷高度差,PVr代表表面峰谷高度差与参考面积之比。
这些公式能够帮助工程师准确地评估元件表面的平整度,从而判断元件是否符合要求。
3. 表面平行度公式表面平行度是评价光学元件表面平行程度的重要指标。
常用的表面平行度公式包括PA、PB等。
其中,PA代表表面平行度,PB代表表面平行度差。
这些公式可以帮助工程师准确地评估元件表面的平行程度,从而判断元件是否达到设计要求。
4. 表面反射率公式表面反射率是评价光学元件表面反射性能的重要指标。
常用的表面反射率公式包括R、T等。
其中,R代表表面反射率,T代表透过率。
这些公式可以通过测量得到,从而评估元件表面的反射性能。
三、光学元件表面检验公式的意义光学元件表面检验公式的应用,能够帮助工程师准确地评估元件的表面质量和性能。
通过公式的计算和分析,可以对元件的表面缺陷和污染进行定量评估,从而指导后续的优化和改进工作。
同时,公式的应用还可以提高工程师的工作效率,减少主观判断的不确定性。
零件精密检测方法
零件精密检测方法随着现代工业的发展,精密零件在各个领域中的应用越来越广泛。
为了确保零件的质量和性能,精密检测成为了生产过程中必不可少的环节。
本文将介绍一些常用的零件精密检测方法,包括三坐标测量、光学显微镜检测、扫描电子显微镜检测等。
一、三坐标测量三坐标测量是一种常用的零件精密检测方法。
它通过测量零件在三个坐标轴上的坐标值,来确定零件的尺寸、形状和位置精度。
三坐标测量设备通常由测量平台、测量头和计算机组成。
在测量过程中,测量头会自动扫描零件的表面,并将获取的数据传输给计算机进行处理和分析。
通过与设计模型进行比对,可以得出零件与设计模型之间的差异,从而判断零件是否合格。
二、光学显微镜检测光学显微镜检测是一种常用的表面检测方法。
它利用光学原理和显微镜的放大功能,对零件的表面进行观察和分析。
光学显微镜可以显示零件的形貌、纹理、缺陷等细节信息。
通过观察表面的形态和纹理,可以判断零件的加工质量和表面光洁度。
同时,光学显微镜还可以检测零件表面的缺陷,如裂纹、气泡等。
三、扫描电子显微镜检测扫描电子显微镜(SEM)是一种高分辨率的电子显微镜,常用于零件的微观结构分析。
与光学显微镜不同,SEM使用电子束而不是光束,能够获得更高的放大倍数和更详细的图像信息。
通过SEM,我们可以观察到零件表面的微观结构,如晶粒、纤维等。
同时,SEM 还可以检测零件表面的缺陷和污染物,如金属杂质、沉积物等。
四、硬度测试硬度测试是一种常用的材料力学性能测试方法,也是零件精密检测中的重要环节之一。
通过测量零件表面的硬度值,可以评估零件的耐磨性、抗压性等性能。
常用的硬度测试方法包括布氏硬度、洛氏硬度和维氏硬度等。
硬度测试通常使用硬度计进行,根据不同的测试原理和材料特性,选择合适的测试方法和测试参数进行测试。
五、超声波检测超声波检测是一种非破坏性检测方法,常用于零件的内部缺陷检测。
它利用超声波在材料中的传播和反射特性,通过检测超声波的传播时间和幅度变化,来确定零件内部的缺陷位置和尺寸。
光学镜头检验知识点总结
光学镜头检验知识点总结光学镜头是摄影、望远镜、显微镜等光学设备中的核心部件,其性能直接影响到成像的质量。
因此,对光学镜头进行严格的检验是非常重要的。
光学镜头的检验需要掌握一定的知识和技巧,下面将对光学镜头检验的知识点进行总结,希望能够对大家有所帮助。
一、外观检查1. 检查表面在进行光学镜头检验时,首先要进行外观检查。
检查光学镜头的表面是否有裂纹、划痕、氧化等情况,这些都将会影响到光学镜头的成像效果。
2. 检查涂层光学镜头的涂层也是需要进行检验的重点之一。
检查涂层是否均匀、完整,有无脱落、氧化等现象,这将会直接影响到光学镜头的透过率和反射率。
3. 检查组件另外,还需要对光学镜头的组件进行检查,如接口、螺纹等部分是否完整、无损伤,这些将会影响到光学镜头的安装和使用。
二、光学性能检验1. 光学性能指标在进行光学镜头检验时,需要对其光学性能进行检验。
主要包括分辨率、畸变、色差、散射、透光率等指标。
这些指标直接影响到光学镜头的成像质量,是光学镜头检验的重点。
2. 分辨率检验分辨率是指能够分辨出两个极限点的能力,是衡量光学镜头成像能力的重要指标。
分辨率的检验可以通过目视检验、对比法、激光干涉法等进行,其中激光干涉法是检验分辨率的最常用方法。
3. 畸变检验光学镜头的畸变是指光轴上不同位置的物体成像位置不同,出现了拉伸或压缩的情况。
畸变会影响到物体的成像质量,因此需要进行畸变的检验。
4. 色差检验色差是指不同波长的光线透过光学镜头后,成像位置与真实位置之间的偏差。
色差会导致成像的色彩失真,降低了成像的质量,因此在光学镜头检验中需要对色差进行检验。
5. 散射检验散射是指光线在透过光学镜头后发生的散射现象。
散射会降低光学镜头的透过率,影响到成像的清晰度,因此在光学镜头检验中需要对散射进行检验。
6. 透光率检验透光率是指光学镜头透过光线的比例,是衡量光学镜头透过能力的指标。
检验光学镜头的透光率需要采用透射法、反射法等进行。
光学件进料检验规范
1 范围本文件规定了光学件的检验依据、检验项目、检验方法、抽样方案。
本文件适用于镜头事业部品保进料检验组的光学件进料检验工作。
2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。
凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
QP-14-C《检验程序》QP-15-C《不合格控制程序》QP-10-Q《标识与可追溯性程序》WI-C-192《特认管理规范》3 术语和定义3.1 位置精度如平行度、倾斜度。
3.2 形状精度如平面度、圆度、平行度、圆柱度。
3.3 表面处理要求如涂墨、镀膜。
4 检验依据和检验项目检验依据及优先顺序如下:a)物料承认书;b)图纸;c)本文件。
5 检验项目5.1 检验项目内容检验项目有:a)原材料外观检测;d)其他各项技术指标。
5.2 原材料外观检测5.2.1 原材料外观检测工作环境防尘桌环境+40W白炽灯/辅助使用150W强光灯。
5.2.2 原材料外观检测要求要求如下:a)洁净度:60-40:允许最大度伤痕宽度0.06mm,长度允许最大镜片的1/4边缘位置;目视不可见的细伤可忽略不计;允许点子最大直径0.4mm,镜片表面只能允许1个;点子小于0.002mm~0.005mm可忽略不计;膜色均匀;表面无明显色斑印子等;b)其他如表面处理,涂墨处理,倒角处理等:见图纸。
5.3 检测方法内容如下:a)于要求的工作环境下用手带防指纹橡胶手指套,用镊子拾取待检镜片;e)在灯光下反射式,或投射式对镜片进行检测。
5.4 其他各项技术指标检验5.4.1 检验设备a)游标卡尺;b)千分尺;c)厚度计;;d)仪器室各种光学检测仪器;5.4.2 检验步骤要求如下:a)对照图纸要求之版本,是否与实物一致;b)审核图纸的尺寸、形位公差等,决定检查方法,合理选用量具,保证检测质量;c)QC按次序对工件进行检验,检完一个尺寸,做一个记号,不能漏检;d)对如R值、面型、焦距等无法检测的,填写检测报告单送往仪器室进行检测;e)检出不良品,由组长或厂部确认是否返修,报废;f)检验完毕签署检验记录,工件按要求进行清点包装,黏贴标识。
光学元件合格检验
问题:当对一个光学元件进行合格检验时,你需要重点关注的测试对象都有哪些?
答:首先可以将光学元件分为平面元件、球面元件和非球面元件,下面将分类来讨论。
一、平面元件
角偏差测量:分为棱镜角度的角偏差测量、楔形平板测量、数字波面干涉仪测量元件角偏差。
面形偏差测量:主要包括半径偏差、像散偏差和局部偏差。
此三个指标统称为光圈公差,光圈公差的作用是度量表面与其检验样板的偏离,它保证了一批产品的一致性。
通常采用干涉仪对面形偏差进行检测,为提高检测精度,可用多通道或多光束干涉法。
光学平行度测量:可采用双像法或干涉法测量光学平行度。
二、球面元件
曲率半径测量:实质上属于面形偏差的检测范畴,因为在检测面形偏差时,往往也可测出曲率半径。
测量球面曲率半径的方法:有球径仪法、自准直法、牛顿环法和干涉法。
面形偏差检测:通常采用球面干涉仪检测球面光学元件的面形偏差,球面干涉仪一般有正置、倒置和水平放置三种。
三、非球面元件
面形测试:常用方法有几何光线检测法、探针式轮廓法、干涉法。
参考文献:
苏俊宏, 田爱玲, 杨利红. 现代光学测试技术[M]. 科学出版社, 2013.。
(光学测量技术)第4章光学零件的测量
第4章 光学零件的测量
教学目的 1. 掌握检验球面光学零件面形偏差的方法。重点掌握玻 璃样板法的原理、高低光圈的识别方法以及光圈数与半径偏 差之间的关系。 2. 掌握用单臂式(斐索型)或双臂式(泰曼型)激光球面干 涉仪检测球面的面形偏差及半径测量的方法。 3. 了解用阴影法检测球面面形偏差的原理和方法。 4. 了解常用非球面的面形偏差检验方法,如点测法和样 板法等。 5. 掌握用钢珠式环形球径仪测量曲率半径的原理及方法。 6. 掌握平面光学零件角度及平行度测量的常用方法。 7. 掌握常用的焦距测量方法。
第4章 光学零件的测量 当被测面的曲率半径很大时,就应选择具有更大半径的 标准面。当标准波面的焦点受结构限制无法与被测球面顶点 实现瞄准时,对顶点的瞄准就不得不采用接触式瞄准方法, 但对球心的瞄准则仍可采用干涉法。如图 4.2 所示,( a )、 ( b )两图分别对应检验凸面和凹面的情况。此时,只有测出 Δ R ,才能求得被检球面的曲率半径 R x 。由图知:
第4章 光学零件的测量 用同样的办法可以计算像散偏差 Δ 1 N 和局部偏差 Δ 2 N。 最后应指出,在不同方向观察等厚条纹,会得到不同的 结果。为了测量沿球面法线方向的偏差,除了要保证照明光 线沿法线入射外,观察方向也应与该法线方向对应的出射光 线的方向一致。 样板法通常用目视法观察,测量精度一般为 0.1 个光圈 左右。
第4章 光学零件的测量 检验面形偏差时,应使由标准面上反射得到的标准波面 与被测面上反射得到的测试波面两者球心重合,或稍有横向 偏离,并观测其干涉图,当上述两波面之间没有差别时,干 涉图为均匀一片或很少的几条平行直条纹,并且不管条纹方 向如何(它对应两波面球心沿不同方向横向偏离)都为直线, 间距也相等。如果存在面形偏差,则条纹呈现椭圆形或发生 局部弯曲(分别对应 Δ1 N 和 Δ 2 N ),这时可按前述光圈识别 方法判读。
光学元件质量检验美军标
光学元件质量检验美军标1、目的:规范光学元件表面质量的检测标准2、适用范围:光学元件表面质量的检测3、技术要求:总则:所有元件,除具体仪器技术条件或合同所附有关图纸另有规定外,均须符合本标准的各项要求4、定义:表面缺陷:有效通光面积内表面缺陷的最大允许尺寸和数量的定量(数值)的描述,数值表示“道子/点子”,“S/D”5、检测内容:如加工单要求的20/10即:道子20#,点子10#,具体对应如下:道子:道子号数道子宽度10# 0.001mm20# 0.002mm40# 0.004mm60# 0.006mm80# 0.008mm点子:点子号数点子直径1# 0.001mm5# 0.005mm10# 0.01mm20# 0.02mm30# 0.03mm40# 0.04mm50# 0.05mm60# 0.06mm6、等效直径折算法6.1当φ2mm<元件≤φ20mm时,按等效直径折算最大道子(S)和最大点子(D),S(D)=S(D)X/2(X为元件等效面积的直径,S为指标中要求的最大道子,D为指标中要求的最大点子)例:φ10元件,要求40/20,允许的最大道子宽度S=40*10/2=200#,即最大道子宽度为0.02mm;允许的最大点子D=20*10/2=100#,即最大点子为0.1mm6.1.1当元件≥φ10mm时,检测方法:通过肉眼观察元件抛光、膜层表面质量6.1.2当φ2mm<元件<φ10mm时或元件<φ10mm且该元件通光尺寸>3mm时,检测方法:用8倍放大镜透过观察元件抛光、膜层表面质量6.2当元件>φ20mm 时,要求40/20,有效孔径内任意一个φ20mm 区域都得满足S/D(0.04mm/0.2mm)要求,否则该元件不合格。
6.3当元件≤φ2mm 时,按质量指标要求的最大标准值6.3.1检测方法:擦拭干净后的产品统一在放大倍率为40倍的体视显微镜下进行检测(在放大倍率为38倍下分化板上每格约为0.025mm ,而分化板上的黑线宽度约为0.006mm ),通过体视显微镜观察元件抛光、膜层表面质量(此检测方法仅限通光尺寸≤3mm 的产品) 6.3.2判定方法┅道子道子的定义:道子是指长与宽比例大于4:1的缺陷(单位:0.0001mm ) 最大道子的定义:道子宽度等于质量指标要求的最大值例:质量指标要求为40/20元件,最大道子宽度:40# =0.004mm ,在有效通光孔径内不允许有大于40#的道子,只允许40#道子的长度累加不超过有效通光孔径直径的1/4且所有道子的长度之和不超过有效通光孔径直径的1/2(1)通光孔径内存在一条道子,宽度大于最大允许道子的宽度拒收(2)通光孔径内存在多条道子,如这些道子宽度小于最大允许道子的宽度;且这些道子的长度累加不超过有效通光孔径1/2 允收(3)通光孔径内存在多条道子,这些道子宽度等于最大允许道子的宽度, 同时这些道子的长度累加不超过有效通光孔径直径1/4 允收60# 道子 道子L1(4)通光孔径内存在多条道子,这些道子中既有道子宽度等于最大允许道子的宽度也有道子宽度小于最大允许道子的宽度时,累加最大道子的长度不超过有效通光孔径直径1/4,同时累加所有道子的长度不超过有效通光孔径直径1/2 允收L2+L3不大于1/46.3.3判定方法┅点子点子的定义:点子是指长与宽比例小于4:1的缺陷(单位:0.001mm ) 最大点子的定义:即点子的实际直径尺寸等于质量指标要求的最大标准值,不规则点子取最大长度和宽度的平均值(以下举例用规则点子表示) 例:质量指标要求为40/20元件,最大点子为:20# =0.020mm ,在有效通光孔径内不能有一个大于20#的点子,只允许有2个20#的点子且直径之和不超过20#点子的2倍。
产品质量检测中的光学性能测试方法
产品质量检测中的光学性能测试方法在现代制造业中,产品的质量一直是企业追求的重要目标之一。
而对于一些需要涉及光学元件的产品,光学性能的测试就显得尤为重要。
光学性能的好坏直接影响着产品的最终品质和用户的使用体验。
因此,为了确保产品的质量,有效的光学性能测试方法是至关重要的。
光学性能是产品中光学元件所具备的特性和性能。
常见的光学性能包括透射率、反射率、折射率、色散、光学畸变等。
这些性能指标对于不同的光学元件而言,有着不同的重要性。
因此,在产品质量检测中,针对不同的光学元件,需要采用不同的测试方法。
首先,透射率是光学性能测试中的一项重要指标。
透射率是指光通过光学元件后的传递比例,是光学元件对光进行吸收、散射和衰减的能力的度量。
常见的测试方法有透射光谱法和透射率测量仪器法。
透射光谱法通过光谱仪测量光的透射谱,然后计算透射率。
透射率测量仪器法则是使用专门的透射率测量仪器,直接测量光通过样品后的透射率。
其次,反射率也是光学性能测试中的一项重要指标。
反射率是指光在光学元件表面发生反射的比例,是光学元件对光进行反射、吸收和折射的能力的度量。
常见的测试方法有反射光谱法和反射率测量仪器法。
反射光谱法通过光谱仪测量光的反射谱,然后计算反射率。
反射率测量仪器法则是使用专门的反射率测量仪器,直接测量光在样品表面发生反射的比例。
折射率是光在光学元件中传播速度和真空中传播速度的比值。
折射率的大小会影响到光在光学元件中的传播路径和光线的聚焦能力。
常见的测试方法有折射光谱法和折射率测量仪器法。
折射光谱法通过光谱仪测量光在不同介质中的折射谱,然后计算折射率。
折射率测量仪器法则是使用专门的折射率测量仪器,直接测量光在样品中的折射率。
色散是光学元件对不同波长的光具有不同的折射率,这会导致光在光学元件中产生色散效应。
常见的测试方法有色散曲线法和色散分析仪器法。
色散曲线法通过测量不同波长下的折射率,绘制出色散曲线来分析色散特性。
色散分析仪器法则是使用专门的色散分析仪器,直接测量光在样品中的色散性能。
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光学零件加工技术实验讲义实验一 光学零件毛坯的成型一、实验目的:1、了解古典法加工块料毛坯粗磨成型的工艺过程;2、熟悉所用设备、材辅料等相关知识。
二、实验设备及用品切割机、粗磨机、滚圆机、K9玻璃、金刚砂 三、实验步骤1、 取块料玻璃,在切割机上按30x30x20mm 切割;2、 在平面粗磨机上,分别用100#,240#金刚砂磨平第一面;3、 将磨平的一面用胶粘在平的垫板上,排列均匀;4、 在粗磨机上,手持垫板,用100#,240#金刚砂整盘研磨第二面,要不断更换垫板位置,使之研磨均匀。
同时要用卡尺测量,保证厚度和平行度; 5、 将两面磨平的平行玻璃板粘成条,宽:长=1:8~1:10;6、 在滚圆机上,将玻璃条滚圆成棒,∆Φ+Φ=Φ0;7、 将玻璃棒在电热板上加热,使粘胶熔化并逐一拆开玻璃板; 8、 用酒精等有机溶剂清洗玻璃;9、 用粗磨盘开球面,手持比例移动,更换位置,开出具有一定曲率半径的球面零件; 10、检验,用铁样板或试擦贴度的方法。
四、讨论1、在粗磨平面时,为什么第一面磨平单块加工,而第二面磨平可成盘加工?2、检验时,铁样板或试擦贴度为何从边缘接触密切?实验二金刚石磨轮铣磨球面一、实验目的1、验证光学零件铣磨原理;2、了解粗磨铣磨工艺过程;3、熟悉铣磨机工作原理和调整方法;4、要求铣磨如图1所示的透镜。
二、实验设备与用具透镜铣磨机QM08A 、金刚石磨轮(M D =20mm ,r=2mm ,粒度#100,浓度100%)、千分尺、扳手、透镜毛胚 (mm 010.025-φ,d15mm )、擦镜盘等。
三、铣磨原理球面零件的铣磨原理如图2、图3所示。
磨轮轴轴线与工作轴轴线相交于0点,两轴线的交角为α,筒形磨轮1绕自身轴线作高速旋转,工件2绕工件轴转动。
磨轮断面在工件表图3-2凸球面铣磨原理 图3-3凹球面铣磨原理 按图2与图3,有以下关系式:)(2sin r R D M±=α (1)式中 α——磨轮轴与工作轴夹角;M D ——磨轮中径;R ——工件被加工面的曲率半径; r ——磨轮端面圆弧半径(凸面取“+”号,凹面取“-”号)上式也可以写成r D R Mαsin 2=(2)当磨轮选定后,M D 与r 均为,调节不同的α角,既可加不同曲率半径的球面零件。
四、实验步骤与内容(1)操作程序(参考图4)打开电源总开关,真空泵同时开始动作。
左手将工件轴进退轴手柄3向右扳动。
右手同时把毛胚及密封垫圈嵌入真空夹头,并轻轻转动毛坯看其是否吸牢,然后将手柄3一直扳倒右边极限位置并推入定位凹槽。
盖上防油雾罩9。
按动按钮20,磨头轴运转。
按动按钮19,工件轴运转。
加工完毕后,工件轴自动停转,同时冷却液停止供给。
按动按钮17,磨头轴停转。
打开防油雾罩,扳动手柄3将工件取下。
检查所磨的曲率半径是否符合要求(一般要求铣磨零件的表面要和擦贴盘有1/2~1/3的擦贴度),并根据加查结果修正各参数。
检查被加工面是否有凸台,若有凸台则可以观察磨削纹弧线的方向来确定磨头箱平移b 值的修正方向。
被加工面的曲率半径R 主要与磨头偏转角α有关,加工凸面时若曲率半径偏大则需增大α角。
反之则减小α角。
试磨工件的中心厚度,这只与工件轴箱体的纵向位置有关,根据试件实际厚度与所要求的厚度的差值来微量调整工件轴箱的位置。
所调值可以从箱体前的百分表上读出。
反复试磨和修正,使铣磨的R 值达到要求为止。
实验完毕,关掉总电源。
图3-4铣磨机外形图(2)操作注意事项1)试磨前必须在工件和磨轮的距离大于凸轮升程的情况下空转几个过程,观察各部位运转是否正常。
内部冷却液的喷射必须充分,真空吸附必须牢固;2)装卸磨轮时严禁敲打,为了便于装卸,装磨轮前必须把磨轮孔擦净并涂少许黄油;3)无极变速的变速手柄必须在运转的情况下进行调整。
五、实验报告实验报告中除了要求阐述本实验的实验目的,实验原理外,重点讨论实验结果。
在实验结果中要求:1. 记录实验中所用的机床型号,磨轮参数,夹具尺寸,冷却液种类,喷射方式,喷射量,磨头轴偏转角α,工件边缘线速度,工序周期等;2. 画出完工零件图;3. 总结消除工件凸台和调整磨轮轴偏转角α之间的关系。
六、思考题1. 粗磨铣磨中,如果磨削后的零件与擦贴盘成中心接触和边缘接触但是腰部不接触。
其面型是什么?并解释出现这种现象的原因,是由于机床的哪部分调整不当造成的?应如何调整?假如把擦贴度调得再紧一些,则只有边缘接触而中心不接触,此时是否还是原面型?2. QM08A球面铣磨机能否用于磨外圆?磨外圆时机床应如何调整?3. 在铣磨过程中,如果零件装夹不紧,磨出来的表面会出现什么情况?4. 在铣磨零件时,如果最后没有光刀过程将磨出怎样的表面?5. 若用调整b值消除外凸包后,零件的曲率半径R比调整前是变大还是变小?此时α应作如何调整?分别用凸零件和凹零件说明之。
若要消除内凸包,应如何调整?实验四样板检验一、实验目的用光学样板检验光圈是光学零件制造中检验面形偏差的一种使用最广泛、最简便的精密检测方法,需要熟练地掌握。
通过实验应该达到以下目的:1、掌握识别高低光圈的方法(如样板四周加压法、一侧加压法、色序判断法等)及光圈的度量。
2、学会识别常见的几种局部光圈(如中心局部高、中心局部低、塌边、翘边等)及象散偏差。
3、了解影响光圈的工艺因素,并掌握修改光圈的方法。
二、实验设备与工具、量具Q8412型四轴透镜研磨机、球面工作样板、镜盘、抛光模、氧化铈抛光液、酒精乙A醚混合液、脱脂纱布、酒精灯、刮刀、活动扳手、台灯三、实验方法光学零件的面形偏差是指被检光学表面相对于参考光学表面(光学样板)的偏差。
它包括有三项内容:1、半径偏差,它所对应的光圈数以N表示;2、象散偏差,此偏差所对应的光圈数用N1∆表示;∆表示。
3、局部偏差,它所对应的光圈数以N2在光学零件抛光过程中,它的面形偏差一般是通过光学样板(基于光波等厚干涉原理)来检验的,根据对所观察到的干涉条纹(通称光圈)的数目、形状、变化和颜色来确定面形偏差的性质与大小。
对光圈的识别、度量与修改,其具体方法简述如下:(一)高低光圈的识别及其度量当样板与零件接触时,如果两者在中心接触,则为高光圈;反之,两者在边缘接触,则为低光圈。
常用的识别方法有:1、样板四周加压法低光圈:当空气隙缩小时,条纹从边缘向中心移动,光圈减小且变粗。
高光圈:当空气隙缩小时,条纹从中心向边缘移动,光圈也相应减小变粗。
如图4-1所示。
图4-1 样板四周加压法图4-2 一侧加压法2、一侧加压法低光圈:当空气隙缩小时,条纹弯曲方向背向加力点,条纹移动方向如图4-2所示。
高光圈:当空气隙缩小时,条纹弯曲方向朝向加力点,条纹移动方向如图4-2所示。
3、色序判断法在白光中,各色光的波长是从红光向紫光逐次减短,因此,在同一个干涉级中,波长越大,产生干涉处的间隙也越大,当从中心到边缘的颜色序列为蓝、红、黄时为低光圈;当从中心到边缘的颜色序列为黄、红、蓝时,则为高光圈,参见图4-3。
图4-3 色序判断法4、光圈数N的度量光圈数的多少,反映了被检光学表面的曲率半径相对于参考光学表面曲率半径偏差的大小。
光圈越多,偏差越大。
反之则小。
(1)当光圈数多的情况下(1>N 时),以有效检验范围内直径方向上最多条纹数的一半来度量。
在白光照明下,通常以红色为计量标准色,表面上出现几个红色光圈即为几道圈。
(2)当光圈数少的情况下(1<N 时),光圈数N 是以通过直径方向上干涉条纹的弯曲量(h )相对于条纹的间距(H )的比值来度量。
如图4-4所示。
光圈数N 可通过下式计算:HhN =(4-1) 对于较小曲率半径的球面,当1<N 时,通常是根据整个表面上边缘和中间光斑颜色和差异来度量其光圈数的。
如以荧光灯作光源,当边缘颜色为灰白色时,则可根据中间颜色来确定其光圈数,也可根据与空气隙厚度相对应的颜色和光圈数的关系来计算与颜色对应的空气隙厚度差或光圈数。
图 4-4 1<N 时光圈数的度量(二)局部光圈的识别及其度量局部偏差是指被检光学表面与参考光学表面在任一方向上产生的干涉条纹的局部不规则程度,它所对应的光圈数用N 2∆表示。
常见的局部光圈有中心高、中心低、塌边、翘边等如图4-5、图4-6所示。
图4-5中心局部光圈数N 2∆的度量 图4-6边缘局部光圈数N 2∆的度量 (·表示加力点) (·表示加力点)局部光圈数N 2∆是以局部不规则干涉条纹对理想平滑干涉条纹的偏离量(e )与两相邻条纹间距(H )的比值来度量的。
其关系式为HeN =∆2 (4-2) (三)象散光圈的识别及其度量象散偏差是指被检光学表面与参考光学表面在两个相互垂直方向上产生的光圈数不等所对应的偏差,此偏差所对应的光圈数用N 1∆表示。
常见象散光圈有椭圆形象散光圈、马鞍形象散光圈、柱形象散光圈等。
如图4-7、图4-8、图4-9、图4-10所示。
象散光圈数N 1∆是以两个相互垂直方向上光圈数N 的最大代数差的绝对值来度量的其关系式为y x N N N -=∆1 (4-3)图 4-7 椭圆形象散光圈数N 1∆的度量 图4-8马鞍形象散光圈数N 1∆的度量图4-9 柱形象散光圈数N 1∆的度量 图4-101<N 的象散光圈数N 1∆的度量 (四)影响光圈的工艺因素及光圈的修改方法在光学零件的抛光过程中,常用的调整光圈的工艺因素有:摆幅大小、顶针位置、主轴转速、摆速的增减、压力的增减、抛光模的修刮、抛光液的浓淡等。
当光圈高时,说明零件边缘磨多了,修改时应使中间多磨。
反之,光圈低时,零件中间磨多了,修改时应使边缘多磨。
在加工过程中,对光圈的修改,主要是通过正确地熟练地调整有关工艺因素来实现的。
修改光圈的具体方法归纳成下列二表。
1、规则光圈的修改方法如表4-1所示。
表4-1 规则光圈的修改方法 镜盘位置 凸镜盘在下 凹镜盘在上 原光圈情况 低高低高曲率半径R的变化趋势R由大变小(光圈由低改高)R由小变大(光圈由高改低)R由小变大(光圈由低改高)R由大变小(光圈由高改低)抛光情况多抛边缘多抛中部多抛边缘多抛中部各工艺因素的调整摆幅顶针位置主轴转速摆速压力抛光模抛光液加大拉出来加快放慢略加重修刮中部浓些减小放中心放慢加快宜轻修刮边缘淡些减小放中心加快放慢略加重修刮中部浓些加大拉出来放慢加快宜轻修刮边缘淡些表4-2 局部光圈及象散偏差的修改方法工艺因素局部低和塌边局部高和翘边象散偏差抛光模的修改主轴转速摆速摆幅顶针位置压力修改抛光模有误差部分减小减小减小放中心减小修改抛光模无误差部分加大加大加大拉出来加大均匀修改整个抛光模表面减小加大对称摆幅加大表中所列系指单项工艺因素的改变对光圈的影响,运用时可根据具体情况,同时采取几项主要工艺因素措施,就可迅速达到预期目的。