印制板可焊性测试方法的变化
IPC-TM-650中文解读
IPC-TM-650中文解读1. 简介IPC-TM-650是印刷电路板(PCB)和印制电路组件(PCAs)的测试方法标准,由国际电子工业协会(IPC)制定。
该标准为PCB和PCAs的测试提供了全面的方法,包括物理、电气和功能测试。
IPC-TM-650的目的是确保PCB和PCAs在制造和装配过程中质量得到保证,同时确保产品符合客户的要求。
2. 标准结构IPC-TM-650标准分为以下几个部分:- IPC-TM-650 Part 1: General Test Methods- IPC-TM-650 Part 2: Conformal Coating- IPC-TM-650 Part 3: Solderability- IPC-TM-650 Part 4: Mechanical and Material Properties- IPC-TM-650 Part 5: Electrical Test Methods- IPC-TM-650 Part 6: Functional Test Methods每个部分包含一系列的测试方法,用于评估PCB和PCAs的特定特性。
3. 测试方法3.1 物理测试物理测试包括测量PCB的尺寸、厚度、重量等。
这些测试的目的是确保PCB的物理尺寸符合设计要求。
3.2 电气测试电气测试用于评估PCB的电气特性,包括电阻、电容、绝缘阻抗等。
这些测试的目的是确保PCB的电气性能符合规格要求。
3.3 功能测试功能测试是用于验证PCB上的电子元件和电路是否正常工作的测试。
这些测试可以包括电源测试、信号完整性测试、通信测试等。
3.4 材料测试材料测试用于评估PCB材料的特性和质量,包括基材的耐热性、化学稳定性等。
3.5 焊接性测试焊接性测试用于评估PCB上的焊接点是否具有良好的可焊性。
这些测试可以包括焊接温度、焊接时间等参数的测试。
3.6 涂层测试涂层测试用于评估PCB上的涂层是否具有良好的附着力、耐化学性等特性。
IPC-TM-650测试方法规范
IPC-TM-650测试方法规范原创工作组:刚性板测试方法任务组(7-11d)1.0范围本方法使用压敏胶带测定镀层、标记油墨或油漆以及与连接印制板有关的其它材料的附着质量。
2.0适用文件商业产品规格型号(CID)A-A-113压敏胶带3.0试样试生产、检验或生产中印制板,每次鉴定应至少进行三次测试。
4.0器具或材料4.1胶带一卷3M600型宽1/2英寸压敏胶带,或者是除了胶带为透明外,符合(CID)A-A-113规定的1型B级压敏胶带要求的其他胶带。
5.0操作程序5.1测试将一块至少长50mm(2.0英寸)的压敏胶带紧紧贴在测试区域的表面上,排除压敏胶带下的空气。
压贴胶带和揭撕胶带之间的时间应少于1分钟。
与测试区域大致呈垂直(直角),迅速施加拉力,撕起胶带。
每次测试均应使用未使用过的胶带。
5.2鉴定目视检查胶带和测试区域,是否有任何部分被撕掉的痕迹。
5.3报告报告应说明测试中是否有材料被撕掉的痕迹。
第1页共31页6.0注6.1如果镀层突沿断裂(碎屑)并附着在胶带上,这只是突沿断裂的痕迹,而不能证明附着力不合格。
6.2如果测试表面有杂质(油、脂等),则可能影响测试结果。
注:本测试方法规范中所适用的材料是IPC技术委员会自行而定的,只是建议性的,使用与否或适用与否完全自定。
IPC对于这种材料的使用、应用或适用概不负责。
使用人还应完全负责保护自己,避免因侵犯专利权而遭受索赔或承担责任。
本测试方法规范中所提到的设备,仅供使用人参考,并不意味着是IPC所指定的设备。
主题:挠性敷金属介质的弯曲疲劳和延展性测定制定日期:1991年3月修订版本:C原创工作组:不适用1范围本测试方法用于测定敷金属层在给定弯曲半径条件下的弯曲疲劳寿命、弯曲疲劳特性和拉伸断裂后的延展变形百分数。
注:当铜箔试样的几何形状和尺寸使得拉伸和断裂测试不适合延展度测定时,可以使用疲劳测试的方法间接测定铜箔的延展度。
注:测试处理可能改变金属导线原有的机械特性。
印制电路板的可焊性测试与评价
印制电路板的可焊性测试与评价董丽玲;贾燕【摘要】可焊性是印制板的重要性能指标检验是十分重要和必要的,文章介绍和比较了国内常用的几种可焊性试验方法标准,同时列举了三个常用的测试案例予以操作指导.【期刊名称】《印制电路信息》【年(卷),期】2010(000)011【总页数】5页(P44-47,50)【关键词】可焊性;润湿;焊盘;镀覆孔【作者】董丽玲;贾燕【作者单位】江南计算技术研究所印制板质量检测中心,江苏,无锡,214083;江南计算技术研究所印制板质量检测中心,江苏,无锡,214083【正文语种】中文【中图分类】TN411 引言微电子工业的飞速发展,芯片封装的不断小型化,不仅促进了印制电路板朝高密度、多层化方向发展,同时还对印制电路板的可焊性等工艺提出了更严格的要求。
与此同时,电子产品的无铅工艺,对可焊性的要求也越来越高。
在当前器件引脚、印制电路板焊盘(孔)及至焊点均越来越小型化的情况下,可焊性对产品可靠性的影响至关重要。
因此,本文对印制电路板的可焊性测试与评价将作重点介绍,并进行了此方面的案例分析。
2 可焊性测试的主要标准与方法我国印制电路板的可焊性测试方法的国家标准是GB/T 4677-2002《印制板测试方法》,其对应的IEC标准是IEC 603262:1990《印制板第2 部分试验方法》和IEC 60068220:1979《环境试验第220部分:试验T:锡焊》,后来又有IEC 611893《互连结构和组装件用电工材料试验方法第3 部分:互连结构(印制板)的试验方法》。
国家军用标准是GJB362B-2009《刚性印制板通用规范》,其对应的标准是MILPRF-55110G:2006《刚性印制板通用规范》。
IPC印制板可焊性测试方法标准最早是1970年的IPC-S-801《印制线路板可焊性边缘浸焊测试方法》,美国EIA(电子工业协会)也制定了电子焊接方面的标准。
后来IPC与EIA 共同制定联合标准(Joint Standard),其中印制板可焊性测试方法标准IPC/EIA J-STD-003于1992年4月发布,2003年2月修订为IPC/EIA J-STD-003A,以上方法全部是有铅的方法。
电子元件标准规范中英文对照
电子元件标准规范中英文对照[转帖2006.08.31 11:08:37]字号:大中小电子元件标准规范中英文对照1 GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法Determination of failure rate of electronic elements and components2 GB/T 2036-1994 印制电路术语Terms for printed circuits3 GB/T 2413-1980 压电陶瓷材料体积密度测量方法Piezoelectric ceramic materials--Measuring methods for determination of volume density4 GB/T 2470-1995 电子设备用固定电阻器、固定电容器型号命名方法Type designation system for fixed resistors and fixed capacitors for use in electronicequipment5 GB/T 2471-1995 电阻器和电容器优先数系Preferred number series for resistors and capacitors6 GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列Fixed capacitors for electronic equipments--Working voltage series7 GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列Capacitors with rectangular metal enclosure for electronic equipments--Outline dimensions series8 GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列Capacitors with disc metal enclosure for electronic equipments--Outline dimensions series9 GB/T 2658-1995 小型交流风通用机技术条件A.C. miniature blowers, general specification for10 GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范(可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment—Part 1: Generic specification11 GB/T 2775-1993 手控电子元件的轴端尺寸Dimensions of spendle ends for manually operated electronic components12 GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名Designations for synthetic quartz crystals13 GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法Designations for types of piezoelectric ceramics14 GB/T 3389.3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试Test methods for the properties of piezoelectric ceramics--Test for Curie temperature Tc15 GB/T 3389.4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式Test methods for the properties of piezoelectric ceramics--Longitudinal lengthextension vibration mode for rod16 GB/T 3389.7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试Test methods for the properties of piezoelectric ceramics--Test for dielectric properties inhigh electric field17 GB/T 3389.8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试Test methods for the properties of piezoelectric ceramics--Test for the pyroelectriccoefficient18 GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法Method of measurement of non-linearity in capacitors19 GB/T 3788-1995 真空电容器通用技术条件General specification for vacuum capacitors20 GB/T 4071-1983 光致荧光粉测试方法Measuring method for the phosphor excited by light21 GB/T 4072-1983 阴极射线致荧光粉测试方法Measuring method of the phosphor excited by cathod rays22 GB/T 4098.1-1983 射频电缆电晕试验方法Test method of corona for radio-frequency cables23 GB/T 4098.2-1983 射频电缆电容和电容不平衡测量方法Methods of measurement of capacitance and capacitance unbalance for radio-freguency cables24 GB/T 4098.3-1983 射频电缆特性阻抗测量方法Methods of measurement of characteristic impedance for radio-frequency cables25 GB/T 4098.4-1983 射频电缆衰减常数测量方法Methods of measurement of attenuation constant for radio-frequency cables26 GB/T 4098.5-1983 射频电缆电容稳定性试验方法Test method of capacitance stability for radio-frequency cables27 GB/T 4098.6-1983 射频电缆衰减稳定性试验方法Test method of attenuation stability for radio-frequency cables28 GB/T 4098.7-1983 射频电缆高温试验方法Test method of high-temperature for radio-frequency cables29 GB/T 4098.8-1983 射频电缆低温试验方法Test method of low-temperature for radio-frequency cables30 GB/T 4098.9-1983 射频电缆流动性试验方法Test method of flow for radio-frequency cables31 GB/T 4098.10-1983 射频电缆尺寸稳定性试验方法Test method of dimensional stability for radio-frequency cables32 GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则Guide to the use of variable capacitors in electronic equipment33 GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法Methods of test of variable capacitors in electronic equipment34 GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语Terms of electromechanical components for electronic equipment35 GB/T 4475-1995 敏感元器件术语Terms of sensor36 GB/T 4588.1-1996 无金属化孔单双面印制板分规范Sectional specification:single and double sided printed boards with plain holes37 GB/T 4588.2-1996 有金属化孔单双面印制板分规范Sectional specification:single and double sided printed boards with plated-through holes38 GB/T 4588.3-1988 印制电路板设计和使用Design and use of printed boards39 GB/T 4588.4-1996 多层印制板分规范Seetional spocification--Multilayer printed boards40 GB/T 4588.10-1995 印制板第10部分: 有贯穿连接的刚挠双面印制板规范Printed boards--Part 10: Specification for flex-rigid double-sided printed boards withthrough connections41 GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器形铁心E-cores for three-phase transformers for use in electronic equipment42 GB/T 4677.1-1984 印制板表层绝缘电阻测试方法Test method of surface insulation resistance for printed boards43 GB/T 4677.2-1984 印制板金属化孔镀层厚度测试方法微电阻法Micro-resistance test method of plating thickness of platedthrough holes for printed boards44 GB/T 4677.3-1984 印制板拉脱强度测试方法Test methods of pull strength for printed boards45 GB/T 4677.4-1984 印制板抗剥强度测试方法Test methods of peel strength for printed boards46 GB/T 4677.5-1984 印制板翘曲度测试方法Test methods of platness for printed boards47 GB/T 4677.6-1984 金属和氧化覆盖层厚度测试方法截面金相法Test methods for thickness of metal and oxide coating by microscopical examination of cross-section48 GB/T 4677.7-1984 印制板镀层附着力试验方法胶带法Test method of plating adhesion by adhesive type for printed boards49 GB/T 4677.8-1984 印制板镀涂覆层厚度测试方法β反向散射法Test method of plating and coating thickness by beta backscattering for printed boards50 GB/T 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multilayer printed boards60 GB/T 4677.19-1988 印制板电路完善性测试方法Test method for electrical integrity of printed boards61 GB/T 4677.20-1988 印制板镀层附着性试验方法摩擦法Test method for plating adhesion of printed boards--Burnishing62 GB/T 4677.21-1988 印制板镀层孔隙率测试方法气体暴露法Test method for plating porosity of printed boards--The gas exposure method63 GB/T 4677.22-1988 印制板表面离子污染测试方法Test method for surface ionic contamination of printedboards64 GB/T 4677.23-1988 印制板阻燃性能测试方法Test method for flammability of printed boards65 GB/T 4721-1992 印制电路用覆铜箔层压板通用规则General rules for copper-clad laminated sheets for printed circuits66 GB/T 4722-1992 印制电路用覆铜箔层压板试验方法Test methods for copper-clad laminated sheets for printed circuits67 GB/T 4723-1992 印制电路用覆铜箔酚醛纸层压板Phenolic cellulose paper copper-clad laminated sheets for printed circuits68 GB/T 4724-1992 印制电路用覆铜箔环氧纸层压板Epoxide cellulose paper copper-clad laminated sheets for printed circuits69 GB/T 4725-1992 印制电路用覆铜箔环氧玻璃布层压板Epoxide woven glass fabric copper-clad laminated sheets for printed circuits70 GB/T 4779.1-1984 彩色显象管用荧光粉Y22-G3荧光粉Phosphors for color picture tubes use--Phosphor Y22-G371 GB/T 4779.2-1984 彩色显象管用荧光粉Y22-B2荧光粉Phosphors for color picture tubes use--Phosphor Y22-B272 GB/T 4779.3-1984 彩色显象管用荧光粉Y22-R4荧光粉Phosphors for color picture tubes use--Phosphor Y22-R473 GB/T 4825.1-1984 印制板导线局部放电测试方法Test method for partial discharge of conductors on printed boards74 GB/T 4825.2-1984 印制板导线载流量测试方法Test method for current carrying capacity of conductors on printed boards75 GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范Generic specification for fixed metallized paper dielectric capacitors for direct current76 GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量Measurement of the dimensions of a cylindrical component having two axial terminations77 GB/T 5077-1985 电容器和电阻器的最大外形尺寸Maximum case dimensions for capacitors and resistors78 GB/T 5078-1985 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法Method for the determination of the space required by capacitors and resistors withunidirectional terminations79 GB/T 5489-1985 印制板制图Printed board drawing80 GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Testmethod for gas-tightness81 GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electroniccomponents--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio82 GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for mean coefficient of linear expansion83 GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electroniccomponents--Test method for dielectric loss angle tangent value84 GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity85 GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法化学稳定性测试方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for chemical durability86 GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法透液性测定方法Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Testmethod for liquid permeability87 GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure88 GB/T 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法Test method for thermal conductivity of beryllium oxide ceramics89 GB/T 5729-1994 电子设备用固定电阻器第一部分: 总规范Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 1: Generic specification90 GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规范: 低功率非线绕固定电阻器(可供认证用) Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 2:Sectional specification: Fixed low-power nonwire wound resistors91 GB/T 5731-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证用) Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 2: Blank detail specification: Fixed low-power non-wirewound resistors--Assessment level E 92 GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规范: 功率型固定电阻器(可供认证用) Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 4: Sectionalspecification: Fixed power resistors93 GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规范: 功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用) Fixed resistors for use in electronic equipment--Part4: Blank detail specification: Fixed power resistors Assessment level E94 GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规范: 精密固定电阻器(可供认证用) Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 5: Sectionalspecification: Fixed precision resistors95 GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规范: 精密固定电阻器评定水平E (可供认证用) Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 5:Blank detail specification: Fixed precision resistors--Assessment level E96 GB/T 5838-1986 荧光粉名词术语Terms for phosphors97 GB/T 5966-1996 电子设备用固定电容器第8部分: 分规范: 1类瓷介固定电容器Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 8: Sectional specification:Fixed capacitors of ceramic dielectric, class 198 GB/T 5967-1996 电子设备用固定电容器第8部分: 空白详细规范1类瓷介固定电容器评定水平E Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 8: Blankdetail specification Fixed capacitors of ceramic dielectric, class 1--Assessment level E99 GB/T 5968-1996 电子设备用固定电容器第9部分: 分规范2类瓷介固定电容器Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 9: Sectional specificationFixed capacitors of ceramic dielectric, class 2100 GB/T 5969-1996 电子设备用固定电容器第9部分: 空白详细规范2类瓷介电容器评定水平E Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 9: Blank detailspecification Fixed capacitor of ceramic dielectric, class 2 --Assessment level E101 GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体和非固体电解质铝电容器(可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 4:Sectional specification--Aluminium electrolytic capacitors with solid and non-solid electrolyte 102 GB/T 5994-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 4: Blank detail specification--Aluminium electrolytic capacitors with non-solid electrolyte--Assessment level E103 GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范Type specification for variable tuning capacitors--Type A in electronic equipments104 GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范Type specification for variable trimmer capacitors--Type B in electronic equipments105 GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范Type specification for variable preset capacitors--Type C in electronic equipments106 GB/T 6346-1986 电子设备用固定电容器第11部分: 分规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(可供认证用) Fixed capacitors for use inelectronic equipment--Part 11: Sectional specification: Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil D.C.capacitors107 GB/T 6347-1986 电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证用) Fixed capacitorsfor use in electronic equipment--Part 11: Blank detail specification: Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil D.C. capacitors--Assessmentlevel E108 GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法The rule of type designation for quartz crystal units109 GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法The rule of type designation for crystal holders (enclosures)110 GB/T 6452-1986 吸气用锆铝合金粉Zirconium-Aluminium 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positive step-function temperaturecoefficient thermistors128 GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E (可供认证用) Blank detail specification for the directly heated positive step-function temperature coefficient thermistors--Assessement level E129 GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 15:Sectional specification--Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte130 GB/T 7214-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固体定电解质和多孔阳极钽电容器评定水平E (可供认证用) Fixed capacitors for use inelectronic equipment--Part 15: Blank detail specification--Fixed tantalum capacitors with solid electrolyte and porous anode--Assessment level E131 GB/T 7265.1-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法微扰法Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at microwave frequencies--Perturbation method132 GB/T 7265.2-1987 固体电介质微波复介电常数的测试方法"开式腔"法Test method for the complex permittivity of solid dielectric materials at microwavefrequencies--" Open cavity" method133 GB/T 7332-1996 电子设备用固定电容器第2部分: 分规范: 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part2: Sectional specification--Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c.capacitors134 GB/T 7333-1996 电子设备用固定电容器第2部分: 空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E Fixed capacitors for use in electronicequipment--Part 2: Blank detail specification--Fixed metallized polyethylene-terephthalate filmdielectric d.c.capacitors--Assessment level E135 GB/T 7338-1996 电子设备用固定电阻器第6部分: 分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 6: Sectionalspecification--Fixed resistor networks with individually measurable resistors136 GB/T 7339-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范: 阻值和功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平 E (可供认证用) Fixed resistors foruse in electronic equipment--Part 6: Blank detail specification--Fixed resistor networks with individually measurable resistors, all of equalvalue and equaldissipation--Assessment level E137 GB/T 7340-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范: 阻值和功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平 E (可供认证用) Fixed resistors foruse in electronic equipment--Part 6: Blank detail specification--Fixed resistor networks with individually measurable resistor of either different resistancevalues or different rated dissipations--Assessment level E138 GB/T 7345-1994 控制微电机基本技术要求General requirements for electrical micro machine for automatic control system139 GB/T 7423.1-1987 半导体器件散热器通用技术条件Heat sink of semiconductor devices--Generic specification140 GB/T 7423.2-1987 半导体器件散热器型材散热器Heat sink of smiconductor devices--Heat sink, extruded shapes141 GB/T 7423.3-1987 半导体器件散热器叉指形散热器Heat sink of semiconductor devices--Heat sink, Staggered fingers shapes142 GB/T 7556-1987 对称电缆60路载波系统进网特性要求General characteristics complying with the network performance objectives for 60 channel carriertelephone systems on symmetric cable pairs143 GB/T 7557-1987 1.2/4.4mm标准同轴电缆300路载波系统进网特性要求General characteristics complying with the network performance objectives for 300 channelcarrier telephone systems on standardized 1.2/4.4mm coaxial cable pairs144 GB/T 7613.1-1987 印制板导线耐电流试验方法Test method for current proof of conductors on printed boards145 GB/T 7613.2-1987 印制板表层耐电压试验方法Test methods for voltage proof of surface layers on printed boards146 GB/T 7613.3-1987 印制板金属化孔耐电流试验方法Test methods for current proof of plated-through holes on printed boards147 GB/T 7614-1987 校准测耳机用的宽频带型仿真耳An artificial ear of wide band type for the calibration of earphones used in audiometry148 GB/T 8553-1987 晶体盒总规范Holders (Enclosures), crystal, general specification for149 GB/T 8977-1988 调频、电视广播接收机用300Ω/75Ω平衡-不平衡阻抗变换器300Ω/75Ωbalun for FM and TV broadcast receiver150 GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范Visual-frequency--Coaxial connectors, generic specification of151 GB/T 9023-1988 射频同轴电缆屏蔽效率测量方法(转移阻抗法) Methods of measurement of screening efficiency for radio-frequency coaxial cables (Test methodfor transfer impedance)152 GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则和制订详细规范的导则Connectors frequencies below 3 MHz for use with printed boards--Geneneral rules andguide for the preparation of detail specilications153 GB/T 9315-1988 印制电路板外形尺寸系列Series for printed boards outside dimension 154 GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 8(1):Sectional specification: Fixed classs 1 high voltage ceramic dielectric capacitors155 GB/T 9321-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) Fixed capacitors for use in electronicequipment--Part 8(1): Blank detail specification: Fixed class 1 ceramic dielectric capacitors--Assessment level E156 GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 9(1):Sectional specification: Fixed class 2 high voltage ceramic dielectric capacitors157 GB/T 9323-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) Fixed capacitors for use in electronicequipment--Part 9(1): Blank detail specification: Fixed class 2 ceramic dielectric capacitors--Assessment level E158 GB/T 9324-1996 电子设备用固定电容器第10部分: 分规范多层片式瓷介电容器Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 10: Sectionalspecification--Fixed multilayer ceramic chip capacitors159 GB/T 9325-1996 电子设备用固定电容器第10部分: 空白详细规范多层片式瓷介电容器评定水平E Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 10: Blankdetail specification Fixed multilayer ceramic chip capacitors Assessment level E160 GB/T 9489.1-1988 刚玉粉分析方法通则General rule for analytical method of alundum powder161 GB/T 9489.2-1988 刚玉粉中氧化钙、氧化镁、二氧化硅、三氧化二铁、二氧化钛的电感耦合高频等离子体发射光谱法测定Determination of CaO,MgO,SiO2,Fe2O3,TiO2 inalundum powder by ICP-AES162 GB/T 9489.3-1988 刚玉粉中三氧化二铁、氧化钙、氧化镁、氧化钠、氧化钾的原子吸收分光光度测定法Determination of Fe2O3,CaO,MgO,Na2O and K2O in alundum powderby atomic absorption spectrophotometry163 GB/T 9489.4-1988 刚玉粉中三氧化二铝含量的络合滴定氟化物释放测定法Determination of Al2O3 in alundum powder by complexometric titration164 GB/T 9489.5-1988 刚玉粉中二氧化硅的比色测定法Determination of SiO2 in alundum powder by colorimetry165 GB/T 9489.6-1988 刚玉粉中二氧化钛的比色测定法Determination of TiO2 in alundum powder by colorimetry166 GB/T 9489.7-1988 刚玉粉中氯根的目视比浊测定法Determination of chloride in alundum powder by visual turbidimetry167 GB/T 9489.8-1988 刚玉粉中碳和硫的测定方法Methods for determination of carbon and sulphur in alundum powder168 GB/T 9489.9-1988 刚玉粉PH值的测定方法Methods for determination of pH in alundum powder169 GB/T 9489.10-1988 刚玉粉灼烧失重的测定方法Method for determination of ignition loss of alundum powder170 GB/T 9506.1-1988 吸气剂性能测试方法通则Generic rules for test method of getter properties171 GB/T 9506.2-1988 蒸散型钡吸气剂得钡量测试方法Test method for barium yield of barium flash getter172 GB/T 9506.3-1988 蒸散型钡吸气剂载料和模中钡量的测定Test method for barium content in getter fill and getter film of barium flash getter173 GB/T 9506.4-1988 吸气剂放气量测试方法Test method for amount of gas evolved from getter174 GB/T 9506.5-1988 掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法Test method for nitrogen-released and gas-absorbed dynamic curve of nitrogen-doped getter175 GB/T 9506.6-1988 掺氮吸气剂钡膜分布测试方法Test method for barium film distribution of nitrogen-doped getter176 GB/T 9506.7-1988 蒸散型钡吸气剂吸气性能测试方法Test method for gettering properties of barium flash getter177 GB/T 9506.8-1988 非蒸散型吸气剂吸气性能测试方法Test method for gettering properties of non-evaporable getter178 GB/T 9506.9-1988 吸气剂装载量测试方法Test method for amount of filling getter179 GB/T 9506.10-1988 吸气剂压制或烧结牢固度测试方法Test method for firmness of getter by pressure or sinter180 GB/T 9506.11-1988 吸气剂支架焊接强度测试方法Test method for weld strenght of getter support181 GB/T 9530-1988 电子陶瓷名词术语Terms for electronic ceramics182 GB/T 9531.1-1988 电子陶瓷零件技术条件General specification for electronic ceramic parts183 GB/T 9531.2-1988 A 类瓷件技术条件Specification for ceramic parts,type A184 GB/T 9531.3-1988 B 类瓷件技术条件Specification for ceramic parts,type B185 GB/T 9531.4-1988 C 类瓷件技术条件Specification for ceramic parts,type C186 GB/T 9531.5-1988 D 类瓷件技术条件Specification for ceramic parts,type D187 GB/T 9531.6-1988 E 类瓷件技术条件Specification for ceramic part,type E188 GB/T 9531.7-1988 F 类瓷件技术条件Specification for ceramic parts,type F189 GB/T 9532-1988 铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法Designations for LiNbO3, LiTaO3, Bi12, GeO20, Bi12 SiO20 piezoelectric crystals190 GB/T 9533-1988 微波固体电介质材料介电特性测试方法同轴终端短路法Test method for the determination of the dielectric properties of solid dielectricmaterials at microwave frequencies--The method of coaxial terminal short circuit191 GB/T 9534-1988 毫米波频段固体电介质材料介电特性测试方法准光腔法Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at millimeter wavefrequencies using "Quasi-Optic Cavity" technique192 GB/T 9536-1995 电子设备用机电开关第1部分: 总规范Electromechanical switches for use in electronic equipment--Part 1: Generic specification193 GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规范(可供认证用) Keyboard switches for use in electronic equipment--Part 1: Generic specification194 GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范General specification of flat cable connector195 GB/T 9546-1995 电子设备用固定电阻器第8部分:分规范:片式固定电阻器Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 8: Sectional specification: Fixedchip resistors196 GB/T 9547-1994 电子设备用固定电阻器第八部分: 空白详细规范片式固定电阻器评定水平E Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 8: Blank detailspecification--Fixed chip resistors--Assessment level E197 GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment--Sectional specification--Fixed high reactive power--Classl 1 ceramic dielectric capacitors198 GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用) Fixed capacitors for use in electronic equipment--Blankdetail specification--Fixed high reactive power--Classl 1 ceramic dielectric capacitors assessment level E199 GB/T 9623-1988 通信用电感器和变压器磁芯第一部分: 总规范(可供认证用) Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 1: Genericspecification200 GB/T 9624-1988 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用) Inductor and transformer cores for telecommunications--Part2: sectional specification: Magnetic oxide cores for inductor applications201 GB/T 9625-1988 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用) Inductor and transformer cores fortelecommunications--Part 2: Blank detail specification: Magnetic oxide cores for inductor applications--Assessment level A202 GB/T 9626-1988 通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用) Inductor and transformer cores for telecommunications--Part 3: Sectional specification:Magnetic oxide cores for broad-band transformers203 GB/T 9627-1988 通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A和B (可供认证用) Inductor and transformer cores fortelecommunications--Part 3: Blank detail specification: Magnetic oxide cores for broad-band transformers--Assessment levels A and B204 GB/T 9628-1988 通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 分规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用) Inductor and transformer cores fortelecommunications--Part 4: sectional specification: Magnetic oxide cores for transformers and chokes for power applications205 GB/T 9629-1988 通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 空白详细规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯评定水平A(可供认证用) Inductor and transformer coresfor telecommunications--Part 4: Blank detail specification: Magnetic oxide cores for transformers and chokes for power applications--Assessment level A206 GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸Dimensions of pot-cores made of magnetic oxides and associated parts207 GB/T 9632-1988 通信用电感器和变压器磁芯测量方法Measuring methods of cores for inductors and transformers for telecommunications208 GB/T 9633-1988 微波频率应用的旋磁材料性能测试方法Measuring methods for properties of gyromagnetic materials intended for application at microwavefrequencies209 GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规范的指南Guide to the specification of limits for physical imperfections of parts made from magnetic oxides210 GB/T 9635-1988 天线棒测量方法Measuring methods for aerial rods211 GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒和扁天线棒Aerial rods and slabs made of magnetic oxides212 GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器Fixed capacitors for use in electronic equipment--Part 7:Sectional specification: Fixed polystyrene film dielectric metal foil d.c. capacitors213 GB/T 10186-1988 电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) Fixed capacitors for use in。
印制电路板焊接质量控制及检测浅析
6 2
舰 船 电 子 工 程
20 0 2年 第 3期
印 制 电 路 板 焊 接 质 量 控 制 及 检 测 浅 析
安 鄂 湘
( 汉 数字 工程 研究 所 武
武昌
40 7 ) 3 0 4
Байду номын сангаас
摘 要
… ’… , … ,… ,… ,… ,… , … , … ,… ,… ,… ,… ,… , 一
特 别 注 意 溶 液 浓 度 不 要 太 高 , 度 及 P 值 温 H 不 能 太 大 , 应 速 度 不 要 太 快 , 样 才 能 使 沉 反 这
积层 结 晶 细 致 。
() 3 印制 板 元 器 件 安 装 孔 设 计 不 合 理 , 孔
型 蒸 发 得 快 , 求 每 4个 小 时 检 测 一 次 比重 , 要
总 第 1 9期 2 安鄂 湘 : 制 电路板 焊接 质量 控 制及 检测 浅析 印 6 3
( ) 送 速 度 : 送 速 度 的 大 小 直 接 影 响 3传 传 P CB焊 剂 涂 敷 质 量 、 热 效 果 及 波 峰 接 触 时 预
间 。速 度快 , 剂 涂 敷 不 均 匀 , 接 时 会 出现 焊 焊
量控制须从设计 、 础 工作做起 。 基
( ) 制 板 金 属 化 孔 毛 刺 。 内 有 残 留 玻 2印 孔
焊 后 清 洁度 变 差 。 实 验 检 测 。 送 速 度 应 控 经 传 制 在 1 1 4 mi 。焊 接 时 间 一 波 峰 压 锡 宽 — . m/ n 度( mm) 传 送 带 速 度 ( / mm/ ) 若 压 锡 宽 度 s, 为 10 5 mm , 送 速 度 为 1 0 传 0 mm/ , 每 个 焊 s则 点 的焊 接时 间 为 1 5秒 。 . () 4 比重 控 制 : 清 洗 剂 的 比 重 一般 控 制 免
IPC-6012C-2010年 中文版 刚性印制板鉴定与性能规范
刚性印制板的性能及鉴定规范1 范围1.1 范围本规范建立并规定了刚性印制板生产的性能及鉴定要求。
1.2 目的本规范的目的是为按以下结构和/或技术制成的刚性印制板提供鉴定和性能要求。
•带或不带镀覆孔(PTH)的单、双面印制板•带镀覆孔(PTH)且带或不带埋盲孔的多层印制板•含有符合IPC-6016的积层高密度互连(HDI)层的多层印制板•带有离散电容层和/或埋容或埋阻元器件的埋入式有源或无源电路印制板•带或不带外置金属散热框架(有源或无源)的金属芯印制板1.2.1 支持文件 IPC-A-600包括了图片、说明和照片,可帮助理解外部和内部观察特性的可接受/不符合条件。
该文件可以与本规范结合使用,以更全面地理解其建议和要求。
1.3 性能等级和类型1.3.1 等级本规范根据客户和/或最终用途的要求,建立了刚性印制板性能等级的验收准则。
根据IPC-6011中的定义,印制板可分为三个通用性能等级。
1.3.1.1 要求偏离偏离这些通用等级的要求应当由用户和供应商协商确定。
1.3.1.2 航空和军用航空产品要求偏离航空和军用航空产品性能等级的要求在本规范的附录A中定义并列出。
这一类产品通常参照3/A级。
1.3.2 印制板类型不带镀覆孔(PTH)的印制板(1型)和带镀覆孔(PTH)的印制板(2-6型)的分类如下:1型―单面印制板2型―双面印制板3型―不带盲孔或埋孔的多层印制板4型―带盲孔或埋孔的多层印制板5型―不带盲孔或埋孔的多层金属芯印制板6型―带盲孔或埋孔的多层金属芯印制板1.3.3 采购选择性能等级应当在采购文件中规定。
采购文件应当提供用于生产印制板的足够信息,供应商应当确保用户获得预期的产品。
采购文件中应该包含的信息要符合IPC-D-325的要求。
为了满足3.6.1章节要求,采购文件应当规定所需采用的热应力测试方法。
测试方法应当从3.6.1.1节、3.6.1.2节和3.6.1.3节中选取。
如未作规定(见5.1节),则应当符合表1-2的默认要求。
(毕业论文)半导体元器件的可焊性测试方法研究
摘要随着半导体技术的迅速发展,电子产品的已进入各行各业,涉及航空航天、机械制造、电子商务等,可以说,我们大家的生活已无法离开电子产品。
可焊性测试是电子产品生产制造过程中检验产品可焊接性能的一种必要手段。
产品引线的焊接性能将直接影响到产品的使用,严重的焊接不良甚至会影响到整机的可靠性。
而且此类不良很多是间歇性的,有时会影响维修人员对故障的判断,造成一些不必要的损失。
本文着重介绍了各类可焊性测试方法在元器件生产中的实际应用,以及使用方法中的一些关键点。
通过在工作中的实际应用,结合标准的要点和产品的特点,在不违背标准的情况下,针对各类不同的产品,使用不同的测试方法进行检测,这样能更有效的反应产品的可焊接性能。
特别是针对一些短引脚、无引脚产品,如何使用合适的方法,甚至说使用更有说服力的润湿法来进行检测。
这些方法的研究,将有利于封装厂在生产过程中改进产品电镀品质的检测方法,能更快、更有效的发现产品的电镀缺陷,及时调整生产工艺的,提高产品质量,满足客户的需求。
关键词:可焊性;方法;标准;半导体元器件AbstractWith the rapid development of semiconductor technology, electronic products has entered into all walks of life, involved in aerospace, mechanical manufacturing, electronic commerce and so on, in other words, our life cannot leave the electronic products.Solderability test is a necessary mean to inspect the product solderability during the electronic product manufacturing process. The solderability of the lead will directly affect the product using; serious bad soldering may even affect the reliability of the machine. And such bad soldering is intermittent; sometimes it will affect maintenance personnel’s judgment for fault, causing some unnecessary loss.This article emphatically introduces the practical application of all kinds of solderability test methods in the production of components, and some key points in using the methods. Through practical application, combining the main points of the standard and the characteristics of the products, under the case of without violating the standard, for all kinds of different products, using different testing methods can reflect the solderability more effective. Especially for some short pin and no pin products, how to testby the right method or more persuasive wetting method? The research of these methods will be of conducive forpackaging factory to improve the detection method of improving products electroplating quality in the process of production, and can find plating defects of product faster and more effective to adjust the production technology, improve product quality, and meet customer demand timely.Keywords: Solderability, Methods, Standard, Semiconductor components目录目录摘要 (Ⅰ)Abstract (Ⅱ)第1章绪论 (1)1.1课题研究的目的和意义 (1)1.1.1课题背景 (1)1.1.2目的和意义 (2)1.2 国内外研究现状 (2)1.2.1 课题来源 (2)1.3 课题的主要研究内容 (4)第2章半导体元器件的可焊性描述 (6)2.1 可焊性描述 (6)2.2 测试可焊性的几种主要方法 (6)2.2.1 可焊性测试前处理 (7)2.2.2 助焊剂的使用 (9)2.2.3 焊料的使用 (10)2.2.4 槽焊法 (11)2.2.5 电烙铁法 (12)2.2.6润湿称量法 (13)2.3本章小结 (17)第3章小型短管脚产品使用润湿称量法测试 (18)3.1小型短管脚产品的定义 (18)3.2 设备介绍 (18)3.3 SOT-23产品的测试 (19)3.3.1 SOT-23封装介绍 (19)3.3.2 润湿称量法对SOT-23产品进行测试 (20)3.4本章小结 (22)第4章无外引脚产品的测试 (23)4.1 无外引脚产品介绍 (23)4.2 槽焊法测试 (24)4.3 润湿称量法测试 (25)4.4 本章小结 (26)第5章基板封装产品的测试 (27)5.1基板封装介绍 (27)5.2 槽焊法对基板封装进行测试 (27)5.3 电烙铁法进行补充测试 (29)5.4 本章小结 (29)结论 (30)江苏科技大学硕士论文参考文献 (31)致谢 (33)第1章绪论第1章绪论1.1 课题研究的目的和意义1.1.1课题背景1947年晶体管发明的同时,也开创了半导体封装的历史。
PCB印制电路板可焊性试验方法
PCB印制电路板可焊性试验方法本节叙述可焊性试验的方法和要求。
印制板的可焊性显示在组装时预期的印制板状态,可焊性试验是在板面和镀覆孔内一起进行的。
ANS1/J-STD-003详细地叙述了各种不同的可焊性试验:试验方法A—边缘浸焊试验(仅测试表面导线和安装连接盘)。
试验方法B—旋转、浸焊试验(测试镀覆孔、表面导线和安装的连接盘,焊接面。
试验方法C—浮焊试验(测试镀覆孔)、表面导线和安装的连接盘,焊接面)。
试验方法D—波峰焊试验(测试镀覆孔、表面导线和安装连接盘、焊接面)。
除了可焊性试验方法以外,用户还应规定把对涂覆层耐久性的要求作为采购协议中的一个部分。
下面是有关需要确定的涂覆层耐加速老化和可焊性试验,应按ANSI/J—STD—003的规定执行。
涂覆层耐久性分类:类型1—最低水平涂覆层耐久性。
此类拟在加工后30天内焊接,它能承受较低程度的受热。
类型2—一般水平涂覆层耐久性。
此类板制成后可经受6个月的储存,它能经得起适度的受热或锡焊。
类型3—最高水平的涂覆耐久性。
此类板制成后可以经受较长时间(超过6个月)贮存,它能经得起苛刻的受热或焊接加工过程等。
但应注意到,与印制板的这种耐久性等级的定货相关的是其成本要增加,而交货期会推迟的问题。
试验的样品应是有代表性的附连板、被测试印制线路板的一部分,如果印制板的尺寸在限定范围内,则可用整板,这样能保证各种测试方法规定的浸锡深度。
试样的孔应随机抽取。
5.1可 焊 性 试 验5.1.1镀覆孔理想状况—1.2.3级·所有镀覆孔中的焊料已完全升上来。
·没有不润湿或露出基底金属。
接收状况—1.2.3级 ·所有镀覆孔中的焊料已完全升上来。
·孔径小于1.5mm[0.0591min]的孔可有一些堵孔。
拒收状况—1.2.3级 ·缺陷超出以上标准。
放大图 放大图放大图 放大图放大图放大图。
IPCC中文版刚性印制板的鉴定及性能规范
I P C C中文版刚性印制板的鉴定及性能规范The latest revision on November 22, 2020刚性印制板的性能及鉴定规范1 范围范围本规范建立并规定了刚性印制板生产的性能及鉴定要求。
目的本规范的目的是为按以下结构和/或技术制成的刚性印制板提供鉴定和性能要求。
带或不带镀覆孔(PTH)的单、双面印制板带镀覆孔(PTH)且带或不带埋盲孔的多层印制板含有符合IPC-6016的积层高密度互连(HDI)层的多层印制板带有离散电容层和/或埋容或埋阻元器件的埋入式有源或无源电路印制板带或不带外置金属散热框架(有源或无源)的金属芯印制板支持文件 IPC-A-600包括了图片、说明和照片,可帮助理解外部和内部观察特性的可接受/不符合条件。
该文件可以与本规范结合使用,以更全面地理解其建议和要求。
性能等级和类型等级本规范根据客户和/或最终用途的要求,建立了刚性印制板性能等级的验收准则。
根据IPC-6011中的定义,印制板可分为三个通用性能等级。
要求偏离偏离这些通用等级的要求应当由用户和供应商协商确定。
航空和军用航空产品要求偏离航空和军用航空产品性能等级的要求在本规范的附录A中定义并列出。
这一类产品通常参照3/A级。
印制板类型不带镀覆孔(PTH)的印制板(1型)和带镀覆孔(PTH)的印制板(2-6型)的分类如下:1型―单面印制板2型―双面印制板3型―不带盲孔或埋孔的多层印制板4型―带盲孔或埋孔的多层印制板5型―不带盲孔或埋孔的多层金属芯印制板6型―带盲孔或埋孔的多层金属芯印制板采购选择性能等级应当在采购文件中规定。
采购文件应当提供用于生产印制板的足够信息,供应商应当确保用户获得预期的产品。
采购文件中应该包含的信息要符合IPC-D-325的要求。
为了满足章节要求,采购文件应当规定所需采用的热应力测试方法。
测试方法应当从节、节和节中选取。
如未作规定(见节),则应当符合表1-2的默认要求。
在选取适当的热应力方法的过程中,用户应该考虑以下内容:波峰焊、选择性焊接、手工焊组装工艺(见节)。
可焊性、焊接能力和焊点可靠性之评估和测试
可焊性、焊接能力和焊点可靠性之评估和测试(汕头超声印制板公司广东汕头 515065)马学辉摘要:本文主要在于明确可焊性、焊接能力和焊点可靠性三者之间的联系和区别,指出对它们进行评估和测试时其各自关注的主要特性和常见的评估和测试方法,同时简单介绍影响它们的关键因素。
关键词:可焊性、焊接能力、焊点可靠性The Evaluation and Test of Solderability, Soldering abilityand Solder Joints ReliabilityMa XuehuiAbstract: The objective of the article is to clearly describe the relation and difference among solderability, soldering ability and solder joints reliability and point out the corresponding characteristics when evaluating and testing these items. Usual evaluating and testing methods are briefly introduced and the critical factors to the items are also briefly discussed.Key words: solderability, soldering ability, solder joints reliability1 前言可焊性和可靠性是电子组装行业经常提到的名词。
焊接能力则很少有人提起,有人往往会把它跟可焊性混淆起来,因此有必要把它跟可靠性一并提出来。
其实三者是既有联系,又有区别的。
它们分别关注不同的特性,对评估目标是各不相同的,但是却有内在联系。
在讨论可焊性、焊接能力和焊点可靠性之前,有必要首先简单了解一下锡钎焊接的过程。
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试操作方法解读
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
• 加速老化
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
• 烘干水分
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
• 锡槽温度控制
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
*锡槽杂质含量控制
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
试验步骤三
待完全冷却之后, 将PCB板全部浸入助焊剂 中,停留5-10秒,取出后应垂直滴流不超过 60秒,应当用干净的吸收材料去除PCB板表面 多余的阻焊剂,然后在1-5分钟以内进行可焊 性测试;
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
什么是IPC?
一点课堂
• IPC拥有两千六百多个协会成员,包括世界
著名的从事印制电路板设计、制造、组装、 OEM(Original equipment manufacturer 即原 始设备制造商)加工、EMS(electronics manufacture service 即电子制造服务)外包 的大公司,IPC与IEC、ISO、IEEE、JEDC一样,
试验步骤一
取样1SET PCB板使用非金属支架保持角度在 45~90°放置,并与箱体内壁保持40mm以上 距离放置在蒸汽老化试验箱温度100℃下进行 老化试验500分钟。(其中20分钟为水温加热 时间)
IPC J-STD-003B印制板可焊性测试 一点课堂
试验步骤二 待老化试验完成后立即将板子放置在烘箱内 105±5℃进行烘烤1-2小时,烘烤完成后在平 台上进行冷却0.5小时至室温;
试验步骤五 通过显微镜或者10倍带灯放大镜检查焊盘表 面,判断是否上锡良好!
可焊性测试
3)浮焊测试
该测试适用于镀覆孔、表面导体和焊盘的浮焊测试 应当彻底去除熔焊料表面的浮渣和助焊剂残留物。敷助焊剂和除去表面多余的助
焊剂后,将试轻轻的滑到熔融的焊料上,漂浮时间最长为5钟。使试样在熔融 焊料中的浸入深度不超过样厚度的50%(必须非常小心地处理厚度小 0.8mm[0.031in]的板)。达到停留时间后,将样从焊料中滑出。保持试样水平不 动,直到料凝固。在检查前,应当使用符合3.2.3节要的清洗剂去除所有试样 表面的助焊剂。 表面评定、镀覆孔评定
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6)润湿称量法
该测试适用于镀覆孔、表面导体和连接盘的润湿称量测试。
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评价标准
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A组润湿曲线
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B组润湿曲线
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3、元器件的可焊性试验
(IPC/EIA/JEDEC J-STD-002C, IEC60068-2-58/20,GB2423.28/GB2423.32,MIL-STD-202G) 样品预处理: 1类:无蒸汽老化要求; 2类:(非锡或锡铅镀层):1h±5min蒸汽老化; 3类:(默认的锡或锡铅镀层):8h±15min蒸汽老化 可焊性试验: 1.锡浴(焊料槽)试验:TestA/A1(有铅/无铅)(有引脚元器件),TestB/B1(有铅/无铅)(无引脚元器件
• 界面化学的基本方程之一。
• 它是描述固气、固液、液气界面自由能γsv,γSL,γLv与接触角θ之 间的关系式,亦称润湿方程,
• 表达式为:γsv-γSL=γLvCOSθ。
• 该方程适用于均匀表面和固液间无特殊作用的平衡状态。 公式中:
在这个
• γsf表示基底金属和助焊剂流体之间的界面张力
• γls表示熔融的焊料和基底金属之间的界面张力
IPC-6012C-2010中文版刚性印制板地鉴定及性能要求规范
刚性印制板的性能及鉴定规范1 范围1.1 范围本规范建立并规定了刚性印制板生产的性能及鉴定要求。
1.2 目的本规范的目的是为按以下结构和/或技术制成的刚性印制板提供鉴定和性能要求。
•带或不带镀覆孔(PTH)的单、双面印制板•带镀覆孔(PTH)且带或不带埋盲孔的多层印制板•含有符合IPC-6016的积层高密度互连(HDI)层的多层印制板•带有离散电容层和/或埋容或埋阻元器件的埋入式有源或无源电路印制板•带或不带外置金属散热框架(有源或无源)的金属芯印制板1.2.1 支持文件 IPC-A-600包括了图片、说明和照片,可帮助理解外部和内部观察特性的可接受/不符合条件。
该文件可以与本规范结合使用,以更全面地理解其建议和要求。
1.3 性能等级和类型1.3.1 等级本规范根据客户和/或最终用途的要求,建立了刚性印制板性能等级的验收准则。
根据IPC-6011中的定义,印制板可分为三个通用性能等级。
1.3.1.1 要求偏离偏离这些通用等级的要求应当由用户和供应商协商确定。
1.3.1.2 航空和军用航空产品要求偏离航空和军用航空产品性能等级的要求在本规范的附录A中定义并列出。
这一类产品通常参照3/A级。
1.3.2 印制板类型不带镀覆孔(PTH)的印制板(1型)和带镀覆孔(PTH)的印制板(2-6型)的分类如下:1型―单面印制板2型―双面印制板3型―不带盲孔或埋孔的多层印制板4型―带盲孔或埋孔的多层印制板5型―不带盲孔或埋孔的多层金属芯印制板6型―带盲孔或埋孔的多层金属芯印制板1.3.3 采购选择性能等级应当在采购文件中规定。
采购文件应当提供用于生产印制板的足够信息,供应商应当确保用户获得预期的产品。
采购文件中应该包含的信息要符合IPC-D-325的要求。
为了满足3.6.1章节要求,采购文件应当规定所需采用的热应力测试方法。
测试方法应当从3.6.1.1节、3.6.1.2节和3.6.1.3节中选取。
如未作规定(见5.1节),则应当符合表1-2的默认要求。
IPC标准
预计 2010 年8 月 出版
即将出版
即将出版
即将出版
62
本标准规定了用于评定印制板表面导体、连接盘和镀覆孔可焊
3
J-STD-003B
印制板可焊 性测试
性的测试方法和缺陷定义,并附有相关的图表。本标准适用于 供应商和用户。本标准所述可焊性测试方法的目标是测定印制 板表面导体、连接盘及镀覆孔被焊料润湿的难易程度和经受苛
36
刻的印制板组装工艺的能力。
J-STD-004B 对助焊剂测试项目进行了调整,并新增了有关的
本标准向SMD 制造商和用户提供了标准的表面贴装器件操作、 包装、运输和使用方法。所提供的这些方法可避免由于吸收湿 气和暴露在再流焊温度下造成的封装损伤,这些损伤会导致合 格率和可靠性的降低。通过使用这些程序、以及采用能达到从 密封之日算起在密封干燥袋内12 个月最短保存期限的干燥包 装工艺,即能实现安全无损的再流焊接。由IPC 和JEDEC 联合 开发。
27
的要求
非气密封装 固态表面贴 本标准用于确定最初的可靠性鉴定应该采用的分类级别。这些 7 J-STD-020D.1 装器件湿度/ 元器件必须得到正确的包装、储存及运输以避免接下来在回流 13 回流焊敏感 焊时受到热损伤及机械损伤。 度分类
8
J-STD-033B.1
对湿度、回 流焊敏感的 表面贴装器 件的处置、 包装、发运 及使用方法
17
9 J-STD-075
J-STD-075弥补了J-STD-020的不足,它提供的测试方法可用于
对电子元器件的最差热工艺条件进行分类。分类参考了行业通
用的波峰焊和再流焊曲线。它代表了最大工艺敏感水平,但并
组装工艺中 非IC 电子元 器件的分级
PCB可焊性检验方法介绍
PCB可焊性测试方法介绍PCB可焊性试验方法介绍目录一、PCB可焊性测试方法简介二、PCB可焊性无铅焊接工艺测试C1方法介绍三、崇达和中京对PCB可焊性的测试方法四、小结焊接是利用熔融的填充金属(焊锡焊料)使结合处表面润湿并分别在两种金属之间形成冶金的键合,使元器件与PCB板连接起来的工艺。
可焊性是指焊料对基体金属的可钎焊性,即焊料对基体金属的润湿性能的好坏。
PCB板的可焊性有两种衡量方式,一是指PCB在组装中焊接的难易程度,它可以用设备在组装中出现虚焊、假焊的概率来衡量其优劣,二是作为PCB生产商为了判断和保证产品焊接性能,根据IPC 印制板可焊性测试标准《J-STD-003B》要求,采用模拟焊接的方式。
《J-STD-003B》描述了评定表面导体(及连接盘)、和镀覆孔可焊性所采用的测试方法。
具有外观验收标准的测试方法。
下面将重点介绍模拟焊接的测试方法。
《J-STD-003B》规定:适用锡铅焊接工艺的测试方法有:测试A、测试B、测试C、测试D和测试E;适用无铅焊接工艺的测试方法有:测试A1、测试B1、测试C1、测试D1和测试E1。
测试方法A和A1 、B和B1 、C和C1 、D和D1 、E和E1除了含铅和无铅的不同,其它的测试条件及方法是一样的。
测试A1 –边缘浸焊测试(仅用于表面导体和焊盘)测试B1 –摆动浸焊测试(适用于镀覆孔、表面导体、连接盘、焊接起始面)测试C1 –浮焊测试(适用于镀覆孔、表面导体、连接盘、焊接起始面)测试D1 –波峰焊测试(适用于镀覆孔、表面导体、连接盘、焊接起始面)测试E1 –表面贴装模拟测试(适用于表面导体和连接盘)因我司采用无铅工艺、测试A1和测试C1被作为无铅焊接工艺评定可焊性的默认测试方法,且测试C1是目前PCB供应商常用的,下面将具体介绍测试方法C1。
图1 边缘浸焊可焊性测试图示图2 摆动浸焊测试图示2.1 可焊性测试的条件要求2.1.1焊料无铅测试焊料成分应当为符合J -STD -006要求的Sn96.5Ag3.0Cu0.5 (SAC305),用户和供应商可协商使用其它无铅焊料合金。
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印制板可焊性测试方法的变化文章来源:PCB制造添加人:PCB采购网添加时间:2007-3-24 22:06:08 摘要:现行IPC印制板可焊性测试方法标准是2003年2月版IPC/EIA JSTD003A,它代替了1992年4月的JSTD003。
最近,为了适应电子组装的无铅化,JSTD003B版正在修订中。
本文主要介绍IPC 印制板可焊性测试方法的变化,同时与IEC、JIS和我国国家标准印制板可焊性测试方法标准作比较。
印制板可焊性是印制板的一项重要性能,测试方法对结果有明显影响,值得注意。
IPC 印制板可焊性测试方法标准最早是1970年的IPCS801《印制线路板可焊性边缘浸焊测试方法》,至1975年,又发布了IPCS803《印制线路板可焊性波峰焊测试方法》。
后来这两个标准于19 82年合并成为IPCS804《印制线路板可焊性测试方法》,1987年修订为IPCS804A。
美国EIA(电子工业协会)当时也制定电子焊接方面的标准。
IPC与EIA联合共同制定联合标准(Joint Standard),其中印制板可焊性测试方法标准为IPC/EIA JSTD003,于1992 年4月发布。
2003年2月修订为IPC/EIA JSTD003A。
以上可焊性试验方法全部是有铅的方法。
为适应无铅化组装的的要求,进行了IPC JSTD0 03B版的修订,增加无铅的可焊性试验方法。
目前为2006年5月的Proposed Standard for B allot(相当于送审稿),本文用JSTD003B(P)来表示。
我国印制板可焊性测试方法的国家标准是GB/T 4677—2002《印制板测试方法》。
对应的IEC标准是IEC 603262:1990《印制板第2 部分试验方法》和IEC 60068220:1979《环境试验第220部分:试验试验T:锡焊》,后来又有IEC 611893《互连结构和组装件用电工材料试验方法第3 部分:互连结构(印制板)的试验方法》。
日本JIS标准的印制板可焊性测试方法是JIS C 50121993《印制线路板试验方法》。
下面重点介绍IPC JSTD003印制板可焊性测试方法的变化,同时也提及我国国家标准、I EC标准和JIS标准的相关内容。
1 测试方法IPC/EIA JSTD003包括五种试验方法:试验A边缘浸焊试验、试验B旋转浸焊试验、试验C浮焊试验法、试验D波峰焊试验和试验E润湿称量试验法,后者称为“未建立接收/拒收准则的试验方法”。
JSTD003A增加了表面安装模拟试验法,但称为试验E,而润湿称量试验法改为试验F,试验方法的总数为六个。
试验A和试验E仅适用于表面可焊性,其它方法既可用于表面、又可用于镀通孔的可焊性。
JSTD003B(P)增加了无铅的可焊性试验方法,分别称为试验A1、试验B1、试验C1、试验D1、试验E1和试验F1,共计有12个方法。
虽然SERA(Sequential Electrochemical Red uction Analysis 循序电化学还原分析法)已于1993年列入MILP55110E的附录内,但JSTD0 03B(P)才提到SERA试验法,且内容待订。
JSTD003没有规定默认的试验方法,JSTD003A规定试验A和试验C为默认的试验方法, J STD003B(P)则默认采用试验A、试验C、试验A1 和试验C1。
本文主要是介绍这些默认的试验方法。
GB/T 4677—2002《印制板测试方法》中的8.2试验14a:可焊性,代替GB/T 4677.10—1 984《印制板可焊性测试方法》,采用了IEC 603262:1990《印制板测试方法》的相应方法,即IEC 60068220《环境试验第220部分:试验试验T:锡焊》第6章试验Tc的旋转浸焊法。
IEC 611893:1997《互连结构和组装件用电工材料试验方法第3部分:互连结构(印制板)的试验方法》中试验3X08为可焊性旋转浸焊试验法,试验3X10为可焊性旋转浸焊试验法,但1999年IEC 611893第1号修改单将这两个试验法撤消了。
JIS C 50121993《印制线路板试验方法》的10.3“可焊性”中规定“装置是浸焊槽、波峰焊槽或者摆动式槽”,其中摆动式就是旋转式。
有关各种方法的细节,本文从略。
2 试样JSTD003和JSTD003A规定试样应为附连试验板或成品板的一部分,尺寸合适时,甚至可以是整板。
JSTD003B(P)除镀通孔试验板外,设计了新的表面可焊性试验板。
3 试样加速老化J-STD-003 规定涂覆层的耐久性分为三个等级:1 级———最低涂覆层耐久性。
此级别板在制造后的30 天内可以焊接,能承受较低程度的受热。
2 级———中等涂覆层耐久性。
此级别板在制造后约可贮存达6 个月之久,能承受中等程度的受热或焊接。
IPC-6012B 默认耐久性为2 级。
3 级———最高涂覆层耐久性。
此级别板在制造后可贮存较长时间(超过6 个月),能承受严酷的受热或焊接加工步骤等。
3 级耐久性的表面可焊性要求试验前作加速老化。
蒸汽老化仅适用于锡和锡铅涂层。
蒸汽的温度比当地水的沸点(与海拔高度有关)低7℃±3℃,时间为8 h±15 min。
JSTD003A的规定基本相同,但将“蒸汽老化(steam aging)”改称为“蒸汽处理(stea m conditioning)”,并增加有机保焊剂(OSP)的涂层老化条件为温度(35±3)℃、相对湿度(85±5)%的试验箱内24 h±15 min。
JSTD003B(P)将蒸汽处理改称“耐久性处理(durability conditioning)”,方法为放置在温度(72±5)℃、相对湿度(85±3)%的试验箱内8 h±15 min。
有机保焊剂(OSP)涂层的老化未再提及。
老化处理后,在可焊性试验前试样都应在温度(105±5)℃下烘1~2 h。
IPC4552(2002)《印制电路板用化学镀镍浸金镀层规范》建议化学镀镍浸金层在温度85℃/85%相对湿度下老化处理18 h;IPC4554《印制电路板用浸锡镀层规范》(final draft,20 0511)建议浸锡层在温度72℃/85%相对湿度下老化处理8 h。
GB/T 4677—2002《印制板测试方法》和IEC 603262《印制板测试方法》可焊性加速老化优选采用:IEC 6006823试验Ca 恒定湿热处理10 d;选择1:IEC 60068230试验Db 交变湿热处理10 个周期(55℃,24 h/周期);选择2:9.4 试验20a:加速老化蒸汽/氧气。
加速老化后的干燥供需双方商定,然后清洗、干燥、涂焊剂。
4 焊料JSTD003规定采用美国联邦标准QQS571的Sn60 和Sn63。
1996 年JSTD006发布,代替Q QS571,新的牌号为Sn60Pb40 A 和Sn63Pb37A。
后缀A 表示锑的含量为不大于0.5%。
2001 年修订为JSTD006A,牌号不变。
2006 年1 月,JSTD006B版出版,认为铅锡焊料中没有必要加锑,含量限制为不大于0.0 5%,并取消了后缀,牌号为Sn60Pb40 和Sn63Pb37。
JSTD003B(P)除了Sn60Pb40 和Sn63Pb37 外,增加了Sn62Pb36Ag2 和无铅焊料SnAg3.0 Cu0.5。
焊料在使用中,会溶入铜、金或银(如试样表面含有)及其它杂质。
JSTD003规定应定期分析并制订杂质含量极限。
GB/T 4677—2002《印制板测试方法》规定采用GB/T 3131—2001 的HLSnPb39。
这是YB568—65的老牌号,早就被GB/T 3131—1982(后来是GB/T 3131—1988)的HLSn60PbA(或B)所代替,现在是GB/T 3131—2001 牌号SSn60PbA(或B)。
IEC 603262:1990《印制板测试方法》的8.2 规定用IEC 60068220附录B 的焊料。
JIS C 5012 规定焊料用JIS Z 3282 的H60A 或H63A5 焊剂JSTD003和IPCS804一样,规定采用25%松香的异丙醇溶液为焊剂,25℃时的比重为0.84 3±0.005。
JSTD003A对焊剂作了修改,在25%松香的异丙醇溶液中加入0.15%的二乙胺盐酸盐,比重仍为0.843±0.005,但规定温度为25℃±2℃。
JSTD003和JSTD003A只规定应注意贮存,保持固体含量。
JSTD003B有铅试验的焊剂25%松香的异丙醇溶液中加入0.15%±0.01%的二乙胺盐酸盐(以松香计的含氯量约为0.19%),无铅试验的焊剂为25%松香的异丙醇溶液中加入0.39%±0.01%的二乙胺盐酸盐(以松香计的含氯量为0.50%)。
25℃±2℃下的比重仍为0.843±0.005。
JS TD003B(P)规定使用8 小时后废弃,或保持规定比重,使用一周后废弃。
GB/T 4677—2002《印制板测试方法》的8.2:a)GB/T 3131(应为SJ/Z 9001.31/ IEC 6 0068220)规定的非活性焊剂;b)GB/T 3131(应为SJ/Z 9001.31/ IEC 60068220)规定的活性焊剂(含氯量0.2%)。
IEC 603262:1990 印制板测试方法8.2 的附录C 及JIS C 5012:1993 规定焊剂为:a)25%松香与75%异丙醇或乙醇的溶液;b)加二乙胺盐酸盐,以松香计的含氯量为0.2%;c)加二乙胺盐酸盐,以松香计的含氯量为0.5%。
6 试验温度JSTD003和IPCS804一样,试验温度为245℃±5℃。
JSTD003A在改变焊剂的同时,将试验温度由245℃±5℃降低为235℃±5℃。
JSTD003B(P)的有铅试验温度仍为235℃±5℃,规定无铅试验温度为255℃±5℃。
IEC IEC 603262和GB/T 4677—2002 的试验温度均为235+5℃。
JIS C 5012 的试验温度也是235+5℃,但是JIS C 5014:1994 规定为245℃±5℃,JPCA HD012003、JPCAPB012004附加规定流动焊最高温度为260℃。
7 最后检验JSTD003目测时一般用裸眼(允许戴矫正视力的眼镜),有时可用10 倍放大。
JSTD003A 及JSTD003B(P)只规定10 倍放大。
对于3 级镀覆孔焊料润湿的接收准则,JSTD003用图4(a)作接收条件,图4(d)作拒收条件;JSTD003A以图4(a)作目标接收条件,图4(b)作最低接收条件,图4(d)作拒收条件; JSTD003B(P)在上述三个图以外,增加图4(c)作最低接收条件,更便于判别。