XRF测试样品拆分知识培训
XRF仪器分析培训课件
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对标样的依赖性
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工作曲线法
• 标样绘制曲线 • 标样的要求 • 标样与试样的关系 • 使用中的一致性
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强 度 R1
工作曲线 R2
R3
C3
C2
C1
含量
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什么是FP法
• FP法也叫基本参数法
纯理论状态下，物质的量与X射线的强度之间具有 一定的函数关系。现实中由于散射、吸收－增强等 因素以及晶体衍射效率的变化等等因素造成实测强 度与理论强度的不一致，通过校准实测强度与理论 强度之间的差异而建立起来的一种以理论参数为主 的分析方法。其需要较少的标准样品或仅需要一些 纯物质即可以进行半定量－定量分析的计算。
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2
• 主要用途： • 1、测量块状、粉末、薄膜和液态材料的元素种类
及含量，并建立工作曲线。 • 2、对矿石样品进行局部分析。 • 3、通过元素含量分析涂层、薄膜厚度。
• 主要优点：
• 分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、 谱线简单，光谱干扰少
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3
基础知识简介
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• 对应其他的跃迁则产生Kb、La、Lb等等
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入射 X射线激发 原子的内层电子， 使电子层出现空洞， 原子成为不稳定状 态（激发状态）， 外层电子进入空洞 而使原子成为稳定 状态，多余的能量 释放出来这个能量 就是荧光X射线
荧光X射线
Kγ
L
K
L
•由于电子轨道 分为K，L，M 以 及 ，，， 因此也分别称为 K 线、L 线
2.纯多道同时型:
《XRF仪器分析培训》课件
XRF仪器总结与展望
1 XRF仪器的优缺点总
结
2 XRF仪器的应用场景
分析
3 XRF仪器的未来展望
与重要性分析
XRF仪器具有快速、便捷、 非破坏性等特点，但需要 注意使用和校准方法，定 期维护。
XRF仪器应用广泛，包括 但不限于钢铁、矿产、电 子等行业，也可用于食品、 环保等领域。
XRF仪器作为一种分析仪 器，将在金属、非金属等 方面发挥重要作用，不断 提升产品使用价值和市场 影响力。
XRF仪器的操作流程介绍
操作XRF仪器需要进行样品制备、 校准、检测等步骤，需要熟悉仪 器的操作流程。
XRF仪器的校准和检修方法
XRF仪器的准确性需要进行校准 和检修，根据仪器类型和使用频 率选择不同的方法。
XRF仪器数据分析与应用
1
XRF仪器数据的解读和分析
2
元素分析数据可以用于样品的质量控制、
《XRF仪器分析培训》PPT课件
本课程将介绍XRF仪器的基本原理、分类、结构和操作流程，以及数据分析和 应用。同时将探讨XRF仪器的发展历程和未来展望。
XRF仪器介绍
XRF仪器是什么？
XRF仪器是一种基于X射线荧光原理的分析仪器，可用于金属、非金属、矿物、环境等领域 的元素分析。
XRF仪器的分类和结构
XRF仪器可分为手持式、台式、在线式等类型，不同类型仪器的结构和组成部分有所不同。
XRF仪器的用途和适用范围
XRF仪器广泛应用于质量控制、环境监测、材料分析、地质矿产勘探等领域，可分析的元素 种类丰富。
XRF仪器操作流程
X 使用规范，例如不要直接暴露在 X射线下，注意仪器电源等。
XRF仪器的发展和展望
XRF仪器的发展历史和现状
《XRF技术规范培训》课件
结束语
通过学习此课件，您现在已经了解了XRF技术 的基本原理和应用，希望能将所学知识应用到 实际工作中，取得更好的分析结果。
土壤污染检测
检测土壤中重金属等有害物质 的含量，帮助环保部门进行环 境监测和治理。
矿石分析
快速准确地分析矿石中各种元 素的含量，指导矿业公司的开 采和选矿过程。
XRF技术常见问题及解决方法
XRF检测结果不准确的原因及 解决方法
如样品制备不当、仪器校准不准确等问题， 需重新制备样品、校准仪器等。
XRF仪器出现故障的解决方法
《XRF技术规范培训》PPT 课件
XRF技术规范培训课件将帮助您全面了解XRF技术，并学会如何应用此先进 技术进行准确的检测和分析。
课件介绍
课程目的
了解XRF技术的基本概念 和原理，掌握XRF技术在 不同行业的应用。
适用对象
技术人员、研究人员、质 检员以及对XRF技术感兴 趣的人员。
学习建议
积极参与课堂讨论，实践 操作XRF仪器，深入了解 XRF技术的应用方法和技 巧。
XRF技术概述
1 XRF的定义
X射线荧光光谱技术（XRF）是一种非破坏性的元素分析技术。
2 XRF的原理
通过激发样品中的原子产生特定能量的X射线，并测量样品荧光发射的强度和能量。
3 XRF的应用
广泛应用于金属加工、土壤污染检测、矿石分析等领域。
XRF仪器的结构及工作原理
1
XRF仪器的组成
包括X射线源、样品支架、荧光探测装置和信号处理系统。
XRF技术操作流程
1
XRF仪器的准备
校准仪器、检查样品支架和荧光探测装置的正常工作。
X荧光光谱法(XRF)解析(课堂PPT)
检出限
对于固体和粉末样品,轻元素的检出 限为50µg/g,重元素为5µg/g.轻元素的灵 敏度低是因为它们的荧光产生率(变成X射 线的比率)小.
16
17
射
荧反
全
析
光 分
射 线
X
Total—Reflection X—Ray Fluorescence Analysis
X射线 荧光基础
光谱机理
用化学联(IUPAC)的
定义，TXRF是一种
微量分析
（Microanalysis）
方法，而且总是需要
将样品进行一定的预
处理制备成溶液、悬
浊液、细粉或 薄片，
而一般原样很少能直
接分析。
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参考文献: «X射线荧光光谱分析 作者:吉昂 陶光仪 卓尚军 罗立 强 科学出版社
全反射X射线荧光分析 作者:(德)赖因霍尔德·克洛肯凯 帕 原子能出版社
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但应该指出，与现代的其他多元素分析技术，如电 感耦合等离子体光谱(ICP-AEC)、电感耦合等离子 体质谱(ICP-MS)和仪器中子活化分析(INAA)相比，
XRF最明显的缺点就是灵敏度低、取样量大。
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由于常规XRF的入
射束一般采用大于 40度的入射角，不
仅样品会产生二次 X射线，载体材料 也会受到激发从而 在记录谱上产生峰， 对测量形成干扰。
3)若存在 K或L谱线，则需进行强度比的计算以 确定该元素的存在．
4)微量元素，有时只存在 K 线.
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定量分析
因为Ｘ射线荧光分析得到的是相对分 析值，所以进行定量分析时需要标样．选 定分光晶体和检测器，统计测量样品发出 的Ｘ射线荧光的强度，将已知含量的标准 样品和未知样品在同一条件下测定，确定 未知样品的含量．
XRF重要基础知识点
XRF重要基础知识点X射线荧光光谱分析（XRF）是一种常用的非破坏性分析技术，可用于确定样品中元素的种类和含量。
以下是XRF分析中的一些重要基础知识点：1. XRF原理：XRF基于样品受到高能X射线辐射后产生的特征X射线谱的原理。
当样品被激发后，内层电子被击出，形成空位，而这些空位会被外层电子填补，释放出特定波长的X射线能谱。
2. X射线能谱：X射线能谱是由样品中元素特定的电子能级跃迁所产生的一系列特征峰组成。
通过分析这些特征峰的能量和强度，可以确定样品中存在的元素及其相对含量。
3. 样品制备：在进行XRF分析之前，样品的制备非常重要。
通常需要将样品研磨成粉末，并注意避免样品受到空气中的污染。
对于不易粉化的样品，可以考虑进行溶解或压片等制备方法。
4. 标样与校准：为了准确测定样品中元素的含量，常常需要使用标准样品进行校准。
标准样品应具有已知元素含量，并与待测样品具有相似的基体特性。
通过进行一系列的校准曲线建立，可以实现对待测样品进行准确的定量分析。
5. 光谱仪器：XRF分析需要使用X射线光谱仪，常见的有能量色散型（EDXRF）和波长色散型（WDXRF）两种。
EDXRF便于操作且适用于快速分析，而WDXRF具有更高的分辨率和更广的元素分析范围。
6. 数据解析与结果处理：XRF分析的结果包括元素的定性与定量信息。
对于定性分析，可通过比对特征峰的能量与标准参考值来确定样品中存在的元素。
对于定量分析，采用校准曲线或基于理论原理的各类定量算法来获得元素的含量。
XRF作为一种灵敏、快速、准确的分析方法，广泛应用于材料科学、环境监测、地质学、考古学等领域。
掌握这些基础知识点能够帮助研究人员在XRF分析中获得准确可靠的结果。
XRF培训第二期(物理基础2004.6.12)
四. X射线的基本性质
1. X射线的吸收： 2. X射线的散射： 3. X射线的衍射：
光电吸收
[ 吸收定律 吸收系数 临界厚度
[ 相干散射 非相干散射
[ 衍射现象 布拉格定律
1. X射线的吸收
光电效应
相干散射 非相干散射 衍射
所有效应同时发生
常规吸收的吸收公式
I = I0 e -x (Beer - Lambert)
特征X射线光谱的产生
原子内层轨道结构
特征X射线光谱的产生
原子内层轨道结构
原子内层轨道的电子组态
量子数 n
l m s 组态符
量子数
n
2
l
0
m
0
s
＋
符号
2s
1
0 0 ＋ 1s
2
2
0
1
0
－1
－
＋
2s
2p
K 壳层电子组态 1
0 0 － 1s
L 壳层电子组态
2
2
2
1
1
1
－1
0
0
－
＋
－
2p
2p
2p
最大电子数
物理基础 第二期XRF培训讲义
高新华 教授
(2004.6.12)
一. X-射线的定义
1. 电磁辐射(波长) 波长为：0.01 nm - 10.0 nm
2. 微观粒子(能量) 能量为：124 keV - 0.124 keV
3. 波粒双重性 ：
g-rays
X-rays
UV Visual
0.001 0.01 0.1 1.0 10.0 100 200 nm
X射线管由阳极(靶)、阴极(灯丝)、真空管壳、铍窗口 及高压插座组成
Thermo NITON XRF 使用培训.pdfx
How to use it? 如何使用？
(Please pay attention to the demonstration) 请观看现场演示
开箱-仪器外观检查
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仪器外观介绍
a bcd
a. Mirco USB接口— 与电脑连接，用于远程操控仪器、下载数据等 b. 信号线接口— 仪器与测试架（PTS）连接，起到安全保障作用 c. RS232数据接口— 与电脑连接的旧方式，由于传输速率慢，已被USB替代 d. 电源接口— 外部电源接口，可直接使用交流电源，不受续航时间影响
Elements SiO2
SRM Elements SiO2
SRM Elements SiO2
SRM Elements SiO2
SRM
Mo 3
3
Hg
6
9 Mn 35 65 Ba 35 45
Zr
3
7
Au
7
9
Cr 10 30 Cs 30 35
Sr
3
7
Zn
7
12
V
10 60 Te 30 35
U
5
7
W 20 30 Ti 20 150 Sb 15 20
查看数据及生成报告格式
报告格式预览
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报告样本及信息修改
●配备了摄像头的仪器，可以在报告上附带 图片
●报告的logo，公司名称，地址等均可以按 照需求修改。 修改路径：Tools ------ Customize…
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应用举例—北京市怀柔区怀北镇农田土壤对比测试
• 传统采样方法在土壤监测中存在对污染土壤漏查的可能性，利用便 携式XRF进行大规模初筛可提高土壤环境监测水平。
• 原位检测无需土壤前处理，可进行实时快速检测，在土壤污染源查 找、土壤环境监测方面表现出很好的应用价值。
xrf检验样品拆分原则及测试规范
文件名稱 XRF 檢驗樣品拆分原則及測試作業規範 版 本 A0
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1.目的 1.1為檢測電子電氣產品中有害物質，而製定樣品拆分的標準. 1.2於進料時，對供應商的進料批進行有害物質含量抽測，以達成HSF的目標. 2. 範 2.1拆 2.2有 3.定義 3.1有 鉻、 3.2機械拆分:運用機械手段進行有效的劃分和獲取檢測單元的過程,包括旋開、切割、刮削、 擠壓和研磨 等. 在 3.3均質材料:按原文指不能透過機械手段進一步拆分為不同材料,均質材料各部分的組成均相同,例如各種 陶瓷 3.4檢 3.4.1經過拆分和取樣,可直接提交檢測的材料.根據材質的均勻性,檢測單元可分為均質檢測單元和非 均質 3.4.2均質檢測單元由一種或一種以上物質均勻組成的檢測單元,且不能透過機械手段進一步拆分的材料. 3.4.3 非4. 均作 4.1拆 4.1.1拆分步驟應由外及內、由大至小、先易後難、分類整理,拆分到均質檢測單元或非均質檢測單元. 4.1.2同一生產廠生產的相同功能、同規格參數的多個模塊、部件或元器件可以歸為一類,從中選取代 表性 4.1.3 顏4色.1.4 對4於.1.5當拆分對象難以進一步拆分且重量≦10mg 時,不必拆分,作為非均質檢測單元,直接送交檢測. 4.1.6當拆分對象難以進一步拆分且體積≦4mm3 時,不必拆分,可以整體制樣（如︰0805 類貼片類元件 2.0× 1.42.×1.7表面處理層應盡量與本體分離(如塗層);對於確實無法分離的(如鍍層),可對表面處理層進行初 篩(如 4.2取 4.2.1獲得均質檢測單元送檢測時,應選擇遠離連接部位取樣,並儘可能選取本體較大的檢測單元樣品取樣. 4.2.2對於質量大於100 g 或面積大於100 mm×100 mm 的檢測單元須在多個不同位置進行取樣,至少應包括 一個 4.2.3 獲44.得3.3抽.1 高風 4.3.a1..1 愈外b. 塑膠c. 機4構.3.2 抽追樣溯
手持式XRF测试仪培训
检测结果不准确： 校准设备，检查 探测器是否清洁
设备死机：重启设 备，若问题仍存在， 联系售后服务
设备漏电：检查电 源线是否破损，确 保设备接地良好
定期清洁仪器表面，保持仪器干燥 定期检查仪器电缆和接口是否松动 定期进行仪器校准，确保测量准确性 按照厂家建议进行保养和维修
手持式XRF测试仪 安全注意事项
添加 标题
金属材料检测：手持式XRF测试仪用于检测金 属材料中的元素成分，确保材料的质量和可靠 性。
添加 标题
金属加工过程控制：通过手持式XRF测试仪实 时监测加工过程中的元素含量，实现对加工过 程的精准控制。
添加 标题
金属产品质量控制：在成品检验环节使用手持 式XRF测试仪，快速检测金属产品的元素含量， 确保产品质量符合标准。
确保样品均匀且无干扰物 质
开机并启动软件
连接设备，确保 仪器与电脑正常 通讯
选择合适的测试模 式，根据样品类型 和测试需求选择合 适的测试模式
开始测试，按照软 件提示进行操作， 确保样品位置准确， 避免干扰
结束测试，导出 数据并保存报告
数据采集：采 集手持式XRF 测试仪的测量
数据
数据处理：对 采集的数据进 行预处理，如 滤波、平滑等
手持式XRF测试仪培 训
汇报人：XX
目录
添加目录标题
手持式XRF测试仪概述
手持式XRF测试仪操作 流程
手持式XRF测试仪维护 与保养
手持式XRF测试仪安全 注意事项
手持式XRF测试仪在 各行业的应用案例
添加章节标题
手持式XRF测试仪 概述
定义：手持式XRF测试仪是一种利用X射线荧光原理，对材料进行快速无损检测的仪器。 用途：主要用于检测材料中的元素成分，广泛应用于地质、环保、冶金、石油、化工、电子、医药等各个领域。
X荧光(XRF)知识必备
X荧光（XRF)知识必备1、EDX设备工作原理是什么？答：原理：通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。
计算机计算出我们需要的结果。
2、什么是我们作为元素分析的基础？答：特征X射线，其由被测量物质的基本组成元素决定，元素不同，其特征X射线能量不同3．为什么XRF RoHS测金属的结果与有些权威机构有差异？答：（1）光谱分析为表面物理分析，比如化学溶样分析方法，两种测量方法之间的差别。
（2）金属标样自身的误差。
（3）金属样品表面有镀层4、为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量？答：因为X荧光原理决定的，X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对其的化合状态无法判别，所以，六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。
skyray998 (2009-6-02 08:07:32)XRF优点：快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟无损：物理测量，不改变样品性质准确：对样品可以精确分析直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然XRF测ROHS上的缺点：1、X荧光分析属于对比分析仪器，需要标样做对比分析2、只可以测试样品的元素，对化合物价态无法区分。
如：只能测试总溴和总铬的含量3、它是表面分析设备skyray998 (2009-6-02 08:14:27)供X射线荧光分析用的各元素的特征X射线能量表能被测量的K、L线能量原子序号符号元素KαKβLαLβLγ Ll12 Mg 镁 1.25 1.3013 Al 铝 1.49 1.5514 Si 硅 1.74 1.83815 P 磷 2.02 2.1416 S 硫 2.31 2.46817 Cl 氯 2.62 2.8218 Ar 氩 2.96 3.1919 K 钾 3.31 3.5920 Ca 钙 3.69 4.0121 Se 钪 4.09 4.4622 Ti 钛 4.51 4.9323 V 钒 4.95 5.4324 Cr 铬 5.41 5.9525 Mn 锰 5.895 6.4926 Fe 铁 6.40 7.0627 Co 钴 6.925 7.6528 Ni 镍7.47 8.26529 Cu 铜8.04 8.90730 Zn 锌8.63 9.57231 Ga 镓9.24 10.26332 Ge 锗9.876 10.98433 As 砷10.532 11.72934 Se 硒11.21 12.501 1.38 1.4235 Br 溴11.91 13.296 1.48 1.5336 Kr 氪12.63 14.12 1.59 1.6437 Rb 铷13.375 14.971 1.69 1.7538 Sr 锶14.142 15.849 1.81 1.8739 Y 钇14.933 16.754 1.92 2.0040 Zr 锆15.746 17.687 2.04 2.124 2.30 1 .79241 Nb 铌16.6584 18.647 2.17 2.257 2.461.90242 Mo 钼17.443 19.633 2.29 2.395 2.62 2 .01543 Tc 锝18.327 20.647 2.42 2.538 2.79 2 .12244 Ru 钌19.235 21.687 2.56 2.683 2.96 2 .25245 Rh 铑20.167 22.759 2.70 2.834 3.14 2 .37646 Pd 钯21.123 23.859 2.84 2.99 3.33 2. 50347 Ag 银22.10 24.987 2.98 3.151 3.52 2. 63348 Cd 镉23.109 26.143 3.13 3.316 3.72 2 .76749 Tn 铟24.139 27.382 3.29 3.487 3.92 2 .90450 Sn 锡25.193 28.601 3.44 3.662 4.13 3 .04451 Sb 锑26.274 29.851 3.605 3.843 4.353.18852 Te 蹄27.38 31.128 3.77 4.029 4.57 3. 33553 I 碘28.512 32.437 3.94 4.22 4.80 3.48 454 Xe 氙29.669 33.777 4.11 4.422 5.04 3 .63655 Cs 铯30.854 35.149 4.286 4.62 5.28 3 .79456 Ba 钡32.065 36.553 4.47 4.828 5.53 3 .95357 La 镧33.30 37.986 4.65 5.043 5.79 4. 12458 Ce 铈34.569 39.453 4.84 5.262 6.05 4 .28759 Pr 镤35.864 40.953 5.034 5.489 6.324.45260 Nd 钕37.185 42.484 5.23 5.722 6.60 4 .63261 Pm 钜38.535 44.049 5.431 5.956 6.894.81662 Sm 钐39.914 45.649 5.636 6.206 7.184.99463 Eu 铕41.323 47.283 5.846 6.456 7.485.17664 Gd 钆42.761 48.949 6.059 6.714 7.795.36165 Tb 铽 6.275 6.979 8.10 5.54666 Dy 镝 6.495 7.249 8.42 5.74267 Ho 钬 6.72 7.528 8.75 5.94268 Er 铒 6.948 7.81 9.09 6.15269 Tm 铥7.18 8.103 9.42 6.34170 Yb 镱7.41 8.401 9.78 6.54471 Lu 镏7.65 8.708 10.1 6.75272 Hf 铪7.898 9.021 10.5 6.95873 Ta 钽8.145 9.341 10.9 7.17274 W 钨8.396 9.67 11.3 7.38675 Re 铼8.651 10.008 11.7 7.60276 Os 锇8.91 10.354 12.1 7.82177 Ir 铱9.17 10.706 12.5 8.04078 Pt 铂9.441 11.069 12.9 8.26779 Au 金9.711 11.439 13.4 8.49380 Hg 汞9.987 11.823 13.8 8.72081 Tl 铊10.266 12.21 14.3 8.95282 Pb 铅10.549 12.61 14.8 9.18383 Bi 铋10.84 13.021 15.2 9.41984 Po 钋11.13 13.441 15.7 9.66285 At 砹11.42 13.87 16.286 Rn 氡11.72 14.316 16.887 Fr 钫12.03 14.77 17.388 Ra 镭12.34 15.233 17.8 10.62089 Ac 锕12.65 15.712 18.490 Th 钍12.97 16.20 19.0 11.11791 Pa 镤13.29 16.70 19.6 11.36492 U 铀13.61 17.218 20.2 11.616 skyray998 (2009-6-02 08:16:49)XRF光谱分析的干扰标准指导某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。
XRF测试仪操作培训教材
在windows系統下 將滑鼠移至 Communication server圖示上, 點選滑鼠右鍵.
將出現一個選單, 點選第六個選項 configuration editor, 開啟視窗.
選擇routing dialog,點擊滑鼠開啟視窗
2.從表單中選擇 剛剛所新建的方法.
1.開啟method Assignment 選單頁.
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XRF測試儀操作培訓
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目錄
• 章節 • 第一章 儀器介紹 字體大小：32號 • 第二章 注意事項 • 第三章 操作步驟
5.按下存檔
3.點選insert將 新建方法加入分析
4.選ok 關閉此視窗
重新開啟分析視窗, 應可在方法選單中選擇 新建立之分析方法進行分析.
1:在ows系 統下將滑鼠移至 Communication server 圖示上,點選滑鼠右鍵 2:將出現一個選單, 點選第一個選項 Method administration, 開啟方法視窗.
1:將出現下圖視窗,請在此 選擇要使用的原廠方法, 並點擊滑鼠開啟此方法.
2:點選視窗上方method, 拉下選單,點選new 選項.
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第一章 儀器介紹
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XRF扫描样品拆分原则
XXX 有限公司XRF扫描样品拆分原则4.6.4 其它样品：名称、型号、供应商、批号、客户。
4.6.5 拆分后的材料信息记录。
5.参考的标准 GB/T 26572-20011 IEC 62321-2008附录A 样品拆分举例描 述图 片备 注Inductor 电感a)绿色塑胶（银色，棕褐色，橙色涂层） b)黑色磁体 c)铜色线d)银色金属[PIN 脚]Capacitor 电容a)棕色塑胶（白色涂层） b)银色金属 c)淡棕色纸 d)淡灰色金属箔 e)亮灰色金属箔 f)黑色软胶[胶塞] g)银色金属[引脚]Capacitor 电容a)棕色塑胶（白色印字） b)白色电解质 c)银色镀锡金属SMD capacitor 贴片电容若小于4立方毫米，不必拆分；a)棕色陶瓷（银色金属） b)棕灰色陶瓷（银色金属）c)白色陶瓷（银色金属） d)棕色陶瓷（银色金属）SMD resistor 贴片电阻若小于4立方毫米，不必拆分；白色陶瓷（黑色材料&白色印字&银色金属）SMD diode 贴片二极管若小于4立方毫米，不必拆分；黑色塑胶（棕色印字&银色金属）Switch 开关a)银色金属[外壳]b)黑色塑胶[按钮]c)银色金属片d)铜色金属e)棕色塑胶[底板]f)银色金属[PIN脚]Switch 开关a)白色塑胶[按钮]b)铜色金属c)白色塑胶d)黑色金属[弹簧]e)深灰色金属f)米色塑胶g)银色金属[PIN脚]Bulb咪泡a)透明玻璃b)灰色金属c)淡红色金属Fuse保险丝a)白色陶瓷（棕色印字）b)银色金属c)银色金属线d)黄色金属e)灰色颗粒Y CapacitorY电容a)棕色陶瓷（黑色印字）b)银色金属 [PIN脚]Capacitor 电容a)蓝色塑胶（黑色印字）b)银色金属 [PIN脚]Capacitor 电容a)黄色塑胶（黑色印字）b)银色金属[PIN脚]Triode三极管a)黑色塑胶b)银色金属 [PIN脚]LED 发光二级管a)半透明塑胶b)银色金属[PIN脚]Diode 二极管a)透明玻璃b)银色金属 [PIN脚]Diode 二极管a)黑色塑胶b)银色金属[PIN脚]ICa)黑色塑胶b)银色金属 [PIN脚]黄色陶瓷电容若小于4立方毫米，不必拆分；棕色陶瓷+银色金属）X电容X Capacitora)外壳（有印刷字）b) 黄色封装料（开口处）c)金属引脚d) 本体（内芯）e)焊锡点Motor马达a)黄色塑胶b)黄色金属c)铜色金属d)铜色碳e)银色金属f)银色金属g)黑色磁体（黄色，紫色涂层）h)灰黑色金属i)淡黄色金属j)铜色金属片k)半透明塑胶d c a bel)半透明塑胶m)黑色磁体（银色金属，焊锡，蓝色印）n)半透明塑胶 o)红色线 p)银灰色金属片 q)红色金属 r)黄色金属 s)白色塑胶 t)黑色塑胶 u)银色金属 无焊锡 有焊点：PCB绿油 铜色金属焊盘 纤维板焊锡点（如果有）SMD triode 贴片三极管 小于4立方毫米，不必拆分；大于4立方毫米，拆分引脚和本体 黑色塑胶（米色丝印）和银色金属SMD diode 贴片二极管 若小于4立方毫米，不必拆分；透明玻璃，橘红色塑胶，银色金属Transformer 变压器a)6mm 透明塑胶（黄色胶纸）b)8mm 透明塑胶（黄色胶纸）c)铜线d)灰黑色磁体e)黑色塑胶f)黄色半透明胶纸g)镀锡金属万向节1）基材2）涂层线材1）蓝色外被2）黄色铜丝附录B《XRF送检申请表》。
XRF检测样品拆分原则
学溶解提取)。
5.8在满足检测结果有效性的前提下，对于经拆分后样品无法满足检测需求量时，可采取
适当归类，一同制样，直接提交检测。
6.0拆分一般性举例
6.1电线电缆（电源线）
7.0参考文件
7.1环境有害物质管理标准
7.2 XRF荧光元素操作规范
5.2同一生产厂生产的相同功能部件或元气件可以归为一类，从中选取代表性的样品进行拆分，使用相同材料（包括基材和添加剂）生产的不同部件可视为一个检测单元。
5.3颜色不同的材料应拆分为不同的检测单元。
5.4对于相关法律法规中规定的豁免清单中的项目或材料，在拆分时应予以识别。
5.5当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg时，不必拆分，作为非均质检测单元，直接提交检测。
5.6当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时，不必拆分，可以整体制样（如：0805
类贴片类元件2.0×1.2×0.5mm的元件不必拆分）作为非均质检测单元，直接提交检测。
5.7表面处理层应尽量与本体分离（如涂层）；对于确实无法分离的（如镀层），可对表面处理层进行初筛(如使用X射线荧光光谱仪（XRF）等手段)，筛选合格则不拆分；筛选不
7.3国家标准拆分文件
和研磨等。在本标准中简称“拆分”。
3.3均质材料指不能通过机械手段进一步拆分为不同材料的材料，均质材料各部分的组成均相同，
例如各种陶瓷、玻璃、金属、合金、纸、木板、树脂、塑胶以及涂料等。
3.4检测单元经过拆分和取样，可直接提交检测的材料。根据材质的均匀性，检测单元可分为均质
检测单元和非均质检测单元。
XRF检测样品拆分原则
编制人
JKJK
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• 3.1厚度的通用要求
• 1）轻合金（如铝合金、镁合金等）检测单元的厚度要至 少5mm，其他合金检测单元的厚度要至少1mm,液体检测 单元的厚度要至少15mm，其它材料检测单元的厚度要求 在3～5mm之间。
XRF测试样品拆分知识培训
目录
一、目的及适用范围和定义
二、具体规定
三、检测单元的要求 四、拆分实例及注意事适当的拆分 手段来获得检测单元，以确保拆分结果用 于后续筛选检测时，不会因为拆分不当而 引起筛选检测结果错误；适用于本公司所 有零部件、辅料、整机的环境管理物质筛 选检测前的拆分处理。
单张纸的效果示意
5张纸累积前的效果示意
5张纸累积后的效果示意
3.2长度和宽度的通用要求
• 1）测单元宽度要求在3～15mm之间，长度要求在2～4cm之间 • 2）当单个样品无法满足1）的要求时（如线材被覆），可将相 同的样品进行平铺、固定，两个样品间的缝隙不应被觉察到。
宽度3～15mm
长度 2～4cm
• 2.2电池拆分的特殊要求
• 干电池需要拆分至均质材料检测单元。 • 钮扣电池不需要拆分，按非均质材料检测单元提交检测。
• 锂电池，电池芯部分不予拆分；除电池芯外的其它部分，拆 分成均质材料检测单元。 • 每完成一个检测单元的拆分后需要对拆分工具进行清洁，清 洁的方式可采用擦拭、清洗和烧灼等。
3检测单元的要求
1.1定义
• 环境管理物质 • 包含在产品（整机）、零部件、辅料等物质中的，对地 球环境和人体存在显著负面影响的物质 • 零部件 • 指构成产品的各部分。除了一般零部件（电气部件、结 构部件、半导体器件、PCB等）之外还包含被加工构成产 品的材料（树脂母粒、钢材、原料胶片轴等）或部品材 料。 • 辅料 • 因生产需要而使用于产品或于产品接触的辅助性材料。 包括副资材、文具、工装夹具。
厚度3～5mm
图3 检测单元的长度、宽度要求示意
3.3粉末状和颗粒状样品的检测单元制作
• 由于单个粉末状或单个颗粒状检测单元的面积通常较小，无法 满足3.1和3.2的要求，可以将多个相同的检测单元累积置于料杯 (直径为2.4cm)中，使检测单元达到3.1和3.2的要求
直径2.4cm
图4 粉末状和颗粒状样品制成检测单元的示意
a. 由于检测单元的面积太小，不满足检测条件
b.将多个样品累积制成检测单元后，可提交检测
图5 小面积检测单元的俯视图
THANKS
• 整机 • 可以实现预期功能的，除条形码外，与出货机器状态相同 （包括附件、包装）的成品机。 • 机械拆分 • 运用机械手段进行有效的划分和获取检测单元的过程，如 选拧、切割、粉碎、磨碎和研磨等。本文件中简称“拆 分”。 • 均质拆分 • 不能通过机械手段进一步拆分为不同材料，均质材料各部 分的组成均相同。 • 检测单元 • 经过机械拆分和取样，可直接提交检测的材料。根据检测 单元材质的均匀性，检测单元可分为均质检测单元和非均 质检测单元。
• 2.1筛选检测样品的拆分原则 • 同一供应商生产的相同功能、相同规格（参数）的多个模 块、部件或元器件可以归为一类，从中选取代表性的样品 进行拆分，使用相同的材料（包括基材和添加剂）生产的 不同部件可视为一个检测单元。 • 颜色不同的材料应拆分为不同的检测单元。 • 对于豁免清单中的项目或材料，在拆分时应予以识别，在 拆分时应特别小心，尽量避免与其直接接触，如不能避免 需要接触，则在接触后，需要对拆分工具进行清洁。清洁 的方式可采用擦拭、清洗和烧灼等。 • 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时，不必拆分， 作为非均质检测单元，直接提交检测。
• 2）对于蓬松状样品（如发泡胶、气泡袋），应采用适当的方法(如，使 用老虎钳压缩等)将其压实，但压实后的检测单元的厚度应满足图二的要 求
图一 发泡胶压缩前
图二 发泡胶压缩后
• 3）当单个样品无法满足1）所述的要求时（如纸张、胶纸、包装袋等） ，可以使用相同的样品进行堆叠累积，使检测单元的达到1）的要求
• 均质材料检测单元
• 由一种或一种以上物质均匀组成的检测单元，且不能通过 机械手段进一步拆分的材料。 • 非均质材料检测单元 • 由若干种材料不均匀组成的、无需或难以进一步机械拆分 的材料。 • 豁免单元 • 相关法律法规中规定的豁免清单中的部件、元件和检测单 元，获得完全豁免而无需检测。
2.具体规定
• 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3 时，不必拆分， 可以整体制样，作为非均质检测单元，直接提交检测。 • 对于表面有涂层处理的样品，应尽量将涂层与本体分离；对 于表面有镀层处理的样品，可直接对表面处理层进行筛选检 测，筛选检测合格则不拆分，筛选检测不合格则使用机械方 法将镀层打磨掉之后再进行筛选检测。 • 所有被拆分样品都需要尽量拆分至均质材料