数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用
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atpg原理-回复ATPG原理及其应用1. 引言在集成电路设计和制造过程中，自动测试模式生成（Automatic Test Pattern Generation，简称ATPG）是一个重要的环节。
ATPG可以根据设计规则检查的设计文件自动生成模拟制造过程中不可达故障（faults）对应的测试模式，并验证设计的正确性。
2. ATPG原理ATPG原理是基于故障模型的。
故障模型是对集成电路故障的数学描述，在故障模型中，一个故障是由一个或多个信号断开或短接导致的。
常用的故障模型有单激励故障模型（Stuck-at Fault Model）和传播路径故障模型（Path Delay Fault Model）等。
2.1 单激励故障模型（SAF）在单激励故障模型中，故障是指一个节点被“固定”在高电平或低电平状态，不受外界输入电平变化的影响。
所以，对于每个节点，都可以定义一个故障模式，即如果节点被固定为高电平，则故障模式为SA1；如果节点被固定为低电平，则故障模式为SA0。
2.2 传播路径故障模型（PDCF）在传播路径故障模型中，故障是指一个路径中的延迟过高（高延迟故障）或延迟过低（低延迟故障）。
该模型通常用来检测时序电路的失效。
3. ATPG流程ATPG流程是一个基于模式生成器的迭代过程。
其大致步骤如下：3.1 初始化首先，需要对电路结构进行初始化，将所有故障置为未检测状态。
3.2 模式生成然后，根据故障模型，生成针对每个故障的测试模式。
模式生成的方法有很多种，如随机模式生成、启发式模式生成和形式化验证模式生成等。
3.3 模式应用将生成的测试模式应用于电路中，通过观察输出信号，确定是否检测到故障。
若检测到故障，则将对应的故障置为已检测状态。
3.4 判断是否完成判断是否已经检测到所有故障。
如果是，则结束流程；如果不是，则返回第3.2步继续生成模式。
4. ATPG应用ATPG在集成电路设计和制造过程中起着非常重要的作用。
数字系统设计与CPLD应用专题实验指导书120222剖析
数字系统设计与FPGA专题实验指导书西安交通大学电信学院数据广播研究中心符均Dec 24 2012前言课程中文名称：数字系统设计与FPGA专题实验课程英文名称：Digital System Design and FPGA Topic Lab.课程编号：INFT3009实验学时：32学分：1适用专业：信息专业先修课程：数字逻辑电路开课学院：电信学院开课学期：第六学期教材及实验指导书：符均，《数字系统设计与FPGA应用专题实验指导书》，写作中一、实验课程简介本课程通过一系列实验由浅入深，教导学生学习数字系统设计方法，学习系统的模块设计方法。
学习可编程逻辑器件的原理与应用，学习相关软件及设计方法，并涉及简单的系统在片技术，通过学习，学生能自主设计以可编程逻辑器件为核心构建的基本数字系统。
二、实验课性质、目的和任务性质：专业专题实验目的：通过学习，学生能自主设计以可编程逻辑器件为核心构建的基本数字系统。
任务：独立设计出一个简单的FPGA应用程序并验证三、实验课教学基本要求1．讲解实验原理和基本知识2．指导学生设计实验，和验证指导3．指导学生进行独立设计选题第一节FPGA原理1．1 简介PLD是可编程逻辑器件（Programable Logic Device）的简称，FPGA是现场可编程门阵列（Field Programable Gate Array)的简称，两者的功能基本相同，只是实现原理略有不同，所以我们有时可以忽略这两者的区别，统称为可编程逻辑器件或PLD/FPGA。
PLD是电子设计领域中最具活力和发展前途的一项技术，它的影响丝毫不亚于70年代单片机的发明和使用。
PLD能做什么呢？可以毫不夸张的讲，PLD能完成任何数字器件的功能，上至高性能CPU,下至简单的74电路，都可以用PLD来实现。
PLD如同一张白纸或是一堆积木，工程师可以通过传统的原理图输入法，或是硬件描述语言自由的设计一个数字系统。
通过软件仿真，我们可以事先验证设计的正确性。
2013年版数字系统设计(双语)实验指导书(1)
数字系统设计实验指导书Experiments Handbook of Digital System Design实验一：8位简单算逻运算单元电路设计8 bit Simple ALU实验学时：4学时实验类型：设计型一、目的与任务要求学生在理论课学习的基础上，掌握采用Verilog HDL、基于自顶向下的模块化设计方法；掌握在Quartus II EDA平台进行设计输入、编译、仿真的全过程。
二、内容与要求1. 内容在Quartus II EDA平台上，运用基于模块化的设计方法，采用Verilog HDL，设计一个8位简单ALU及其数据通道，功能如表，分别根据操作码实现加、减、逻辑与、或等八种运算，数据通道在读写命令控制下，完成从寄存器读出操作数及写入运算结果。
要求：其输入操作数为实验学生学号末尾开始尽量非零的四位数对应的8421码组合（例如，学号11070023两个操作数分别为32和71，对应的8421码00110010，2.要求预习实验内容，编写Verilog HDL程序。
课上，进行编程输入、编译、时序仿真。
课后写出实验报告（实验名称、实验内容、顶层框图、V erilog HDL程序、仿真波形、资源分配、实验小结）三、考核与成绩评定本实验为学生必做实验，本实验分值为20 分考核内容：预习25%，实验过程50%，实验报告25%。
成绩评定方法：根据考核内容进行综合评定。
四、实验说明本实验的重点在于自顶向下的模块化设计的概念及设计方法。
五、参考资料ALU及数据通道参考教材《VerilogHDL高级数字系统设计》P478和P208实验三、基于循环算法的数字签名分析电路的验证Verification of Repetitive Algorithm based Digital SignatureAnalysis Circuit实验学时：2 实验类型：验证型一、目的与任务：要求学生在理论课学习的基础上，分析基于CRC码进行数字签名验证功能需求，学习用Verilog HDL中循环算法进行行为建模的功能设计，在EDA平台-QuartusII下，完成设计的输入及编译综合以及仿真验证。
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atpg原理-回复原理：ATPG（自动测试模式生成）是一种用于芯片测试的电子设计自动化（EDA）技术。
它通过生成测试模式（或称为刺激模式）来检测设计中的故障或缺陷，以保证芯片在使用过程中的正确性和可靠性。
ATPG原理属于计算机辅助设计（CAD）工具的一部分，广泛应用于集成电路设计和验证领域。
本文将以ATPG原理为主题，详细介绍ATPG技术的基本概念、流程和应用，并解释其在芯片测试中的重要性和优势。
一、ATPG的基本概念1. 设计规则检查（DRC）：DRC用于验证设计中是否存在规则冲突或违反，以确保芯片的制造可行性。
DRC通常在逻辑综合之后进行，并对电路的物理约束进行检查。
2. 逻辑综合：逻辑综合将高级语言描述的电路转换成低级语言或门级网表的形式，以便用于后续的物理设计和验证。
3. ATPG生成：ATPG生成是ATPG工具的核心步骤，其目标是根据设计规范和故障模型生成测试模式。
这些测试模式用于模拟电路的输入，并检测设计中的故障。
4. 故障模型：故障模型是一种描述设计中可能出现的故障类型和行为的数学模型。
常见的故障模型包括斯台特故障模型、单精度卡诺故障模型和扩展斯台特故障模型等。
二、ATPG的应用和优势1. 芯片级测试：ATPG可以帮助设计人员在芯片制造之前对芯片进行全面的测试，以确保其质量和可靠性。
通过生成测试模式，ATPG可以检测设计中的故障，帮助设计人员及时发现和修复问题。
2. 故障覆盖率分析：ATPG生成的测试模式可以用于评估故障覆盖率，即测试模式能够探测到设计中的故障的百分比。
通过分析故障覆盖率，设计人员可以判断测试的有效性和全面性，并根据需要进行改进。
3. 故障模拟验证：ATPG生成的测试模式可以用于故障模拟验证，以验证芯片设计的正确性。
通过模拟电路输入并应用测试模式，设计人员可以检测到设计中的故障和不确定性，并进行相应的修复和优化。
4. 故障调试：在芯片测试过程中，如果检测到故障，ATPG可以帮助设计人员确定导致故障的具体原因。
《数字系统设计》实验指导书
数字系统设计实验指导书编者：陈汉林电子信息工程系2007 年 7月目录第一部分《数字系统设计》实验说明 (2)一、考核方式及成绩评定参考标准 (2)二、实验报告格式要求 (2)三、进度安排 (3)四、注意事项 (3)第二部分《数字系统设计》实验项目 (4)实验一出租车计费系统设计 (4)实验二频率计设计 (5)第三部分GEXIN EDAPRO/240H实验仪 (8)第四部分KH-310智能型可编程数字开发系统芯片IO对照表 (21)1第一部分《数字系统设计》实验说明一、考核方式及成绩评定参考标准每个实验设计结束后要求提交实验报告，并通过老师验收。
每次实验成绩由实验报告和验收成绩共同决定。
评分标准如下：1.根据实验拟定设计方案，简述系统工作原理，画出系统工作原理框图；（15分）2.根据技术指标要求，完成各单元电路的设计；（15分）3.总体程序框架合理、结构清晰明了；（10分）4.系统功能实现正确，仿真结果正确，在实验系统上运行正确；（30分）5.有创新点，扩展功能的实现；（10分）6.实验报告格式正确，内容完整，描述清楚，画图工整。
（20分）二、实验报告格式要求《数字系统设计》实验报告采用统一格式，包括字体、图文要求，如果格式不符，则根据情况给予扣分。
书写格式:1.报告用A4纸打印。
2.报告最多不超过10页。
3.页面设置：上2，下2，左2，右2，页眉1.5，页脚1.75。
4.采用单倍行距，标准字符间距，西文、数字等符号均采用Times New Roman 体字。
5.标题用五号黑体字，正文用五号宋体字。
6.每个表格应有自己的表序和表题，表序和表题应写在表格上方正中，表序后空一格书写表题。
表序为：表1、表2……，表格内容为小5号宋体字，表序和表题为小5号黑体字。
7.插图必须精心制作，不得徒手画，照片图应清晰，线条要匀称，图面要整洁美观。
每幅插图应有图序和图题，图序和图题应放在图位下方居中处。
图序为：图1、图2…….，图序和图题用小5号黑体字。
数字系统设计及实验实验报告
数字系统设计及实验实验报告一、实验目的数字系统设计及实验课程旨在让我们深入理解数字逻辑的基本概念和原理，掌握数字系统的设计方法和实现技术。
通过实验，我们能够将理论知识应用于实际，提高解决问题的能力和实践动手能力。
本次实验的具体目的包括：1、熟悉数字电路的基本逻辑门、组合逻辑电路和时序逻辑电路的设计方法。
2、掌握使用硬件描述语言（如 Verilog 或 VHDL）进行数字系统建模和设计。
3、学会使用相关的电子设计自动化（EDA）工具进行电路的仿真、综合和实现。
4、培养团队合作精神和工程实践能力，提高解决实际问题的综合素质。
二、实验设备和工具1、计算机：用于编写代码、进行仿真和综合。
2、 EDA 软件：如 Quartus II、ModelSim 等。
3、实验开发板：提供硬件平台进行电路的下载和测试。
4、数字万用表、示波器等测量仪器：用于检测电路的性能和信号。
三、实验内容1、基本逻辑门电路的设计与实现设计并实现与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本逻辑门电路。
使用 EDA 工具进行仿真，验证逻辑功能的正确性。
在实验开发板上下载并测试实际电路。
2、组合逻辑电路的设计与实现设计一个 4 位加法器，实现两个 4 位二进制数的相加。
设计一个编码器和译码器，实现数字信号的编码和解码。
设计一个数据选择器，根据控制信号选择不同的输入数据。
3、时序逻辑电路的设计与实现设计一个同步计数器，实现模 10 计数功能。
设计一个移位寄存器，实现数据的移位存储功能。
设计一个有限状态机（FSM），实现简单的状态转换和控制逻辑。
四、实验步骤1、设计方案的确定根据实验要求，分析问题，确定电路的功能和性能指标。
选择合适的逻辑器件和设计方法，制定详细的设计方案。
2、代码编写使用硬件描述语言（如 Verilog 或 VHDL）编写电路的代码。
遵循代码规范，注重代码的可读性和可维护性。
3、仿真验证在 EDA 工具中对编写的代码进行仿真，输入不同的测试向量，观察输出结果是否符合预期。
可测性设计
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边界扫描技术
❖ 选择集成电路 ➢ 在设计数字电路板时，应尽可能选择支持IEEE1149.1标
总结
总之，测试是很必要的
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准的集成电路。 ➢ 优先选用同时支持IEEE1149.1和IEEE1532标准的可编程
集成电路。IEEE1532标准能使来自不同厂家的可编程逻 辑集成电路使用相同软件进行编程。
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边界扫描技术
❖ 设计边界扫描链
➢ 由于LATTICE、XILINX、ALTERA、TI和AD公司的编程 软件工具不兼容，因此，为了便于使用各自的编程软件 工具进行编程，不同公司的可编程集成电路应放置在不 同的扫描链上，每一个扫描链提供一个独立的用于编程 和测试的JTAG接口。根据IEEE1149.1标准，JTAG测试 接口包括TMS、TCK、TRST、TDI和TDO等5种信号。 为了适应多JTAG接口的要求，边界扫描测试系统应提供 多个JTAG接口，例如ScanWorks最多能提供16个JTAG 接口。
TDO。为了保证这些信号的完整性，需要对进入数字电 路板的接口信号进行缓冲，特别是TCK和TMS。常用的 缓冲集成电路有54LS244。若54LS244不能满足速度要 求，则可以采用速度更快的FPGA作为缓冲器。 ➢ TRST是复位信号，常用接法如图2所示。该接法可以提 高驱动能力，解决因集成电路内部上拉电阻并联后阻值 过小而引起的TRST不能驱动为低电平的问题。
可测性设计技术
可测性设计技术摘要本文从可测性设计与VLSI测试，VLSI设计之间的关系出发，将与可测性设计相关的VLSI 测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起，文中简要介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类，可测性设计的现状，发展趋势，可测试性设计的内涵、意义和分类，并且探讨了可测性设计的实现方法。
关键词：可测性设计，自动测试生产，扫描技术，边界扫描技术，嵌入式自测试。
1可测性设计技术概述可测性的起源于发展过程20世纪70年代，美军在装备维护过程中发现，随着系统的复杂度不断提高，经典的测试方法已不能适应要求，甚至出现测试成本与研制成本倒挂的局面。
20世纪80年代中，美国军方相继实施了综合诊断研究计划。
并颁布《系统和装备的可测性大纲》，大纲将可测性作为与可靠性及维修等同的设计要求，并规定了可测性分析，设计及验证的要求及实施方法。
该标准的颁布标志这可测性作为一门独立学科的确立。
尽管可测性问题最早是从装备维护的角度提出，但随着集成电路（IC）技术的发展，满足IC测试的需求成为推动可测性技术发展的主要动力。
从发展的趋势上看，半导体芯片技术发展所带来的芯片复杂性的增长远远超过了相应测试技术的进步。
随着数字电路集成度不断提高，系统日趋复杂，对其测试也变得越来越困难。
当大规模集成电路LSI和超大规模集成电路VLSI问世之后，甚至出现研制与测试费用倒挂的局面。
这就迫使人们想到能否在电路的设计阶段就考虑测试问题，使设计出来的电路既能完成规定的功能，又能容易的被测试，这就是所谓的可测性设计技术。
因此也就出现了可测性的概念。
可测性的基本原理可测试性大纲将可测试性(testability)定义为：产品能及时准确地确定其状态（可工作、不可工作、性能下降），隔离其内部故障的设计特性。
以提高可测试性为目的进行的设计被称为可测试性设计(DFT: design for testability)。
可测试性是测试信息获取难易程度的表征。
数字系统综合实验指导书
数字系统综合设计指导书电子信息工程教研室辽宁工业大学2008-5-24目录第一章 MAX + PLUS Ⅱ入门 (3)第二章数字系统综合设计 (32)实验一３-８译码器的设计 (32)实验二组合电路实验 (48)实验三触发器功能模拟 (50)实验四扫描显示电路的驱动 (54)实验五计数器及时序电路 (56)第一章 MAX + PLUS Ⅱ入门在这一章中，首先用最简单的实例介绍使用MAX + PLUS Ⅱ软件的全过程。
进入Windows 98 后，双击MAX + PLUS Ⅱ图标，屏幕如图1.1所示。
图1.1 MAX + PLUS Ⅱ管理器1.1原理图输入原理图输入的操作步骤如下：（1）建立第一个项目，单击图1.2中的File菜单图1.2建立新项目的屏幕将鼠标移到Project选项后，单击Name 选项，屏幕如图1.3所示。
在Project Name的输入编辑框中键入inv后，单击OK按钮，屏幕如图1.1所示；图1.3指定项目名的屏幕（2）在图1.2中单击File菜单后，单击New选项，屏幕如图1.4所示；图1.4选取文件类型屏幕（3）在图1.4中选择Graphic Edittor file (既其左边出现小黑圆点)，单击OK按钮后，便进入到MAX + PLUS Ⅱ的图形编辑器，如图1.5所示；图1.5空白的图形编辑器（4）在图1.5的空白处双击鼠标左键，屏幕如图1.6所示；图1.6选择元件符号屏幕（5）在图1.6的Symbol Name 输入编辑框中键入NOT后，单击OK按钮。
此时可以看到光标上粘着被选的符号，将其移动的合适的位置单击鼠标左键，使其固定；（6）重复（4）、（5）两步，给图中放置一个input和output符号，如图1.7所示；图1.7放置了所有元件符号的屏幕（7）在图1.7中，将光标移到input右侧待连线处单击鼠标左键后，再移动光标到反相器的左侧单击鼠标左键，既可看到在input和反相器之间有一条线生成；（8）重复（7）的方法，将反相器和output 连接起来，完成所有连线的电路如图1.8所示；（9）在图1.8中，双击input-name使其衬底变黑后，再键入A，即命名该输入信号名为A，用相同的方法将输出信号命名为B；图1.8完成全部连线的屏幕（10）在图1.8中单击存文件按钮，屏幕如图1.9所示；图1.9欲保存文件前的屏幕（11）在图1.9中，检查File Name 的文本编辑框为inv.gdf （因为项目名为inv，故在缺省情况下，均是在项目名加不同的扩展名）；（12）在图1.9中，单击OK按钮，屏幕如图1.8所示；（13）在图1.8中，单击编译器按钮（水平工具条左数第11个），屏幕如图1.10所示；（14）在图1.10中，单击Processing菜单，查看Timing SNF Extractor 选项，使其不被选中（既该行前无对号），处理完后，再回到图1.10的环境下；图1.10编译器屏幕（15）图1.10中，单击Assign/Device菜单，屏幕如图1.11所示；图1.11选择待编程芯片屏幕（16）完成如图1.11所示的选择后，单击OK按钮，再次回到图1.10的环境下；（17）在图1.10中，单击Start按钮后，计算机开始处理数据，其进度情况用一水平红线表示，结束后屏幕如图1.12所示；（18）在图1.12中，如果有“0 error”和“0 warning”字符出现，则表示编译完全通过，单击确定（OK）按钮后，屏幕显示如图1.10所示；（19）退出编译窗口，既在图1.10中单击“X”，屏幕显示如图1.8所示；图1.12完成编译后的屏幕（20）在图1.8中单击芯片编程按钮，屏幕显示如图1.13所示，若与图1.13所示不同，单击JTAG菜单，使所有选项前均无对号后，单击Option 菜单，进入Hardware Setup选项中做适当设置，无误后进行下一步；图1.13对芯片编程屏幕（21）在图1.13，单击Program 按钮（注意必须给正常供电实验板，既实验板上的电源指示灯点亮），编程期间实验板上的编程指示灯点亮，屏幕上的红色进度条不断地向右移动，编程完成后，屏幕如图1.14所示；图1.14编程完成的屏幕（22）在图1.14，单击OK按钮后，关闭编程窗口，既单击“X”，屏幕如图1.8所示；（23）在图1.8，单击层次显示器按钮，屏幕如图1.15所示；图1.15层次结构屏幕（24）在图1.15中，双击fit 图标，并适当移动垂直行条，屏幕如图1.16所示；图1.16芯片配置的屏幕（25）在图1.16中，信号A被自动分配为2脚，信号B被自动分配为17脚；（26）验证其逻辑功能。
数字化测图综合实习任务书（2周）（5篇）
数字化测图综合实习任务书（2周）（5篇）第一篇：数字化测图综合实习任务书(2周)数字测图综合实习任务书根据测绘工程专业教学计划安排，在完成数字测图课堂教学和课堂实习任务后，必须进行为期两周左右时间的野外综合性教学实习或生产实习。
这次实习与前述课堂实习相比，时间更加集中、内容更加广泛、程序更加系统，它完全从数字测图生产实际出发，加深对书本知识的进一步理解、掌握与综合应用，是培养学生理论联系实际、独立工作能力、综合分析问题和解决问题的能力、组织管理能力等方面的重要教学环节，也是一次具体的、生动的、全面的技术实践活动。
在传授知识、开发智力、综合素质培养方面，具有更加重要的意义。
一、实习目的野外教学实习是在校内学完了数字测图的理论和方法后，模拟或结合实际生产任务所进行的一次综合性实践。
通过2周左右时间的实习，应达到以下目的：1．巩固课堂教学知识，加深对数字测图基本理论的理解，能够用有关理论指导作业实践，做到理论与实践相统一，提高学生分析问题、解决问题的能力，从而对数字测图的基本内容得到一次实际的应用，使所学知识进一步巩固、深化。
2．对学生进行数字测图野外作业的基本技能训练，提高动手能力和独立工作能力。
通过实习，熟悉并掌握数字测图野外数据采集的作业程序及施测方法；3．对野外采集数据进行内业成图。
掌握用CASS数字成图软件进行内业成图的基本技能。
4．通过完成数字测图实际任务的锻炼，提高学生独立从事测绘工作的计划、组织与管理能力，培养学生良好的专业品质和职业道德，达到综合素质培养的教学目的。
二、实习组织为便于实习和平行作业，本次实习分为若干个实习小组（一般4-5人），各组设组长1人，协助指导教师负责组织本小组的各项实习、仪器的借用与保管、资料的收集与整理等各项具体工作，并处理好与其它实习小组的协调工作。
全部实习由指导教师统一指挥，班干部及各组组长应积极配合教师做好本班、本组的各项工作。
三、仪器设备与工具每组借用苏一光全站仪（包括脚架）一台、棱镜（包括脚架和基座）二个、30—50m卷尺（或皮尺）一把、记录板一块、绘图纸若干张，工具包一只、铅笔、小刀等文具用品。
THCGP-1型高频电子线路实验教学系统实验指导书
THCGP-1型高频电子线路实验教学系统实验指导书方庆山陈静编著安徽电子信息职业技术学院实验实训中心2010年1月实验注意事项1.每次安装实验模块之前应确保主机箱右侧的交流开关处于断开状态。
2.安装实验模块时，模块右边的双刀双掷开关要拨上，将模板四角的螺孔和母板上的铜支柱对齐，然后用螺丝固定。
确保四个接线柱均拧紧，以免造成实验模块与电源或地接触不良。
经检查确认无误后方可通电实验。
3.各实验模块上的双刀双掷开关、拨码开关、复位开关、自锁开关、手调电位器和旋转编码器均为磨损件，请勿频繁按动或旋转。
4.请勿直接用手触摸芯片、电解电容器等元件，以免造成损坏。
5.各模块中的3362电位器（蓝色正方形封装）是出厂前调试使用的。
出厂后的各实验模块功能已调至最佳状态，无需另行调节这些电位器，否则将会对实验结果造成影响。
6.在关闭各模块电源之后，方可进行连线。
连线时在保证接触良好的前提下应尽量轻插轻放，检查无误后方可通电实验。
拆线时若遇到连线与孔连接过紧，应用手捏住线端得金属外壳轻轻摇晃，直至连线与孔松脱，切勿旋转及用蛮力强行拔出。
7.实验前，应首先熟悉实验模块的电路原理以及内置仪器的性能和使用方法。
8.按动开关或旋动电位器以及调节电感线圈磁芯时，切勿用力过猛，以免造成元件损坏。
9.做综合实验时，应通过联调确保各部分电路处于最佳工作状态。
10.用“短路帽”换接电路时，动作要轻巧，更不能丢失“短路帽”，以免影响后续实验的正常进行。
11.在打开的实验箱箱盖上不可堆放重物，以免损坏机箱的零部件。
12.实验完毕时必须按开启电源的逆顺序逐级切断相应的电源开关。
13.测量模块在不用时,应保持电源处于切断状态,以免引起干扰。
前言高频电子技术是一门实践性较强的课程，加强实践环节教学，提高实践教学环节的效果，对这门课的学习是至关重要的，应通过一个学期的实验教学，努力提高学生的实际动手能力，并以实践教学促进学生对教材理论知识的理解和应用。
集成电路测试和可测性设计
集成电路测试和可测性设计IC Testing and Design for Testability教学大纲课程名称：集成电路测试和可测性设计课程编号：M702004课程学分：3适用学科：集成电路工程、电子科学与技术一、课程性质本课程的授课对象为集成电路工程专业研究生和电子与科学技术专业研究生，课程属性为专业基础必修课（对电子与科学技术专业研究生为专业选修课）。
本课程主要讲授集成电路测试尤其是大规模集成电路测试的基本概念、基本方法，数字集成电路测试向量生成算法、可测试性设计、可测试性度量、数模混合信号电路测试方法以及测试设备和测试过程等内容。
通过基本思想、基本算法的引入、推导并配以大量的实例进行分析，使学生能够对测试相关理论有全面的理解，并能够利用所学的方法解决实际的电路测试及可测试性设计方面的问题。
二、课程教学目的学生通过本课程的学习，应能够理解集成电路测试及可测性的基本概念、基本思想；掌握重要的测试向量生成算法以及典型的可测性设计的结构；了解集成电路测试的发展趋势及面临的主要问题。
通过利用可测性设计方法构建实际的可测性方案，锻炼培养解决测试问题的实践动手能力。
同时通过对主要算法的发展历程、思想演变等的学习，培养发现问题、解决问题的能力以及创新思维。
为今后从事集成电路测试方面的工程或研究工作打下基础。
三、教学基本内容及基本要求第一章测试理论基础教学内容：1.1 引言1.2 VLSI测试过程和设备教学要求：1、掌握：集成电路测试的工作原理和工作过程。
2、理解：集成电路测试的基本概念。
3、了解：集成电路测试的特点，测试技术的发展及现状。
第二章测试经济学故障和故障模拟教学内容：2.1 测试经济学和产品质量2.2 故障模型教学要求：1、掌握：测试的经济性和故障定义。
2、理解：故障的含义和分类方法。
3、了解：测试与产品质量间的关系。
第三章逻辑与故障模型教学内容：3.1 用于设计验证的模拟3.2 用于设计评估的模拟3.3 用于模拟的模型电路3.4 用于真值模拟的算法3.5 故障模拟算法3.6 故障模拟的统计学方法教学要求：1、掌握：模型电路概念及类型，真值模拟的算法和故障模拟算法。
可测试性设计DFT
即使一块芯片出现了多个故障，那么它几乎不 可能通过基于“单故障假设”的测试
从工程角度考虑，如果不采用这个假设，会大 大增加计算复杂度，远远超出目前可能的计算 能力
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基于Stuck-at故障模型的 组合电路故障侦测/测试向量生成
有了Stuck-at故障模型，如何通过IO端口来侦 测到故障，生成测试向量（Test Pattern）？
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Fault Model 测试的发展历史 DFT 设计流程
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What is a Physical Defect?
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CMOS 工艺中常见的制造缺陷或曰物理缺陷 （ Physical Defect）包括：
对地和对电源的短路 由尘粒引起的连线断路 金属穿通(metal spike-through) 引起的晶体管源或漏的短路
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DFT的作用
提高产品质量 降低测试成本
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几种常见的DFT技术
扫描(SCAN)测试
将电路中的存储单元（寄存器Register）转化成为 可控制和可观察的存储单元（寄存器） ，将这些 单元连接成一个或多个移位寄存器，即扫描链
内建自测试(BIST)
在电路内部增加测试电路结构，在测试时这个测 试电路结构能够自己产生激励和比较响应
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Fault Model 测试的发展历史 DFT 设计流程
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测试的发展历史
70,80s
功能 测试
面向 故障测试
+ ATPG工具 <D算法>
面向 故障测试
+ ATPG工具
+ DFT
1. 1970s在 Cherry Hill测 试会议上被提 出。 2.已经形成了集 成电路设计的 有关工业标准
dftatpg实验【可编辑】
实验一DFT Compiler1.实验目的：●熟悉DFT Compiler操作流程，完成对设计tcrm.v的自动扫描链插入。
●回顾使用Design Compile进行逻辑综合的流程。
2.实验内容：DFT Compiler是一款功能强大的用于可测性设计的工具，提供从前端逻辑域到后端物理域完整的可测性设计解决方案，自动综合为带有扫描链的可测性设计。
本文通过DFT Compiler 将设计tcrm.v综合为带有扫描链的门级网表tcrm_scan.vg,并输出测试协议文件tcrm_stil.spf，为进一步完成自动测试向量生成作数据准备。
设计的原理图如图2.1所示。
图2.1 tcrm原理图其Verilog代码形式详见tcrm.v3.DFT Compiler流程与基本命令set target_librarys et link_libraryread_verilogread_file -format verilogset_wire_load_modelcreate_clockset_max_areaset_input_delay...set_output_delayset_scan_styleset test_default_delayset test_default_bidir_delayset test_default_strobeset test_default_periodcompile -scancreate_test_protocoldft_drcInsert_dftwritewrite_test_protocol4.相关文件组织DFT/Lab1/script/ //脚本文件夹tcrm.con //设计约束tcrm.tmv //测试时间约束变量设置tcrm.tp //测试协议tcrm.tcl//实验完整流程与命令集SMIC_db/ //库文件夹typical.db //前端综合库src/ //设计文件夹tcrm.v //设计数据report/ //报告文件夹，用来存放生成的报告mapped/ //存放综合过的网表文件5.实验步骤A）启动DFT Compiler 是DC_Ultra中一个组件，因此其启动命令与DC相同，在DC中输入DFT 相关命令就可以使用DFT Compiler。
ATP 含量测试盒说明书
ATP含量测试盒说明书化学发光法一、测定意义：三磷酸腺苷（Adenosine 5'-triphosphate，ATP）是生物体内能量转换最基本的载体, 其含量的变化直接关系到各器官的能量代谢。
ATP作为最重要的能量分子在细胞的各种生理、病理过程中起着重要作用。
ATP水平的改变，会影响许多细胞的功能。
通常细胞在凋亡、坏死或处于一些毒性状态下，ATP水平会下降，而高葡萄糖刺激等对于一些细胞可以上调细胞内ATP水平。
通常ATP水平的下降表明线粒体的功能受损或下降，在细胞凋亡时ATP水平的下降通常和线粒体的膜电位下降同时发生。
二、测试原理：本试剂盒根据萤火虫荧光素酶(Firefly Luciferase)催化荧光素产生荧光时需要ATP提供能量研制而成。
当萤火虫荧光素酶和荧光素都过量时，在一定的浓度范围内荧光的产生和ATP的浓度成正比。
这样就可以高灵敏地检测溶液中的ATP浓度。
本试剂盒在样品体积为100μl时可以检测浓度低达1nmol/L的ATP。
而常规的细胞或组织裂解液中ATP的浓度仅为0.1- 1μmol/L，一些常见细胞的细胞内ATP水平约为10nmol/mg 蛋白。
三、试剂组成及配制：（200T）试剂组成试剂名称包装规格R1 裂解液 100mlR2 底物酶贮备液 0.5ml×4支R3 底物酶稀释液 20ml临用前，取适量的酶贮备液，用酶稀释液按照1:9的比例稀释，配制成酶工作液。
现用现配。
R4 标准品 0.1ml 四、保存条件：-20℃保存6个月。
-80℃可保存一年。
底物酶贮备液需避光保存。
五、样本前处理：1、贴壁细胞：吸除培养液，按照6孔板每孔加入200μl裂解液裂解细胞。
裂解细胞时为了裂解充分，可以使用移液器进行反复吹打，或晃动培养板使裂解液充分接触并裂解细胞。
通常细胞在接触裂解液后会立即裂解。
裂解后4℃,12000g离心5分钟，取上清，用于后续的测定。
2、悬浮细胞：用离心管离心沉淀细胞，弃上清，轻轻弹散细胞，按照6孔板每孔加入200μl裂解液裂解细胞。
可测试性设计
边界扫描电路也可用于对板上芯片进行故障检测，但由于这 种测试方法要将所有的并行输入/输出数据串行化，测试向量 将十分长，故此方法一般只用于在板级系统调试时对怀疑失 效的集成电路的测试。 14
Boundary Scan Cells attached to every pin
Test Access Port (TAP) coCore logic
TAP
TDO
Four pin interface drives all tests
TCK TMS
图1 具有边界扫描结构的IC
15
PCB
Sh or t t o Vc c
Core logic T AP
So ld er Br id ge
Core logic T AP
TDI
JTAG TAP
7.2.2.1.1 全扫描技术（Full Scan） 全扫描设计就是将电路中的所有触发器用特殊设计的具有扫 描功能的触发器代替，使其在测试时链接成一个或几个移位 寄存器，这样，电路分成了可以分别进行测试的纯组合电路 和移位寄存器，电路中的所有状态可以直接从原始输入和输 出端得到控制和观察。 这样的设计将时序电路的测试生成简化成组合电路的测试生 成，由于组合电路的测试生成算法目前已经比较完善，并且 在测试自动生成方面比时序电路的测试生成容易得多，因此 大大降低了测试生成的难度。 已有的全扫描测试设计技术包括： 1、1975年由日本NEC公司开发的采用多路数据触发器结构的扫描 通路法（Scan Path），其中的时序元件为可扫描的无竞争D 型触发器。采用扫描通路法测试的芯片，必须采用同步时序。
总线结构类似于分块法，在专用IC 可测性设计中十 分有用，它将电路分成若干个功能块，并且与总线相 连。可以通过总线测试各个功能块，改进各功能块的 可测性。但这种方法不能检测总线自身的故障。 特定技术的一个主要困难在于它需要在电路中每个测 试点附加可控的输入端和可观察的输出端，因此增加 了附加的连线。 而后期的DFT 技术——结构化设计方法——则不同， 它对电路结构作总体上的考虑，可以访问电路内部节 点；按照一定的设计规则进行电路设计，只增加了用 于测试的内部逻辑电路，因而具有通用性。
ATPG自动测试生成模式
2）FAN 算法在搜索过程中采用更多的启发性信息和电路结构信息, 主要从减少回溯次数和缩短两 次回溯之间的处理时间这两方面入手； FAN 算法加速测试生成。
“测试”与“验证”的区别: 验证（Verification）的目的是检查设计中的错误，确保设计符合其设计规范和所期望的功能； 测试（Testing）则是检查芯片的加工制造过程中所产生的缺陷和故障。
DFT
ATPG概述 ATPG算法 SAT &ATPG
芯片测试主要环节:
I. 故障建模；对电路中可能存在的故障进行建模分析； II. III. 测试向量生成; 利用各种集成有 ATPG 算法的工具生成测试向量；
DFT
ATPG概述 ATPG算法 SAT &ATPG
• 故障敏化: • 将所有节点赋值为 X；对目标
故障进行赋值，故障点值为 0 即 s-a-0，则赋值为 D；故障 点值为 1 即s-a-1，则赋值为
D；通过J- frontier向前/后 蕴含对未分配的点赋值，确认 有无冲突产生，直至为所有的 输入找到一组无冲突赋值；
测试向量（集）: 测试向量使得故障电路模块和正确电路模块的输出不同；
测试向量生成需要 EDA厂家的 ATPG 工具, 用工具来选择建立哪种故障模型, 然后 ATPG 工具将 分别根据各种故障模型生成相应的测试向量。
ATPG算法评估标准: 一个好的工业级ATPG算法应能够在更短的时间内，产生更少的测试向量数， 并获得更高的测试覆盖率，使得测试成本更低。
DFT
ATPG概述 ATPG算法 SAT &ATPG
数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应用
数字系统测试与可测性设计实验指导书ATPG应⽤《数字系统测试与可测性设计》实验指导书（⼆）实验教师：2012年4⽉9⽇I．实验名称和⽬的实验名称：ATPG应⽤实验⽬的：了解Mentor公司的FastScan-(ATPG⽣成⼯具)业界最杰出的测试向量⾃动⽣成⼯具。
了解测试各种基准电路的标准输⼊格式，运⽤FastScan⼯具⽣成测试向量。
深⼊理解单固定故障模型相关概念。
II．实验前的预习及准备⼯作：1、充分理解课堂上学习的故障模型相关概念。
2、Mentor公司的测试相关⼯具的介绍缩略语清单：ATPG ：Automatic Test Pattern GenerationATE ：Automated Test EquipmentBIST ：Built In Self TestCUT ：Chip/Circuit Under TestDFT ：Design For TestabilityDRC ：Design Rule Check ingPI ：Primary InputPO ：Primary Output组合ATPG⽣成⼯具FastScanFastScan是业界最杰出的测试向量⾃动⽣成（ATPG）⼯具，为全扫描IC设计或规整的部分扫描设计⽣成⾼质量的测试向量。
FastScan⽀持所有主要的故障类型，它不仅可以对常⽤的Stuck-at模型⽣成测试向量，还可针对transition模型⽣成at-speed测试向量、针对IDDQ模型⽣成IDDQ测试向量。
此外FastScan还可以利⽤⽣成的测试向量进⾏故障仿真和测试覆盖率计算。
另外，FastScan MacroTest模块⽀持⼩规模的嵌⼊模块或存储器的测试向量⽣成。
针对关键时序路径，Fastscan CPA模块可以进⾏全⾯的分析。
主要特点：⽀持对全扫描设计和规整的部分扫描设计⾃动⽣成⾼性能、⾼质量的测试向量；提供⾼效的静态及动态测试向量压缩性能，保证⽣成的测试向量数量少，质量⾼；⽀持多种故障模型：stuck-at、toggle、transition、critical path和IDDQ;⽀持多种扫描类型：多扫描时钟电路，门控时钟电路和部分规整的⾮扫描电路结构；⽀持对包含BIST电路，RAM/ROM和透明Latch的电路结构⽣成ATPG；⽀持多种测试向量类型：Basic,clock-sequential,RAM-Sequential,clock PO,Multi-load; ?利⽤简易的Procedure⽂件，可以很⽅便地与其他测试综合⼯具集成；通过进⾏超过140条基于仿真的测试设计规则检查，保证⾼质量的测试向量⽣成；?FastScan CPA选项⽀持at-speed测试⽤的路径延迟测试向量⽣成；FastScan MacroTest 选项⽀持⼩规模的嵌⼊模块或存储器的测试向量⽣成；FastScanDiagnostics 选项可以通过分析ATE 机上失败的测试向量来帮助定位芯⽚上的故障；ASICVector Interfaces 选项可以针对不同的ASIC ⼯艺与测试仪来⽣成测试向量；最新的ATPG Accelerator 技术可以⽀持多CPU 分布式运算；智能的 ATPG 专家技术简单易⽤，⽤户即使不懂ATPG ，也能够由⼯具⾃动⽣成⾼质量的测试向量；⽀持32位或64位的UNIX 平台（Solaris,HP-PA)及LINUX 操作平台；FastScan 的A TPG 流程由上图可知，在启动FastScan 时，FastScan ⾸先读⼊、解释并检查门级⽹表和⼀个DFT 库。
《数字系统测试与可测试性设计基础》结课论文
《数字系统测试与可测性设计基础》结课论文题目：基于测试向量重组的VLSI低功耗测试算法基于测试向量重组的VLSI低功耗测试算法摘要：随着集成电路集成度和时钟频率的大幅度提高，测试功耗和测试时间急剧增加，这便成为集成电路测试中亟待解决的问题。
本文在课本所学知识的基础上，对当前流行的几种集成电路测试算法进行了简要介绍，并着重探讨了基于测试向量重组的低功耗测试算法。
关键字：低功耗测试；汉明间距；重组算法Abstract：With the rapid development of integrated circuits and increased clock frequency, the power consume and test time become an urgent problem to solve. Based on the knowledge that learned in class, this article introduces a few algorithms briefly, and talks about the low-power test algorithm based on test vectors reordering in detail.Key words:low test power；Hamming Distance；reordering algorithm1.引言近些年来，随着电路集成度和制造工艺的进步，与之相关的集成电路测试复杂度和测试功耗也越来越高。
集成电路的测试功耗不仅会使系统可靠性降低，成品率下降，还会减少电路寿命。
与此同时，集成电路的测试功耗会直接反映在其热损耗上，而且需要昂贵的冷却技术和负载与之匹配，从而极大地增加了电路的成本。
所以，在集成电路可测试性设计中，考虑如何降低测试功耗是当前新的研究热点和研究领域。
集成电路测试，就是生成一组被称为测试向量的二进制向量，将其输入到电路系统中，观察由此产生的输出响应，并与预期的正确结果进行比较，一致就表示系统正常，不一致则表示系统有故障。
基于可测性测度的蚂蚁路径ATPG算法
基于可测性测度的蚂蚁路径ATPG算法
吴建新;容太平
【期刊名称】《实验室研究与探索》
【年(卷),期】2008(027)011
【摘要】电路集成度和复杂度的不断增加使得电路的故障诊断越来越困难.该文在蚂蚁路径ATPG算法的基础上,引入了电路设计中的可测性分析理论,以四值动态代价分析方法(FDCM)作为蚂蚁路径搜索过程中的智能引导启发函数,实现了对原型算法的加速,并通过实验验证了该算法的良好性能.
【总页数】4页(P17-19,84)
【作者】吴建新;容太平
【作者单位】华中科技大学,电子与信息工程系,湖北,武汉,430074;华中科技大学,电子与信息工程系,湖北,武汉,430074
【正文语种】中文
【中图分类】TP206.3
【相关文献】
1.一种基于动态可测性测度的快速识别逻辑冗余故障的方法—DRFM [J], 曾芷德
2.基于蚂蚁导航的未知环境下机器人路径滚动规划算法 [J], 徐守江
3.基于改进的启发式蚂蚁算法求解最短路径 [J], 连懿;王成雷;何龙;曾晓明;崔铁军;陈磊
4.基于最好最差蚂蚁路径差异的奖惩蚁群算法 [J], 李新超
5.基于ATPG的可测性设计在RSIC CPU的应用 [J], 周显文;吕炳朝;石岭
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《数字系统测试与可测性设计》实验指导书（二）实验教师：2012年4月9日I．实验名称和目的实验名称：ATPG应用实验目的：了解Mentor公司的FastScan-(ATPG生成工具)业界最杰出的测试向量自动生成工具。
了解测试各种基准电路的标准输入格式，运用FastScan工具生成测试向量。
深入理解单固定故障模型相关概念。
II．实验前的预习及准备工作：1、充分理解课堂上学习的故障模型相关概念。
2、Mentor公司的测试相关工具的介绍缩略语清单：ATPG ：Automatic Test Pattern GenerationATE ：Automated Test EquipmentBIST ：Built In Self TestCUT ：Chip/Circuit Under TestDFT ：Design For TestabilityDRC ：Design Rule Check ingPI ：Primary InputPO ：Primary Output组合ATPG生成工具FastScanFastScan是业界最杰出的测试向量自动生成（ATPG）工具，为全扫描IC设计或规整的部分扫描设计生成高质量的测试向量。
FastScan支持所有主要的故障类型，它不仅可以对常用的Stuck-at模型生成测试向量，还可针对transition模型生成at-speed测试向量、针对IDDQ模型生成IDDQ测试向量。
此外FastScan还可以利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。
另外，FastScan MacroTest模块支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成。
针对关键时序路径，Fastscan CPA模块可以进行全面的分析。
主要特点：•支持对全扫描设计和规整的部分扫描设计自动生成高性能、高质量的测试向量；•提供高效的静态及动态测试向量压缩性能，保证生成的测试向量数量少，质量高；•支持多种故障模型：stuck-at、toggle、transition、critical path和IDDQ;•支持多种扫描类型：多扫描时钟电路，门控时钟电路和部分规整的非扫描电路结构；•支持对包含BIST电路，RAM/ROM和透明Latch的电路结构生成ATPG；•支持多种测试向量类型：Basic,clock-sequential,RAM-Sequential,clock PO,Multi-load; •利用简易的Procedure文件，可以很方便地与其他测试综合工具集成；•通过进行超过140条基于仿真的测试设计规则检查，保证高质量的测试向量生成；•FastScan CPA选项支持at-speed测试用的路径延迟测试向量生成；•FastScan MacroTest 选项支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成；•FastScanDiagnostics 选项可以通过分析ATE 机上失败的测试向量来帮助定位芯片上的故障；•ASICVector Interfaces 选项可以针对不同的ASIC 工艺与测试仪来生成测试向量； 最新的ATPG Accelerator 技术可以支持多CPU 分布式运算；•智能的 ATPG 专家技术简单易用，用户即使不懂ATPG ，也能够由工具自动生成高质量的测试向量；•支持32位或64位的UNIX 平台（Solaris,HP-PA)及LINUX 操作平台；FastScan 的A TPG 流程由上图可知，在启动FastScan 时，FastScan 首先读入、解释并检查门级网表和一个DFT 库。
如果遇到问题，FastScan 会退出并发布一个消息。
如果没有遇到问题，FastScan 直接进入到配置(Setup)模式。
在配置模式，可以使用交互方式或者使用Dofile 批处理方式，来建立关于电路和扫描的基本信息，以及指定在设计展平(flattening)阶段时影响生成仿真模型的条件。
完成所有配置后，退出配置模式就直接进入到DRC 检查阶段，进行DRC 检查。
如果检查通过，那么直接进入到A TPG 模式。
进入A TPG 模式后由上图可看出，有四个过程：生成错误列表，生成测试模式，压缩测试模式和储存测试向量。
FastScan 的输入需要以下几个文件：带Scan chain的电路网表，库描述文件和FastScan的三个控制文件(*.dofile，*.testproc，Timplate)，下面分别进行详细解释。
1.电路网表(*.v)已经带有扫描链的Verilog格式的网表。
2.库描述文件(fs_lib)用于连接厂家提供的Mentor模型库。
3.timeplate文件timeplate文件描述了ATPG向量中各时间点(输入跳变点，输出取样点，时钟沿位置，周期等) timescale 和测试过程文件(procedure file)文件名，可以根据需要加以修改。
FastScan是以事件为基础的。
其时序模型是基于以测试周期划分事件的，主要包含了下列一些事件：force_pi：对PI(Primary Input)输入值。
measure_po：测量PO(Primary Output)的输出值。
capture_clock_on：把捕获时钟打开。
capture_clock_off：把捕获时钟关闭。
ram_clock_on：把用于读写RAM的时钟打开。
ram_clock_off：把用于读写RAM的时钟关闭。
其基本格式如下：timeplate “timeplate_nam e”=timeplate_statemen t;...end;以下是一个实例：// Example Timeplare// 指定了以后所有的时间单位为纳秒(ns)，刻度为1，这一步是必须的。
set time scale 1nS;// 指定采样(strobe)窗口的宽度为1，由于前面定义了时间刻度为1ns，所以strobe 窗口实际宽度为1nsset strobe_window time 1;// 定义了名字为tp0的timeplate文件timeplate "tp0" =// 定义了在0时刻对PI输入force_pi 0;// 定义了在80时刻对PO采样measure_po 80;// 定义了在100时刻把捕获时钟打开capture_clock_on 100;// 定义了在120时刻把捕获时钟关闭capture_clock_off 120;// 定义了周期为200，即在200时刻所有动作结束，重新开始新一周期动作period 200;end;// 指定后面要用到的测试过程文件名为design.testproc，scan group名为grp1set procedure file "grp1" "design.testproc";4.design.dofile.dofile文件主要是Mentor提供的一个批处理文件，可以自动控制FastScan的操作。
下列design.dofile中主要描述了Scan chain的组成管脚和group定义(见下例中add scan chains 命令和add scan group命令)。
时钟的定义及其值，由于FastScan认为所有改变时序元件的状态的信号都为时钟，包括了复位信号，置位信号和系统时钟信号等。
reset信号表示为时钟，其值赋为无效电平。
在测试状态下需要保持恒定逻辑值的管脚如TEST_ENABLE，测试覆盖率的设定。
//sample .dofile// 定义了scan groupadd scan groups grp1 design.testproc// 定义了Scan chain的组成管脚add scan chains chain1 grp1 SCAN_IN SCAN_OUT// 使RESET信号无效add clocks 1 RESET// 使SCAN_CLOCK信号有效add clocks 0 SCAN_CLOCK// 设置TEST_ENABLE为恒1add pin constraints TEST_ENABLE C1// 设置最大覆盖率set atpg li -test_coverage 905.测试过程文件(*.testproc)测试过程文件定义了扫描电路的操作，主要包括时钟的定义和一些管脚的逻辑值设定，可以手工生成，也可自动生成。
测试过程文件仅仅包含了扫描相关事件的时序信息，然而ATPG过程本身不需要测试过程文件来包含实际时序信息，自动测试设备(ATE)和某些仿真器需要这些信息。
因此必须修改用于ATPG的测试过程文件来包含实际时序信息。
定义了扫描电路的操作。
测试过程文件有自己的规则如：每一句必须占一单行，双斜杠//后面的内容都是注释，所有语句必须在procedure和end之间，可以有空白行等等。
其基本格式如下：procedure <procedure_type> <procedure_name>=procedure_statemen t;...end;在一个测试过程文件中通常有以下几个过程：•Test_Setup(optional)这个过程用来为Load_Unload过程设置非扫描元件的状态。
如果在设置了管脚约束之后运行ATPG，需要在这个过程中限制这些管脚，否则FastScan自动会为你限制这些管脚，但可能会导致时序冲突。
在下面这个实例中，设置了SCAN_ENABLE和TEST_ENABLE的初始值，并定义了周期。
procedure test_setup =// at time 0 force the SCAN_ENABLE a value of 0force SCAN_ENABLE 0 0;// at time 0 force the TEST_ENABLE a value of 1force TEST_ENABLE 1 0;// 表明整个周期在400ns结束，即周期为400nsperiod 400;end;•Shift(required)这个过程描述了如何通过翻转时钟，在输入端输入值以及采样输出端等方式来将数据顺着扫描链移动一个位置。
其数据流向如下图：ͼ1 移位过程在这个过程中，必须要包括force命令，force_sci命令(或者force_sci_equiv命令)和measure_sco命令。
在下面这个实例中，定义了一个典型扫描移位操作。
由于我们前面定义了时间刻度为1ns ，所以在测试过程文件中所有的时间都以1ns 为刻度，即所有时间数字都倍乘1ns 。
procedure shift =// force scan chain input at time 20nsforce_sci 20;// measure scan chain output at time 40nsmeasure_sco 40;// pulse the clockforce cp.0 1 100;force cp.0 0 200;// a unit of dead time for stabilityperiod 400;end;针对上面实例的详细时序见下图：ͼ1 移位过程时序显然在这个过程包含了四个扫描事件：在20ns 时刻输入，在40ns 采样，时钟在100ns 变为1，在200ns 变为0，周期为400ns 。