VMOS场效应管的检测方法

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VMOS场效应管的参数型号检测及制作小功放电路

VMOS场效应管的参数型号检测及制作小功放电路

VMOS场效应管的参数型号检测及制作小功放电路VMOS场效应管的参数型号检测及制作小功放VMOS场效应管既有电子管的优点又有晶体管的优点,用它制作的功率放大器声音醇厚、甜美,动态范围大、频率响应好,因此近年来在音响设备中得到了广泛应用。

大功率的场效应管功率放大器,电.路比较复杂,制作和调试难度也较大,并且.成本也很高,所以不太适合初学者制作。

下面介绍的这款VMOS场效应管小功放,电路非常简单,制作调试也很容易,十分适合初学的爱好者。

只要所用元器件良好,电路·焊接正确,就可一举成功,并且音质也相当不错。

本机的缺点是输出功率略显小了一点(约3W~4W),但用作MP4/ target=_blank class=infotextkey>MP3、手机等数码音乐的播放还是非常适用的。

电路圈只画出一个声道,另一声道完全相同,电源部分共用。

一.电路简介电路见附图,输出级采用典型的单端甲类放大电路,由于在输人信号的全部范围内,甲类放大器都处于线性区,同时单端放大器不存在对称问题,所以非线性失真极小。

因为场效应管是电压控制器件,输出级所需要的推动功率较小,所以推动级也很简单,由一只结型场效应管担任。

功率输出端通过输出变压器耦台输出,音乐韵味和电子管功放相似。

二、场效应管的检测在业余条件下,爱好者可以用指针式万能表的电阻挡对管子作简单的测试,粗略判断管子的好坏。

BG1结型场效应管采用3DJ6、3DJ7等,测试时用RxlK或R×100Ω挡测量栅极与源极、栅极与漏极的正反向电阻,正向阻值都应在SkΩ—lOkΩ左右,反向阻值应无穷大。

测量源极与漏极电阻,正反向阻值应对称,当人手靠近栅极时,有感应现象,表针摆动;感应越大,说明跨导越大。

源极和漏极可以互换使用。

BG2VMOS场效应管采用V40AT、VN66AF、IRF132、2SK134等,当测量栅极与源极或者栅极与漏极之间的正反向电阻时,阻值均应无穷大,依此可先找到栅极。

VMOS大功率场效应晶体管判别各电极与管型

VMOS大功率场效应晶体管判别各电极与管型

VMOS大功率场效应晶体管判别各电极与管型用万用表R×100档,测量场效应晶体管任意两引脚之间的正、反向电阻值。

其中一次测量中两引脚的电阻值为数百欧姆,这时两表笔所接的引脚为源极S和漏极D,而另一引脚为栅极G。

再用万用表R×10k档测量两引脚(漏极D 与源极S)之间的正、反向电阻值。

正常时,正向电阻值为2kΩ左右,反向电阻值大于500kΩ。

在测量反向电阻值时,红表笔所接引脚不动,黑表笔脱离所接引脚后,先与栅极G触碰一下,然后再去接原引脚,观察万用表读数的变化情况。

若万用表读数由原来较大阻值变为0,则此红表笔所接的即是源极S,黑表笔所接为漏极D。

用黑表笔触发栅极G有效,说明该管为N沟道场效应管。

若万用表读数仍为较大值,则黑表笔接回原引脚不变,改用红表笔去触碰栅极G后再接回原引脚,若此时万用表读数由原来阻值较大变为0,则此时黑表笔接的为源极S,红表笔接的是漏极D。

用表红笔触发栅极G有效,说明该管为P沟道场效应晶体管。

场管测量

场管测量

一、用指针式万用表对场效应管进行判别(1)用测电阻法判别结型场效应管的电极根据场效应管的PN结正、反向电阻值不一样的现象,可以判别出结型场效应管的三个电极。

具体方法:将万用表拨在R×1k档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。

当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。

因为对结型场效应管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。

也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行)任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。

当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。

若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。

若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试,直到判别出栅极为止。

(2)用测电阻法判别场效应管的好坏测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同场效应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。

具体方法:首先将万用表置于R×10或R×100档,测量源极S与漏极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的),如果测得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大,可能是内部断极。

然后把万用表置于R×10k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。

要注意,若两个栅极在管内断极,可用元件代换法进行检测。

(3)用感应信号输人法估测场效应管的放大能力具体方法:用万用表电阻的R×100档,红表笔接源极S,黑表笔接漏极D,给场效应管加上1.5V的电源电压,此时表针指示出的漏源极间的电阻值。

场效应管的测量方法

场效应管的测量方法

场效应管的测量方法
场效应管的测量方法一般包括以下几个步骤:
1. 确定引脚:首先要确认场效应管的引脚布置,一般有栅极(G)、源极(S)和漏极(D)三个引脚。

2. 确定测试电路:选择适当的测试电路来测量场效应管的性能。

常见的测试电路包括单端共源(Common Source)、单端共漏(Common Drain)和单端共栅(Common Gate)等。

3. 测量电流和电压:在选定的测试电路上,通过恰当的电压源和电流源,分别在引脚上施加适当的电压和电流进行测量。

常用的测量参数有栅极-源极电压(Vgs)、漏极-源极电压(Vds)和漏极电流(Ids)等。

4. 测量曲线:根据测量电流和电压的数据,绘制出I-V特性曲线。

常见的曲线有输入特性曲线和输出特性曲线等。

5. 性能分析:根据测得的曲线数据对场效应管进行性能分析,如确定场效应管的增益、截止频率以及最大功率等。

需要注意的是,在测量场效应管时,要特别注意避免超过场效应管的最大电压和电流规格,以防止损坏设备。

同时,在测量之前也需要对测量电路进行合理的连
接和参数设置。

场效应管的测量方法

场效应管的测量方法

场效应管的测量方法场效应管检测方法与经验MOS场效应管的输人电阻高,栅极G允许的感应电压不应过高,所以不要直接用手去捏栅极,必须用于握螺丝刀的绝缘柄,用金属杆去碰触栅极,以防止人体感应电荷直接加到栅极,引起栅极击穿。

一、用指针式万用表对场效应管进行判别(1)用测电阻法判别结型场效应管的电极根据场效应管的PN结正、反向电阻值不一样的现象,可以判别出结型场效应管的三个电极。

具体方法:将万用表拨在R×1k档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。

当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。

因为对结型场效应管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。

也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行)任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。

当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。

若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。

若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试h,直到判别出栅极为止。

(2)用测电阻法判别场效应管的好坏测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同场效应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。

具体方法:首先将万用表置于R×10或R×100档,测量源极S与漏极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的),如果测得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大,可能是内部断极。

然后把万用表置于R×10k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。

VMOS场效应管

VMOS场效应管

VMOS场效应管VMOS场效应管(VMOSFET)简称VMOS管或功率场效应管,其全称为V 型槽MOS场效应管。

它是继MOSFET之后新发展起来的高效、功率开关器件。

它不仅继承了MOS场效应管输入阻抗高(≥108Ω)、驱动电流小(0.1μA 左右),还具有耐压高(最高可耐压1200V)、工作电流大(1.5A~100A)、输出功率高(1~250W)、跨导的线性好、开关速度快等优良特性。

正是由于它将电子管与功率晶体管之优点集于一身,因此在电压放大器(电压放大倍数可达数千倍)、功率放大器、开关电源和逆变器中正获得广泛应用。

众所周知,传统的MOS场效应管的栅极、源极和漏极大致处于同一水平面的芯片上,其工作电流基本上是沿水平方向流动。

VMOS管则不同,其两大结构特点:第一,金属栅极采用V型槽结构;第二,具有垂直导电性。

由于漏极是从芯片的背面引出,所以ID不是沿芯片水平流动,而是自重掺杂N+区(源极S)出发,经过P沟道流入轻掺杂N-漂移区,最后垂直向下到达漏极D。

因为流通截面积增大,所以能通过大电流。

由于在栅极与芯片之间有二氧化硅绝缘层,因此它仍属于绝缘栅型MOS场效应管。

VMOS场效应管的检测方法(1)判定栅极G将万用表拨至R×1k档分别测量三个管脚之间的电阻。

若发现某脚与其它两脚的电阻均呈无穷大,并且交换表笔后仍为无穷大,则证明此脚为G 极,因为它和另外两个管脚是绝缘的。

(2)判定源极S、漏极D在源-漏之间有一个PN结,因此根据PN结正、反向电阻存在差异,可识别S极与D极。

用交换表笔法测两次电阻,其中电阻值较低(一般为几千欧至十几千欧)的一次为正向电阻,此时黑笔的是S极,红笔接D极。

(3)测量漏-源通态电阻RDS(on)将G-S极短路,选择万用表的R×1档,黑表笔接S极,红表笔接D极,阻值应为几欧至十几欧。

由于测试条件不同,测出的RDS(on)值比手册中给出的典型值要高一些。

例如用500型万用表R×1档实测一只IRFPC50型VMOS管,RDS (on)=3.2W,大于0.58W(典型值)。

用万用表测量场效应管

用万用表测量场效应管

用万用表测量场效应管用万用表测量(试)vmos功率场效应管1、判断引脚极性(电极)万用表复置r×1k档,分别测试三个电极间的阻值,如果其中—脚与另两脚间的电阻为无穷大,且互换表笔测试仍—样.表明这—脚为栅极g。

由图1(b)可以窥见,源、漏极之间相等于一个pn结,测量其正、逆向电阻,以阻值较小(约几千欧)的那次为依据,白表笔接的是源极(p型)s,白表笔直奔的就是漏极(n型)d,对n导线vmos管推论恰好相反。

通常vmos管曲面极d与外壳(或散热片)就是连在一起的,这就是更容易区分凿、源两电极了。

图1vmos功率场效应管外形及内部结构示意图①万Weinreb复置r×1k档,先短路一下栅-源极,泄压下栅极上感应器的电荷,然后用黑表笔接s,白表笔接d,例如测到的阻值在几千欧,再短接—之下g、s后互换表笔测得阻值为无穷大,表明管子凿、源极间pn结是不好的。

②用导线将g、s短路起来,万用表置r×1档,黑表笔接s,红表笔接d,如测得的阻值在几欧姆,说明管子是好的,并且阻值越小,还说明管子的放大能力越强。

其判断理由是:将g、s极短路并用黑表笔接源极s时,就相当于给栅极加上了正偏压,这个正电压产生的电场会把源极n+型和p沟道区内的电子吸附到氧化膜的表面,从而分离出大量的空穴参予导电,使电流剧增,电阻减小。

③万用表复置r×10档,分别测量g-s、g-d极间的两极向电阻,如果都为无穷大,表明管于是不好的,否则表明栅极与漏、源极间存有漏电或者打穿损毁。

对于n导线管互换表笔测试即可。

3、放大能力(跨导)的测量vmos管及的压缩能力(跨导)的测量可以参照《绝缘栅场效应管的测量》一文中关于mos管压缩能力的测试方法。

场效应管好坏测量方法

场效应管好坏测量方法

场效应管好坏测量方法场效应管是一种常用的半导体器件,广泛应用于放大、开关、滤波等电路中。

场效应管的好坏直接影响到整个电路的性能,因此对场效应管进行准确的测量和评估是非常重要的。

本文将介绍几种常用的场效应管好坏测量方法,希望能为大家提供一些参考。

首先,我们可以通过静态参数来评估场效应管的好坏。

静态参数包括漏极电流、饱和电流、开启电压等。

通过测量这些参数,我们可以初步了解场效应管的基本性能。

漏极电流是指在一定的栅极电压下,场效应管的漏极-源极间的电流,它反映了场效应管的导通能力。

饱和电流是指在一定的栅极电压下,场效应管的漏极-源极间的最大电流,它反映了场效应管的最大导通能力。

开启电压是指在一定的漏极电流下,场效应管的栅极电压,它反映了场效应管的导通起始点。

通过测量这些参数,我们可以初步判断场效应管的好坏。

其次,我们可以通过动态参数来评估场效应管的好坏。

动态参数包括开关时间、导通电阻、截止频率等。

开关时间是指场效应管从截止到导通或者从导通到截止所需要的时间,它反映了场效应管的开关速度。

导通电阻是指场效应管在导通状态下的电阻大小,它反映了场效应管的导通能力。

截止频率是指场效应管在高频条件下的截止频率,它反映了场效应管在高频条件下的性能。

通过测量这些参数,我们可以更全面地评估场效应管的好坏。

最后,我们可以通过温度特性来评估场效应管的好坏。

温度特性是指场效应管在不同温度下的性能表现。

由于场效应管在实际应用中会受到温度的影响,因此了解场效应管在不同温度下的性能表现对于评估其好坏非常重要。

通过测量场效应管在不同温度下的静态和动态参数,我们可以更准确地评估场效应管的好坏。

综上所述,对场效应管进行好坏测量是非常重要的。

我们可以通过静态参数、动态参数和温度特性来评估场效应管的好坏。

通过准确的测量和评估,我们可以更好地选择和应用场效应管,从而提高电路的性能和稳定性。

希望本文介绍的方法能够帮助大家更好地了解和应用场效应管。

场效应管好坏的简单判断方法

场效应管好坏的简单判断方法

一、用指针式万用表对场效应管进行判别(1)用测电阻法判别结型场效应管的电极根据场效应管的PN结正、反向电阻值不一样的现象,可以判别出结型场效应管的三个电极。

具体方法:将万用表拨在R×1k档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。

当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。

因为对结型场效应管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。

也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行)任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。

当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。

若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。

若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试,直到判别出栅极为止。

(2)用测电阻法判别场效应管的好坏测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同场效应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。

具体方法:首先将万用表置于R×10或R×100档,测量源极S与漏极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的),如果测得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大,可能是内部断极。

然后把万用表置于R×10k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。

要注意,若两个栅极在管内断极,可用元件代换法进行检测。

(3)用感应信号输人法估测场效应管的放大能力具体方法:用万用表电阻的R×100档,红表笔接源极S,黑表笔接漏极D,给场效应管加上1.5V的电源电压,此时表针指示出的漏源极间的电阻值。

VMOS场效应管基础知识及检测方法

VMOS场效应管基础知识及检测方法

VMOS场效应管基础知识及检测方法VMOS(Vertical Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,垂直金属-氧化物-半导体场效应晶体管)是一种特殊的场效应晶体管。

与传统的MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)相比,VMOS的结构更加紧凑,具有更高的功率密度和更低的开通电阻。

本文将介绍VMOS场效应管的基础知识和检测方法。

一、VMOS场效应管的基础知识1.结构与工作原理2.优点与应用3.特征参数二、VMOS场效应管的检测方法1.静态参数测量静态参数是指在没有交流信号作用下,对场效应管进行直流参数测量的过程。

-零门源电流(IDSS):将栅极与源极短接,通过漏极施加一定的电压,可以测量到的漏极电流即为零门源电流。

其值越大,场效应管的增益越高。

-零栅源电压漏极电流(IGSS):在零栅源电压下,测量出的漏极电流即为零栅源电压漏极电流。

其值越小,场效应管的绝缘性能越好。

-耗散功率(PD):在一定的漏源电压下,测量出的场效应管的耗散功率。

其值应小于最大耗散功率,以保证场效应管的安全工作。

-开通电阻和关断电阻:通过测量开通电压和电流,关断电压和电流,可以计算出场效应管的开通电阻和关断电阻。

开通电阻应尽可能小,关断电阻应尽可能大。

2.动态参数测量动态参数是指在有交流信号作用下,对场效应管进行参数测量的过程。

动态参数测量通常需要示波器等测试仪器,以下是几个常用的动态参数测量方法:-开通和关断时间:通过示波器观察开通时间和关断时间,可以评估场效应管的开关速度。

-频率响应:通过给场效应管施加一定频率的信号,测量输出的电压和电流,可以评估场效应管的频率响应能力。

-功率增益:通过测量输入和输出的电压和电流,可以计算功率增益,评估场效应管的放大能力和功率损耗。

总结起来,VMOS场效应管的检测方法包括静态参数测量和动态参数测量。

静态参数测量主要包括零门源电流、零栅源电压漏极电流、耗散功率以及开通电阻和关断电阻的测量。

VMOS场效应管基础知识及检测方法

VMOS场效应管基础知识及检测方法

VMOS场效应管基础知识及检测方法VMOS(Vertical Metal-Oxide-Semiconductor)场效应管是一种特殊类型的场效应管。

它具有垂直结构和金属-氧化物-半导体器件的特点。

本文将介绍VMOS场效应管的基础知识以及常见的检测方法。

1.VMOS场效应管的基础知识VMOS场效应管由垂直结构的N型沟道和PN结构的壳结构组成。

其结构可分为漏极、源极、栅极和底座四部分。

漏极和源极是栅极的两侧,其中沟道绝缘层上形成了沟道结构。

应用正向偏压时,沟道导通,电流流经漏极和源极;应用反向偏压时,沟道断开,电流无法流过。

VMOS场效应管的主要特点有以下几点:-较低的电流漏失:由于沟道呈直线结构,电流在沟道中流动的路径更短,从而减小了电流的漏失。

-高阻断电压:由于底座厚度的增加,VMOS场效应管能够承受更高的阻断电压。

-高速驱动特性:由于栅极距沟道较近,栅极控制能力强,提高了开关速度。

-低导通电阻:VMOS场效应管具有较低的导通电阻,减小了功率损耗。

2.VMOS场效应管的检测方法-观察外观:首先检查VMOS场效应管的外观,观察是否有焊点断裂、外壳破损等情况。

-测试管子是否短路:使用万用表的二极管测试功能,将正极接到栅极,负极接到漏极或源极,观察测试结果。

正常情况下,只有漏极和源极之间的电导很小,其他管子应该是正向断路的。

-测试管子是否导通:同样使用万用表的二极管测试功能,将正极接到栅极,负极接到漏极或源极。

正常情况下,只有当正负极交叉接到栅极和漏极(或源极)时,才会出现导通现象。

-测试漏极、源极和栅极之间的电阻:使用万用表的电阻测试功能,测量漏极和源极之间的电阻以及漏极和栅极之间的电阻。

正常情况下,漏极和源极之间的电阻应该为无穷大,漏极和栅极之间的电阻应该很大。

-漏极和源极之间的主极工作电流测试:可以使用数字万用表的电流测量功能,将正极接到漏极(或源极),负极接到源极(或漏极),通过测量电流来判断是否存在漏极和源极之间的短路。

测量MOS管好坏方法

测量MOS管好坏方法

一、用指针式万用表对场效应管进行判别(1)用测电阻法判别结型场效应管的电极根据场效应管的PN结正、反向电阻值不一样的现象,可以判别出结型场效应管的三个电极。

具体方法:将万用表拨在R×1k档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。

当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。

因为对结型场效应管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。

也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行)任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。

当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。

若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。

若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试,直到判别出栅极为止。

(2)用测电阻法判别场效应管的好坏测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同场效应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。

具体方法:首先将万用表置于R×10或R×100档,测量源极S与漏极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的),如果测得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大,可能是内部断极。

然后把万用表置于R×10k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。

要注意,若两个栅极在管内断极,可用元件代换法进行检测。

(3)用感应信号输人法估测场效应管的放大能力具体方法:用万用表电阻的R×100档,红表笔接源极S,黑表笔接漏极D,给场效应管加上1.5V的电源电压,此时表针指示出的漏源极间的电阻值。

VMOS场效应管的检测方法

VMOS场效应管的检测方法

VMOS场效应管的检测方法VMOS 场效应管(VMOSFET)简称VMOS 管或功率场效应管,其全称为V 型槽MOS 场效应管。

它是继MOSFET 之后新发展起来的高效、功率开关器件。

它不仅继承了MOS 场效应管输入阻抗高(≥108W)、驱动电流小(左右0.1μA左右),还具有耐压高(最高可耐压1200V)、工作电流大(1.5A~100A)、输出功率高(1~250W)、跨导的线性好、开关速度快等优良特性。

正是由于它将电子管与功率晶体管之优点集于一身,因此在电压放大器(电压放大倍数可达数千倍)、功率放大器、开关电源和逆变器中正获得广泛应用。

众所周知,传统的MOS 场效应管的栅极、源极和漏极大大致处于同一水平面的芯片上,其工作电流基本上是沿水平方向流动。

VMOS 管则不同,从左下图上可以看出其两大结构特点:第一,金属栅极采用V 型槽结构;第二,具有垂直导电性。

由于漏极是从芯片的背面引出,所以ID 不是沿芯片水平流动,而是自重掺杂N+区(源极S)出发,经过P 沟道流入轻掺杂N-漂移区,最后垂直向下到达漏极D。

电流方向如图中箭头所示,因为流通截面积增大,所以能通过大电流。

由于在栅极与芯片之间有二氧化硅绝缘层,因此它仍属于绝缘栅型MOS 场效应管。

国内生产VMOS 场效应管的主要厂家有877 厂、天津半导体器件四厂、杭州电子管厂等,典型产品有VN401、VN672、VMPT2 等。

表1 列出六种VMOS 管的主要参数。

其中,IRFPC50 的外型如右上图所示。

VMOS 场效应管的检测方法(1).判定栅极G将万用表拨至R×1k档分别测量三个管脚之间的电阻。

若发现某脚与其字两脚的电阻均呈无穷大,并且交换表笔后仍为无穷大,则证明此脚为G 极,因为它和另外两个管脚是绝。

检测MOS管五种方法

检测MOS管五种方法

检测MOS管五种方法MOS管是金属—氧化物-半导体场效应晶体管,或者称是金属—绝缘体—半导体。

MOS管因导通压降下,导通电阻小,栅极驱动不需要电流,损耗小,价格便宜等优点在电子行业深受人们的喜爱与追捧。

但是一些厂商的技术不成熟导致MOS管市场良莠不齐。

那么如何对MOS管进行检测呢?华碧实验室为大家分享检测MOS管的5种方法。

一、用测电阻法判别MOS管的电极根据MOS管的PN结正、反向电阻值不一样的现象,可以判别出MOS管的三个电极。

具体方法:将万用表拨在R×1k档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。

当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。

因为对MOS管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。

也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行)任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。

当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。

若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。

若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试,直到判别出栅极为止。

二、用测电阻法判别MOS管的好坏测电阻法检测MOS管是用万用表测量MOS管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同MOS管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。

具体方法:首先将万用表置于R×10或R×100档,测量源极S与漏极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的),如果测得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大,可能是内部断极。

然后把万用表置于R×10k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。

【最新】场效应管测量方法

【最新】场效应管测量方法

【最新】场效应管测量方法下面是对场效应管的测量方法场效应管英文缩写为FET.可分为结型场效应管(JFET)和绝缘栅型场效应管(MOSFET),我们平常简称为MOS管.而MOS管又可分为增强型和耗尽型而我们平常主板中常见使用的也就是增强型的MOS管.下图为MOS管的标识我们主板中常用的MOS管G D S三个引脚是固定的。

不管是N沟道还是P沟道都一样。

把芯片放正。

从左到右分别为G极D极S极!如下图:用二极管档对MOS管的测量。

首先要短接三只引脚对管子进行放电。

1然后用红表笔接S极.黑表笔接D极.如果测得有500多的数值..说明此管为N沟道..2黑笔不动..用红笔去接触G极测得数值为1.3红笔移回到S极.此时管子应该为导通...4然后红笔测D极.而黑笔测S极.应该测得数值为1.(这一步时要注意.因为之前测量时给了G极2.5V万用表的电压..所以DS之间还是导通的..不过大概10几秒后才恢复正常...建议进行这一步时再次短接三脚给管子放电先)5然后红笔不动.黑笔去测G极..数值应该为1到此我们可以判定此N沟道场管为正常有的人说后面两步可以省略不测...不过我习惯性把五个步骤全用上。

当然.对然P沟道的测量步骤也一样...只不过第一步为黑表笔测S极.红表笔测D极..可以测得500多的数值...测量方法描述到此结束....场效应管测量方法绝缘栅型场效应管(MOSFET)除了放大能力稍弱,在导通电阻、开关速度、噪声及抗干扰能力等方面较双极型三极管均有着明显的优势。

其中的大多数场效应管管,尤其是功率型场效应管管,内部集成有完好的保护电路,使用起来与双极型三极管一样方便。

不过,保护单元的存在却又使得场效应管内部结构变得更加复杂,测量方法也与传统双极型三极管差不多。

一、基本类型MOS管测试MOS管内部的保护环节有多种类型,这就决定了测量过程存在着多样性,常见的NMOS管内部结构如图1、图2所示。

图1、图2所示NMOS管的D-S间均并联有一只寄生二极管(InternalDiode)。

场效应管检测方法共35页文档

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场效应管检测方法一、用指针式万用表对场效应管进行(1)用测电阻法判别结型场效应管的电极根据场效应管的PN结正、反向电阻值不一样的现象,可以判别出结型场效应管的三个电极。

具体方法:将万用表拨在R×1k档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。

当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。

因为对结型场效应管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。

也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行)任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。

当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。

若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。

若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试,直到判别出栅极为止。

(2)用测电阻法判别场效应管的好坏测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1与栅极G2之间的电阻值同场效应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。

具体方法:首先将万用表置于R×10或R×100档,测量源极S与漏极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的),如果测得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大,可能是内部断极。

然后把万用表置于R×10k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。

要注意,若两个栅极在管内断极,可用元件代换法进行检测。

(3)用感应信号输人法估测场效应管的放大能力具体方法:用万用表电阻的R×100档,红表笔接源极S,黑表笔接漏极D,给场效应管加上1.5V的电源电压,此时表针指示出的漏源极间的电阻值。

场效应管检测方法与经验.

场效应管检测方法与经验.

场效应管检测方法与经验、用指针式万用表对场效应管进行判别(1用测电阻法判别结型场效应管的电极根据场效应管的PN 结正、反向电阻值不一样的现象,可以判别出结型场效应管的三个电极。

具体方法:将万用表拨在R X lk档上,任选两个电极,分别测出其正、反向电阻值。

当某两个电极的正、反向电阻值相等,且为几千欧姆时,则该两个电极分别是漏极D和源极S。

因为对结型场效应管而言,漏极和源极可互换,剩下的电极肯定是栅极G。

也可以将万用表的黑表笔(红表笔也行任意接触一个电极,另一只表笔依次去接触其余的两个电极,测其电阻值。

当出现两次测得的电阻值近似相等时,则黑表笔所接触的电极为栅极,其余两电极分别为漏极和源极。

若两次测出的电阻值均很大,说明是PN结的反向,即都是反向电阻,可以判定是N沟道场效应管,且黑表笔接的是栅极;若两次测出的电阻值均很小,说明是正向PN结,即是正向电阻,判定为P 沟道场效应管,黑表笔接的也是栅极。

若不出现上述情况,可以调换黑、红表笔按上述方法进行测试,直到判别出栅极为止。

(2用测电阻法判别场效应管的好坏测电阻法是用万用表测量场效应管的源极与漏极、栅极与源极、栅极与漏极、栅极G1 与栅极G2 之间的电阻值同场效应管手册标明的电阻值是否相符去判别管的好坏。

具体方法:首先将万用表置于R X10或R X100档,测量源极S与漏极D之间的电阻,通常在几十欧到几千欧范围(在手册中可知,各种不同型号的管,其电阻值是各不相同的,如果测得阻值大于正常值,可能是由于内部接触不良;如果测得阻值是无穷大可能是内部断极。

然后把万用表置于RXl0k档,再测栅极G1与G2之间、栅极与源极、栅极与漏极之间的电阻值,当测得其各项电阻值均为无穷大,则说明管是正常的;若测得上述各阻值太小或为通路,则说明管是坏的。

要注意,若两个栅极在管内断极,可用元件代换法进行检测。

(3用感应信号输人法估测场效应管的放大能力具体方法:用万用表电阻的R X100档,红表笔接源极S,黑表笔接漏极D,给场效应管加上1.5V的电源电压,此时表针指示出的漏源极间的电阻值。

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VMOS场效应管的检测方法
VMOS场效应管
VMOS场效应管(VMOSFET)简称V MOS管或功率场效应管,其全称为V型槽MOS场效应管。

它是继MOSFET 之后新发展起来的高效、功率开关器件。

它不仅继承了MOS场效应管输入阻抗高(≥108W)、驱动电流小(左右0.1μA 左右),还具有耐压高(最高可耐压1200V)、工作电流大(1.5A~100A)、输出功率高(1~250W)、跨导的线性好、开关速度快等优良特性。

正是由于它将电子管与功率晶体管之优点集于一身,因此在电压放大器(电压放大倍数可达数千
倍)、功率放大器、开关电源和逆变器中正获得广泛应用。

众所周知,传统的MOS场效应管的栅极、源极和漏极大大致处于同一水平面的芯片上,其工作电流基本上是沿水平方向流动。

VMOS管则不同,从左下图上可以看出其两大结构特点:第一,金属栅极采用V型槽结构;第二,具有垂直导电性。

由于漏极是从芯片的背面引出,所以ID不是沿芯片水平流动,而是自重掺杂N+区(源极S)出发,经过P沟道流入轻掺杂N-漂移区,最后垂直向下到达漏极D。

电流方向如图中箭头所示,因为流通截面积增大,所以能通过大电流。

由于在栅极与芯片之间有二氧化硅绝缘层,因此它仍属于绝缘栅型MOS场效应管。

国内生产VMOS场效应管的主要厂家有877厂、天津半导体器件四厂、杭州电子管厂等,典型产品有VN401、VN672、V MPT2等。

表1列出六种V MOS管的主要参数。

其中,IRFPC50的外型如右上图所示。

VMOS场效应管的检测方法
(1).判定栅极G
将万用表拨至R×1k档分别测量三个管脚之间的电阻。

若发现某脚与其字两脚的电阻均呈无穷大,并且交换表笔后仍为无穷大,则证明此脚为G极,因为它和另外两个管脚是绝缘的。

(2).判定源极S、漏极D
由图1可见,在源-漏之间有一个PN结,因此根据PN结正、反向电阻存在差异,可识别S极与D极。

用交换表笔法测两次电阻,其中电阻值较低(一般为几千欧至十几千欧)的一次为正向电阻,此时黑表笔的是S极,红表笔接D极。

(3).测量漏-源通态电阻RDS(on)
将G-S极短路,选择万用表的R×1档,黑表笔接S极,红表笔接D极,阻值应为几欧至十几欧。

由于测试条件不同,测出的RDS(on)值比手册中给出的典型值要高一些。

例如用500型万用表R×1档实测一只IRFPC5
0型VMOS管,RDS(on)=3.2W,大于0.58W(典型值)。

(4).检查跨导
将万用表置于R×1k(或R×100)档,红表笔接S极,黑表笔接D极,手持螺丝刀去碰触栅极,表针应有明显偏转,
偏转愈大,管子的跨导愈高。

注意事项:
(1)VMOS管亦分N沟道管与P沟道管,但绝大多数产品属于N沟道管。

对于P沟道管,测量时应交换表笔的位置。

(2)有少数VMOS管在G-S之间并有保护二极管,本检测方法中的1、2项不再适用。

(3)目前市场上还有一种VMOS管功率模块,专供交流电机调速器、逆变器使用。

例如美国IR公司生产的IRFT001型
模块,内部有N沟道、P沟道管各三只,构成三相桥式结构。

(4)现在市售VNF系列(N沟道)产品,是美国Supertex公司生产的超高频功率场效应管,其最高工作频率fp=120MHz,IDSM=1A,PDM=30W,共源小信号低频跨导gm=2000μS。

适用于高速开关电路和广播、通信设备中。

(5)使用VMOS管时必须加合适的散热器后。

以VNF306为例,该管子加装140×140×4(mm)的散热器后,最大功率才
能达到30W。

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