第七章 扩散与固相反应

第七章 扩散与固相反应

例 题

7-1 试分析碳原子在面心立方和体心立方铁八面体空隙间跳跃情况，并以D ＝γr 2Γ形式写出其扩散系数（设点阵常数为a ）。（式中r 为跃迁自由程；γ为几何因子；Γ为跃迁频率。）

解：在面心立方晶体中，八面体空隙中心在晶胞体心及棱边中心。相邻空隙连线均为[110]晶向，空隙

间距为。因而碳原子通过在平行的[110]晶面之间跳动完成扩散。若取[110]为X 轴、]101[为Y 轴、[001]

为Z 轴，则碳原子沿这三个轴正反方向跳动的机会相等。因此碳原子在平行[110]晶面之间跳动的几率即几何因子γ＝1/6。

在体心立方晶体中，八面体空隙中心在晶胞面心及核边中心，相邻空隙间距为a /2。其连线为[110]晶向，可以认为碳原子通过在平行的[200]晶面之间来完成扩散，取[100]、[010]、[001]为X 、Y 、Z 轴。碳原子沿这三个轴正反方向跳动机会均等，因而碳原子在平行的[200]晶面间跳动的几率γ＝1/6。

在面心立方铁中2261=

=r γ

代入

2

D r γ=Γ

12)2(6122ΓΓa a

D =⨯⨯=面心

在体心立方铁中16γ=2r a =

24)2(6122ΓΓa a D =⨯⨯=体心

7-2 设有一种由等直径的A 、B 原子组成的置换型固溶体。该固溶体具有简单立方的晶体结构，点阵常数a ＝0.3nm ，且A 原子在固溶体中分布成直线变化，在0.12mm 距离内原子百分数由0.15增至0.63。又设A 原子跃迁频率Γ＝10-6s -1，试求每秒内通过单位截面的A 原子数？

解：已知1

6s 101--⨯=Γ，16γ=；nm 30.==a r ；求扩散通量J 。

s cm 105110)1030(612226372---⨯=⨯⨯⨯==..r D Γγ

每cm 3固溶体内所含原子数为

322

3

7cm 1073)10

30(1个⨯=⨯-..

2224

2224212015063

3710148100012

1510148102210s cm ........dc dx J D dc dx ----=

⨯⨯=-⨯=-=⨯⨯⨯=⨯

7-3 制造晶体管的方法之一是将杂质原子扩散进入半导体材料如硅中。假如硅片厚度是0.1cm ，在其中每107个硅原子中含有一个磷原子，而在表面上是涂有每107个硅原子中有400个磷原子，计算浓度梯度（a ）每cm 上原子百分数，（b ）每cm 上单位体积的原子百分数。硅晶格常数为0.5431nm 。

解：由菲克第一定律计算在内部和表面上的原子的百分组成，C i 和C s 分别为内部和表面磷浓度。

%

0399010104101%

10410010400%101001013

53757..-=⨯-⨯=⨯=⨯==⨯=----x C C C s i ∆∆

硅晶体单位晶胞体积

322

37cm 1061)1054310(--⨯=⨯=..V

硅晶体是立方金刚石结构，单位晶胞有8个Si 原子，107个Si 占体积为：

3

16

227

cm 102)1061(8

10--⨯=⨯⨯=.V

每cm 3中原子含量：

3

1816

cm 10005.010

21

个⨯=⨯=

-i C

4

1918

1831816

cm 10995110102100050cm 10210

2400

个个⨯-=⨯-⨯=⨯=⨯=

-...x C C s ∆∆

7-4 已知MgO 多晶材料中Mg 2+离子本征扩散系数（D in ）和非本征扩散系数（D ex ）由下式给出

252486000

0249exp() cm 254500

1210exp() cm ..in ex D RT

D RT -=-

=⨯- （a ） 分别求出25℃和1000℃时，Mg 2+的（D in ）和（D ex ）。

（b ） 试求在Mg 2+的ln D ～1/T 图中，由非本征扩散转变为本征扩散的转折点温度？ 解：（a ）

8625502486000

25 0249exp()16010 cm s

8314298

254500

1210exp()29410 cm s

8314298486000

1000 0249exp()284183141273

.........---=-

=⨯⨯=⨯-=⨯⨯=-=⨯⨯℃℃in ex in D D D 2125160 cm 254500

1210exp()43310s

83141273...---=⨯-=⨯⨯2 cm ex D （b ）非本征扩散与本征扩散转折点温度即为D in ＝D ex 时的温度

55

486000254500

0249exp()1210exp()4860002545001210 ln 9944

0249486000254500

2800K

99448314.......RT RT

RT RT T ---

=⨯-⨯--==--==⨯

计算中假设MgO 是纯净的多晶体，若有微量杂质引入，转折点温度将高于2800K （2527℃）。 7-5 从7-4题所给出的D in 和D ex 式中求MgO 晶体的肖特基缺陷形成焓。若欲使Mg 2+在MgO 中的扩散直至MgO 熔点2800℃时仍是非本征扩散，试求三价杂质离子应有什么样的浓度？

解：从7-4题D in 和D ex 式中可知，发生本征扩散激活能Q 1＝486kJ/mol ，发生非本征扩散激活能Q 2＝254.50kJ/mol 。

从激活能含义：

1Q 2

f m

H H ∆=

+∆

2Q m H ∆＝

△H f 为Schottky 缺陷形成焓；△H m 是Mg 2+离子迁移焓。

△H f /2+254.50＝486.00

△H f ＝（486.00－254.50）×2＝463.00kJ/mol

Mg 2+离子在MgO 晶体中以空位机构扩散。在MgO 中若掺有M 3+，则[]Mg

V ''来自两个方面。

肖杂][][][Mg Mg Mg

V V V ''+''=''

即由掺杂M 3+引起的

杂][Mg

V ''和由本征热缺陷—肖特基缺陷引起的

Mg

[]V ''肖。 Mg 2+通过前一种空位的扩

散为非本征扩散，通过后一种空位的扩散为本征扩散。

掺杂M 3+引起Mg

V ''的缺陷反应如下：

MgO

•23Mg Mg

O M O 2M 3O V ''−−−→++

由上述反应产生的

Mg

V ''即为

杂][Mg

V ''。

当MgO 在熔点时，晶体内Schottky 缺陷浓度为：

4Mg

10161)

3073

31482463000

exp()

2exp(][-⨯=⨯⨯-=-=''..RT

H V f

∆肖

在（7-14）方程中

杂]2[]M [Mg Mg V ''=•

，所以欲使MgO 晶体中直至3073K 仍为非本征扩散。 M 3+浓度为

肖杂][][2]M []M [Mg Mg Mg 3V V ''>''==•+

即

3+44[M ]21161023210..-->⨯⨯=⨯

由此可见，在MgO 晶体中只需混入万分之一杂质，在熔点时发生的是非本征扩散而不是本征扩散。这也是Al 2O 3、MgO 、CaO 等高熔点氧化物不易测到本征扩散的原因。

7-6 若认为晶界的扩散通道宽度一般为0.5nm ，试证明原子通过晶界扩散和晶格扩散的质量之比为

9

10()()gb v D d D -。其中d 为晶粒平均直径；D gb 、D v 分别为晶界扩散系数和晶格扩散系数。