奥林巴斯手持式光谱仪Vanta Element
什么是手持式光谱仪？应用于哪些领域？
什么是手持式光谱仪？应用于哪些领域？什么是手持式光谱仪？手持式光谱仪是一种基于X射线荧光光谱仪光谱分析技术的光谱分析仪器。
该产品性能稳定，使用灵活，可靠性高，维修方便。
今天我们将详细介绍手持式光谱仪产品，希望能帮助用户更好地应用该产品。
当能量高于原子内层结合能的高能X射线与原子碰撞时，放出内层电子，形成空穴，使整个原子系统处于不稳定状态。
当外层的电子跳入空穴时，手持谱仪会将内层的电子驱逐出去，产生空穴。
一旦产生光电子，发射的光子可能会被再次吸收，并从外层的另一个次级光电子发射出去，产生俄歇效应，也称为二次光电效应或非辐射效应。
发射的次级光电子被称为俄歇电子。
当外层电子跃入内空穴时，所释放的能量并不被原子吸收，而是以光子的形式发射出去。
X射线荧光光谱仪的能量等于两个能级之间的能量差。
因此，射线荧光的能量或波长是特征性的，并对应于元素单一。
廉价快速的手持式光谱仪正迅速成为原料药采购质量控制的有力工具。
拉曼光谱是快速鉴定未知化合物的有力工具，例如高纯度化学物质的检测、药物成分的验证和表征聚合物材料。
拉曼光谱的普及主要得益于智能决策软件和现代仪器的光谱库，使其成为一种理想的分子指纹分析技术。
与传统的分子光谱技术不同，拉曼光谱仪可以在生产生活环境或现场实际应用，因为它可以发展产生尖锐而特异的光谱峰，几乎不需要样品预处理或直接影响接触样品。
此外，它还需要具有通过建立透明包装设计材料（如玻璃或塑料）直接相关测试样品的du特创新能力，而不会干扰光谱信息。
如今的拉曼光谱仪正朝着更快、更耐用、更廉价和更小的组件发展，这导致了高性能、便携式和手持式拉曼光谱仪的出现。
，这些手持设备特别适用于药物应用，例如原料药检测、最终产品验证和假药检测。
各种技术的发展促进了手持光谱仪技术的发展，使得该仪器非常适合API 的表征。
这些技术包括先进的制造技术、创新的光学设计、紧凑且高度稳定的探测器、更小的电子产品、触摸屏的发展、计算能力的提高以及使用寿命更长、性能更好的电池。
奥林巴斯光谱分析仪应用领域英文版
奥林巴斯光谱分析仪应用领域英文版Olympus handheld spectrometer has the characteristics of fast, non-destructive and high precision when testing. After years of continuous development and improvement, it has been widely used in all walks of life.The handheld spectrometer is a kind of spectral analysis instrument. Based on XRF spectral analysis technology, when the high-energy X-ray in the inner layer of the atom collides with the atom, an inner electron will be expelled, resulting in a hole, making the whole atomic system in an unstable state. When the electrons in the outer layer jump into the hole, the photons may be absorbed again, and the Auger effect will occur when another secondary photoelectron in the outer layer is expelled, The secondary photoelectrons expelled are called Auger electrons. This is how the handheld spectrometer works.Handheld spectrometers are widely used in metallurgy, geology, nonferrous metals, building materials, commodity inspection, environmental protection, health and other fields, especially in the field of RoHS detection.1. Alloy material analysisAt present, in the field of alloy material testing, it is mainly used for the on-site determination of elementcomposition in metal materials in military, aerospace, steel, petrochemical, electric power, pharmaceutical and other fields. It is an indispensable rapid component identification tool in the industrial and military manufacturing fields with the rise of the world economy.2. Heavy metal detectionIn addition to the traditional alloy material detection, precious metals, ROHS compliance screening, ore analysis, handheld XRF instruments also play an important role in geological exploration and environmental assessment. By analyzing the heavy metal elements in the soil, we can know the mineral distribution and pollution distribution of the whole region.3. Other areasXRF technology can also be used in some new fields, such as wind power and automobile. By detecting the content of metal elements in oil, the wear of bearings can be indirectly reflected.Many new XRF application fields are being developed, which makes XRF technology widely used in various industries. For example, XRF alloy analyzer is also used for welding quality control in the production and manufacturing process of thefactory.。
手持式拉曼光谱仪的使用方法
手持式拉曼光谱仪的使用方法嘿，朋友们！今天咱来聊聊手持式拉曼光谱仪这个神奇的小玩意儿的使用方法。
你可别小瞧它，这玩意儿就像是一个能看穿物质秘密的小侦探！想象一下，它能在瞬间告诉你一个物质的各种信息，是不是超级厉害呀！首先呢，拿到手持式拉曼光谱仪，就像拿到了一把打开知识大门的钥匙。
先得给它装上电池或者接上电源，让它有足够的能量来工作。
这就好比人要吃饱饭才有力气干活儿一样。
然后呢，打开仪器，就像唤醒了一个沉睡的小精灵。
这时候，你要根据你要检测的物质来选择合适的检测模式。
这可不能马虎哦，就像你去参加聚会，得穿合适的衣服一样。
接着，把光谱仪的探头对准要检测的物质，就像瞄准目标的狙击手。
可要拿稳了呀，别晃来晃去的，不然它怎么能准确地获取信息呢。
在检测的过程中，你要耐心等待，就像等待花儿开放一样。
这可不是着急就能行的事儿，得给它足够的时间来分析。
检测完了，你就能看到屏幕上显示出各种数据和图谱啦！这就像是解开了一道谜题，那种满足感，哇塞，真的太棒啦！你可以根据这些信息来判断物质的成分、结构等等。
不过啊，使用手持式拉曼光谱仪也有一些要注意的地方呢。
比如说，要保持仪器的清洁，别让灰尘啊什么的弄脏了它，不然它会不高兴的哟！还有啊，要按照说明书上的要求来操作，可别自己瞎捣鼓，不然它可能会“发脾气”罢工哦！你说，手持式拉曼光谱仪是不是很有趣呀？它能在很多领域发挥大作用呢，比如化学、生物、医学等等。
有了它，我们就能更深入地了解这个世界啦！所以啊，大家可别小看了这个小小的仪器，它可是蕴含着大大的能量呢！只要我们正确地使用它，就能让它为我们服务，为我们解开更多的秘密。
怎么样，是不是迫不及待地想试试啦？赶紧行动起来吧！。
奥林巴斯 E-20 快速参考说明书
Agilent Technologies PSA 和 ESA 系列光谱分析仪一键测量功能指南说明书
User’s and Programmer’s ReferenceVolume 2One-Button Power Measurements PSA and ESA Series Spectrum Analyzers Refer to Volume 1 for core spectrum analyzer information.This manual provides documentation for the following instruments:Agilent Technologies PSA SeriesE4443A (3 Hz - 6.7 GHz)E4445A (3 Hz - 13.2 GHz)E4440A (3 Hz - 26.5 GHz)E4447A (3 Hz - 42.98 GHz)E4446A (3 Hz - 44.0 GHz)E4448A (3 Hz - 50.0 GHz)Agilent Technologies ESA-E SeriesE4402B (9kHz - 3.0GHz)E4404B (9kHz - 6.7GHz)E4405B (9kHz - 13.2GHz)E4407B (9kHz - 26.5GHz)Agilent Technologies ESA-L SeriesE4411B (9kHz- 1.5GHz)E4403B (9kHz - 3.0GHz)E4408B (9kHz - 26.5GHz)Manufacturing Part Number: E4440-90618Supersedes: E4440-90346Printed in USAMarch 2014© Copyright 1999-2014 Agilent Technologies, Inc..Legal InformationThe information contained in this document is subject to change without notice.Agilent Technologies makes no warranty of any kind with regard to this material, including but not limited to, the implied warranties of merchantability and fitness for a particular purpose. Agilent Technologies shall not be liable for errors contained herein or for incidental or consequential damages in connection with the furnishing, performance, or use of this material.Where to Find the Latest InformationDocumentation is updated periodically.•For the latest information about Agilent Technologies PSA Spectrum Analyzers, including firmware upgrades and application information, please visit the following Internet URL:/find/psa•For the latest information about Agilent Technologies ESA Spectrum Analyzers, including firmware upgrades and application information, please visit the following Internet URL:/find/esa•To receive the latest updates by email, subscribe to Agilent Email Updates:/find/emailupdates•Information on preventing spectrum analyzer damage can be found at:/find/tips21. Using This DocumentAbout the User’s and Programmer’s Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26 What is in This Book. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26 Terms Used in This Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. One-Button Measurement FunctionsOne - Button Measurement Functions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30 Mode Setup (Spectrum Analysis Mode) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33 Radio Std. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33 Radio Std Setup. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45 Retain Params . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47 Enable All Measurements. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47 Autorange of Power Setting (Remote command only). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48 MEASURE (Spectrum Analysis Mode) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49 Command Interactions: MEASure, CONFigure, FETCh, INITiate and READ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50 Current Measurement Query (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53 Test Current Results Against all Limits (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53 Meas Off . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54 Channel Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54 Occupied BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57 Adjacent Channel Power—ACP. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58 Multi-Carrier Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62 Power Stat CCDF . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64 Harmonic Distortion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67 Burst Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70 Intermod (TOI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73 Spurious Emissions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74 Spectrum Emission Mask . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75 Meas Setup (Adjacent Channel Power—ACP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84 Chan Integ BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84 Offset/Limits. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85 Meas Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90 Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91 Total Pwr Ref . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94 PSD Ref. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95 Limit Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96 Filter Alpha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97 Noise Correction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97 Trace/View (ACP Measurement) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99 Spectrum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99 Bar Graph . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 Combined View Units. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 Meas Setup (Burst Power) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1013Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102 Average Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103 Threshold Lvl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103 Meas Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104 Burst Width. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106 Trace/View (Burst Power) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107 RF Envelope. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108 Meas Setup (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109 Meas BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109 Counts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110 Meas Interval . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112 Display (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Full Screen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Store Ref Trace. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Ref Trace. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Gaussian Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114 Preferences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114 Marker (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115 Select Marker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116 Normal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116 Delta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117 Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117 Marker Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118 Marker All Off . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118 Marker X Position (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119 Marker Y Position (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120 Marker Maximum and Minimum (Remote Command Only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120 SPAN X Scale (Complementary Cumulative Distribution Function—CCDF) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121 Scale/Div . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121 Meas Setup (Channel Power—CHP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124 Integ BW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124 Chan Pwr Span . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125 PSD Unit (PSA Only Setting). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126 Filter Alpha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128 Meas Setup (Harmonic Distortion) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130 Harmonics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130 ST/Harmonic . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131 Range Table (On/Off). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131 4Range Table . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138 Trace/View (Channel Power Measurement). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Spectrum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 Trace/View (Harmonic Distortion). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141 Harmonics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141 Harmonics & THD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141 Meas Setup (Intermod (TOI)). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144 TOI Span. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144 Max Mixer Lvl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146 Meas Setup (Multi-Carrier Power—MCP). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148 Carrier Setup. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149 Offsets/Limits . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155 Carrier Result . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158 Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159 Power Ref . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160 Limit Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161 Filter Alpha. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161 Noise Correction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162 Trace/View (Multi-Carrier Power Measurement). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163 Spectrum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163 Combined . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163 Combined View Units. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164 Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164 Meas Setup (Occupied Bandwidth—OBW) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166 Max Hold . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166 Occ BW% Pwr . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167 OBW Span . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167 x dB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168 Optimize Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169 Meas Setup (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171 Meas Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 172 Ref Channel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173 Offset/Limits . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175 Results Index (PSA only) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187 Optimize Ref Level. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 187 RRC Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1875Filter Alpha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188 Display (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Full Screen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Limit Display . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Preferences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189 Marker (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 191 Select Marker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 191 Normal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192 Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192 Trace/View (Spectrum Emissions Mask). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193 Abs Pwr & Freq . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193 Rel Pwr & Freq . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193 Integrated Power. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194 SPAN X Scale (Spectrum Emissions Mask—SEM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195 Scale/Div. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195 Ref Value. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195 Ref Position. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196 Meas Setup (Spurious Emissions) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197 Avg Number . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197 Avg Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197 Range Table . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 198 Meas Type . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211 Spur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212 Ref Level . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213 Fast Spurious Meas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213 Display (Spurious Emissions) for PSA Only. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215 Full Screen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215 Preferences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215 Marker (Spurious Emissions) for PSA Only . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217 Select Marker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217 Normal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218 Delta . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218 Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219 Markers All Off. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219 Marker Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 220 3. Menu Maps:One-Button Measurement FunctionsOne-Button Measurement Menu Maps . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222 Directions for Use . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 223 MEASURE Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224 Meas Control Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 225 Mode Setup Key for ESA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 226 Mode Setup Key for PSA (1 of 3) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227 Mode Setup Key for PSA (2 of 3) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 228 Mode Setup Key for PSA (3 of 3) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229 ACP Measurement: Meas Setup Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230 ACP Measurement: Trace/View Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231 Burst Power Measurement: Meas Setup Key . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 232 6。
手持式拉曼光谱仪的原理介绍
手持式拉曼光谱仪的原理介绍
光照射到物质上发生弹性散射和非弹性散射.弹性散射的散射光是与激发光波长相同的成分。
非弹性散射的散射光有比激发光波长长的和短的成分,统称为拉曼效应。
当用波长比试样粒径小得多的单色光照射气体、液体或透明试样时，大部分的光会按原来的方向透射，而一小部分则按不同的角度散射开来，产生散射光。
在垂直方向观察时，除了与原入射光有相同频率的瑞利散射外，还有一系列对称分布着若干条很弱的与入射光频率发生位移的拉曼谱线，这种现象称为拉曼效应。
由于拉曼谱线的数目，位移的大小，谱线的长度直接与试样分子振动或转动能级有关。
因此，与红外吸收光谱类似，对拉曼光谱的研究，也可以得到有关分子振动或转动的信息。
目前拉曼光谱分析技术已广泛应用于物质的鉴定，分子结构的研究谱线特征。
拉曼光谱仪应用领域：
1.食品领域用于食品成分的证实，以及掺杂物的证伪
2.农牧领域农牧产品的分类及鉴定
3.化学、高分子、制药及医学相关领域过程控制;质量控制、成分鉴定、药物鉴别、疾病诊断
4.刑侦及珠宝行业、毒品检测;珠宝鉴定
5.环境保护环保部门水质污染监测、表面污染检测和其他有机污染物
6.物理领域光学器件和半导体元件研究
7.鉴定古物古玩鉴定、公安刑事鉴定等其他领域
8.地质领域现场探矿、矿石成分的定量定性分析和包裹体的研究
9.石油领域油品的快速分类、石油产品成分组成、监控油品的在线调节等
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手持式拉曼光谱仪。
olympus光谱仪dpo-2000说明书
olympus光谱仪dpo-2000说明书Olympus光谱仪DPO-2000是一款先进的光学仪器，它能够对各种光谱进行精确的测量和分析。
该仪器由Olympus公司设计和生产，采用了先进的技术和创新的功能，为用户提供了高质量和高效率的光谱分析解决方案。
Olympus光谱仪DPO-2000具有多种功能和特点，使其成为专业科研、医学和工业领域中不可或缺的仪器之一。
首先，它具有宽波长范围，能够覆盖从紫外线到近红外线的光谱范围，提供了更广泛的应用领域。
其次，它具有高分辨率和高灵敏度，能够准确地测量微弱的光信号，并对光谱进行精确的分析和解读。
此外，该仪器还具有快速的扫描速度和数据采集率，使用户可以快速获得光谱信息。
Olympus光谱仪DPO-2000还具有易于操作和使用的优点。
它采用了直观的用户界面和简单的操作步骤，使用户可以轻松地进行光谱测量和分析。
此外，它还配备了先进的数据处理和分析软件，可以自动进行数据处理和生成报告，提高了工作效率。
除此之外，该仪器还具有良好的可靠性和稳定性，能够长时间稳定地工作，并保持高质量的光谱测量。
Olympus光谱仪DPO-2000的应用范围非常广泛。
在科学研究领域，它可以用于分析和研究材料的光谱特性，以及探索其在化学、物理和生物学等领域中的应用。
在医学领域，它可以用于诊断和治疗的光学特性的测量，例如医学成像和光学生物学研究。
在工业领域，它可以用于检测和分析材料的光学特性，例如颜色测量和光学表面处理。
综上所述，Olympus光谱仪DPO-2000是一款功能强大、易于操作和广泛应用的光谱分析仪器。
它的高分辨率、高灵敏度和宽波长范围使其成为科研、医学和工业领域中不可或缺的仪器之一。
该仪器不仅能够满足用户对光谱测量和分析的需求，还能提供高质量和高效率的解决方案，为用户的工作带来极大的便利和效益。
无论是在科学研究、医学诊断还是工业应用中，Olympus光谱仪DPO-2000都能够为用户提供可靠的光谱分析和数据处理解决方案，在相关领域中发挥重要作用。
奥林巴斯手持式光谱仪安全操作及保养规程
奥林巴斯手持式光谱仪安全操作及保养规程
一、安全操作
1.在操作之前，确保已经阅读并理解了使用手册中的安全注意事项和
操作指南。
2.在操作光谱仪之前，确保你的双手干燥并严禁在仪器工作时戴手套。
3.操作光谱仪时，应注意避免将仪器暴露在可能引发爆炸性或火灾的
环境中。
4.使用适当的电源，并确保电源线与插座连接稳固。
5.避免将光谱仪暴露在潮湿、灰尘较多和反射光线较强的环境中。
6.在操作光谱仪时，避免将其置于容易受到震动或撞击的位置。
二、保养规程
1.在使用完毕后，及时清洁仪器。
使用一个干净、软质的布擦拭仪器
的外壳和显示屏，确保不要使用化学溶剂等会对仪器造成损害的物质。
2.定期检查仪器的电源线，确保无损坏、捻合或暴露的情况。
3.检查光谱仪的电池电量并定期进行充电，确保其能够正常工作。
4.对于光谱仪中的光学部件，要定期清洁，并使用适当的清洁剂进行
清洁。
在清洁光学元件之前，要先查看使用手册中的维护指南，以了解清
洁的正确方法和注意事项。
5.储存光谱仪时，应将其放置在干燥、温度适宜的环境中，远离阳光
直射和潮湿的地方。
6.定期进行仪器校准，以确保其测试结果的准确性和可靠性。
7.定期检查仪器的软件版本，并根据需要进行升级。
总之，正确的操作和保养是保证奥林巴斯手持式光谱仪能够正常工作和延长其使用寿命的关键。
用户在操作光谱仪时要严格按照安全操作指南进行，加强仪器的保养和维护工作可以确保光谱仪的稳定性和可靠性。
手持式光谱仪工作原理与用途
手持式光谱仪工作原理与用途手持式光谱仪是一种用来测量物质在不同波长下的吸收、发射或散射光谱的仪器。
它通过将光分散成不同波长的光，在不同波长处测量光的强度，从而获得物质的光谱特征。
手持式光谱仪通常由光源、样品与探测器组成，其工作原理主要包括光源发射、样品与光的相互作用以及探测器测量。
手持式光谱仪的光源可以是白炽灯、卤素灯或LED等，通过激发光源发射出的光束进入样品，样品与光的相互作用过程中，部分光被吸收、发射或散射，而另一部分光透过样品。
最后，透过样品的光进入探测器，探测器测量不同波长的光强度，并将结果转化为光谱图。
手持式光谱仪的用途十分广泛。
首先，它可用于材料的成分分析。
通过测量不同材料的光谱特征，可以确定材料的成分及其含量。
例如，在农业领域，可以使用手持式光谱仪来测试土壤中不同元素的含量，以优化农业生产。
在医学领域，可以利用手持式光谱仪检测血液、尿液和组织等生物样品的光谱特征，从而诊断疾病。
其次，手持式光谱仪可以被用于环境监测。
通过测量大气、水体和土壤等环境中的光谱特征，可以了解其污染情况和质量变化。
例如，可以利用手持式光谱仪来检测大气中的颗粒物浓度、水体中的溶解氧含量以及土壤中的有机物含量等。
此外，手持式光谱仪还可以被用于食品安全检测。
通过测量食品中的光谱特征，可以迅速检测出食品中的污染物、添加剂和有害物质等，以保障消费者的健康。
手持式光谱仪还可以用于军事和安全领域，例如检测爆炸物、化学品和生化武器等。
总之，手持式光谱仪通过测量不同波长下光的强度，可以快速准确地获得物质的光谱特征，其广泛运用于材料分析、环境监测、食品安全检测、军事安全等领域。
它的出现使得光谱分析变得更加便携、迅速，为科研和实际应用提供了强有力的工具。
手持式拉曼光谱仪安全操作及保养规程
手持式拉曼光谱仪安全操作及保养规程手持式拉曼光谱仪是一种高精度的光谱仪器，在科研、生产、偏光等领域有广泛的应用。
为了确保光谱仪的正常使用和使用者的个人安全，制定本规程以指导用户正确、安全地操作和保养手持式拉曼光谱仪。
一、安全操作规程1. 操作前准备在操作前，需要进行以下准备工作：•确认仪器是否正常运转，检查是否有机械故障或电子故障。
•摆放合适的工作环境，保证试样、试样台干净整洁，尽量避免外界干扰。
•穿戴合适的操作服装，保护好眼睛和面部，以免受到激光反射伤害。
•插好电源线，确保电源指示灯亮。
2. 操作注意事项在进行实验过程中，需要注意以下事项：•避免将手持式拉曼光谱仪用于不正当或危险的用途。
•严禁使用光谱仪照射人体或动物，以免受到伤害。
•操作人员应该保持注意力集中，不要分散或心不在焉。
•断开电源线之前，确保仪器已关闭，以免电源反咬操作人员。
•操作过程中不要随意更改光谱仪的设置，以避免影响测试精度。
•如果出现异常情况，应该及时关掉仪器，检查问题并及时维修。
3. 安全使用措施在使用过程中，需要采取以下安全措施：•操作人员需全程佩戴安全眼镜，以避免激光眩目影响视力。
•激光保护镜需要特殊制造，严禁用脏的或损坏的激光保护镜。
•如果仪器暴露在强光下时，激光隔离板应当及时覆盖仪器，以避免外部光线干扰。
•整个实验过程需谨慎操作，避免频繁启动光谱仪，以延长仪器的使用寿命。
二、保养规程为了实现长期的、稳定的光谱仪使用，有必要及时保养和维护仪器。
以下为手持式拉曼光谱仪保养规程：1. 仪器的清洁手持式拉曼光谱仪是高精度光谱仪器，平日使用中应保持仪器表面的干净、整洁，避免在使用期内缺乏良好的维护清洁工作；保护好仪器外壳、激光光路系统等，以免影响试验结果。
•用纯净水轻轻擦拭激光光路系统透镜和相关光学元件，严禁使用水洒在光路上。
•用气垫机或者吸尘器清理光谱仪中的灰尘和污渍。
•使用干净的纱布或纸巾清洁仪器外壳，避免使用有擦亮霜或油腻的布。
VANTA VCR型合金分析仪试验操作规程
VANTA VCR型合金分析仪试验操作规程
NDJ/SG66-2018 1、使用前认真阅读设备操作规程或使用说明书，仔细检查仪器表面，如发现有破损或异常现象应立即停止使用。
2、使用该设备时应正确佩戴设备防护腰带，手握设备时，应先把防滑带套入手腕，以防设备损坏。
3、测量前，应保证被测面露出金属光泽。
按下电源开关，输入设备开机密码，液晶屏幕显示操作界面后，直接在触摸屏上输入相应的操作功能模块。
4、仪器校正：在正式测试前，应检测“标块”，确认检测值正常，方可检测样品。
5、测量时，把发射镜贴近被测样品表面，按下测试健，此时工作提醒灯闪烁，测量开始，待一起发出测试完成指令后，测量结束。
6、按上下键翻看检测数据。
继续检测请再次按下设备检测开关按钮。
退出检测界面按“向右”健回到主界面。
7、测试结束后，长按电源键关机，并将设备放置在设备箱内。
奥林巴斯手持式光谱仪安全操作及保养规程
奥林巴斯手持式光谱仪安全操作及保养规程1. 安全操作规程1.1 使用适当的个人防护装备在操作奥林巴斯手持式光谱仪时，务必正确佩戴个人防护装备，包括但不限于安全眼镜、防护手套和实验室外套。
这些装备将帮助保护用户免受意外伤害。
1.2 遵循操作指南在使用奥林巴斯手持式光谱仪之前，请仔细阅读并理解操作指南。
根据指南的步骤进行操作，避免产生不必要的操作错误。
1.3 定期维护定期维护是确保奥林巴斯手持式光谱仪正常运行和使用的关键。
请按照操作手册中的维护计划进行维护，并确保使用正确的清洁剂和工具进行清洁。
1.4 环境条件在操作奥林巴斯手持式光谱仪时，确保操作环境符合要求。
避免在高温、低温或潮湿环境下使用仪器，以防止损坏设备。
1.5 防止超负荷操作不要对奥林巴斯手持式光谱仪进行超负荷操作。
遵循操作指南中所建议的参数和工作范围，以确保设备的长期可靠性和性能稳定性。
1.6 避免冲击和振动奥林巴斯手持式光谱仪是一种精密仪器，应避免受到冲击和振动。
在使用和存储过程中，请小心搬运和操作，确保设备的安全。
1.7 避免未经授权的操作奥林巴斯手持式光谱仪只能由经过培训的操作人员操作。
未经授权的操作可能会导致设备损坏或用户受伤。
2. 保养规程2.1 清洁定期清洁奥林巴斯手持式光谱仪是保持设备性能的关键。
使用软布轻轻擦拭仪器外壳，避免使用含有酸性成分的清洁剂。
对仪器的触摸屏进行清洁时，使用干净的、微湿的柔软布料。
2.2 定期校准定期校准奥林巴斯手持式光谱仪是确保仪器准确性的重要步骤。
根据操作手册中的校准程序，按照要求进行校准操作。
使用标准样品进行校准，以确保获得准确可靠的测量结果。
2.3 存储在不使用奥林巴斯手持式光谱仪时，应存放在干燥、无尘、适宜温度的环境中。
避免阳光直射以及靠近高温和高湿度的场所。
2.4 检查电池奥林巴斯手持式光谱仪使用可充电电池供电。
定期检查电池的运行状态和电量，并按照操作指南中的说明进行正确的充电。
2.5 设备维护奥林巴斯手持式光谱仪的维护应由专业人员进行。
奥立木VANTA系列2手持X射线辐射分析仪说明说明书
VANTARugged. Revolutionary. Productive.Handheld X-ray Fluorescence VANTA SeriesOlympus’ new Vanta TM analyzer is our most advanced handheld X-ray fluorescence (XRF) device. These rugged, powerful, and intuitive instruments provide rapid, accurate element analysis and alloy identifications to customers who demand laboratory-quality results in the field.Vanta handheld XRF analyzers are some of the toughest devices Olympus has ever made. Their rugged and durable design makes them resistant to damage for greater uptime and a lower cost of ownership. With intuitive navigation and configurable software, the Vanta series are easy to use with minimal training for high throughput and fast return on investment. Olympus’ innovative Axon™ technology means Vanta analyzers give you accurate results and help boost productivity no matter the environment or working conditions.• Exceptional durability under extreme conditions• Analytical excellence• Optional Wi-Fi and Bluetooth® for real-time data sharing• Intuitive user interfaceRuggedWorking conditions can be tough on electronic devices, often causing breakdowns that cost time and money. Vanta TM analyzers are durable for increased uptime and a low cost of ownership. The Vanta series are drop tested using U.S. Department of Defense methods (MIL-STD-810G), reducing the risk of damage and costly repairs when a device is dropped or jostled. And with an included three-year warranty, you can be assured that we stand by the ruggedness of Vanta analyzers. Vanta devices are also IP65* rated dust and water resistant to protect against the hazards found in even the most challenging environments. Able to withstand a temperature range of -10 °C to 50 °C (14 °F to 122 °F) at full duty cycle, Vanta analyzers ensure you achieve 100% uptime without wasting time waiting for your analyzer to cool, even in hot environments.** The detector shutter on C and M series models helps prevent punctures so you can analyze rough surfaces with confidence. RevolutionaryEvery circuit, contour, and interface of Vanta handhelds is engineered to be the best of its kind. Vanta analyzers incorporate Olympus’ new Axon TM technology, a breakthrough in XRF signal processing that delivers accurate and repeatable test results. Axon technology uses ultra-low-noise electronics enabling higher X-ray counts per second and faster results. Coupled with a new quad-core processor, Axon technology makes Vanta analyzers remarkably responsive, pushing the limits of performance so you get the best results in the least amount of time. Axon technology provides both test-to-test and instrument-to-instrument repeatability. Whether it’s your first test on your first analyzer or your thousandth test with your hundredth analyzer, the Vanta handheld XRF gives you a consistent result.ProductiveVanta analyzers maximize user throughput and make data archiving easy. Application-specific software features improve user productivity for fast ROI.• A new, intuitive interface (UI) enables the user to quickly navigate the device’s settings and software functions.• The UI can be configured based on a customer’s specific needs. Users can customize which software features and functions are displayed on the main screen.• Data are easily exported via a USB flash drive, Wi-Fi, or Bluetooth. Vanta analyzers are designed to enable powerful cloud applications.• Vanta analyzers feature a clear, bright LCD touch screen that is readable in any light.• Ergonomic buttons and an industrial-grade, push-button joystick enable users to easily navigate the system with gloved hands.• Olympus’ Vanta handheld XRF offers embedded GPS so users can pair results with precise GPS coordinates to document and map the location of elements. The optional 5-megapixel panoramic camera combines images of XRF data with GPS coordinates for inclusive archiving and streamlined reporting which provides unmatched data traceability to the field.Scrap SortingVanta analyzers for scrap sorting feature a SmartSort function that intuitively lengthens or shortens test times based on material to save time while providing the best possible match. The software automatically compares results to a library of alloy compositions to quickly match unknown materials to known alloys. The Grade Match Messaging feature enables users to program messages for each grade to display warnings or instructions. These messages make it easy for operators to use the analyzer with little training, putting the knowledge of your most experienced person to work for everyone.Positive Material Identification (PMI) and Manufacturing Quality Control/Assurance Vanta analyzers help ensure that refineries, petrochemical plants, and other processing facilities are safe by verifying that correct alloys are installed in critical locations by following American Petroleum Institute Recommended Practice 578 (API-RP-578). Manufacturers and installers of expensive or mission-critical components and machinery can rest easy knowing that they are manufactured withthe correct alloy grades, regardless of the material source. The Vanta series’ integrated GPS, optional panoramic camera, user-defined input fields, connectivity features, and extensive data reporting capabilities maximize inspector confidence and traceability to the field.Regulatory and Safety ScreeningThe Vanta series screens for Pb, Cd, As, Hg, Cr, and other toxic metals in consumer products such as toys, apparel and footwear, and electronics to comply with RoHS regulations. With an optional camera, Vanta handhelds automatically archive sample images and results, making it the ideal tool for a reasonable testing program. Excellent sensitivity enables it to achieve low detection limits for pass/ fail results of regulated elements.Vanta TM analyzers provide fast results in a diverse range of applications from alloy identification (ID) to archaeological site evaluation. Olympus’ range of application-specific software features enable operators to get the most out of their analyzers with simplified report creation and traceable results.Geochemistry and Mining ExplorationThe Vanta TM handheld analyzer is the preferred tool for mining exploration including surface mapping and core analysis. It provides accurate and reproducible results in any environment. Vanta analyzers work all day even in the high temperatures found in desert or jungle environments; remote areas where instrument downtime cannot be afforded. Geo-referenced XRF data transfer wirelessly, via Bluetooth or Wi-Fi, for real-time geochemical mapping on a GIS-equipped tablet or laptop. Map, visualize, assess, and follow-up on targets in the field for faster in-field geological exploration and decision-making.Jewelry/Precious Metals IDVanta analyzers can provide on-the-spot characterization of a range of jewelry and precious metals including Au, Ag, Pt, and Pd. The analyzer accurately classifies the purity of gold alloys (0–24 karat) and can also detect plating. With the high price of precious metals, return-on-investment is rapid.Research and EducationVanta instruments provide quantitative, semi-quantitative, and qualitative elemental information to guide research and identification of unknown or complex materials. Fast results keep students engaged with relevant data in applicable science-based projects.Environmental AssessmentsThe Vanta analyzer readily screens soil and other materials for pollutant metals. Paired with GPS data, the results can be wirelessly transferred to a GIS to create pollutant metal maps. Get fast, decisive results for site characterizations, assessments, property evaluations, and contamination tracking.E 0440034EN48 Woerd Avenue, Waltham, MA 02453, USA, Tel.: (1) 781-419-3900 110 Magellan Circle, Webster TX, 77598, USA, Tel.: (1) 281-922-9300is certified to ISO 9001, ISO 14001, and OHSAS 18001.*M Series analyzers are IP 64 rated** With optional fan. The fan assembly is IP 54 rated. Operates continuously at 33 °C without the fan. All specifications are subject to change without notice.Vanta and Axon are trademarks of Olympus Corporation.All brands are trademarks or registered trademarks of their respective owners and third party entities. The Bluetooth word mark and logos are registered trademarks owned by Bluetooth SIG, Inc. and any use of such marks by Olympus Corporation is under license.Copyright © 2017 by Olympus.No matter the model, the rugged, fast, and reliable Vanta TM analyzer features Olympus’ Axon TM technology, and is rated to pass a 4 foot drop test, and is rated to IP65.*The Vanta SeriesM SeriesOur most powerful Vanta analyzers feature exceptional performance to handle the most demanding applications and lowest limits of detection (LODs). Each VMR model comes equipped with a sensitive large area silicon drift detector and a 50 kV X-ray tube with a rhodium (Rh) anode.C SeriesThe C Series Vanta analyzers combine value with superior speed, limits of detection (LODs), and elemental range. Each VCR model is equipped with a silicon drift detector, a 40 kV X-ray tube, and an Rh anode.L SeriesGet the ruggedness, ease of use, and data management features of Vanta analyzers in a cost-effective PIN instrument. The L Series is designed for maximum uptime and a lower cost of ownership for reliability in the field.OlympusOlympus is a leader in XRF technology with a reputation for quality and accuracy. The Olympus International Mining Group (IMG) is an internal group of natural resource specialists wholly focused on geochemical applications of XRF and XRD. The IMG has unparalleled expertise in utilizing portable XRF technology for a range of in-field geological scenarios. Olympus’ global network of support staff provide a level of ongoing service to the customer that includes support for testing methods, specific calibrations, and user training.。
手持式拉曼光谱仪的原理及应用介绍
手持式拉曼光谱仪的原理及应用介绍拉曼光谱是一种非常强大的分析工具，其适用于固体、液体和气体样品，并可快速、准确地确定物质的分子成分。
在过去的几年中，随着技术的不断发展，手持式拉曼光谱仪越来越受到关注。
这篇文章将介绍手持式拉曼光谱仪的基本原理和主要应用。
手持式拉曼光谱仪的原理拉曼光谱是一种非破坏性的分析方法，它利用激光引起的分子振动来确定物质的分子成分。
当入射激光经过样品时，部分光子将与样品分子发生相互作用，并散射回到检测器。
散射光的频率取决于样品分子的振动状态，因此，拉曼光谱可以用来确定样品的化学成分和结构。
手持式拉曼光谱仪的核心部件是激光和光路系统。
这些设备通常包括激光源、光谱仪和探测器。
激光发生器通过光学透镜聚焦到样品上，样品散射的光通过光谱仪，分光镜之后进入光检测器，最后记录下相应的拉曼光谱。
手持式拉曼光谱仪比传统的光谱仪更加便携，因为它需要比传统光谱仪更简短、更小的光路。
手持式拉曼光谱仪的应用生命科学领域手持式拉曼光谱仪在生命科学领域的应用十分广泛。
人们可以使用手持式拉曼光谱仪来研究肿瘤组织的生化成分、蛋白质结构和功率等。
此外，手持式拉曼光谱仪还可以用于疾病的早期诊断，例如癌症、心血管疾病和糖尿病等。
近年来，手持式拉曼光谱仪的应用已经扩展到食品科学、生物医学和细胞生物学等领域。
材料科学领域手持式拉曼光谱仪不仅在生命科学领域得到广泛应用，也在工程和材料科学领域得到了广泛应用。
应用手持式拉曼光谱仪，人们可以确定物质的结构和化学组成，并分析材料的物理特性。
特别是在制药业、化学工业和纳米材料领域，手持式拉曼光谱仪可以用来监测和优化化学反应过程，以及为物料检测提供高效的非破坏性方法。
环境监测领域手持式拉曼光谱仪还可以用于环境监控，包括水质监控和空气质量监控等。
它们可以测量不同化学物质的浓度，并确定它们的来源和化学结构。
此外，手持式拉曼光谱仪还可以用于监测大气污染物，包括二氧化碳、氨气和甲烷等。
总结随着技术的不断发展，手持式拉曼光谱仪的应用领域越来越广泛，包括生命科学、材料科学和环境科学等领域。
镀铬、镀镍和镀锌到底有什么区别？
什么是电镀电镀就是利用电解原理在某些金属表面上镀上一薄层其它金属或合金的过程，是利用电解作用使金属或其它材料制件的表面附着一层金属膜的工艺从而起到防止金属氧化（如锈蚀），提高耐磨性、导电性、反光性、抗腐蚀性（硫酸铜等）及增进美观等作用。
电镀中又分为镀铜、镀金、镀银、镀铬、镀镍和镀锌等具体工艺，在制造业领域尤其对镀锌、镀镍和镀铬应用最广。
而这三者之间一定有什么区别的吧？01 镀锌定义：镀锌是指在金属、合金或者其它材料的表面镀一层锌以起美观、防锈等作用的表面处理技术。
特点：成本低，防腐蚀一般，颜色为银白色。
应用：螺丝钉、断路器、工业用品等。
02-镀镍定义：通过电解或化学方法在金属或某些非金属上镀上一层镍的方法，称为镀镍。
特点：美观，可以做装饰，价格高，工艺略复杂，颜色为银白显黄色。
应用：节能灯灯头、硬币，五金件等。
03-镀铬定义：铬是一种微带蓝色的亮白色金属，通过电解或化学方法在金属或某些非金属上镀上一层铬的方法，称为镀铬。
特点：镀铬有两种，第一种是起装饰作用，外表光亮、耐磨擦性能较好，防锈能力不如镀锌，优于氧化；第二种是增加金属零件的硬度、耐磨性等，这是零件的功能性。
应用：家电、电子等产品上的的光亮装饰件，工具，水龙头等。
三种电镀最基本的区别1:”镀铬主要是提高表面硬度，美观，防锈。
铬镀层具有良好的化学稳定性，在碱、硫化物、硝酸和大多数有机酸中均不发生作用，但能溶于氢卤酸(如盐酸)和热的硫酸中。
因铬不变色，使用时能长久保持其反射能力而优于银和镍。
工艺一般都是电镀。
2:镀镍主要是耐磨，防腐蚀，防锈，一般厚度较薄，工艺的话分电镀和化学两类。
3:镀锌主要是美观防锈。
zn是活泼金属，能与酸反应，所以耐腐蚀性较差,是三种中最便宜的。
成本方面的区别镀铬最贵,镍其次,锌最便宜,其中还要区分挂镀、滚镀等.挂镀贵,滚镀便宜。
通过颜色来区分：镀铬亮白色，镀镍有一点发黄，镀锌银白色（其实还有彩锌，灰锌，亚光铬，亮光铬，白镍，黑镍等等）奥林巴斯的Vanta手持式XRF分析仪配备了镀层模式测量功能。
手持式光谱仪的原理
手持式光谱仪的原理
手持式光谱仪主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成，由于其便携具有高效、便携、准确等特点，使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有着重要的应用。
要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性，在仪器的软件上，要求能够进行导数、去卷积等复杂的数学计算，能够计算光谱间相似度、模式识别分析、支持多元校正分析和用户自建谱库并进行检索。
手持式光谱仪原理：
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应。
所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收,而是以光子形式放出,便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。
因此，射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。
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手持式光谱仪
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奥林巴斯手持式光谱仪致力于工业科学领域的研发拓展
最近几年,光谱分析仪呈现出微型化、便携化的特点,比如奥林巴斯推出的手持式X射线荧光(XRF)光谱分析仪,就尤其受用户的青睐。
那么,一款超高性价比的手持式光谱分析仪应该具备哪些特性呢?下面易诺科技就以奥林巴斯VANTA系列元件手持式XRF分析仪为例,来看手持式光谱分析仪应当具备的5大特性:1.检测迅速迅速获得检测结果意味着快速获得投资回报。
奥林巴斯手持式XRF光谱分析仪不仅具有很高的性价比,而且可以在1到2秒钟的时间内辨别光谱牌号,检测十分迅速,并且结果精准。
2.坚固耐用如果在恶劣工业环境中进行检测,就需要光谱分析仪具有坚固耐用的特性。
奥林巴斯光谱分析仪符合IP 54评级标准,不仅具有防尘和防潮的特性,而且通过了高处坠落测试,可确保在分析仪发生意外坠落或撞击时可以继续工作。
不论工作环境多恶劣,只要温度在-10°C到45°C的范围内,奥林巴斯光谱分析仪都可以持续工作。
3.连通性能奥林巴斯光谱分析仪具有可选配的无线连通性能,可连接奥林巴斯的科学云系统,进行无线数据共享,同时可以访问多设备管理工具、奥林巴斯链接移动应用程序等。
此外,该款分析仪还提供1个用于存储检测结果的1 GB 容量的微SD卡,以及两个便于导出数据的USB端口,非常实用。
4.智能软件奥林巴斯光谱分析仪的用户界面类似智能手机的界面,使用非常方便,初学的操作人员只需很少的培训,即可自如操作。
用户可以在分析仪屏幕上直观地看到检测结果,包括牌号识别信息、规格比较信息及元素的组成成分信息等。
5.持久耐用大部分金属分析仪都造价不菲,因此对光谱分析仪的保护也很重要,尤其是在分析仪检测削屑或其他尖利物件时,添加一个保护层可以使分析仪免受损伤。
奥林巴斯光谱分析仪配备有一个不锈钢面板,可以很好地保护分析仪窗口,延长了分析仪的使用寿命,使其更持久、耐用。
易诺科技奥林巴斯手持式光谱仪一直致力于工业科学领域的研发拓展,用技术不断自我完善,奥林巴斯手持式光谱分析仪正是其力作,超高性价比,值得信赖!欢迎大家前来考察。
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适应各种环境检测迅速性能稳定奥林巴斯将新款Vanta Element分析仪视为一款“智能型”工业科技设备，在以往的Vanta系列分析仪检测迅速、结果可靠、坚固耐用、连通性好、操作便捷易携带的基础上，强化了整体性能，让新款Vanta Element分析仪在包含回收废料和各种金属的检测环境中，不受外界艰苦环境影响，迅速得到准确结果。
无惧恶劣环境性能坚固防尘防潮为了应对艰苦环境，新款Vanta Element分析仪从设计初始就考虑到各个方面。
首先，Vanta Element 分析仪自带防水防潮功能，符合防护等级IP54评定标准，在户外也不必担心下雨落水等突发情况。
其次，Vanta Element分析仪顺利通过从4英尺高处坠落测试（MIL-STD-810G），确保在发生意外坠落或撞击时依旧可以继续工作。
第三，保护性能被强化，奥林巴斯将Vanta Element分析仪50 µm厚的Kapton（聚酰亚胺）窗口贴在一个不锈钢面板上，用户在野外无需工具就可自行更换窗口。
值得一提的是，温度在-10 °C到45 °C范围内，Vanta Element分析仪可以一直保持正常工作状态，无需任何顾虑。
随时随地无线连接各种数据轻松上传令人惊喜的是，本次发布的新款Vanta Element分析仪具有可选配的无线连接性能，支持连接用户网络、移动应用程序、以及奥林巴斯科学云系统进行无线数据共享，可以短时间内迅速访问多设备管理工具，操作简单快捷，助力实现工业智能化。
此外，为了更好地存储检测结果，Vanta Element分析仪还提供microSD卡和两个便于导出数据的USB端口，方便数据记录与上传。
适应各种环境检测迅速性能稳定
奥林巴斯将新款Vanta Element分析仪视为一款“智能型”工业科技设备，在以往的Vanta系列分析仪检测迅速、结果可靠、坚固耐用、连通性好、操作便捷易携带的基础上，强化了整体性能，让新款Vanta Element分析仪在包含回收废料和各种金属的检测环境中，不受外界艰苦环境影响，迅速得到准确结果。
新款Vanta Element分析仪使用双核处理器，并采用奥林巴斯久经考验的Axon技术，提供与Vanta系列中其他分析仪相同的高计数率和稳定性，可以直接在屏幕上对比合金牌号，用户仅在几秒钟之内便可获得清晰的材料和牌号辨别信息。
无惧恶劣环境性能坚固防尘防潮
为了应对艰苦环境，新款Vanta Element分析仪从设计初始就考虑到各个方面。
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其次，新款Vanta Element 分析仪顺利通过从4英尺高处坠落测试（MIL-STD-810G），确保在发生意外坠落或撞击时依旧可以继续工作。
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随时随地无线连接各种数据轻松上传
令人惊喜的是，本次发布的新款Vanta Element分析仪具有可选配的无线连接性能，支持连接用户网络、移动应用程序、以及奥林巴斯科学云系统进行无
线数据共享，可以短时间内迅速访问多设备管理工具，操作简单快捷，助力实现工业智能化。
此外，为了更好地存储检测结果，新款Vanta Element分析仪还提供microSD卡和两个便于导出数据的USB端口，方便数据记录与上传。
新款Vanta Element分析仪与多种配件相兼容，其中包括Vanta野外台座、土壤支架、探头护罩和机套。
可与优秀器材配套的新款Vanta Element分析仪，重量仅为1.32公斤，轻巧便捷易携带，帮助用户从容应对高强度连续作业，轻松完成高检测量的户外挑战。